JPS58178206A - 薄膜下引層の膜厚検査法 - Google Patents
薄膜下引層の膜厚検査法Info
- Publication number
- JPS58178206A JPS58178206A JP6152182A JP6152182A JPS58178206A JP S58178206 A JPS58178206 A JP S58178206A JP 6152182 A JP6152182 A JP 6152182A JP 6152182 A JP6152182 A JP 6152182A JP S58178206 A JPS58178206 A JP S58178206A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating layer
- film thickness
- under coating
- color
- chromaticity
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、下引層、特に電子写真感光体に使用する下引
層の膜厚を製造工程中で検査できる検査方法に関し、更
（詳しくは、基体上にもうけられた樹脂層の膜厚に従つ
え干渉色の色度からその膜厚を時定する検査方法Ｋｉｌ
！するものである。
層の膜厚を製造工程中で検査できる検査方法に関し、更
（詳しくは、基体上にもうけられた樹脂層の膜厚に従つ
え干渉色の色度からその膜厚を時定する検査方法Ｋｉｌ
！するものである。
電子写真感光体は、基体上に感光層を有するものが基本
構成であるが、基体と感光層の接着性改良、感光層の塗
工性向上、基体の保饅、基体上の欠陥の被覆、感光層の
電気的破壊に対する保４などのために基体と感光層の聞
に下引層 。
構成であるが、基体と感光層の接着性改良、感光層の塗
工性向上、基体の保饅、基体上の欠陥の被覆、感光層の
電気的破壊に対する保４などのために基体と感光層の聞
に下引層 。
と呼げねる樹脂層をもうけることが有効である。
下引層は、感光体の構成要素の一員であるから、その電
気的特性は重要である。下引層に要求式ねる電気的特性
としては、一般に絶縁破壊電圧が奥いこと、電荷注入性
が適度であり、感光特性を低下させなりこと、さらには
体積抵抗率か１０１０〜１０１５Ω１であること等が挙
げられる。
気的特性は重要である。下引層に要求式ねる電気的特性
としては、一般に絶縁破壊電圧が奥いこと、電荷注入性
が適度であり、感光特性を低下させなりこと、さらには
体積抵抗率か１０１０〜１０１５Ω１であること等が挙
げられる。
特に体積抵抗率は、これが高い場合には感光層に残留電
位が生じ、コピー１１ｉｉ儂の白地がうす黒ぐかぶる現
像が起こるので重要である。しかし、現実には前述の要
求される特性を十分に満足する材料を吃す出すことが困
難で、％に湿度が但くなった場合には抵抗率が上昇する
傾向があるので、ａ、ｂ−ｇらのことである。
位が生じ、コピー１１ｉｉ儂の白地がうす黒ぐかぶる現
像が起こるので重要である。しかし、現実には前述の要
求される特性を十分に満足する材料を吃す出すことが困
難で、％に湿度が但くなった場合には抵抗率が上昇する
傾向があるので、ａ、ｂ−ｇらのことである。
この様な問題を解決する手段として、一般には下引層を
薄層化することＫよって漬正な体積抵抗率が得られる様
にして、襟り返し使用し友際に残留電位が蓄積しないよ
うＫしている。この目的のためには下引層のＰｓ庫を０
．１〜１μとすることが必要で、たとえ残留電位があっ
ても、それを低電位の範囲内にととめて、見かけ上の影
響を少くすることができる。しかしながら、下引層をこ
のように薄層化すると、膜厚の測定が非常に困嫌とな９
、殊に感光体の製造工程において、簡ｆＫ膜厚を検査す
る方法がなかった。
薄層化することＫよって漬正な体積抵抗率が得られる様
