JPH11273478A - コンデンサブッシングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法 - Google Patents
コンデンサブッシングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法Info
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- JPH11273478A JPH11273478A JP10072025A JP7202598A JPH11273478A JP H11273478 A JPH11273478 A JP H11273478A JP 10072025 A JP10072025 A JP 10072025A JP 7202598 A JP7202598 A JP 7202598A JP H11273478 A JPH11273478 A JP H11273478A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】碍管の表面状態の如何に関わらず、コンデンサ
コアを構成する絶縁物のみの誘電正接を測定することが
可能となる。 【解決手段】下部を接地したフランジ金具１１に固着し
た大気中に露出した碍管１０の先端部分に設けられた頭
部電極金具１２から垂下する中心導体１３の周囲にコン
デンサコア１４を収容、配置してなるコンデンサブッシ
ングであって、そのコンデンサコア１４の最外周の電極
箔の外側において、前記コンデンサコア１４を構成する
絶縁体と同質の絶縁層２を介して測定電極箔２１ａを設
けてなる測定用コンデンサ２１を形成し、前記コンデン
サコア１４の最外周の電極箔に接続された試験端子Ａと
前記測定用コンデンサ２１の測定電極箔に接続された試
験端子Ｂとを外部に引き出して設けた。
コアを構成する絶縁物のみの誘電正接を測定することが
可能となる。 【解決手段】下部を接地したフランジ金具１１に固着し
た大気中に露出した碍管１０の先端部分に設けられた頭
部電極金具１２から垂下する中心導体１３の周囲にコン
デンサコア１４を収容、配置してなるコンデンサブッシ
ングであって、そのコンデンサコア１４の最外周の電極
箔の外側において、前記コンデンサコア１４を構成する
絶縁体と同質の絶縁層２を介して測定電極箔２１ａを設
けてなる測定用コンデンサ２１を形成し、前記コンデン
サコア１４の最外周の電極箔に接続された試験端子Ａと
前記測定用コンデンサ２１の測定電極箔に接続された試
験端子Ｂとを外部に引き出して設けた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサブッシ
ングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法の
改良に関するものであって、特に、導電釉碍管を用いた
コンデンサブッシングのコンデンサコアの誘電正接の測
定に関する。
ングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法の
改良に関するものであって、特に、導電釉碍管を用いた
コンデンサブッシングのコンデンサコアの誘電正接の測
定に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンデンサブッシング中のコンデ
ンサコアを構成する絶縁物層、例えば油浸紙あるいはレ
ジン含浸紙など絶縁物の電気特性、特にその絶縁抵抗と
誘電率とに関連する物性値である誘電正接は、物質特有
の値として品質管理上重要な管理項目とされている。
ンサコアを構成する絶縁物層、例えば油浸紙あるいはレ
ジン含浸紙など絶縁物の電気特性、特にその絶縁抵抗と
誘電率とに関連する物性値である誘電正接は、物質特有
の値として品質管理上重要な管理項目とされている。
【０００３】ここで誘電正接とは、絶縁物に交流電圧を
印加したときに流れる電流のうち、静電容量に基づく電
流ＩC と絶縁内部抵抗に基づく電流ＩR との比ＩR ／Ｉ
C （％）で表される値であり、吸湿などにより絶縁物の
絶縁抵抗が低下すると、これに基づく電流ＩR が増加
し、誘電正接の値が高くなるので、この誘電正接の値は
絶縁物の品質の重要な指標となるものである。
印加したときに流れる電流のうち、静電容量に基づく電
流ＩC と絶縁内部抵抗に基づく電流ＩR との比ＩR ／Ｉ
