JPH11273341A - 半導体装置及びデータ処理システム - Google Patents

半導体装置及びデータ処理システム

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JPH11273341A
JPH11273341A JP10068010A JP6801098A JPH11273341A JP H11273341 A JPH11273341 A JP H11273341A JP 10068010 A JP10068010 A JP 10068010A JP 6801098 A JP6801098 A JP 6801098A JP H11273341 A JPH11273341 A JP H11273341A
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JP
Japan
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differential input
state
input buffer
signal
semiconductor device
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Withdrawn
Application number
JP10068010A
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English (en)
Inventor
Hirotaka Ogata
宏孝 緒方
Sadayuki Morita
貞幸 森田
Hirofumi Zushi
弘文 厨子
Takanori Miyase
崇徳 宮瀬
Takahiro Sonoda
崇宏 園田
Haruko Kawachino
晴子 川内野
Kiyoshi Nagai
清 永井
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Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 外部とのインタフェース回路に差動入力バッ
ファを有する半導体装置の電力消費を低減する。 【解決手段】 半導体装置は、差動入力バッファ(1)
と差動入力バッファの出力に入力が接続されたラッチ回
路(2)とを有する。差動入力バッファは、参照電位
(Vref)と外部信号(IN)とを差動入力とする差
動入力アンプと、差動入力アンプに高電位側電源を供給
するパワースイッチ(Q5)と、差動入力アンプに低電
位側電源を供給する第2のパワースイッチ(Q6)とを
有する。制御回路(3)は同期クロック信号(QCLK
b)の状態に応じて差動入力バッファを交互に活性/非
活性に制御し、それに同期してラッチ回路を入力可能/
ラッチ状態に制御するから、差動入力バッファで常時貫
通電流が流れることを阻止でき、半導体装置の低消費電
力に寄与できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、外部とのインタフ
ェース回路に差動入力バッファを有する半導体装置に係
り、特に差動入力バッファの電力消費を低減する技術に
関し、例えば、SDRAM(シンクロナス・ダイナミッ
ク・ランダム・アクセス・メモリ)に適用して有効な技
術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】メモリモジュール向けの小信号振幅イン
タフェースとしてSSTL(Stub Series Terminated t
ransceiver Logic)がある。このインタフェース仕様に
代表される小信号振幅インタフェースを半導体装置で実
現する場合、外部とのインタフェース回路に差動入力バ
ッファを採用することができる。例えば、SSTLイン
タフェースでは、Vref(≒Vcc×0.45)を参
照電位とし、半導体装置の外部入力初段に、カレントミ
ラー型の差動アンプを設け、入力信号を高速にCMOS
レベルに変換し、後段にて入力データをラッチ回路にラ
ッチするように構成されている。
【0003】尚、SSTLインタフェース仕様を有する
半導体装置について記載された文献の例として、H.8
EIAJ ED−5512、3.3V用スタブ直列終
端型論理標準機能仕様がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、外部イ
ンタフェース仕様に前記SSTLインタフェース仕様が
採用された半導体装置において、外部との信号インタフ
ェース回路の全てが入力初段バッファに前記カレントミ
ラー型差動アンプを有し、それらは常に入力動作可能に
されていなければならない。前記カレントミラー型差動
アンプを動作可能に維持するために常に動作電流を流し
つづけると、それによって半導体装置、更にはシステム
全体の電力消費量が大きくなり過ぎることが本発明者に
よって見出された。
