JPH11103420A - 固体撮像素子およびその駆動方法 - Google Patents
固体撮像素子およびその駆動方法Info
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Abstract
ズ除去回路を設け、このノイズ除去回路でノイズ除去を
行ったのでは、カメラシステムの規模が大きなものとな
る。 【解決手段】 フォトダイオード12、選択用MOSト
ランジスタ13および読み出し用MOSトランジスタ1
4からなる単位画素11が行列状に2次元配置され、か
つ垂直信号線15の各々にカラムアンプ19が接続され
てなる固体撮像素子において、先ず垂直信号線15をリ
セット用MOSトランジスタ22でリセットしてそのリ
セットレベルを、次いでフォトダイオード12から垂直
信号線15に画素信号を読み出してその信号レベルを同
一経路(カラムアンプ19や水平選択用MOSトランジ
スタ20等)を経由して水平信号線18に順次出力し、
しかる後CSD回路26でリセットレベルと信号レベル
の差分をとる。
Description
その駆動方法に関し、特に垂直信号線の各々に増幅手段
(カラムアンプ)が接続されてなる固体撮像素子および
そのノイズを除去するための駆動方法に関する。
13に示すように、単位画素101が行列状に2次元配
置され、垂直走査回路102によって垂直選択線103
を介して行選択がなされる構成のものにおいて、垂直信
号線104の各々にカラムアンプ105が接続され、単
位画素101の各々の画素信号がカラムアンプ105に
行単位で蓄えられるとともに、水平走査回路106によ
って列選択がなされ、水平信号線107およびセンスア
ンプ108を介して出力される構成のものが知られてい
る(例えば、米国特許第5,345,266号参照)。
成の従来の固体撮像素子では、単位画素101の各々を
構成するMOSトランジスタの画素ごとのVth(閾
値)のバラツキがそのまま撮像素子の出力信号に乗って
きてしまう。このVthバラツキは、画素ごとに固定の
値を持つため、画面上に固定パターンノイズ(FPN;F
ixed Patern Noise)として現れることになる。
は、デバイスの外部にフレームメモリを用いたノイズ除
去回路を設け、暗時の出力信号(ノイズ成分)および明
時の出力信号(映像成分)の一方を各画素ごとにフレー
ムメモリにあらかじめ記憶しておき、もう一方の画素の
信号との間で引き算を行うことにより、Vthバラツキ
に起因するノイズ成分を除去する必要があった。したが
って、カメラシステムとしては、フレームメモリを用い
たノイズ除去回路を外付けとする分だけ規模が大きくな
ってしまう。
であり、その目的とするところは、固定パターンノイズ
をデバイス内部で抑圧可能な固体撮像素子およびそのノ
イズを除去するための駆動方法を提供することにある。
子は、入射光を光電変換しかつ光電変換によって得られ
た信号電荷を蓄積する光電変換素子、画素を選択する選
択用スイッチおよび光電変換素子から垂直信号線へ信号
電荷を読み出す読み出し用スイッチを有する単位画素が
行列状に2次元配置されてなる画素部と、垂直信号線の
各々に接続され、これら垂直信号線に読み出された信号
電荷を電気信号に変換する複数の増幅手段と、垂直信号
線の各々をリセットする複数のリセット手段とを具備す
る構成となっている。
の固体撮像素子において、先ず垂直信号線をリセットし
てそのリセットレベルを、次いで光電変換素子から垂直
信号線に画素信号を読み出してその信号レベルを同一経
路を経由して順次出力し、しかる後リセットレベルと信
号レベルの差分をとるようにする。
において、各単位画素が選択用スイッチと読み出し用ス
イッチを有することで、画素単位での画素信号の読み出
しが可能となる。そこで、先ず垂直信号線をリセット
し、しかる後各画素信号を垂直信号線に読み出すこと
で、リセットレベルおよび信号レベルがその順番で1画
素ごとに得られる。そして、リセットレベルと信号レベ
ルの差分をとることで、画素の特性のバラツキに起因す
るノイズ成分をキャンセルできる。しかも、リセットレ
ベルおよび信号レベルが同一の経路を通して出力される
ことで、垂直に相関を持つ縦筋状のノイズ成分も原理的
に発生しない。
て図面を参照しつつ詳細に説明する。
構成図である。図1において、破線で囲まれた領域が単
位画素11を表している。この単位画素11は、光電変
換素子であるフォトダイオード(PD)12と、画素を
選択する選択用スイッチである選択用MOSトランジス
タ13と、フォトダイオード12から信号電荷を読み出
す読み出し用スイッチである読み出し用MOSトランジ
スタ14とから構成され、行列状に2次元配置されてい
る。
ード12は入射光を光電変換しかつ光電変換によって得
られた信号電荷を蓄積する機能を持つ、即ち光電変換と
電荷蓄積を兼ねている。このフォトダイオード12のカ
ソード電極と垂直信号線15の間には、選択用MOSト
ランジスタ13および読み出し用MOSトランジスタ1
4が直列に接続されている。そして、選択用MOSトラ
ンジスタ13のゲート電極は垂直選択線16に、読み出
し用MOSトランジスタ14のゲート電極は読み出しパ
ルス線17にそれぞれ接続されている。
の間には、垂直信号線15に読み出された信号電荷を電
圧信号に変換する増幅手段であるカラムアンプ19と、
このカラムアンプ19の出力電圧を選択的に水平信号線
18に出力する水平選択用MOSトランジスタ20が直
列に接続されている。なお、カラムアンプ19として
は、信号電荷を信号電流に変換する回路構成のものであ
っても良い。カラムアンプ19には、キャパシタ21
と、垂直信号線15をリセットするリセット手段である
リセット用MOSトランジスタ22が並列に接続されて
いる。
よび列選択のための水平走査回路24が設けられてい
る。これら走査回路23,24は、例えばシフトレジス
タによって構成される。そして、垂直走査回路23から
出力される垂直走査パルスφVmが垂直選択線16に印
加され、また水平走査回路24から出力される読み出し
パルスφCnが読み出しパルス線17に、水平走査パル
スφHnが水平選択用MOSトランジスタ20のゲート
電極に、リセットパルスφRnがリセット用MOSトラ
ンジスタ22のゲート電極にそれぞれ印加される。
アンプ25を介して例えば相関二重サンプリング回路
(以下、CDS(Correlated Double Sampling)回路と称
する)26が差分回路として設けられている。このCD
S回路26は、単位画素11の各々から水平信号線18
を経由して順次供給されるリセットレベルと信号レベル
の差分をとるために設けられたものであり、差分回路と
