JP2000237180A - コンピュータ断層撮影装置及びこのようなコンピュータ断層撮影装置の運転方法 - Google Patents

コンピュータ断層撮影装置及びこのようなコンピュータ断層撮影装置の運転方法

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JP2000237180A JP2000032162A JP2000032162A JP2000237180A JP 2000237180 A JP2000237180 A JP 2000237180A JP 2000032162 A JP2000032162 A JP 2000032162A JP 2000032162 A JP2000032162 A JP 2000032162A JP 2000237180 A JP2000237180 A JP 2000237180A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】検出器システムの特性を改善したコンピュータ
断層撮影装置を提供する。 【解決手段】この発明は、複数行の検出器システム
(6)を備え、検出器要素(9)の個々の列(8)が相
互にずれて配置されているコンピュータ断層撮影装置に
関する。これにより、検出器システム(6)は、検査対
象物を螺旋状に走査するとき、所望のピッチに適合可能
で、従ってこの検出器システム(6)で求められた少な
くともほぼ全ての走査値が画像の再構成に使用される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、検査対象物を螺
旋状に走査するためにシステム軸線の回りを移動可能で
ありかつ検出器要素の少なくとも1つの行と複数の列と
のアレーからなる検出器システムに当たる放射束を放出
する放射源を備え、検査対象物の支持装置とこの放射源
とがシステム軸線の方向に互いに相対的に移動可能であ
り、これにより得られた測定値が多数の投影角の1つ及
びシステム軸線上のz位置に関係づけされて、コンピュ
ータに導かれ、このコンピュータがこの測定値から検査
対象物の画像を算出するコンピュータ断層撮影装置に関
する。この発明は、さらにまた、このようなコンピュー
タ断層撮影装置の運転方法に関する。
【0002】
【従来の技術】コリメートされたピラミッド状の放射束
を検査対象物(例えば患者)を通して、複数の検出器要
素から構成された検出器システムに向けて放出する放射
源(例えばX線管)を備えたコンピュータ断層撮影装置
は公知である。この放射源並びに、またコンピュータ断
層撮影装置の構造様式にもよるが検出器システムは、検
査対象物の回りを回転するガントリーに取付けられる。
検査対象物の支持装置はシステム軸線に沿ってガントリ
ーに対して相対的に移動もしくは運動することができ
る。放射束が検査対象物を貫通する位置及び放射束が検
査対象物を貫通する角度はガントリーの回転により常に
変化する。放射が当たった検出器システムの各検出器要
素は、放射源から出る放射が検出器システムまでのその
通路において検査対象物を通過した総透過量の尺度であ
る信号を発生する。放射源のある特定の位置に対して得
られる、この検出器システムの検出器要素の出力信号の
レコードは投影と称される。走査(スキャン)は、ガン
トリーの種々異なる位置及び/又は支持装置の種々異な
る位置において得られた投影の1つのレコードを含む。
このコンピュータ断層撮影装置は、検査対象物の1つの
層の二次元の断層画像を構成するために、スキャン中に
多数の投影を行う。複数の行と列の検出器要素のアレー
から構成された検出器システムで多数の層を同時に記録
することができる。
【0003】検査対象物の比較的大きな体積は、通常、
螺旋走査(スパイラルスキャン)によって取られる。そ
の場合、放射源を備えたガントリーは連続的に検査対象
物の回りを回転するが、一方支持装置及びガントリーは
システム軸線に沿って互いに相対的に移動する。放射源
は、かくして検査対象物に関して、検査前に規定された
体積が走査されるまで、螺旋軌道を描く。このようにし
て得られた螺旋データから個々の層の画像が算出され
る。
【0004】従来のコンピュータ断層撮影装置において
は検出器システムの検出器要素の行はシステム軸線に対
して直角に配置されている。1つの行の全ての検出器要
素は同一のz位置にある。
【0005】多数行の検出器システムで螺旋状に走査す
る場合、この検出器構成は、走査点が検査対象物にわた
って均一には配分されていないので最適とは言えない。
これにより再構成された画像にアーチファクトが生ずる
ことがある。これにより最大可能なピッチ(検出器要素
のz方向、即ちシステム軸線の方向の寸法に関する、放
射源が検査対象物の回りを360°回転したとき(全回
転)の支持装置の送り)が制約される。
