JPH11290308A - 放射線検出素子配列方法、放射線検出器および放射線断層撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レファレンス信号がＸ線ビームの照射位置に
影響されない放射線検出素子配列方法、放射線検出器、
および、そのような放射線検出器を備えた放射線断層撮
影装置を実現する。 【解決手段】 放射線検出素子アレイ２４に設けるレフ
ァレンスチャンネル１４用の放射線検出素子を、その受
光面の長手方向が放射線ビームの幅方向となるようにし
て、Ｘ線ビームの厚み方向の変位によってレファレンス
信号が変化しないようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線検出素子配
列方法、放射線検出器および放射線断層撮影装置に関
し、特に、幅と厚みを持つ放射線ビームが照射される放
射線検出器およびそのような放射線検出器における放射
線検出素子の配列方法、並びに、そのような放射線検出
器を備えた放射線断層撮影装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】放射線断層撮影装置の一例として、例え
ば、Ｘ線ＣＴ(computed tomography)装置がある。Ｘ線
ＣＴ装置においては、放射線としてはＸ線が利用され
る。Ｘ線発生にはＸ線管が使用される。そして、放射線
照射・検出装置、すなわちＸ線照射・検出装置を被検体
の周りで回転（スキャン(scan)）させて、被検体の周囲
の複数のビュー(view)方向でそれぞれＸ線による被検体
の投影データ(data)を測定し、それら投影データに基づ
いて断層像を生成（再構成）するようになっている。

【０００３】Ｘ線照射装置は、撮影範囲を包含する幅を
持ちそれに垂直な方向に所定の厚みを持つＸ線ビーム(b
eam)を照射する。Ｘ線検出装置は、Ｘ線ビームの幅の方
向に多数のＸ線検出素子をアレイ(array) 状に配列して
なる多チャンネル(channel)のＸ線検出器によってＸ線
を検出する。多チャンネルのＸ線検出器は、Ｘ線ビーム
の幅の方向に、Ｘ線ビームの幅に相当する長さ（幅）を
有する。多チャンネルＸ線検出器におけるＸ線検出素子
は、Ｘ線ビームの厚みの方向に、Ｘ線ビームの厚みより
も大きな長さ（厚み）を有する。

【０００４】Ｘ線検出器の両端部の幾つかのＸ線検出素
子は、被検体が投影される範囲の外となるように配置さ
れ、Ｘ線ビームが直接照射されるようになっている。こ
れらＸ線検出素子はレファレンスチャンネル(reference
channel) と呼ばれる。レファレンスチャンネルの検出
信号は、Ｘ線ビームの強度を表すレファレンス信号とし
て測定データの補正に利用される。

【０００５】ソリッドステートタイプ(solid state typ
e)のＸ線検出素子は、例えばＸ線の照射を受けて発光す
るシンチレータ(scintillator)とその光を電気信号に変
換するフォトダイオードL(photodiode) とで構成され
る。Ｘ線ビームは、コリメータ(collimeter)を通じて、
このようなＸ線検出素子の厚み方向の中央部に照射され
る。Ｘ線ビームの厚みは、撮像のスライス(slice) 厚に
応じてコリメータのＸ線通過開口（アパーチャ(apertur
e)）により調節される。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】シンチレータとフォト
ダイオードの組み合わせからなるＸ線検出素子では、一
般的に、厚み方向における感度分布が一様でないので、
厚み方向におけるＸ線照射位置に応じて検出信号が変化
する。このため、レファレンスチャンネルの検出信号も
厚み方向におけるＸ線照射位置に応じて変化する。

【０００７】Ｘ線管では、使用中の温度上昇による熱膨
張等によりＸ線焦点の移動が生じ、これが、コリメータ
のアパーチャを通してＸ線検出器の厚み方向での照射位
置の変化となって現れ、レファレンス信号を変化させる
という問題があった。

【０００８】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、レファレンス信号がＸ線ビ
ームの照射位置に影響されない放射線検出素子配列方
法、放射線検出器、および、そのような放射線検出器を
備えた放射線断層撮影装置を実現することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】（１）上記の課題を解決
する第１の発明は、照射方向に垂直でかつ互いに垂直な
２つの方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他
方では相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームが
照射される放射線検出素子アレイにおける放射線検出素
子の配列方法であって、細長い放射線受光面を持つ放射
線検出素子をその受光面の長手方向を前記放射線ビーム
の厚み方向に合わせて前記放射線ビームの幅方向に複数
個配列して放射線検出素子アレイを構成し、前記放射線
検出素子アレイの少なくとも一端部では、細長い放射線
受光面を持つ放射線検出素子をその受光面の長手方向を
前記放射線ビームの幅方向に合わせて前記放射線ビーム
の厚み方向に複数個配列することを特徴とする放射線検
出素子配列方法である。