【0005】本発明の目的は、外部とのインタフェース
回路に差動入力バッファを有する半導体装置の電力消費
を低減することにある。
【0006】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0008】〔1〕半導体装置は、外部信号の入力イン
タフェース回路である差動入力バッファ(1)と前記差
動入力バッファの出力に入力が接続されたラッチ回路
(2)とを有し、クロック同期動作する。前記差動入力
バッファは、一方の差動入力を参照電位(Vref)と
し他方の差動入力を外部信号(IN)とする差動入力ア
ンプと、前記差動入力アンプに高電位側電源を供給する
第1のパワースイッチトランジスタ(Q5)と、前記差
動入力アンプに低電位側電源を供給する第2のパワース
イッチトランジスタ(Q6)とを有する。差動入力バッ
ファ及びラッチ回路を制御する制御回路(3)は、入力
動作用の同期クロック信号(QCLKb)の第1の状態
に同期して前記第1及び第2のパワースイッチトランジ
スタをオン状態に制御して差動入力バッファを活性化す
ると共に前記ラッチ回路を入力動作可能とし、入力動作
用の同期クロック信号の第2の状態に同期して前記第1
及び第2のパワースイッチトランジスタをオフ状態に制
御して差動入力バッファを非活性化すると共に前記ラッ
チ回路をデータラッチ状態に制御する。
【0009】上記により、入力動作用の同期クロック信
号の状態に応じて差動入力バッファを交互に活性、非活
性に制御できるから、これによって、差動入力バッファ
に流れる貫通電流を少なくすることができる。
【0010】また、差動入力バッファは高電位側及び低
電位側の双方の電源供給系にパワースイッチを有し、当
該バッファの活性/非活性化制御では、双方のパワース
イッチを並列的にスイッチ動作させるから、差動入力バ
ッファが非活性化されたとき当該バッファの出力の不所
望な反転や大きな変動などを最小限に抑えることができ
る。したがって、ラッチ回路のラッチ動作に対して差動
入力バッファの非活性化タイミングを遅延させることを
要せず、ラッチ回路のラッチタイミングと差動入力バッ
ファの非活性化タイミングとの制御が簡単になり、しか
も差動入力バッファの動作期間を極力短くでき低消費電
力化の観点からも優れている。
【0011】前記制御回路は、パワーダウン信号(P
D)を入力し、パワーダウン信号の第1の状態に呼応し
て前記クロック信号の状態に拘わらず前記第1及び第2
のパワースイッチトランジスタをオフ状態に制御すると
共に前記ラッチ回路の出力を所定の論理値に強制し、パ
ワーダウン信号の第2の状態に呼応して前記前記クロッ
ク信号の状態に従った制御を行なうことができる。
【0012】〔2〕上記とは別の観点による発明は、差
動入力バッファとラッチ回路との間にトランスファゲー
ト(4)を配置し、ラッチタイミングに同期してトラン
スファゲートを閉じ、差動入力バッファを非活性化する
ときその出力を強制的にラッチ回路の入力から分離させ
る。これにより、差動入力バッファの非活性化時にラッ
チ回路が誤ったデータをラッチする虞を確実に排除する
ことができる。但し、トランジスタ数は第1の観点によ
る発明よりも若干増えることが予想される。
【0013】前記制御回路は、パワーダウン信号を入力
し、パワーダウン信号の第1の状態に呼応して前記クロ
ック信号の状態に拘わらず前記パワースイッチトランジ
スタ及びトランスファゲートをオフ状態に制御すると共
に前記ラッチ回路の出力を所定の論理値に強制し、パワ
ーダウン信号の第2の状態に呼応して前記前記クロック
信号の状態に従った制御を行なうことができる。
【0014】前記差動入力バッファの出力端子と前記ト
ランスファゲートとの間を、前記クロック信号の第2の
状態に同期してプリチャージするプリチャージトランジ
スタ(Q9)を設けることにより、差動入力トランジス
タが活性化された時、その差動増幅動作の高速性を保証
することができる。
【0015】〔3〕半導体装置は、前記夫々前記差動入
力バッファを有するアドレス入力バッファ(20,2
1)、データ入力バッファ(16)、制御信号入力バッ
ファ(28)を有し、チップ選択信号(CSb)によっ
てチップ選択された状態で外部からコマンドを入力し、
入力したコマンドを解読して、メモリセル(MC)に対
するメモリ動作を行なう、SDRAM(5)などとして
実現することができる。データ処理システムは、そのよ
うな半導体装置と、前記半導体装置にコマンドを供給す
るアクセス制御回路(111,113)とを実装基板に
搭載して構成することができる。上記より低消費電力化
された半導体装置を用いるから、データ処理システム全
体として電力消費量を低減することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】図1には本発明に係る半導体装置
の一例が示される。同図には一つの差動入力バッファを
中心とした回路部分が代表的に示されいる。図1に示さ
