JPS5848243A - 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 - Google Patents
光学的記録再生装置のトラツク追跡装置Info
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- JPS5848243A JPS5848243A JP14712481A JP14712481A JPS5848243A JP S5848243 A JPS5848243 A JP S5848243A JP 14712481 A JP14712481 A JP 14712481A JP 14712481 A JP14712481 A JP 14712481A JP S5848243 A JPS5848243 A JP S5848243A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ｃの発明は、光学的配録再生装置の）ラック追跡装置に
関し、特にファーフィールＦ（遠視野）法Ａ／’ｒ （
Ａ１１＠０−ｔ ｒａｃｋ ｉｌｌｋｇ） ｆ−ポの改
良に関するものである。
関し、特にファーフィールＦ（遠視野）法Ａ／’ｒ （
Ａ１１＠０−ｔ ｒａｃｋ ｉｌｌｋｇ） ｆ−ポの改
良に関するものである。
ビデオディスク、ディジタルオーディオディスク及び光
ディスクメモリ等Ｏ光学式ディスクを用いた記録再生装
置は、レーデ光を回転ディスク面上に集光して非接触で
情報を昧み出す方式を採る。
ディスクメモリ等Ｏ光学式ディスクを用いた記録再生装
置は、レーデ光を回転ディスク面上に集光して非接触で
情報を昧み出す方式を採る。
こＯため、従来のオーディオレコードでは比較的寛大に
扱われて匹たディスクＯ「そ〉」中「偏心」が問題にな
如、そのためこ０＠０装置Ｏ光学ヘツドでは様々の号−
ポ機構が考寓されて−る。
扱われて匹たディスクＯ「そ〉」中「偏心」が問題にな
如、そのためこ０＠０装置Ｏ光学ヘツドでは様々の号−
ポ機構が考寓されて−る。
即ち、ディスク０面振れに対してレーデ光を常にディス
ク面上に集光させるためＯオー）フォーカス苧−ポ（以
下＾／１と略記する）中、ディスクの偏心に対してレー
デ光ＯＪｌ光スポツ）を常に）ラックに追随させる丸め
Ｏオー）訃うッキング紫−ポ（以下＾／Ｔと略記する）
などか試みられている。
ク面上に集光させるためＯオー）フォーカス苧−ポ（以
下＾／１と略記する）中、ディスクの偏心に対してレー
デ光ＯＪｌ光スポツ）を常に）ラックに追随させる丸め
Ｏオー）訃うッキング紫−ポ（以下＾／Ｔと略記する）
などか試みられている。
次に３．ｃれらのサーボ機構の内、従来装置°に用−ら
れて−るツアーフィーＡ／Ｆ法Ａ／Ｔ？−ボに９いて、
第１！！１７＞ＭＩＩ３ｆｆｉなんいて説明する。
れて−るツアーフィーＡ／Ｆ法Ａ／Ｔ？−ボに９いて、
第１！！１７＞ＭＩＩ３ｆｆｉなんいて説明する。
１１１図に１いて、ガスレーデ、レーデダイオード等の
光源１かも放射されたレーデ光２は、コリメーＦレンズ
３を透過することによって平行岸に変光られ、更に偏光
ビームスプリッタ４．に、よって？偏光を直進させる直
線偏光に変光られる。ａｌ光ビームスプリッタ４によっ
て得られた直線偏光は１／４の波長板ＳＯ通４によって
円偏光に変えられた後、集光レンズ６によって集光され
、光ディスクτ上にレーザ光２０光スボツシｔＳ成する
。
光源１かも放射されたレーデ光２は、コリメーＦレンズ
３を透過することによって平行岸に変光られ、更に偏光
ビームスプリッタ４．に、よって？偏光を直進させる直
線偏光に変光られる。ａｌ光ビームスプリッタ４によっ
て得られた直線偏光は１／４の波長板ＳＯ通４によって
円偏光に変えられた後、集光レンズ６によって集光され
、光ディスクτ上にレーザ光２０光スボツシｔＳ成する
。
光ディスク７は回転４−一夕８に結合されて、高速回転
する。前記光ディスク７は、一方Ｏ表面又は両側の表面
に深さｌ／４（Ｘ：レーデ光の波長）１幅０、５７０−
７ ｐ ｓ ｍ長さ０．５〜＠ｐｍｇ）ピッ）９がプレ
＾加工等によりて転写され、ビット９０運な〉として情
報を記録した）ラック１０がスパイラμ状に所定ピッチ
で形成されて−る。ｔた、光ディスタ７の表面は、レー
デ光の反射又は配録編体とするために金属膜がメッキ等
によって形成されている。
する。前記光ディスク７は、一方Ｏ表面又は両側の表面
に深さｌ／４（Ｘ：レーデ光の波長）１幅０、５７０−
７ ｐ ｓ ｍ長さ０．５〜＠ｐｍｇ）ピッ）９がプレ
＾加工等によりて転写され、ビット９０運な〉として情
報を記録した）ラック１０がスパイラμ状に所定ピッチ
で形成されて−る。ｔた、光ディスタ７の表面は、レー
デ光の反射又は配録編体とするために金属膜がメッキ等
によって形成されている。
上述の光学系を通過して光ディスク７のｔラック上に集
光されたレーデ光Ｏスポツ）１１は、光ディスフッ表面
ｏｕｒｓ膜によって反射喋れ、再び集光レンズ６を逆行
して１７４波長板５を通過することによ〉Ｓ偏光され、
偏光ビームスプリッタ４によって入射レーデビーム光２
の進入光路とは９０”異なる方向＃Ｃ変更さする。光路
が変更された反射レーデビーム光は、光ディスタ１かも
離れた位置に置かれた２分割光検知器１２に入射される
。
光されたレーデ光Ｏスポツ）１１は、光ディスフッ表面
ｏｕｒｓ膜によって反射喋れ、再び集光レンズ６を逆行
して１７４波長板５を通過することによ〉Ｓ偏光され、
偏光ビームスプリッタ４によって入射レーデビーム光２
の進入光路とは９０”異なる方向＃Ｃ変更さする。光路
が変更された反射レーデビーム光は、光ディスタ１かも
離れた位置に置かれた２分割光検知器１２に入射される