【００１０】（２）上記の課題を解決する第２の発明
は、照射方向に垂直でかつ互いに垂直な２つの方向の一
方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に
小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームが照射される放射
線検出器であって、細長い放射線受光面を持つ放射線検
出素子をその受光面の長手方向を前記放射線ビームの厚
み方向に合わせて前記放射線ビームの幅方向に複数個配
列してなる第１の放射線検出素子アレイと、前記放射線
検出素子アレイの少なくとも一端側に設けられ、細長い
放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面の長手
方向を前記放射線ビームの幅方向に合わせて前記放射線
ビームの厚み方向に複数個配列してなる第２の放射線検
出素子アレイと、を具備することを特徴とする放射線検
出器である。

【００１１】（３）上記の課題を解決する第３の発明
は、照射方向に垂直でかつ互いに垂直な２つの方向の一
方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に
小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射する放射線
照射手段と、前記放射線ビームが照射される放射線検出
器と、前記放射線検出器による複数ビューの放射線検出
信号に基づいて前記放射線ビームの通過領域についての
断層像を生成する断層像生成手段と、を有する放射線断
層撮影装置であって、前記放射線検出器が、細長い放射
線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面の長手方向
を前記放射線ビームの厚み方向に合わせて前記放射線ビ
ームの幅方向に複数個配列してなる第１の放射線検出素
子アレイと、前記放射線検出素子アレイの少なくとも一
端側に設けられ、細長い放射線受光面を持つ放射線検出
素子をその受光面の長手方向を前記放射線ビームの幅方
向に合わせて前記放射線ビームの厚み方向に複数個配列
してなる第２の放射線検出素子アレイと、を具備するこ
とを特徴とする放射線断層撮影装置である。

【００１２】第２の発明または第３の発明において、前
記第２の放射線検出器アレイを前記第１の放射線検出器
アレイの両端に設けることが、レファレンス信号を適切
に得る点で好ましい。

【００１３】（作用）本発明では、放射線検出素子アレ
イに設けるレファレンスチャンネル用の放射線検出素子
を、その受光面の長手方向が放射線ビームの幅方向とな
るようにして、Ｘ線ビームの厚み方向の変位によってレ
ファレンス信号が変化しないようにする。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１にＸ線ＣＴ装置のブロ
ック(block)図を示す。本装置は本発明の実施の形態の
一例である。本装置の構成によって、本発明の装置に関
する実施の形態の一例が示される。本装置の動作によっ
て、本発明の方法に関する実施の形態の一例が示され
る。

【００１５】図１に示すように、本装置は、走査ガント
リ(gantry)２と、撮影テーブル４と、操作コンソール(c
onsole) ６を備えている。走査ガントリ２は、放射線源
としてのＸ線管２０を有する。Ｘ線管２０から放射され
た図示しないＸ線は、コリメータ２２により例えば扇状
のＸ線ビームとなるように成形され、検出器アレイ２４
に照射されるようになっている。Ｘ線管２０とコリメー
タ２２は、本発明における放射線照射手段の実施の形態
の一例である。

【００１６】検出器アレイ２４は、本発明における放射
線検出器の実施の形態の一例である。また、本発明にお
ける放射線検出素子アレイの実施の形態の一例である。
検出器アレイ２４は、扇状のＸ線ビームの幅の方向にア
レイ状に配列された複数のＸ線検出素子を有する。検出
器アレイ２４の構成については後にあらためて説明す
る。

【００１７】Ｘ線管２０、コリメータ２２および検出器
アレイ２４は、Ｘ線照射・検出装置を構成する。Ｘ線照
射・検出装置の構成については後にあらためて説明す
る。検出器アレイ２４にはデータ収集部２６が接続され
ている。データ収集部２６は検出器アレイ２４の個々の
Ｘ線検出素子の検出データを収集するようになってい
る。

