JPH10105972A

JPH10105972A - 光記録方法

Info

Publication number: JPH10105972A
Application number: JP8252849A
Authority: JP
Inventors: Satoru Sanada; 覚真田
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1996-09-25
Filing date: 1996-09-25
Publication date: 1998-04-24

Abstract

(57)【要約】【課題】周方向に複数のテストセクタを有する光記録
媒体にテスト記録を行い最適記録条件を求める場合、試
験時間を短縮し試験効率を向上させる。【解決手段】光記録媒体（光ディスク１）が１回転す
る間に周方向に設けられた全てのテストセクタＴＳ１〜
ＴＳ４に対し、テスト記録動作，テスト記録された情報
の確認動作，消去動作及び消去確認動作の何れか一方を
実行する。この結果、１セクタ毎に上記のテスト記録動
作，テスト記録された情報の確認動作，消去動作及び消
去確認動作を行って最適記録条件を求める場合に比べ、
試験時間が大幅に短縮され試験効率が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の光
記録媒体に対しテスト記録を行う光記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、高密度及び大容量の光ディスク等
の記録媒体に対し高速でアクセスして情報の記録再生を
行う光学的記録再生方法や、これに用いられる記録装
置，再生装置並びに記録媒体を開発しようとする努力が
なされている。ところで広範囲な光学的記録再生方法の
中で、光磁気記録再生方式は、情報を記録した後でこれ
を消去して再び新たな情報を記録することが繰り返し可
能であるというユニークな利点を有しており、最も大き
な魅力を有している。

【０００３】この光磁気記録再生方式で用いられる光磁
気記録ディスク（記録媒体）は、記録を残す層として、
１層または多層からなる磁性膜を有する。磁性膜は記録
密度が高く、また信号強度も高い垂直磁性膜（ｐｅｒｐ
ｅｎｄｉｃｕｌａｒｍａｇｎｅｔｉｃｌａｙｅｒ
ｏｒｌａｙｅｒｓ）が開発され、使用されている。

【０００４】このような磁性膜は、例えばアモルファス
のＧｄＦｅ（ガドリニウムと鉄の合金）やＧｄＣｏ（ガ
ドリニウムとコバルトの合金），ＧｄＦｅＣｏ（ガドリ
ニウムと鉄とコバルトの合金），ＴｂＦｅ（テレビウム
と鉄の合金），ＴｂＣｏ（テレビウムとコバルトの合
金），ＴｂＦｅＣｏ（テレビウムと鉄とコバルトの合
金）等からなる。垂直磁性膜は、一般に同心円状または
螺旋状のトラックを有しており、このトラック上に情報
が記録される。

【０００５】ところで、トラック上には情報がマークと
して形成されるが、マークの形成においては、レーザの
特徴、即ち空間的及び時間的に優れた凝集性（ｃｏｈｅ
ｒｅｎｃｅ）が有利に利用され、レーザ光の波長によっ
て決定される回折限界と殆ど同じ位に小さいスポットに
ビームが絞りこまれる。絞りこまれた光はトラック表面
に照射され、記録膜を熱して記録膜に１μｍ以下のマー
クを形成することにより情報が記録される。光学的記録
においては、理論的に約１０⁸マーク／ｃｍ² までの記
録密度を達成することができる。何故ならば、レーザビ
ームはその波長と殆ど同じ位に小さい直径を有するスポ
ットまで凝集できるからである。

【０００６】光磁気記録においては、レーザビームを垂
直磁性膜の上に絞りこみ、それを加熱する。その間、初
期化された向きとは反対の方向に記録磁界Ｈｂを加熱さ
れた部分に外部から加える。そうすると、局部的に加熱
された部分の保磁力Ｈｃ（ｃｏｅｒｓｉｖｉｔｙ）は減
少し、記録磁界Ｈｂより小さくなる。その結果、その部
分の磁化は、記録磁界Ｈｂの向きに並ぶ。こうして逆に
磁化されたマークが形成される。

