JPH1151999A - プリント配線基板の検査装置、プレート状検査治具及び検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査プローブを精度高く検査接点に導いて確
実な検査を行えるとともに、多数個取り基板の検査を極
めて簡単にかつ低コストでを行う。 【解決手段】 プリント配線基板４１を一体的に保持す
る基板保持領域とこの基板保持領域の周囲に配置される
基板位置決め領域とを備えるプレート状検査治具３４
と、検査テーブルないし上記基板位置決め領域に設けら
れ、上記プレート状検査治具を検査テーブルの所定位置
に位置決めできる位置決め手段３８とを備え、上記プリ
ント配線基板を上記プレート状検査治具を介して上記検
査テーブルの所定の検査位置に位置決めするように構成
している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線基
板の検査装置、プレート状検査治具及び検査方法に関す
る。詳しくは、プリント配線基板を所定の検査位置に位
置決めするとともに、検査プローブをプリント配線基板
の検査接点に精度高く導いて、検査作業を精度高くかつ
迅速に行うことのできるプリント配線基板の検査装置、
プレート状検査治具及び検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】種々の電子機器に採用されているプリン
ト配線基板は、絶縁基板の表面あるいは内部に回路パタ
ーンを形成して構成されており、表面に設けた接続端子
に半導体等の電子部品を搭載して電子装置を構成する。

【０００３】近年、製品の小型化の進展にともなって、
電子部品の高密度実装技術が製品開発に大きな影響を及
ぼすようになってきた。すなわち、ベアチップを多層配
線基板上に直接接続したＭＣＭ（マルチ・チップ・モジ
ュール）等の採用によって、プリント配線基板に搭載さ
れる電子部品の実装密度が高くなるとともに、各電子部
品の接続端子間隔が小さくなり、それに応じて基板上に
形成される導体パターンの間隔も小さくなっている。

【０００４】このようなプリント配線基板における導電
パターン等の接続不良を検査するために、たとえば、特
開平４─９５８８１号公報に記載されているような検査
装置が用いられる。この検査装置は、プリント配線基板
の接続端子やスルーホールにスプリング付の検査プロー
ブを接触させて、電気的に導電パターンの接続状態を検
出するように構成されており、検査接点に対応する多数
の検査プローブを精度高く配列した検査ヘッドを備えて
構成されている。

【０００５】上記のようなプリント配線基板の検査装置
においては、検査プローブが基板上の検査接点に正確に
接触しなければならない。このため、上記公報に記載さ
れている検査装置においては、検査対象であるプリント
配線基板の位置決め精度及び検査ヘッドの位置決め精度
を高める種々の手法が採用されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の検査装置におい
ては、プリント配線基板に直接位置決め孔を形成すると
ともに検査テーブル上の所定位置に位置決めピンを設
け、上記位置決め孔に上記位置決めピンを係入させるこ
とにより、プリント配線基板を検査テーブル上に位置決
めして検査を行っていた。

【０００７】ところが、導電パターンによっては、プリ
ント配線基板上に位置決めピンを係入させる位置決め孔
を設けることができない場合がある。特に、製造コスト
を低減させるには、基板の縁部にまで隙間なく導電パタ
ーンを形成して基板を有効利用する必要があり、検査用
の位置決め孔を基板上の都合のよい位置に設けることが
できない場合も多い。

【０００８】このような場合、プリント配線基板のエッ
ジを利用してテーブル上に位置決めすることが多いが、
プリント配線基板の外形精度が高いとは限らない。ま
た、それぞれのプリント配線基板に対応した位置決め装
置を設ける必要が生じ、検査装置のコストが増加する。

【０００９】また、電子部品の実装密度が高まるととも
に、接触プローブを接触させる端子数も激増しており、
その分極めて小さな間隔で多数の接触プローブを設けな
ければならない。ところが、多数の接触プローブを検査
ヘッドに植設する精度にも限度がある。また、多数の接
触プローブのうちの一つの接触プローブが何らかの理由
で少しでも撓むと、検査を行なえなくなってしまう。

【００１０】また、近年、プリント配線基板が組み込ま
れる製品のライフサイクルが短くなり、多品種少量生産
に対応しなければならなくなった。一方、上記公報に記
載されている検査装置は、多数のプリント配線基板を自
動的に検査装置に搬送して検査を行うことを目的として
おり、昇降装置等の検査装置自体の精度が確保されてい
ることを前提としている。このため、検査装置自体が高
価となり、上記のような検査装置で多品種少量のプリン
ト配線基板を検査するのはコスト的に見合わない。

【００１１】さらに、多品種少量生産に対応するととも
に製造効率を高めるため、複数の電子装置に対応する導
電パターンを一つの基板に形成した、いわゆる多数個取
りのプリント配線基板が制作されることが多くなった。
このような多数個取り基板には、数個から数十個の電子
装置に対応する導電パターンが形成されており、一度に
検査を行うには、検査装置の検査ヘッドにこれら導電パ
ターンに対応する極めて多数の接触プローブを植設しな
ければならない。このため、多数の接触プローブを高い
精度で配列しなければならなくなり、検査装置が極めて
高価になる。この結果、製造数量の少ないプリント配線
基板には対応することができない。

【００１２】本願発明は、上述の事情のもとで考え出さ
れたものであって、上記従来の問題を解決し、検査プロ
ーブを精度高く検査接点に導いて確実な検査を行えると
ともに、多数個取り基板の検査を極めて簡単にかつ低コ
ストでを行うことができるプリント配線基板の検査装
置、プレート状検査治具及び検査方法を提供することを
その課題とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。

【００１４】本願の請求項１に記載した発明は、所定の
検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検査
テーブルと、検査プローブを上記プリント配線基板に対
して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプリ
ント配線基板の検査装置であって、上記プリント配線基
板を一体的に保持する基板保持領域とこの基板保持領域
の周囲に配置される基板位置決め領域とを備えるプレー
ト状検査治具と、上記検査テーブルないし上記基板位置
決め領域に設けられ、上記プレート状検査治具を検査テ
ーブルの所定位置に位置決めできる位置決め手段とを備
え、上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を
介して上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めす
るように構成したことを特徴とする。

【００１５】本願発明は、プレート状検査治具を介して
プリント配線基板を検査テーブルに位置決めして検査を
行うことを特徴とするものである。

【００１６】プレート状検査治具は、ポリカーボネート
等の樹脂製プレートあるいは金属製プレートを利用して
形成できるため、極めて安価に製作できる。

【００１７】しかも、本願発明に係るプレート状検査治
具は、プリント配線基板を一体的に保持するとともに、
プリント配線基板を検査テーブル上の所定位置に位置決
めするための位置決め手段を備えている。