【００１８】Ｘ線管２０からのＸ線の照射は、Ｘ線コン
トローラ(controller)２８によって制御されるようにな
っている。なお、Ｘ線管２０とＸ線コントローラ２８と
の接続関係については図示を省略する。コリメータ２２
は、コリメータコントローラ３０によって制御されるよ
うになっている。なお、コリメータ２２とコリメータコ
ントローラ３０との接続関係については図示を省略す
る。

【００１９】以上のＸ線管２０乃至コリメータコントロ
ーラ３０が、走査ガントリ２の回転部３２に搭載されて
いる。回転部３２の回転は、回転コントローラ３４によ
って制御されるようになっている。なお、回転部３２と
回転コントローラ３４との接続関係については図示を省
略する。

【００２０】撮影テーブル４は、図示しない被検体を走
査ガントリ２のＸ線照射空間に搬入および搬出するよう
になっている。被検体とＸ線照射空間との関係について
は後にあらためて説明する。

【００２１】操作コンソール６は、中央処理装置６０を
有している。中央処理装置６０は、本発明における断層
像生成手段の実施の形態の一例である。中央処理装置６
０は、例えばコンピュータ(computer)等によって構成さ
れる。中央処理装置６０には、制御インタフェース(int
erface) ６２が接続されている。制御インタフェース６
２には、走査ガントリ２と撮影テーブル４が接続されて
いる。

【００２２】中央処理装置６０は制御インタフェース６
２を通じて走査ガントリ２および撮影テーブル４を制御
するようになっている。走査ガントリ２内のデータ収集
部２６、Ｘ線コントローラ２８、コリメータコントロー
ラ３０および回転コントローラ３４が制御インタフェー
ス６２を通じて制御される。なお、それら各部と制御イ
ンタフェース６２との個別の接続については図示を省略
する。

【００２３】中央処理装置６０には、また、データ収集
バッファ６４が接続されている。データ収集バッファ６
４には、走査ガントリ２のデータ収集部２６が接続され
ている。データ収集部２６で収集されたデータがデータ
収集バッファ６４に入力される。データ収集バッファ６
４は、入力データを一時的に記憶する。中央処理装置６
０には、また、記憶装置６６が接続されている。記憶装
置６６は、各種のデータや再構成画像およびプログラム
(program) 等を記憶する。

【００２４】中央処理装置６０には、また、表示装置６
８と操作装置７０がそれぞれ接続されている。表示装置
６８は、中央処理装置６０から出力される再構成画像や
その他の情報を表示するようになっている。操作装置７
０は、操作者によって操作され、各種の指示や情報等を
中央処理装置６０に入力するようになっている。

【００２５】図２に、検出器アレイ２４の模式的構成を
示す。検出器アレイ２４は、多数（例えば１０００個）
のＸ線検出素子２４（ｉ）を円弧状に配列した多チャン
ネルのＸ線検出器を形成している。ｉはチャンネル番号
であり例えばｉ＝１〜１０００である。Ｘ線検出素子２
４（ｉ）は、本発明における放射線検出素子の実施の形
態の一例である。検出器アレイ２４の両端部にはレファ
レンス用の複数のＸ線検出素子すなわちレファレンスチ
ャンネル１４が設けられている。レファレンスチャンネ
ル１４の詳細な構成については後にあらためて説明す
る。

【００２６】図３に、Ｘ線照射・検出装置におけるＸ線
管２０とコリメータ２２と検出器アレイ２４の相互関係
を示す。なお、図３の（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図
である。同図に示すように、Ｘ線管２０から放射された
Ｘ線は、コリメータ２２により扇状のＸ線ビーム４０と
なるように成形され、検出器アレイ２４に照射されるよ
うになっている。図３の（ａ）においては、扇状のＸ線
ビーム４０の広がりすなわちＸ線ビーム４０の幅を示し
ている。図３の（ｂ）では、Ｘ線ビーム４０の厚みを示
している。

【００２７】このようなＸ線ビーム４０の扇面に体軸を
交叉させて、例えば図４に示すように、撮影テーブル４
に載置された被検体８がＸ線照射空間に搬入される。Ｘ
線ビーム４０によってスライスされた被検体８の投影像
が検出器アレイ２４に投影される。被検体８のアイソセ
ンタ(isocenter) におけるＸ線ビーム４０の厚みが、被
検体８のスライス厚ｔｈを与える。スライス厚ｔｈは、
コリメータ２２のアパーチャによって定まる。

