JPH11149641A - 光記録方法および光記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】温度変化が生じた場合でも適切な光強度で記録
し、また処理速度を低下させることを防ぐ。 【解決手段】記録媒体に光を照射することによって情報
を記録する光記録方法において、照射する光強度を順次
変えながら、前記記録媒体に対してテスト記録を行な
い、前記テスト記録の結果から媒体への正常な記録が可
能な光強度の上限値、下限値のうち少なくとも一方を求
め、前記上限値あるいは前記下限値に関する情報を、前
記記録媒体あるいは記録装置の所定の箇所に保持し、次
のテスト記録を行なう際に、保持された前記上限値ある
いは前記下限値を基にした光強度でテスト記録を行な
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光記録方法および光
記録装置に関し、特に光ディスクのテスト記録方法およ
び光記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近、高密度、大容量、高いアクセス速
度、ならびに高い記録および再生速度を含めた種々の要
求を満足する光学的記録再生方法、それに使用される記
録装置、再生装置および記録媒体を開発しようとする努
力がなされ、光磁気記録方式や相変化記録方式等が開発
されてきている。

【０００３】広範囲な光学的記録再生方法の中で、光磁
気記録再生方式は、情報を記録した後、消去することが
でき、再び新たな情報を記録することが繰り返し何度も
可能であるという優れた特徴を有することから、最も実
用性に満ちた再生方式といえる。この光磁気記録再生方
法で使用される光磁気記録ディスク（媒体）は、記録を
残す層として１層又は多層からなる磁性膜を有する。磁
性膜は、記録密度が高く、また信号強度も高い垂直磁化
膜が開発され、使用されている。このような磁化膜は、
例えばアモルファスのＧｄＦｅやＧｄＣｏ、ＧｄＦｅＣ
ｏ、ＴｂＦｅ、ＴｂＣｏ、ＴｂＦｅＣｏなどからなる。
垂直磁化膜は、一般に同心円状または螺旋状のトラック
を有しており、このトラックの上に情報が記録される。

【０００４】マーク（情報）の記録においては、レーザ
の特徴である空間的および時間的に優れた凝集性が有効
に使用され、レーザ光の波長によって決定される回折限
界とほとんど同じ位に小さいスポットにビームが絞り込
まれる。絞り込まれた光はトラック表面に照射され、記
録膜を熱して記録膜に直径が１４μｍ以下のマークを形
成することにより情報が記録される。光学的記録におい
ては、理論的に約１０ ⁸ マーク／ｃｍ² までの記録密度
を達成することができる。何故ならば、レーザービーム
はその波長とほとんど同じ位に小さい直径を有するスポ
ットにまで凝集することができるからである。

【０００５】光磁気記録においては、レーザービームを
垂直磁化膜の上に絞り込み、それを加熱する。その間、
初期化された向きとは反対の向きの記録磁界Ｈｂを加熱
された部分に外部から印加する。そうすると局部的に加
熱された部分の保磁力Ｈｃは減少し、記録磁界Ｈｂより
小さくなる。その結果、その部分の磁化は、記録磁界Ｈ
ｂの向きに並ぶ。こうして逆に磁化されたマークが形成
される。

【０００６】光は、通常光路に垂直な平面上で全ての方
向に発散している電磁場ベクトルを有する電磁波であ
る。光が直線偏光に変換され、そして垂直磁化膜に照射
されたとき、光はその表面で反射されるかまたは垂直磁
化膜を透過する。このとき、偏光面は磁化の向きにした
がって回転する。この回転する現象は、磁気カー効果ま
たは磁気ファラデー効果と呼ばれる。例えば、もし反射
光の偏光面が初期化方向の磁化に対してθＫ度回転する
とすると、記録方向の磁化に対しては−θＫ度回転す
る。したがって、光アナライザー（偏光子）の軸をθＫ
度傾けた面に垂直にセットしておくと、初期化方向に磁
化されたマークから反射された光はアナライザーを透過
することができない。それに対して記録方向に磁化され
たマークから反射された光は、（ｓｉｎ２θＫ）² を乗
じた分が光アナライザーを透過し、ディテクター（光電
変換手段）に捕捉される。その結果、記録方向に磁化さ
れたマークは初期化方向に磁化されたマークよりも明る
く見え、ディテクターにおいて、強い電気信号を発生さ
せる。したがって、このディテクターからの電気信号
は、記録された情報にしたがって変調されるので、情報
が再生されるのである。