【００１８】すなわち、プリント配線基板が上記基板保
持領域に一体的に保持された状態で検査テーブルに載置
され、上記基板位置決め領域に設けた位置決め手段によ
って上記プレート状検査治具と一体的に所定位置に位置
決めされる。

【００１９】上記位置決め手段として種々のものを採用
することができる。たとえば、請求項５に記載した発明
のように、従来から採用されている構成の位置決めピン
を検査テーブル上に設けるとともに、基板位置決め領域
に上記位置決めピンに係合する位置決め孔を設けること
もできる。

【００２０】また、光学的位置決めマークを基板位置決
め領域に形成するとともに、Ｘ−Ｙテーブル等を用いて
この位置決めマークを基準にプリント配線基板を自動的
に位置決めすることもできる。さらに、プレート状検査
治具に位置決め用の突起を設ける一方、検査テーブルに
この位置決め突起が係入する位置決め孔を設けることも
できる。

【００２１】上記基板位置決め領域を設けることによ
り、検査しようとするプリント配線基板の大きさ、形
状、導電パターン等に左右されることなく、検査を行う
のに最も都合のよい位置に、位置決め孔等の位置決め手
段を設けることができる。しかも、位置決め手段の大き
さ、形状的な制限がほとんどない。このため、プリント
配線基板を、所定の検査位置に精度高く位置決めするこ
とが可能となる。

【００２２】プリント配線基板をプレート状検査治具に
一体的に保持させる手段として種々のものを採用でき
る。たとえば、上記プリント配線基板に積層貼着するこ
とにより、プリント配線基板を保持するように構成する
ことができる。この場合、粘着テープを用いてプリント
配線基板を保持させることができる。また、両面粘着テ
ープを利用することもできる。さらに、基板保持領域に
あらかじめ粘着材を塗着しておいてもよい。

【００２３】また、請求項２に記載した発明のように、
上記プレート状検査治具に、上記プリント配線基板を挟
むようにして配置されるとともに配線パターン及び／又
は搭載された電子部品を保護する補助プレートを設ける
ことができる。すなわち、プリント配線基板をプレート
状検査治具と補助プレートとの間に挟み込むようにして
保持するように構成するのである。

【００２４】上記補助プレートは、上記プレート状検査
治具と同様の方法でプリント配線基板に貼着等すること
ができる。また、補助プレートとプレート状検査治具と
を一体的に形成することもできる。

【００２５】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具及び／又は補助プレートと、プリント配
線基板とが検査前にあらかじめ一体的に接合される。こ
れらは、プリント配線基板上の導電パターン等を利用す
るとともに顕微鏡等を用いて、迅速にかつ精度高く接合
することができる。また、検査テーブルから離れた場所
でこれらの接合作業を行うことができるため、プレート
状検査治具を複数用意することにより、多数のプリント
配線基板を連続的に検査することもできる。

【００２６】また、プレート状検査治具は、プリント配
線基板の少なくとも片面に積層貼着されてプリント配線
基板を保持するように構成できる。上記プレート状検査
治具は上記プリント配線基板と一体化され、プリント配
線基板とともに搬送され、検査テーブル上の所定の検査
位置に位置決めされる。

【００２７】プレート状検査治具及び補助プレートをプ
リント配線基板に積層貼着することにより、基板を取り
扱う場合に、プリント配線基板及び表面の導電パターン
を保護する効果を期待できる。また、基板の表面全域に
導電パターンが形成されていても、導電パターンに手指
が触れることもなくなる。このため、基板の取り扱いが
容易になる。特に、柔軟性のあるフレキシブルプリント
配線基板や損傷しやすいセラミック基板においては高い
効果を期待できる。

【００２８】プレート状検査治具は、プリント配線基板
の少なくとも片面に設ければよい。位置決め領域に設け
た位置決め手段によってプリント配線基板を精度高く位
置決めできればよいからである。なお、プレート状検査
治具の強度等を補う必要等があれば、プリント配線基板
の両面にプレート状検査治具を設けることができる。

【００２９】また、請求項３に記載した発明のように、
基板保持領域に各検査プローブをプリント配線基板の検
査接点に誘導案内するプローブ案内孔を形成することが
できる。このプローブ案内孔は、プリント配線基板の検
査接点に応じて基板保持領域に設けられ、各接触プロー
ブを通挿案内できる形状寸法に形成される。たとえば、
検査プローブの外形より若干大きな直径の円孔を形成す
ることができる。上記円孔の寸法精度及び配列精度を確
保することにより、検査プローブを検査接点に精度高く
確実に誘導案内することができる。

【００３０】しかも、検査中にプリント配線基板等から
検査プローブに不用意な力が作用するのを防止し、検査
プローブの撓み等を防止して確実な検査を行うことがで
きる。また、検査プローブを損傷等から保護できるた
め、検査装置の寿命延長にもつながる。

【００３１】さらに、上記プローブ案内孔によって、プ
リント配線基板の所定の検査接点まで検査プローブの先
端を確実に導くことができるため、上記検査プローブの
配列精度あるいは検査ヘッドの案内精度が多少低下して
も検査を行うことが可能となる。このため、検査装置に
高い精度が要求されることがなくなり、検査装置の製造
コストを低減させることも可能となる。

【００３２】請求項４に記載した発明は、上記プレート
状検査治具及び／又は補助プレートに、プリント配線基
板に搭載された電子部品との干渉を避ける切欠き部を形
成したものである。プリント配線基板に一部の電子部品
を搭載した半完成品、あるいは全ての電子部品を搭載し
た完成品の検査に対応したものである。上記切欠き部を
形成することにより、検査中に電子部品が損傷を受ける
ことがなくなり、基板の取り扱いが容易になるととも
に、製品の歩留りが向上する。上記切欠き部の形状は特
に限定されることはなく、搭載部品を収容できる凹部
や、穴部を形成すればよい。

【００３３】本願の請求項５に記載した発明は、上記位
置決め手段が、上記検査テーブルに設けた位置決めピン
と、上記基板位置決め領域に形成されて上記位置決めピ
ンが係入させられる位置決め孔とを備えて構成されるも
のである。