【０００７】次にこうして形成されたマークの再生につ
いて説明する。通常、光は光路に垂直な平面上で全ての
方向に発散している電磁場ベクトルを有する電磁波であ
る。ここで、光が直線偏光に変換され垂直磁化膜に照射
されたとき、光はその表面で反射されるか、または垂直
磁化膜を透過する。このとき、偏光面は磁化の向きに従
って回転する。この回転する現象は、磁気カー（ｋｅｒ
ｒ）効果、または磁気ファラデー（Ｆａｒａｄａｙ）効
果と呼ばれる。

【０００８】例えば、もし反射光の偏光面が初期化方向
の磁化に対してθｋ度回転するとすると、記録方向の磁
化に対しては−θｋ度回転する。従って、光アナライザ
ー（偏光子）の軸をθｋ度傾けた面に垂直にセットして
おくと、初期化方向に磁化されたマークから反射された
光はアナライザーを透過することができない。これに対
して記録方向に磁化されたマークから反射された光は、
（ｓｉｎ２θｋ）×２を乗じた文がアナライザーを透過
し、ディテクター（光電変換手段）に捕獲される。

【０００９】その結果、記録方向に磁化されたマークは
初期化方向に磁化されたマークよりも明るく見え、ディ
テクターにおいて強い電気信号を発生させる。従って、
このディテクターからの電気信号は記録された情報にし
たがって変調されるため、情報が再生されるのである。

【００１０】さらに光磁気記録方法の別の例として、特
開昭６２−１７５９４８号公報に開示されているような
光変調オーバーライト方式（ダイレクトオーバーライト
方式）がある。この方式では、基本的に垂直磁化可能な
磁性薄膜からなるメモリ層（以下、Ｍ層）と垂直磁化可
能な磁性薄膜からなる記録層（以下、Ｗ層）とを含み、
両層は交換結合しており、かつ室温でＭ層の磁化の向き
は変えずにＷ層の磁化のみを所定の向きに向けておくこ
とができるオーバーライト可能な多層光磁気記録媒体を
用いている。そしてその記録媒体に、２値化情報に従い
パルス変調されたレーザビーム（即ち、情報を記録する
高レベルＰH と情報を消去する低レベルＰL とにパルス
変調されたビーム）で記録する方式である。

【００１１】一方、相変化記録方式と呼ばれる記録方式
があり、こうした記録方式で用いられる記録媒体には、
結晶と非結晶の相を可逆的に繰り返すことが可能な例え
ばＧｅＳｂＴｅ（ゲルマニュウムとアンチモンとテレビ
ウムの合金）系の媒体が用いられる。そして結晶状態で
消去状態を表し、記録するときに非結晶状態にする。再
生時には光ビームを照射し結晶状態と非結晶状態の反射
率の違いを用いて強弱の電気信号に変換する。この記録
媒体も高レベルＰH と低レベルＰL の２値に変調された
レーザ光でオーバーライトが可能である。

【００１２】ところで、光ディスクに実際に記録を行う
場合には、マーク形状を最適化するためにそのディスク
の記録温度や感度、及び環境温度に応じてレーザパワー
の微調整が必要になる。現在、市販されている光磁気デ
ィスク記録装置には、情報を記録する前に、テスト記録
をして感度調整を行っているものもある。

【００１３】テスト記録を行う場合は、ドライブ装置に
光ディスクを装着した直後や、使用中にドライブ装置の
温度が変化したとき等に、ディスクの内・外周、或いは
内・中・外周でパワーを変えて消去・記録・再生を繰り
返し行い、最適な記録パワーを探し出す。光ディスクは
その周方向に感度ムラがある場合があり、その感度ムラ
による測定誤差を吸収するために周方向に数カ所テスト
セクタを設け、最終的にはその平均をとって最適記録条
件に導くことが必要になる。

【００１４】図５はダイレクトオーバーライト方式で記
録が行われる記録媒体に対しテスト記録を行い最適な記
録パワーを求める場合の動作を示すフローチャートであ
る。なお、この動作例は上述の低レベルＰL の値、即ち
情報を消去するための最適な消去パワーＰL を求める場
合の例である。まず、記録パワーとして初期値（このパ
ワーでは絶対に記録されることがないというパワー）を
セットする（ステップＳ６１）。次にセットされたパワ
ーで記録媒体（光ディスク）のテストセクタにマークを
記録する（ステップＳ６２）。

