JPH10248034A - イメージセンサ - Google Patents

イメージセンサ

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JPH10248034A
JPH10248034A JP9063770A JP6377097A JPH10248034A JP H10248034 A JPH10248034 A JP H10248034A JP 9063770 A JP9063770 A JP 9063770A JP 6377097 A JP6377097 A JP 6377097A JP H10248034 A JPH10248034 A JP H10248034A
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JP
Japan
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transistor
line
output
data line
address line
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JP9063770A
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English (en)
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Tronnamuchai Kleison
トロンナムチャイ クライソン
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Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/625Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of smear
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 スミアやシェーディングなどの偽信号の発生
を防止する。 【解決手段】 フォトダイオードDがトランジスタS1
を介してデータ線DL1に接続され、また水平アドレス
線X1に接続されてトランジスタS1を制御するトラン
ジスタS2のゲートが垂直アドレス線に接続されてい
る。データ線は低入力インピーダンスのバッファB1に
入力接続し、バッファの出力はトランジスタQ1を介し
て出力線OLに出力される。 垂直アドレス線Y1と水
平アドレス線X1が選択されるとトランジスタS2がタ
ーンオンし、これによりトランジスタS1がターンオン
して、フォトダイオードDに蓄えられた電荷がデータ線
DL1に送出され,トランジスタQ1を経て送出され
る。雑音電荷は入力インピーダンスが低いバッファB1
の方へ流れ出すからデータ線に蓄積されず、偽信号の発
生が抑えられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、受光素子を用い
たイメージセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のイメージセンサとしては、例え
ば、図12に示すようなものがある。このイメージセン
サは、受光素子であるフォトダイオードDとフォトダイ
オードを選択的にデータ線に接続するスイッチ用のMO
S型のトランジスタS11から構成される複数の画素F
C5a、FC5b、FC5c、FC5dが2次元状に配
置されている。
【0003】水平アドレス線X1と垂直アドレス線Y1
に対応する画素FC5aを例にとり、その構成を説明す
る。フォトダイオードDは、トランジスタS11を介し
てデータ線DL1に接続されている。トランジスタS1
1のゲートは、垂直アドレス線Y1に接続されている。
データ線DL1は、このデータ線DL1を選択的に出力
線OLに接続するスイッチ用のMOS型のトランジスタ
Q4を介して、出力線OLに接続されている。出力線O
Lは、出力バッファOBを介して出力端子Pに接続され
ている。トランジスタQ4のゲートは、水平アドレス線
X1に接続されている。垂直アドレス線Y1および水平
アドレス線X1は、それぞれシフトレジスタからなる垂
直アドレス走査回路YDおよび水平アドレス走査回路X
Dに接続されている。
【0004】このイメージセンサでは、トランジスタS
11がオフされている期間に、入射光量に応じて光電変
換された電荷がフォトダイオードDに蓄積される。ま
ず、垂直アドレス線Y1が選択されると、トランジスタ
S11がオンになり、フォトダイオードDに蓄積された
電荷がデータ線DL1に分配される、次に水平アドレス
線X1が選択されるとトランジスタQ4がオンになり、
データ線DL1は出力線OLと接続され、データ線DL
1の電荷は出力線OLを介して出力バッファOBへ送ら
れる。これにより、フォトダイオードDに蓄えられた電
荷を読み出すことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来のイメージセンサでは、スミアやシェーディング
等の偽信号が発生するという問題があった。まず、スミ
アについて説明する。垂直アドレス線が選択されている
間は、その垂直アドレス線に接続されている行のフォト
ダイオードはすべてが、それぞれのデータ線に接続され
る。例えば、画素FC5aのフォトダイオードDの電荷
を読み出すために垂直アドレス線Y1を選択すると、画
