JPH04258831A - 光磁気ディスクの再生方法 - Google Patents

光磁気ディスクの再生方法

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JPH04258831A
JPH04258831A JP3040987A JP4098791A JPH04258831A JP H04258831 A JPH04258831 A JP H04258831A JP 3040987 A JP3040987 A JP 3040987A JP 4098791 A JP4098791 A JP 4098791A JP H04258831 A JPH04258831 A JP H04258831A
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俊樹 宇田川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、特に高密度に情報の
記録再生ができる光磁気ディスクの再生方法に関する。
【0002】
【従来の技術】情報信号の書き替えが可能な光磁気ディ
スクは、光磁気記録膜を有し、この膜にレーザビームを
照射して加熱することにより、その部分の磁化の方向(
記録ピット)を、記録情報に応じた外部磁界に応じたも
のとして、情報記録を行う。そして、再生は、レーザビ
ームを記録ピットのトラックに照射し、その反射光の偏
光面が磁化の方向によって回転すると言うカー効果を利
用して行う。光磁気ディスクが光磁気膜のほかに反射膜
を有する2層以上の構成の場合には、ファラデー効果も
利用される。
【0003】ところで、光磁気ディスクへの情報の線記
録密度は、再生信号のC/Nによって決められている。 従来の一般的な光磁気記録再生においては、図5に示す
ように、光磁気ディスク上のレーザビームによる光照射
領域であるビームスポット1の領域の全てを再生信号検
出領域としている。このため、再生可能な線記録密度は
、レーザビームスポット径により定まる。
【0004】例えば、図5Aに示すように、レーザビー
ムスポット1の径dが記録ピット2のピッチτよりも小
さければ、スポット1内に2個の記録ピットが入ること
はなく、再生出力波形は図5Bに示すようになり、再生
信号は読取り可能である。ところが、図5Cに示すよう
に、高密度で記録ピットが形成されており、レーザビー
ムスポット1の径dが記録ピット2のピッチτよりも大
きくなると、スポット1内に2個の記録ピットが同時に
入り込み、再生出力波形は図5Dに示すように一定とな
り、その2個の記録ピットを分離して再生することがで
きず、再生不能となる。
【0005】スポット径dはレーザ光の波長λと、対物
レンズの開口数NAに依存している。そこで、従来は、
波長λの短いレーザ光を使用し、あるいは対物レンズの
開口数NAを大きくすることによりレーザビームのスポ
ット径dを小さくして、高記録密度化を図る工夫がなさ
れている。しかし、これらは、レーザ光源の問題や光学
系上の問題で限界があり、より高記録密度化するときの
障害となっている。
【0006】また、同様に、トラック密度は、主として
隣接トラックからのクトストークによって制限されてい
るが、このクロストークの量も従来の場合には、レーザ
ビームスポット径dに依存し、やはり高密度記録化への
障害となっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本願の出願人は、レー
ザビームスポット径を変更しなくても、読取り可能な線
記録密度及びトラック密度を高くできるようにした光磁
気ディスク及びその再生方法を先に提案している。
【0008】その1つの方式は、図6Aに示すように、
記録層3と、中間層4と、再生層5が積層された多層膜
を有する光磁気ディスクを用いる。各層は、そのキュリ
ー温度が、例えば記録層3は300℃のもの、中間層4
は120℃のもの、再生層5は400℃以上のもの、で
それぞれ構成されている。
【0009】この光磁気ディスクの場合、再生前の室温
の状態では、記録層3、中間層4、再生層5は、図6A
に示すように、静磁結合あるいは交換結合の状態で磁気
的に結合しており、記録層3の記録ピットは再生層5に