しては回路構成が簡単であるという利点を持つ。CDS
回路26の具体的な回路構成については、後で詳細に説
明する。
撮像素子の動作について、図2のタイミングチャートを
用いて図3のポテンシャル図を参照しつつ説明する。な
お、図3から明らかなように、フォトダイオード12
は、npダイオードの表面側にp+ 層からなる正孔蓄積
構造を付加したHAD(Holl Accumulation Diode) セン
サ構成となっている。また、選択用MOSトランジスタ
13および読み出し用MOSトランジスタ14の各ゲー
ト電極13a,14aは、1層のゲート電極からなるダ
ブルゲート構造となっている。ダブルゲート構造を採る
ことで、小面積化が図れる利点がある。
“L”レベル状態にある期間aでは、m行目の画素11
の各々においてフォトダイオード12に信号電荷が蓄積
される一方、他の行の画素において信号電荷の読み出し
が行われる。
ルに遷移すると、m行目の単位画素11の選択用MOS
トランジスタ13がオン状態となり、フォトダイオード
12に蓄積された信号電荷が選択用MOSトランジスタ
13に流れ込む。この状態において、リセットパルスφ
Rnが“H”レベルになると、リセット用MOSトラン
ジスタ22がオン状態となり、n列目の垂直信号線15
がカラムアンプ19の基準電位Vbにリセットされる。
そして、リセットパルスφRnが“L”レベルに遷移
し、しかる後水平走査パルスφHnが“H”レベルとな
ることで、水平選択用MOSトランジスタ20がオン状
態となり、先ずノイズ成分が水平信号線18に出力され
る(期間b)。
“H”レベルに遷移すると、n列目の単位画素11の読
み出し用MOSトランジスタ14がオン状態となり、フ
ォトダイオード12に蓄積されていた信号電荷が、選択
用MOSトランジスタ13および読み出し用MOSトラ
ンジスタ14を通してn列目の垂直信号線15へ読み出
しされる(期間c)。
アンプ19からのフィードバックにより、垂直信号線1
5はカラムアンプ19の基準電位Vbになり、信号に応
じた電荷がキャパシタ21に読み出される(期間d)。
そして、読み出しパルスφCnが“L”レベルに遷移す
ることで、水平走査パルスφHnが“L”レベルに遷移
するまでの期間eにおいて、信号成分が水平信号線18
に出力される。それと同時に、フォトダイオード12で
は次の電荷蓄積が開始される。
(ノイズレベル)と信号成分(信号レベル)の順次出力
が、同一の経路(カラムアンプ19や水平選択用MOS
トランジスタ29など)を経由して水平信号線18上に
伝送される。これらはさらに、水平出力アンプ25を通
してCDS回路26に送られて、相関二重サンプリング
によるノイズキャンセルが行われる。
成の一例を示す。このCDS回路26は、入力端子31
に一端が接続されたクランプキャパシタ33と、このク
ランプキャパシタ33の他端に一方の主電極が接続され
たクランプMOSトランジスタ34と、クランプキャパ
シタ33の他端に一方の主電極が接続されたサンプルホ
ールドMOSトランジスタ35と、このサンプルホール
ドMOSトランジスタ35の他方の主電極とグランドと
の間に接続されたサンプルホールドキャパシタ36と、
サンプルホールドMOSトランジスタ35の他方の主電
極と出力端子38との間に接続されたバッファアンプ3
7とから構成されている。
OSトランジスタ34の他方の主電極にはクランプ電圧
Vclが、そのゲート電極にはクランプパルスφCLが
それぞれ印加される。また、サンプルホールドMOSト
ランジスタ35のゲート電極には、サンプルホールドパ
ルスφSHが印加される。
て用い、順次供給されるノイズ成分と信号成分を使って
相関二重サンプリングを行うことにより、信号成分に含
まれるノイズ成分をキャンセルすることができる。特
に、水平信号線18には同一の経路を通してリセット−
信号の順で出力され、ノイズ成分と信号成分の順次出力
が得られるので、単位画素11のMOSトランジスタの
Vthバラツキのみならず、縦筋状の固定パターンノイ
ズの原因となるリセットノイズ(いわゆるkTCノイ
ズ)をも抑圧できることになる。
タイミングチャートから明らかなように、n列目の読み
出しパルスφCnとn+1列目のリセットパルスφRn
+1を共用することができる。さらに、n列目の水平走
査パルスφHnとn+1列目のリセットパルスφRn+
1を共用するタイミングでも、上述した場合と同じ動作
を得ることができる。
スタ13と読み出し用MOSトランジスタ14の配置を
図1の逆にしても同様の動作を行うことが可能である。
ただし、電荷蓄積を行っているフォトダイオード12側
に、1H(1水平期間)に1回ずつオン/オフを繰り返
す読み出し用MOSトランジスタ14を配置すると、暗
電流の発生原因となる。したがって、図1に示すよう
に、フォトダイオード12側に選択用MOSトランジス
タ13を配置する方が、暗電流の発生を抑えることがで
きるので好ましい。
うに、隣り合う垂直選択線を2本ずつ同時に駆動するこ
とにより、信号電荷の読み出し時に垂直方向における2
画素分の信号電荷が垂直信号線15上で足し合わされる
ため、インターレースに対応したフィールド読み出しを
実現できる。具体的には、垂直走査パルスφVを例え
ば、奇数フィールドでは…,φVm−2とφVm−1,
φVmとφVm+1,φVm+2とφVm+3,…の組
み合わせで、偶数フィールドでは組み合わせを変えて
…,φVm−1とφVm,φVm+1とφVm+2,…
の組み合わせで同時に発生させる。
用MOSトランジスタ13および読み出し用MOSトラ
ンジスタ14の各ゲート電極13a,14aが1層のゲ
ート構造であることから、プロセス的には簡単であり、
又工程数が少ないので安価であるという利点がある。
らゲート電極13a,14aの間にn+ 拡散領域が入っ
てしまうため、期間dから期間eに移行するタイミング
のときに、読み出し用MOSトランジスタ14のゲート
電極14aで発生するフィードスルーのバラツキに起因
するノイズ成分が残ってしまう懸念がある。また、選択
されていない行の画素で発生したオーバーフロー電荷
が、この選択用MOSトランジスタ13と読み出し用M
OSトランジスタ14の間に入り、スミア発生の原因と
なる懸念もある。
実施形態の変形例に係る固体撮像素子では、選択用MO
Sトランジスタ13および読み出し用MOSトランジス
タ14の各ゲート電極13a,14aを2層のゲート電
極からなるダブルゲート構造とし、隣接する部分をオー
バーラップさせた構成を採っている。なお、同図におい
て、期間a〜期間eは、図2のタイミングチャートにお
ける期間a〜期間eのポテンシャル状態を表しており、
基本的な動作は図3の場合と同じである。