素FC5aのフォトダイオードDに蓄えられた電荷がデ
ータ線DL1に分配されると同時に、画素FC5cのフ
ォトダイオードDに蓄えられた電荷もデータ線DL2に
分配される。一方、データ線DL2と出力線OLを接続
するトランジスタQ4がオフしているので、データ線D
L2は、ハイ・インピーダンス状態になっている。した
がって、分配された電荷がデータ線DL2に蓄えられ、
データ線DL2の電位が上昇することになる。
【0006】画素FC5cのフォトダイオードDに入射
した光量が大きいと、その電荷も多いため、データ線D
L2の電位が高くなり、データ線DL2に接続している
他の画素FC5dのトランジスタS11のしきい値を越
えてしまい、そのトランジスタS11はオフ状態を保て
なくなり、データ線DL2内の電荷がトランジスタS1
1を通して画素FC5dのフォトダイオードDへ漏れ、
蓄積される。
【0007】この現象はデータ線の飽和と呼ばれ、スミ
アの原因となる。データ線が飽和していなければ、図1
3の(a)に示すような画像が得られる場合に、光源H
の列のデータ線が飽和すると、図13の(b)に示すよ
うに、あたかもその列のすべての画素に強い光が入射し
たかのようなスミアSUが発生した画像になる。なお、
MOSトランジスタがP型でもN型でもスミアは発生
し、また、フォトダイオードが太陽電池モードで動作し
ていても同様である。スミアの発生を予防するため、ダ
イナミック・レンジを下げて使用することが行われてい
るが、そうすると、野外撮影や夜間の撮影のときに、レ
ンジ不足のため十分な画像が得られなくなる。
【0008】次に、シェーディングについて説明する。
真っ暗な状態でイメージセンサを使用した時等の、全て
のフォトダイオードDに入射光がない場合に、読み出し
が行われるとシェーディングが発生することがある。読
み出しは、まず垂直アドレス線Y1が選択され、次に水
平アドレス線X1、X2の順で選択される。画素FC5
aのトランジスタS11やデータ線DL1に接続されて
いるトランジスタQ4がオンする際、外部から電荷が供
給され、供給された電荷の一部が、ゲート・基板間の寄
生容量を通って、基板へ漏れる。基板へ漏れた電荷は、
容量結合や拡散によって画素FC5cや画素FC5d内
のトランジスタS11のソースおよびドレインに注入さ
れる。
【0009】この時データ線DL2に接続されているト
ランジスタQ4がオフしているから、データ線DL2が
ハイ・インピーダンス状態になっており、漏れた電荷は
S11のソースに接続しているデータ線DL2に蓄えら
れる。次に、データ線DL2が選択されると、DL2に
接続されているトランジスタQ4がオンになり、蓄えら
れた漏れ電荷が偽信号として読み出される。アドレス線
の走査が進むにつれて、漏れ電荷が加算されていくた
め、その画像は図13の(c)に示すような矢示の走査
方向で明るさが増加していく画像となる。
【0010】さらに、このイメージセンサは、画像処理
に用いる際にランダムアクセスができないという問題が
ある。すなわち、画像処理を行う際には、任意の画素を
任意の順番で読み出すランダムアクセス機能が必要であ
る。しかし、この従来のイメージセンサでは、読み出し
が2段階に分かれて行われ、まず垂直アドレス線Yが選
択され、その行のフォトダイオードDに蓄えられた電荷
がそれぞれ接続されたデータ線DLに分配される。次に
水平アドレス線Xが選択され、それぞれのDLの電荷が
出力線OLに読みだされる。
【0011】例えば、FC5aのフォトダイオードDの
電荷を読み出す時に、FC5cのフォトダイオードDの
電荷もデータ線DL2に分配されてしまう。次に、FC
5dのフォトダイオードDの電荷を読みだそうとする
と、まず、データ線DL2の電荷を捨てる為に、一回ダ
ミー読み出しを行い、データ線DL2をリセットしなけ
ればならない。FC5dのフォトダイオードDを読み出
すと、FC5cのフォトダイオードDの電荷が捨てられ
てしまい、次にFC5cのフォトダイオードDの電荷を
読み出すことができない。
【0012】したがって本発明は上記従来の問題点に鑑
み、スミアやシェーディングなどの偽信号の発生を防止
でき、また、ランダムアクセスが可能なイメージセンサ
を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】このため、請求項1記載
の本発明は、平面状に配置され、水平アドレス線および
垂直アドレス線により選択され、データ線に接続される
複数の画素を備えたイメージセンサにおいて、画素のそ
れぞれが受光素子と、当該画素に対応する水平アドレス
線および垂直アドレス線の両方が選択されたとき受光素
子をデータ線に接続するスイッチ手段を備え、データ線
が低入力インピーダンスを有する読み出し手段を介して
出力線に接続されているものとした。
【0014】上記スイッチ手段は、受光素子を選択的に
データ線に接続する第1のスイッチ手段と、水平アドレ
ス線および垂直アドレス線の両方が選択されたときに第
1のスイッチ手段をオンにする第2のスイッチ手段とか
らなり、第2のスイッチ手段がトランジスタから構成さ
れ、トランジスタのゲートが水平アドレス線または垂直
アドレス線の一方に接続され、ゲート以外の電極の一方
が水平アドレス線または垂直アドレス線の他方に接続さ
れ、他方の電極が第1のスイッチ手段に接続されている
ものとすることができる。
【0015】第1のスイッチ手段には、さらに、水平ア
ドレス線および垂直アドレス線の非選択時に第1のスイ
ッチ手段に残存する電荷を放電する電荷放電手段を付設