【００３４】上記位置決め孔は、基板保持領域の周囲に
設けられた位置決め領域に形成される。このため、プリ
ント配線基板の大きさ、形状、導電パターン等に左右さ
れることなく、位置決め孔を最適な位置に精度高く形成
することができる。

【００３５】また、位置決め孔を形成するためのスペー
スを充分に確保できるため、複数の位置決めピン及び位
置決め孔を形成して、プリント配線基板を精度高く位置
決めすることもできる。

【００３６】本願の請求項６に記載した発明は、複数の
電子装置に対応する複数の検査領域を備えるプリント配
線基板の検査を行うプリント配線基板の検査装置であっ
て、上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査
プローブを備える一方、上記位置決め手段は、上記プリ
ント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブに
対向する複数の検査位置に、順次位置決めして検査を行
うように構成されているものである。

【００３７】本願発明は、一つのプリント配線基板に複
数の電子装置に対応した導電パターンを形成した、いわ
ゆる多数個取りのプリント配線基板に対応したものであ
る。

【００３８】従来は、複数の導電パターンの全てに対応
する検査プローブを備える検査ヘッドを用いて、上記複
数の電子装置に対応する多数個取り基板の検査を一度に
行っていた。このため、検査ヘッドに極めて多数の検査
プローブを設ける必要があった。また、各検査領域の良
否を判断するため回路等も、各検査領域の数だけ必要で
あった。この結果、検査ヘッドや案内装置に高い精度が
要求されて検査装置が極めて高価になり、少量生産され
る電子装置用のプリント配線基板には対応することがで
きなかった。

【００３９】本願発明は、プレート状検査治具を用いる
ことにより、各電子装置に対応する検査領域を検査位置
に順次位置決めすることにより、一つの電子装置に対応
する検査ヘッドを備える検査装置によって、多数個取り
基板を検査できるように構成したものである。

【００４０】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具の位置決め領域に、上記複数の電子装置
に対応する検査領域を検査テーブルの所定の検査位置に
順次位置決めできる位置決め手段が設けられる。すなわ
ち、この位置決め手段によって、プリント配線基板を、
検査テーブル上で複数の位置に位置決めして検査を行う
のである。

【００４１】上記プレート状検査治具の位置決め作業
は、作業者が手を用いて直接行うこともできるし、ステ
ッピングモータ等を用いて自動的に行うこともできる。

【００４２】上記構成によって、検査装置のコストを大
幅に低減させることができるとともに、検査精度を確保
することが可能となる。また、プレート状検査治具を変
更するだけで種々のプリント配線基板の検査を行うこと
が可能となり、多品種少量生産されるプリント配線基板
の検査に対応することも可能となる。

【００４３】上記多数個取りプリント配線基板を位置決
めする位置決め手段として、請求項７に記載した発明の
ように、上記位置決め手段を、上記検査テーブルに設け
た位置決めピンと、プリント配線基板の上記各検査領域
に対応して上記基板位置決め領域に設けた複数組の位置
決め孔とを備えて構成し、上記位置決めピンを上記位置
決め孔に順次係入させることにより、プレート状検査治
具を介してプリント配線基板の各検査領域を所定の検査
位置に順次位置決めできるように構成することができ
る。

【００４４】本願発明に係るプレート状検査治具におい
ては、位置決め孔を形成するための領域に制限がほとん
どないため、複数の検査領域に対応する多数の位置決め
孔を形成しても問題が生じることはない。

【００４５】本願の請求項８に記載した発明は、両面に
検査領域を備えるプリント配線基板の検査を行うプリン
ト配線基板の検査装置であって、検査テーブルに位置決
め保持されるプリント配線基板を挟むようにして配置さ
れる一対の検査ヘッドを設けたものである。

【００４６】両面に検査接点を備えるプリント配線基板
に対応したものであり、基板の両側に電子部品を装着す
るプリント配線基板等の検査を容易に行うことができ
る。

【００４７】本願の請求項９に記載した発明は、検査位
置に位置決めされたプリント配線基板の検査領域を識別
する検査領域識別手段を設けたものである。

【００４８】多数個取りのプリント配線基板を検査する
場合、電子装置に対応する導電パターンの数が多くなる
と、どの検査領域を検査しているかを識別するのが困難
になる場合がある。

【００４９】本願発明は、このような場合に対応したも
のであり、検査している導電パターンを容易に認識し
て、不良な導電パターンを容易に識別できるように構成
したものである。

【００５０】上記検査領域識別手段として、たとえば、
基板保持領域の周囲に設けられる位置決め領域の一部に
上記各検査領域に対応する識別孔を形成し、対応する検
査領域が検査テーブルの検査位置に位置決めされたと
き、上記識別孔の下方に設けた光源から光を照射するよ
うに構成することができる。

【００５１】また、各検査領域に対応する識別標識を位
置決め領域等に設けておき、この識別標識を光学的認識
装置によって識別させてどの検査領域の検査を行ってい
るかを表示するシステムを構成することもできる。

【００５２】本願の請求項１０に記載した発明は、検査
テーブル上でプリント配線基板を所定の検査位置に位置
決めするためのプレート状検査治具に係る発明であっ
て、上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持
領域と、上記基板保持領域の周囲に配置された基板位置
決め領域とを備え、上記基板位置決め領域に、上記検査
テーブルに設けた位置決め手段と共働して、プリント配
線基板を所定の検査位置に位置決めする位置決め手段を
設けたことを特徴とする。

【００５３】本願の請求項１１に記載した発明は、上記
プレート状検査治具に、プリント配線基板を挟むように
して配置されるとともに配線パターン及び／又は搭載さ
れた電子部品を保護する補助プレートを設けたものであ
る。

【００５４】上記補助プレートは、上記プレート状検査
治具と別体に形成して、プリント配線基板に積層して一
体化されるように構成することができる。また、プレー
ト状検査治具と補助プレートの縁部を互いに回動可能に
接合して一体的に形成し、プリント配線基板を挟み込む
ようにして保持させることもできる。

【００５５】本願の請求項１２に記載した発明は、上記
プレート状検査治具の基板保持領域及び／又は補助プレ
ートに、プリント配線基板に搭載された電子部品との干
渉を回避する切欠き部を設けたものである。上記切欠き
部を設けることにより、プリント配線基板に、一部又は
全部の電子部品を搭載した状態で検査を行うことが可能
となる。このため、半完成品あるいは完成品の電子装置
の検査を行うことができる。

【００５６】なお、上記切欠き部を設ける場合、少なく
とも搭載される電子部品の高さ以上の厚さを備えるプレ
ート状材料から、上記プレート状検査治具及び補助プレ
ートを形成するのが望ましい。