【００２８】検出器アレイ２４に対するＸ線ビーム４０
の照射状態のさらに詳細な模式図を図５に示す。同図に
示すように、コリメータ２２におけるコリメータ片２２
０，２２２をアパーチャを狭める方向に変位させること
により、検出器アレイ２４における投影像のスライス厚
ｔｈを薄くすることができる。また、コリメータ片２２
０，２２２をアパーチャを広げる方向に動かすことによ
り、検出器アレイ２４における投影像のスライス厚ｔｈ
を厚くすることができる。このようなアパーチャ調節に
より、スライス厚を例えば１，２，３，５，７，１０ｍ
ｍ等、所定の厚みに設定する。スライス厚方向の検出器
アレイ２４の長さ（厚み）は、例えば３０ｍｍ程度とな
っている。

【００２９】図６、図７および図８に、検出器アレイ２
４を構成する検出器モジュール(module)２４０の模式的
構成を示す。図６は平面図、図７はＡ−Ａ断面図、図８
は分解図である。これらの図に示すように、検出器モジ
ュール２４０は、互いに平行に配列された複数のシンチ
レータ２４２〜２４８を有する。シンチレータ２４２〜
２４８は、それぞれ細長い長方形のＸ線受光面を有し、
受光面の短辺の方向に互いに平行に配列されている。シ
ンチレータ２４２〜２４８は、結合材２５０により一体
化されている。なお、受光面の長辺と短辺の比率は実際
は３０：１程度であるが、分かりやすくするため実際よ
り比率を下げて描いてある。

【００３０】検出器モジュール２４０は、また、半導体
基板２７０上に互いに平行に形成された複数のフォトダ
イオード２７２〜２７８を有する。半導体基板２７０
は、ベース(base)２９０上に例えば接着等により取り付
けられている。

【００３１】フォトダイオード２７２〜２７８も、それ
ぞれ細長い長方形の受光面を有する。フォトダイオード
２７２〜２７８の配列は、シンチレータ２４２〜２４８
の配列に相応している。図８の（ａ）に示すフォトダイ
オード２７２〜２７８の上面（受光面）に、同図の
（ｂ）に示すシンチレータ２４２〜２４８の下面（光出
射面）を重ね、両者は接着剤３５０で接着されている。
接着剤３５０は光学的接着剤である。

【００３２】Ｘ線ビームは図７における上方からシンチ
レータ２４２〜２４８に入射する。Ｘ線ビームの扇状の
面は図７の紙面に平行となる。シンチレータ２４２〜２
４８は、入射Ｘ線の強度に応じてそれぞれ発光する。シ
ンチレータ２４２〜２４８からの出射光がそれぞれフォ
トダイオード２７２〜２７８によって検出される。

【００３３】シンチレータ２４２とフォトダイオード２
７２の対、シンチレータ２４４とフォトダイオード２７
４の対、シンチレータ２４６とフォトダイオード２７６
の対およびシンチレータ２４８とフォトダイオード２７
８の対が、それぞれ図２に示したＸ線検出素子２４
（ｉ）を形成する。

【００３４】このような検出器モジュール２４０を、各
Ｘ線検出素子の受光面の短辺をＸ線ビーム４０の幅の方
向に合わせて、複数個隣接して配列し、図２に示した検
出器アレイ２４のうちレファレンスチャンネル１４を除
くアレイ部分を構成している。検出器モジュール２４０
の配列によって構成されるアレイ部分は、本発明におけ
る第１の放射線検出器アレイの実施の形態の一例であ
る。なお、ベース２９０は図示しない所定の支持枠等に
適宜の手段で固定される。

【００３５】図９および図１０に、レファレンスチャン
ネル１４用のレファレンスチャンネルモジュール１４０
の模式的構成を示す。図９は平面図、図１０はＢ−Ｂ断
面図である。レファレンスチャンネルモジュール１４０
の基本的な構成は検出器モジュール２４０と同様であ
り、シンチレータ１４２〜１４８とフォトダイオード１
７２〜１７８とがそれぞれ対をなして細長い受光面を有
するＸ線検出素子を構成している。なお、受光面の長辺
と短辺の比率は実際は３０：１程度であるが、分かりや
すくするため実際より比率を下げて描いてある。

【００３６】検出器モジュール２４０との相違点は、そ
れらＸ線検出素子が受光面の長手方向をＸ線ビームの幅
方向に合わせ、Ｘ線ビームの厚み方向に互いに平行に配
列されている点である。このようなレファレンスチャン
ネルモジュール１４０が、検出器モジュール２４０のア
レイの両端において、Ｘ線ビームの厚み方向に複数個隣
接して配設され、図２に示した検出器アレイ２４におけ
るレファレンスチャンネル１４を構成している。レファ
レンスチャンネル１４は、本発明における第２の放射線
検出器アレイの実施の形態の一例である。