【0006】従来の多数行検出器システムにより画像を
構成する特定の再構成方法では、その上、このような検
出器システムで取られたデータの全てが再構成のために
使用できるわけではない。これにより、検出器システム
の効率が減少したり、不必要な検出器システムコストが
発生したり、或いはまた検査対象物が利用されない放射
量を受けることになる。
【0007】ドイツ特許出願公開第19525605号
明細書により、列が交互に特定の寸法だけシステム軸線
の方向に互いに相対的にずれて配置されている多数行の
検出器システムが公知である。
【0008】ドイツ特許出願公開第19613663号
明細書には、複数の平行な、互いに相対的に移動可能な
検出器行を備え、この行が、放射源の近くにある検出器
行が放射源から遠くに離れている検出器行に対して放射
絞りとして作用するように、互いに重なり合う位置にく
るようにした検出器システムが記載されている。
【0009】ドイツ特許出願公開第19721535号
明細書には、検出器の近くに放射絞りが付設されている
多数行の検出器システムが記載されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、冒
頭に挙げたようなコンピュータ断層撮影装置を、その検
出器システムが改善された特性を持つように形成するこ
とにある。さらに、この発明の課題は、また、このよう
なコンピュータ断層撮影装置を運転する方法を提示する
ことにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】コンピュータ断層撮影装
置に関する課題は、この発明によれば、検査対象物を螺
旋状に走査するためにシステム軸線の回りを移動可能で
ありかつ検出器要素の少なくとも1つの行と複数の列の
アレーからなる検出器システムに当たる放射束を放出す
る放射源を備え、検査対象物の支持装置とこの放射源と
がシステム軸線の方向に互いに相対的に移動可能であ
り、これにより得られた測定値が多数の投影角の1つ及
びシステム軸線上のz位置に関係づけられて、コンピュ
ータに導かれ、このコンピュータがこの測定値から検査
対象物の画像を算出するコンピュータ断層撮影装置にお
いて、検出器システムの検出器要素の列の少なくとも1
つが放射源の回転方向に隣接した列に対して支持装置が
システム軸線に沿って放射源に対して相対的に動かされ
る方向(z方向)に、放射源から出る放射による、この
放射の主伝搬方向に対して直角にある面における検出器
システムの仮想投影が、このシステム軸線に対して平行
に延びる2つの辺を備えた平行四辺形となるように、ず
れて配置されているコンピュータ断層撮影装置によって
解決される。
【0012】このような構成によって、検出器システム
によって検出された全てのデータを最適に利用した、検
査対象物の均一な螺旋走査が実現される。均一ではない
走査の場合に生ずるような再構成画像におけるアーチフ
ァクトの発生は回避され、最大可能なピッチを従来のコ
ンピュータ断層撮影装置に較べて大きくとることができ
る。その他に、この発明による検出器システムの配置に
適合した断面を持つ放射束により検査対象物に加えられ
る放射量を最小にすることができる。というのは、この
場合、常に、その走査値を画像の再構成のために使用す
ることのできる検査対象物の範囲だけを放射が通過する
からである。
【0013】複数行の検出器システムは、通常、以下の
ように構成されている。即ち、最小単位は検出器要素で
ある。このような検出器要素の少なくとも1つの行と複
数の列が、製造上の条件に応じて、通常、検出器群(検
出器モジュール)に纏められる。この検出器システム
は、従って、このような検出器群の少なくとも1つの行
と複数の列とから構成される。
【0014】検出器要素の列のずれと同様に、この発明
によれば、検出器群の個々の列も隣接した検出器群に対
してずらせて配置することができる。これにより得られ
る利点は、個々の検出器要素の列をずらした場合と同様
であり、さらに検出器群で検出器システムを構成するこ
とによりこれらの検出器群を相対的に簡単にかつコスト
的に有利に相互に移動させることができる、という利点
もある。
【0015】原理的には、隣接する検出器列もしくは検
出器群のずれは任意にすることができる。検出器要素の
z方向の寸法だけ或いはその整数倍だけずらすことは、
勿論再構成方法のために一般的に有利である。ずらされ
て配置された検出器の列もしくは検出器群の列の数が多
ければ多い程、それだけ全体の検出器システムに対し
て、特定の再構成方法において利用されない検出器要素
の割合が小さくなる。
【0016】従来の検出器システムは平面に投影される
ので、この投影は矩形の形状を持っている。これに対し
て、この発明による検出器システムの投影は近似的にシ
ステム軸線に対して平行な2つの辺を持つ平行四辺形に