にして、襟り返し使用し友際に残留電位が蓄積しないよ
うＫしている。この目的のためには下引層のＰｓ庫を０
．１〜１μとすることが必要で、たとえ残留電位があっ
ても、それを低電位の範囲内にととめて、見かけ上の影
響を少くすることができる。しかしながら、下引層をこ
のように薄層化すると、膜厚の測定が非常に困嫌とな９
、殊に感光体の製造工程において、簡ｆＫ膜厚を検査す
る方法がなかった。
その丸め、製造工程中で下引層の膜厚に変化を生じても
、実際上膜厚の測定を行なっていないので、ロフト中の
感光体が帯電特性にばらつきを生じることがあつ九。こ
れは、感光体の製造コストの上昇に＃Ｌ因するものであ
る。
、実際上膜厚の測定を行なっていないので、ロフト中の
感光体が帯電特性にばらつきを生じることがあつ九。こ
れは、感光体の製造コストの上昇に＃Ｌ因するものであ
る。
従って、本発明の目的は、感光体特に電子写真感光体の
製造工程中でも簡便に下引層のｌｓ犀を検査できる方法
を提供することであり、延いてはロット中で安定し丸帯
１１４Ｉ性を有する感光体を製造できる方法を提供する
ことＫある。
製造工程中でも簡便に下引層のｌｓ犀を検査できる方法
を提供することであり、延いてはロット中で安定し丸帯
１１４Ｉ性を有する感光体を製造できる方法を提供する
ことＫある。
すなわち、本発明は、下引層を０．１〜１声のような薄
層化すると、下引層の膜厚が光の波長に近くなるので、
下引層に白色光を当てると干渉色を呈するようＫなり、
その干渉色の色彩が下引層の膜厚（より変化するととに
基づいている・従って、本発明の方法は、製造工程中で
０．１〜１μの如き薄膜下引層の膜厚を検査する際、下
引層に白色光を照射し、生じた干渉色の色度を測定する
ことＫよって、その下引層の膜厚を特定することができ
る。
層化すると、下引層の膜厚が光の波長に近くなるので、
下引層に白色光を当てると干渉色を呈するようＫなり、
その干渉色の色彩が下引層の膜厚（より変化するととに
基づいている・従って、本発明の方法は、製造工程中で
０．１〜１μの如き薄膜下引層の膜厚を検査する際、下
引層に白色光を照射し、生じた干渉色の色度を測定する
ことＫよって、その下引層の膜厚を特定することができ
る。
干渉色の波長については、次式（１）が成立する。
１１＋が偶数のとき、そのＶ長の光が強められ、ｍが奇
数の時、その波長の光が弱められる。
数の時、その波長の光が弱められる。
色彩ケ測定する方法には、フォトボルト色彩色
計、尤亀色差計、爾電色差計、微小平面色彩計、自動光
電色彩計、望櫨色彩計１色彩輝度計などの各種の方法が
挙げられるが、非接触で反射光が測定可能なことを考慮
して選ぶ必要がある。
電色彩計、望櫨色彩計１色彩輝度計などの各種の方法が
挙げられるが、非接触で反射光が測定可能なことを考慮
して選ぶ必要がある。
色彩を表現する方法には、ＣｌＩＣ（国際照明委阪会）
１９５１年標準表色系があり、これは測定８７″ｌた色
を！−７色度座標によって表わすものである０色を表示
する方法（はこのほか、ＩＢ表色系、ＵＳＣ表色系、ｉ
ン七ル表色系、Ｌ、ａｂ表色系などがあるが、どのよう
な方法を用いてもよい。
１９５１年標準表色系があり、これは測定８７″ｌた色
を！−７色度座標によって表わすものである０色を表示
する方法（はこのほか、ＩＢ表色系、ＵＳＣ表色系、ｉ
ン七ル表色系、Ｌ、ａｂ表色系などがあるが、どのよう
な方法を用いてもよい。
例えば、干渉色から波長を求める方法としては１色彩表
境をｃＩｎニーｔ９ｇ１年表色系とし友際、第１図に示
すｘ−７色度とスペクトル主波長曲線の関係図（「光学
技術ハンドブック」（朝倉書店刊、昭和５４年８月１０
日、第４０５頁）から波長を求め、次いで前述の式（１
）Ｋ示すｍとｎの値を特定することＫよって、下引層の
膜厚を求めることができる。しかし、本発明の好ましい
具体例では、下引層の膜厚とこの下引層に白色光を照射