【００５７】本願の請求項１３に記載した発明は、各検
査プローブを案内してプリント配線基板の検査接点に誘
導するプローブ案内孔を備えるプレート状検査治具に係
るものである。

【００５８】本願の請求項１４に記載した発明は、基板
位置決め領域に形成される位置決め手段として、検査テ
ーブルに設けた位置決めピンに係合する位置決め孔を形
成したものである。

【００５９】本願の請求項１５に記載した発明は、複数
の電子装置に対応した複数の検査領域を備えるプリント
配線基板の位置決めを行うプレート状検査治具であっ
て、位置決め領域に形成された位置決め手段が、上記プ
リント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブ
に対向する複数の検査位置に、検査テーブルに設けた位
置決め手段と共働して順次位置決めして検査を行うよう
に構成されているものである。

【００６０】本願の請求項１６に記載した発明は、所定
の検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検
査テーブルと、検査プローブを上記プリント配線基板に
対して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプ
リント配線基板の検査装置における検査方法であって、
上記検査テーブルに設けた位置決め手段と共働して位置
決めを行う位置決め手段を備えるプレート状検査治具に
上記プリント配線基板を貼着保持させ、上記プレート状
検査治具を介して、上記プリント配線基板を所定の検査
位置に位置決めして検査を行うことを特徴としている。

【００６１】本願の請求項１７に記載した発明は、一の
電子装置に対応する検査プローブを設けた検査装置を用
いて、複数の電子装置に対応した複数の検査領域を備え
るプリント配線基板の検査を行うプリント配線基板の検
査方法であって、複数の検査位置に位置決めできる位置
決め手段を設けたプレート状検査治具に上記プリント配
線基板を貼着保持させ、上記プレート状検査治具を介し
て、上記プリント配線基板の各検査領域を、上記検査プ
ローブに対向する所定の検査位置に順次位置決めして検
査を行うことを特徴とする。

【００６２】本願の請求項１８に記載した発明は、検査
プローブを、各検査領域に対応して上記プレート状検査
治具に形成された案内孔を介して、上記プリント配線基
板の接触ポインイトに誘導接触させるプリント配線基板
の検査方法に係るものである

【００６３】本願の請求項１９に記載した発明は、搭載
されるべき一部又は全部の電子部品を搭載したプリント
配線基板の検査方法であって、プレート状検査治具の基
板保持領域及び／又は補助プレートに形成した切欠き部
に、プリント配線基板に搭載された電子部品を収容して
検査を行うことを特徴とするものである。

【００６４】プリント配線基板を検査する場合、一部の
電子部品をプリント配線基板に搭載した状態で中間検査
を行う場合がある。特に、高価な演算装置等を装着する
前にプリント配線基板の不良を発見できれば、製品の歩
留りが向上する。また、全ての電子部品を搭載して完成
した電子装置の検査を行う必要もある。本願発明はこの
ような場合に対応したものである。

【００６５】本願の請求項２０に記載した発明は、プリ
ント配線基板に電子部品を搭載したのと同様の条件で検
査を行うものである。すなわち、上記プリント配線基板
に搭載されていない電子部品を、上記電子部品の接続部
位に接触する検査プローブの基端部に接続して検査を行
うことを特徴とするものである。

【００６６】上記請求項１６に記載した発明において、
プリント配線基板自体あるいはこれに搭載された一部の
電子部品の作動を、搭載していない電子部品との関係で
検査する場合が考えられる。本願発明はこのような場合
に対応したものであり、一定の性能が担保された標準的
な電子部品を検査プローブの基端部に接続した状態で検
査を行うことができる。この方法によって、電子装置の
製造行程の中間段階において、完成品としての機能を発
揮できるか否かの検査を行うことが可能となる。また、
上記検査方法によって、電子部品を搭載した状態におけ
るプリント配線基板の特性を検査することが可能とな
り、プリント配線基板の多面的な検査を行うことも可能
となる。

【００６７】

【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態を図
に基づいて具体的に説明する。

【００６８】図１に本願発明に係るプリント配線基板の
検査装置の正面図を、図２に側面図を示す。これらの図
に示すように、本実施の形態に係る検査装置１は、机上
に載置される台板２と、この台板２の上面後部に固定さ
れて垂直に立ち上がるスタンド３と、このスタンド３に
沿って昇降可能に保持されるとともに上部検査ヘッド４
を保持する昇降ブロック５と、上記昇降ブロック５に対
向するように上記台板２の前部に設けられるとともに下
部検査ヘッド６を保持する検査テーブル装置７と、上記
昇降ブロック５をスタンド３に沿って昇降させる昇降手
段８とを備える。

【００６９】昇降ブロック５は、上記スタンド３の前面
に設けた案内面９に沿って上記検査テーブル装置７に対
して近接離間させられる。上記昇降手段８は、スタンド
３の側面に回動可能に設けられた操作アーム１０と、上
記スタンド３の内部に設けられた図示しない駆動機構と
を備えて構成されており、上記操作アーム１０の回転操
作を上記昇降ブロック５の上下動に変換するように構成
される。上記駆動機構は、周知の歯車機構等を用いて構
成することができ、操作アーム１０を手前に回動させる
ことにより、上記昇降ブロック５が案内面９に沿って下
降するように構成されている。

【００７０】上記検査テーブル装置７は、Ｘ−Ｙ位置決
め装置１１を介して台板２に保持されており、つまみ１
２、１３を回動させることにより検査テーブル装置に保
持される下部検査ヘッド６を移動させ、上部検査ヘッド
４に対向する位置に位置決めできるように構成されてい
る。

【００７１】図３に、上部検査ヘッド４及び検査テーブ
ル装置７の断面を示す。

【００７２】この図に示すように、上部検査ヘッド４
は、上記昇降ブロック５に設けた固定装置１４に固定さ
れる円柱状の取付けブロック１５と、この取付けブロッ
ク１５の下面に一体的に接合されるとともに昇降ブロッ
ク５の下面に対接させられる取付けプレート１６と、上
記検査テーブル装置７に対向するヘッドプレート１８
と、上記取付けプレート１６と上記ヘッドプレート１８
とを所定間隔をあけて接続する複数の支柱１９とを備え
る。さらに、上記ヘッドプレート１８には、複数の支柱
２０を介してプローブ保持プレート２１が設けられてお
り、このプローブ保持プレート２１に植設される検査プ
ローブ１７の先端部がヘッドプレート１８に設けた通挿
孔を介してヘッドプレート１８の下面から下方に向けて
突出させられている。