するのが好ましい。また、上記の受光素子をフォトダイ
オードとし、第1のスイッチ手段をトランジスタで構成
し、このトランジスタのゲートを第2のスイッチ手段と
接続し、ゲート以外の電極の一方をフォトダイオードに
接続し、他方の電極をデータ線に接続するとともに、電
荷放電手段は第1のスイッチ手段のゲートを固定電位に
接続する抵抗または電流源から構成することができる。
【0016】また、請求項5記載の発明は、画素のそれ
ぞれが、受光素子としてのフォトダイオードと、このフ
ォトダイオードのアノードをデータ線に接続する第1の
トランジスタと、カソードを固定電位に接続する第2の
トランジスタとを備え、第1のトランジスタのゲートが
水平アドレス線および垂直アドレス線の一方に接続され
るとともに、第2のトランジスタのゲートが水平アドレ
ス線および垂直アドレス線の他方に接続され、データ線
が低入力インピーダンスを有する読み出し手段を介して
出力線に接続されているものとした。
【0017】各発明において、上記読み出し手段は、低
入力インピーダンスを有するバッファまたは増幅器と、
当該読み出し手段に接続するデータ線に受光素子が接続
されたときのみバッファまたは増幅器の出力と出力線の
接続を許す出力選択手段とから構成することができる。
【0018】あるいはまた、読み出し手段は、低入力イ
ンピーダンスおよび高出力インピーダンスを有するバッ
ファまたは増幅器を有し、そのバッファまたは増幅器の
出力を出力線に直接接続するものとすることもできる。
この際、低入力インピーダンスおよび高出力インピーダ
ンスのバッファまたは増幅器は、ソース接地型のトラン
ジスタ回路、カレント・ミラー回路、あるいはゲート接
地型トランジスタ回路を備えるものとすることができ
る。
【0019】
【作用】請求項1のものでは、各画素において、スイッ
チ手段が水平アドレス線および垂直アドレス線の両方が
選択されたとき当該画素の受光素子をデータ線に接続す
る。すなわち、図14に示すように、例えばフォトダイ
オードDなどの受光素子とデータ線を接続するスイッチ
手段として例えばトランジスタS12を配置し、このス
イッチ手段を垂直アドレスと水平アドレスの複合アドレ
ス(xi・yj)(i=1、2、・・・、j=1、2、
・・・)で制御するので、各画素を独立に読み出せ、ラ
ンダムアクセスが可能になる。
【0020】ところで、データ線と出力線を直接接続す
ると、出力線の寄生容量が増大するという新たな問題が
生じる。すなわち、総てのデータ線が出力線に接続され
れば、総ての画素内のスイッチの寄生容量が出力線の寄
生容量として働き、出力線の寄生容量が大きくなり、応
答速度が遅くなってしまう。例えば、画素数が512×
512個ある場合には、512×512個分のスイッチ
の寄生容量がデータ線に接続される。従来例では出力線
に接続するスイッチは512×2個であるので、出力線
の寄生容量は、従来例の寄生容量の(512×512)
/(512×2)=256倍になることになる。
【0021】本発明ではデータ線が低入力インピーダン
スを有する読み出し手段を介して出力線に接続されてい
るので、データ線がハイ・インピーダンスになることが
防止され、出力線の寄生容量が増大しない。データ線が
ハイ・インピーダンスになることがないため、スミアや
シェーディングも防止される。
【0022】なお、スイッチ手段を第1のスイッチ手段
と第2のスイッチ手段に分けることにより、それぞれト
ランジスタを用いて簡単に構成される。また、受光素子
を選択的にデータ線に接続する第1のスイッチ手段に、
そのトランジスタのゲートを抵抗等により固定電位に接
続するなどの電荷放電手段を付設することにより、水平
アドレス線および垂直アドレス線の非選択時に第1のス
イッチ手段に残存する電荷が放電され、水平アドレス線
および垂直アドレス線の非選択切り替えの順序に関わら
ず確実に遮断される。
【0023】また、読み出し手段が低入力インピーダン
スおよび高出力インピーダンスを有するバッファまたは
増幅器を有するものとしたときには、そのバッファまた
は増幅器の出力を出力線に直接接続しても、出力線側か
ら他の画素の出力が逆流することがない。
【0024】請求項5のものでは、各画素の受光素子と
してのフォトダイオードの両極が第1のトランジスタと
第2のトランジスタに接続され、固定電位に接続する必
要がないから、絶縁基板上に構成するのが容易である。
【0025】
【発明の実施の形態】発明の実施の形態を実施例により
説明する。図1は本発明の第1の実施例を示す図であ
る。このイメージセンサは、垂直アドレス走査回路YD
に接続されたm本の垂直アドレス線Y1〜Ymと水平ア
ドレス走査回路XDに接続されたn本の水平アドレス線
X1〜Xnが格子状に配置され、n本のデータ線DL1
〜DLnが水平アドレス線X1〜Xnと並んで配置され
ている。画素FC1は、受光素子であるフォトダイオー
ドDとフォトダイオードを選択的にデータ線に接続する
スイッチ用のMOS型のトランジスタS1と垂直アドレ
ス線に接続されるMOS型のトランジスタS2から構成
される。
【0026】m×n個の画素FC1が2次元状に配置さ
れ、それぞれの画素FC1は、垂直アドレス線上の垂直
アドレスyと水平アドレス線上の水平アドレスxにより
制御される。説明を簡単にするために、図1には、m=
2、n=2の場合のイメージセンサを示している。垂直
アドレス線Y1と水平アドレス線X1に接続されている
画素FC1を例にとり、その構成を説明する。MOS型
のトランジスタS2のソースは水平アドレス線X1に、
またゲートは垂直アドレス線Y1に接続されている。ト
ランジスタS1のゲートはトランジスタS2に接続され
ている。
【0027】データ線DL1は、入力インピーダンス数
百kΩのバッファB1の入力へ接続されている。バッフ
ァB1の出力は出力選択用のトランジスタQ1を介して
出力線OLに接続される。トランジスタQ1のゲートは
水平アドレス線X1に接続されている。出力線OLは出
力バッファOBを介して出力端子Pに接続されている。
同様にデータ線DL2もバッファB1とMOS型のトラ
ンジスタQ1を介して、出力線OLへ接続されている。
【0028】次に動作について説明する。入射光量に応
じて光電変換された電荷はフォトダイオードDに蓄積さ
れる。まず、垂直アドレス線Y1と水平アドレス線X1
が選択されると、トランジスタS2のゲートがハイにな
りターンオンする。トランジスタS2のソースもハイに
なっているので、トランジスタS1のゲートがハイにな
り、ターンオンされ、フォトダイオードDに蓄えられた
電荷がデータ線DL1に分配される。この時には、出力
選択用のトランジスタQ1も、ゲートが水平アドレス線
X1に接続されているのでオンになっており、データ線
DL1上の電荷はバッファB1およびトランジスタQ1
を通り出力線OLに読み出される。
【0029】垂直アドレス線Y1と水平アドレス線X1
のどちらか一方が選択されていなければ、トランジスタ
S1のゲートがハイになることはない。すなわち、MO
SトランジスタS1は、水平アドレスx1と垂直アドレ
スy1を合わせた複合アドレス(x1・y1)により制
御されている。
【0030】また、データ線DL2は入力インピーダン
スが低いバッファB1に接続されているため、雑音電荷
が取り込まれてもすぐにバッファB1の方へ流れ出すた
め、データ線DL2に雑音電荷が蓄積されることはな
い。さらに、データ線DL2はトランジスタQ1により
出力線OLから分離されているため、出力線OLに接続
される寄生容量はトランジスタQ1のみの小さなものと
なる。また、バッファB1の出力インピーダンスを低く
し、トランジスタQ1を近接させて配置することによ
り、バッファB1とトランジスタQ1の間をローインピ
ーダンスに保ち、雑音電荷を拾うことを防止できる。
【0031】本実施例は以上のように構成され、フォト
ダイオードDをデータ線DL1、DL2、・・・に接続
するトランジスタS1が、水平アドレスx1と垂直アド
レスy1の複合アドレス(x1・y1)により制御され
るため、ランダムアクセスが可能になる。また、データ
線が入力インピーダンスの低いバッファB1に接続され
ているため、アクセスされていない列のデータ線はロー
・インピーダンスに保たれ、スミアやシェーディングな
どの偽信号の発生を防止できる。
【0032】さらに、バッファB1と出力線OLの間に
出力選択用のトランジスタQ1が接続されているため、
出力線OLの寄生容量が小さく、応答速度も速くなる。
したがって、ランダムアクセスが可能で、また偽信号を
防止でき、かつ応答速度も速いイメージセンサが得られ
る。
【0033】なお、本実施例では、データ線を垂直アド
レス線と平行に配置しているが、これに限定されず、例
えば図2に示すように、データ線DL′1およびDL′
2を垂直アドレス線と平行に配置しバッファB′1と接
続し、出力選択用のトランジスタQ′1を、垂直アドレ
ス線により制御してもよく、また、データ線を斜めに配
置したり、波状に配置することにより、設計上の自由度
を向上させることができる。
【0034】次に本発明の第2の実施例について図3お
よび図4を用いて説明する。図3は本実施例の構成を示
す図である。図4は動作を説明するアドレス選択のタイ
ミング図である。第1の実施例と同様に垂直アドレス線
Y1と水平アドレス線X1に接続されている画素FC2
を例にとり、その構成を説明する。画素FC2は、受光
素子であるフォトダイオードDとフォトダイオードを選
択的にデータ線に接続するスイッチ用のMOS型のトラ
ンジスタS3と、水平アドレス線X1とトランジスタS
3のゲート間に配されたMOS型のトランジスタS4
と、トランジスタS3のゲートに接続された抵抗R1か
ら構成される。 トランジスタS4のゲートは垂直アド
レス線Y1に接続されている。
【0035】データ線DL1は、入力インピーダンス数
百kΩのバッファB1の入力へ接続されている。バッフ
ァB1の出力は加算器OAにより出力線OLに接続され
る。そして、出力線OLは出力バッファOBを介して出
力端子Pに接続されている。同様に、データ線DL2
も、バッファB1と加算器OAを介して出力線OLへ接
続されている。
【0036】画素FC2の動作を説明するために、まず
抵抗Rが接続されていないときの動作を説明する。画素
FC2に抵抗R1が接続されていなければ、図1に示す
実施例1と同様に、当該画素に接続されている水平アド
レス線X1および垂直アドレス線Y1が選択されること
により、その画素のフォトダイオードDの電荷が出力線
OLへ出力される。水平アドレス線X1と垂直アドレス
線Y1は、特定の画素FC2を選択する場合には、どち
らを先に選択しても動作に支障はない。しかし、選択状
態から非選択状態に戻すときには、先に水平アドレス線
X1が非選択状態になればトランジスタS3はターンオ
フし動作に支障はないが、もし垂直アドレス線Y1を先
に非選択状態に戻すと、トランジスタS4がターンオフ
し、水平アドレス線X1とトランジスタS3のゲートが
遮断されてしまう。
【0037】そのため、水平アドレス線X1を、その後
に非選択にしても、トランジスタS3のゲート電荷が残
ってしまい、トランジスタS3はターンオフできなくな
ってしまう。したがって、図4に示すように、まず水平
アドレス線X(X1、X2、・・・)を非選択にしてか
ら、垂直アドレス線Y(Y1、Y2、・・・)を非選択
にしなければならない。
【0038】これに対して、抵抗R1を接続した場合に
は、抵抗R1がトランジスタS3の電荷の逃げ道になる
ため、先に垂直アドレス線Y1が非選択状態になりトラ
ンジスタS4がターンオフしても、トランジスタS3の
電荷は抵抗R1を通って逃げることができるため、トラ
ンジスタS3はターンオフできる。 すなわち抵抗R1
を接続すると、アドレス線を選択状態から非選択状態に
戻すときの制御タイミングの制約がなくなる。抵抗R1
は、トランジスタS3がP型のトランジスタの場合には
プルアップ回路を形成し、トランジスタS3がN型の場
合にプルダウン回路となる。
【0039】加算器OAはバッファB1の出力を出力線
OLに加算する。画素は垂直アドレスと水平アドレスに
より、一つが選択されているため出力線OLには、選択
された画素の情報のみが読み出される。なお、トランジ
スタS3のゲートの電位は、水平アドレスが選択された
時の電位からトランジスタS4のしきい値を差し引いた
電位なので、トランジスタS4がターンオンしても、ト
ランジスタS3が十分にオンできないこともあるが、そ
の場合には、あらかじめ、水平アドレスが選択された時
の電位をブートストラップ等の方法で昇圧することによ
り、確実にトランジスタS3をターンオンすることがで
きる。その他の構成および動作は図1に示す第1の実施
例と同様である。
【0040】本実施例は以上のように構成され、まず、
画素FC2に抵抗R1が加えられたことにより、トラン
ジスタS3がターンオフしなくなることが防止され、ア
ドレス線を選択状態から非選択状態に戻すときの制御タ
イミングの制約がなくなる。また、読み出し回路をバッ
ファと加算器OAから構成することによりデータ線と出
力線を分離しているため、水平アドレス線をバッファB
1の出力まで延長する必要がなくなり、回路が簡素化さ
れる。したがって、第1の実施例と同様の効果が得られ
るとともに、制御タイミングの制約がなく、回路が簡略
化されるという効果が得られる。
【0041】次に読み出し部の構成を変えた第3の実施
例について説明する。 図5は全体の構成図を、図6は
読み出し部の回路図を示す。本実施例では画素は第2の
実施例のものと同構成である。読み出し部は、図6に詳
細を示したバッファB2から構成される。バッファB2
では、データ線DL1に数百kΩの抵抗R2の一端とM
OSFET型のトランジスタT1のゲートが接続され、
トランジスタT1のドレインがバッファB2の出力とな
っている。抵抗R2の他端は接地されている。トランジ
スタT1のソースも接地されており、トランジスタT1
はソース接地型のトランジスタである。出力線OLには
抵抗3が接続されている。
【0042】この実施例においては、画素FC2の電荷
はデータ線DL1に読みだされ、読み出された電荷が、
バッファB2においてデータ線DL1から抵抗R2を流
れると電圧に変換される。変換された電圧をトランジス
タT1のゲートに印加する。トランジスタT1を流れる
電流は、そのゲート電圧、すなわち抵抗R2によって変
換された電圧に比例する。データ線DL1を流れる電流
に比例する電流が出力線OLを流れ、出力線OLに接続
される抵抗R3により、電流が電圧に変換されて出力と
なる。
【0043】バッファB2では、データ線DL1に抵抗
R2が接続されているので、データ線DL1がハイ・イ
ンピーダンスになることはなく、バッファB2の入力イ
ンピーダンスは低い。また、トランジスタT1はソース
接地型のトランジスタであり、ドレインから見たトラン
ジスタT1のインピーダンスは高く、数十MΩ以上にな
るので、バッファB2の出力インピーダンスは高くな
る。
【0044】このため、直接バッファB2の出力を出力
線OLに接続しても、出力線OL上で各バッファB2の
出力が多入力OR接続となり、選択された画素FC2に
接続されたデータ線を流れる電流に比例する電流が出力
線OLを流れる。そして、他のバッファB2に漏れるこ
とがほとんど無く、出力線OLを流れる電流は電圧に変
換されて出力となる。その他の構成および動作は図3に
示す第2の実施例と同様である。
【0045】これにより第2実施例と同様の効果が得ら
れるとともに、バッファB2のみで、データ線DLと出
力線OLを接続することができるので、一層回路が簡素
化される。なお、上記各実施例では、バッファを備えた
読み出し部について説明したが、これに限定されず、増
幅器を備えた読み出し部を用いることにより、読み出し
感度を向上させることもできる。
【0046】次に、読み出し部の構成を変えた本発明の
第4の実施例について説明する。図7は本実施例におけ
る読み出し部の回路図である。画素部は第2、第3の実
施例と同構成である。読み出し部はバッファB3から構
成されている。バッファB3では、データ線DL1は数
百kΩの抵抗R4の一端とMOSFET型のトランジス
タT2のゲートに接続されている。抵抗R4の他端とト
ランジスタT2のソースは接地されている。トランジス
タT2のドレインはMOSFET型のトランジスタT3
のソースに接続されている。トランジスタT3のゲート
は接地などの固定電位線FLに接続されている。トラン
ジスタT3のドレインはバッファB3の出力となり、出
力線OLに接続されている。出力線OLにはダイオード
接続されたMOSFET型のトランジスタQ2が接続さ
れている。
【0047】この実施例では、バッファB3の抵抗R4
とトランジスタT2により、データ線DL1を流れる電
流に比例する電流が出力線OLを流れ、出力線OLに接
続されるトランジスタQ2により、電流が電圧に変換さ
れて出力となる。バッファB3では、データ線DL1に
抵抗R4が接続されているので、データ線DL1がハイ
・インピーダンスになることはなく、バッファB3の入
力インピーダンスは低い。また、トランジスタT2およ
びトランジスタT3はカスコード回路を構成し、トラン
ジスタT3のドレインから見たインピーダンスはトラン
ジスタT2のドレインから見たインピーダンスより大き
くなっている。
【0048】このため、バッファB3の出力インピーダ
ンスが一層高くなり、直接バッファB3の出力を出力線
OLに接続しても、各バッファB3の出力が多入力OR
接続となり、データ線DL1を流れる電流に比例する電
流が出力線OLを流れ、電圧に変換されて出力となる。
また、カスコード接続によりバッファとしての応答速度
も向上する。さらに、出力線OLにダイオード接続され
たトランジスタQ2を抵抗の代わりに用いているので、
増幅度も向上する。これにより第3の実施例と同様の効
果が得られるとともに、バッファB3の出力インピーダ
ンスが一層大きいので、出力線における電流電圧変換精
度が向上し、また、応答速度が一層速くなる。
【0049】図8は読み出し部の構成を変えた本発明の
第5の実施例の読み出し部の回路図である。本実施例で
は読み出し部はバッファB4から構成されている。バッ
ファB4では、データ線DL1は、MOSFET型のト
ランジスタT4のゲートと接続されるとともに、ダイオ
ード接続されたMOSFET型のトランジスタT5のゲ
ートおよびドレインに接続されている。さらに、これら
の接続点には電流源Iが接続されている。トランジスタ
T5のソースは固定電位に接続されている。トランジス
タT4のソースは接地され、トランジスタT4のドレイ
ンがバッファB4の出力となり、出力線OLに接続され
ている。画素部は、第1の実施例と同構成である。
【0050】この実施例においては、バッファB4にお
いて、トランジスタT4とトランジスタT5がカレント
ミラー回路を構成し、電流源Iによりバイアスされてい
る。データ線DL1を流れる電流はトランジスタT5を
流れ、トランジスタT5を流れる電流に比例した電流が
T4を流れるので、データ線DL1を流れる電流に比例
した電流が出力線OLを流れて、電圧に変換され出力さ
れる。バッファB4では、データ線DL1にトランジス
タT5のドレインとゲートおよび電流源Iが接続されて
いるので、データ線DL1がハイ・インピーダンスにな
ることはなく、バッファB4の入力インピーダンスは低
い。
【0051】また、トランジスタT5およびトランジス
タT4はカレントミラー回路を構成し、カレントミラー
回路の出力インピーダンスは高く、バッファB4の出力
を出力線OLに直接接続しても、各バッファB4の出力
が多入力OR接続となる。データ線DL1を流れる電流
に比例する電流が出力線OLを流れ、電圧に変換されて
出力となる。その他の構成および動作は第4の実施例と
同様であり、出力線OLにはダイオード接続されたトラ
ンジスタQ2が接続されている。
【0052】これにより第3の実施例と同様の効果が得
られるとともに、カレントミラー回路の使用により電流
の取り出し精度が良くなるので、出力精度が向上す
る。、なお、本実施例では、カレントミラー回路を用い
たが、これに限るものではなく、カスコード・カレント
ミラー回路や、ウィルソン型カレントミラー回路でも良
く、また、カスコード回路を組み合わせれば、電流電圧
変換精度や応答速度が向上する。
【0053】図9は読み出し部の構成を変えた本発明の
第6の実施例の読み出し部の回路図である。本実施例で
は読み出し部はバッファB5から構成されている。バッ
ファB5では、データ線DL1はMOSFET型のトラ
ンジスタT6のソースに接続されている。トランジスタ
T6のゲートは固定電位線FLに接続され、ドレインが
出力線OLに接続されている。出力線OLには負荷用の
MOSFET型のトランジスタQ3が接続されている。
その他の構成は、第1、第5の実施例と同じである。
【0054】この実施例においては、トランジスタT6
はゲート接地型トランジスタ回路であり、データ線DL
1を流れる電流がトランジスタT6のソースとドレイン
を通って出力線に流れる。バッファB5では、トランジ
スタT6のソースから見たトランジスタT6のインピー
ダンスが低いため、データ線DL1がハイ・インピーダ
ンスになることはなく、バッファB5の入力インピーダ
ンスは低い。
【0055】また、トランジスタT6のドレインから見
たトランジスタT6のインピーダンスが高いため、バッ
ファB5の出力を出力線OLに直接接続しても、各バッ
ファB5の出力が多入力OR接続となる。これにより、
データ線DL1を流れる電流に比例する電流が出力線O
Lを流れ、トランジスタQ3により、電圧に変換されて
出力となる。さらに、ゲート接地回路はソース電流とド
レイン電流が等しいため、電流取り出し精度が良いの
で、構成素子数も少なく、一つのトランジスタでよい。
また、ミラー効果による信号の遅れもないため、応答速
度も速い。これにより第3の実施例と同様の効果が得ら
れるとともに、ゲート接地型トランジスタの使用によ
り、出力精度が一層向上、回路が簡略化されかつ応答速