し走時に生じ九干渉色の色彩ｔ！−７８度図から求めた
ｘ−ｙｌ［Ｋついて予め数種類求め、これをチャート（
第２図に示す）として作成しておき、製造工程中で下引
層ＯＳ厚について検査することが生じた時、−述と同様
の方法で下引層に白色光を照射し、その時に生じた干渉
色の色彩の！−７値をＸ−７色度図から求め、この値に
対応する膜厚を前述のチャートから読み取るととによっ
て、その下引層の膜厚を知ることができる。
境をｃＩｎニーｔ９ｇ１年表色系とし友際、第１図に示
すｘ−７色度とスペクトル主波長曲線の関係図（「光学
技術ハンドブック」（朝倉書店刊、昭和５４年８月１０
日、第４０５頁）から波長を求め、次いで前述の式（１
）Ｋ示すｍとｎの値を特定することＫよって、下引層の
膜厚を求めることができる。しかし、本発明の好ましい
具体例では、下引層の膜厚とこの下引層に白色光を照射
し走時に生じ九干渉色の色彩ｔ！−７８度図から求めた
ｘ−ｙｌ［Ｋついて予め数種類求め、これをチャート（
第２図に示す）として作成しておき、製造工程中で下引
層ＯＳ厚について検査することが生じた時、−述と同様
の方法で下引層に白色光を照射し、その時に生じた干渉
色の色彩の！−７値をＸ−７色度図から求め、この値に
対応する膜厚を前述のチャートから読み取るととによっ
て、その下引層の膜厚を知ることができる。
以上のようＫして薄膜下引層の干渉色および該干渉色に
対応する下引層の膜厚の関係茶水すチャートと別に設け
た薄膜下引層の干渉色を比較することＫよって皺薄膜下
引層の膜厚を検査することができる。この方法は、非破
壊検査であるから主書される電子写真感光体について全
数検査することも可能であり、下引層の膜厚の生産Ｉ′
＃壇、品質安定化に役立つものである。
対応する下引層の膜厚の関係茶水すチャートと別に設け
た薄膜下引層の干渉色を比較することＫよって皺薄膜下
引層の膜厚を検査することができる。この方法は、非破
壊検査であるから主書される電子写真感光体について全
数検査することも可能であり、下引層の膜厚の生産Ｉ′
＃壇、品質安定化に役立つものである。
下引Ｉｌｌ Ｋ用いられる樹脂としては、ボリアミド、
ポリウレタン、コポリエチレン−アクリル酸、メチルセ
ルロール、ニトロセルロース、アルキド樹脂、フェノー
ル樹脂等が挙げられる。
ポリウレタン、コポリエチレン−アクリル酸、メチルセ
ルロール、ニトロセルロース、アルキド樹脂、フェノー
ル樹脂等が挙げられる。
電子写真感光体は、この下引層の上に感光層が塗布され
て形成される。感光層は、色素増感さｔ″した酸化会鉛
、セレン粉体、無定形シリコン粉体、ポリビニルカルバ
ゾール、フタ−シアニン顔料、オキサジアゾ−λ額料、
郷を必要に応じて締着ｍ樹脂と共ＫＩｋ布形成される。
て形成される。感光層は、色素増感さｔ″した酸化会鉛
、セレン粉体、無定形シリコン粉体、ポリビニルカルバ
ゾール、フタ−シアニン顔料、オキサジアゾ−λ額料、
郷を必要に応じて締着ｍ樹脂と共ＫＩｋ布形成される。
ｔた、有機光導電物質を用いる場合、特性の向上の丸め
の効果的な方法として、露光によ炒電荷担体を発生する
電荷発生層と、発生し九電荷担体を移動させる能力を持
つ電荷輸送層を組与合わせることもある。
の効果的な方法として、露光によ炒電荷担体を発生する
電荷発生層と、発生し九電荷担体を移動させる能力を持
つ電荷輸送層を組与合わせることもある。
電荷発生物質としては、例えば、スーダンレッド、ダイ
アンブルーなどのアゾ顔料、アルコールイエロー、ビノ
ンキノンなどのキノン顔料、インジゴ、チオインジゴな
どのインジゴ顔料、−フタロシアニンなど０７タ胃シア
ニン−料、ビスベンゾイミダゾール原料、キナタドリン
原料等が挙げられる。
アンブルーなどのアゾ顔料、アルコールイエロー、ビノ
ンキノンなどのキノン顔料、インジゴ、チオインジゴな
どのインジゴ顔料、−フタロシアニンなど０７タ胃シア
ニン−料、ビスベンゾイミダゾール原料、キナタドリン