【００７３】上記検査プローブ１７は周知の構造を備え
ており、図示はしないが、上記プローブ保持プレート２
１に基端部が保持される円筒管と、この円筒管内に所定
範囲摺動可能に保持されるプローブ針と、このプローブ
針を開口端に向けて弾力付勢するバネとを備えて構成さ
れている。上記プローブ針の先端部がプリント配線基板
の検査接点に圧接される一方、上記検査プローブの基端
部に接続されたリード線２２を介して検査信号を取り出
せるように構成されている。

【００７４】検査テーブル装置７は、位置決め装置１１
上に固定されるべースプレート２３と、このベースプレ
ート２３上に複数の支柱２４を介して支持されるテーブ
ル板２５と、このテーブル板２５の上面に、自然状態で
所定高に弾性的に浮き上がった状態で保持される浮き上
がりプレート２６とを備える。なお、図３に示す浮き上
がりプレート２６は、図を判りやすくするために、テー
ブル板２５に密着させた状態を表している。

【００７５】上記テーブル板２５の中央部下部には、下
部検査ヘッド６が設けられている。この下部検査ヘッド
６は、上記テーブル板２５の下面に取付けられる取付け
プレート２７と、この取付けプレート２７に複数の支柱
２８を介して支持されるプローブ保持プレート２９とを
備えており、このプローブ保持プレート２８に検査プロ
ーブ３０の基端部が植設されているとともに、検査プロ
ーブ３０の先端部がテーブル板２５から上方に向けて突
出させられている。なお、上記検査プローブ３０の構造
及び取付け構造は、上記上部検査ヘッド４に設けたもの
と同様であるのでその説明は省略する。

【００７６】上記浮き上がりプレート２６は、上記テー
ブル板２５から弾力付勢されつつ突出させられる浮き子
３１によって、所定高さに持ち上げられるように構成さ
れている。

【００７７】上記浮き子３１は、図３、図７及び図８に
示すように、上記テーブル板２５に形成された保持孔３
２に、バネ３３によって弾力付勢されつつ上記テーブル
板２５の表面から退避可能に突出して保持されており、
検査プローブ３０の先端部が浮き上がりプレート２６の
上面から相対的に沈み込む位置まで、上記浮き上がりプ
レート２６を持ち上げるように構成されている。

【００７８】本願発明に係る検査装置１においては、上
記検査テーブル装置２７上に、検査対象たるプリント配
線基板４１を、プレート状検査治具３４と一体的に位置
決め載置し、上記上部検査ヘッド４に保持された検査プ
ローブ１７と上記テーブル板２５に保持される検査プロ
ーブ３０を上下方向から接触させて検査を行う。

【００７９】本実施の形態に係る上記プレート状検査治
具３４は、厚さ約０．５ｍｍのポリカーボネート製の薄
板矩形状の透明プレートから形成されている。図４及び
図５に示すように、このプレート状検査治具３４には、
プリント配線基板４１を保持する基板保持領域３５が中
央部に設けられているとともに、この基板保持領域３５
の両側部に複数の位置決め孔３６ａ〜３６ｉを形成した
位置決め領域３７が設けられている。

【００８０】一方、図３、図７及び図８に示すように、
上記テーブル板２５には、上記位置決め孔３６ａ〜３６
ｉに係入する４本の位置決めピン３８が突設されてい
る。

【００８１】上記位置決めピン３８は、上記テーブル板
２５に形成された保持孔３９に、バネ４０によって弾力
付勢されつつ上記テーブル板２５及び浮き上がりプレー
ト２６の表面から先端部を突出させて保持されている。
上記プレート状検査治具３４の位置決め孔３６ａ〜３６
ｉに、上記位置決めピン３８が係入することにより、プ
レート状検査治具３４及びこれに保持されるプリント配
線基板４１を上記テーブル板２５上の所定位置に位置決
めする。

【００８２】上記位置決めピン３８の突出高さは、図８
に示すプリント配線基板４１の検査状態においては、上
記位置決め孔３６ａ〜３６ｉに深く係入してプレート状
検査治具３４を移動不可能に固定できるように設定され
る。一方、図７に示す位置決め状態においては、位置決
めピン３８の頭部が位置決め孔３６ａ〜３６ｉに係合し
てこれを位置決めできるとともに、上記係合をバネ３９
の弾力に抗して容易に解除できるように設定されてい
る。上記プレート状検査治具３４を浮き上がりプレート
２６の上面を摺動させることにより、位置決めピン３８
を上記位置決め孔３６ａ〜３６ｉに順次係入させて、上
記プレート状検査治具３４を所定の検査位置に順次位置
決めできるように構成している。

【００８３】本実施の形態においては、上記位置決めピ
ン３８とプレート状検査治具３４を用いて、９箇所の検
査領域４１ａ〜４１ｉを備えるプリント配線基板４１、
換言すれば、９個取りのプリント配線基板の各検査領域
を、一つの検査領域に対応する検査プローブを備える上
下の検査ヘッド４，６によって検査できるように構成し
ている。

【００８４】すなわち、図４に示すように、本実施の形
態に係るプレート状検査治具３４には、上記各検査領域
４１ａ〜４１ｉに対応するピッチで、位置決め孔３６ａ
〜３６ｉが両側部にそれぞれ形成されており、これら位
置決め孔３６ａ〜３６ｉに左右の２箇所にそれぞれ設け
た位置決めピン３８を順次係入させることにより、上記
位置決め孔３６ａ〜３６ｉに対応する各検査領域４１ａ
〜４１ｉを、上下の検査ヘッド４，６に対向する検査位
置に順次位置決めすることができる。

【００８５】たとえば、図７に示す上部検査ヘッド４を
上昇させた状態で、下部検査ヘッド６の前後左右に設け
た４本の位置決めピン３８を、図４に示す左右の３６ｅ
で示す位置決め孔に係入させることにより、中央部の検
査領域４１ｅを検査ヘッド４，６に対向する検査位置に
位置決めできる。