全て転写されている。図中矢印は、各層における磁化の
方向を示している。
【0010】そして、再生時には、光磁気ディスクには
、図6Bに示すように、レーザビーム6が照射されると
共に、所定の再生磁界Hreが与えられる。光磁気ディ
スクには、図6Cに示すように、このレーザビーム6の
照射により中間層4のキュリー点以上の温度になる領域
8が生じる。このとき、光磁気ディスクは高速で回転し
ているので、この高温領域8は、図6Cに示すように、
照射レーザビーム6の走査スポット7の位置よりも、光
磁気ディスクの移動速度(線速度)に応じた量だけ回転
方向にずれた領域になる。
【0011】この高温領域(マスク領域)8では、中間
層4の温度がキュリー点Tc以上であるので、図6Bに
示すように、この中間層4の磁性が失われ、この領域8
の部分における記録層3と再生層5の磁気的結合が消滅
し、再生層5の磁化は再生磁界Hreの方向となる。つ
まり、この高温領域8における再生層5の記録ピットは
消去される。そして、走査スポット7の領域のうち、こ
の高温領域8との重なり領域を除く領域9が実質上の再
生領域となる。すなわち、レーザビームの走査スポット
7は高温領域8により一部がマスクされ、マスクされな
い小さい領域が再生領域9となる。
【0012】こうして、レーザビームの走査スポット7
がマスク領域8によりマスクされない小さい再生領域9
からの反射光のカー回転角を検出することによりピット
の再生が行なわれるので、レーザ光スポット7のスポッ
ト径dを小さくしたことに等しくなり、線記録密度及び
トラック密度を上げることができる。
【0013】以上の再生方法を、以下、消去タイプの再
生方法と称する。
【0014】また、本願の出願人は、別の方式も提案し
ている。これは、特願平1−229395号に記載され
ている。
【0015】この方式の光磁気ディスクの光磁気膜は、
原理的には、記録層と再生層との積層膜からなる。この
場合、記録層と再生層とは静磁結合あるいは磁気的交換
結合している。そして、再生層のキュリー点は記録層よ
り低い。室温では、再生層には記録層の磁化が転写され
る。
【0016】この方式では、原理的には、再生前に初期
化磁界を光磁気ディスクにかけ、再生層の磁化の方向を
初期化磁界の方向に揃え、再生層の記録ピットを消去す
る。初期化磁界Hinの大きさは、再生層の磁化を反転
させる磁界Hcpより大きく(Hin>Hcp)、また
、記録層の磁化を反転させる磁界Hcrより十分小さく
(Hin<<Hcr)選定されている。
【0017】再生は、以上のようにして初期化した状態
で、光磁気ディスクにレーザビームを照射する。すると
、前述と同様にして光磁気ディスクの回転移動速度(線
速度)に応じて回転方向に走査スポット位置よりずれた
領域(図6の領域8に対応)のディスク温度が所定温度
Tsより高くなる。すると、再生層のその領域の保磁力
が小さくなるため、その所定温度Tsより高温の領域だ
けに記録層の記録ピットが転写されて記録ピットが再生
層に浮き出る。そして、その浮き出し領域のうちのレー
ザビームスポットとの重なり領域からの反射光の偏光面
のカー回転角を検出することにより再生を行う。
【0018】この方式の場合には、レーザビームの走査
スポットの領域のうち所定温度Tsより高温の浮き出し
領域以外の領域は、記録ピットが現れない領域いわばマ
スク領域である。そして、浮き出し領域とビームスポッ
トの領域との重なり部分が再生領域となり、この領域は
、スポット径より小さいので、前述の方式と同様に線記
録密度及びトラック密度を高くすることができる。
【0019】なお、実際上は、再生層の初期化状態を安
定に保持し、また、再生時には記録層から記録ピットの
転写を良好に行うため、図7に示すような4層の光磁気
膜がディスクに形成される。
【0020】すなわち、光磁気ディスクは、記録層11
、中間層12、再生補助層13、再生層14の4層の積
層膜を有する。各層のキュリー温度は、例えば、記録層
11は250℃、中間層12は250℃、再生補助層1
3は120℃、再生層14は300℃以上、にそれぞれ
選定されている。
【0021】記録層11は、初期化磁界、再生磁界、ま
た再生温度等に影響されずに記録ピットを保持している
