JPH11135555A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH11135555A JPH11135555A JP9315787A JP31578797A JPH11135555A JP H11135555 A JPH11135555 A JP H11135555A JP 9315787 A JP9315787 A JP 9315787A JP 31578797 A JP31578797 A JP 31578797A JP H11135555 A JPH11135555 A JP H11135555A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- chip
- terminal
- semiconductor device
- semiconductor chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 153
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 14
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5387—Flexible insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/60—Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Dicing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
半導体装置を提供する。 【解決手段】 1つの電気回路機能を複数の半導体チッ
プ部分12に分割し、この複数の半導体チップ部分12
を単一の保持部材11上で一体的に接続する。
Description
回路を組み込んで構成される半導体チップを備える半導
体装置に関する。
半導体ウエハ上の領域に同一の集積回路を多数組み込ん
だ後、各領域が分離され、この各領域部分により多数の
半導体チップが、一括的かつ効率的に形成される。一枚
の半導体ウエハから、このような多数の半導体チップを
得るとき、各半導体チップの面積が大きくなるほど、限
られた面積の半導体ウエハから得られる半導体チップの
数が少なくなる。また、欠陥部分が発見された半導体チ
ップは廃棄されるが、廃棄される半導体チップの面積が
大きいほど半導体ウエハの廃棄面積が増加し、生産性は
低下する。そのため、半導体ウエハの有効利用および生
産性の向上のためには、半導体ウエハから分離される半
導体チップの小型化を図ることが望ましい。
の要望に反し、半導体チップを組み込んだ半導体装置の
コンパクト化のために、半導体チップの大型化の傾向が
見られる。
置に、例えば、特開平5−235092号公報に示され
る半導体装置がある。この従来技術によれば、液晶駆動
用の半導体装置として、1つの保持部材に多数の同一機
能を有する液晶駆動用ICチップを連続的に配置し、こ
の保持部材上の同一機能を有する液晶駆動用ICチップ
間で該ICチップの制御用信号を電気的に導通させるこ
とにより、保持部材上に設けられる外部接続端子数の低
減を図ることができ、これにより、半導体装置の実装面
積の低減によるコンパクト化が可能となる。
の半導体装置で、一層のコンパクト化を図るためには、
各ICチップに設けられる液晶への出力端子数の増大を
図る必要があることから、各ICチップの出力端子が配
列される一辺の寸法が増大し、そのために各ICチップ
が長大化し、よりスリム化する傾向が見られた。また、
コンパクト化の反面、保持部材上のICチップに1つで
も欠陥があれば、保持部材上の他のICチップをも廃棄
しなければならないという問題もあった。
な半導体ウエハの有効利用および生産性の向上を疎外す
る。なぜならば、ほぼ円型である半導体ウエハ上に矩形
のICチップを製造するため、半導体ウエハの周辺部に
は利用できない。領域が残るが、正方形のICチップに
比較して、これと同一面積の長方形のICチップは、縦
横比の値が1から離れるほど、すなわちスリム化が進む
ほど、この利用できない領域の面積が増加するためであ
る。
生産性の向上を可能とする半導体装置を提供し得る技術
が望まれていた。また、この半導体ウエハの有効利用お
よび生産性の向上に関連して、半導体装置の大型化を招
くことなくICチップの出力端子と保持部材上に設けら
れる端子とを接続するリード回路の信頼性を高め、これ
により歩留まりの向上を図り得る技術が望まれていた。
決するために、次の構成を採用する。 〈構成1〉本発明は、1つの電気回路機能を複数の半導
体チップ部分に分割し、当該複数の半導体チップ部分を
単一の保持部材上で一体的に接続したことを特徴とす
る。
機能を果たす電気回路が複数の半導体チップ部分に分割
されて形成され、この複数の半導体チップ部分は、これ
を保持する単一の保持部材上で、所定の1つの機能を果
たすべく電気的に接続されて構成される。従って、各半
導体チップ部分の面積およびスリム化が従来に比較して
著しく低減されることから、限られた面積の半導体ウエ
ハから得られる半導体チップの数が増加し、これに伴い
半導体チップ部分の生産性向上およびこれを保持部材上
で相互に接続して構成される半導体装置の生産性の向上
が図られる。
1つの機能を果たす回路であるため、1つの半導体チッ
プに欠陥があり、保持部材上のICをすべて廃棄する場
合でも、廃棄量は従来と変わらない。
は、一側に複数の入力端子および他側に複数の出力端子
がそれぞれ設けられた全体に矩形の複数の半導体チップ
