JPS58150806A - 電子写真感光体の膜厚検査法 - Google Patents
電子写真感光体の膜厚検査法Info
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- JPS58150806A JPS58150806A JP3329082A JP3329082A JPS58150806A JP S58150806 A JPS58150806 A JP S58150806A JP 3329082 A JP3329082 A JP 3329082A JP 3329082 A JP3329082 A JP 3329082A JP S58150806 A JPS58150806 A JP S58150806A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating
- amount
- film thickness
- color
- generation layer
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子写真感覚体における光導電性ｌｊＡ科又
は染料を含有する薄展の膜厚又は塗布量を光学的に検査
又は管理する方法に関し、％に薄膜形成し九電荷焉生層
の膜厚又は塗布量の光学的な検査法又は管ｍ法に関する
ものである。
は染料を含有する薄展の膜厚又は塗布量を光学的に検査
又は管理する方法に関し、％に薄膜形成し九電荷焉生層
の膜厚又は塗布量の光学的な検査法又は管ｍ法に関する
ものである。
有機光導電物質は無機光導電物質に比べて感度が低い丸
め、いくつかの増感方法が考案されているが、効果的な
方法は電光により電荷担体を発生する電荷発生層と、電
荷担体を輸送する能力を持つ電荷輸送層とを組み合わせ
ることである。
め、いくつかの増感方法が考案されているが、効果的な
方法は電光により電荷担体を発生する電荷発生層と、電
荷担体を輸送する能力を持つ電荷輸送層とを組み合わせ
ることである。
仁のような方法による積層製電子写真感光体としては例
えばアルミニウム１着フィル五勢Ｏの上にオキすジアゾ
ールをポリエステｋ１１脂中に溶解せしめ九電荷輸送層
を積層せしめ九４０が知られている。このような積層臘
感党体は一般の単層瀝感光体と同様、帯電、―像状露光
及び楓像を１本工程とするカールソンプロ竜スによ多画
像を形成することができる。
えばアルミニウム１着フィル五勢Ｏの上にオキすジアゾ
ールをポリエステｋ１１脂中に溶解せしめ九電荷輸送層
を積層せしめ九４０が知られている。このような積層臘
感党体は一般の単層瀝感光体と同様、帯電、―像状露光
及び楓像を１本工程とするカールソンプロ竜スによ多画
像を形成することができる。
電衡輸送層Ｏｍ犀は、過電５〜２０μ１１度であるから
、従来の各種の方法でその膜厚を一定することができる
。ところが電ｉｋ尭生層Ｏ膜厚紘Ｏ，ＯＳ〜１ｓ＠Ｉｋ
と砲めて薄いので従来の測定方法でＵ膜厚測定か非常に
困難である。その−にめ、単位ｒｉｋＩＩｉ轟丸りのｍ
布重量を一定する方法が用いられてｔｋ九が、この方法
は一定に多くの手間と時間を景する欠点かめっ丸。電Ｉ
Ｉｉ発生層Ｏ馬厚は、感光体の特性に大きく寄与する項
目であるから、感光体の製造工程においては、その膜厚
を設定条件に合わせるため、簡便で迅速な膜厚の絢足方
法が望まれている。
、従来の各種の方法でその膜厚を一定することができる
。ところが電ｉｋ尭生層Ｏ膜厚紘Ｏ，ＯＳ〜１ｓ＠Ｉｋ
と砲めて薄いので従来の測定方法でＵ膜厚測定か非常に
困難である。その−にめ、単位ｒｉｋＩＩｉ轟丸りのｍ
布重量を一定する方法が用いられてｔｋ九が、この方法