【００１５】続いてそのテストセクタの再生を行い（ス
テップＳ６３）、再生信号から記録マークの有無を判断
する（ステップＳ６４）。ここで記録マークが確認でき
ない場合は記録パワーの値を少し大きくして（ステップ
Ｓ６５）、そのパワーでテストセクタにマークを記録す
る（ステップＳ６２）。そして、そのテストセクタの再
生を行い（ステップＳ６３）、再生信号から記録マーク
が確認できなければさらに記録パワーを上げて（ステッ
プＳ６５）、テストセクタにマークを再記録する（ステ
ップＳ６２）。こうしたテストセクタに対するマークの
記録動作は、実際にマークの記録が確認できるまで続行
され、マークが記録されたことが確認されると、そのと
きの記録パワーをＰHth として記憶する（ステップＳ６
６）。

【００１６】次にテストセクタのマークを消去した後、
標準の記録パワーでテストセクタにマークを記録する
（ステップＳ６７）。続いて、消去パワーとして初期値
（このパワーでは絶対に消去されることがないというパ
ワー）をセットする（ステップＳ６８）。次にセットさ
れたパワーでテストセクタを消去する（ステップＳ６
９）。

【００１７】次にそのテストセクタの再生を行い（ステ
ップＳ７０）、再生信号からマークが消去されたか否か
を判断する（ステップＳ７１）。ここでセクタのマーク
が消去されずに記録マークが確認される場合は消去パワ
ーの値を少し大きくして（ステップＳ７２）、そのパワ
ーでテストセクタを消去する（ステップＳ６９）。そし
て、そのテストセクタの再生を行い（ステップＳ７
０）、再生信号から記録マークが確認できればさらに記
録パワーを上げて（ステップＳ７２）、そのパワーでテ
ストセクタを消去する（ステップＳ６９）。

【００１８】こうしたテストセクタに対するマークの消
去動作は、実際にマークの消去が確認できるまで続行さ
れ、マークが消去されたことが確認されると、そのとき
の消去パワーをＰLth として求め（ステップＳ７３）、
求めた記録パワーＰHth ，消去パワーＰLth から消去パ
ワーＰL を算出する（ステップＳ７４）。こうして１つ
のテストセクタについて消去パワーＰL を算出すると、
次のテストセクタに対しても同様にマーク記録処理及び
消去処理を行って消去パワーを求め、最終的にはそれぞ
れの平均をとって最適記録条件を定めている。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】従来では１つのテスト
セクタ毎にこうしたテスト記録を行って最適記録条件を
求めているため、複数のテストセクタを有するような光
ディスクに対してはテスト時間がかかり過ぎ、試験効率
が低下するという問題があった。従って本発明は、周方
向に複数のテストセクタを有するような光ディスクにテ
スト記録を行って最適記録条件を求める場合、テスト時
間を短縮して効率の良い試験を行うことを目的とする。

【００２０】

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために本発明は、光記録媒体が１回転する間に周方向
に設けられた複数のセクタに対し、テスト記録動作，テ
スト記録された情報の確認動作，消去動作及び消去確認
動作の何れか一つを実行するようにした方法である。こ
のとき、１回転する間に、周方向に設けられた全てのセ
クタ（即ち、トラック１周の中に設けられた全てのセク
タ）に対して上記動作を行うことが好ましい。従って、
１セクタ毎にテスト記録動作，テスト記録された情報の
確認動作，消去動作及び消去確認動作を行って最適記録
条件を求める場合に比べ試験時間が大幅に短縮され試験
効率が向上する。また、上記光記録媒体として、光強度
が高レベルと低レベルの２値に変調された情報がオーバ
ーライトされる記録媒体を用いる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
して説明する。図３は本発明を適用した光ディスク記録
装置の構成を示すブロック図である。同図において、光
ディスク記録装置は、光記録媒体である光ディスク１
と、図示しない回転機構部により回転する光ディスク１
に対してデータの記録，再生及び消去を行う光ヘッド２
と、光ヘッド２を光ディスク１の所定トラックの所定セ
クタの位置まで移動制御するシーク制御回路３と、光ヘ
ッド２に対し記録データを与えると共に、光ヘッド２の
記録パワー及び消去パワーを制御する記録回路４と、光
ヘッド２を介して出力される光ディスク１からの記録デ
ータを再生する再生回路５と、以上の各部を制御する制
御部６とからなる。