【０００７】さらに、光磁気記録方法の別の記録方法と
して、光変調オーバーライト方式（ダイレクトオーバー
ライト方式）が特許出願された（特開昭６２−１７５９
４８号＝ＤＥ３，６１９，６１８Ａ１＝ＵＳＰ５，２３
９，５２４）。この記録方式では、基本的に垂直磁化可
能な磁性薄膜からなるメモリー層（以下、Ｍ層という）
と垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録層（以下、Ｗ層
という）とを含み、両層は交換結合しており、かつ、室
温でＭ層の磁化の向きは変えずにＷ層の磁化のみを所定
の向きに向けておくことができるオーバーライト可能な
多層光磁気記録媒体を使用する。その上で、２値化情報
にしたがいパルス変調されたレーザービーム（高レベル
ＰHと低レベルＰL）で記録する方式である。

【０００８】一方、相変化記録方式に用いられる記録媒
体は、結晶と非結晶の相を可逆的に繰り返すことが可能
な、例えばＧｅＳｂＴｅ系の媒体が使用される。この媒
体は結晶状態で消去状態を表し、非結晶状態で記録を表
す。再生は、光ビームを照射し、結晶状態と非結晶状態
の反射率の違いを用いて強弱の電気信号に変換する。こ
の媒体も、高レベルと低レベルの２値に変調されたレー
ザービームでオーバーライトが可能である。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
に実際に記録を行う場合には、マーク形状を最適化する
ために、そのディスクの記録温度や感度、環境温度に応
じて光強度（レーザーパワー）の微調整が必要となる。
最適から著しくずれた記録パワーで記録した場合には、
形成されたマークの形状あるいは大きさが記録すべきマ
ークの形状あるいは大きさと異なり、これを再生しても
その再生信号が記録した情報に対応しない場合、エラー
となり情報の読み出しが不可能となる。

【００１０】最適な光強度はディスクの面毎に異なるの
みでなく、ディスク上の半径位置、ディスクの温度、レ
ーザーを出力する記録再生装置の温度などの要因によっ
て変化する。現在、市販されている光ディスク記録装置
には、情報を記録する前に、テスト記録を行って感度調
整を行っているものもある。テスト記録を行うには、ド
ライブ装置に光ディスクを装着した直後や、使用中にド
ライブ装置の温度が変化した時等、ディスクの内、外
周、あるいは内、中、外周でパワーを変えて消去、記
録、再生を繰り返し行い、最適な記録パワーを探し出
す。また、情報の記録に使用可能な全領域に対して最適
な記録パワーを求めるためには、最内周領域と最外周と
でテスト記録によって最適パワーを求め、２つの記録パ
ワーから演算によってテスト記録を行わない中間の領域
の最適パワーを求める方法もある。

【００１１】装置を立ち上げた後、光ディスクの挿入あ
るいは交換直後と継続使用中では記録媒体の温度が変化
するため、これに伴いレーザービームの最適な光強度が
変化する。そのため、記録が的確に行えなくなる。これ
に対応するためには環境温度などが変化した場合に頻繁
にテスト記録を行い記録パワーの設定を更新していく必
要がある。しかしながら、使用中に頻繁にテスト記録を
行うと実質的な処理速度が低下するという問題があっ
た。

【００１２】さらに、前述した、少なくとも記録する光
強度を高レベルと低レベルの２値以上に変調することに
よってオーバーライト可能な光記録媒体に情報を記録す
るオーバーライト記録の場合には、高レベルと低レベル
の少なくとも２値の記録パワーを独立に設定することに
なる。したがって、最適な記録パワーを求めるためのテ
スト記録にさらに時間がかかることになる。その結果、
オーバーライト記録の高転送レートという利点を十分に
活用できないという問題点がある。

【００１３】本発明は、温度変化が生じた場合でも適切
な光強度で記録することができ、また処理速度を低下さ
せることを防ぐことができる光記録方法および光記録装
置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明の光記録方法は、
記録媒体に光を照射することによって情報を記録する光
記録方法において、照射する光強度を順次変えながら、
前記記録媒体に対してテスト記録を行ない、前記テスト
記録の結果から媒体への正常な記録が可能な光強度の上
限値、下限値のうち少なくとも一方を求め、前記上限値
あるいは前記下限値に関する情報を、前記記録媒体ある
いは記録装置の所定の箇所に保持し、次のテスト記録を
行なう際に、保持された前記上限値あるいは前記下限値
を基にした光強度でテスト記録を行なうことを特徴とす
る。