C （％）で表される値であり、吸湿などにより絶縁物の
絶縁抵抗が低下すると、これに基づく電流ＩR が増加
し、誘電正接の値が高くなるので、この誘電正接の値は
絶縁物の品質の重要な指標となるものである。
【０００４】このような品質の指標となる誘電正接の測
定をコンデンサブッシングの品質試験に適用しようとす
ると、外気湿度が高い場合あるいは碍管の表面が汚損さ
れている場合には、碍管表面を流れる漏れ電流が加算さ
れて測定されるため、測定対象であるコンデンサコアの
誘電正接が測定できないことになる。
定をコンデンサブッシングの品質試験に適用しようとす
ると、外気湿度が高い場合あるいは碍管の表面が汚損さ
れている場合には、碍管表面を流れる漏れ電流が加算さ
れて測定されるため、測定対象であるコンデンサコアの
誘電正接が測定できないことになる。
【０００５】そこで、図２に示すように、下部をフラン
ジ金具１１に固着した碍管１０の先端部分に設けられた
頭部電極金具１２から垂下する中心導体１３の周囲にコ
ンデンサコア１４を収容、配置してなるコンデンサブッ
シングの場合、そのフランジ金具１１を接地して表面漏
れ電流の影響を排除するガード電極とし、そのコンデン
サコアの最外周の電極箔１５に接続された試験端子１６
を用いて、誘電正接を測定する方法が用いられている。
ジ金具１１に固着した碍管１０の先端部分に設けられた
頭部電極金具１２から垂下する中心導体１３の周囲にコ
ンデンサコア１４を収容、配置してなるコンデンサブッ
シングの場合、そのフランジ金具１１を接地して表面漏
れ電流の影響を排除するガード電極とし、そのコンデン
サコアの最外周の電極箔１５に接続された試験端子１６
を用いて、誘電正接を測定する方法が用いられている。
【０００６】ところが、この場合でも、コンデンサコア
と碍管表面との間には、浮遊静電容量が形成されている
ので、上記のガード電極を用いても、漏れ電流の一部は
この浮遊静電容量を通じてコンデンサコアに流入してし
まうから、誘電正接の値はその分大きく測定されること
になる。
と碍管表面との間には、浮遊静電容量が形成されている
ので、上記のガード電極を用いても、漏れ電流の一部は
この浮遊静電容量を通じてコンデンサコアに流入してし
まうから、誘電正接の値はその分大きく測定されること
になる。
【０００７】従って、この方法を採用するときには、碍
管を清掃したうえ乾燥した状態に保って碍管表面の漏れ
電流を微小にすることが必要であった。このため、ブッ
シングが設置されている変電所などの屋外では、誘電正
接測定のために碍管表面の汚損を除去することは実質上
困難であるから、この誘電正接を品質管理上、活用する
ことはほとんど不可能であった。
管を清掃したうえ乾燥した状態に保って碍管表面の漏れ
電流を微小にすることが必要であった。このため、ブッ
シングが設置されている変電所などの屋外では、誘電正
接測定のために碍管表面の汚損を除去することは実質上
困難であるから、この誘電正接を品質管理上、活用する
ことはほとんど不可能であった。
【０００８】一方、近年、導電釉を施した碍管の優れた
耐汚損性能が注目されている。通常の碍管は、表面が海
塩などで汚損された場合、耐電圧が大幅に低下するの
で、そのような汚損を受けやすい重汚損地域では、その
汚損を見込んだ長大な碍管を必要としていた。しかし、
最近開発された導電釉を施した碍管は、汚損状態でも耐
電圧特性が良好であり、通常の碍管のように全長を長く
しないで済むという利点があるからである。
耐汚損性能が注目されている。通常の碍管は、表面が海
塩などで汚損された場合、耐電圧が大幅に低下するの
で、そのような汚損を受けやすい重汚損地域では、その
汚損を見込んだ長大な碍管を必要としていた。しかし、
最近開発された導電釉を施した碍管は、汚損状態でも耐
電圧特性が良好であり、通常の碍管のように全長を長く
しないで済むという利点があるからである。
【０００９】ところが、このような導電釉碍管を用いた
コンデンサブッシングでは、もともと碍管表面の絶縁抵
抗が低く設定してあるから、如上の漏れ電流を微小なも
のにすることが不可能なため、先に説明した方法ではコ
ンデンサコアに誘電正接を測定できず、品質管理上の解
決課題となっていた。
コンデンサブッシングでは、もともと碍管表面の絶縁抵
抗が低く設定してあるから、如上の漏れ電流を微小なも
のにすることが不可能なため、先に説明した方法ではコ
ンデンサコアに誘電正接を測定できず、品質管理上の解
決課題となっていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の問題
点を解決するためになされたものであり、碍管の表面状
態の如何に関わらず、コンデンサコアを構成する絶縁物
のみの誘電正接を測定することが可能となるコンデンサ
ブッシングおよびコンデンサブッシングの内部の電気特
性の測定方法を提供する。
点を解決するためになされたものであり、碍管の表面状
態の如何に関わらず、コンデンサコアを構成する絶縁物
のみの誘電正接を測定することが可能となるコンデンサ
ブッシングおよびコンデンサブッシングの内部の電気特
性の測定方法を提供する。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めになされた本発明のコンデンサブッシングは、下部を
接地したフランジ金具に固着した碍管の先端部分に設け
られた頭部電極金具から垂下する中心導体の周囲にコン
デンサコアを収容、配置してなるコンデンサブッシング
であって、そのコンデンサコアの最外周の電極箔の外側
において、前記コンデンサコアを構成する絶縁体と同質
の絶縁層を介して測定電極箔を設けてなる測定用コンデ
ンサを、その測定電極箔上端の前記フランジ金具の上端
に対する仰角が４５度以上となるように形成し、前記コ
ンデンサコアの最外周の電極箔に接続された試験端子Ａ
と前記測定用コンデンサの測定電極箔に接続された試験
端子Ｂとを設けたことを特徴とするものである。
めになされた本発明のコンデンサブッシングは、下部を
接地したフランジ金具に固着した碍管の先端部分に設け
られた頭部電極金具から垂下する中心導体の周囲にコン
デンサコアを収容、配置してなるコンデンサブッシング
であって、そのコンデンサコアの最外周の電極箔の外側
において、前記コンデンサコアを構成する絶縁体と同質
の絶縁層を介して測定電極箔を設けてなる測定用コンデ
ンサを、その測定電極箔上端の前記フランジ金具の上端
に対する仰角が４５度以上となるように形成し、前記コ
ンデンサコアの最外周の電極箔に接続された試験端子Ａ
と前記測定用コンデンサの測定電極箔に接続された試験
端子Ｂとを設けたことを特徴とするものである。
【００１２】また、上記の問題を解決するためになされ
た本発明のコンデンサブッシングのコンデンサコアの電
気特性の測定方法は、如上のコンデンサブッシングを対
象として、前記コンデンサコアの最外周の電極と前記測
定用コンデンサの電極との間に交流電圧を印加して、静
電容量および絶縁抵抗に基づく電流を測定して誘電正接
を求めることを特徴とするものである。
た本発明のコンデンサブッシングのコンデンサコアの電
気特性の測定方法は、如上のコンデンサブッシングを対
象として、前記コンデンサコアの最外周の電極と前記測
定用コンデンサの電極との間に交流電圧を印加して、静
電容量および絶縁抵抗に基づく電流を測定して誘電正接
を求めることを特徴とするものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に、本発明のコンデンサブッシ
ングに係る実施形態を図１を参照して説明する。図１に
おいて、本発明のコンデンサブッシングは、下部を接地
したフランジ金具１１に固着した大気中に露出した碍管
１０の先端部分に設けられた頭部電極金具１２から垂下
する中心導体１３の周囲にコンデンサコア１４を収容、
配置してなるコンデンサブッシングであることは、従来
のブッシングと同様である。
ングに係る実施形態を図１を参照して説明する。図１に
おいて、本発明のコンデンサブッシングは、下部を接地
したフランジ金具１１に固着した大気中に露出した碍管
１０の先端部分に設けられた頭部電極金具１２から垂下
する中心導体１３の周囲にコンデンサコア１４を収容、
配置してなるコンデンサブッシングであることは、従来
のブッシングと同様である。
【００１４】そして、本発明の特徴的事項は、そのコン
デンサコア１４の最外周の電極箔の外側において、前記
コンデンサコア１４を構成する絶縁体と同質の絶縁層２
を介して測定電極箔２１ａを設けてなる測定用コンデン
サ２１を形成し、前記コンデンサコア１４の最外周の電
極箔に接続された試験端子Ａと前記測定用コンデンサ２
１の測定電極箔に接続された試験端子Ｂとを外部に引き
出して設けた点にある。
デンサコア１４の最外周の電極箔の外側において、前記
コンデンサコア１４を構成する絶縁体と同質の絶縁層２
を介して測定電極箔２１ａを設けてなる測定用コンデン
サ２１を形成し、前記コンデンサコア１４の最外周の電
極箔に接続された試験端子Ａと前記測定用コンデンサ２
１の測定電極箔に接続された試験端子Ｂとを外部に引き
出して設けた点にある。
【００１５】また、この場合、その測定用コンデンサ２
１の測定電極箔２１ａ上端から前記フランジ金具１１の
上端に対する仰角（図１に示す角度θ）が４５度以上と
なるような高さに前記測定電極箔２１ａを設定して、測
定用コンデンサ２１を形成すれば、その測定電極箔２１
ａと碍管表面との間には測定誤差の要因となる浮遊静電
容量が完全に存在しなくなるので、特に好ましい。
１の測定電極箔２１ａ上端から前記フランジ金具１１の
上端に対する仰角（図１に示す角度θ）が４５度以上と
なるような高さに前記測定電極箔２１ａを設定して、測
定用コンデンサ２１を形成すれば、その測定電極箔２１
ａと碍管表面との間には測定誤差の要因となる浮遊静電
容量が完全に存在しなくなるので、特に好ましい。
【００１６】さらに、前記測定用コンデンサ２１の測定
電極箔２１ａに接続された試験端子を独立させて設ける
のではなく、前記フランジ金具１１と測定電極箔２１ａ
とを接続して（図示せず）、このフランジ金具１１を前
記試験端子Ｂとして利用できるようにしてもよい。この
ようにフランジ金具１１をして前記試験端子Ｂを兼用さ
せれば、独立した試験端子Ｂを設けなくてもよいので、
構造が簡単になる利点がある。
電極箔２１ａに接続された試験端子を独立させて設ける
のではなく、前記フランジ金具１１と測定電極箔２１ａ
とを接続して（図示せず）、このフランジ金具１１を前
記試験端子Ｂとして利用できるようにしてもよい。この
ようにフランジ金具１１をして前記試験端子Ｂを兼用さ
せれば、独立した試験端子Ｂを設けなくてもよいので、
構造が簡単になる利点がある。
【００１７】なお、このようにフランジ金具１１をして
試験端子Ｂを兼用させる場合には、誘電正接の測定に何
ら問題はない。しかし、ブッシングの部分放電特性を測
定する際には、試験端子Ａとフランジ金具１１との間に
測定回路を組むことになるが、このとき前記測定用コン
デンサ２１の静電容量が並列に入ることになり、部分放
電検出感度が低下するという事情があるため、この測定
用コンデンサ２１の静電容量は低く抑えておくことが必
要となる。
試験端子Ｂを兼用させる場合には、誘電正接の測定に何
ら問題はない。しかし、ブッシングの部分放電特性を測
定する際には、試験端子Ａとフランジ金具１１との間に
測定回路を組むことになるが、このとき前記測定用コン
デンサ２１の静電容量が並列に入ることになり、部分放
電検出感度が低下するという事情があるため、この測定
用コンデンサ２１の静電容量は低く抑えておくことが必
要となる。
【００１８】ここで、本発明のコンデンサブッシングの
コンデンサコアの電気特性の測定方法について説明する
と、本発明は、図１記載の構造からなるコンデンサブッ
シングを用いる方法であって、前記試験端子Ａ、Ｂ間
（フランジ金具１１が試験端子Ｂを兼用するときは、試
験端子Ａとフランジ金具１１の間）に交流電圧を印加
し、前記コンデンサコア１４の最外周の電極箔と前記測
定用コンデンサ２１の測定電極箔２１ａとの間の絶縁層
２を交流電界におき、その両電極間の静電容量および絶
縁抵抗に基づく電流ＩC 、ＩR を測定して誘電正接ＩR
／ＩC を求めるコンデンサコアの電気特性の測定方法で
ある。
コンデンサコアの電気特性の測定方法について説明する
と、本発明は、図１記載の構造からなるコンデンサブッ
シングを用いる方法であって、前記試験端子Ａ、Ｂ間
（フランジ金具１１が試験端子Ｂを兼用するときは、試
験端子Ａとフランジ金具１１の間）に交流電圧を印加
し、前記コンデンサコア１４の最外周の電極箔と前記測
定用コンデンサ２１の測定電極箔２１ａとの間の絶縁層
２を交流電界におき、その両電極間の静電容量および絶
縁抵抗に基づく電流ＩC 、ＩR を測定して誘電正接ＩR
／ＩC を求めるコンデンサコアの電気特性の測定方法で
ある。
【００１９】この場合、誘電正接の測定装置としては、
通常用いられるブリッジ回路としてシェーリングブリッ
ジ回路の他に、簡易シェーリングブリッジが使用でき、
交流電圧としては、１００〜１０００Ｖ、５０または６
０Ｈｚの商用周波電圧を適用すればよい。
通常用いられるブリッジ回路としてシェーリングブリッ
ジ回路の他に、簡易シェーリングブリッジが使用でき、
交流電圧としては、１００〜１０００Ｖ、５０または６
０Ｈｚの商用周波電圧を適用すればよい。
【００２０】以上説明した本発明の測定方法では、試験
端子Ｂに接続される測定用コンデンサ２１の電極箔２１
ａと碍管表面とは充分に隔離されるので、浮遊静電容量
は無視できるようになる。また、先に説明したように、
電極箔２１ａとフランジ金具１１との位置関係を設定す
れば測定誤差の要因となる浮遊静電容量を全く考慮する
ことなく、その両電極箔間の絶縁層２のみの誘電正接を
知ることができる。従って、従来誘電正接の測定が困難
だった導電釉碍管を用いたコンデンサブッシングについ
てもその誘電正接を測定できるようになった。
端子Ｂに接続される測定用コンデンサ２１の電極箔２１
ａと碍管表面とは充分に隔離されるので、浮遊静電容量
は無視できるようになる。また、先に説明したように、
電極箔２１ａとフランジ金具１１との位置関係を設定す
れば測定誤差の要因となる浮遊静電容量を全く考慮する
ことなく、その両電極箔間の絶縁層２のみの誘電正接を
知ることができる。従って、従来誘電正接の測定が困難
だった導電釉碍管を用いたコンデンサブッシングについ
てもその誘電正接を測定できるようになった。
【００２１】そして、その両電極箔間の絶縁層２は、コ
ンデンサコア１４の絶縁物と同一材質のものが用いら
れ、かつ同一環境に置かれ、同一の履歴を持つものであ
るから、そこから得られた電気特性は、コンデンサコア
１４の性質をよく代表するのである。かくして、前記碍
管として、所定の微弱な導電性を備えた導電釉を施した
碍管を適用した場合であっても、問題なく誘電正接を求
めることができるから、通常の碍管の場合と同様に管理
することができるのである。
ンデンサコア１４の絶縁物と同一材質のものが用いら
れ、かつ同一環境に置かれ、同一の履歴を持つものであ
るから、そこから得られた電気特性は、コンデンサコア
１４の性質をよく代表するのである。かくして、前記碍
管として、所定の微弱な導電性を備えた導電釉を施した
碍管を適用した場合であっても、問題なく誘電正接を求
めることができるから、通常の碍管の場合と同様に管理
することができるのである。
【００２２】
【発明の効果】本発明のコンデンサブッシングおよびコ
ンデンサブッシングの内部の電気特性の測定方法は、以
上に説明したように構成されているので、碍管の表面状
態の如何に関わらず、コンデンサコアを構成する絶縁物
のみの誘電正接を測定することができるようになり、重
汚染地域に有効な導電釉碍管を用いたコンデンサブッシ
ングについてもその誘電正接の管理が可能となった。よ
って本発明は従来の問題点を解消したコンデンサブッシ
ングおよびコンデンサブッシングの内部の電気特性の測
定方法として、その工業的価値は極めて大なるものがあ
る。
ンデンサブッシングの内部の電気特性の測定方法は、以
上に説明したように構成されているので、碍管の表面状
態の如何に関わらず、コンデンサコアを構成する絶縁物
のみの誘電正接を測定することができるようになり、重
汚染地域に有効な導電釉碍管を用いたコンデンサブッシ
ングについてもその誘電正接の管理が可能となった。よ
って本発明は従来の問題点を解消したコンデンサブッシ
ングおよびコンデンサブッシングの内部の電気特性の測
定方法として、その工業的価値は極めて大なるものがあ
る。
【図１】本発明の実施形態を説明するためのブッシング
左半分断面略図。
左半分断面略図。
【図２】従来の誘電正接測定方法を説明するためのブッ
シング左半分断面略図。
シング左半分断面略図。
１０ 碍管、１１ フランジ金具、１２ 頭部電極金
具、１３ 中心導体、１４コンデンサコア、２ 絶縁
層、２１ 測定用コンデンサ、２１ａ 測定電極箔Ａ、
Ｂ 試験端子。
具、１３ 中心導体、１４コンデンサコア、２ 絶縁
層、２１ 測定用コンデンサ、２１ａ 測定電極箔Ａ、
Ｂ 試験端子。
Claims (5)
- 【請求項１】 下部を接地したフランジ金具に固着した
碍管の先端部分に設けられた頭部電極金具から垂下する
中心導体の周囲にコンデンサコアを収容、配置してなる
コンデンサブッシングであって、そのコンデンサコアの
最外周の電極箔の外側において、前記コンデンサコアを
構成する絶縁体と同質の絶縁層を介して測定電極箔を設