【００２２】ところで、光ディスク１は高レベルＰH と
低レベルＰL の２値に変調された光ヘッド２からのレー
ザ光でオーバーライトが可能な記録媒体であり、高レベ
ルＰH で情報が記録され、低レベルＰL で情報が消去さ
れるものである。このため、情報が記録される前に、テ
スト記録を行って最適な記録条件を測定し、その最適条
件で情報を記録する必要がある。また、光ディスク１は
その周方向に感度ムラが生じ易い。このため、テスト記
録を行う場合は、その感度ムラによる測定誤差を吸収す
るために図４に示すように周方向に数カ所テストセクタ
ＴＳ１〜ＴＳ４を設けている。即ち、本実施の形態で
は、図４に示すように同一半径位置（同一トラック１
Ａ）上に各々９０度ずれた位置関係にある４つのセクタ
ＴＳ１〜ＴＳ４をテストセクタとして設けている。

【００２３】図４において、各テストセクタＴＳ１〜Ｔ
Ｓ４のうちセクタＴＳ１が物理的に若いセクタ番号を有
しており、以下順にＴＳ２，ＴＳ３，ＴＳ４となってい
る。そして、１つのテストセクタ毎にそれぞれデータ消
去に必要な記録パワー（消去パワー）を求め、最終的に
４つのテストセクタの平均値をその半径位置での消去パ
ワーＰL とするものである。

【００２４】図１及び図２は光ディスク１に対してテス
ト記録を行い、最適記録条件を求める本装置の制御部６
の動作を示すフローチャートである。このフローチャー
トに従って本装置の要部動作を説明する。まず、図１の
フローチャートに基づいて最低の記録パワーを算出する
場合の動作を説明する。まず制御部６は内蔵のメモリ６
Ａに記録確認フラグＷＶ［１］〜ＷＶ［４］として
「０」をセットする（ステップＳ１）。このフラグＷＶ
［１］〜ＷＶ［４］は各々セクタＴＳ１〜ＴＳ４に対応
し、セクタにテストデータが記録されたことが確認され
ると「１」にセットされる。次に記録パワーとして初期
値（このパワーでは絶対に記録されることがないという
パワー）をメモリ６Ａにセットする（ステップＳ２）。

【００２５】続いて、シーク制御回路３を制御して光ヘ
ッド２を回転中の光ディスク１のテストセクタＴＳ１の
直前まで移動させ位置決めする（ステップＳ３）。そし
て、セクタＴＳ１にテストデータが記録済みか否か、即
ち試験確認フラグＷＶ［１］が「１」であるか否かを瞬
時に判断し（ステップＳ４）、記録済みでなければメモ
リ６Ａにセットされている記録パワーで光ヘッド２がテ
ストデータを記録できるように記録回路４の出力パワー
を制御する。この結果、光ヘッド２のセクタＴＳ１に対
するデータの記録動作が行われる（ステップＳ５）。ま
た、テストデータが記録済みであれば、光ディスク１の
次のセクタＴＳ２の先頭部分が光ヘッド２の位置に近づ
くまでの時間分待機した後ステップＳ６へ進む。

【００２６】続く以降の各ステップＳ６，Ｓ８，Ｓ１０
においては、それぞれ各セクタＴＳ２〜ＴＳ４にテスト
データが記録済みか否かを該当の記録確認フラグにより
同様に判断し、記録済みでなければ同様にメモリ６Ａに
セットされている試験パワーで光ヘッド２がテストデー
タを記録できるように記録回路４の出力パワーを制御す
る。この結果、光ヘッド２の各セクタＴＳ２〜ＴＳ４に
対するデータの記録動作が同様に行われる（ステップＳ
７，Ｓ９，Ｓ１１）。