よって書き換えられる。この検出器システムの構造は、
ピッチに関係して、検査対象物の可能な均一走査が同時
に検出器システム面積を最大に利用しながら達成される
ように最適化することができる。
【0017】例えば、ガントリーが検査対象物の回りを
完全に一回りする間の支持装置の送りが、検出器列のz
方向の寸法に一致するように選ばれる場合には、平行四
辺形のシステム軸線に対して平行でない辺と、その平面
にあってシステム軸線に対して直角の直線とで作る角度
αについては次の式、 tg α=Δz/2πR が成立する。但し、ここで、αは上述の角度、Δzは検
出器列のz方向の寸法、Rは検出器システムのシステム
軸線からの距離である。
【0018】このように構成された検出器システムは従
ってある特定のピッチに対して最適である。これとは異
なるピッチの値に対しては、それ故、確かに、従来の検
出器システムの場合よりなお良い結果が得られるが、こ
の検出器システムは最適には適合しない。
【0019】これに対して、この発明の1つの変形例で
は、検出器要素もしくは検出器群のずれを各走査の前に
調整することができるように、検出器システムを構成す
ることにより、これを是正する。これにより各所望のピ
ッチに対して検出器システムを最適に適合させることが
できる。この場合、角度αについては次の式、 tg α=nd/2πR が成立する。但し、ここで、nはピッチ、dは検出器要
素のz方向の寸法、Rは検出器システムのシステム軸線
からの距離である。
【0020】この発明による検出器システムで得られる
結果は、平面に投影される検出器システムの形状が平行
四辺形から異なることが少なければ少ない程、即ち、そ
れぞれ互いにずれて配置されている隣接する検出器列の
数が多ければ多い程かつそのずれが個々により少なけれ
ば少ない程、それだけ正確になる。従って、検出器シス
テムを所望のピッチに対して最適に適合させるために、
検出器列を連続的に位置調整可能にすることが有利であ
ることも明らかであるが、しかしながら、より簡単に実
現できかつ再構成方法が簡単化されるというコスト的な
理由から、検出器要素のz方向の寸法のそれぞれ整数倍
だけ変位させることもまた1つの好ましい案である。
【0021】コンピュータ断層撮影装置の運転方法に関
する課題は請求項8の特徴により解決される。コンピュ
ータ断層撮影装置のこの発明による運転方法の場合、即
ち、放射源から出る放射束の断面が、実質的に検出器シ
ステムが走査値を検出する検査対象物の範囲だけに放射
が通るように絞られる。これにより検査対象物が受ける
診療的に利用されない放射量が減少する。
【0022】
【発明の実施の形態】この発明のその他の詳細及び長所
を以下に図面に示した実施例を参照して説明する。
【0023】図1に、検査対象物1を螺旋状に走査する
ためのコンピュータ断層撮影装置が極めて概略的に示さ
れている。この断層撮影装置は焦点3を持つ放射源2
(例えばX線管)を備え、この線源から線源側の放射絞
り4により絞り込まれた、ピラミッド状の放射束5が放
出され、この放射束が検査対象物1(例えば患者)を通
過して検出器システム6に当たる。この検出器システム
は検出器要素9の複数の平行な行7と列8からなるアレ
ーで構成されている。図示の検出器システムでは、この
発明により、個々の検出器列は、図示のように、隣接す
る列に対してずれて配置されている。放射源2と検出器
システム6とは1つの測定システムを形成し、この測定
システムはシステム軸線10の回りに移動可能で、シス
テム軸線に沿って検査対象物1に対して相対的に移動可
能であるので、検査対象物には種々異なった投影角度で
及びシステム軸線10に沿った種々異なったz位置で放
射が通過する。その際生ずる検出器システム6の検出器
要素9の出力信号から、データ検出システム11は測定
値を形成し、この測定値はコンピュータ12に導かれ、
このコンピュータにより検査対象物1の画像が算出さ
れ、この画像がモニター13に表示される。
【0024】螺旋状の走査中、測定システム2、6は、
検査対象物1に対して相対的に連続的に螺旋軌道14上
を、再構成される範囲が完全に検出されるまで運動す
る。その場合、体積データレコードが作られる。コンピ
ュータ12はこれから内挿法で平面データレコードを算
出し、これから所望の画像が再構成される。
【0025】図2は、平面に投影された、検出器要素9
の複数の行7及び列8からなるアレーから形成された、
長方形の形をした従来の検出器システムを概略的に示
す。例えば検査対象物の走査の際に、この検査対象物を
載置する診療台が、放射源及び通常はまた検出器システ
ム6が取付けられているガントリーに対して相対的に、
このガントリーが検査対象物の回りを完全に一回転する
間に、検出器システム6の幅Δzだけシステム軸線10
に沿ってz方向に移動するとき、検出器システム6の検
出器要素9は、図3において斜線の施していない範囲に
ある、規定の再構成方法に対しては部分的に利用されな
い走査値を供給する。この結果、検査対象物のその範囲
は検出器システム6が検査対象物の回りをそれぞれ2回
転する際に走査されることになる。さらにこれにより、
検査対象物は必要でない、即ち、診断には利用されない
放射量が負荷されたり、検出器システム6の個々の検出
器要素9が非効率に使用されたり、また再構成される画
像にアーチファクトが生ずる、といったことが起こる。
【0026】図4に示すような検出器システム6を備え
るこの発明によるコンピュータ断層撮影装置により、上
述の欠点は回避される。個々の検出器列8の図示のよう
なずれた配置は、図の例で示されるように、検出器シス
テム6を構成している全ての検出器群15、15’が互
いにずらされて配置されるときに、簡単にかつコスト的
に有利に実現される。検出器要素9のz方向の幅だけ或
いはその整数倍(この例では2個の検出器要素の幅)だ
けそれぞれずらすことは、その技術的実現性が比較的簡
単であることと再構成の方法が簡単になることによりこ
の発明の1つの好ましい実施例である。この発明のさら
に異なる変形例では、検出器列のずれは走査の前に調整
可能とすることである。このために、図4の実施例に模
式的に示された調整手段19が設けられている。さら
に、図4から分かるように、そこに示された検出器シス
テム6の平面投影は近似的にz軸に対して平行な2つの
辺を持つ平行四辺形16に書き換えられる。この平行四
辺形16のシステム軸線10に対して平行でない直線が
システム軸線10に対して直角な直線17と交差する角
αに対しては、ガントリーが検査対象物の回りを完全に
1回転したとき、検査対象物を載置している診療台がシ
ステム軸線に沿って検出器システムに対して相対的に正
確に検出器列のz方向の寸法だけ動くような好適な適用
例において、 tg α=Δz/2πR が成立する。但し、この場合、Δzは検出器列のz方向
の寸法、Rは検出システムのシステム軸線からの距離で
ある。
【0027】しかしながら、また、図5に示されるよう
に、検出器要素のz方向の寸法或いはその値の整数倍で
ない値に検出器列8を任意にずらすことも可能である。
再構成の際の比較的高価な計算費用は、この場合、平面
に投影された検出器システム6の平行四辺形16の理想
形に良好に適合することで補われる。
【0028】この発明の特に良好な変形例によれば、こ
の発明によりずれて配置された検出器列を持つ検出器シ
ステム6を備えた図1によるコンピュータ断層撮影装置
において、放射束5の断面はこの発明による検出器シス
テムの形状に合わされる。これは、この例では、線源側
の放射絞り4に作用する調整手段18により行われる。
これにより、検出器システム6の検出器要素9が走査値
を検出する少なくとも実質的に検査対象物1の範囲だけ
に放射量を負荷することができる。
【0029】図6には、図3との比較により、部分的に
利用されないこの発明による検出器システムの検出器面
積(図6においては、同様に平行斜線を施してないこと
で示されている)の、所定のピッチにおける縮小が示さ
れている。
【0030】この発明は図面に示されている実施例に限
定されるものではない。この発明は、さらに、検査対象
物をこの発明による検出器システムに対して最適なピッ
チとは異なるピッチで走査すること並びに走査の前に個
々の検出器列もしくは検出器群をこの発明の意味でずら
すことにより初めて所望のピッチに対して最適化するこ
との可能な検出器システムで走査することも含む。
【0031】さらに、この発明は、例で説明された実施
例、即ち、検出器システムが放射源と共にガントリーに
取付けられて検査対象物の回りを運動する実施例に限定
されるものでなく、同じような方法により固定の検出器
システムに対しても適用可能である。
【0032】上述の実施例の場合、放射源と診療台との
間の相対運動は、診療台が移動されることにより生ぜし
められている。しかしながら、この発明の範囲として、
診療台を固定し、その代わりに放射源を移動させること
もまた可能である。その他に、この発明の範囲として、
必要な相対運動を診療台並びに放射源の移動によって行
わせることも可能である。
【0033】この発明は、医療分野において、或いはま
た医療以外の、例えば荷物の検査或いは材料の検査の分
野においても適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】複数行の検出器システムを備えたコンピュータ
断層撮影装置の模式図を示す。
【図2】従来の、複数行の検出器システムの模式図を示
す。
【図3】特定のピッチに対して部分的に利用されない検
出器面積を持つ従来の複数行の検出器システムの模式図
を示す。
【図4】2つの検出器要素分だけずれて配置された2つ
の検出器群を備えたこの発明による複数行の検出器シス
テムの模式図を示す。
【図5】連続的にずれて配置された検出器列を備えたこ
の発明による複数行の検出器システムの模式図を示す。
【図6】特定のピッチに対して部分的に利用されない検
出器面積を持つこの発明による複数行の検出器システム
の模式図を示す。
【符号の説明】
1 検査対象物 2 放射源 3 焦点 4 放射絞り 5 放射束 6 検出器システム 7 検出器行 8 検出器列 9 検出器要素 10 システム軸線 11 データ検出システム 12 コンピュータ 13 モニター 14 螺旋軌道 15、15’ 検出器群 16 平行四辺形 17 システム軸線に対して垂直な直線 18、19 調整手段

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】検査対象物(1)を螺旋状に走査するため
    にシステム軸線(10)の回りを移動可能でありかつ検
    出器要素(9)の少なくとも1つの行(7)と複数の列
    (8)とのアレーからなる検出器システム(6)に当た
    る放射束(5)を放出する放射源(2)を備え、検査対
    象物の支持装置と放射源とがシステム軸線の方向に互い
    に相対的に移動可能であり、これにより得られた測定値
    が多数の投影角の1つ及びシステム軸線上のz位置に関
    係づけられて、コンピュータ(12)に導かれ、このコ
    ンピュータがこの測定値から検査対象物の画像を算出す
    るコンピュータ断層撮影装置において、検出器システム
    (6)の検出器要素(9)の列(8)の少なくとも1つ
    が、放射源の回転方向に隣接した列に対して支持装置及
    び放射源がシステム軸線に沿って互いに相対的に動かさ
    れる方向(z方向)に、放射源から出る放射による、こ
    の放射の主伝搬方向に対して直角にある面における検出
    システムの仮想投影がこのシステム軸線に対して平行に
    延びる2つの辺を備えた平行四辺形となるように、ずれ
    て配置されているコンピュータ断層撮影装置。
  2. 【請求項2】それぞれ検出器要素(9)のアレーが検出
    器群(検出器モジュール)(15、15’)に纏めら
    れ、検出器システム(6)がこの検出器群(15、1
    5’)の少なくとも1つの行と複数の列からなり、検出
    器システム(6)の少なくとも1つの検出器群(1
    5’)が放射源の回転方向に隣接する検出器群(15)
    に対してz方向にずれて配置されている請求項1に記載
    のコンピュータ断層撮影装置。
  3. 【請求項3】ずれが検出器要素のz方向の寸法或いはそ
    の整数倍に相当する請求項1又は2に記載のコンピュー
    タ断層撮影装置。
  4. 【請求項4】ずれが検出器要素のz方向の寸法或いはそ
    の整数倍に一致しない値に相当する請求項1又は2に記
    載のコンピュータ断層撮影装置。
  5. 【請求項5】検出器システム(6)の1つの面への投影
    がシステム軸線に対して平行な2つの辺を持つ平行四辺
    形(16)に少なくとも近似的に書き換え可能であり、
    この平行四辺形のシステム軸線に対して平行でない辺
    と、この面にあってシステム軸線に対して直角の直線
    (17)とで作る角αについて、 tg α=Δz/2πR が成立する(但し、Δzは検出器列のz方向の寸法、R
    は検出器システムのシステム軸線からの距離)請求項1
    乃至4の1つに記載のコンピュータ断層撮影装置。
  6. 【請求項6】検出器要素もしくは検出器群の列のずれが
    走査の前に所望のピッチに関連して調整可能である請求
    項1乃至5の1つに記載のコンピュータ断層撮影装置。
  7. 【請求項7】検出器システムの1つの面への投影がシス
    テム軸線に対して平行な2つの辺を持つ平行四辺形(1
    6)に少なくとも近似的に書き換え可能で、この平行四
    辺形の、システム軸線に対して平行でない辺と、この面
    にあって、システム軸線に対して直角の直線(17)と
    で作る角αについて、 tg α=nd/2πR が成立する(但し、nはピッチ、dは検出器要素のz方
    向の寸法、Rは検出器システムのシステム軸線からの距
    離)請求項5に記載のコンピュータ断層撮影装置。
  8. 【請求項8】放射源(2)から出る放射束(5)の断面
    が放射絞り(4)によって、少なくとも実質的に、検出
    器システム(6)が走査値を検出する検査対象物の範囲
    だけを放射が通るように絞られている請求項1乃至7の
    1つに記載のコンピュータ断層撮影装置の運転方法。
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