層であって、室温、再生温度Tsにおいて十分な保磁力
がある。
【0022】中間層12の垂直異方性は再生補助層13
、記録層12に比べ小さい。このため、再生層14と、
記録層11との間に磁壁を作る際、磁壁が安定にこの中
間層12に存在する。そのため、再生層14、再生補助
層13は、安定に消去状態(初期化状態)を維持する。
【0023】再生補助層13は、室温での再生層14の
保磁力を大きくする働きをしており、このため、初期化
磁界によって揃えられた再生層14、再生保持層13の
磁化は磁壁が存在しても安定に存在する。また、再生補
助層13は、再生時には、再生温度Ts近辺で保磁力が
急激に小さくなり、このため、中間層12に閉じこめら
れていた磁壁が再生補助層13にまで拡がって最終的に
再生層14を反転させ、磁壁を消滅させる。この過程に
より、再生層14にピットが生じる。
【0024】再生層14は室温でも磁化反転磁界Hcp
が小さく、その磁化は容易に反転する。このため、再生
層14は、初期化磁界Hinにより、その全面の磁化が
同方向に揃う。揃った磁化は、再生補助層13に支えら
れて記録層11との間に磁壁がある場合でも安定な状態
が保たれる。そして、前記のように、再生時には、記録
層11との間の磁壁が消滅することにより、記録ピット
が生じる。
【0025】実際の再生に当たっては、再生に先立ち、
図8Aに示すように、初期化磁界Hinにより再生層1
4及び再生補助層13の初期化を行う。このとき、中間
層12に磁壁(図8において、横向きの矢印で示す)が
安定に存在し、再生層14、再生補助層13は、安定に
初期化状態を維持する。
【0026】次に、図8B,Cに示すように、レーザビ
ーム15を記録ピットのトラックに照射すると共に、再
生磁界Hreをかける。この再生磁界Hreとしては、
レーザ光照射による昇温後の再生温度Tsにおいて、再
生層14、再生補助層13を反転させ、中間層12の磁
壁を消滅させる磁界以上の磁界が必要である。また、再
生層14、再生補助層13が、その磁界方向を反転して
しまわない程度の大きさとされる。
【0027】レーザビーム15の照射による温度上昇に
より光磁気ディスクには前述と同様に、ビーム走査スポ
ット16に対し、ディスクの回転方向にずれた部分に再
生温度Ts以上の高温領域である浮き出し領域17が生
じる。すると、その浮き出し領域17における再生補助
層13の部分(図8Cで斜線を付して示す部分)の保磁
力が下がる。再生磁界Hreは、記録層11〜再生層1
4間の交換結合力より小さいので、その部分では中間層
12の磁壁がなくなり、記録層11の記録ピットが再生
層に転写され、ピットが再生層14に生じる。そして、
走査スポット16の領域のうち、この浮き出し領域17
との重なり領域18が実質上の再生領域となる。すなわ
ち、レーザビームの走査スポット16の領域のうち浮き
出し領域17との重なり領域18以外はマスクされ、こ
の重なり領域18が再生領域となる。
【0028】こうして、レーザビームの走査スポット1
6と浮き出し領域17とが重なる小さい再生領域18か
らの反射光のカー回転角を検出することによりピットの
再生が行なわれるので、レーザ光スポット16のスポッ
ト径dを小さくしたことに等しくなり、線記録密度及び
トラック密度を上げることができる。
【0029】以上の再生方法を、以下、浮き出しタイプ
の再生方法と称する。
【0030】以上のようにして、レーザビーム走査スポ
ットの径を小さくすることなく、線記録密度及びトラッ
ク密度を高密度化することが可能になる。ところが、前
記各再生方法における再生領域9及び18の大きさは、
外部再生磁界が一定で、レーザ光パワーが一定であって
も、光磁気ディスクの温度変化あるいは線速度変化に応
じて変化してしまう。
【0031】例えば、消去タイプの再生方法において、
光磁気ディスクの温度が高い場合には、温度分布状態は
、図9Bの曲線21で示すように温度の高い方にシフト
したようになり、このため、キュリー温度Tcを越える
高温マスク領域が図9Aに示す領域22のようになるの
で、実質的な再生領域9は小さくなる。
【0032】また、光磁気ディスクの温度が低い場合に
は、温度分布状態は、図9Bの曲線23で示すように温
度の低い方にシフトした状態になり、キュリー温度Tc
を越える高温マスク領域が図9Aの領域24のようにな
るので、実質的な再生領域9は大きくなる。
【0033】一方、浮き出しタイプの場合には、その原
理から明らかなように、光磁気ディスクの温度が高い場
合には、再生領域が大きくなり、光磁気ディスク温度が
低い場合には再生領域が小さくなる。
【0034】また、例えば、消去タイプの再生方法にお
いて、線速度が低い場合には、単位移動距離当たりの走
査スポット7の通過時間が長くなるために、図10Bの
曲線25で示すように、レーザビーム照射による温度分
布状態は、キュリー温度Tcを越える高温マスク領域が
図10Aの領域26で示すように広くなるので、実質的
な再生領域9は小さくなる。
【0035】また、線速度が高い場合には、単位移動距
離当たりの走査スポット7の通過時間が短くなるために
、図10Bの曲線27で示すように、レーザビーム照射
による温度分布状態は、キュリー温度Tcを越える高温
マスク領域が図10Aの領域28で示すように狭くなる
ので、実質的な再生領域9は大きくなる。
【0036】一方、浮き出しタイプの場合には、その原
理から明らかなように、光磁気ディスクの線速度が低い
場合には、再生領域が大きくなり、光磁気ディスクの線
速度が高い場合には再生領域が小さくなる。
【0037】以上のことから、周囲の環境温度の変化な
どにより光磁気ディスクの温度が変化したり、再生位置
により光磁気ディスクの線速度が異なると、再生時の実
質的な再生領域9又は18の大きさが異なることになり
、C/Nの良い安定な再生をすることができない。
【0038】また、光磁気ディスクの線記録密度が異な
る場合には、最適な再生領域の大きさは、その線記録密
度に応じて変化させた方がC/Nの良好な再生を行うた
めに有益である。
【0039】すなわち、消去タイプ又は浮き出しタイプ
の再生方法において、線記録密度が低い場合には、記録
ピットのピッチ間隔が長く、このためC/Nの良い再生
を行うには再生領域9又は18は大きいほうが良い。一
方、線記録密度が高い場合には、記録ピット間隔が短く
なり、このためC/Nの良い再生を行うには再生領域9
又は18は狭いほうが良い。したがって、光磁気ディス
クに一定の線記録密度で情報が記録されていても、光磁
気ディスクの種類によって、線記録密度が異なる場合に
は、その線記録密度に応じて再生領域9及び18の大き
さを最適な値にコントロールすることが有益である。
【0040】この発明は、この点にかんがみ、光磁気デ
ィスクに温度変化があったり、光磁気ディスクの種類に
よって線記録密度や線速度が異なったり、また、光磁気
ディスク上の再生位置に応じた線速度変化があっても、
上記の実質的な再生領域の大きさを一定に保ち、安定な
情報読み出しができるようにすると共に、前記再生領域
の大きさを光磁気ディスクの記録密度に応じた最適のも
のとすることができるようにした再生方法を提供するこ
とを目的とする。
【0041】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明においては、消去タイプの再生方法の光
磁気ディスクからの再生を行う方法においては、前記光
磁気ディスクに基準情報を記録しておき、再生に先立ち
、前記光磁気ディスクから前記基準情報を読み出し、そ
の再生信号のレベルを検出し、その検出レベルに基づい
て再生時の前記磁気的結合消滅領域の大きさを制御する
【0042】また、浮き出しタイプの再生方法の光磁気
ディスクからの再生を行う方法においては、前記光磁気
ディスクに基準情報を記録しておき、再生に先立ち、前
記光磁気ディスクから前記基準情報を読み出し、その再
生信号のレベルを検出し、その検出レベルに基づいて再
生時の前記浮き出し領域の大きさを制御する。
【0043】
【作用】光磁気ディスクからの基準情報の再生信号は、
消去タイプ又は浮き出しタイプの再生方法における再生
領域の大きさに応じた信号レベルを有する。したがって
、この再生信号レベルに基づき、例えば再生信号レベル
が所定のものとなるようにして再生領域の大きさをコン
トロールすることにより、前記再生領域の大きさを、再
生に最適の一定にすることができる。これにより、安定
にC/Nの良い再生を行うことができる。
【0044】