【００８６】上記位置決め状態で、操作アーム１０を回
動させて上部検査ヘッド４を下降させていくと、図８及
び図９に示すように、ヘッドプレート１８から突出する
各検査プローブ１７の先端部が、上記プレート状検査治
具３４の各プローブ案内孔４２に突入してプリント配線
基板４１の上面の検査接点に接触させられるとともに、
ヘッドプレート１８の下面がプレート状検査治具３４及
びプリント配線基板４１を下方に押圧する。これによ
り、浮き子３１に支持された浮き上がりプレート２６が
下方に変位し、下側検査プローブ３０が浮き上がりプレ
ート２６の上面から上方に突出してプリント配線基板４
１の下面の検査接点に接触させられる。この状態で、各
検査プローブ１７，３０に通電して、プリント配線基板
４１の検査が行われる。

【００８７】上記検査終了後、操作アーム１０を回動さ
せて上部検査ヘッド４を上昇させると、上側検査プロー
ブ１７がプローブ案内孔４２から抜け出るとともに、バ
ネ３３によって弾力付勢された浮き子３１に押圧された
浮き上がりプレート２６がテーブル板２５から浮き上が
り、下側検査プローブ３０の先端部がプリント配線基板
４１から離間して、図７に示す状態に復帰する。

【００８８】図７に示す状態においては、プレート状検
査治具３４及びプリント配線基板４１が、位置決めピン
３８と位置決め孔３６ｅとの係合によって仮止めされた
状態となる。このため、上記位置決めピン３８と位置決
め孔３６ｅとの係合を、位置決めピン３８の弾力に抗し
て解除する等して、プレート状検査治具３４を図４の矢
印で示す方向に想像線で示す位置まで移動させ、次の検
査領域を検査位置に位置決めすることができる。しか
も、上記位置決めピン３８の弾力によって、所望の位置
に段階的に係止することができるため、プレート状検査
治具３４の位置決め作業を容易に行うことができる。

【００８９】本実施の形態においては、プレート状検査
治具３４の下面にプリント配線基板４１を貼着保持して
検査を行う。上記プレート状検査治具３４の基板保持領
域３５には、図４に示すように、プリント配線基板４１
を貼着固定するための一対の矩形開口部４３が形成され
ており、図６に示すように、この開口部４３を介して粘
着テープ４４をプレート状検査治具３４とプリント配線
基板４１とに掛け渡し状に貼りつけることにより、上記
プリント配線基板４１をプレート状検査治具３４に貼着
保持させる。これにより、図５に示すように、上記プリ
ント配線基板４１とプレート状検査治具３４とが一体的
に貼着接合される。

【００９０】粘着テープ４４を用いることにより、プレ
ート状検査治具３４に対するプリント配線基板４１の貼
着作業を容易に行うことができる。

【００９１】さらに、図７ないし図９に示すように、上
記プレート状検査治具３４には、プリント配線基板４１
の検査接点に対応したプローブ案内孔４２が、それぞれ
の検査領域４１ａ〜４１ｉに対接する部分に形成されて
いる。このプローブ案内孔４２は、図９に示すように、
検査プローブ１７の外径より若干大きな内径で形成され
ており、検査プローブの配列精度が多少低下しても、各
検査プローブ１７を所定の検査接点まで確実に案内する
ことができる。したがって、検査を精度高く、また確実
に行うことができる。

【００９２】また、プローブ案内孔によって検査中の検
査プローブ１７を保護できるため、検査中に検査プロー
ブ１７が曲折したり、損傷を受けたりするのを防止でき
る。

【００９３】さらに、上記プローブ案内孔４２とプリン
ト配線基板４１上の検査接点とを重ね合わせることによ
り、プリント配線基板４１をプレート状検査治具３４に
精度高く位置決めして保持させることができる。

【００９４】さらに、本実施の形態においては、特にプ
リント配線基板４１の上面に、プローブ案内孔４２を形
成したプレート状検査治具３４を貼着している。これに
よって、上記昇降手段８の精度を補うことが可能とな
り、廉価な検査装置を提供することができる。

【００９５】図１０及び図１１に、多数個取りプリント
配線基板の検査を行う場合に、検査位置に位置決めされ
たプリント配線基板４１の各検査領域４１ａ〜４１ｉを
識別するための検査領域識別手段の一例を示す。

【００９６】図１０に示すように、プレート状検査治具
４５の手前側に、プリント配線基板４１の各検査領域４
１ａ〜４１ｉに対応した配列及びピッチＡ，Ｂで、識別
孔４６ａ〜４６ｉが形成されている。一方、図１１に示
すように、検査テーブル装置７の手前下面には、光源装
置４７が設けられており、テーブル装置７に形成した照
射孔４８を介して上方に向けて光を照射できるように構
成されている。

【００９７】上記照射孔４８は、プリント配線基板４１
の所定の検査領域が検査位置に位置したとき、この検査
領域に対応して形成された識別孔と重なるように形成さ
れている。たとえば、検査領域４１ｅが検査位置に位置
決めされたとき、識別孔４６ｅが上記照射孔４８に対応
するように構成されている。したがって、検査位置に位
置決めされた検査領域に対応する識別孔から光が照射さ
れ、検査されている検査領域がプレート状検査治具３４
上に表示される。

【００９８】上記構成によって、多数個取り基板の検査
作業を迅速に行うことができるとともに、再検査を行う
場合でも、プリント配線基板４１の所望の検査領域を容
易に位置決めすることができる。

【００９９】図１２に、電子部品を搭載した状態でプリ
ント配線基板４１の検査を行うことのできる検査装置に
係る実施の形態を示す。

【０１００】図１２は、電子部品５０，５１，５２を上
面に、電子部品５３，５４，５５，５６を下面に搭載し
たプリント配線基板４１を検査する検査装置の要部の断
面を表している。

【０１０１】この図に示すように、本実施の形態におい
ては、プリント配線基板４１の上側に補助プレート５７
が積層貼着されている一方、下側にプレート状検査治具
５８が積層貼着されている。

【０１０２】上側に貼着される補助プレート５７には、
プリント配線基板４１の上面に搭載された電子部品５
０，５１，５２を各々収容して、ヘッドプレート１８と
プリント配線基板との干渉を回避する切欠き穴部５９，
６０，６１が形成されている。また、検査プローブ１７
をプリント配線基板４１の検査接点に誘導案内するプロ
ーブ案内孔６２が形成されている。

【０１０３】一方、下側に貼着されるプレート状検査治
具５８には、電子部品５３，５４，５５，５６を一括し
て収容する一つの切欠き穴部６３が形成されている。ま
た、基板保持領域６４の両側に、位置決めピン３８に係
合する位置決め孔３６を形成した基板位置決め領域６５
が設けられているのは、上述した実施の形態と同様であ
る。