と、該半導体チップの入力端子および出力端子をそれぞ
れ整列させるべくそれぞれの半導体チップを整列して保
持し、各半導体チップの前記端子に対応する入力電極お
よび出力電極がそれぞれ設けられる保持部材と、該保持
部材上の出力電極および入力電極と半導体チップ上の出
力端子および入力端子とをそれぞれ接続する第1のリー
ド回路部分および第2のリード回路部分を備えるリード
回路とを含む。
材上の出力電極の間隔は、対応する前記出力端子のそれ
よりも大きく、対応する当該出力電極および出力端子間
を接続する前記第1のリード回路部分は、前記出力端子
から前記半導体チップの縁部とほぼ直角に該半導体チッ
プの外方へ向けて互いに間隔をおいて伸長する第1の直
線部、該第1の直線部の外端から角度的に外方へ向けて
伸長する傾斜伸長部および該傾斜伸長部の外端から対応
する前記出力電極へ向けて伸長し該出力電極に接続され
る第2の直線部とを有する。前記した複数の半導体チッ
プは、相互にそれらの整列方向へ所定の間隔をおいて保
持部材に保持されている。
れた複数の半導体チップを一つの保持部材上に配置する
ことにより、コンパクト化が可能となり、また保持部材
上にそれぞれの出力端子に対応した出力電極が設けられ
る。この保持部材上の出力電極と対応する半導体チップ
の出力端子とを接続する第1のリード回路部分について
は、このリード回路部分の信頼性の確保のために、前記
第1の直線部分、傾斜伸長部および第2の直線部におけ
るそれぞれの間隔を均等に保持する必要がある。また、
半導体装置の大型化の防止のために、前記出力電極の整
列方向に沿った保持部材の長さ寸法およびその幅寸法の
増大を防止する必要がある。しかも、出力電極に接続さ
れる例えば液晶パネルのような電気素子との確実な電気
的に接続を得るために、各出力電極間の間隔を大きくす
る必要がある。
一数の出力端子数を有する単一の半導体チップについ
て、半導体装置の大型化を防止すべく半導体チップの各
出力端子列と保持部材の各出力電極列間の間隔を保持し
た状態で、例えば出力電極の間隔を大きく設定しようと
すると、第1のリード回路部分における各傾斜伸長部の
傾斜角が大きくなり、この傾斜角の増大に伴って傾斜伸
長部の相互間隔が小さくなることから、当該リード回路
部分における信頼性の低下を招く結果となる。そのた
め、単一の半導体チップでは、前記した3つの要件の全
てを満足させることはできない。
半導体チップに分割し、かつ整列して配置される半導体
チップ間に適正な間隔を保持させることにより、前記し
た3つの要件を満足させることができ、これにより、大
型化を招くことなく、コンパクトでありかつ信頼性に優
れた半導体装置を提供することが可能となる。
ップのような同一の機能を有するICチップで構成する
ことができる。また、各ICチップを長方形として、そ
れぞれの出力端子が直線状に整列するように、各ICチ
ップをその長手方向に整列して配置することができ、こ
れにより、実装効率の向上を図ることができる。
に接続される共通端子が設けられるとき、それらを保持
部材上の第2のリード回路部分で相互に接続することが
でき、これにより、分割する前の1つの電気回路機能を
持つ半導体装置と信号入力端子数、信号出力端子数、電
源入力端子数を同一にすることができる。また、この第
2のリード回路部分で共通端子を相互に接続するための
分岐端子を、各半導体チップに設けることができる。
れる分岐端子とを多層配線技術により、結線することが
できる。また、各半導体チップの相互に接続される共通
端子および分岐端子を半導体内の仮想分割を対称軸とし
て、相互に対称的に配置することができ、これにより、
第2のリード回路部分に交差部を形成することなく該第
2のリード回路部分の複雑化を防止して、その簡素化を
図ることができる。
信号の減衰を防止するためのバッファを組み込むことが
できる。
について詳細に説明する。 〈具体例1〉図1は、本発明に係る半導体装置の具体例
1を示す。本発明に係る半導体装置10は、保持部材1
1と、該保持部材上に保持される複数のチップ部分12
とを備える。本具体例では、両チップ部分12の長手方
向寸法は等しくLである。半導体装置10は、図示の例
では、保持部材11としてTAB(Tape automated bon
ding)テープが用いられた液晶パネル駆動用ドライバで
ある。TABテープ11は、その両側部に設けられたス
プロケットホール13間に、TABテープ11の幅方向
に伸長する単一の細長いデバイスホール14を備える。
デバイスホール14内には、全体に長方形の平面形状を
有する細長い一対のチップ部分12が配置されている。
Dをおいて、その長手方向を一致させて相互に整列する
ように、配置されている。両チップ12内には、従来よ
く知られた液晶パネル駆動用ドライバ回路を構成する集
積回路が2分割されてなる集積回路部分(図示せず)
が、それぞれに形成されている。
路部分のための出力端子16が互いに等間隔で整列して
形成されている。また、各チップ部分12の他側には、
前記集積回路部分のための入力端子17が互いに等間隔
で整列して形成されている。両チップ部分12は、相互
に近接する端部に設けられた共通端子18を備え、両チ
ップ部分12の互いに対向する共通端子18は、接続回
路として作用する結線19により、相互に接続されてい
る。
の外部で電気接続することにより、両チップ部分12
は、電気的に一体的となり、1つのドライバ回路として
機能する。また、この1つのドライバ回路として機能す
る集積回路部分が組み込まれた各チップ部分12は、従
来のドライバ回路が組み込まれた約2Lの長さ寸法の半
導体基板をその長手方向へ半分に分離したものに相当す