【００１５】また、前記上限値あるいは前記下限値を基
にして、テスト記録を行なう光強度の範囲を決定するこ
ととしてもよい。また、前記次のテスト記録は、前記テ
スト記録から所定時間経過後に行なうこととしてもよ
い。また、前記次のテスト記録は、前記記録媒体あるい
は記録装置に温度変化が検出された場合に行なうことと
してもよい。

【００１６】また、前記記録媒体は、ディスク形状の記
録媒体であり、記録装置の電源投入後あるいは前記記録
媒体のローディング後の初回のテスト記録時には、前記
記録媒体の複数の半径方向位置の領域においてテスト記
録を行い、次のテスト記録の際には、前記記録媒体の１
箇所の半径方向位置においてテスト記録を行い、その１
箇所のテスト記録から光強度を基にして前記記録媒体の
全領域の光強度を求めることとしてもよい。

【００１７】また、記録媒体は、ディスク形状の記録媒
体であり、前記記録媒体が別の記録媒体に交換された場
合の初回のテスト記録時に、保持された光強度の前記上
限値あるいは前記下限値を基にして光強度を変えなが
ら、前記記録媒体の複数の半径方向位置の領域において
テスト記録を行うこととしてもよい。

【００１８】また、光強度を少なくとも２値以上に変調
する光変調記録方式を用いて、前記記録媒体に情報を記
録することとしてもよい。また、前記記録媒体は、ダイ
レクトオーバーライト可能な記録媒体であることとして
もよい。また、本発明の光記録装置は、記録媒体を回転
させる回転手段と、前記記録媒体に対してレーザ光を照
射する照射手段と、前記記録媒体に記録すべき情報に前
記レーザ光の強度を制御し、前記記録媒体に対して記録
を行なう記録手段と、前記記録媒体に記録された情報を
再生する再生手段と、前記記録手段によって行なわれる
複数回のテスト記録ごとに前記再生手段によって得られ
る情報を基にして、前記記録媒体への正常な記録が可能
な前記レーザ光の強度の上限値、下限値のうち少なくと
も一方を決定する第１の決定手段と、前記上限値あるい
は前記下限値に基づいて、情報を記録する際のレーザ光
の強度を決定する第２の決定手段とを備えたことを特徴
とする。

【００１９】また、前記上限値と前記下限値に関する情
報を記憶する記憶手段を有し、前記記録手段は、次のテ
スト記録を行なう際に、前記記憶手段に記憶された情報
を基にしたレーザ光強度でテスト記録を行なう構成とし
てもよい。また、タイマを有し、前記記録手段は、前記
タイマから所定時間経過を示す信号が出力された場合に
テスト記録を行なう構成としてもよい。

【００２０】また、前記光記録装置内あるいは前記記録
媒体の温度を検出する温度検出手段を有し、前記記録手
段は、前記温度検出手段によって所定値以上の温度変化
が検出された場合にテスト記録を行なう構成としてもよ
い。

【００２１】

【発明の実施の形態】図１は本発明の実施例に用いる光
記録装置の構成図である。同図において、光記録装置１
ａは、光ディスク２を回転させる駆動モータ３と、集光
されたレーザービーム４をディスク面上に照射し情報の
記録、再生、消去を行う光ヘッド５を備えている。光ヘ
ッド５は図示を省略した粗動モータによってディスク半
径方向に移動可能であり、情報の記録、再生、消去を行
なう半径方向の位置を変えることができる。

【００２２】変調回路６は、光ディスク２にテスト記録
を行うときのレーザービーム４の光強度をテストパター
ンに応じて変調させる。メモリ７は、テスト記録時に記
録する複数のテストパターンデータを記憶している。温
度センサ８は、光記録装置１ａ内または光ディスク２の
温度を検出し、検出結果を制御回路１０に出力する。再
生回路９は、光ヘッド５からの再生信号をデータとして
復元し、制御回路１０へ送る。テスト記録時に光ディス
ク２に記録されるテストパターンは、再生回路９によっ
て再生される。