【０１０４】上記補助プレート５７とプレート状検査治
具５８は、基板保持領域６４の縁部に設けた位置決めス
ペーサ６６によって連結されている。この位置決めスペ
ーサ６６は、補助プレート５７及びプレート状検査治具
５８に形成した係合孔６７，６８に係合して、補助プレ
ート５７及びプレート状検査治具５８を互いに連結する
連結凸部６９，７０を備えるとともに、補助プレート５
７及びプレート状検査治具５８をプリント配線基板４１
の厚さに対応して保持するスペーサ部７１とを備えて構
成されている。

【０１０５】上記補助プレート５７及びプレート状検査
治具５８は、上記位置決めスペーサ６６を介して精度高
く接合されるとともに、中間部に電子部品を搭載したプ
リント配線基板４１を保持する。

【０１０６】上記補助プレート５７及びプレート状検査
治具５８の厚さは、対接する面に搭載される電子部品の
高さに対応した厚さに設定されているため、各電子部品
を補助プレート５７あるいはプレート状検査治具５８の
表面から突出することなく保持することができる。この
ため、プレート状検査治具とともにプリント配線基板を
摺動させて、各検査領域を順次検査位置に位置決めして
検査を行うことができる。これにより、電子部品を搭載
したプリント配線基板を効率よく検査することができ
る。

【０１０７】なお、検査装置の他の構成は、図７に示す
ものと同様であるので説明は省略する。

【０１０８】図１３は、プリント配線基板に搭載されて
いない電子部品を、上記電子部品の接続部位に接触する
検査プローブの基端部に接続して検査を行う検査装置の
要部断面図である。

【０１０９】この図に示すように、プリント配線基板４
１の下面には、電子部品７２，７３，７４が搭載されて
いるとともに、補助プレート８０が積層貼着されてい
る。一方、プリント配線基板４１の上面には電子部品は
装着されておらず、プレート状検査治具８１が積層貼着
されている。そして、上記プリント配線基板４１に搭載
されるべき電子部品７５は、上部検査ヘッド４の上面に
突出する検査プローブ７６の基端部に接続されている。

【０１１０】上記電子部品７５は、あらかじめ性能が確
認された標準電子部品であり、この装置によってプリン
ト配線基板４１の検査を行うことにより、中間工程にお
いて、全ての電子部品を搭載したものとしてプリント配
線基板４１の検査を行うことができる。

【０１１１】上記検査を行うことにより、片面に電子装
置７２，７３，７４を搭載したプリント配線基板４１を
検査して、基板等の不良を確認することが可能となり、
基板あるいは電子部品の修理交換を容易に行うことがで
きる。また、演算装置等の高価な電子部品を組み付ける
前にプリント回路基板あるいは他の電子部品の良否をチ
ェックできるため、製品の歩留りが向上しコストの削減
に寄与することもできる。

【０１１２】本願発明の範囲は、上述の実施の形態に限
定されることはない。

【０１１３】実施の形態においては、９個取りのプリン
ト配線基板に本願発明を適用したが、１個取りのプリン
ト配線基板、あるいは１０個以上の電子装置に対応した
多数個取りのプリント配線基板に適用することができ
る。

【０１１４】また、プリント配線基板とプレート状検査
治具との接合方法も実施の形態に限定されることはな
く、たとえば、プリント配線基板に形成した位置決め穴
等を利用して接合することができる。

【０１１５】また、実施の形態においては、透明な樹脂
材料から形成されたプレート状検査治具を採用したが、
金属材料等他のプレート状材料を採用することもでき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本願発明に係る検査装置の正面図である。

【図２】本願発明に係る検査装置の側面図である。

【図３】検査装置の要部を示す拡大断面図である。

【図４】プレート状検査治具にプリント配線基板を保持
させた平面図である。

【図５】図４に示すプレート状検査治具の側面図であ
る。

【図６】図４におけるVI−VI線に沿う断面図である。

【図７】検査装置の要部の断面図であり、上部検査ヘッ
ドが離間した状態を示す図である。

【図８】検査装置の要部の断面図であり、プリント配線
基板の検査を行っている状態を示す図である。

【図９】図８の要部の拡大断面図である。

【図１０】検査領域識別手段の一例を示す平面図であ
る。

【図１１】図１０のXI−XI線に沿う断面図である。

【図１２】電子部品を搭載したプリント配線基板の検査
を行う検査装置の要部断面図である。

【図１３】一部の電子部品を検査プローブに接続して検
査を行う検査装置の要部断面図である。

【符号の説明】

１ 検査装置 ４ 上部検査ヘッド ６ 下部検査ヘッド ７ 検査テーブル １７ 検査プローブ ３０ 検査プローブ ３４ プレート状検査治具 ３５ 基板保持領域 ３６ 位置決め孔 ３７ 基板位置決め領域 ３８ 位置決めピン ４１ プリント配線基板 ４２ プローブ案内孔 ５７ 補助プレート