【００３７】これにより、レファレンスチャンネルモジ
ュール１４０には、Ｘ線ビームが図１０において上部か
ら扇状の面を紙面に平行にして照射される。このため、
Ｘ線ビームは、シンチレータとフォトダイオードの対で
構成されるレファレンスチャンネル用Ｘ線検出素子の受
光面に、その長手方向の全長にわたって照射される。し
たがって、レファレンスチャンネルが、例えば図１１に
示すように、受光面の長手方向において大きく感度が変
化するようなものであっても、Ｘ検出信号すなわちレフ
ァレンス信号はその影響を受けない。

【００３８】さらに、Ｘ線ビームの照射位置がＸ線焦点
の移動等により厚み方向に移動しても、Ｘ線ビームがレ
ファレンスチャンネル用Ｘ線検出素子の受光面の全長に
わたって照射される関係は変わらない。したがって、厚
み方向の照射位置の変化に影響されないレファレンス信
号を得ることができる。

【００３９】図１２に、Ｘ線検出用の電気回路の構成
を、検出器アレイ２４の１チャンネル分について示す。
同図に示すように、フォトダイオード２４ｋの等価回路
が、ダイオード９０とキャパシタ(capacitor) ９２、抵
抗９４および直流定電流源９６の並列回路で表される。

【００４０】このような並列回路に、コネクタ(connect
or) ９８を介して積分回路１００が接続されている。積
分回路１００は、データ収集部２６に存在する。積分回
路１００は、ＯＰアンプ(operational amplifier) １０
２の正入力端子をコモン(common)に接続し、負入力端子
に抵抗１０４を接続し、負入力端子と出力端子をキャパ
シタ１０６を介して接続し、キャパシタ１０６にスイッ
チ(switch)１０８を並列に接続して構成される。

【００４１】このような回路において、直流定電流源９
６の電流がシンチレータに入射するＸ線の強度に比例し
て変化し、その結果として積分回路１００の入力電流が
変化する。このような入力電流が積分され、Ｘ線検出信
号として出力される。検出器アレイ２４の全てのチャン
ネルおよびレファレンスチャンネルについて、同様なＸ
線検出回路が構成され、それぞれＸ線検出信号を得るよ
うになっている。

【００４２】本装置の動作を説明する。操作装置７０を
通じて与えられる操作者からの指令の基づき、中央処理
装置６０による制御の下で、被検体８の撮影が行われ
る。すなわち、Ｘ線管２０とコリメータ２２と検出器ア
レイ２４とからなるＸ線照射・検出装置がそれらの相互
関係を保ったまま被検体８の体軸の周りを回転（スキャ
ン）し、スキャンの１回転当たり複数（例えば１００
０）のビュー角度で被検体の投影データを収集する。投
影データの収集は、検出器アレイ２４−データ収集部２
６−データ収集バッファ６４の系統によって行われる。

【００４３】データ収集バッファ６４に収集された投影
データに基づいて、中央処理装置６０が断層像の生成す
なわち画像再構成を行なう。このとき、画像再構成の前
に、投影データにつき、レファレンスチャンネル１４を
通じて測定したレファレンス信号を用いてＸ線強度補正
を行なう。レファレンス信号は、前述のようにＸ線ビー
ムの厚み方向の照射位置の変化に影響されないので、Ｘ
線ビームの焦点移動等に無関係にＸ線強度補正を適正に
行なうことができる。

【００４４】なお、このとき、Ｘ線ビームを受光してい
るレファレンスチャンネル１４のＸ線検出素子を識別す
ることにより、厚み方向でのＸ線ビームの照射位置を検
出することができる。そこで、その検出信号に基づき、
Ｘ線照射位置をコリメータ等により調節することも可能
である。

【００４５】画像再構成は、１回転のスキャンで得られ
た例えば１０００ビューの投影データを、例えばフィル
タード・バックプロジェクション(filtered back-proje
ction)法によって処理すること等により行われる。再構
成画像は、記憶装置６６に記憶し、また、表示装置６８
で可視像として表示する。