【００２７】こうして各セクタＴＳ１〜ＴＳ４へのテス
トデータの記録動作が終了すると、光ディスク１は１回
転し、セクタＴＳ１の先頭位置が光ヘッド２の位置まで
近づいてくる。ここで、そのセクタＴＳ１の先頭位置が
光ヘッド２の直前に到達する時点を検出する光ヘッドの
位置決めが行われた（ステップＳ１２）後、制御部６は
セクタＴＳ１にテストデータが記録済みか否かを記録確
認フラグＷＶ１により瞬時に判断し（ステップＳ１
３）、記録済みでなければ、制御部６は、光ヘッド２に
より読み出されたセクタＴＳ１の記録データを再生回路
５を介して再生信号として入力し、その再生信号のレベ
ルをメモリ６Ａに保存する（ステップＳ１４）。また、
テストデータが記録済みであれば、光ディスク１の次の
セクタＴＳ２の先頭部分が光ヘッド２の位置に近づくま
での時間分待機した後ステップＳ１５へ進む。

【００２８】そして続く以降の各ステップＳ１５，Ｓ１
７，Ｓ１９においては、それぞれ各セクタＴＳ２〜ＴＳ
４にテストデータが記録済みか否かを該当の記録確認フ
ラグにより同様に判断し、記録済みでなければ同様に光
ヘッド２により読み出された対応の各セクタＴＳ２〜Ｔ
Ｓ４の記録データをそれぞれ再生回路５を介して再生信
号として入力し、その再生信号のレベルをメモリ６Ａに
保存する（ステップＳ１６，Ｓ１８，Ｓ２０）。こうし
て、光ディスク１の１回転目で光ヘッド２が各セクタＴ
Ｓ１〜ＴＳ４に対して行った記録動作による結果が、２
回転目で読み出されて保存される。

【００２９】次にステップＳ２１では、保存された各セ
クタＴＳ１〜ＴＳ４毎の再生信号レベルをチェックする
ことにより、各セクタＴＳ１〜ＴＳ４にテストデータが
記録されたか否かを判断し、もしテストデータが記録さ
れたと判断したセクタに対応してその記録確認フラグＷ
Ｖを「１」にセットし、かつこのときの記録パワー値を
対応のセクタの最低記録パワーＰHth としてメモリ６Ａ
に記憶する。続いてステップＳ２２では各記録確認フラ
グをチェックして全てのテストセクタにデータが記録さ
れたか否かを判断し、テストデータが記録されないテス
トセクタがあれば記録パワーを上げて（ステップＳ２
３）、ステップＳ３へ処理を戻す。

【００３０】そして、次のステップＳ３〜Ｓ１１の処理
では、記録パワーを上げた状態で３回転目の各テストセ
クタＴＳ１〜ＴＳ４に対するテストデータの記録が行わ
れると共に、続くステップ１３〜Ｓ２０の処理では４回
転目の各テストセクタＴＳ１〜ＴＳ４のデータ再生が行
われる。このようなテスト記録は、全てのテストセクタ
にテストデータが記録されたことが確認されるまで続行
される。なお、既にデータが記録されていることが確認
されているテストセクタに対してはデータの記録及び再
生は行われない。こうして全てのテストセクタにデータ
が記録されていることが確認され、ステップＳ２２で
「Ｙ」となると、図１の処理を終了する。

【００３１】記録パワーとしてＰHth が各セクタＴＳ１
〜ＴＳ４に対応して設定された後、つぎに最低の消去パ
ワーＰLth を求めるために、図２のステップＳ３１では
まず光ヘッド２が基準パワーでテストデータを記録でき
るように記録回路４の出力パワーを制御し、各セクタＴ
Ｓ１〜ＴＳ４に基準パワーでデータを記録させる。次に
内蔵のメモリ６Ａに消去確認フラグＲＶ［１］〜ＲＶ
［４］として「０」をセットする（ステップＳ３２）。
このフラグＲＶ［１］〜ＲＶ［４］は各々セクタＴＳ１
〜ＴＳ４に対応し、セクタのデータが消去されたことが
確認されると「１」にセットされる。続いて、消去パワ
ーとして初期値（このパワーでは絶対に消去されること
がないというパワー）をメモリ６Ａにセットする（ステ
ップＳ３３）。