る。
16に対応する出力電極20が、チップ部分12から所
定の間隔Wをおいて、出力端子16の列と平行に配列さ
れている。出力電極20は相互に等間隔をおいて配置さ
れている。また、TABテープ11の他側には、各入力
端子17に対応する入力電極21が入力端子17の列と
平行に配列されている。入力電極21は相互に等間隔を
おいて配置されており、この入力電極21の一部が電源
用として利用され、残部が入力信号および入出力信号用
電極として利用される。
0はTABテープ11上に形成される第1のリード回路
部分22により、相互に接続され、入力端子17とこれ
に対応する第2のリード回路部分23により、相互に接
続されている。図1に示す例では、第2のリード回路部
分23は、半導体基板15の縁部から直角に半導体基板
15の外方へ伸長するリード部分(23)からなる。他
方、第1のリード回路部分22は、それぞれ出力端子1
6から半導体基板15の縁部と直角に半導体基板15の
外方へ伸長する第1の直線部22aと、該直線部の外端
から角度的に伸長する傾斜伸長部22bと、該傾斜伸長
部の外端から対応する出力電極20に伸びる第2の直線
部22cとを備える。
分12ごとで、それぞれの傾斜伸長部22bが各チップ
部分12の中間部を横切る仮想線l1 を対称軸として対
称的に配置されている。各傾斜伸長部22bは、第1の
直線部22aと傾斜角θをなすように、それぞれが外方
へ向けて仮想線l1 から離れるように、伸長する。これ
により、第1のリード回路部分22は、それぞれの部分
22a、22bおよび22cが相互に等間隔をおいて形
成されている。
2を埋め込む従来よく知られた樹脂材料が充填され、こ
れにより両チップ部分12が確実に保持される。
2Lのチップが用いられており、出力電極とチップとの
間隔(W)を所定値に保持した状態で出力電極相互の間
隔を増大させるべく傾斜伸長部(22b)の傾斜角
(θ)を増大させようとすると、この傾斜伸長部(22
b)相互の間隔が小さくなるため、第1のリード回路部
分(22)での信頼性の低下を招くおそれが生じる。
0では、両チップ部分12に分割されしかも両チップ部
分12が間隔Dをおいて配置されていることから、この
間隔Dを出力電極20の間隔分として利用することがで
きる。そのため、出力電極20とチップ部分12との間
隔Wを所定値に保持した状態で、傾斜伸長部22bの相
互間隔を減少させることなく両部22aと22cを接続
することができ、これにより、TABテープ11の大型
化を招くことなくTABテープ11上での出力電極20
の相互間隔の増大を図ることができる。
電極に接続される液晶パネルの接続端子との接続を確実
かつ容易とし、この接続部の信頼性の向上に大きく寄与
する。また、TABテープ11の大型化を防止して第1
のリード回路部分22における各部(22a、22bお
よび22c)での相互間隔を保持することができること
から、半導体装置10の大型化を招くことなく、しかも
第1のリード回路部分22での信頼性の低下を招くこと
なく、出力電極20の相互間隔の増大を図ることができ
る。また、出力電極20の相互間隔と第1のリード回路
部分22における各部(22a、22bおよび22c)
での相互間隔を減少させることなく、TABテープ11
の小型化を図ることも可能である。
導体チップ12を用い、両半導体基板15に組み込まれ
た集積回路部分の相互結線により、単一のドライバ回路
機能が組み込まれた従来のドライバ回路チップと同等の
機能を達成することができ、したがって、1枚の半導体
ウエハから得られる半導体チップ14の数を増加させる
ことができるため生産性が向上し、安価な半導体装置1
0を得ることができる。
2を示す。具体例1では、両チップ部分12の共通端子
18を接続する結線19がデバイスホール14内に配置
された。この例に代えて、図2に示すように、デバイス
ホール14を各チップ部分12ごとの小寸のデバイスホ
ール14aとし、TABテープ11における両デバイス
ホール14a間のブリッジ部11aで、結線19を確実
に保持することができ、これにより結線19の耐久性お
よび信頼性を高めることができる。
接続回路である結線19に関し、図3の具体例3で示す
ように、共通端子18をチップ部分12の他側に配置さ
れる入力端子17の一部として配列し、接続回路である
結線19を第2のリード回路部分23の一部としてTA
Bテープ11上の配線により実現することができる。
に関し、図4の具体例4で示すように、共通端子18ま
たは共通端子として機能する入力端子17から伸びる第
2のリード回路部分23(23a)に分岐路19aを設
け、該分岐路を経て対応する共通端子(17および1
8)を接続することができる。
ル駆動用の1つのドライバを2つのチップ部分12に分
割して形成した例について説明した。これに代えて、図
5の具体例に示すように、3つのチップ部分12(12
a、12bおよび12c)に分割し、これらチップ部分
12の各共通端子18を接続回路である結線19を経て
相互に接続することができる。
のチップ部分12に分割して形成することができ、各チ
ップ部分12を結線すなわち接続回路19により相互に
接続することにより、1つのドライバとして機能させる
ことができる。従って、具体例5の半導体装置10によ
れば、具体例1〜4に示した例に比較して、より大型の
ドライバに有利であり、あるいは、より小さな寸法の半
導体チップ14の適用が可能となる。
の電気的接続によりドライバのような1つの回路機能を
達成することに代えて、図6の具体例6に示すように、
1つのTABテープ11に保持される各チップ12′ご