原料等が挙げられる。
電荷輸送層は、一般には主鎖を友は側鎖に、アントラセ
ン、ヒレン、７エナントレン、コロネンなどの多環芳香
族化金物、あるいはインドール、カルバゾール、オキサ
ゾール、イソオキ賃ゾール、チアゾール、イ建ダゾール
、ピラゾール、オキサジアゾールなどの含窒素環式化合
物を有する化合物、ヒドラゾン化合物などが必４１に応
じて、ポリスプレン、スチレンーブタジヱンコポリマー
、シリコーン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリサルホン、ポ
リカーボネート、アクリル樹脂、ポリエステル、ポリ塩
化ビニル、スチレン−アクリロニトリルコポリマー、ボ
リアリレート等の成膜性樹脂と共に電荷発生層上に塗布
形成される。電荷輸送層の膜厚は通常５〜２０μ穆度で
ある。
ン、ヒレン、７エナントレン、コロネンなどの多環芳香
族化金物、あるいはインドール、カルバゾール、オキサ
ゾール、イソオキ賃ゾール、チアゾール、イ建ダゾール
、ピラゾール、オキサジアゾールなどの含窒素環式化合
物を有する化合物、ヒドラゾン化合物などが必４１に応
じて、ポリスプレン、スチレンーブタジヱンコポリマー
、シリコーン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリサルホン、ポ
リカーボネート、アクリル樹脂、ポリエステル、ポリ塩
化ビニル、スチレン−アクリロニトリルコポリマー、ボ
リアリレート等の成膜性樹脂と共に電荷発生層上に塗布
形成される。電荷輸送層の膜厚は通常５〜２０μ穆度で
ある。
以下、本発明を実施例に従って説明する。
実施例 １
共重合ナイロンから成るポリアミド樹脂（商品名：アミ
ラン０Ｍ８０００ ；東し■製）１０１に重量部、以下
同様）を用意し、５０℃に加熱し九メタノール６０部に
Ｓ解させ、常゛温に冷えてからトルエン５０部を加えた
。
ラン０Ｍ８０００ ；東し■製）１０１に重量部、以下
同様）を用意し、５０℃に加熱し九メタノール６０部に
Ｓ解させ、常゛温に冷えてからトルエン５０部を加えた
。
５０μ庫のアルミニウムシートに下引層上塗布してじゅ
うぶんに乾燥させた。このうち４００１２を切り取り、
重量測定法により膜厚を計算した。比重は１．１である
。一方、写真用電球によりシート表面の照明をして色彩
輝闇計（商品名１１Ｍ５．東京光学社製）で干渉色の色
（を測定した。このような実験を塗布量を変えて繰勢返
し行い、膜厚と色度の関係を求めえ、この結果を＠２Ｆ
ｊ！ＩＫ示すチャートＫｔとめえ０次に８０φ×５００
■Ｏアルミニウムシリンダーに浸漬法で下引層を塗布し
、１００℃１０分関０熱凰乾燥して下引層を敷は丸。
うぶんに乾燥させた。このうち４００１２を切り取り、
重量測定法により膜厚を計算した。比重は１．１である
。一方、写真用電球によりシート表面の照明をして色彩
輝闇計（商品名１１Ｍ５．東京光学社製）で干渉色の色
（を測定した。このような実験を塗布量を変えて繰勢返
し行い、膜厚と色度の関係を求めえ、この結果を＠２Ｆ
ｊ！ＩＫ示すチャートＫｔとめえ０次に８０φ×５００
■Ｏアルミニウムシリンダーに浸漬法で下引層を塗布し
、１００℃１０分関０熱凰乾燥して下引層を敷は丸。
下引層上に写真用昼光色電球の光を照射し、この時に生
じ九干渉色０８度を測定し友ところ、Ｘ冨０．２９．７
−０．４６であつ九。第２図に示すチャートの比較によ
り膜厚を求めると、ｏ、ｓ ｏ ｓであることが判明し
友、このように、シリンダー上に塗布して形成した下引
層Ｏ膜厚Ｏ＃Ｉ４定であっても、かかる干渉色測定によ
り、膜厚渕定全容異に行なうことがで自る。
じ九干渉色０８度を測定し友ところ、Ｘ冨０．２９．７
−０．４６であつ九。第２図に示すチャートの比較によ
り膜厚を求めると、ｏ、ｓ ｏ ｓであることが判明し
友、このように、シリンダー上に塗布して形成した下引