【実施例】図1は、この発明による再生方法が適用され
た光磁気ディスクの再生装置の要部の一実施例を示すも
のである。
【0045】図1において、31は光磁気ディスクで、
前述した消去タイプあるいは浮き出しタイプの再生方法
が適用されるものである。この例の場合、光磁気ディス
ク31は、回転数一定(CAV)あるいは線速度一定(
CLV)の回転駆動が行われる。
【0046】消去タイプの再生方法が適用される光磁気
ディスクとしては、例えば記録層はTbFeCoで構成
され、キュリー温度が300℃、中間層はTbFeCo
Alで構成され、キュリー温度が120℃、再生層はG
bFeCoで構成され、キュリー温度が400℃以上の
ものが用いられるものが使用される。また、浮き出しタ
イプの再生方法が適用される光磁気ディスクとしては、
例えば記録層はTbFeCoで構成され、キュリー温度
が250℃、中間層はGbFeCo、キュリー温度が2
50℃、再生補助層はTbFeCoAlで構成され、キ
ュリー温度が120℃、再生層がGbFeCoで構成さ
れ、キュリー温度が300℃以上のものが用いられるも
のが使用される。
【0047】この場合、光磁気ディスク31の例えば最
内周の管理情報等を記録する部分の一部、あるいは最内
周又は最外周のデータ記録領域以外の部分には、例えば
一定の繰り返しパターンからなる基準情報が記録されて
いる。この基準情報としては、その光磁気ディスクの再
生に最適となる前記再生領域9又は18を設定するため
の情報パターンが用いられる。例えばその光磁気ディス
クにおいて、最高記録密度となる繰り返しのパターン例
えば「1111…」や「101010…」等を用いるこ
とができる。どのようなパターンを用いるかは、デジタ
ルデータの記録変調方式による。
【0048】図1において、32はレーザ光源で、この
レーザ光源32からのレーザビームが光磁気ディスク3
1の再生層に入射する。
【0049】そして、この例の場合、再生磁界Hreが
、磁界発生コイル51にドライバ52から駆動電流が供
給されることにより発生する。磁界発生コイル51は、
光磁気ディスク31のレーザビームを照射する面とは反
対側の面側において、レーザ光源32と対向する位置に
設けられる。ドライバ52には基準値発生回路53から
の基準値Mref が供給され、磁界発生コイル51か
ら発生する再生磁界Hreの大きさがこの基準値に応じ
た所定の一定値になるようにされている。
【0050】そして、前述した消去タイプ又は浮き出し
タイプの再生方法により、レーザビーム走査スポットの
うちの前記再生領域9又は18からの反射光が図示しな
い光学系を介して再生用フォトディテクタ33に入射し
て光電変換される。
【0051】このフォトディテクタ33の出力信号は、
ヘッドアンプ34を介して信号処理回路35に供給され
てRF信号が得られ、これがデータ再生系36に供給さ
れて復調される。
【0052】また、レーザ光源32のレーザ光の一部は
、レーザパワーモニタ用のフォトディテクタ41に入射
する。このフォトディテクタ41の光電変換出力は、オ
ートパワーコントロール回路42に供給される。オート
パワーコントロール回路42では、フォトディテクタ4
1の出力と、後述するラッチ付きゲート回路44からの
再生レーザパワー設定基準値REFとが比較され、その
比較誤差出力がレーザドライブ回路43に供給され、レ
ーザ光源32の出力パワーが制御される。すなわち、以
上の閉ループの制御により、レーザ光源32の出力パワ
ーが、再生レーザパワー設定基準値REFに応じた値に
なるように制御される。
【0053】この例の場合、再生レーザパワー設定基準
値REFは、後述するように、レーザ光源32の出力レ
ーザパワーが、基準情報の再生出力レベルが最適レベル
と一致する値になるような値に設定される。すなわち、
レーザ出力パワーが基準情報の再生出力レベルに応じて
制御されて、再生領域9又は18の大きさが所定のもの
となるように制御される。
【0054】前述したように、レーザビーム照射による
光磁気ディスク上の温度分布状態は、ディスク温度や線
速度に応じてシフトしてしまうが、レーザ出力パワーが
変化すれば、光磁気ディスク31の温度が一定でも、図
2に示すように、所定のしきい値温度Tθを越える領域
の大きさがS1、S2のように変化する。この領域は前
述したマスク領域8あるいは浮き出し領域17であるの
で、以上のようにレーザパワーをコントロールすること
により、光磁気ディスク31の温度や線速度、線密度が
変わっても、前記再生領域9及び18の大きさを所定の
ものとすることができるものである。
【0055】基準情報の再生出力レベルに応じた再生レ
ーザパワー設定基準値REFの設定は、以下に説明する
ように行われる。
【0056】すなわち、実際のデータ再生に先立ち、光
磁気ディスク31の前記基準情報の読み出しがなされる
。このときフォトディテクタ33から得られる基準情報
の再生信号は、ヘッドアンプ34、信号処理回路35を
介してRFレベル検出回路37に供給される。そして、
検出されたRFレベルがレベル比較回路38に供給され
て、最適レベル発生回路39からの最適RFレベルと比
較される。この比較回路38の比較誤差信号は、再生レ
ーザパワー設定基準値発生回路45に供給される。 再生レーザパワー設定基準値発生回路45は、再生レー
ザパワー設定基準値REFとして、比較誤差がゼロのと
きには予め定められた所定値を出力し、その他のときは
比較誤差の正負及びその絶対値に応じてその所定値を中
心として変化する値を出力する。
【0057】この再生レーザパワー設定基準値発生回路
45からの再生レーザパワー設定基準値REFは、ラッ
チ付きゲート回路44を介してオートパワーコントロー
ル回路42に供給される。ゲート回路44は、この再生
レーザパワー設定基準値REFの設定モードにおいては
、ゲート開の状態となっている。したがって、この再生
レーザパワー設定基準値REFの設定モードにおいては
、フォトディテクタ33からレーザ光源32に至る閉ル
ープが形成され、レーザ光源32の出力レーザパワーは
、基準情報の再生出力レベルが最適レベルと一致する値
になるように制御される。
【0058】この再生レーザパワー設定基準値REFの
設定モードが解除されると、その解除直前の時点でラッ
チ信号発生回路46からラッチ信号が発生し、このラッ
チ信号によりゲート回路44に、基準情報の再生出力レ
ベルが最適レベルとなる再生レーザパワー設定基準値R
EFがラッチされる。したがって、その後、行われる実
際のデータの再生時には、そのラッチされた再生レーザ
パワー設定基準値REFが用いられて、レーザ光源32
の出力パワーの制御がなされる。
【0059】再生レーザパワー設定基準値REFの設定
モードは、マニュアルでモード設定するようにしても良
いが、例えば再生開始時点に実際のデータ再生に先立ち
、必ず、この設定モードに自動的になるようにしても良
い。また、再生中、温度変化が生じると考えられるなど
、再生レーザパワー設定基準値REFの設定の変更が必
要と考えられる所定時間間隔毎、例えば10分毎に、一
時的に、この設定モードに自動的に移行させるようにし
ても良い。
【0060】以上の例では、レーザパワーをコントロー
ルして再生領域9及び18の大きさを最適な一定の大き
さにするようにしたが、外部磁界(再生磁界Hre)を
制御するようにしても、同様の効果が得られる。
【0061】すなわち、例えば消去タイプの再生方法を
考えた場合、前述の図6において、マスク領域8ができ
始める温度は、正確には中間層4のキュリー温度Tc2
ではなく、再生磁界Hreも関与し、再生層5の保磁力
をHc1、再生層5と記録層3との間の交換結合力をH
wとしたとき、 Hc1+Hw<Hre    ……(1)となる温度で
ある。再生層5と記録層3間の交換結合力Hwは、温度
が上がるにしたがい小さくなり、中間層4のキュリー温
度Tc2で零になる。
【0062】Hc1+Hwの温度特性を図示すると、図
3に示すようになる。この図でTc1は再生層5のキュ
リー温度であり、中間層4のキュリー温度Tc2以上の
温度では、再生層5が1層の場合の保磁力と同様になる
【0063】この光磁気ディスクの再生層5の磁化を一
方向に揃えるには、前記(1)式に示したように、Hc
1+Hwより大きい磁界をかければ良い。したがって、
同じ温度分布状態でも、図3で再生磁界HreとしてH
r0をかけた場合には、キュリー温度Tc2以上の範囲
がマスク領域8となるが、再生磁界Hreの大きさがH