とに、それぞれの独立した同一のドライバ回路機能を付
与することができる。それぞれがドライバ回路として機
能するチップ12′間には、前記したような共通結線を
不要とすることができる。しかしながら、必要に応じ
て、各チップ12′間に共通の制御信号あるいは電源等
のための結線を保持部材11または保持部材11の外部
に施すことができる。
する集積回路を組み込むことができるが、前記したよう
に、1つのTABテープ11に保持される各チップ1
2′に同一規格の同一機能および同一サイズチップを採
用することにより、実装設計および生産工程の簡素化を
図ることができ、これにより実装設計の効率を高め生産
性の向上を図ることができる。
端子の第2のリード回路部分23での相互接続の簡素化
を図るために、チップ部分12(またはチップ12′)
内での多層配線技術を利用することが望ましい。図7
は、本発明の具体例7を部分的に拡大して示す平面図で
ある。各チップ部分12には、カスケードデータ信号用
入出力端子17と、入力端子の一部として、共通端子1
8およびこの共通端子18に接続される分岐端子18′
とが整列して配置されている。各チップ部分12の各入
出力端子17、入力端子18および18′のうち、両チ
ップ部分12間で相互に接続される共通端子18および
分岐端子18′は、両チップ部分12内を伸びる分割線
l2 を対称軸として、相互に対称的に配置されており、
共通端子18から伸びる内部結線24aの分岐路24b
を介して、対応する共通端子18と分岐端子18′とが
接続されている。
4b)は、集積回路の形成に不可欠な従来よく知られた
多層配線技術を用いて電気的短絡をもたらすことなく容
易に交差配置することができる。このチップ部分12内
での結線(24aおよび24b)の交差配置により、T
ABテープ11上の単層配線で構成される第2のリード
回路部分23の複雑化を招くことなく、チップ部分12
間の所望の配線が可能となる。
は、複数のチップ部分12により1つの液晶パネル駆動
用ドライバとして機能させる例を示したが、図7に示す
各チップ部分12に代えて、それぞれが単一の液晶パネ
ル駆動用ドライバとして機能するチップ12′を適用す
ることができる。
部結線24aの分岐路24bに、該分岐路を経る電気信
号の減衰防止用として、従来よく知られたバッファ25
を挿入することができる。このバッファ25の挿入によ
り、分岐によるファンアウトの影響を無くすことができ
る。
駆動用ドライバに適用した例について説明したが、これ
に限らず、本発明を種々の集積回路チップを含む半導体
装置に適用することができる。
の1つの機能を果たす電気回路が分割されて形成される
各半導体チップ部分の面積およびスリム化は従来に比較
して著しく低減されることから、一枚の半導体ウエハか
ら得られる半導体チップの数が増加し、これに伴い半導
体チップ部分の生産性の向上およびこれを保持部材上で
相互に接続して構成される半導体装置の生産性の向上が
図られる。
必要とする出力端子を複数の半導体チップに分割し、か
つ整列して配置される半導体チップ間に適正な間隔を保
持させることにより、歩留まりの向上に加えて、リード
回路部分の信頼性を確保し、半導体装置の全体的な大型
化を防止し、しかも、各出力電極間の間隔を大きくする
ことができ、これにより、大型化を招くことなく、コン
パクトでありかつ信頼性に優れた比較的安価な半導体装
置を提供することが可能となる。
図である。
図である。
図である。
図である。
図である。
図である。
を拡大して示す平面図である。
を拡大して示す平面図である。
Claims (10)
- 【請求項1】 所定の1つの機能を果たす電気回路が分
割されてなる回路部分がそれぞれに形成された複数の半
導体チップ部分と、該複数の半導体チップ部分を保持す
る単一の保持部材とを含み、該保持部材上の前記半導体
チップ部分の前記回路部分で前記電気回路を構成すべく
前記回路部分を電気的に相互に接続することを特徴とす
る半導体装置。 - 【請求項2】 前記各半導体チップ部分の形状が、長方
形である請求項1記載の半導体装置。 - 【請求項3】 保持部材はTABテープである請求項1
記載の半導体装置。 - 【請求項4】 一側に複数の出力端子および他側に複数
の入力端子がそれぞれ設けられた全体に矩形の複数の半
導体チップと、 前記入力端子および前記出力端子をそれぞれ整列させる
べく前記複数の半導体チップを整列して保持し、前記端
子に対応する入力電極および出力電極がそれぞれ設けら
れる保持部材と、 該保持部材上の前記出力電極および前記出力端子を接続
する第1のリード回路部分と前記入力電極および前記入
力端子を接続する第2のリード回路部分を備えるリード
回路とを含み、 前記半導体チップの前記出力端子に対応する前記出力電
極の間隔は、対応する前記出力端子のそれよりも大き
く、 対応する当該出力電極および出力端子間を接続する前記
第1のリード回路部分は、前記出力端子から前記半導体
チップの縁部とほぼ直角に該半導体チップの外方へ向け
て互いに間隔をおいて伸長する第1の直線部、該第1の
直線部の外端から角度的に外方へ向けて伸長する傾斜伸
長部および該傾斜伸長部の外端から対応する前記出力電
極へ向けて伸長し該出力電極に接続される第2の直線部
とを有し、 前記複数の半導体チップは、相互にそれらの整列方向へ
所定の間隔をおいて前記保持部材に保持されていること
を特徴とする半導体装置。 - 【請求項5】 前記半導体チップは全体に長方形の平面
形状を有し、その長手方向を整列させかつほぼその長手
方向寸法に等しい相互間隔をおいて配置されている請求
項4記載の半導体装置。 - 【請求項6】 前記各半導体チップには、該各半導体チ