層Ｏ膜厚Ｏ＃Ｉ４定であっても、かかる干渉色測定によ
り、膜厚渕定全容異に行なうことがで自る。
次Ｋ、下記構造式のビスアゾ顔料を１０部ポリビニルブ
チラール樹脂（商品名： ｘ Ｘ Ｖ ：／りＢＸＬ４
水化学−ｍｌ）＠部およびシクロヘキサノン６０部を１
φｉｊヲスビーズを用いたサンドミル装置で２０時間分
散し友、この分散液にメチルエチルケトン１’Ｏ０部を
加えて、上記下引層上に、０．１１／鵬２の塗布量とな
るように浸漬塗布し、１００℃５分間の乾燥をして電荷
発生層を形成した。
チラール樹脂（商品名： ｘ Ｘ Ｖ ：／りＢＸＬ４
水化学−ｍｌ）＠部およびシクロヘキサノン６０部を１
φｉｊヲスビーズを用いたサンドミル装置で２０時間分
散し友、この分散液にメチルエチルケトン１’Ｏ０部を
加えて、上記下引層上に、０．１１／鵬２の塗布量とな
るように浸漬塗布し、１００℃５分間の乾燥をして電荷
発生層を形成した。
久に、
なる構造式のヒドラゾン化合物１０部とムｇ＠Ｉｎｋ
（１品名；サンレックス−０：三菱モンサント化成製）
１０ｓｔモノクロルベンゼン７０部に俗解させた。これ
を電荷発生層上Ｋｌｋ布し、１００°Ｃで１時間熱風乾
燥して１２μ犀の電荷輸送層を形成した。
（１品名；サンレックス−０：三菱モンサント化成製）
１０ｓｔモノクロルベンゼン７０部に俗解させた。これ
を電荷発生層上Ｋｌｋ布し、１００°Ｃで１時間熱風乾
燥して１２μ犀の電荷輸送層を形成した。
電荷輸送層の上からクロス−・クチ法で密着性Ｉマコロ
ナ帯電、画偉嬉光、乾式トナー現俸、畳過紙へのトナー
転写、ウレタンゴムブレード（硬［７０’、圧力５Ｆ１
１１／３１． ＩＡ光体ＦｃＮｆｂ角ｇ２０ｏ）による
タリー二ングエ薯等を有すふ電子写真複写機に攻）付け
て電子写真特性を評価しえ、評価はまず、２Ｇ’ｔ）４
０９１３１１１の雰囲気で行い、次に２０℃１０憾Ｉｌ
ｌの低１１度雰囲気で行い、その帯電電位および感度の
肯定によつえ、感度は、前記−５，６１Ｖｔ）ブーす帯
電し先後の５秒間暗減衰させた時の電位を４に減衰する
に必要な露光量（１省、ルックス・秒）を一定すること
によって評価し友、これらの結果を第１表に示す。
ナ帯電、画偉嬉光、乾式トナー現俸、畳過紙へのトナー
転写、ウレタンゴムブレード（硬［７０’、圧力５Ｆ１
１１／３１． ＩＡ光体ＦｃＮｆｂ角ｇ２０ｏ）による
タリー二ングエ薯等を有すふ電子写真複写機に攻）付け
て電子写真特性を評価しえ、評価はまず、２Ｇ’ｔ）４
０９１３１１１の雰囲気で行い、次に２０℃１０憾Ｉｌ
ｌの低１１度雰囲気で行い、その帯電電位および感度の
肯定によつえ、感度は、前記−５，６１Ｖｔ）ブーす帯
電し先後の５秒間暗減衰させた時の電位を４に減衰する
に必要な露光量（１省、ルックス・秒）を一定すること
によって評価し友、これらの結果を第１表に示す。
第１１１！
これに対して、下引層をもうけないで、感光体を製造し
た場合には、電荷輸送層の上からりまた、本発明の膜厚
検査法によらない場合、例えばうず電流式膜厚計（商品
名： Ｂｏａ−＠２τｙケソト科学製）を用い九場合に
は、膜厚が２μ以上でないと正確な値が得られないので
、下引層の膜厚が２μとなるよう塗布して、他は全く同
様にして感光体を製造した。評価結果を第２表に示すが
、低湿ｇにおいて感度の低下が著しかった。
た場合には、電荷輸送層の上からりまた、本発明の膜厚
検査法によらない場合、例えばうず電流式膜厚計（商品
名： Ｂｏａ−＠２τｙケソト科学製）を用い九場合に
は、膜厚が２μ以上でないと正確な値が得られないので
、下引層の膜厚が２μとなるよう塗布して、他は全く同
様にして感光体を製造した。評価結果を第２表に示すが
、低湿ｇにおいて感度の低下が著しかった。
嫡２表
第１図は、！−７色度とスペクトル主波長−線の関係を
示す説明図、第２図はＸ−ｙ８ｍと下引層Ｏ膜厚の関係
を示すチャートの説ｉｊＩｗＪである。 特許出願人 キャノン株式会社