【００３２】次に、テストセクタＴＳ１の直前に光ヘッ
ド１を位置決めした（ステップＳ３４）後、セクタＴＳ
１の消去済みか否か、即ち消去確認フラグＲＶ［１］が
「１」であるか否かを瞬時に判断し（ステップＳ３
５）、消去済みでなければメモリ６Ａにセットされてい
る消去パワーで光ヘッド２がテストデータを消去できる
ように記録回路４の出力パワーを制御する。この結果、
光ヘッド２のセクタＴＳ１に対するデータの消去動作が
行われる（ステップＳ３６）。また、テストデータが消
去済みであれば、光ディスク１の次のセクタＴＳ２の先
頭部分が光ヘッド２の位置に近づくまでの時間分待機し
た後ステップＳ３７へ進む。

【００３３】続く以降の各ステップＳ３７，Ｓ３９，Ｓ
４１では、それぞれ各セクタＴＳ２〜ＴＳ４が消去済み
か否かを該当の消去確認フラグにより同様に判断し、消
去済みでなければ同様にメモリ６Ａにセットされている
消去パワーで光ヘッド２がテストデータを消去できるよ
うに試験回路６の出力パワーを制御する。この結果、光
ヘッド２の各セクタＴＳ２〜ＴＳ４に対する消去動作が
同様に行われる（ステップＳ３８，Ｓ４０，Ｓ４２）。

【００３４】こうして各セクタＴＳ１〜ＴＳ４に対する
データの消去動作が終了すると、光ディスク１は１回転
し、セクタＴＳ１の先頭位置が光ヘッド２の位置まで近
づいてくる。ここで、そのセクタＴＳ１の先頭位置が光
ヘッド２の直前に到達する時点を検出する光ヘッド２の
位置決めが行われた（ステップＳ４３）後、制御部６は
セクタＴＳ１が消去済みか否かを消去確認フラグＲＶ１
により瞬時に判断し（ステップＳ４４）、消去済みでな
ければ、制御部６は、光ヘッド２により読み出されたセ
クタＴＳ１の情報を再生回路５を介して再生信号として
入力し、その再生信号のレベルをメモリ６Ａに保存する
（ステップＳ４５）。また、テストデータが消去済みで
あれば、光ディスク１の次のセクタＴＳ２の先頭部分が
光ヘッド２の位置に近づくまでの時間分待機した後ステ
ップＳ４６へ進む。

【００３５】そして続く以降の各ステップＳ４６，Ｓ４
８，Ｓ５０においては、それぞれ各セクタＴＳ２〜ＴＳ
４が消去済みか否かを該当の消去確認フラグにより同様
に判断し、消去済みでなければ同様に光ヘッド２により
読み出された対応の各セクタＴＳ２〜ＴＳ４の情報をそ
れぞれ再生回路５を介して再生信号として入力し、その
再生信号のレベルをメモリ６Ａに保存する（ステップＳ
４７，Ｓ４９，Ｓ５１）。こうして、光ディスク１の１
回転目で光ヘッド２が各セクタＴＳ１〜ＴＳ４に対して
行った消去動作による結果が、２回転目で読み出されて
保存される。

【００３６】次にステップＳ５２では、保存された各セ
クタＴＳ１〜ＴＳ４毎の再生信号レベルをチェックする
ことにより、各セクタＴＳ１〜ＴＳ４のデータが消去さ
れたか否かを判断し、もしテストデータが消去されたと
判断したセクタには対応の消去確認フラグＲＶを「１」
にセットする。また、このときの消去パワー値を対応の
セクタの最低消去パワーＰLth としてメモリ６Ａに記憶
する。続いてステップＳ５３では各消去確認フラグをチ
ェックして全てのテストセクタにデータが消去されたか
否かを判断し、テストデータが消去されないテストセク
タがあれば消去パワーを上げて（ステップＳ５４）、ス
テップＳ３４へ処理を戻す。