3および読み出し用MOSトランジスタ14の各ゲート
電極13a,14aの隣接部分をオーバーラップさせる
ことにより、これらゲート電極13a,14a間に図3
に示すようなn+ 拡散領域が生じないため、期間dから
期間eに移行するタイミングのときに読み出し用MOS
トランジスタ14のゲート電極14aで発生するフィー
ドスルーのバラツキに起因するノイズ成分をも完全に転
送できることになる。
ジスタ14のゲート電極14aに起因するノイズが発生
することはなくなる。また、フォトダイオード12から
オーバーフローした電荷は垂直信号線15に接続された
n+ 拡散領域に直接入るために、信号電荷(画素信号)
の読み出し直前に垂直信号線15のリセットを行うこと
により、スミアは1画素読み出し時間内に発生する電荷
分のみに抑えられることになる。
構成図である。図7において、破線で囲まれた領域が単
位画素51を表している。この単位画素51は、第1実
施形態の場合と同様に、光電変換素子であるフォトダイ
オード(PD)52と、画素を選択する選択用スイッチ
である選択用MOSトランジスタ53と、フォトダイオ
ード52から信号電荷を読み出す読み出し用スイッチで
ある読み出し用MOSトランジスタ54とから構成さ
れ、行列状に2次元配置されている。
ード52のカソード電極と垂直信号線55の間には、読
み出し用MOSトランジスタ54が接続されている。ま
た、読み出し用MOSトランジスタ54のゲート電極と
読み出しパルス線57の間には、選択用MOSトランジ
スタ53が接続されている。この選択用MOSトランジ
スタ53としては、例えばデプレッション型のものが用
いられる。そして、選択用MOSトランジスタ53のゲ
ート電極は垂直選択線56に接続されている。
の間には、垂直信号線55に読み出された信号電荷を電
圧信号に変換するカラムアンプ59と、このカラムアン
プ59の出力電圧を選択的に水平信号線58に出力する
水平選択用MOSトランジスタ60が直列に接続されて
いる。カラムアンプ59には、キャパシタ61と、垂直
信号線55をリセットするリセット用MOSトランジス
タ62が並列に接続されている。
よび列選択のための水平走査回路64が設けられてい
る。これら走査回路63,64は、例えばシフトレジス
タによって構成される。そして、垂直走査回路63から
出力される垂直走査パルスφmが垂直選択線56に印加
され、また水平走査回路64から出力される読み出しパ
ルスφCnが読み出しパルス線57に、水平走査パルス
φHnが水平選択用MOSトランジスタ60のゲート電
極に、リセットパルスφRnがリセット用MOSトラン
ジスタ62のゲート電極にそれぞれ印加される。水平信
号線58の出力端側には、水平出力アンプ65を介して
例えば図4に示す回路構成のCDS回路66が差分回路
として設けられている。
撮像素子の動作について、図8のタイミングチャートを
用いて図9および図10のポテンシャル図を参照しつつ
説明する。なお、図9および図10から明らかなよう
に、フォトダイオード52は、npダイオードの表面側
にp+ 層からなる正孔蓄積構造を付加したHADセンサ
構成となっている。
“L”レベル状態にある期間aでは、m行目の画素51
の各々においてフォトダイオード52に信号電荷が蓄積
される一方、他の行の画素において信号電荷の読み出し
が行われる。
ルに遷移すると、m行目の単位画素51の選択用MOS
トランジスタ53がオン状態となる。この状態におい
て、リセットパルスφRnが“H”レベルになると、リ
セット用MOSトランジスタ62がオン状態となり、n
列目の垂直信号線55がカラムアンプ69の基準電位V
bにリセットされる。そして、リセットパルスφRnが
“L”レベルに遷移し、同時に水平走査パルスφHnが
“H”レベルとなることで、水平選択用MOSトランジ
スタ60がオン状態となり、先ずノイズ成分が水平信号
線58に出力される(期間b)。
“H”レベルに遷移すると、既にオン状態にある選択用
MOSトランジスタ53を通じて読み出し用MOSトラ
ンジスタ54のゲート電極に読み出しパルスφCnが印
加される。これにより、フォトダイオード52に蓄積さ
れていた信号電荷が、読み出し用MOSトランジスタ5
4を通してn列目の垂直信号線55へ読み出される(期
間c)。
アンプ59からのフィードバックにより、垂直信号線5
5はカラムアンプ59の基準電位Vbになり、信号に応
じた電荷がキャパシタ61に読み出される(期間d)。
そして、読み出しパルスφCnが“L”レベルに遷移す
ることで、水平走査パルスφHnが“L”レベルに遷移
するまでの期間eにおいて、信号成分が水平信号線58
に出力される。それと同時に、フォトダイオード62で
は次の電荷蓄積が開始される。
の場合と同様に、ノイズ成分(ノイズレベル)と信号成
分(信号レベル)の順次出力が水平信号線58上に得ら
れ、これらはさらに、水平出力アンプ65を通してCD
S回路66に送られて、相関二重サンプリングによるノ
イズキャンセルが行われる。
Sトランジスタ53のソース、ドレインを通して読み出
し用MOSトランジスタ54のゲート電極に読み出しパ
ルスφCnを与えるようにしているので、選択用MOS
トランジスタ53および読み出し用MOSトランジスタ
54のkTCノイズの発生を抑えることができる。この
場合には、選択用MOSトランジスタ53および読み出
し用MOSトランジスタ54の各ゲート電極を1層のゲ
ート電極で構成できることから、プロセス的には簡単
で、又工程数が少なく安価であるという利点もある。
てデプレッション型MOSトランジスタを用いたこと
で、以下のような利点がある。
で読み出し用MOSトランジスタ54のゲート電極に0
Vが印加される。これに対し、通常のエンハンスメント
型MOSトランジスタを用いた場合は、信号電荷の蓄積
期間では、図11の期間aに示すように、選択用MOS
トランジスタ53がオフ状態にあるので、読み出し用M
OSトランジスタ54のゲート電極に0Vが印加されな
い。したがって、1フィールド期間、読み出し用MOS
トランジスタ54は電位をホールドしておかなければな
らない。しかし、逆バイアスリーク電流や光の漏れ込み
などが大きいとゲートの電位がホールドできず、1フィ
ールドの期間中で変化してしまう。
テンシャルの合わせ込みにより、読み出し用MOSトラ
ンジスタ54がエンハンスメント型となっても、選択用
MOSトランジスタ53にデプレッション型を用いれ
ば、図10の期間fのタイミングで読み出し用MOSト
ランジスタ54のゲート電極にプラスの電位がかかり、
オーバーフロー動作が可能となる。その結果、ブルーミ
ングを抑えられる。
ンジスタ53としてデプレッション型MOSトランジス
タを用いるとしたが、これに限定されるものではなく、
上述した如きデプレッション型特有の効果は得られない
ものの、エンハンスメント型を用いた場合であっても、
先述した本実施形態特有の効果を得ることは可能であ
る。図11および図12に、選択用MOSトランジスタ
53としてエンハンスメント型MOSトランジスタを用
いた場合のポテンシャル図を示す。
合にも、第1実施形態に係る固体撮像素子の場合と同様
に、図5のタイミングチャートに示すように、隣り合う
垂直選択線を2本ずつ同時に駆動することにより、イン
ターレースに対応したフィールド読み出しを実現でき
る。
垂直信号線の各々にカラムアンプが接続されてなる固体
撮像素子において、各画素の信号を画素単位で読み出し
可能な構成とし、先ず垂直信号線をリセットしてそのリ
セットレベルを、次いで光電変換素子から垂直信号線に
画素信号を読み出してその信号レベルを同一経路を経由
して順次出力し、しかる後リセットレベルと信号レベル
の差分をとるようにしたので、単位画素ごとの特性バラ
ツキに起因する固定パターンノイズおよび垂直に相関を
持つ縦筋状の固定パターンノイズをデバイス内部で抑圧
できる。これにより、当該固体撮像素子を撮像デバイス
として用いるカメラシステムの規模の縮小化に寄与でき
ることになる。
る。
グチャートである。
ャル図である。
ャートである。
ポテンシャル図である。
る。
グチャートである。
ャル図(その1)である。
シャル図(その2)である。
の1)である。
の2)である。
(光電変換素子)、13,53…選択用MOSトランジ
スタ、14,54…読み出し用MOSトランジスタ、1
5,55…垂直信号線、16,56…垂直選択線、1
7,57…読み出しパルス線、18,58…水平信号
線、19,59…カラムアンプ、20,60…水平選択
用MOSトランジスタ、22,62…リセット用MOS
トランジスタ、23,63…垂直走査回路、24,64
…水平走査回路、26,66…CDS(相関二重サンプ
リング)回路
Claims (15)
- 【請求項1】 入射光を光電変換しかつ光電変換によっ
て得られた信号電荷を蓄積する光電変換素子、画素を選
択する選択用スイッチおよび前記光電変換素子から垂直
信号線へ信号電荷を読み出す読み出し用スイッチを有す
る単位画素が行列状に2次元配置されてなる画素部と、 前記垂直信号線の各々に接続され、これら垂直信号線に
読み出された信号電荷を電気信号に変換する複数の増幅
手段と、 前記垂直信号線の各々をリセットする複数のリセット手
段とを具備することを特徴とする固体撮像素子。 - 【請求項2】 前記光電変換素子は、HADセンサ構成
のフォトダイオードであることを特徴とする請求項1記
載の固体撮像素子。 - 【請求項3】 前記リセット手段は、1画素前の読み出
しタイミング又は水平走査タイミングに同期して前記垂
直信号線をリセットすることを特徴とする請求項1記載
の固体撮像素子。 - 【請求項4】 前記リセット手段は、前記光電変換素子
からの信号電荷の読み出し直前で前記垂直信号線をリセ
ットすることを特徴とする請求項1記載の固体撮像素
子。 - 【請求項5】 前記選択用スイッチおよび前記読み出し
用スイッチは、前記光電変換素子と前記垂直信号線との
間に直列に接続されていることを特徴とする請求項1記
載の固体撮像素子。 - 【請求項6】 前記選択用スイッチが前記光電変換素子
側に配されていることを特徴とする請求項5記載の固体
撮像素子。 - 【請求項7】 前記選択用スイッチおよび前記読み出し
用スイッチは、ダブルゲート構造のMOSトランジスタ
からなることを特徴とする請求項5記載の固体撮像素
子。 - 【請求項8】 前記選択用スイッチおよび前記読み出し
用スイッチの各ゲート電極は2層のゲート電極からな
り、隣接する部分がオーバーラップしていることを特徴
とする請求項7記載の固体撮像素子。 - 【請求項9】 前記読み出し用スイッチは前記光電変換
素子と前記垂直信号線との間に接続され、前記選択用ス
イッチは前記読み出し用スイッチの制御電極と読み出し
パルス線との間に接続されていることを特徴とする請求
項1記載の固体撮像素子。 - 【請求項10】 前記選択用スイッチは、デプレッショ
ン型MOSトランジスタからなることを特徴とする請求
項9記載の固体撮像素子。 - 【請求項11】 前記垂直信号線と水平信号線との間
に、前記リセット手段によるリセット時の前記垂直信号
線上のリセットレベルとリセット後に前記垂直信号線上
に読み出された信号レベルとを共通に出力する水平選択
用スイッチを備えたことを特徴とする請求項1記載の固
体撮像素子。 - 【請求項12】 前記水平選択用スイッチによって順次
出力された前記リセットレベルと前記信号レベルの差分
をとる差分回路を備えたことを特徴とする請求項11記
載の固体撮像素子。 - 【請求項13】 前記差分回路は相関二重サンプリング
回路であることを特徴とする請求項12記載の固体撮像
素子。 - 【請求項14】 入射光を光電変換しかつ光電変換によ
って得られた信号電荷を蓄積する光電変換素子、画素を
選択する選択用スイッチおよび前記光電変換素子から垂
直信号線へ信号電荷を読み出す読み出し用スイッチを有
する単位画素が行列状に2次元配置されてなる画素部
と、前記垂直信号線の各々に接続され、これら垂直信号
線に読み出された信号電荷を電圧信号に変換する複数の
増幅手段とを具備する固体撮像素子において、 先ず前記垂直信号線をリセットしてそのリセットレベル
を、次いで前記光電変換素子から前記垂直信号線に画素
信号を読み出してその信号レベルを同一経路を経由して
順次出力し、 しかる後前記リセットレベルと前記信号レベルの差分を
とることを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - 【請求項15】 隣り合う垂直選択線2本ずつを同時に
順次駆動し、かつ垂直信号線上で垂直方向における2画
素分の信号電荷を混合することを特徴とする請求項14
記載の固体撮像素子の駆動方法。
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DE69837238T DE69837238T2 (de) | 1997-09-26 | 1998-09-18 | Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zu ihrer Ansteuerung |
US09/159,569 US6842192B1 (en) | 1997-09-26 | 1998-09-24 | Solid state image pickup device having an amplifier for each vertical signal line and driving method therefor |
CNB981203981A CN1156147C (zh) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | 固态图象拾取器件及其驱动方法 |
KR1019980039901A KR100616044B1 (ko) | 1997-09-26 | 1998-09-25 | 고체촬상소자 및 그 구동방법 |
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---|---|---|---|
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Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006347563A Division JP2007135227A (ja) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | 固体撮像素子および固体撮像素子の駆動方法 |
Publications (2)
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---|---|
JPH11103420A true JPH11103420A (ja) | 1999-04-13 |
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DE (1) | DE69837238T2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001235794A (ja) * | 1999-12-07 | 2001-08-31 | Semiconductor Insights Inc | 電気センサ装置、及び変換器素子のアレイから電気信号を生成する方法 |
JP2002352589A (ja) * | 2001-05-25 | 2002-12-06 | Fujitsu Ltd | 連想記憶装置及びプリチャージ方法 |
JP2003032554A (ja) * | 2001-07-17 | 2003-01-31 | Canon Inc | 撮像装置 |
JP2005526985A (ja) * | 2002-05-24 | 2005-09-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 結像および照射量測定用のx線検出器配列 |
WO2006126539A1 (ja) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Hamamatsu Photonics K.K. | 光検出装置 |
JP2009538099A (ja) * | 2006-05-19 | 2009-10-29 | ザ・トラスティーズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ペンシルバニア | Cmosリニア電圧/電流デュアル・モード・イメージャ |
JP2010051025A (ja) * | 2009-11-30 | 2010-03-04 | Canon Inc | 撮像装置 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11346331A (ja) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Sony Corp | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
KR100528691B1 (ko) * | 1998-12-16 | 2006-02-28 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 이미지촬영장치 |
AU773735B2 (en) * | 2000-01-14 | 2004-06-03 | Brown University Research Foundation | Micronized freeze-dried particles |
GB0026205D0 (en) * | 2000-10-26 | 2000-12-13 | Koninkl Philips Electronics Nv | An image sensor |
WO2002098112A2 (en) * | 2001-05-29 | 2002-12-05 | Transchip, Inc. | Patent application cmos imager for cellular applications and methods of using such |
US7738013B2 (en) * | 2001-05-29 | 2010-06-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Systems and methods for power conservation in a CMOS imager |
JP4195802B2 (ja) * | 2001-09-21 | 2008-12-17 | イーエヌジー株式会社 | 半導体撮像素子 |
JP3641260B2 (ja) * | 2002-09-26 | 2005-04-20 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置 |
US7068446B2 (en) * | 2003-05-05 | 2006-06-27 | Illumitech Inc. | Compact non-imaging light collector |
JP4207659B2 (ja) * | 2003-05-16 | 2009-01-14 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、ならびにカメラ装置 |
KR20050077434A (ko) * | 2004-01-28 | 2005-08-02 | 삼성전자주식회사 | 소비 전력을 줄일 수 있는 고체 촬상 장치 |
KR100871687B1 (ko) * | 2004-02-11 | 2008-12-05 | 삼성전자주식회사 | 서브 샘플링 모드에서 디스플레이 품질을 개선한 고체촬상 소자 및 그 구동 방법 |
JP2005348041A (ja) * | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Canon Inc | 固体撮像装置および撮像システム |
JP4793281B2 (ja) * | 2007-02-21 | 2011-10-12 | ソニー株式会社 | 撮像装置および表示装置 |
JP2013089980A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-13 | Sony Corp | 駆動装置、駆動方法、及びプログラム |
FR2985839B1 (fr) * | 2012-01-16 | 2014-02-07 | Soitec Silicon On Insulator | Circuit et procede pour detecter une difference de tension sur une paire de lignes de signal duales, en particulier par un transistor d'egalisation |
CN111263089B (zh) * | 2020-05-06 | 2020-10-16 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 像素、图像传感器及电子装置 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4041519A (en) * | 1975-02-10 | 1977-08-09 | Melen Roger D | Low transient effect switching device and method |
JPS5983475A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-05-14 | シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト | 二次元半導体画像センサおよびその操作方法 |
JPS5983476A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-05-14 | シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト | 二次元半導体画像センサおよびその操作方法 |
JPS60167578A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-08-30 | トムソン−セエスエフ | 低温槽用の赤外線検出装置 |
JPS62104074A (ja) * | 1985-10-30 | 1987-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 固体撮像素子 |
JPS62154981A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-09 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子 |
JPS6376583A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Canon Inc | 固体撮像装置 |
JPS63294182A (ja) * | 1987-05-27 | 1988-11-30 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
JPS63292784A (ja) * | 1987-05-25 | 1988-11-30 | Canon Inc | 信号読出し回路 |
JPH0321175A (ja) * | 1989-03-27 | 1991-01-29 | Hughes Aircraft Co | 容量性フィードバックトランスインピーダンス増幅器を使用する焦点平面アレイ読取り装置 |
JPH043588A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Canon Inc | 固体撮像装置 |
JPH05219302A (ja) * | 1991-11-27 | 1993-08-27 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサ回路 |
JPH07169929A (ja) * | 1993-12-14 | 1995-07-04 | Sony Corp | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JPH08293592A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
JPH08331458A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
JPH0951485A (ja) * | 1995-08-03 | 1997-02-18 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子 |
JPH0955883A (ja) * | 1995-08-10 | 1997-02-25 | Sony Corp | 固体撮像素子の駆動方法 |
JPH09139891A (ja) * | 1995-11-14 | 1997-05-27 | Nikon Corp | 光電変換装置およびこれを用いた固体撮像装置 |
JPH09219823A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-08-19 | Alps Electric Co Ltd | 密着型エリアセンサ |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4242706A (en) * | 1978-11-13 | 1980-12-30 | Texas Instruments Incorporated | Visible light and near infrared imaging device |
JPS58151180A (ja) * | 1982-03-03 | 1983-09-08 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
US4679068A (en) * | 1985-07-25 | 1987-07-07 | General Electric Company | Composite visible/thermal-infrared imaging system |
JPS63100879A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-02 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
US4958085A (en) * | 1987-10-30 | 1990-09-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Scanning circuit outputting scanning pulse signals of two or more phases |
EP0493455B1 (en) * | 1989-09-23 | 1994-11-23 | Vlsi Vision Limited | I.c. sensor |
JP2993144B2 (ja) * | 1991-02-22 | 1999-12-20 | 株式会社デンソー | イメージセンサ |
JP3254007B2 (ja) * | 1992-06-09 | 2002-02-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 薄膜状半導体装置およびその作製方法 |
JP3287056B2 (ja) * | 1993-03-24 | 2002-05-27 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US5543838A (en) * | 1993-08-31 | 1996-08-06 | Xerox Corporation | Signal multiplexing system for an image sensor array |
JP3253808B2 (ja) * | 1994-07-07 | 2002-02-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置およびその作製方法 |
FR2736782B1 (fr) * | 1995-04-07 | 1997-11-14 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de lecture d'une matrice de detecteurs photoniques |
US6169286B1 (en) * | 1995-07-31 | 2001-01-02 | 1294339 Ontario, Inc. | Method and apparatus for operating a dual gate TFT electromagnetic radiation imaging device |
US6320617B1 (en) * | 1995-11-07 | 2001-11-20 | Eastman Kodak Company | CMOS active pixel sensor using a pinned photo diode |
DE69525535T2 (de) * | 1995-11-21 | 2002-11-28 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza | Adaptiver optischer Sensor |
US5831258A (en) * | 1996-08-20 | 1998-11-03 | Xerox Corporation | Pixel circuit with integrated amplifer |
JP3832902B2 (ja) * | 1996-08-30 | 2006-10-11 | 本田技研工業株式会社 | 半導体イメージセンサ |
US5973311A (en) * | 1997-02-12 | 1999-10-26 | Imation Corp | Pixel array with high and low resolution mode |
JPH10248034A (ja) * | 1997-03-03 | 1998-09-14 | Nissan Motor Co Ltd | イメージセンサ |
US6037577A (en) * | 1997-03-11 | 2000-03-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Amplifying solid-state image pickup device and operating method of the same |
US5898168A (en) * | 1997-06-12 | 1999-04-27 | International Business Machines Corporation | Image sensor pixel circuit |
EP1711002A3 (en) * | 1997-08-15 | 2011-06-08 | Sony Corporation | Solid-state image sensor and method of driving same |
US6680223B1 (en) * | 1997-09-23 | 2004-01-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
-
1997
- 1997-09-26 JP JP26120797A patent/JP3918248B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-09-18 EP EP98117782A patent/EP0905787B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-09-18 DE DE69837238T patent/DE69837238T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-09-24 US US09/159,569 patent/US6842192B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-09-25 KR KR1019980039901A patent/KR100616044B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-09-25 CN CNB981203981A patent/CN1156147C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4041519A (en) * | 1975-02-10 | 1977-08-09 | Melen Roger D | Low transient effect switching device and method |
JPS5983475A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-05-14 | シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト | 二次元半導体画像センサおよびその操作方法 |
JPS5983476A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-05-14 | シ−メンス・アクチエンゲゼルシヤフト | 二次元半導体画像センサおよびその操作方法 |
JPS60167578A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-08-30 | トムソン−セエスエフ | 低温槽用の赤外線検出装置 |
JPS62104074A (ja) * | 1985-10-30 | 1987-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 固体撮像素子 |
JPS62154981A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-09 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子 |
JPS6376583A (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-06 | Canon Inc | 固体撮像装置 |
JPS63292784A (ja) * | 1987-05-25 | 1988-11-30 | Canon Inc | 信号読出し回路 |
JPS63294182A (ja) * | 1987-05-27 | 1988-11-30 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
JPH0321175A (ja) * | 1989-03-27 | 1991-01-29 | Hughes Aircraft Co | 容量性フィードバックトランスインピーダンス増幅器を使用する焦点平面アレイ読取り装置 |
JPH043588A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Canon Inc | 固体撮像装置 |
JPH05219302A (ja) * | 1991-11-27 | 1993-08-27 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサ回路 |
JPH07169929A (ja) * | 1993-12-14 | 1995-07-04 | Sony Corp | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JPH08293592A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
JPH08331458A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
JPH0951485A (ja) * | 1995-08-03 | 1997-02-18 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子 |
JPH0955883A (ja) * | 1995-08-10 | 1997-02-25 | Sony Corp | 固体撮像素子の駆動方法 |
JPH09139891A (ja) * | 1995-11-14 | 1997-05-27 | Nikon Corp | 光電変換装置およびこれを用いた固体撮像装置 |
JPH09219823A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-08-19 | Alps Electric Co Ltd | 密着型エリアセンサ |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001235794A (ja) * | 1999-12-07 | 2001-08-31 | Semiconductor Insights Inc | 電気センサ装置、及び変換器素子のアレイから電気信号を生成する方法 |
JP2002352589A (ja) * | 2001-05-25 | 2002-12-06 | Fujitsu Ltd | 連想記憶装置及びプリチャージ方法 |
JP2003032554A (ja) * | 2001-07-17 | 2003-01-31 | Canon Inc | 撮像装置 |
JP2005526985A (ja) * | 2002-05-24 | 2005-09-08 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 結像および照射量測定用のx線検出器配列 |
WO2006126539A1 (ja) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Hamamatsu Photonics K.K. | 光検出装置 |
JP2006332796A (ja) * | 2005-05-23 | 2006-12-07 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
JP2009538099A (ja) * | 2006-05-19 | 2009-10-29 | ザ・トラスティーズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・ペンシルバニア | Cmosリニア電圧/電流デュアル・モード・イメージャ |
US8471189B2 (en) | 2006-05-19 | 2013-06-25 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | CMOS linear voltage/current dual-mode imager |
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