r1の場合には、キュリー温度Tc2より低い温度Ta
までの範囲がマスク領域8となり、再生磁界Hreの大
きさに応じてマスク領域の大きさが変わり、この結果、
再生領域9の大きさが変わる。
【0064】したがって、光磁気ディスク31の温度に
応じて外部磁界例えば再生磁界Hreを変えるコントロ
ールをすることにより、常に再生領域を一定の大きさに
することができる。
【0065】浮き出しタイプの再生方法の場合にも、同
様にして再生磁界をコントロールすることにより、再生
領域18の大きさを一定にすることができる。
【0066】また、レーザパワーや外部磁界をそれぞれ
単独に制御しても良いが、レーザパワーと外部磁界を同
時に制御するようにすることもできる。
【0067】図4は、再生磁界とレーザ光源32の出力
レーザパワーとを基準情報の再生信号レベルに応じてコ
ントロールする場合の再生装置の要部の一例である。
【0068】この例の場合、基準値発生回路53からの
基準値Mref は加算回路54に供給され、後述する
ラッチ付きゲート回路55からの補正値と加算される。 そして、その加算値の駆動信号がドライバ52に供給さ
れる。したがって、再生磁界Hreの大きさは、補正値
が零の場合には、基準値Mref に応じた所定値とな
り、補正値に応じてその所定値を中心として変化するも
のとなる。
【0069】そして、この例の場合、再生磁界の大きさ
を補正する補正値を発生する補正値発生回路56が設け
られ、比較回路38の比較誤差信号が、この補正値発生
回路56にも供給される。この補正値発生回路56から
の補正値はラッチ付きゲート回路55に供給され、基準
情報を読み出すモードのときには、このゲート回路55
が開とされて、閉ループが形成される。これにより、レ
ーザパワーの制御との組み合わせによって、基準情報の
再生RF信号のレベルが最適レベルとなるような再生磁
界Hreの大きさの制御のための補正値が、この補正値
発生回路56より出力されるように制御される。
【0070】そして、その補正値がラッチ信号発生回路
46からのラッチ信号によりゲート回路55にラッチさ
れる。したがって、その後、行われる実際のデータの再
生時には、ゲート回路44にラッチされた再生レーザパ
ワー設定基準値REFと、ゲート回路55にラッチされ
た補正値とが用いられて、レーザ光源32の出力パワー
の制御及び再生磁界Hreの制御がなされ、再生領域9
及び18の大きさが常に最適の大きさになるようにされ
る。
【0071】以上のようにして、この発明によれば、消
去タイプ又は浮き出しタイプの再生方法を実施する際に
、常に再生領域9又は18の大きさが、その光磁気ディ
スクの再生に最適の所定の大きさとなるようにされる。 すなわち、光磁気ディスクの温度が周囲環境温度などに
より変動しても、そのディスク温度に関係なく、常に、
安定に消去タイプ又は浮き出しタイプの再生方法を遂行
することができる。光磁気ディスクの温度についてのこ
の発明の効果は、光磁気ディスクの回転駆動方式がCA
Vでも、CLVでも得ることができるものである。
【0072】そして、光磁気ディスクの回転駆動方式が
CLVの場合には、ディスクの半径方向に再生位置が変
わっても、線速度及び線記録密度は変化しないが、光磁
気ディスクの種類により、設定される線速度及び線密度
が異なる場合がある。この発明によれば、光磁気ディス
クの種類によって線速度、線密度の違いがあっても、そ
のディスクに記録された基準情報に基づいて、最適の再
生領域9及び18の大きさに自動的にコントロールされ
るので、その光磁気ディスクの線速度及び線密度に応じ
た最適の最適状態で、再生を行うことができる。
【0073】一方、光磁気ディスクをCAV駆動した場
合には、光磁気ディスクの半径方向の再生位置により線
速度が異なるようになり、上述の実施例のままではディ
スクの半径方向の再生位置の違いによる線速度、及び線
記録密度の変化の影響を除去できない。
【0074】しかし、CAVの回転駆動方式を採用した
場合でも、各トラックに、あるいは必要な複数本おきの
トラックに、前記と同様な基準情報を記録しておき、そ
のトラックあるいはそのトラックの近傍のトラックを再
生するとき、その再生に先立って、前述と同様にレーザ
パワー設定基準値REF及び再生磁界の補正値の設定を