【００３７】そして、次のステップＳ３４〜Ｓ４２の処
理では、消去パワーを上げた状態で３回転目の各テスト
セクタＴＳ１〜ＴＳ４に対して消去動作が行われると共
に、続くステップ４４〜Ｓ５１の処理では４回転目の各
テストセクタＴＳ１〜ＴＳ４に対する再生動作が行われ
る。このような消去動作及びその再生動作（消去確認動
作）は、全てのテストセクタが消去されたことが確認さ
れるまで続行される。なお、既にデータが消去されてい
ることが確認されているテストセクタに対しては消去及
び再生動作は行われない。こうして全てのテストセクタ
が消去されていることが確認され、ステップＳ５３で
「Ｙ」となると、各セクタ毎に得られた最低消去パワー
ＰLth の平均値と、上記の最低記録パワーＰHth の平均
値とを所定の計算式に代入して消去パワーＰL を算出す
る（ステップＳ５５）。

【００３８】ここで、単純に図１で記録パワーＰHth を
求める場合に１セクタ当たり記録回数が初期値を含めて
５回発生したとすると、光ディスク１は全セクタの記録
及び再生時にそれぞれ１回転することから、光ディスク
１が１０回転（２回転×５回）すると記録パワーＰHth
が求められる。また、図２で消去パワーＰLth を求める
場合に１セクタ当たり消去回数が４回発生したとする
と、光ディスク１は全セクタの消去及び再生時にそれぞ
れ１回転することから、光ディスク１が８回転（２回転
×４回）すると消去パワーＰLthが求められる。

【００３９】従って、この場合は合計１８回転で消去パ
ワーＰL を求めることができる。これに対して、光ディ
スク１の１回転毎に１セクタづつテスト記録を行って最
適記録条件を求めるような場合は、記録パワーＰHth を
求めるのに４０回転（２回転×５回×４セクタ）を要
し、かつ消去パワーＰLth を求めるのに３２回転（２回
転×４回×４セクタ）を要しているため、光ディスク１
が合計７２回転してはじめて消去パワーＰL が求められ
る。

【００４０】このように本発明では、光ディスク１にテ
スト記録を行う場合、光ディスク１の回転数を少なくし
て短時間で最適記録条件を求めることができるため、従
来の方式と同一測定精度を保持しつつ、効率良く試験を
行うことができる。なお、この実施の形態では情報消去
に必要な消去パワーＰL の算出例について説明したが、
情報記録に必要な記録パワーＰH を求める際にも同様に
周方向に複数のテストセクタを設けて、テスト記録やそ
の再生が行われるものとすれば、同様の効果を奏する。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
記録媒体が１回転する間に周方向に設けられた複数のセ
クタに対し、テスト記録動作，テスト記録された情報の
確認動作，消去動作及び消去確認動作の何れか一つを実
行するようにしたので、１セクタ毎にテスト記録動作，
テスト記録された情報の確認動作，消去動作及び消去確
認動作を行って最適記録条件を求める場合に比べ試験時
間が大幅に短縮され試験効率が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の要部動作を示すフローチャートであ
る。

【図２】本発明の要部動作を示すフローチャートであ
る。

【図３】本発明を適用した光ディスク記録装置の構成
を示すブロック図である。

【図４】光ディスクの構成を示す図である。

【図５】従来装置の動作を示すフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１…光ディスク、２…光ヘッド、４…記録回路、５…再
生回路、６…制御部、６Ａ…メモリ、ＴＳ１〜ＴＳ４…
テストセクタ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】情報の記録が可能な光記録媒体の略同一
半径の周方向に設けられた複数のセクタに対しテスト記
録を行う光記録方法において、前記光記録媒体が１回転する間に前記複数のセクタに対
し、前記テスト記録の動作，テスト記録された情報の再
生動作，消去動作及び消去確認動作の何れか一つを実行
することを特徴とする光記録方法。
【請求項２】請求項１において、前記光記録媒体には、光強度が少なくとも高レベルと低
レベルの２値に変調された情報がオーバーライトされる
ことを特徴とする光記録方法。