れる半導体装置は、単結晶シリコンのような1個の半導
体基板に、例えば公知のCMOS集積回路製造技術によ
って形成され、クロック信号に同期動作される。
【0017】図1において、1は差動入力バッファ、2
はラッチ回路、3は制御回路を示す。前記差動入力バッ
ファ1は、外部信号の入力インタフェース回路である。
INが外部入力信号を意味する。特に制限されないが、
差動入力バッファ1はSSTLインタフェース仕様を満
足するSSTLインタフェースバッファとされる。図1
では入力保護回路等は図示を省略してある。
【0018】前記差動入力バッファ1は、一対の差動入
力MOSトランジスタQ1,Q2と、MOSトランジス
タQ3,Q4によるカレントミラー負荷とによって構成
された差動入力アンプを有する。差動入力トランジスタ
Q2は参照電位Vrefを入力し、差動入力トランジス
タQ1は外部入力信号INをゲートに受ける。MOSト
ランジスタQ3,Q4のコモンソースには、高電位側電
源VCCを供給するpチャンネル型の第1のパワースイ
ッチMOSトランジスタQ5が設けられ、MOSトラン
ジスタQ1,Q2のコモンソースには、低電位側電源G
NDを供給するnチャンネル型の第2のパワースイッチ
MOSトランジスタQ6が設けられている。
【0019】前記ラッチ回路2は、特に制限されない
が、ノアゲートNOR2とクロックドインバータCIV
とが逆並列接続されて構成される。OUTはラッチ回路
2の出力信号である。
【0020】前記制御回路3は、ノアゲートNOR1と
インバータIVを有し、入力動作用のクロック信号QC
LKbとパワーダウン信号PDとに基づいて、差動入力
バッファ1及びラッチ回路2の動作を制御する。ノアゲ
ートNOR1はタイミングクロック信号QCLKbとパ
ワーダウン信号PDを入力する。パワーダウン信号PD
は、ハイレベルによってパワーダウンを指示する。タイ
ミングクロック信号QCLKbは図2に例示されるよう
に半導体装置の動作サイクル毎に一定期間ローレベルに
される、ワンショットパルスのようなクロック信号とさ
れる。ノアゲートNOR1の出力はMOSトランジスタ
Q6のゲートに供給され、また、インバータIVを介し
てMOSトランジスタQ5のゲートに供給され、これに
より、パワースイッチMOSトランジスタQ5,Q6
は、パワーダウン信号PDがローレベルであることを条
件に、タイミングクロック信号QCLKbのローレベル
期間にオン状態にされ、ハイレベル期間にオフ状態にさ
れる。また、ノアゲートNOR1とインバータIVの出
力はラッチ回路のクロックドインバータCIVを活性/
非活性制御し、パワーダウン信号PDがローレベルであ
ることを条件に、タイミングクロック信号QCLKbの
ローレベル期間にラッチ回路2を入力動作可能とし、ハ
イレベル期間にラッチ状態に制御する。このタイミング
は図2に例示されている通りである。図2においてクロ
ック信号CLKは前記クロック信号QCLKbを生成す
るための動作基準クロック信号である。
【0021】前記パワーダウン信号PDがハイレベルの
ときは、前記タイミングクロック信号QCLKbの状態
に拘わらず前記パワースイッチMOSトランジスタQ
5,Q6はオフ状態に制御され、前記ラッチ回路2の出
力はローレベルに強制される。
【0022】上記構成により、入力動作用のタイミング
クロック信号QCLKbの状態に応じて差動入力バッフ
ァ1を交互に活性、非活性に制御できるから、差動入力
バッファ1で消費される貫通電流を少なくすることがで
きる。
【0023】また、差動入力バッファは高電位側及び低
電位側の双方の電源供給系にパワースイッチMOSトラ
ンジスタQ5,Q6を有し、当該バッファの活性、非活
性化制御では、双方のパワースイッチMOSトランジス
タQ5,Q6を並列的にスイッチ動作させるから、差動
入力バッファ1が非活性化されたとき当該バッファ1の
出力が不所望に反転したり変動したりする事態を最小限
に抑えることができる。したがって、ラッチ回路2のラ
ッチ動作に対して差動入力バッファ1の非活性化タイミ
ングを遅延させることを要しないから、ラッチ回路のラ
ッチタイミングと差動入力バッファの非活性化タイミン
グとの制御が簡単になり、しかも差動入力バッファの動
作期間を極力短くでき低消費電力化の観点からも優れて
いる。
【0024】図3には本発明に係る半導体装置の別の例
が示される。同図には一つの差動入力バッファを中心と
した回路部分が代表的に示されいる。図3に示される半
導体装置は、単結晶シリコンのような1個の半導体基板
に、例えば公知のCMOS集積回路製造技術によって形
成され、クロック信号に同期動作される。
【0025】図3において、1は差動入力バッファ、2
はラッチ回路、3は制御回路を示す。前記差動入力バッ
ファ1は外部信号の入力インタフェース回路である。I
Nが外部入力信号を意味する。特に制限されないが、差
動入力バッファ1はSSTLインタフェース仕様を満足
するSSTLインタフェースバッファとされる。図3で
は入力保護回路等は図示を省略してある。