行い、ラッチした後、実際のデータ再生に移るようにす
ることにより、再生領域9及び18の大きさを常にその
再生位置における線速度にも対応したに最適の大きさに
なるようにすることができる。
【0075】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
、消去タイプの再生方法及び浮き出しタイプの再生方法
において、基準情報の再生信号レベルを最適なレベルと
するようにして、消去タイプ及び浮き出しタイプの再生
方法における再生領域の大きさを所定の最適な大きさと
するようにしたので、光磁気ディスクによって温度の変
化があったり、線速度及び線記録密度が異なる場合にも
、常に、安定に再生を行うことができる。したがって、
C/Nが良好で、品質の良い再生信号を常に得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による再生方法が適用されたディスク
再生装置の一実施例のブロック図である。
【図2】レーザパワーを変えることによりマスク領域が
変わることを説明するための図である。
【図3】外部磁界を変えることによりマスク領域が変わ
ることを説明するための図である。
【図4】この発明による再生方法が適用されたディスク
再生装置の他の実施例のブロック図である。
【図5】レーザビームスポット径と、再生可能な記録ピ
ットの記録密度との関係を説明するための図である。
【図6】消去タイプの再生方法及びその光磁気ディスク
の実質的な再生領域を説明するための図である。
【図7】浮き出しタイプの再生方法の光磁気ディスクの
一例を示す図である。
【図8】浮き出しタイプの再生方法及びその光磁気ディ
スクの実質的な再生領域を説明するための図である。
【図9】光磁気ディスクの温度変化により実質的な再生
領域が変化することを説明するための図である。
【図10】光磁気ディスクの線速度変化により実質的な
再生領域が変化することを説明するための図である。
【符号の説明】
3,11  記録層 4,12  中間層 5,14  再生層 8  マスク領域 9,18  再生領域 17  浮き出し領域 31  光磁気ディスク 32  レーザ光源 33  フォトディテクタ 37  RFレベル検出回路 38  比較回路 39  最適レベル発生回路 41  レーザパワーモニタ用フォトディテクタ42 
 オートパワーコントロール回路45  再生レーザパ
ワー設定基準値発生回路51  磁界発生コイル 56  磁界補正値発生回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  記録層と再生層とを有し、記録層と、
    再生層とが定常状態で磁気的に結合しており、再生時の
    光照射により所定温度以上に温度上昇する領域の前記記
    録層と再生層との磁気的結合を消滅させ、その磁気的結
    合消滅領域を除く光照射領域において前記記録層に保持
    された記録情報を前記再生層から読み出すようにする光
    磁気ディスクの再生方法において、前記光磁気ディスク
    に基準情報を記録しておき、再生に先立ち、前記光磁気
    ディスクから前記基準情報を読み出し、その再生信号の
    レベルを検出し、その検出レベルに基づいて再生時の前
    記磁気的結合消滅領域の大きさを制御するようにした光
    磁気ディスクの再生方法。
  2. 【請求項2】  記録層と再生層とを有し、再生層の磁
    化の方向を揃えた後、再生時の光照射により所定温度以
    上に温度上昇する領域において前記記録層に保持された
    記録情報を再生層に転写させて浮き出させ、この再生層
    の浮き出し領域から前記記録情報を読み出すようにする
    光磁気ディスクの再生方法において、前記光磁気ディス
    クに基準情報を記録しておき、再生に先立ち、前記光磁
    気ディスクから前記基準情報を読み出し、その再生信号
    のレベルを検出し、その検出レベルに基づいて再生時の
    前記浮き出し領域の大きさを制御するようにした光磁気
    ディスクの再生方法。
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