Claims (20)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定の検査位置にプリント配線基板を位
   置決め保持できる検査テーブルと、検査プローブを上記
   プリント配線基板に対して接触離間可能に保持する検査
   ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置であっ
   て、 上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持領域
   と、この基板保持領域の周囲に配置される基板位置決め
   領域とを設けたプレート状検査治具と、 上記検査テーブルないし上記基板位置決め領域に設けら
   れ、上記プレート状検査治具を検査テーブルの所定位置
   に位置決めする位置決め手段とを備え、 上記プリント配線基板を上記プレート状検査治具を介し
   て上記検査テーブルの所定の検査位置に位置決めするよ
   うに構成したことを特徴とする、プリント配線基板の検
   査装置。
2. 【請求項２】 上記プレート状検査治具は、上記プリン
   ト配線基板を挟むようにして配置されるとともに配線パ
   ターン及び／又は搭載された電子部品を保護する補助プ
   レートを備える、請求項１に記載のプリント基板の検査
   装置。
3. 【請求項３】 上記プレート状検査治具及び／又は補助
   プレートに、各検査プローブをプリント配線基板の検査
   接点に誘導案内するプローブ案内孔を設けた、請求項１
   又は請求項２のいずれかに記載のプリント配線基板の検
   査装置。
4. 【請求項４】 上記プリント配線基板及び／又は補助プ
   レートに、プリント配線基板に搭載された電子部品との
   干渉を避ける切欠き部が形成されている、請求項１から
   請求項３のいずれかに記載のプリント配線基板の検査装
   置。
5. 【請求項５】 上記位置決め手段は、上記検査テーブル
   に設けた位置決めピンと、上記基板位置決め領域に形成
   されて上記位置決めピンが係入させられる位置決め孔と
   を備えて構成される、請求項１から請求項４のいずれか
   に記載のプリント配線基板の検査装置。
6. 【請求項６】 複数の電子装置に対応する複数の検査領
   域を備えるプリント配線基板の検査を行うプリント配線
   基板の検査装置であって、 上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査プロ
   ーブを備える一方、 上記位置決め手段は、上記プリント配線基板を、上記各
   検査領域が上記検査プローブに対向する複数の検査位置
   に、順次位置決めして検査を行うように構成されてい
   る、請求項１から請求項５のいずれかに記載のプリント
   配線基板の検査装置。
7. 【請求項７】 上記位置決め手段は、上記検査テーブル
   に設けた位置決めピンと、プリント配線基板の上記各検
   査領域に対応して上記基板位置決め領域に設けた複数組
   の位置決め孔とを備えて構成されており、 上記位置決めピンを上記位置決め孔に順次係入させるこ
   とにより、プレート状検査治具を介してプリント配線基
   板の各検査領域を所定の検査位置に順次位置決めできる
   ように構成した、請求項６に記載のプリント配線基板の
   検査装置。
8. 【請求項８】 両面に検査領域を備えるプリント配線基
   板の検査を行うプリント配線基板の検査装置であって、 検査テーブルに位置決め保持されるプリント配線基板を
   挟むようにして配置される一対の検査ヘッドを設けた、
   請求項１から請求項７のいずれかに記載のプリント配線
   基板の検査装置。
9. 【請求項９】 検査位置に位置決めされたプリント配線
   基板の検査領域を識別する検査領域識別手段を設けた、
   請求項６から請求項８のいずれかに記載のプリント配線
   基板の検査装置。
10. 【請求項１０】 所定の検査位置にプリント配線基板を
    位置決め保持できる検査テーブルと、検査プローブを上
    記プリント配線基板に対して接触離間可能に保持する検
    査ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置におけ
    る上記検査テーブル上で、プリント配線基板を所定の検
    査位置に位置決めするためのプレート状検査治具であっ
    て、 上記プリント配線基板を一体的に保持する基板保持領域
    と、上記基板保持領域の周囲に配置された基板位置決め
    領域とを備え、 上記基板位置決め領域に、上記検査テーブルに設けた位
    置決め手段と共働して、プリント配線基板を所定の検査
    位置に位置決めする位置決め手段を設けたことを特徴と
    する、プレート状検査治具。
11. 【請求項１１】 上記プレート状検査治具は、プリント
    配線基板を挟むようにして配置されるとともに配線パタ
    ーン及び／又は搭載された電子部品を保護する補助プレ
    ートを備える、請求項１０に記載のプレート状検査治
    具。
12. 【請求項１２】 上記プレート状検査治具の基板保持領
    域及び／又は補助プレートに、プリント配線基板に搭載
    された電子部品との干渉を回避する切欠き部を設けたこ
    とを特徴とする、請求項１０又は請求項１１のいずれか
    に記載のプレート状検査治具。
13. 【請求項１３】 上記プレート状検査治具の基板保持領
    域及び／又は補助プレートに、各検査プローブを案内し
    てプリント配線基板の検査接点に誘導するプローブ案内
    孔を設けた、請求項１０から請求項１２のいずれかに記
    載のプレート状検査治具。
14. 【請求項１４】 基板位置決め領域に形成された位置決
    め手段が、検査テーブルに設けた位置決めピンに係合す
    る位置決め孔である、請求項１０から請求項１３のいず
    れかに記載のプレート状検査治具。
15. 【請求項１５】 複数の電子装置に対応した複数の検査
    領域を備えるプリント配線基板の位置決めを行うプレー
    ト状検査治具であって、 基板位置決め領域に形成された位置決め手段は、上記プ
    リント配線基板を、上記各検査領域が上記検査プローブ
    に対向する複数の検査位置に、検査テーブルに設けた位
    置決め手段と共働して順次位置決めして検査を行うよう
    に構成されている、請求項１０から請求項１４のいずれ
    かに記載のプレート状検査治具。
16. 【請求項１６】 所定の検査位置にプリント配線基板を
    位置決めする検査テーブルと、検査プローブを上記プリ
    ント配線基板に対して接触離間可能に保持する検査ヘッ
    ドとを備えるプリント配線基板の検査装置における検査
    方法であって、 上記検査テーブルに設けた位置決め手段と共働して位置
    決めを行う位置決め手段を備えるプレート状検査治具に
    上記プリント配線基板を貼着保持させ、 上記プレート状検査治具を介して、上記プリント配線基
    板を所定の検査位置に位置決めして検査を行う、プリン
    ト配線基板の検査方法。
17. 【請求項１７】 一つの電子装置に対応する検査プロー
    ブを設けた検査装置を用いて、複数の電子装置に対応す
    る複数の検査領域を備えるプリント配線基板の検査を行
    うプリント配線基板の検査方法であって、 複数の検査位置に位置決めできる位置決め手段を設けた
    プレート状検査治具に上記プリント配線基板を貼着保持
    させ、 上記プレート状検査治具を介して、上記プリント配線基
    板の各検査領域を、上記検査プローブに対向する所定の
    検査位置に順次位置決めして検査を行う、プリント配線
    基板の検査方法。
18. 【請求項１８】 検査プローブが、各検査領域に対応し
    て上記プレート状検査治具に形成されたプローブ案内孔
    を介して、上記プリント配線基板の検査接点に誘導接触
    させられる、請求項１６又は請求項１７のいずれかに記
    載のプリント配線基板の検査方法。
19. 【請求項１９】 搭載されるべき一部又は全部の電子部
    品を搭載したプリント配線基板の検査方法であって、プ
    レート状検査治具の基板保持領域及び／又は補助プレー
    トに形成した切欠き部に、プリント配線基板に搭載され
    た電子部品を収容して検査を行うことを特徴とする、請
    求項１６から請求項１８のいずれかに記載のプリント配
    線基板の検査方法。
20. 【請求項２０】 一部の電子部品を搭載したプリント配
    線基板の検査を行うプリント配線基板の検査方法であっ
    て、 上記プリント配線基板に搭載されていない電子部品を、
    上記電子部品の接続部位に接触する検査プローブの基端
    部に接続して検査を行う、請求項１６から請求項１９の
    いずれかに記載のプリント配線基板の検査方法。