は一定に多くの手間と時間を景する欠点かめっ丸。電Ｉ
Ｉｉ発生層Ｏ馬厚は、感光体の特性に大きく寄与する項
目であるから、感光体の製造工程においては、その膜厚
を設定条件に合わせるため、簡便で迅速な膜厚の絢足方
法が望まれている。
従って、本発明の目的は、光導電性顔料又は染料を含有
する薄膜、特に電荷発生層の塗布量又は誤岸會＃ＩｌＩ
便でしかも迅速に測定する方法を提供することである。
する薄膜、特に電荷発生層の塗布量又は誤岸會＃ＩｌＩ
便でしかも迅速に測定する方法を提供することである。
すなわち、本発明は電荷発生層が顔料を結着ｉｌＪ Ｉ
ｔ ｋに分散させて得たもので、そのためとの電荷発生
層か顔料−有の色で着色され、その着色Ｏ１Ｍ廣が電荷
発生層の膜厚によって変化している点に基づいている。
ｔ ｋに分散させて得たもので、そのためとの電荷発生
層か顔料−有の色で着色され、その着色Ｏ１Ｍ廣が電荷
発生層の膜厚によって変化している点に基づいている。
従って、予め電荷発生層の着色ａｍとその時の単位面積
当りの塗布重量のｌＩｌ係を測定し、相関チャートを作
成しておけは、以後の製造１梶で得た電荷発生層につい
ては、その着色程度を測定することによって、その電＃
Ｉ発生鳩の単位面積当りの血布重量を先に作成し九相関
チャートと比較して知ることができる。
当りの塗布重量のｌＩｌ係を測定し、相関チャートを作
成しておけは、以後の製造１梶で得た電荷発生層につい
ては、その着色程度を測定することによって、その電＃
Ｉ発生鳩の単位面積当りの血布重量を先に作成し九相関
チャートと比較して知ることができる。
着色程度を測定する方法としては、電荷発生層に白色光
を照射して、その反射光を三原色に色分解して三原色の
光量を調定し、ＣＩＥ表色奏で表わす方法を用いること
ができる。ＣＩＥ １１色系とはＣＩＥ （国際照明委
員会） １９３１年標準表色系のことであり、測定され
九色を１−７色度座標によって表わすものである。色彩
を表示する方法ＫＩＩｉこのほか、ＲＧＢ ＆色糸、Ｕ
Ｃ８表色系、マン竜ル表色系、Ｌ−ａｂ表色系などがあ
るが、本発明はこれらの方法を用いても良く、４１に制
限されるものではない。
を照射して、その反射光を三原色に色分解して三原色の
光量を調定し、ＣＩＥ表色奏で表わす方法を用いること
ができる。ＣＩＥ １１色系とはＣＩＥ （国際照明委
員会） １９３１年標準表色系のことであり、測定され
九色を１−７色度座標によって表わすものである。色彩
を表示する方法ＫＩＩｉこのほか、ＲＧＢ ＆色糸、Ｕ
Ｃ８表色系、マン竜ル表色系、Ｌ−ａｂ表色系などがあ
るが、本発明はこれらの方法を用いても良く、４１に制
限されるものではない。
又、着色程度を測定する他の方法として、電ｉｋ＠生層
に白色光を照射してその光反射率を求める方法も用いる
ことができる。これは膜厚が辱くなるにしたがって湊度
が濃くなることを応用したものである。まず、基体に標
準的な党を照射してその光の反射程度を輝度として測定
し、次に基体上に電荷発生層をもうけて同じく輝度を測
定して、そＯ比によ動反射率を求めるＯである。これは
膜厚か厚くなると低下する。
に白色光を照射してその光反射率を求める方法も用いる
ことができる。これは膜厚が辱くなるにしたがって湊度
が濃くなることを応用したものである。まず、基体に標
準的な党を照射してその光の反射程度を輝度として測定
し、次に基体上に電荷発生層をもうけて同じく輝度を測
定して、そＯ比によ動反射率を求めるＯである。これは
膜厚か厚くなると低下する。
このような方法は、基体上に塗布した電荷発生層の１ｔ
ｖｔを非接触で光を１１１定するだけの方法であるから