けてなる測定用コンデンサを形成し、前記コンデンサコ
アの最外周の電極箔に接続された試験端子Ａと前記測定
用コンデンサの測定電極箔に接続された試験端子Ｂとを
設けたことを特徴とするコンデンサブッシング。 - 【請求項２】 前記測定用コンデンサの測定電極箔上端
の前記フランジ金具の上端に対する仰角が４５度以上と
なるように形成した請求項１に記載のコンデンサブッシ
ング。 - 【請求項３】前記測定用コンデンサの測定電極箔と前記
フランジ金具とを接続してこのフランジ金具を前記試験
端子Ｂとして利用可能とした請求項１また２に記載のコ
ンデンサブッシング。 - 【請求項４】 前記碍管が導電釉を施した碍管である請
求項１または２または３に記載のコンデンサブッシン
グ。 - 【請求項５】 請求項１〜４のいずれかに記載のコンデ
ンサブッシングを対象として、前記コンデンサコアの最
外周の電極と前記測定用コンデンサの電極との間に交流
電圧を印加して、静電容量および絶縁抵抗に基づく電流
を測定して誘電正接を求めることを特徴とするコンデン
サブッシングのコンデンサコアの電気特性の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10072025A JPH11273478A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | コンデンサブッシングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10072025A JPH11273478A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | コンデンサブッシングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11273478A true JPH11273478A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=13477470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10072025A Withdrawn JPH11273478A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | コンデンサブッシングおよびそのコンデンサコアの電気特性の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11273478A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019145139A1 (de) * | 2018-01-26 | 2019-08-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Steckbare hochspannungsdurchführung und elektrisches gerät mit der steckbaren hochspannungsdurchführung |
-
1998
- 1998-03-20 JP JP10072025A patent/JPH11273478A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019145139A1 (de) * | 2018-01-26 | 2019-08-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Steckbare hochspannungsdurchführung und elektrisches gerät mit der steckbaren hochspannungsdurchführung |
| US11367545B2 (en) | 2018-01-26 | 2022-06-21 | Siemens Energy Global GmbH & Co. KG | Pluggable high-voltage bushing and electrical device having the pluggable high-voltage bushing |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050607 |