ップ間で相互に接続されるべき共通端子が設けられてお
り、前記第2のリード回路部分には、対応する前記共通
端子を接続するための分岐路が設けられている請求項4
記載の半導体装置。 - 【請求項7】 前記各半導体チップには、該各半導体チ
ップ間で相互に接続されるべき共通端子が設けられてお
り、さらに前記半導体チップには、前記共通端子にチッ
プ内配線である分岐路を経て接続される分岐端子が設け
られている請求項4記載の半導体装置。 - 【請求項8】 前記分岐路を経て相互に接続される一方
の前記半導体チップの前記共通端子または前記分岐端子
および他方の前記半導体チップの前記共通端子または前
記分岐端子は、それぞれの半導体チップ内を伸びる分割
線を対称軸として、相互に対称的に配置されている請求
項6または7記載の半導体装置。 - 【請求項9】 前記分岐端子と前記共通端子とを相互に
接続する前記チップ内配線は、多層配線技術により形成
されている請求項7記載の半導体装置。 - 【請求項10】 分岐路には、信号の減衰を防止するた
めのバッファが挿入されている請求項7記載の半導体装
置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31578797A JP3985016B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体装置 |
US09/115,261 US6054763A (en) | 1997-10-31 | 1998-07-14 | Semiconductor device |
EP98114094A EP0915514B1 (en) | 1997-10-31 | 1998-07-28 | Semiconductor device |
DE69841156T DE69841156D1 (de) | 1997-10-31 | 1998-07-28 | Halbleiter |
TW087112610A TW400588B (en) | 1997-10-31 | 1998-07-31 | Semiconductor device |
KR10-1998-0044629A KR100368699B1 (ko) | 1997-10-31 | 1998-10-23 | 반도체장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31578797A JP3985016B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11135555A true JPH11135555A (ja) | 1999-05-21 |
JP3985016B2 JP3985016B2 (ja) | 2007-10-03 |
Family
ID=18069562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31578797A Expired - Fee Related JP3985016B2 (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 半導体装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6054763A (ja) |
EP (1) | EP0915514B1 (ja) |
JP (1) | JP3985016B2 (ja) |
KR (1) | KR100368699B1 (ja) |
DE (1) | DE69841156D1 (ja) |
TW (1) | TW400588B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008091790A (ja) * | 2006-10-04 | 2008-04-17 | Sharp Corp | 半導体パッケージ、及びこれを用いた表示装置 |
JP2009216997A (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-24 | Hitachi Displays Ltd | 液晶表示装置 |
JP2014191174A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Citizen Holdings Co Ltd | マトリックス光学装置 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003330041A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | Sharp Corp | 半導体装置及びそれを備えた表示パネルモジュール |
US7679003B2 (en) * | 2005-05-24 | 2010-03-16 | Nec Electronics Corporation | Carrier tape |
US7876014B2 (en) | 2006-04-27 | 2011-01-25 | Sun Tech Generator Co., Ltd. | Permanent magnet rotor with increased magnetic flux |
KR101306839B1 (ko) * | 2011-11-24 | 2013-09-10 | 이재하 | 신호 분기 기판을 갖는 프로브 카드 |
US9508617B2 (en) * | 2012-03-02 | 2016-11-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Test chip, test board and reliability testing method |