【００２３】制御回路１０は、この再生回路９によって
得られた再生情報に基づいてそれぞれのテスト記録領域
に応じた記録条件を求める。また、制御回路１０は、温
度センサ８からの信号を入力し、温度に所定値以上の変
化があった場合は、メモリ７からテストパターンデータ
を読み出し、変調回路６にそのテストパターンデータを
送ることにより、テスト記録動作を開始させる。演算回
路１１は、この制御回路１０によって求められた記録条
件をもとに情報を記録する際の全記録領域における最適
な光強度を算出する。

【００２４】図８は、本実施例で用いる光記録装置の別
の構成例を示す図である。図８の光記録装置１ｂは、図
１の装置１ａの温度センサ８の代わりに、タイマ１２を
用いている。タイマ１２は、所定時間経過ごとに制御回
路１０に信号を出力する。制御回路１０ｂは、タイマ１
２からの所定時間経過を示す信号を受けると、メモリ７
からテストパターンデータを読み出し、変調回路６にそ
のテストパターンデータを送ることにより、テスト記録
動作を開始させる。その他の動作は、図１の光記録装置
１ａと同様である。

【００２５】本実施例では、光を照射することによって
情報を記録する記録媒体の中でも光強度を多値に変調す
る記録方法を用いるダイレクトオーバーライト可能な光
磁気記録媒体を例として説明を行う。ダイレクトオーバ
ーライトでは低パワーと高パワーのレーザービームを照
射する。低パワーのレーザービームの照射によって古い
情報を消去し同時に新たに記録すべき情報に応じて変調
された高パワーのレーザービームの照射によって新しい
情報を記録する。特に、低パワーは十分でない（低すぎ
る）場合には古い情報が消去されず、新しい情報が正し
く記録されないという事態が発生する。テスト記録とは
記録するための最適なパワーあるいは許容される記録パ
ワーを求める工程であるため、正しいパワーが得られな
い場合には信頼性を著しく低下させる原因となる。

【００２６】図２は、ダイレクトオーバーライト可能な
光磁気媒体の断面図である。図２に示すダイレクトオー
バーライト可能な光磁気媒体２０、透明な基板２１上に
順次積層された誘電体層２２、メモリー層２３、中間層
２４、記録層２５、スイッチ層２６、初期化層２７およ
び保護膜２８を備えている。基板２１としては、ディス
ク状のトラッキング用溝付きガラス基板が用いられる。
誘電体層２２と保護膜２８はＳｉＮ、メモリ層２３はＴ
ｂＦｅＣｏ、中間層２４はＧｄＦｅＣｏ、記録層２５は
ＴｂＤｙＦｅＣｏ、スイッチ層２６はＴｂＦｅＣｏ、初
期化層２７はＴｂＣｏによってそれぞれ所定の膜厚に形
成されている。メモリ層２３はＴＭ（Transition Meta
l：遷移金属）リッチ組成、記録層２５は室温とキュー
リー温度の間に補償温度をもつＲＥ（Rare earth：希土
類）リッチ組成である。

【００２７】光ディスク２としては、上記の光磁気媒体
２０に限らず図３に示すダイレクトオーバーライト可能
な相変化媒体３０を用いてもよい。この相変化媒体３０
は、基板２１上に順次積層された誘電体層２２、記録層
２５および保護層２８を備えている。記録層２５は、例
えばＧｅＳｂＴｅによって形成される。本実施例で用い
られる光ディスク２は、ゾーンと呼ばれる概ね同心円状
の複数の領域に区分けされており、ゾーンによって記録
周波数が異なる。外側のゾーンほど記録周波数が高い。
これらのゾーン毎にテスト記録を行い、情報を記録する
際の最適な光強度が決定される。そのため、光ディスク
２の記録可能な領域には、記録条件を決定するために図
４に示すように３つのテスト記録領域Ｔ1 ，Ｔ2，Ｔ3
が設けられている。テスト記録領域Ｔ1 とＴ3 は記録可
能領域の半径方向外周側と内周側にそれぞれ位置するよ
うに設けられ、残りのテスト記録領域Ｔ2は記録可能領
域の径方向中央に設けられている。