度がより向上した。
【0056】次に画素の構成を変えた本発明の第7の実
施例について説明する。図10は本実施例の画素の回路
図である。画素FC3は、受光素子であるフォトダイオ
ードDとフォトダイオードを選択的にデータ線に接続す
るスイッチ用のMOSトランジスタS5と垂直アドレス
線に接続されるMOSトランジスタS6とフレーム転送
用のスイッチであるS7とフォトダイオードのリセット
用のスイッチであるトランジスタS8から構成される。
【0057】MOSトランジスタS6のソースは水平ア
ドレス線X1に、そのゲートは垂直アドレス線Y1にそ
れぞれ接続されている。トランジスタS5のゲートはM
OSトランジスタS6のドレインに接続されている。ト
ランジスタS7はフォトダイオードDとトランジスタS
8に接続されている。トランジスタS7のゲートにはフ
レームシフト信号FSが入力され、トランジスタS8の
ゲートにはリセット信号RSが入力される。また、トラ
ンジスタS8の残りの電極はリセット電位に接続されて
いる。
【0058】この実施例では、トランジスタS6により
複合アドレスが生成され、トランジスタS5によりフォ
トダイオードDとデータ線DL1が接続される。また、
トランジスタS7のゲートにフレームシフト信号FSが
入力されると、各画素FC3の電荷が転送される。さら
に、トランジスタS8にリセット信号RSが入力される
と、フォトダイオードDのアノードがリセット電位に接
続され、フォトダイオードDはリセットされる。なお、
読み出し部の構成は、図9の第6の実施例におけると同
じである。
【0059】これにより、第1の実施例と同様の効果が
得られるとともに、フレーム転送が可能になる。また、
フォトダイオードDのリセットが可能になり、電子シャ
ッターを実現することができ、一層実用上の利便性が向
上する。なお、上記各実施例では、フォトダイオードD
のカソードが固定電位に接続されているが、これに限定
されず、アノードが固定電位に接続されてもよく、フォ
トダイオードDのどちらかの電極が固定電位に接続され
ればよい。
【0060】図11は画素の構成を変えた本発明の第8
の実施例の画素の回路図である。本実施例の画素FC4
では、受光素子であるフォトダイオードDのアノードが
スイッチ用のMOS型トランジスタS9を介してデータ
線DL1に接続され、カソードはMOS型トランジスタ
S10を介して固定電位に接続されている。トランジス
タS9のゲートは垂直アドレス線Y1に、トランジスタ
S10のゲートは水平アドレス線X1に接続されてい
る。
【0061】本実施例では基板にSOI等の絶縁基板を
使用する場合にも、フォトダイオードDを固定電位に接
続する必要なしに、トランジスタS9とトランジスタS
10のそれぞれが、複合アドレスの生成とデータ線接続
の選択動作の両方の機能を同時に果たし、水平・垂直ア
ドレス線が同時に選択された画素の光電荷がデータ線D
L1に送出される。読み出し部は、第6、第7の実施例
と同構成である。
【0062】これにより、第1の実施例と同様の効果が
得られるとともに、フォトダイオードDを固定電位に接
続する必要が無いので、設計上の自由度が向上し、画像
処理等の画素として使用する際には、画素を微細化で
き、画像の分解能を向上させることができる。なお、第
7、第8の実施例では読み出し部の構成を第6の実施例
と同じもので説明したが、その他第1から第5の各実施
例における読み出し部の構成と任意に組み合わせること
により、各実施例毎に説明した追加の効果を得ることが
できる。
【0063】
【発明の効果】以上のとおり、本発明は、受光素子をデ
ータ線に接続するスイッチ手段が、水平アドレスと垂直
アドレスの複合アドレスにより制御されるため、ランダ
ムアクセスが可能になる。また、データ線が低入力イン
ピーダンスを有する読み出し手段を介して出力線に接続
されているので、データ線がロー・インピーダンスに保
たれ、出力線の寄生容量が増大しないから、スミアやシ
ェーディングも防止される。
【0064】なお、受光素子を選択的にデータ線に接続
する第1のスイッチ手段に電荷放電手段を付設すること
により、水平アドレス線および垂直アドレス線の非選択
時に第1のスイッチ手段に残存する電荷が放電され、水
平アドレス線および垂直アドレス線の非選択切り替えの
順序に関わらず確実に遮断されるという効果が得られ
る。
【0065】また、読み出し手段がバッファまたは増幅
器と出力線の間に出力選択手段または加算手段を備える
ことにより、出力線の寄生容量が小さくなり、応答速度
も速くなる。さらに、読み出し手段が低入力インピーダ
ンスおよび高出力インピーダンスを有するバッファまた
は増幅器を有するものとしたときには、そのバッファま
たは増幅器の出力を出力線に直接接続することができ、
回路が簡素化されたイメージセンサが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】データ線配置の変形例を示す図である。
【図3】第2の実施例を示す図である。
【図4】アドレス選択タイミングの説明図である。
【図5】第3の実施例を示す図である。
【図6】第3の実施例の読み出し部の回路図である。
【図7】第4の実施例を示す図である。
【図8】第5の実施例を示す図である。
【図9】第6の実施例を示す図である。
【図10】第7の実施例を示す図である。
【図11】第8の実施例を示す図である。
【図12】従来例を示す図である。
【図13】従来例における問題を説明する図である。