【００４６】以上、放射線としてＸ線を用いた例につい
て説明したが、放射線はＸ線に限るものではなく、例え
ばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、
現時点では、Ｘ線がその発生、検出および制御等に関し
実用的な手段が最も充実している点で好ましい。また、
放射線検出素子は、シンチレータを用いるものに限ら
ず、例えばカドミウム・テルル(Cd ・Te) 等を利用した
他の方式の射線検出素子であって良いのはいうまでもな
い。

【００４７】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、レファレンス信号がＸ線ビームの照射位置に影響
されない放射線検出素子配列方法、放射線検出器、およ
び、そのような放射線検出器を備えた放射線断層撮影装
置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。

【図２】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器アレイの模式的構成図である。

【図３】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ線
照射・検出装置の模式的構成図である。

【図４】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ線
照射・検出装置の模式的構成図である。

【図５】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ線
照射・検出装置の模式的構成図である。

【図６】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器モジュールの模式的構成図である。

【図７】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器モジュールの模式的構成図である。

【図８】本発明の実施の形態の一例の装置における検出
器モジュールの模式的構成図である。

【図９】本発明の実施の形態の一例の装置におけるレフ
ァレンスチャンネルモジュールの模式的構成図である。

【図１０】本発明の実施の形態の一例の装置におけるレ
ファレンスチャンネルモジュールの模式的構成図であ
る。

【図１１】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ
線検出素子の感度プロファイルの一例を示すグラフであ
る。

【図１２】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ
線検出装置の電気的接続図である。

【符号の説明】

２ 走査ガントリ ２０ Ｘ線管 ２２ コリメータ ２４ 検出器アレイ ２４（ｉ） Ｘ線検出素子 ２６ データ収集部 ２８ Ｘ線コントローラ ３０ コリメータコントローラ ３２ 回転部 ３４ 回転コントローラ ４ 撮影テーブル ６ 操作コンソール ６０ 中央処理装置 ６２ 制御インタフェース ６４ データ収集バッファ １４ レファレンスチャンネル ４０ Ｘ線ビーム ８ 被検体 ２２０，２２２ コリメータ片 ２４０ 検出器モジュール ２４２〜２４８ シンチレータ ２７２〜２７８ フォトダイオード １４０ レファレンスチャンネルモジュール １４２〜１４８ シンチレータ １７２〜１７８ フォトダイオード

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 照射方向に垂直でかつ互いに垂直な２つ
   の方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方で
   は相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームが照射
   される放射線検出素子アレイにおける放射線検出素子の
   配列方法であって、 細長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面
   の長手方向を前記放射線ビームの厚み方向に合わせて前
   記放射線ビームの幅方向に複数個配列して放射線検出素
   子アレイを構成し、 前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端部では、細
   長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面の
   長手方向を前記放射線ビームの幅方向に合わせて前記放
   射線ビームの厚み方向に複数個配列する、ことを特徴と
   する放射線検出素子配列方法。
2. 【請求項２】 照射方向に垂直でかつ互いに垂直な２つ
   の方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方で
   は相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームが照射
   される放射線検出器であって、 細長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面
   の長手方向を前記放射線ビームの厚み方向に合わせて前
   記放射線ビームの幅方向に複数個配列してなる第１の放
   射線検出素子アレイと、 前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端側に設けら
   れ、細長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受
   光面の長手方向を前記放射線ビームの幅方向に合わせて
   前記放射線ビームの厚み方向に複数個配列してなる第２
   の放射線検出素子アレイと、を具備することを特徴とす
   る放射線検出器。
3. 【請求項３】 照射方向に垂直でかつ互いに垂直な２つ
   の方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方で
   は相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームを照射
   する放射線照射手段と、 前記放射線ビームが照射される放射線検出器と、 前記放射線検出器による複数ビューの放射線検出信号に
   基づいて前記放射線ビームの通過領域についての断層像
   を生成する断層像生成手段と、を有する放射線断層撮影
   装置であって、 前記放射線検出器が、 細長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受光面
   の長手方向を前記放射線ビームの厚み方向に合わせて前
   記放射線ビームの幅方向に複数個配列してなる第１の放
   射線検出素子アレイと、 前記放射線検出素子アレイの少なくとも一端側に設けら
   れ、細長い放射線受光面を持つ放射線検出素子をその受
   光面の長手方向を前記放射線ビームの幅方向に合わせて
   前記放射線ビームの厚み方向に複数個配列してなる第２
   の放射線検出素子アレイと、を具備することを特徴とす
   る放射線断層撮影装置。