【００２８】最適な記録パワーは、外周ほど大きくな
る。テスト記録においては、演算回路１１によって、図
９に示すような各ゾーン毎の最適記録パワーのテーブル
が作成される。図５はダイレクトオーバーライトでの記
録パワーの変調および再生パワーを示す図で、縦軸はレ
ーザービームの強度、横軸は発光時間である。

【００２９】同図において、ＰL はテスト記録時の低レ
ベル（消去パワー）、ＰH は高レベル（記録パワー）、
Ｐr は再生時のビーム強度（再生パワー）である。本実
施例では、以下のような手順で記録パワーを求める。 （１）初回のテスト記録 光ディスク２を光記録装置１ａあるいは１ｂに装着し、
スピンドルモータ３によって光ディスク２を回転させ
る。そして、光ヘッド５を半径方向に移動させることに
よって光ビーム４の照射位置をテスト記録領域へと移動
させる。制御回路１０は、メモリ７からテストパターン
のデータを読み出し（図１０ステップ１０１）、そのテ
ストパターンを変調回路６に送るとともにテスト記録の
パワーを設定する（図１０ステップ１０２）。３つのテ
スト記録領域Ｔ1 ，Ｔ2 ，Ｔ3 でレーザパワーを変えな
がらレーザービーム４を照射してテストパターンを複数
回記録する制御を行ない、光ヘッド５を各テスト領域に
移動させて、記録したテストパターンを再生する（図１
０ステップ１０３）。再生信号は、再生回路９を介し
て、制御回路１０へ送られ、各々のテスト記録領域での
記録パワーの許容範囲（上限値、下限値）が求められる
（図１０ステップ１０４）。以上のようにして、ディス
ク挿入直後のテスト記録を行なう。

【００３０】上記のようなテスト記録する際の、初めの
記録パワー（Ｐt0）は次の３つの方法のいずれかを用い
る。第１の方法では、記録装置内のたとえばメモリ７に
予めテスト記録時のパワー（Ｐt0）の値を記憶させてお
き、それを読み出し、その値を基にテストパターンを記
録する。第２の方法では、記録装置内のたとえばメモリ
７に、ディスクに通常の書き込みをする際の記録パワー
を記憶させておき、それを読み出し、その値を基にテス
ト記録するときのパワーを決定しテストパターンを記録
する。第３の方法では、光ディスク２に予め記録パワー
に関する情報を書き込んでおき、その情報を読み出し、
その情報による記録パワーを基にテスト記録時のパワー
を決定しテストパターンを記録する。

【００３１】本実施例では、ＰHとＰLの比を各領域で一
定に保つようにしてテスト記録を行う。すなわち、ＰH
を順次変えていく場合、ＰLもＰH／ＰLが所定の値にな
るような値に変化させる。テスト記録領域での記録パワ
ーの上限値、下限値は以下のように求める。パワーＰt0
でのテスト記録終了後あるいはテスト記録と同時に、前
述のようにテストパターンが再生され、制御回路１０に
よって再生信号からエラーバイト数が求められる。すな
わち、テストパターンと再生されたデータとが比較さ
れ、正常に再生できなかったバイト数が求められる。

【００３２】次にＰt0から順次記録パワーを上げなが
ら、あるいは下げながらテスト記録を繰り返すことによ
り、各記録パワーとその記録パワーでのエラーバイト数
との関係が得られる。図５に示すパワー変調方式を用い
て記録した場合のＰHを、Ｐt0から順次パワーを上げな
がらテスト記録を行った場合のパワーとエラーバイト数
の関係を図示すると図１１のようになる。初回のテスト
記録は媒体毎の最適な記録パワーの差や媒体および記録
装置内の温度によっても最適な記録パワーが異なるた
め、２回目以降と比べて広範囲にパワーを変えながらテ
スト記録することが必要である。

【００３３】図１１によれば、例えばこの再生系の許容
エラーバイト数が２０であったとすると、記録パワーの
上限値ＰmaxはＰt18、下限値ＰminはＰt5となる。ユー
ザーが情報を記録する際の記録パワーはＰmaxからＰmin
の範囲内から選択され（ＰmaxとＰminの中間値を選択す
るのが好ましい）、全領域の記録パワーは内周領域Ｔ
3、中周領域Ｔ2、外周領域Ｔ3でのテスト記録の結果か
ら、演算によって決定される。さらに、内周領域Ｔ3、
中周領域Ｔ2、外周領域Ｔ3での記録パワーの上限値と下
限値は光ディスク２の所定の領域、あるいは記録装置内
に設けた記憶装置（たとえばメモリ７）に記憶される。

【００３４】（２）２回目以降のテスト記録 初回のテスト記録を終えた後、テスト記録で求められた
記録パワーにて、記録装置は記録動作、あるいは再生動
作を行なう（図１０ステップ１０５）。光記録装置１ａ
あるいは１ｂを立ち上げた後、時間経過とともに装置お
よびその中に装着されている光ディスク２の温度は上昇
する。周囲温度の変化によっては、光ディスク２の温度
が下降することもあり得る。これに伴い最適な記録パワ
ーは変化する。この温度変化は、温度センサ８を用いる
ことによって検出可能である。すなわち、制御回路１０
は、テスト記録を行なったときに温度センサ８から出力
される温度情報を入力して記憶し、その後、温度センサ
８からの温度情報を監視し続ける。前回のテスト記録時
から温度が所定値以上変化した場合は、再びテスト記録
を行なう制御をする。また、図８に示す記録装置１ｂの
場合は、タイマ１２から所定時間経過を示す信号が出力
されたときに、再びテスト記録を行なう。すなわち、記
録装置に取り付けられた温度センサによって所定値以上
の温度変化が検出された場合、あるいは前回のテスト記
録から所定時間が経過した場合に再度テスト記録を行う
（図１０ステップ１０６）。２回目以降のテスト記録は
前回かのテスト記録時から温度変化によるパワーのズレ
が予想されるがディスクを交換していないため、初回の
テスト記録時のように広範囲でパワーを変える必要はな
い。すなわち前回の上限値と下限値とを含む初回より狭
い範囲内でテスト記録するのみで十分である。そこで、
制御回路１０は、前回のテスト記録時に記憶しておいた
各テスト記録領域での記録パワーの上限値、下限値を読
み出す（図１０ステップ１０７）。そして、その上限
値、下限値をもとにして、今回のテスト記録時において
記録パワーを変える範囲を設定する（図１０ステップ１
０８）。温度が上昇した場合は、最適記録パワーは下が
ることが予想されるので、記録パワーを変える範囲を下
限値側は、前回の下限値よりもやや低い値を含めるよう
にするのが好ましい。この場合、上限値側は、前回の上
限値と同じかやや低い値で行なえばよいであろう。温度
が下降した場合は、その逆である。そして、記録パワー
を変える範囲が決定したら、初回と同様にテスト記録を
行い（図１０ステップ１０９）、記録パワーの上限値、
下限値を決定する（図１０ステップ１１０）。ユーザが
情報を記録する際の記録パワーは、求められた上限値と
下限値の中間の値に設定すればよい。また、求められた
上限値と下限値はメモリ７に記憶しておき、次のテスト
記録時に読み出す。

【００３５】説明では便宜的に図５に示す変調方法につ
いて述べてきたが、高パワーをさらに多値化した変調方
法（図６参照）や高パワーの発光の前あるいは後に熱遮
断を付加した変調方法（図７参照）および高パワーでの
発光をパルス状とした変調方法でも同様な効果が得られ
ることは言うまでもない。次に、上記手順に基づく実施
例について説明する。

【００３６】（１）初回のテスト記録 まず、透明基板にダイレクトオーバーライト可能な光記
録媒体が成膜された光ディスクを準備した。記録装置の
電源を入れ前記光ディスクを記録装置に挿入した。記録
装置にはテスト記録時の光強度に関する情報が保持され
ており、この光強度を読み出して光強度を順次変えなが
らテスト記録を行う。各領域毎の記録装置から読み出さ
れたテスト記録のＰHを図１３に示した。この実施例に
場合、テスト記録でＰHを変化させる範囲を示すデータ
が記録装置内のメモリ７に記憶されている。挿入直後こ
れら内周、中周、外周の３つの領域のそれぞれにランダ
ムパターンからなるテストパターンを図５に示すように
変調し、各領域毎にＰHとＰLとの比を一定に保ちながら
テスト記録を行った。テスト記録では記録パワーを変え
て記録する度に再生信号からエラーバイト数を求めた。
内周でのテスト記録の結果、内周でのＰH（ｍＷ）とエ
ラーバイト数との関係を図１２に示した。許容できるエ
ラーバイト数を２０とするとＰHの上限値は９．８ｍ
Ｗ、下限値は８．７ｍＷであった。この値より内周のテ
スト記録の上限値を９．９ｍＷ、下限値を８．６ｍＷと
した。各々の領域のテスト記録の結果から次回のテスト
記録の上限値、下限値を決定し、これらの値を記録再生
装置の所定の箇所に保持した。また、データ領域に情報
を記録する際の光強度はテスト記録の結果をもとに設定
された。 （２）２回目のテスト記録 光ディスクを挿入して約１０分後に再びテスト記録を行
った。テスト記録の光強度は前回のテスト記録の上限
値、下限値を読み出すことによって決定された。内周で
は８．６ｍＷから９．８ｍＷの範囲でテスト記録を行っ
た。テスト記録でのエラーバイト数は図１２に▽で示し
た。上限値は９．７ｍＷ、下限値は８．６５ｍＷであっ
た。初回のテスト記録の上限値、下限値から設定したテ
スト記録範囲上限値、下限値および適正な光強度範囲が
求められた。データ部に新しい情報を記録し、この再生
信号を観察したところ、新しい情報の信号のみが見ら
れ、情報の消去と記録が正しく行われたことが確認され
た。

【００３７】すなわち、２回目のテスト記録では、初回
のテスト記録時の光強度範囲（図１３に示す）より狭い
範囲でのテスト記録で、適正な記録パワーが求められた
わけである。 （３）３回目以降 一旦、ディスクを記録装置に挿入すると記録、再生、消
去等の適正な光強度はおもに温度変化によって引き起こ
される。このため、初回の適正な光強度から大きく外れ
ることはない。このため、ディスク挿入直後に広い範囲
で光強度を変えながらテスト記録をし、光強度の上限、
下限を求めておくことによって次回のテスト記録では上
限値と下限値とを含む範囲でのテスト記録で十分、適正
なパワーが得られ、テスト記録にかかる時間も短縮され
る。３回目以降のテスト記録も前回のテスト記録の上限
値、下限値をもとにした光強度範囲で行うことで十分で
ある。

【００３８】また、このようなテスト記録は記録装置あ
るいはディスクの温度変化があった場合のみに行うもの
でもよい。初回のテスト記録の範囲はディスクにかかれ
た光強度に関する情報を読みだし、この強度をもとにテ
スト記録を行うものであってもよい。また、前記のテス
ト記録は複数のディスクを扱うディスクオートチェンジ
ャーやジュークボックスに適応することによってもテス
ト記録の時間短縮が期待できる。

【００３９】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、テスト記
録時の記録パワーの設定を効率的に行なうことができ、
テスト記録に要する時間を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施例に用いる光記録装置の構成
図。

【図２】 ダイレクトオーバーライト可能な光磁気媒体
の一例を示す断面図。

【図３】 ダイレクトオーバーライト可能な相変化媒体
の一例を示す断面図。

【図４】 光ディスクを記録面に対して垂直方向から見
た場合のテスト記録領域の配置を示す図。

【図５】 ダイレクトオーバーライトのパワー変調を示
す図。

【図６】 ダイレクトオーバーライトの他のパワー変調
を示す図。

【図７】 ダイレクトオーバーライトの他のパワー変調
を示す図。

【図８】 本発明の実施例に用いる他の光記録装置の構
成図。

【図９】 テスト記録によって求められる各ゾーンごと
の最適記録パワーをもとに作成されるテーブルを示す
図。

【図１０】 本発明の実施例の記録方法の手順を示す
図。

【図１１】 本発明の実施例におけるテスト記録での記
録パワーの上限値、下限値の求め方を示す図。

【図１２】 本発明の実施例における記録パワーと再生
した場合のエラーバイト数との関係を示す図。

【図１３】 本発明の実施例により求められた、各テス
ト記録領域における記録パワーの許容値を示す図。

【符号の説明】

１ａ、１ｂ；光記録装置、２；光ディスク、３；駆動モ
ータ、４；レーザビーム、５；光ヘッド、６；変調回
路、７；メモリ、８；温度センサ、９；再生回路、１
０；制御回路、１１；演算回路、１２；タイマ。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】記録媒体に光を照射することによって情報
   を記録する光記録方法において、 照射する光強度を順次変えながら、前記記録媒体に対し
   てテスト記録を行ない、 前記テスト記録の結果から媒体への正常な記録が可能な
   光強度の上限値、下限値のうち少なくとも一方を求め、 前記上限値あるいは前記下限値に関する情報を、前記記
   録媒体あるいは記録装置の所定の箇所に保持し、 次のテスト記録を行なう際に、保持された前記上限値あ
   るいは前記下限値を基にした光強度でテスト記録を行な
   うことを特徴とする光記録方法。
2. 【請求項２】請求項１に記載の光記録方法であって、 前記上限値あるいは前記下限値を基にして、テスト記録
   を行なう光強度の範囲を決定することを特徴とする光記
   録方法。
3. 【請求項３】請求項１に記載の光記録方法であって、 前記次のテスト記録は、前記テスト記録から所定時間経
   過後に行なうことを特徴とする光記録方法。
4. 【請求項４】請求項１に記載の光記録方法であって、 前記次のテスト記録は、前記記録媒体あるいは記録装置
   に温度変化が検出された場合に行なうことを特徴とする
   光記録方法。
5. 【請求項５】請求項１に記載の光記録方法であって、 前記記録媒体は、ディスク形状の記録媒体であり、 記録装置の電源投入後あるいは前記記録媒体のローディ
   ング後の初回のテスト記録時には、前記記録媒体の複数
   の半径方向位置の領域においてテスト記録を行い、 次のテスト記録の際には、前記記録媒体の１箇所の半径
   方向位置においてテスト記録を行い、その１箇所のテス
   ト記録から光強度を基にして前記記録媒体の全領域の光
   強度を求めることを特徴とする光記録方法。
6. 【請求項６】請求項１に記載の光記録方法であって、 記録媒体は、ディスク形状の記録媒体であり、 前記記録媒体が別の記録媒体に交換された場合の初回の
   テスト記録時に、保持された光強度の前記上限値あるい
   は前記下限値を基にして光強度を変えながら、前記記録
   媒体の複数の半径方向位置の領域においてテスト記録を
   行うことを特徴とする光記録方法。
7. 【請求項７】請求項１に記載の光記録方法であって、 光強度を少なくとも２値以上に変調する光変調記録方式
   を用いて、前記記録媒体に情報を記録することを特徴と
   する光記録方法。
8. 【請求項８】請求項１に記載の光記録方法であって、 前記記録媒体は、ダイレクトオーバーライト可能な記録
   媒体であることを特徴とする光記録方法。
9. 【請求項９】記録媒体を回転させる回転手段と、 前記記録媒体に対してレーザ光を照射する照射手段と、 前記記録媒体に記録すべき情報に前記レーザ光の強度を
   制御し、前記記録媒体に対して記録を行なう記録手段
   と、 前記記録媒体に記録された情報を再生する再生手段と、 前記記録手段によって行なわれる複数回のテスト記録ご
   とに前記再生手段によって得られる情報を基にして、前
   記記録媒体への正常な記録が可能な前記レーザ光の強度
   の上限値、下限値のうち少なくとも一方を決定する第１
   の決定手段と、 前記上限値あるいは前記下限値に基づいて、情報を記録
   する際のレーザ光の強度を決定する第２の決定手段とを
   備えたことを特徴とする光記録装置。
10. 【請求項１０】請求項９に記載の光記録装置であって、 前記上限値と前記下限値に関する情報を記憶する記憶手
    段を有し、 前記記録手段は、次のテスト記録を行なう際に、前記記
    憶手段に記憶された情報を基にしたレーザ光強度でテス
    ト記録を行なうことを特徴とする光記録装置。
11. 【請求項１１】請求項９に記載の光記録装置であって、 タイマを有し、前記記録手段は、前記タイマから所定時
    間経過を示す信号が出力された場合にテスト記録を行な
    うことを特徴とする光記録装置。
12. 【請求項１２】請求項９に記載の光記録装置であって、 前記光記録装置内あるいは前記記録媒体の温度を検出す
    る温度検出手段を有し、 前記記録手段は、前記温度検出手段によって所定値以上
    の温度変化が検出された場合にテスト記録を行なうこと
    を特徴とする光記録装置。