【図14】複合アドレスの説明図である。
【符号の説明】
B1、B′1、B2、B3、B4、B5 バッファ D フォトダイオード(受光素子) DL1、DL2、DL′1、DL′2 データ線 FC1、FC2、FC3、FC4、FC5 画素 H 光源 I 電流源 OA 加算器(加算手段) OB 出力バッファ OL 出力線 P 出力端子 Q1、Q′1 トランジスタ(出力選択手段) Q2、Q3、Q4 トランジスタ R1 抵抗(電荷放電手段) R2、R3、R4 抵抗 S1、S3、S5 トランジスタ(第1のスイッチ
手段) S2、S4、S6 トランジスタ(第2のスイッチ
手段) S7、S8 トランジスタ S9 トランジスタ(第1のトランジスタ) S10 トランジスタ(第2のトランジスタ) S12 トランジスタ(スイッチ手段) SU スミア T1、T2、T3、T4、T5、T6 トランジス
タ X1、X2 水平アドレス線 XD 水平アドレス走査回路 Y1、Y2 垂直アドレス線 YD 垂直アドレス走査回路

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平面状に配置され、水平アドレス線およ
    び垂直アドレス線により選択され、データ線に接続され
    る複数の画素を備えたイメージセンサにおいて、前記画
    素のそれぞれが受光素子と、当該画素に対応する水平ア
    ドレス線および垂直アドレス線の両方が選択されたとき
    前記受光素子をデータ線に接続するスイッチ手段と、前
    記データ線と出力線との間に接続され、前記データ線側
    が低入力インピーダンスの読み出し手段とを有すること
    を特徴とするイメージセンサ。
  2. 【請求項2】 前記スイッチ手段が、受光素子を選択的
    にデータ線に接続する第1のスイッチ手段と、水平アド
    レス線および垂直アドレス線の両方が選択されたときに
    前記第1のスイッチ手段をオンにする第2のスイッチ手
    段とからなり、該第2のスイッチ手段がトランジスタか
    ら構成され、該トランジスタのゲートが水平アドレス線
    または垂直アドレス線の一方に接続され、ゲート以外の
    電極の一方が水平アドレス線または垂直アドレス線の他
    方に接続され、他方の電極が前記第1のスイッチ手段の
    ゲートに接続されていることを特徴とする請求項1記載
    のイメージセンサ。
  3. 【請求項3】 前記第1のスイッチ手段には、水平アド
    レス線および垂直アドレス線の非選択時に第1のスイッ
    チ手段に残存する電荷を放電する電荷放電手段が付設さ
    れていることを特徴とする請求項2記載のイメージセン
    サ。
  4. 【請求項4】 前記受光素子がフォトダイオードであ
    り、前記第1のスイッチ手段がトランジスタから構成さ
    れ、該トランジスタのゲートが前記第2のスイッチ手段
    と接続され、ゲート以外の電極の一方が前記フォトダイ
    オードに接続され、他方の電極が前記データ線に接続さ
    れるとともに、前記電荷放電手段が第1のスイッチ手段
    の前記ゲートを固定電位に接続する抵抗または電流源か
    らなることを特徴とする請求項3記載のイメージセン
    サ。
  5. 【請求項5】 平面状に配置され、水平アドレス線およ
    び垂直アドレス線により選択され、データ線に接続され
    る複数の画素を備えたイメージセンサにおいて、前記画
    素のそれぞれが、フォトダイオードからなる受光素子
    と、該フォトダイオードのアノードをデータ線に接続す
    る第1のトランジスタと、カソードを固定電位に接続す
    る第2のトランジスタとを備え、前記第1のトランジス
    タのゲートが水平アドレス線および垂直アドレス線の一
    方に接続されるとともに、第2のトランジスタのゲート
    が水平アドレス線および垂直アドレス線の他方に接続さ
    れ、前記データ線が低入力インピーダンスを有する読み
    出し手段を介して出力線に接続されていることを特徴と
    するイメージセンサ。
  6. 【請求項6】 前記読み出し手段が、低入力インピーダ
    ンスを有するバッファまたは増幅器と、当該読み出し手
    段に接続するデータ線に前記受光素子が接続されたとき
    に前記バッファまたは増幅器の出力と出力線を接続する
    出力選択手段または加算手段とから構成されていること
    を特徴とする請求項1、2、3、4または5記載のイメ
    ージセンサ。
  7. 【請求項7】 前記読み出し手段が、低入力インピーダ
    ンスおよび高出力インピーダンスを有するバッファまた
    は増幅器を有し、該バッファまたは増幅器の出力が前記
    出力線に直接接続されていることを特徴とする請求項
    1、2、3、4または5記載のイメージセンサ。
  8. 【請求項8】 前記バッファまたは増幅器がソース接地
    型のトランジスタ回路を備えることを特徴とする請求項
    7記載のイメージセンサ。
  9. 【請求項9】 前記バッファまたは増幅器がカレント・
    ミラー回路を備えることを特徴とする請求項7記載のイ
    メージセンサ。
  10. 【請求項10】 前記バッファまたは増幅器がゲート接
    地型トランジスタ回路を備えることを特徴とする請求項
    7記載のイメージセンサ。
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