。
前記２分割光検知１ｍｌは分割線によりて等しｉ受光面
積の光検知部１２Ａ＊１ｔｌｃ分けられ、各光検知部１
２Ａ及び１３Ｂで検出された出力は差動増幅６１８に与
えられ、両出力信号のレベｐに基い九＾／Ｔ ａｔが形
成される。この差動増幅）、）ラックの追跡が実行され
る。
積の光検知部１２Ａ＊１ｔｌｃ分けられ、各光検知部１
２Ａ及び１３Ｂで検出された出力は差動増幅６１８に与
えられ、両出力信号のレベｐに基い九＾／Ｔ ａｔが形
成される。この差動増幅）、）ラックの追跡が実行され
る。
尚、光検知ｓ１雪は入射光を４つの領域で受光す為４分
割光検出器を用−てＡ／Ｔ信号をｙＩｋ成す為方法も試
みられて−るが、理解を容易にす為ため以下８分割光検
知器の場合について説明す為。
割光検出器を用−てＡ／Ｔ信号をｙＩｋ成す為方法も試
みられて−るが、理解を容易にす為ため以下８分割光検
知器の場合について説明す為。
上述ＯＩｌ来装置の説明は％Ａ／Ｆ−？−ポ機構にクー
では省略しであるが、同様な光学的方法で光スボツ）を
読４出し、集光レンズ６を上下１１ｉ−することによっ
て光ディスクγ（）ｌｉｌＥｔＬＫ対してレーデ光を常
に光デイスク面に集光させるフォーカス紫−ポ機構が設
けられて−ることは言うまでもな−。
では省略しであるが、同様な光学的方法で光スボツ）を
読４出し、集光レンズ６を上下１１ｉ−することによっ
て光ディスクγ（）ｌｉｌＥｔＬＫ対してレーデ光を常
に光デイスク面に集光させるフォーカス紫−ポ機構が設
けられて−ることは言うまでもな−。
ζζで、ツアーライ−Ｎ Ｆ（ｆａｒ −１１’ｅ＋ｌ
ｄ）法とは、光ビームが光ディスク面により−（ＪＫ射
される過員でしンズ等の光学系によってスーツ）に結像
され九場合、結像点鎗近Ｏ領域はｍ＠ａｔ−ｆｉｅｌｄ
領域と呼ぶＯに対して、結像点から外れた領域はｆａｔ
−ｆｉ、ｅ’ｂｌ領域と呼ぶＯＫ対応し、前述の装置で
は、光検出！Ｉｆ！はファーツイーμド領域に置かれ、
ζＯ光検出器１雪から人／Ｔナーポ儒号が取）出される
ためファーツイールｒ法＾／Ｔサー前述の装置から＾／
Ｔ−？−ポ信号を取シ出し得Ｗｉｇ竺（Ｄ、（［ＤＱ［
Ｄハ、ピｙ＞＊ｔｐｂｔｈ＊ｑ’ｔｐ１０が形成された
光ディスク７にレーデ光３が集光され、光スポラ）１１
とし不照射されて匹・るディスク断面を示し、夫々）ラ
ック１Ｇと光スポラる。即１ｅｉｌ−図■は）ラツｐｌ
ｏｏ中心に光スポラ）１１０中心が正しく対応する位置
関係で照射各党検出１１１ｍＡ、１２１には一３図■Ｔ
ＩＣ示ｔＸうに等しい強度の分布をｔり反射□光が入射
され、差動増幅８１１ｍからは零〇！力が導出される。
ｄ）法とは、光ビームが光ディスク面により−（ＪＫ射
される過員でしンズ等の光学系によってスーツ）に結像
され九場合、結像点鎗近Ｏ領域はｍ＠ａｔ−ｆｉｅｌｄ
領域と呼ぶＯに対して、結像点から外れた領域はｆａｔ
−ｆｉ、ｅ’ｂｌ領域と呼ぶＯＫ対応し、前述の装置で
は、光検出！Ｉｆ！はファーツイーμド領域に置かれ、
ζＯ光検出器１雪から人／Ｔナーポ儒号が取）出される
ためファーツイールｒ法＾／Ｔサー前述の装置から＾／
Ｔ−？−ポ信号を取シ出し得Ｗｉｇ竺（Ｄ、（［ＤＱ［
Ｄハ、ピｙ＞＊ｔｐｂｔｈ＊ｑ’ｔｐ１０が形成された
光ディスク７にレーデ光３が集光され、光スポラ）１１
とし不照射されて匹・るディスク断面を示し、夫々）ラ
ック１Ｇと光スポラる。即１ｅｉｌ−図■は）ラツｐｌ
ｏｏ中心に光スポラ）１１０中心が正しく対応する位置
関係で照射各党検出１１１ｍＡ、１２１には一３図■Ｔ
ＩＣ示ｔＸうに等しい強度の分布をｔり反射□光が入射
され、差動増幅８１１ｍからは零〇！力が導出される。
一方、トラフ、？１Ｇと光スポツト１工とＯ位置が第２
図■又はｌｌ）Ｋ示すように光ディスタ１０半径方。
図■又はｌｌ）Ｋ示すように光ディスタ１０半径方。
向に対して内周寄〉或−は外周寄〉にずれて−る場合、
光検出Ｗ１２上Ｏ各光検出部１２人及び１２１１Ｋ入射
される光強度が、第３図■及び＠に示３図（１）０よう
に光検出ｇｌ！ＩＩ側が大ｔＩｉ匹状態では差−増幅！
１１８．Ｔｈら負Ｏ電位の出力が、第３図＠Ｏように光
検出１１１２Ａ＠ｏ方が大＠ｉｓ状態では正の電位の出
力が導出される。導出された出力はＡ／Ｔ信号として半
径方向送ル機構１４に与えられ、些学ヘツＦＩＢをシダ
ツク１．０に直角な方内、即ち光ディスタ７０半径方向
に移ｍさ・せて霜−に光スポラ）１五がシダツク１（Ｈ
Ｄ中心に位置さラック１０が１周から外周へスパイラｓ
ｓ状Ｋｆｆｉａされて禽れば、光ディスクの回転に伴っ
て光学ヘラＦ１ｓ％）ラックの偏心に追従すると共に内
周から外周Ｋ）ラックに沿りて送られる。
光検出Ｗ１２上Ｏ各光検出部１２人及び１２１１Ｋ入射
される光強度が、第３図■及び＠に示３図（１）０よう
に光検出ｇｌ！ＩＩ側が大ｔＩｉ匹状態では差−増幅！
１１８．Ｔｈら負Ｏ電位の出力が、第３図＠Ｏように光
検出１１１２Ａ＠ｏ方が大＠ｉｓ状態では正の電位の出
力が導出される。導出された出力はＡ／Ｔ信号として半
径方向送ル機構１４に与えられ、些学ヘツＦＩＢをシダ
ツク１．０に直角な方内、即ち光ディスタ７０半径方向
に移ｍさ・せて霜−に光スポラ）１五がシダツク１（Ｈ
Ｄ中心に位置さラック１０が１周から外周へスパイラｓ
ｓ状Ｋｆｆｉａされて禽れば、光ディスクの回転に伴っ
て光学ヘラＦ１ｓ％）ラックの偏心に追従すると共に内
周から外周Ｋ）ラックに沿りて送られる。
前述Ｏような構造及び動作からなる従来！ｒ！置では、
たとえ光スポラ）１１の中心が）ラック１００中°心に
一致するように豐−ポ機構が働らいても。
たとえ光スポラ）１１の中心が）ラック１００中°心に
一致するように豐−ポ機構が働らいても。
光でイスタフ０傾＠ＶＣ゛よりて盗に説明するように）
ラッキング誤差を生じる欠点がある。
ラッキング誤差を生じる欠点がある。
第４図（ＤＩ）はピッ）−がＪｌｌまれて―な一部分（
無１ａｆｉｌｌ）の光ディスクで鳥って、光軸に垂直の
関係にある場合α）と、垂直から角変Δ０だけ傾斜して
いる場合■を示し、働及び（資）はピッ）９が刻まれて
いる部分にレーデビーふ光２が照射されている場合で％
―は光軸に光ディスク７が垂直に位置し、＠は光軸に２
対して角度Δ０だけ傾斜してｉる場合を示す。
無１ａｆｉｌｌ）の光ディスクで鳥って、光軸に垂直の
関係にある場合α）と、垂直から角変Δ０だけ傾斜して
いる場合■を示し、働及び（資）はピッ）９が刻まれて
いる部分にレーデビーふ光２が照射されている場合で％
―は光軸に光ディスク７が垂直に位置し、＠は光軸に２
対して角度Δ０だけ傾斜してｉる場合を示す。
光軸が光デイスク７＆ｃ！直Ｏ関係にある（Ｉ）及び（
至）の場合には、２分割光検知［１１２の夫々の光検出
ｌ５１２人、１１ＢＫビームスプリッタ−４を通過した
レーデ光が対称的に入射され、光強度としては両光検出
部間で等し−１のＫなる。一方、ａｉきΔ０を伴りてｖ
ｈゐ■及び００場会には、集光レンズ６の焦点距離なｆ
とすると、偵ｉｋがな−Δ−−００場会に比べて、Δａ
ｍ ＠Δ０ｉだけ光検出器１２上で光゛強度分布に位置
ずれを生じる。そＯため第４図ｇｎｏ場合のように、ピ
ッ）９の中心に光スポラ）１１０中心が一致し′ｃ％Ａ
る状態でも光ディスク７がΔ−のａｍをもつ場合には、
光検出器１２上では６１ｍ２Δ０ｔだけ対称性がずれる
。
至）の場合には、２分割光検知［１１２の夫々の光検出
ｌ５１２人、１１ＢＫビームスプリッタ−４を通過した
レーデ光が対称的に入射され、光強度としては両光検出
部間で等し−１のＫなる。一方、ａｉきΔ０を伴りてｖ
ｈゐ■及び００場会には、集光レンズ６の焦点距離なｆ
とすると、偵ｉｋがな−Δ−−００場会に比べて、Δａ
ｍ ＠Δ０ｉだけ光検出器１２上で光゛強度分布に位置
ずれを生じる。そＯため第４図ｇｎｏ場合のように、ピ
ッ）９の中心に光スポラ）１１０中心が一致し′ｃ％Ａ
る状態でも光ディスク７がΔ−のａｍをもつ場合には、
光検出器１２上では６１ｍ２Δ０ｔだけ対称性がずれる
。
このずれがツアーツイーＡ／Ｆ法Ａ／Ｔ＋−ポＯセン号
エラｉと１ｋ〕、追跡動作の信頼性を低下させ為原因虻
なって−る。
エラｉと１ｋ〕、追跡動作の信頼性を低下させ為原因虻
なって−る。
それゆえに、ζＯ発明の主たる目的は、ツアーライ−ｌ
ｌ１ｌＦ法１７１ｄｆ−ポＯ閏題点を解消し、光ディス
タ０＠自に対して信頼度Ｏ高−追跡動作を行、わせ得る
光学的配録再生装置Ｏトラック追跡装置を提供すること
である。
ｌ１ｌＦ法１７１ｄｆ−ポＯ閏題点を解消し、光ディス
タ０＠自に対して信頼度Ｏ高−追跡動作を行、わせ得る
光学的配録再生装置Ｏトラック追跡装置を提供すること
である。
ｃｏ発明Ｏ上述ＤＱ的及び七〇ａ１０１的と特徴は図面
を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
この発明を要約すれば、ビットの這１にシとして）ラッ
クが形成された光ディスクに光スポッシを照射する。光
スーツ）０反射光又は透過光を８分割又は４分割Ｏ光検
出器に導−て）ラックずれを検出す為、一方充積出ＳＯ
出力から、光ディスク面Ｏ隣績す為ピッ）間の無記録ｇ
（ｔラ−面）に相当、す、為信号レベ〃を抽出して、各
光検出部の無記録−に相当する信号レベβから光ディス
クの＃Ｉ自情報を導出する＝前記）ラックずれ０検出結
果によって）ラックを追跡すると共にζＯ！Ｉ龜情報に
基いて光学系又は光ディスクの偵龜を補正するものであ
る。
クが形成された光ディスクに光スポッシを照射する。光
スーツ）０反射光又は透過光を８分割又は４分割Ｏ光検
出器に導−て）ラックずれを検出す為、一方充積出ＳＯ
出力から、光ディスク面Ｏ隣績す為ピッ）間の無記録ｇ
（ｔラ−面）に相当、す、為信号レベ〃を抽出して、各
光検出部の無記録−に相当する信号レベβから光ディス
クの＃Ｉ自情報を導出する＝前記）ラックずれ０検出結
果によって）ラックを追跡すると共にζＯ！Ｉ龜情報に
基いて光学系又は光ディスクの偵龜を補正するものであ
る。
ＩＩｓ図はこの発明の一実施列のブロック図である。同
！！ＩＫ詔いて、レーザーダイオニド１から放射された
光ビーム２が光デイスク上にスポッシ状に集光され、光
デイスク７門ら反射されたビームが偏光ビームスプリッ
タ４ａＣよって入射光ビーム２の光路から分離されるま
での光学系及び元ディスクの回転系等の構造は、１７１
図に示した従来装置と同じ構造によって構成されて−る
。尚、光ディ反射ビームの代ルに透過ビームが利用され
為。
！！ＩＫ詔いて、レーザーダイオニド１から放射された
光ビーム２が光デイスク上にスポッシ状に集光され、光
デイスク７門ら反射されたビームが偏光ビームスプリッ
タ４ａＣよって入射光ビーム２の光路から分離されるま
での光学系及び元ディスクの回転系等の構造は、１７１
図に示した従来装置と同じ構造によって構成されて−る
。尚、光ディ反射ビームの代ルに透過ビームが利用され
為。
この実施例にお−では、光ディスクＯ傾ＩＩＫよるセン
号・エラーを光学系によって補正する。従って、偏光ビ
ームスプνツタ４によって光路か変更された反射ビーム
光重・を２分割光検出！！１３に導＜ＫＩＩして、後述
す為ａ重量検出儒ｆＫＪ＆いて回転量が制御される回転
ｔ９−ｉ丁が配ｔされ、この回転ミラー１７で反射され
た＆に光デイスク反射ビーム光１６は光検出器１２に入
Ｊｉ＃される。
号・エラーを光学系によって補正する。従って、偏光ビ
ームスプνツタ４によって光路か変更された反射ビーム
光重・を２分割光検出！！１３に導＜ＫＩＩして、後述
す為ａ重量検出儒ｆＫＪ＆いて回転量が制御される回転
ｔ９−ｉ丁が配ｔされ、この回転ミラー１７で反射され
た＆に光デイスク反射ビーム光１６は光検出器１２に入
Ｊｉ＃される。
光検出ａｌ１３にはシラツタ追跡のために前記従来装置
と同様に、２分割光検出器１ｍＡ、１！］ＩＩＯ夫々か
ら導出されえ出力を入力とする差動増幅器１３が接続さ
れ、ζＯ差動増幅器１３０出力は光学ヘッｖｌｓｏ＊径
方向送）゛機構１４に与えられて）ラックＯ追跡が実行
され為。
と同様に、２分割光検出器１ｍＡ、１！］ＩＩＯ夫々か
ら導出されえ出力を入力とする差動増幅器１３が接続さ
れ、ζＯ差動増幅器１３０出力は光学ヘッｖｌｓｏ＊径
方向送）゛機構１４に与えられて）ラックＯ追跡が実行
され為。
前記光検出器１１の各出力は、光検出部−１２人及び１
２１に対応させて夫々無配＃１ｋＷＡ検出園路ｌＳ及び
ＩＩに与えられる。無配緑部検出囲路１８゜スポラ）１
１が光ディスクγ上の隣接ピッ）関に位置すゐ信号が記
鏝されて−ない領域、即ちディスク０ｔ９− 面から得
られる信号レベ〃を検出して出力する回路である１両無
配録部検出回路１８゜１−の出力は偵自量検出ｏｄＪ６
羞動増幅回路２０に与えられ１１両國路１１．１１０出
力信号レベＳＯ比較が実行されて、比較結Ｊｌ＆唸図転
鬼う−駆動系８１に与えられる自ζＤ＠＠ｔ９−駆動系
２１は、偏光ビームスプリッタ４と光検出器１２と〇関
に挿入され九１起圏転電ラー１１を回転させ、反射ビー
ム１６０光軸を与えられた信号レベＡ／に対応する角度
だけ回転させる。
２１に対応させて夫々無配＃１ｋＷＡ検出園路ｌＳ及び
ＩＩに与えられる。無配緑部検出囲路１８゜スポラ）１
１が光ディスクγ上の隣接ピッ）関に位置すゐ信号が記
鏝されて−ない領域、即ちディスク０ｔ９− 面から得
られる信号レベ〃を検出して出力する回路である１両無
配録部検出回路１８゜１−の出力は偵自量検出ｏｄＪ６
羞動増幅回路２０に与えられ１１両國路１１．１１０出
力信号レベＳＯ比較が実行されて、比較結Ｊｌ＆唸図転
鬼う−駆動系８１に与えられる自ζＤ＠＠ｔ９−駆動系
２１は、偏光ビームスプリッタ４と光検出器１２と〇関
に挿入され九１起圏転電ラー１１を回転させ、反射ビー
ム１６０光軸を与えられた信号レベＡ／に対応する角度
だけ回転させる。
上述のような構造からなる号−ボ機構を動作と共に更に
詳細に説明する。
詳細に説明する。
光ディスク７が１１４図（至）に示したように光軸との
間でΔ０（〜０）だけ傾斜して−るとすると、前述のよ
うに光強度の分布く位置ずれが生じるため光検出ｉｌｌ
２０各光検出部１２＾及び１２ｍから出力される信号
は１１６図■及び＠に示すように、互Ｉ／％にレベルの
異なった波形になる。第６図α）。
間でΔ０（〜０）だけ傾斜して−るとすると、前述のよ
うに光強度の分布く位置ずれが生じるため光検出ｉｌｌ
２０各光検出部１２＾及び１２ｍから出力される信号
は１１６図■及び＠に示すように、互Ｉ／％にレベルの
異なった波形になる。第６図α）。
■Ｋｌにて％ａ８ 及びａ嘗 は夫々光ディスタ７０
繭記無配録Ｓに相当する信号レベルでｓ ’１ 及びｂ
お・はピッ）上に光スポラ（がある場合の信号レベルに
相当する。
繭記無配録Ｓに相当する信号レベルでｓ ’１ 及びｂ
お・はピッ）上に光スポラ（がある場合の信号レベルに
相当する。
旭で、従来のツアーフィールｖ法Ａ／Ｔセン号方式では
、２分割光検出器１１０各出カ信号０羞となゐ、尚、説
明を簡単にする九め、ｉ信号レベ＃にある期間の割合は
１：１とする。
、２分割光検出器１１０各出カ信号０羞となゐ、尚、説
明を簡単にする九め、ｉ信号レベ＃にある期間の割合は
１：１とする。
光ディスク７が釧＾て＾なｉ場合は゛、各光検出部１２
＾、１２１１０光強度は対称の関係を示し、無配緑部か
もの出力信号レペ〃は両光検出部で岬しくなって補正の
必要はな−ための頷１ｋＪｌｌｌ検出用差動増幅図路２
ｏからは、回転識号−駆動のための信号は出力１れ１に
！Ａ。
＾、１２１１０光強度は対称の関係を示し、無配緑部か
もの出力信号レペ〃は両光検出部で岬しくなって補正の
必要はな−ための頷１ｋＪｌｌｌ検出用差動増幅図路２
ｏからは、回転識号−駆動のための信号は出力１れ１に
！Ａ。
しかし、光ディスク７が傾斜して＾る場合には、Ｉｍ！
４図■を用いて説明したよ５ ｉｃ ｓ無配鏝部からの
光検出器１２に与えられる入射光の強度分布にずれが生
じ、このずれは各光検出１Ｂ１！Ａ、１１ＢＥ禽ける鋤
記録部の信号レベμｍ１ ｓ ａ ｓ を検出回路１８
．１９で検出し、これら検出信号を頷―量稜出差動増幅
器２０ｆＩＣ入力して両信号レベルの大歯さを比較する
ことによって１ｊＩＩＩ量を検出することができる。
４図■を用いて説明したよ５ ｉｃ ｓ無配鏝部からの
光検出器１２に与えられる入射光の強度分布にずれが生
じ、このずれは各光検出１Ｂ１！Ａ、１１ＢＥ禽ける鋤
記録部の信号レベμｍ１ ｓ ａ ｓ を検出回路１８
．１９で検出し、これら検出信号を頷―量稜出差動増幅
器２０ｆＩＣ入力して両信号レベルの大歯さを比較する
ことによって１ｊＩＩＩ量を検出することができる。
差動増＄１８１２１の出力は更Ｋ１１ｌｉｉ１ラー駆動
系２１で増幅され、電磁式回転部を備え九図転電う−１
７に与えられるＣ＆Ｗよル、光ディスク７゜傾自ΔｅＫ
よゐ光検出器１２Ａ、１２１０分割線からのずれへ亀を
補正して、常にΔ聰−ｏとすることができる。従って、
回転ミラー１７＃ｃよシ偵自補正が施ζされ九反射ビー
ムが入射１れる光検出器１２人、１２１の出力としては
、）ラックと光スポットのずれによるＡ／Ｔ工予−のみ
が検出できることＫｔｊｌ、光ディ＾？０鯛ＩＩＩ！ｃ
よる゛影響を除いたファーフィーｋＦ法Ａ／Ｔ？−ポが
得られる。
系２１で増幅され、電磁式回転部を備え九図転電う−１
７に与えられるＣ＆Ｗよル、光ディスク７゜傾自ΔｅＫ
よゐ光検出器１２Ａ、１２１０分割線からのずれへ亀を
補正して、常にΔ聰−ｏとすることができる。従って、
回転ミラー１７＃ｃよシ偵自補正が施ζされ九反射ビー
ムが入射１れる光検出器１２人、１２１の出力としては
、）ラックと光スポットのずれによるＡ／Ｔ工予−のみ
が検出できることＫｔｊｌ、光ディ＾？０鯛ＩＩＩ！ｃ
よる゛影響を除いたファーフィーｋＦ法Ａ／Ｔ？−ポが
得られる。
前記無配鏝部検出回路１８及び１１）としては。
ダイオ−Ｖと静・電’ｓｔを′用いたピークホーＡ／Ｆ
回路によって構成することがで龜る。すなわち、光検出
部Ｉｔ＾、＊ＺＳＯそれぞれの出力信号を、ダイオ−ｒ
とコンデン号を直列接続したビータホー、Ｉ＆／ｙ回路
に与えて傾き量検出差動増幅１１２１り入力側からツン
デン苧の出力伺を見れば、無ＩＩＳ鏝部Ｏ信号しベｙａ
、、ａ、に畠け”る□ビータ値が保持される。そして、
光検出部１ｍＡ、１２１１のそれぞれのピーク値を傾き
量検出差動増幅５ｚｏｃ与えれば、その出力から偵亀量
に応じたレベＵＯ信号を出力することかで亀る′、なお
、光検出部１２人、１２１１０出力信号に閾期させて、
無配緑部に禽ける信号レペＡ／龜１．ａ、を検出するよ
うにしてもよ−。
回路によって構成することがで龜る。すなわち、光検出
部Ｉｔ＾、＊ＺＳＯそれぞれの出力信号を、ダイオ−ｒ
とコンデン号を直列接続したビータホー、Ｉ＆／ｙ回路
に与えて傾き量検出差動増幅１１２１り入力側からツン
デン苧の出力伺を見れば、無ＩＩＳ鏝部Ｏ信号しベｙａ
、、ａ、に畠け”る□ビータ値が保持される。そして、
光検出部１ｍＡ、１２１１のそれぞれのピーク値を傾き
量検出差動増幅５ｚｏｃ与えれば、その出力から偵亀量
に応じたレベＵＯ信号を出力することかで亀る′、なお
、光検出部１２人、１２１１０出力信号に閾期させて、
無配緑部に禽ける信号レペＡ／龜１．ａ、を検出するよ
うにしてもよ−。
光゛ディス１１と光軸との傾ｔｔ−補正する手段として
上述の実施例は回転ミラーを用いたが、１１４図■かも
も明らかなようにずれΔ１が零になる方向に電磁式アク
チュエータ等によりて充積２出器１２を平行移動させる
機構によっても実施で亀、更Ｋｄ光学ヘッド１５０ＭＩ
：を相当社だけ傾斜させてもよ−ことはｉ５までもない
。
上述の実施例は回転ミラーを用いたが、１１４図■かも
も明らかなようにずれΔ１が零になる方向に電磁式アク
チュエータ等によりて充積２出器１２を平行移動させる
機構によっても実施で亀、更Ｋｄ光学ヘッド１５０ＭＩ
：を相当社だけ傾斜させてもよ−ことはｉ５までもない
。
また、上述の実施例の説明ではトラック追跡動作時等に
おｉて光ディスクに傾きが生じる場合を想定したが、光
ディスクに対して光学ヘッドが傾く場合も同じ理由によ
ってに７Ｔエラーを生じ。
おｉて光ディスクに傾きが生じる場合を想定したが、光
ディスクに対して光学ヘッドが傾く場合も同じ理由によ
ってに７Ｔエラーを生じ。
ζＯ場場合＾／Ｔエラー信号を同じ原理に基いて補正す
ることかで龜９１′。
ることかで龜９１′。
Ｗ６７図はこの発明による他Ｏ実施例を示す要部０１１
７２図である。前述Ｏ実施例に対してこの実施例は、回
転ミラーを利用することなく、傾龜量検出結Ｍｔ＊径方
向違）系へライ−ドパツタしてＡ／Ｔ信ｔＫＩＩＫｌｌ
ｌ量に相当する信号レベル分Ｏ補正を施ξし％晃かけ１
光ディスクの偵亀を補正する。
７２図である。前述Ｏ実施例に対してこの実施例は、回
転ミラーを利用することなく、傾龜量検出結Ｍｔ＊径方
向違）系へライ−ドパツタしてＡ／Ｔ信ｔＫＩＩＫｌｌ
ｌ量に相当する信号レベル分Ｏ補正を施ξし％晃かけ１
光ディスクの偵亀を補正する。
即ち、第７図に右−で、光検出器１２の出カ辻前記実施
例と同様に差動増幅回路１３に与えられると共に、無配
鏝部検出回路１８．１−を介して傾龜量検出用差動増幅
回路２０に与えられる１両差動増＠ｌ１ｌｓａ、ｚｏｏ
出力は更に補正用差動増幅器２２ＷＣ入力される。補正
用差動増幅器２２では差動増幅Ｊ１１３かものトラック
ずれ検出出力に混入した光ディスクの偵きによる光検出
器への光入射強度のずれを、光ディスタＯ半径方向の移
動によって補正する丸め、補正用差動増幅！１２２０出
力は半径方向送〉系１４にフイードバツクされる。
例と同様に差動増幅回路１３に与えられると共に、無配
鏝部検出回路１８．１−を介して傾龜量検出用差動増幅
回路２０に与えられる１両差動増＠ｌ１ｌｓａ、ｚｏｏ
出力は更に補正用差動増幅器２２ＷＣ入力される。補正
用差動増幅器２２では差動増幅Ｊ１１３かものトラック
ずれ検出出力に混入した光ディスクの偵きによる光検出
器への光入射強度のずれを、光ディスタＯ半径方向の移
動によって補正する丸め、補正用差動増幅！１２２０出
力は半径方向送〉系１４にフイードバツクされる。
この実施例に１１ける補正動作は、ｍｓ図α）、■を用
いて説明すると、差動増幅器１３０出力は（増幅１１１
２００出力は（’ｔ−”ｓ）となる、従って補正ＣテＸ
ｔｉ増４１１）、 ｒ’）’）ＩＩＯｆｉｌ’−Ａ（ｂ
、−ｂ、）ＩＥ）中Ｋｊ★れる光ディス？Ｏ偵Ｉによる
誤差会を、無配鏝部からＯ信号による領亀量（町−１嘗
）Ｋよりで補正することがで自、ζＯ補正量に対Ｓさせ
て光学ヘラＦＩＢを半一方向送）系によ珈移動させ為と
とくよってピッ）部の信号から傾きの影響を除く仁とが
できる。
いて説明すると、差動増幅器１３０出力は（増幅１１１
２００出力は（’ｔ−”ｓ）となる、従って補正ＣテＸ
ｔｉ増４１１）、 ｒ’）’）ＩＩＯｆｉｌ’−Ａ（ｂ
、−ｂ、）ＩＥ）中Ｋｊ★れる光ディス？Ｏ偵Ｉによる
誤差会を、無配鏝部からＯ信号による領亀量（町−１嘗
）Ｋよりで補正することがで自、ζＯ補正量に対Ｓさせ
て光学ヘラＦＩＢを半一方向送）系によ珈移動させ為と
とくよってピッ）部の信号から傾きの影響を除く仁とが
できる。
尚、増幅率Ｘは計算又は実験によって容易に求め為Ｃと
がで亀る。
がで亀る。
また、ピットから０（Ｉｔ（ｂｘ−’＊）を補正する場
合に。
合に。
無配鏝部とピッ）部の期間が１：１かもずれ為場合には
、差動増幅ｍ１１ｍの前段に、ｖ１！ｉ５無紀録部検出
圓賂１８゜１滲と同様０回路から愈るピッ）検出回路を
曾加し、ｂｌ。
、差動増幅ｍ１１ｍの前段に、ｖ１！ｉ５無紀録部検出
圓賂１８゜１滲と同様０回路から愈るピッ）検出回路を
曾加し、ｂｌ。
ｂ、信号を取）出して差動増幅器１３に入力し、）ラッ
クずれ楡出信＊Ｃｂ、−ｂｌ）を形成し、続いて傾き量
検出差動増幅Ｗ！４２００出力（１１−町）を差し引−
て補正することによシ、正しｇ／％）チックずれ検出信
号を取〉出すことがで自る。
クずれ楡出信＊Ｃｂ、−ｂｌ）を形成し、続いて傾き量
検出差動増幅Ｗ！４２００出力（１１−町）を差し引−
て補正することによシ、正しｇ／％）チックずれ検出信
号を取〉出すことがで自る。
また、上記Ｏ実施例では、）ラックずれを補正する゛手
段として光学ヘラＶ全体を駆動する場合に適用し九が、
とＯ他に広（知られ九１法としで。
段として光学ヘラＶ全体を駆動する場合に適用し九が、
とＯ他に広（知られ九１法としで。
光スポットとシラツタがずれた場合、集光レンズを）ラ
ック方向に垂直ＩＣ振らせる方法中、ｇｅｔｓに示すよ
うに光源１と集光レンズ・Ｏ間Ｋ）ラック追跡用回転ミ
ラー２３をお＾て、その回転ｔラー２３の角度を制御す
ることによ）、トラックを追跡する方法がある。Ｖ％ず
れの場合も）ラックずれを補正すぺ（動（と、そ０＠自
によル充積知゛器上にずれを生じ、これはファーフィー
ルド法Ａ／ＴＯｊｌ大の欠点ともなっている。ζＯ＠明
はこれらの方式にも有効に適用出来為、即ち、レンズの
移動中回転ミラーの回転による光検知器上Ｏ光強度パタ
ーンのずれ量を、無配ｔａｍｏ信号からとシ出すことが
出来るため、上述の実施例Ｏように適正な補正が出来る
。このように、光ディスク中光学系Ｏ偵き全てを補正す
ることが可能である。
ック方向に垂直ＩＣ振らせる方法中、ｇｅｔｓに示すよ
うに光源１と集光レンズ・Ｏ間Ｋ）ラック追跡用回転ミ
ラー２３をお＾て、その回転ｔラー２３の角度を制御す
ることによ）、トラックを追跡する方法がある。Ｖ％ず
れの場合も）ラックずれを補正すぺ（動（と、そ０＠自
によル充積知゛器上にずれを生じ、これはファーフィー
ルド法Ａ／ＴＯｊｌ大の欠点ともなっている。ζＯ＠明
はこれらの方式にも有効に適用出来為、即ち、レンズの
移動中回転ミラーの回転による光検知器上Ｏ光強度パタ
ーンのずれ量を、無配ｔａｍｏ信号からとシ出すことが
出来るため、上述の実施例Ｏように適正な補正が出来る
。このように、光ディスク中光学系Ｏ偵き全てを補正す
ることが可能である。
以上のようにこの発明によれば、光ディスクの無配緑部
からＯＩＩ号レベしによって光ディスク中光学系の偵亀
を検出す為手段を設け、）ラック追跡に補正を加えるこ
とによ）、）ラッキングサーボＯ信頼性を高め、特に最
も光学系が簡単であるが光ディスク中光学系Ｏ偵ＩＩＫ
対してｍ−という欠点、がある丸め価値が認められなか
つたミラー図１ｉｉｊｌＯＡ／ＴＫ４７７−７４−＊Ｆ
ｍＡ／Ｔｔｊｌ用す為ことがで自％Ｆラッ◆ング号−ポ
Ｏ機構を簡単にし、光学的配録再生装置を設計し易−も
Ｏにす為ことができる。
からＯＩＩ号レベしによって光ディスク中光学系の偵亀
を検出す為手段を設け、）ラック追跡に補正を加えるこ
とによ）、）ラッキングサーボＯ信頼性を高め、特に最
も光学系が簡単であるが光ディスク中光学系Ｏ偵ＩＩＫ
対してｍ−という欠点、がある丸め価値が認められなか
つたミラー図１ｉｉｊｌＯＡ／ＴＫ４７７−７４−＊Ｆ
ｍＡ／Ｔｔｊｌ用す為ことがで自％Ｆラッ◆ング号−ポ
Ｏ機構を簡単にし、光学的配録再生装置を設計し易−も
Ｏにす為ことができる。
１１１図は従来のファーフィーｋｒ法Ａ／−Ｔ号−ポを
用−た光学的ｌａＩ＆再生羨置Ｏ模盟図、第２図α）、
＠、＠は同装置の動作を説明す為たｈＯ光ディスクの）
ラックと光ビーふＯ関係を潰す図、第３図（Ｄ 、 ＠
、・は１１１図（Ｄ 、 ＠ 、 ＠に対応す為光強
度分布図、１１４図（Ｄ ＃（転）は従来装置の欠点を
説明す為丸めの光ディス？と光ビームと光強度分布ｏｍ
ａを７示す図、ｆＭ＆図ｋｉＣｔ）ｌａｌｌｌｌＤ−１
１施４Ｆｌ＆示すｆｍツ？図、第６図（Ｄ、■は信号波
形図、第７１ｉはζＯ発明や他Ｏ実施例を示す要部ブロ
ック図、第！―はζＯ発明ｏ−ｔｏ他Ｏ実施例を示すプ
ロブＩＩＩＩである。 ＩＩＫ禽ｈ”ｃ：、１は光源、２はレーデビーム、４紘
偏光ビームスプリツタ、７は光ディスク、９はピッ）、
１Ｇは）ラック、１３は光検出囲路、１３は差動増幅器
、１４は半径方向ａ）系％）Ｓは光学ヘツＶ％１丁は回
転ミラー、１８．１９は無配緑部検出回路、２０は偵龜
量検出用羞動増幅器。 ２１は回転ミラー駆動系である。 代理人 萬 舒 信 −（外五名） 埠１ＵｊＵ 第４０ 乙θす
用−た光学的ｌａＩ＆再生羨置Ｏ模盟図、第２図α）、
＠、＠は同装置の動作を説明す為たｈＯ光ディスクの）
ラックと光ビーふＯ関係を潰す図、第３図（Ｄ 、 ＠
、・は１１１図（Ｄ 、 ＠ 、 ＠に対応す為光強
度分布図、１１４図（Ｄ ＃（転）は従来装置の欠点を
説明す為丸めの光ディス？と光ビームと光強度分布ｏｍ
ａを７示す図、ｆＭ＆図ｋｉＣｔ）ｌａｌｌｌｌＤ−１
１施４Ｆｌ＆示すｆｍツ？図、第６図（Ｄ、■は信号波
形図、第７１ｉはζＯ発明や他Ｏ実施例を示す要部ブロ
ック図、第！―はζＯ発明ｏ−ｔｏ他Ｏ実施例を示すプ
ロブＩＩＩＩである。 ＩＩＫ禽ｈ”ｃ：、１は光源、２はレーデビーム、４紘
偏光ビームスプリツタ、７は光ディスク、９はピッ）、
１Ｇは）ラック、１３は光検出囲路、１３は差動増幅器
、１４は半径方向ａ）系％）Ｓは光学ヘツＶ％１丁は回
転ミラー、１８．１９は無配緑部検出回路、２０は偵龜
量検出用羞動増幅器。 ２１は回転ミラー駆動系である。 代理人 萬 舒 信 −（外五名） 埠１ＵｊＵ 第４０ 乙θす
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （リー光ディスクの面上に（ラック状に配列された情報
を光学系によって光学的に読み取る装置において、 前記光ディスクに投射される光ビームＯ収束点から離れ
た位置に設置され、且つ光ディスクからの反射光又は透
過光が入射される光量の分割縁が設定された光検出器と
。 前記光検出器の出力に基づいてＦラックずれを検出する
トラックずれ検出手段と。 ｌ１１起）ラツ？ずれ検出手段の出力に基づ−て光ビー
ムの）チック追跡を制御する手段と、前記光検出器の出
力から、前記光ディスクＯ情報が、記録されな一無起録
ｍＫ相当すゐ信号レベルに基づｉて、前記光ディス？と
前記光学系Ｏ相対的な慎重を検出するａ電量検出手段と
、前記ＩＩＩ龜量検出手段の出力に基づいて＊配光ディ
スタと前記光学系の傾きとを補正す一手段と、を備丸′
ｃｔｋる光学的記録再生装置の）ラック追跡装置。 （り ｍ１Ｉａ光デイスクと前配光学系と０＠自を補
正す為手段は、前記光ディスクとＩＲＥ光検出器とＯ関
に配置され、且つ傾き量検出手段の出力に対して可動可
能に設けられ先回“転業ラーを含んでなることを特徴と
する特許請求の範囲第（１１項一記載の光学的記録再生
装置Ｏ）ラック追跡装置。 （１） 前記光ディスクと前記光学系と０＠亀を補正
す為手段は％ｍｌａ光検出器を前記慎重量検出手段の出
力によ〕移動させる機構を含んでなることを特徴とする
特許請求Ｏｒａ囲第（凰）項記載の光学的記録再生装置
のトラック追跡装置。 （４） 前記光ディスクと前記光学系との、傾きを補
正す為手段は、前記）ラックずれ検出手段の出力及び前
記鎖龜量検出手段Ｏ出力を入力する差動増幅ａｔ含み、
前記差動増幅器の出力を前記）ラック追跡を制御する手
段に与えて、傾き量を１ラツクすれと共に補正すること
を特徴とする特許請求０１１１ｉ１１（１）項記載の光
学的紀―再生装置Ｏシラツタ追跡装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14712481A JPS5848243A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14712481A JPS5848243A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848243A true JPS5848243A (ja) | 1983-03-22 |
| JPS6325413B2 JPS6325413B2 (ja) | 1988-05-25 |
Family
ID=15423079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14712481A Granted JPS5848243A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848243A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58183639U (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-07 | 赤井電機株式会社 | 光ピツクアツプのトラツキングエラ−信号検出装置 |
| JPS60170035A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-03 | Toshiba Corp | 光学式情報再生装置のトラッキング制御方法 |
| JPS60146921U (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-30 | アルプス電気株式会社 | トラツキングエラ−信号発生回路 |
| JPS6132228A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-14 | Sony Corp | トラツキングエラ−信号検出方式 |
| JPS6252735A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-07 | Pioneer Electronic Corp | 光学式情報記録再生装置 |
| JPS6289246A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 光記録媒体傾き検出装置 |
| EP0259913A2 (en) * | 1986-08-29 | 1988-03-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Driving signal for coarse servo employing sampled offset signal |
| JPS63103443A (ja) * | 1986-10-21 | 1988-05-09 | Hitachi Ltd | 光ヘツド |
| EP1607972A2 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus, medium, and method for compensating for a defect on a medium based on a corresponding area being a recorded area or an unrecorded area |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01146413U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57199904A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Inclination controller |
| JPS57199903A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detector |
-
1981
- 1981-09-17 JP JP14712481A patent/JPS5848243A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57199904A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Inclination controller |
| JPS57199903A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detector |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58183639U (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-07 | 赤井電機株式会社 | 光ピツクアツプのトラツキングエラ−信号検出装置 |
| JPS60170035A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-03 | Toshiba Corp | 光学式情報再生装置のトラッキング制御方法 |
| JPH0447898B2 (ja) * | 1984-02-13 | 1992-08-05 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
| JPS60146921U (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-30 | アルプス電気株式会社 | トラツキングエラ−信号発生回路 |
| JPS6132228A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-14 | Sony Corp | トラツキングエラ−信号検出方式 |
| JPS6252735A (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-07 | Pioneer Electronic Corp | 光学式情報記録再生装置 |
| JPS6289246A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 光記録媒体傾き検出装置 |
| EP0259913A2 (en) * | 1986-08-29 | 1988-03-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Driving signal for coarse servo employing sampled offset signal |
| JPS6369027A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-29 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 情報記録装置 |
| JPS63103443A (ja) * | 1986-10-21 | 1988-05-09 | Hitachi Ltd | 光ヘツド |
| EP1607972A2 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus, medium, and method for compensating for a defect on a medium based on a corresponding area being a recorded area or an unrecorded area |
| EP1607972A3 (en) * | 2004-06-15 | 2010-12-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus, medium, and method for compensating for a defect on a medium based on a corresponding area being a recorded area or an unrecorded area |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6325413B2 (ja) | 1988-05-25 |
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