示す説明図、第２図はＸ−ｙ８ｍと下引層Ｏ膜厚の関係
を示すチャートの説ｉｊＩｗＪである。 特許出願人 キャノン株式会社
Claims (1)
- 基体上に設は九薄膜下引層の干渉色および皺干渉色に対
応する下引層の膜厚の関係を示すチャートと別に設は九
薄膜下引層の干渉色を比較することによって該薄膜下引
層の膜厚を検査することを特徴とする薄膜下引層の膜厚
検査法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6152182A JPS58178206A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 薄膜下引層の膜厚検査法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6152182A JPS58178206A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 薄膜下引層の膜厚検査法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58178206A true JPS58178206A (ja) | 1983-10-19 |
Family
ID=13173474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6152182A Pending JPS58178206A (ja) | 1982-04-13 | 1982-04-13 | 薄膜下引層の膜厚検査法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58178206A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0833126A1 (en) * | 1995-06-14 | 1998-04-01 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for inspecting coating film |
| CN116045791A (zh) * | 2023-04-03 | 2023-05-02 | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种金属漆涂层厚度评估方法 |
-
1982
- 1982-04-13 JP JP6152182A patent/JPS58178206A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0833126A1 (en) * | 1995-06-14 | 1998-04-01 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for inspecting coating film |
| EP0833126A4 (en) * | 1995-06-14 | 1998-09-30 | Kirin Brewery | METHOD AND DEVICE FOR TESTING COATINGS |
| US5991018A (en) * | 1995-06-14 | 1999-11-23 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for inspecting coating layer |
| CN116045791A (zh) * | 2023-04-03 | 2023-05-02 | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种金属漆涂层厚度评估方法 |
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