【0026】図1との相違点は、差動入力バッファ1の
パワースイッチMOSトランジスタが低電位側のQ6だ
けにされたこと、差動入力バッファ1とラッチ回路2と
の間にpチャンネル型MOSトランジスタQ7とnチャ
ンネル型MOSトランジスタQ8とから構成されるCM
OSトランスファゲート4が設けられたこと、そして、
差動入力バッファ1の出力端子にpチャンネル型のプリ
チャージMOSトランジスタQ9が設けられたことであ
る。制御回路3は、ノアゲートNOR1の出力によって
パワースイッチMOSトランジスタQ6をスイッチ制御
する。CMOSトランスファゲート4は、ノアゲートN
OR1の出力ととインバータIVの出力によってスイッ
チ制御され、ラッチ回路2によるラッチタイミングに同
期して閉じられ、差動入力バッファ1を非活性化すると
きその出力を強制的にラッチ回路2の入力から分離させ
る。これにより、差動入力バッファ1の非活性化時にラ
ッチ回路2が誤ったデータをラッチする虞を確実に排除
することができる。また、プリチャージMOSトランジ
スタQ9はラッチ回路2によるラッチタイミング(差動
入力バッファの非活性期間)に差動入力バッファ1の出
力端子を電源電圧VCCに向けてプリチャージする。こ
れにより、差動入力バッファ1が活性化された時、その
差動増幅動作の高速性を保証することができる。
【0027】尚、図3の構成は図1の構成に比べてトラ
ンジスタ数は若干増えている。パワーダウン信号PDに
よるパワーダウン制御は図1と同様である。前記CMO
Sトランスファゲート4はパワーダウン時はカットオフ
される。
【0028】図4には本発明に係る半導体装置の一例で
あるSDRAMのブロック図が示される。同図に示され
るSDRAM5は、特に制限されないが、公知の半導体
集積回路製造技術によって単結晶シリコンのような一つ
の半導体基板に形成される。
【0029】前記図1乃至図3で説明した差動入力バッ
ファ1、ラッチ回路2及び制御回路3等を用いる入力回
路は、図4に示されるカラムアドレスバッファ20、ロ
ウアドレスバッファ21、制御信号入力バッファ28及
びデータ入力バッファ16に夫々適用されている。前記
タイミングクロック信号QCLKb、パワーダウン信号
PDはSDRAM5の動作に従ってコントローラ25か
ら出力される。
【0030】図4に示されるSDRAM5は、バンクA
を構成するメモリアレイ10AとバンクBを構成するメ
モリアレイ10Bを備える。夫々のメモリアレイ10
A,10Bは、マトリクス配置されたダイナミック型の
メモリセルMCを備え、図に従えば、同一列に配置され
たメモリセルMCの選択端子は列毎のワード線WLに結
合され、同一行に配置されたメモリセルのデータ入出力
端子は行毎に相補データ線BL,BLbに結合される。
同図にはワード線と相補データ線は一部だけが代表的に
示されているが、実際にはマトリクス状に多数配置され
ている。
【0031】上記メモリアレイ10Aのワード線WLは
ロウデコーダ11Aによるロウアドレス信号のデコード
結果に従って選ばれた1本がワードドライバ12Aによ
って選択レベルに駆動される。
【0032】メモリアレイ10Aの相補データ線はセン
スアンプ及びカラム選択回路13Aに結合される。セン
スアンプ及びカラム選択回路13Aにおけるセンスアン
プは、メモリセルMCからのデータ読出しによって夫々
の相補データ線に現れる微小電位差を検出して増幅する
増幅回路である。それにおけるカラムスイッチ回路は、
相補データ線を各別に選択して相補共通データ線14に
導通させるためのスイッチ回路である。カラムスイッチ
回路はカラムデコーダ15Aによるカラムアドレス信号
のデコード結果に従って選択動作される。メモリアレイ
10B側にも同様にロウデコーダ11B、ワードドライ
バ12B、センスアンプ及びカラム選択回路13B、そ
してカラムデコーダ15Bが設けられている。上記相補
共通データ線14はデータ入力バッファ16の出力端子
及びデータ出力バッファ17の入力端子に接続される。
データ入力バッファ16の入力端子及びデータ出力バッ
ファ17の出力端子は16ビットのデータ入出力端子I
/O0〜I/O15に接続される。
【0033】アドレス入力端子A0〜A9から供給され
るロウアドレス信号とカラムアドレス信号はカラムアド
レスバッファ20とロウアドレスバッファ21にアドレ
スマルチプレクス形式で取り込まれる。供給されたアド
レス信号は夫々のバッファが保持する。ロウアドレスバ
ッファ21は、リフレッシュ動作モードではリフレッシ
ュカウンタ22から出力されるリフレッシュアドレス信
号をロウアドレス信号として取り込む。カラムアドレス
バッファ20の出力はカラムアドレスカウンタ23のプ
リセットデータとして供給され、カラムアドレスカウン
タ23は後述のコマンドなどで指定される動作モードに
応じて、上記プリセットデータとしてのカラムアドレス
信号、又はそのカラムアドレス信号を順次インクリメン
トした値を、カラムデコーダ15A,15Bに向けて出
力する。
【0034】コントローラ25は、特に制限されない
が、外部制御信号として、クロック信号CLK、クロッ
クイネーブル信号CKE、チップセレクト信号CSb、
カラムアドレスストローブ信号CASb、ロウアドレス
ストローブ信号RASb、及びライトイネーブル信号W
Eb、及びデータイネーブル信号DQKL,DQMUが
入力される。更に、コントローラ25には図示を省略す
る信号経路を介してアドレス入力端子A0〜A9から制
御データが供給される。コントローラ25は、それら信
号のレベルや変化のタイミングなどに基づいてSDRA
Mの動作モード及び上記回路ブロックの動作を制御する
ための内部タイミング信号を形成するもので、そのため
のコントロールロジック(図示せず)とモードレジスタ
26を備える。
【0035】クロック信号CLKはSDRAM5のマス
タクロックとされ、その他の外部入力信号は当該クロッ
ク信号CLKの立ち上がりエッジに同期して有意とされ
る。
【0036】チップセレクト信号CSbはそのローレベ
ルによってコマンド入力サイクルの開始を指示する。チ
ップセレクト信号がハイレベルのとき(チップ非選択状
態)その他の入力は意味を持たない。但し、後述するメ
モリバンクの選択状態やバースト動作などの内部動作は
チップ非選択状態への変化によって影響されない。
【0037】RASb,CASb,WEbの各信号は通
常のDRAMにおける対応信号とは機能が相違され、後
述するコマンドサイクルを定義するときに有意の信号と
される。
【0038】クロックイネーブル信号CKEは次のクロ
ック信号の有効性を指示する信号であり、当該信号CK
Eがハイレベルであれば次のクロック信号CLKの立ち
上がりエッジが有効とされ、ローレベルのときは無効と
される。パワーダウンモードとする場合にはクロックイ
ネーブル信号CKEはローレベルとされる。
【0039】前記データイネーブル信号DQML,DQ
MUは、例えばリードモードにおいてデータ出力バッフ
ァ17に対するアウトプットイネーブルの制御を行う。
その信号DQML,DQMUがハイレベルのとき、デー
タ出力バッファ17は端子I/O0〜I/O15の全てを
高出力インピーダンス状態にする。
【0040】上記ロウアドレス信号は、クロック信号C
LKの立ち上がりエッジに同期する後述のロウアドレス
ストローブ・バンクアクティブコマンドサイクルにおけ
るA0〜A8のレベルによって定義される。
【0041】A9からの入力は、上記ロウアドレススト
ローブ・バンクアクティブコマンドサイクルにおいてバ
ンク選択信号とみなされる。即ち、A9の入力がローレ
ベルの時はメモリバンクAが選択され、ハイレベルの時
はメモリバンクBが選択される。メモリバンクの選択制
御は、特に制限されないが、選択メモリバンク側のロウ
デコーダのみの活性化、非選択メモリバンク側のカラム
スイッチ回路の全非選択、選択メモリバンク側のみのデ
ータ入力バッファ16及びデータ出力バッファ17への
接続などの処理によって行うことができる。
【0042】プリチャージコマンドサイクルにおけるA
8の入力は相補データ線などに対するプリチャージ動作
の態様を指示し、そのハイレベルはプリチャージの対象
が双方のメモリバンクであることを指示し、そのローレ
ベルは、A9で指示されている一方のメモリバンクがプ
リチャージ対象であることを指示する。
【0043】上記カラムアドレス信号は、クロック信号
CLKの立ち上がりエッジに同期するリード又はライト
コマンド(後述のカラムアドレス・リードコマンド、カ
ラムアドレス・ライトコマンド)サイクルにおけるA0
〜A7のレベルによって定義される。そして、この様に
して定義されたカラムアドレスはバーストアクセスのス
タートアドレスとされる。
【0044】次に、SDRAM5のコマンドを簡単に説
明する。〔1〕モードレジスタセットコマンドは、上記
モードレジスタ26をセットするためのコマンドであ
る。このコマンドは、CSb,RASb,CASb,W
Eb=ローレベルによって当該コマンドが指定され、セ
ットすべきデータ(レジスタセットデータ)はA0〜A
9を介して与えられる(A0〜A9がコントローラ21
2へ伝達される経路は図示を省略してある)。レジスタ
セットデータは、特に制限されないが、バーストレング
ス、CASレイテンシー、ライトモードなどとされる。
〔2〕ロウアドレスストローブ・バンクアクティブコマ
ンは、ロウアドレスストローブの指示とA9によるメモ
リバンクの選択を有効にするコマンドであり、CSb,
RASb=ローレベル、CASb,WEb=ハイレベル
によって指示され、このときA0〜A8に供給されるア
ドレスがロウアドレス信号として取り込まれ、A9に供
給される信号がメモリバンクの選択信号として取り込ま
れる。取り込動作は上述のようにクロック信号CLKの
立ち上がりエッジに同期して行われる。〔3〕カラムア
ドレス・リードコマンは、バーストリード動作を開始す
るために必要なコマンドであると共に、カラムアドレス
ストローブの指示を与えるコマンドであり、CSb,C
ASb,=ロウレベル、RASb,WEb=ハイレベル
によって指示され、このときA0〜A7に供給されるア
ドレスがカラムアドレス信号として取り込まれる。これ
によって取り込まれたカラムアドレス信号はバーストス
タートアドレスとしてカラムアドレスカウンタ23に供
給される。これによって指示されたバーストリード動作
においては、その前にロウアドレスストローブ・バンク
アクティブコマンドサイクルでメモリバンクとそれにお
けるワード線の選択が行われており、当該選択ワード線
のメモリセルが、クロック信号CLKに同期してカラム
アドレスカウンタ23から出力されるアドレス信号に従
って順次選択されて、データが連続的に読出される。連
続的に読出されるデータ数は上記バーストレングスによ
って指定された個数とされる。また、データ出力バッフ
ァ17からのデータ読出し開始は上記CASレイテンシ
ーで規定されるクロック信号CLKのサイクル数を待っ
て行われる。その他に、カラムアドレス・ライトコマン
ド、プリチャージコマンド、オートリフレッシュコマン
ド等があるが、ここではその説明を省略する。
【0045】図5にはSDRAM5を用いたデータ処理
システムの一例であるコンピュータシステムのブロック
図が示される。このコンピュータシステムは、プロセッ
サボード110と周辺回路によって構成される。プロセ
ッサボード110は、マイクロプロセッサ111を中心
に、当該マイクロプロセッサ111が結合されたプロセ
ッサバス112に、代表的に示されたメモリコントロー
ラ113及びPCI(Peripheral Component Interconn
ect)バスコントローラ114が結合される。メモリコ
ントローラ114には、マイクロプロセッサ111のワ
ーク領域若しくは一次記憶領域とされるメインメモリと
してのSDRAM5が結合されている。PCIバスコン
トローラ114は低速の周辺回路をPCIバス116を
介してプロセッサバス112にインタフェースするブリ
ッジ回路として機能される。PCIバス116には、特
に制限されないが、ディスプレイコントローラ117、
IDE(Integrated Device Electronics)インタフェ
ースコントローラ118、SCSI(Small Computer S
ystem Interface)インタフェースコントローラ119
及びその他のインタフェースコントローラ120が結合
されている。前記ディスプレイコントローラ117には
フレームバッファメモリ121が接続されている。
【0046】周辺回路として、前記ディスプレイコント
ローラ117に結合されたディスプレイ122、IDE
インタフェースコントローラ118に結合されたハード
ディスクドライブ(HDD)123、SCSIインタフ
ェースコントローラ119に結合されたイメージスキャ
ナ124、そして、前記その他のインタフェースコント
ローラ120に結合されたキーボード125、マウス1
26、及びモデム127等が設けられている。
【0047】図5のプロセッサボード100によれば、
上記より低消費電力化されたSDRAM5を用いるか
ら、プロセッサボード100全体として電力消費量を低
減することができる。
【0048】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更可能であることは言うまでもない。
【0049】例えば、差動入力アンプの構成は図1及び
図3に限定されず適宜変更可能である。また、本発明に
係る半導体装置はSDRAMに限定されず、SSRAM
(シンクロナス・スタティック・ランダム・アクセス・
メモリ)等の他の記憶形式のメモリ、更にはSDRAM
などのメモリをオンチップしたマイクロプロセッサ若し
くはマイクロコンピュータなどのデータ処理用の半導体
装置など、種々の半導体装置に広く適用することができ
る。
【0050】本発明は、外部とのインタフェース回路に
差動入力バッファを有する条件の半導体装置に適用する
ことができる。
【0051】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0052】すなわち、入力動作用の同期クロック信号
の状態に応じて差動入力バッファを交互に活性/非活性
に制御し、それに同期してラッチ回路を入力可能/ラッ
チ状態に制御するから、これによって、外部信号の入力
インタフェース用の差動入力バッファで常時貫通電流が
流れることを阻止でき、半導体装置の低消費電力に寄与
できる。
【0053】差動入力バッファの高電位側及び低電位側
の双方の電源供給系にパワースイッチを設け、双方のパ
ワースイッチを並列的にスイッチ動作させて当該バッフ
ァの活性/非活性を制御するから、差動入力バッファが
非活性化されたとき当該バッファの出力が不所望に反転
したり大きく変動したりするのを抑制でき、これによっ
て、ラッチ回路のラッチ動作に対して差動入力バッファ
の非活性化タイミングを遅延させることを要せず、ラッ
チ回路のラッチタイミングと差動入力バッファの非活性
化タイミングとの制御を簡単できる。
【0054】差動入力バッファとラッチ回路との間にト
ランスファゲートを配置し、ラッチタイミングに同期し
てトランスファゲートを閉じ、差動入力バッファを非活
性化するときその出力を強制的にラッチ回路の入力から
分離させることにより、差動入力バッファの非活性化時
にラッチ回路が誤ったデータをラッチする虞を確実に排
除することができる。
【0055】そのような半導体装置を用いたデータ処理
システムは、システム全体として電力消費量を低減する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体装置の入力バッファを主体
として例示した回路図である。
【図2】差動入力バッファを用いた入力動作波形の一例
を示すタイミングチャートである。
【図3】本発明に係る半導体装置の入力バッファを主体
とした別の例を示す回路図である。
【図4】本発明に係る半導体装置の一例であるSDRA
Mのブロック図である。
【図5】SDRAMを用いたプロセッサボードの一例を
示すブロック図である。
【符号の説明】
1 差動入力バッファ(SSTLインタフェースバッフ
ァ) 2 ラッチ回路 3 制御回路 QCKLb タイミングクロック信号 PD パワーダウン信号 IN 外部入力信号 Q5,Q6 パワースイッチMOSトランジスタ Vref 参照電位 4 トランスファゲート 5 SDRAM Q9 プリチャージMOSトランジスタ 10A,10B メモリアレイ 13A,13B センスアンプ及びカラム選択回路 16 データ入力バッファ 20 カラムアドレスバッファ 21 ロウアドレスバッファ 25 コントローラ 28 制御信号入力バッファ 111 マイクロプロセッサ 113 メモリコントローラ
フロントページの続き (72)発明者 森田 貞幸 東京都国分寺市東恋ヶ窪三丁目1番地1 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリン グ株式会社内 (72)発明者 厨子 弘文 東京都国分寺市東恋ヶ窪三丁目1番地1 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリン グ株式会社内 (72)発明者 宮瀬 崇徳 東京都国分寺市東恋ヶ窪三丁目1番地1 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリン グ株式会社内 (72)発明者 園田 崇宏 東京都国分寺市東恋ヶ窪三丁目1番地1 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリン グ株式会社内 (72)発明者 川内野 晴子 東京都国分寺市東恋ヶ窪三丁目1番地1 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリン グ株式会社内 (72)発明者 永井 清 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部信号の入力インタフェース回路であ
    る差動入力バッファと前記差動入力バッファの出力に入
    力が接続されたラッチ回路とを有する、クロック同期型
    の半導体装置であって、 前記差動入力バッファは、一方の差動入力を参照電位と
    し他方の差動入力を外部信号とする差動入力アンプと、
    前記差動入力アンプに高電位側電源を供給する第1のパ
    ワースイッチトランジスタと、前記差動入力アンプに低
    電位側電源を供給する第2のパワースイッチトランジス
    タとを含み、 入力動作用の同期クロック信号の第1の状態に同期して
    前記第1及び第2のパワースイッチトランジスタをオン
    状態に制御して差動入力バッファを活性化すると共に前
    記ラッチ回路を入力動作可能とし、入力動作用の同期ク
    ロック信号の第2の状態に同期して前記第1及び第2の
    パワースイッチトランジスタをオフ状態に制御して差動
    入力バッファを非活性化すると共に前記ラッチ回路をデ
    ータラッチ状態に制御する制御回路を有して成るもので
    あることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記制御回路は、パワーダウン信号を入
    力し、パワーダウン信号の第1の状態に呼応して前記ク
    ロック信号の状態に拘わらず前記第1及び第2のパワー
    スイッチトランジスタをオフ状態に制御すると共に前記
    ラッチ回路の出力を所定の論理値に強制し、パワーダウ
    ン信号の第2の状態に呼応して前記前記クロック信号の
    状態に従った制御を行なうものであることを特徴とする
    請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 外部信号の入力インタフェース回路であ
    る差動入力バッファと前記差動入力バッファの出力に入
    力が接続されたラッチ回路とを有する、クロック同期型
    の半導体装置であって、 前記差動入力バッファは、一方の差動入力を参照電位と
    し他方の差動入力を外部信号とする差動入力アンプと、
    前記差動入力アンプに電源を供給するパワースイッチト
    ランジスタとを含み、 前記ラッチ回路の入力端子と前記差動入力バッファの出
    力端子との間に配置されたトランスファゲートと、 入力動作用の同期クロック信号の第1の状態に同期して
    前記パワースイッチトランジスタをオン状態に制御して
    差動入力バッファを活性化すると共に前記トランスファ
    ゲートをオン状態とし前記ラッチ回路を入力動作可能と
    し、入力動作用の同期クロック信号の第2の状態に同期
    して前記パワースイッチトランジスタをオフ状態に制御
    して差動入力バッファを非活性化すると共に前記トラン
    スファゲートをオフ状態とし前記ラッチ回路をデータラ
    ッチ状態に制御する制御回路と、を有して成るものであ
    ることを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記制御回路は、パワーダウン信号を入
    力し、パワーダウン信号の第1の状態に呼応して前記ク
    ロック信号の状態に拘わらず前記パワースイッチトラン
    ジスタ及びトランスファゲートをオフ状態に制御すると
    共に前記ラッチ回路の出力を所定の論理値に強制し、パ
    ワーダウン信号の第2の状態に呼応して前記前記クロッ
    ク信号の状態に従った制御を行なうものであることを特
    徴とする請求項3記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記差動入力バッファの出力端子と前記
    トランスファゲートとの間を前記クロック信号の第2の
    状態に同期してプリチャージするプリチャージトランジ
    スタを更に含んで成るものであることを特徴とする請求
    項4記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 夫々前記差動入力バッファを有するアド
    レス入力バッファ、データ入力バッファ、制御信号入力
    バッファを有し、チップ選択信号によってチップ選択さ
    れた状態で外部からコマンドを入力し、入力したコマン
    ドを解読して、メモリセルに対するメモリ動作を行なう
    ものであることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1
    項記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の半導体装置と、前記半導
    体装置にコマンドを供給するアクセス制御回路とを実装
    基板に搭載して成るものであることを特徴とするデータ
    処理システム。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6351432B1 (en) 2000-09-04 2002-02-26 Fujitsu Limited Synchronous semiconductor memory apparatus and input information latch control method thereof
KR100431525B1 (ko) * 2001-12-29 2004-05-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리장치의 입력버퍼회로
US6812743B2 (en) 2002-09-12 2004-11-02 Hynix Semiconductor Inc. Input buffer of differential amplification type in semiconductor device
JP2006066020A (ja) * 2004-08-30 2006-03-09 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US7184013B2 (en) 2000-07-03 2007-02-27 Nec Electronics Corporation Semiconductor circuit in which power consumption is reduced and semiconductor circuit system using the same
JP4514945B2 (ja) * 2000-12-22 2010-07-28 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置

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