CN109906507B (zh) * | 2016-10-26 | 2023-09-05 | 硅工厂股份有限公司 | 多芯片结构的半导体器件及使用其的半导体模块 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2402995A1 (fr) * | 1977-09-12 | 1979-04-06 | Thomson Csf | Dispositif d'interconnexion de micro-circuits |
JPS61284951A (ja) * | 1985-06-11 | 1986-12-15 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
US4868634A (en) * | 1987-03-13 | 1989-09-19 | Citizen Watch Co., Ltd. | IC-packaged device |
JPH01205457A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-17 | Nec Corp | システム化半導体装置 |
JP2882143B2 (ja) * | 1991-12-10 | 1999-04-12 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の内部配線構造 |
JPH05235092A (ja) * | 1992-02-24 | 1993-09-10 | Nec Corp | 半導体集積回路のtabテープ |
JPH05335451A (ja) * | 1992-05-28 | 1993-12-17 | Mega Chips:Kk | 半導体装置 |
JP2960276B2 (ja) * | 1992-07-30 | 1999-10-06 | 株式会社東芝 | 多層配線基板、この基板を用いた半導体装置及び多層配線基板の製造方法 |
JP3263863B2 (ja) * | 1992-08-11 | 2002-03-11 | ソニー株式会社 | ハイブリッドic用基板とこれを用いたハイブリッドicの製造方法 |
JPH06151685A (ja) * | 1992-11-04 | 1994-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Mcp半導体装置 |
JP2875122B2 (ja) * | 1992-11-20 | 1999-03-24 | 株式会社東芝 | リ−ド・キャリア |
US5917236A (en) * | 1995-12-08 | 1999-06-29 | Hewlett-Packard Company | Packaging system for field effects transistors |
-
1997
- 1997-10-31 JP JP31578797A patent/JP3985016B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-07-14 US US09/115,261 patent/US6054763A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-07-28 DE DE69841156T patent/DE69841156D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-07-28 EP EP98114094A patent/EP0915514B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-07-31 TW TW087112610A patent/TW400588B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-10-23 KR KR10-1998-0044629A patent/KR100368699B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008091790A (ja) * | 2006-10-04 | 2008-04-17 | Sharp Corp | 半導体パッケージ、及びこれを用いた表示装置 |
JP2009216997A (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-24 | Hitachi Displays Ltd | 液晶表示装置 |
JP2014191174A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-10-06 | Citizen Holdings Co Ltd | マトリックス光学装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990044900A (ko) | 1999-06-25 |
KR100368699B1 (ko) | 2003-04-11 |
EP0915514B1 (en) | 2009-09-16 |
US6054763A (en) | 2000-04-25 |
EP0915514A3 (en) | 1999-11-03 |
JP3985016B2 (ja) | 2007-10-03 |
DE69841156D1 (de) | 2009-10-29 |