、非電に簡便で迅速に測定が可能である。またそのこと
によシミ子写真感光体の製造ラインの検査工程に導入す
ることも容易である。すなわち電荷発生層の塗布直後に
着色８１皺を測定し、との測定値を色彩−塗布量チャー
ドあるいは反射率−ｍ布置チャートと比較すれは九ちど
ころＫＩＩＪＩの置台、むらの有無などを判定すること
かでき、良質の電子写真感光体製造に役立たせることが
できる〇 例えは、光照射により電荷担体を発生する電荷発生層と
、電荷担体を移動せしめる能力を持つ電荷輸送層を有す
る電子写真感光体の製造工程で、電荷発生層のｍ厚を検
査する際、この電荷発生層に白色光を照射して、その光
反射率を測定し、あらかじめ測定しておい九電ｉＭ発生
層の塗布量とｊｌ射率の関係に対応させて作成したチャ
ートと比較して、この電＃ｒ発生層の塗布量を管理する
ことができ、また電荷発生層に白色光を照射して、その
反射光を色分解して三原色強＃Ｌを測定して色ＷＩＬ座
標に表わし、あらかじめ測定しておい友電荷発生層のｍ
布量と色度座標との関係に対応させて作成したチャート
と比較して、この電荷発生層の塗布量を管理することが
できる。
ｖｔを非接触で光を１１１定するだけの方法であるから
、非電に簡便で迅速に測定が可能である。またそのこと
によシミ子写真感光体の製造ラインの検査工程に導入す
ることも容易である。すなわち電荷発生層の塗布直後に
着色８１皺を測定し、との測定値を色彩−塗布量チャー
ドあるいは反射率−ｍ布置チャートと比較すれは九ちど
ころＫＩＩＪＩの置台、むらの有無などを判定すること
かでき、良質の電子写真感光体製造に役立たせることが
できる〇 例えは、光照射により電荷担体を発生する電荷発生層と
、電荷担体を移動せしめる能力を持つ電荷輸送層を有す
る電子写真感光体の製造工程で、電荷発生層のｍ厚を検
査する際、この電荷発生層に白色光を照射して、その光
反射率を測定し、あらかじめ測定しておい九電ｉＭ発生
層の塗布量とｊｌ射率の関係に対応させて作成したチャ
ートと比較して、この電＃ｒ発生層の塗布量を管理する
ことができ、また電荷発生層に白色光を照射して、その
反射光を色分解して三原色強＃Ｌを測定して色ＷＩＬ座
標に表わし、あらかじめ測定しておい友電荷発生層のｍ
布量と色度座標との関係に対応させて作成したチャート
と比較して、この電荷発生層の塗布量を管理することが
できる。
本発明について史に詳しく説明すると、まず電子写真感
光体の１体は、アルミニウム、黄銅、ステンレスなどの
金属、またはポリエチレンテレ７タレート、ポリブチレ
ンテレ７タレート、７ａａノール１ｕｉｉ、ポリプロピ
レン、ナイロン、ポリスチレンなどの高分子材料、硬質
紙＠０材料を円筒状に成型するか、フィルムや箔にして
用いられる。絶縁体の場合には、導電処置をする必豊か
あるが、それには導電性−質の含浸、金属箔のラミネー
ト、金属のｍｍなどの方法がある。
光体の１体は、アルミニウム、黄銅、ステンレスなどの
金属、またはポリエチレンテレ７タレート、ポリブチレ
ンテレ７タレート、７ａａノール１ｕｉｉ、ポリプロピ
レン、ナイロン、ポリスチレンなどの高分子材料、硬質
紙＠０材料を円筒状に成型するか、フィルムや箔にして
用いられる。絶縁体の場合には、導電処置をする必豊か
あるが、それには導電性−質の含浸、金属箔のラミネー
ト、金属のｍｍなどの方法がある。
基体上には、１体と電＃発生層の後着１１改良、電荷発
生層の塗工性向上、基体の保−１基体上の欠陥の被嶺、
電荷発生層Ｏ域気的破ｍＫ対する保麟、電荷発生層への
電荷注入性改良などのため、桐側層から成る下引６層を
もうけることが有効でやる口このような樹脂としては、
ポリビニルアルコール、ポリ−Ｎ ビニルイミダゾール
、ホリエテレンオキシド、エチルセルロース、メチルセ
ルロース、エチーレンーアクリル酸コポリマー、カゼイ
ン、ゼ之テン、ニカワ、ポリアミド、アルキド樹脂尋が
挙げられる。下引き層の膜厚は０．５〜ｌＯμ程度であ
る。
生層の塗工性向上、基体の保−１基体上の欠陥の被嶺、
電荷発生層Ｏ域気的破ｍＫ対する保麟、電荷発生層への
電荷注入性改良などのため、桐側層から成る下引６層を
もうけることが有効でやる口このような樹脂としては、
ポリビニルアルコール、ポリ−Ｎ ビニルイミダゾール
、ホリエテレンオキシド、エチルセルロース、メチルセ
ルロース、エチーレンーアクリル酸コポリマー、カゼイ
ン、ゼ之テン、ニカワ、ポリアミド、アルキド樹脂尋が
挙げられる。下引き層の膜厚は０．５〜ｌＯμ程度であ
る。
電荷発生層は、スーダンレッド、ダイアンブルー、ジエ
ナスグリーンＢなどのアゾ顔料、アルゴールイエロー、
ピレンキノン、インダンスレンブリリアントバイオレッ
トＲＲＰなどのキノン顔料、キノシアニンｌｊＡ科、ペ
リレン餉科、インジゴ、チオインジゴ尋のインジゴ顔料
、インドファーストオレンジトナーなどのビスベンゾイ
ミダゾール顔料、−フタロシアニンなどのフタロシアニ
ン顔料、キナクリドンｆｉｌｌｉ科、ビリリウム系染料
等の電荷発生物質を、ポリエステル、ポリスチレン、ポ
リ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、アクリル、ポリビニル
ブチラール、４替ビニルピロリドン、メチルセルロース
、ヒドロキシグロビルメテルセルロース、アクリレート
類などの結着剤１１ｔｌｉに分散して形成される〇ま九
、蒸着などによって形成することもできる・前述したよ
うに、電荷発生層はそれぞれの顔料Ｖｃ同有Ｏ色に着色
しており、膜厚によ）着色Ｏ１ｉ度が変化するので、膜
厚調定に適用する仁とができる。
ナスグリーンＢなどのアゾ顔料、アルゴールイエロー、
ピレンキノン、インダンスレンブリリアントバイオレッ
トＲＲＰなどのキノン顔料、キノシアニンｌｊＡ科、ペ
リレン餉科、インジゴ、チオインジゴ尋のインジゴ顔料
、インドファーストオレンジトナーなどのビスベンゾイ
ミダゾール顔料、−フタロシアニンなどのフタロシアニ
ン顔料、キナクリドンｆｉｌｌｉ科、ビリリウム系染料
等の電荷発生物質を、ポリエステル、ポリスチレン、ポ
リ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニル、アクリル、ポリビニル
ブチラール、４替ビニルピロリドン、メチルセルロース
、ヒドロキシグロビルメテルセルロース、アクリレート
類などの結着剤１１ｔｌｉに分散して形成される〇ま九
、蒸着などによって形成することもできる・前述したよ
うに、電荷発生層はそれぞれの顔料Ｖｃ同有Ｏ色に着色
しており、膜厚によ）着色Ｏ１ｉ度が変化するので、膜
厚調定に適用する仁とができる。
また、電荷輸送層は主鎖又は側鎖にアントラセン、ピレ
ン、フェナントレン、コロネンナトの多環芳査族化合物
又越インドール、カルバゾール、オキすゾール、インオ
キナノール、チアゾール、イミダゾール、ピラゾール、
オキ賃ジアゾール、ピラゾリン、チアジアゾール、トリ
アゾールなどの含窒素環式化合物を有する化合物、ヒド
ラゾン化合物等の正孔輸送性物質を成績性のある４１１
＆に溶解させて形成される＠これは電荷輸送性物質が一
般的？！ｃ低分子量で、１それ自身では成膜性に乏しい
えめである。そのよう１に樹脂としては、ポリカーボネ
ート、ポリメタクリル酸エステル頽、ボリアリレート、
ポリスチレン、ポリエステル、ポリ塩化ビニリデン、ポ
リフルホン、等が挙げられる。
ン、フェナントレン、コロネンナトの多環芳査族化合物
又越インドール、カルバゾール、オキすゾール、インオ
キナノール、チアゾール、イミダゾール、ピラゾール、
オキ賃ジアゾール、ピラゾリン、チアジアゾール、トリ
アゾールなどの含窒素環式化合物を有する化合物、ヒド
ラゾン化合物等の正孔輸送性物質を成績性のある４１１
＆に溶解させて形成される＠これは電荷輸送性物質が一
般的？！ｃ低分子量で、１それ自身では成膜性に乏しい
えめである。そのよう１に樹脂としては、ポリカーボネ
ート、ポリメタクリル酸エステル頽、ボリアリレート、
ポリスチレン、ポリエステル、ポリ塩化ビニリデン、ポ
リフルホン、等が挙げられる。
°なお、本発明において色を創建する方法にはフォトボ
ルト色彩針、光電色差計、観色色差針、微小平向色・彩
針、自動光嶌色彩針、望遠色彩針、色彩輝度針など、各
棟の方法が挙けられるが、非接触で反射光が測定可能な
ことを考慮して選ぷ必豐がある。測定については、実施
例によって説明するが、これは本発明の一応用例を示す
ものでこれによって本発明が制限されるものではないの
はもちろんである。
ルト色彩針、光電色差計、観色色差針、微小平向色・彩
針、自動光嶌色彩針、望遠色彩針、色彩輝度針など、各
棟の方法が挙けられるが、非接触で反射光が測定可能な
ことを考慮して選ぷ必豐がある。測定については、実施
例によって説明するが、これは本発明の一応用例を示す
ものでこれによって本発明が制限されるものではないの
はもちろんである。
実Ｊｌｌ１例１
ニューシーラントｔｉ５クチツクカゼインをｌＯ＊（重
量部、以下ＦＡ様）耐シとり、水９０部に分散させ九後
、アンモニア水１部を加えて溶解させた〇一方、ヒドロ
キシグロビルメチルセルロース樹脂（商品名；メトロー
ズ６０ＳＨ５０、（ｌ越化学製）３ｓを水２０ｉｔＳＫ
溶解させ、次いで両者を混合して下引き層の塗布液を作
りえ。
量部、以下ＦＡ様）耐シとり、水９０部に分散させ九後
、アンモニア水１部を加えて溶解させた〇一方、ヒドロ
キシグロビルメチルセルロース樹脂（商品名；メトロー
ズ６０ＳＨ５０、（ｌ越化学製）３ｓを水２０ｉｔＳＫ
溶解させ、次いで両者を混合して下引き層の塗布液を作
りえ。
この液を８０−×３００編のＡＺシリンダーに浸漬法で
ｉｈ島し、８０℃で１０分間転燥させ、１１μ犀の下引
き層を形成し丸。
ｉｈ島し、８０℃で１０分間転燥させ、１１μ犀の下引
き層を形成し丸。
次に下記構造式の幇スアゾ顔料をｌＯｓおよび結着剤と
してポリビニルブチ２−ルー脂（ｍ品名ｍ ニーＸ し
ｙ ／ 蔵、積木化学ｌ１）８ＩＩをシフ０へ１？ｆノ
：ｙ ６０ ｍＩＫ ｍ ４１ シ、ｘ＊ｓｙスピーズ
を用い次すンドミに装置で２０時間におわ九ν分散し九
〇得られ九分散猷にメチルエチルケトン（ＭＥＫ ）−
を１００１１１加え、塗布適度を変えて浸漬法で下引色
層上に塗布し、乾燥し九〇との電荷発生層は顔料によｐ
青色に着色してい友。この色および反射率を色彩輝・縦
針（−品名： ｍ５、東京光学社Ｈ）で調定しえ。一方
、塗Ｓ［ハ簸＊１１は舌、Ｕ仙１中α哨−４１０１上
Ｌ八妊回を衆ＩＫホす。さらに、第１図と第２図に
示すチャートを作成した。図中、１は塗布量と色彩の関
係を享す曲線で、２は対応する塗布量である。３は塗布
量と反射率を示す曲線である。
してポリビニルブチ２−ルー脂（ｍ品名ｍ ニーＸ し
ｙ ／ 蔵、積木化学ｌ１）８ＩＩをシフ０へ１？ｆノ
：ｙ ６０ ｍＩＫ ｍ ４１ シ、ｘ＊ｓｙスピーズ
を用い次すンドミに装置で２０時間におわ九ν分散し九
〇得られ九分散猷にメチルエチルケトン（ＭＥＫ ）−
を１００１１１加え、塗布適度を変えて浸漬法で下引色
層上に塗布し、乾燥し九〇との電荷発生層は顔料によｐ
青色に着色してい友。この色および反射率を色彩輝・縦
針（−品名： ｍ５、東京光学社Ｈ）で調定しえ。一方
、塗Ｓ［ハ簸＊１１は舌、Ｕ仙１中α哨−４１０１上
Ｌ八妊回を衆ＩＫホす。さらに、第１図と第２図に
示すチャートを作成した。図中、１は塗布量と色彩の関
係を享す曲線で、２は対応する塗布量である。３は塗布
量と反射率を示す曲線である。
表１ｆｆｉ布速皺とｍ布量、色彩の関係式で示されるヒ
ドラゾン化合物１０％、アクリロニトリル−スチレン共
重合４１１３１（ｉ１品名：５ＡＮ−Ｃ１三菱モンナン
ト化成製）１０１１を毫ノクロルベンゼン７０ｍＫ溶解
して、こＯＩ［を電荷発生層上に塗布した。１００℃で
４０分間Ｏ加熱乾燥を施して１２ｊ１厚の電荷輸送層を
形成して電子岑真感光体とし丸。
ドラゾン化合物１０％、アクリロニトリル−スチレン共
重合４１１３１（ｉ１品名：５ＡＮ−Ｃ１三菱モンナン
ト化成製）１０１１を毫ノクロルベンゼン７０ｍＫ溶解
して、こＯＩ［を電荷発生層上に塗布した。１００℃で
４０分間Ｏ加熱乾燥を施して１２ｊ１厚の電荷輸送層を
形成して電子岑真感光体とし丸。
こうして製造した電子４真感光体を、−＆６ＫＶコロナ
帝電２画偉露光、乾式トナー濡像。
帝電２画偉露光、乾式トナー濡像。
普通紙へのトナー転写、ウレタンゴムブレード（硬度７
０°、圧力５ ｇｗ／ａｍ ｓ感光体に対する角３１２
０°）によるクリーニング工程等を有する電子４真４１
′Ｉｓ機に取ｐ付けて特性を評価し友。画像の白い部分
の電位を明部電位、黒い一分の電位を暗部電位とし、電
１ｒ発生層の塗布量を変化させ良悪光体についてそれぞ
れ測定した。そＯ結果を表２に示した。
０°、圧力５ ｇｗ／ａｍ ｓ感光体に対する角３１２
０°）によるクリーニング工程等を有する電子４真４１
′Ｉｓ機に取ｐ付けて特性を評価し友。画像の白い部分
の電位を明部電位、黒い一分の電位を暗部電位とし、電
１ｒ発生層の塗布量を変化させ良悪光体についてそれぞ
れ測定した。そＯ結果を表２に示した。
表２ 電荷発生層塗布量と特性の関係
Ｉｌ１発生層の塗布量が多くなるにしたがい、ｋ！Ａ部
電位、暗部電位が低下している。その差がコントラスト
であるが、それは塗布量が６５ＭＩ／／ｗｌ電荷発生層
の塗布王権における塗布量の検査はこの電荷発生層の着
色程度と先に作成し友相−チャートを比較することで、
燦時間（約１分）で容易に行うことができる。これに対
して重量測定法による塗布量測定は１ｉＦＴｏ九り約４
０分間の時間を必簀とする。さらＫこの測定は破壊検査
であるので連続的に塗布量の掬□定をすることができな
いが、色彩ま友は反射率の測定は非破壊検査であるから
、生産１１！において１本ずつ検査することもできて、
はるかに優れ先方法でめシ、品質の安定化にも役立つ。
電位、暗部電位が低下している。その差がコントラスト
であるが、それは塗布量が６５ＭＩ／／ｗｌ電荷発生層
の塗布王権における塗布量の検査はこの電荷発生層の着
色程度と先に作成し友相−チャートを比較することで、
燦時間（約１分）で容易に行うことができる。これに対
して重量測定法による塗布量測定は１ｉＦＴｏ九り約４
０分間の時間を必簀とする。さらＫこの測定は破壊検査
であるので連続的に塗布量の掬□定をすることができな
いが、色彩ま友は反射率の測定は非破壊検査であるから
、生産１１！において１本ずつ検査することもできて、
はるかに優れ先方法でめシ、品質の安定化にも役立つ。
第１図は、塗布量と色彩の関係を示す説＠閣、第２図は
ｍ布量と反射率の関係を示す説明図である。 ｌ・・・塗布量と色彩の関係を示す画一２・・−布量（
ｍ１ｌｄ ）
ｍ布量と反射率の関係を示す説明図である。 ｌ・・・塗布量と色彩の関係を示す画一２・・−布量（
ｍ１ｌｄ ）
Claims (1)
- 光導電性顔料又は染料を含有する層の着色程度と塗布量
の相関チャートを作成し、別に製造しえ光導電性ＩＩＡ
科又は染料を含有する層の塗布量を鉄層の着色＠皺と前
記相関チャートの着色Ｓｍおよび塗布量の比較によって
検査することを特徴とする電子写真感光体の膜厚検査法
０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3329082A JPS58150806A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 電子写真感光体の膜厚検査法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3329082A JPS58150806A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 電子写真感光体の膜厚検査法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58150806A true JPS58150806A (ja) | 1983-09-07 |
Family
ID=12382400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3329082A Pending JPS58150806A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 電子写真感光体の膜厚検査法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58150806A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62135707A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Nisshin Steel Co Ltd | クロメ−ト処理鋼板のクロメ−ト皮膜付着量測定方法 |
| JPS63238505A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-04 | Sunstar Giken Kk | 塗布剤の塗布状態検査方法 |
| CN116045791A (zh) * | 2023-04-03 | 2023-05-02 | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种金属漆涂层厚度评估方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51120238A (en) * | 1975-04-15 | 1976-10-21 | Fujitsu Ltd | Thickness measuring system for evaporated film |
| JPS5752806A (en) * | 1980-09-16 | 1982-03-29 | Ricoh Co Ltd | Method and device for measuring film thickness |
-
1982
- 1982-03-03 JP JP3329082A patent/JPS58150806A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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