TW400588B (en) | 2000-08-01 |
EP0915514A2 (en) | 1999-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6300997B1 (en) | Liquid crystal display device having an IC chip mounted on a narrow film wiring board | |
TWI578388B (zh) | Semiconductor device | |
US8648477B2 (en) | Semiconductor chip, film substrate, and related semiconductor chip package | |
US8237267B2 (en) | Semiconductor device having a microcomputer chip mounted over a memory chip | |
JPH11305681A (ja) | 表示装置 | |
JP4641141B2 (ja) | 半導体装置、tcp型半導体装置、tcp用テープキャリア、プリント配線基板 | |
KR20020029623A (ko) | Cof용 테이프 캐리어 및 이를 사용한 cof-구조의반도체 장치 | |
US7288846B2 (en) | Semiconductor chip having pads with plural junctions for different assembly methods | |
JP2568748B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20090091019A1 (en) | Memory Packages Having Stair Step Interconnection Layers | |
US8310068B2 (en) | TCP-type semiconductor device | |
JPH11135555A (ja) | 半導体装置 | |
JP2001351983A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPH1131717A (ja) | 半導体チップ及びそれを備えた表示装置 | |
JP3580207B2 (ja) | 表示装置 | |
JP2002124537A (ja) | 半導体チップの接合構造およびその構造を備えた表示装置 | |
JP2004221260A (ja) | 半導体装置 | |
JP2001185648A (ja) | 半導体装置 | |
JPH07106523A (ja) | 半導体素子及びその製造方法 | |
JP2001215893A (ja) | 表示装置 | |
KR20040076361A (ko) | 신호 완결성 개선 및 칩 사이즈 감소를 위한 패드배치구조를 갖는 반도체 집적 회로장치 | |
JP2001057375A (ja) | 半導体装置の接合構造 | |
JP4202747B2 (ja) | 液晶表示装置およびその検査方法 | |
JPH023259A (ja) | マスタスライス型半導体装置の製造方法 | |
JP2002023187A (ja) | 液晶表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD07 | Notification of extinguishment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427 Effective date: 20000425 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040831 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050426 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050624 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060411 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060612 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070109 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070228 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070327 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070426 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100720 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100720 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100720 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110720 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |