JPH10177503A - 装置診断制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、装置の自己診断において、診
断時間の短縮と、障害部位を細かく指摘する事と、障害
を一度で検出して復旧作業時間を短縮する事と、これら
一連の診断を容易に行う事にある。 【解決手段】本発明の装置診断制御方式は、通常診断３
〜７で障害が検出された場合のみに、詳細テスト実行準
備１０により詳細テストを実行する。詳細テストで得ら
れた障害情報は、障害情報格納１２で一旦ＲＡＭ２７に
格納され、全ての診断が終了したら、エラー報告・表示
１４によりメッセージ表示２９及び遠隔保守機構３０に
報告する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロプロセッ
サとマイクロプログラムを備えた装置の自己診断技術に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の装置自己診断では、特開昭６１−
１３３４４４号に記載の様に、診断用データの読み出し
の為の時間を短縮する方法や、特開平４−１７０６４７
号に記載の様に、診断プログラムをキャッシュメモリか
らロードする事により、診断処理を高速化する方法が有
る。 また、特開平４−１４８４３１号記載の様に、装
置外部の試験機（診断ファームウェア）から診断を実施
する事で、試験時間の制約などによる不良品の未検出を
防ぎ、開発完了後でも診断プログラムを追加可能とする
方法が有る。

【０００３】また、特開平５−８８９３１号に記載の様
に、自己診断を電源投入時と通信作業開始後の２回に分
けて行い、装置立上げ時間を短縮する方法がある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】装置の自己診断に要す
る時間は、装置の運用上、短い方が望ましい。また、装
置納入先の障害復旧作業で必要な障害情報は、不良部位
はどれかが特定出来れば充分で、不良部位内のどの部品
が故障しているか、という詳細情報までは、必要無い。

【０００５】しかし、装置自己診断によって指摘され、
交換した部位を工場に持ち帰って再現試験を実施する
と、障害が再現しない場合が有り、部位内の交換部品の
特定が困難な場合が有る。 これを防ぐ為には、診断を
細かく実施して、障害を検出した時点で不良部品まで指
摘しておく必要がある。

【０００６】しかし、上記従来技術による装置自己診断
では、診断を高速化する方法は色々と工夫されている
が、エラー検出時点の障害部品の詳細指摘までは考慮さ
れていない。詳細指摘を行う為の詳細診断の実行契機が
任意である為、通常診断(第１段診断)でエラーを検出し
た直後に詳細診断が実行されず、不良部位内の故障部品
の特定が出来ない。

【０００７】また、装置外部の試験機（診断ファームウ
ェア）から診断を実施する方法では、装置を納入した場
所では詳細な診断を実施することが出来ない。

【０００８】また、上記従来技術では、複数の障害が有
った場合が考慮されておらず、１ヶ所目の障害を検出し
たらエラー表示しており、２ヶ所目の障害が検出出来な
い。この為、指摘された箇所を対策した後の再立上げに
て、２ヶ所目のエラーが検出されるので、不良部位の交
換作業に時間が掛かってしまう。

【０００９】本発明の第一の目的は、装置の自己診断に
おいて、通常の診断では、診断に要する時間を短くし、
障害を検出した場合に、自動的に詳細診断を実行して、
障害部位を細かく指摘する事にある。

【００１０】本発明の第二の目的は、上記診断方法にお
いて、一回の診断で全ての障害を検出出来るようにする
事で、障害復旧作業を短時間で済ませる事にある。本発
明の第三の目的は、上記診断方法と上記障害部位検出方
法を統括して実行させる事により、診断を容易にさせる
事にある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の目的を達成する
為に、マイクロプロセッサとマイクロプログラムを備え
た装置の自己診断において、不良部位が特定出来る程度
のテスト項目を実施する、診断時間が短い通常診断機能
と、通常診断で障害を検出した場合に、検出した障害部
位に対応した詳細診断を起動する機能と、障害部位を細
かく指摘する詳細診断機能を備えた事を特徴とする、装
置診断方式を提供する。

【００１２】また、本発明は、上記装置診断方式によっ
て得られた情報を一時的に蓄積する機能と、本蓄積機能
により自己診断を最後まで実行し、一回の診断で障害を
全て検出する機能を備えた事を特徴とする、診断制御方
式を提供する。

【００１３】また、本発明は、上記装置診断方式と診断
制御方式を統括し、診断を容易に実行可能とする機能を
備えた事を特徴とする、装置診断制御方式を提供する。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例を、第一
図、第二図により説明する。

【００１５】第一図に、本発明である装置診断制御方式
による、自己診断プログラムのフローチャートを示す。

【００１６】第二図に、第一図の自己診断プログラムに
よって診断される装置の、ブロック図を示す。 第一図
にて、ＳＴＡＲＴ１で診断を開始すると、テスト実行制
御２は、チャネルＩ／Ｆ診断３、データ圧縮診断４、デ
ータバッファ診断５、ドライブＩ／Ｆ診断６、ライブラ
リＩ／Ｆ診断７の、各通常診断の実行制御を行う。エラ
ーチェック８は、上記通常診断３〜７の診断結果（障害
検出の有無）をチェックする。テスト終了９は、通常診
断が全て終了したか、本実施例では、ライブラリＩ／Ｆ
診断７まで実施したかをチェックする。終了したら障害
情報有り１３に移行し、終了していなけれがテスト実行
制御２に戻る。

【００１７】テスト実行制御２の通常診断制御は、まず
チャネルＩ／Ｆ診断３を実行する。この結果をエラーチ
ェック８でチェックする。、障害が検出されなければテ
スト終了９に移行し、診断が終了していないのでテスト
実行制御２に戻る。

【００１８】次にテスト実行制御２は、データ圧縮診断
４を実行し、エラーチェック８にて障害検出の有無をチ
ェックする。この様に、テスト実行制御２は、通常診断
３〜７を一つずつ実行し、エラーチェック８を行う。

【００１９】通常診断３〜７を実行中にエラーチェック
８で障害を検出した場合、詳細テスト実行準備１０に移
行する。通常診断３〜７は、不良基板が特定出来る程度
のテスト項目を実施し、診断時間を短くする。

【００２０】詳細テスト実行準備１０は、通常診断３〜
７の、どの診断で障害を検出したかにより、診断部位に
対応した詳細テストが実行出来る準備をする。

【００２１】詳細テストは、通常診断３〜７とは別の領
域（ＦＤ２６）に格納されており、詳細テスト実行準備
１０が実行可能な領域（ＲＡＭ２７）へ移動（ロード）
する。詳細テストを実行時に準備する事により、通常は
診断３〜７だけをＲＡＭ２７へロードするので、装置が
正常時の診断プログラムのロード時間を短くする。詳細
テストの準備が出来たら、詳細テスト１１で実行し、障
害の詳細情報を得る。得られた情報は、障害情報格納１
２で装置内部のＲＡＭ２７に格納する。

【００２２】テスト終了９にてすべての診断が終了した
と判断されたら、障害情報有り１３に移行し、障害情報
が装置内部に格納されているか、チェックする。格納さ
れていたら、エラー報告・表示１４に移行し、すべての
障害情報を一括して報告する。報告方法は、装置の表示
パネル及び遠隔保守機構がある。

【００２３】第二図にて、装置は、チャネルＩ／Ｆ２
１、データ圧縮２２、データバッファ２３、ドライブＩ
／Ｆ２４でデータ転送系が構成される。通常診断３〜７
及びこれに対応する詳細テストは、ＦＤ２６に格納され
ており、ＲＡＭ２７に読み出されてからマイクロプロセ
ッサ２８が実行する。

【００２４】メッセージ表示２９は、診断の進行状況や
障害が検出された場合のエラー内容を表示する。

【００２５】遠隔保守機構３０は、通信回線３１に接続
されており、装置の状態を保守センタへ通報する。

【００２６】ライブラリＩ／Ｆ３２は、ライブラリ装置
との通信を行う。

【００２７】通常診断３〜７及びこれらに対応する詳細
テストは、ＦＤ２６に格納されており、まず、通常診断
３〜７をＲＡＭ２７にロードして、マイクロプロセッサ
２８が実行する。ＲＡＭ２７の先頭アドレスにはＲＯＭ
が割り当てられており、電源投入直後の動作がプログラ
ムされている。

【００２８】第一図の自己診断プログラムで第二図の装
置を診断する手順を、以下に説明する。

【００２９】ＳＴＡＲＴ１で、ＦＤ２６から通常診断３
〜７が、ＲＡＭ２７にロードされる。この時、通常診断
３〜７に対応した詳細テストはロードされないので、ロ
ード時間が短く済む。

【００３０】診断を開始すると、テスト実行制御２は、
チャネルＩ／Ｆ診断３、データ圧縮診断４、データバッ
ファ診断５、ドライブＩ／Ｆ診断６、ライブラリＩ／Ｆ
診断７を、順に実行する。

【００３１】通常診断３〜７は、不良基板が特定出来る
程度のテスト項目であり、診断時間が短い。

【００３２】各通常診断終了時のエラーチェック８で障
害を検出しなければ、テスト終了９、障害情報有り１３
と移行し、障害情報がＲＡＭ２７に記憶されていないの
で、ＥＮＤ１５で自己診断を終了する。

【００３３】各通常診断終了時のエラーチェック８で障
害を検出した場合、詳細テスト実行準備１０へ移行す
る。障害に対応した詳細テストはＦＤ２６上に有り、詳
細テスト実行準備１０が、実行すべき詳細テストを選択
し、ＲＡＭ２７にロードする。

【００３４】チャネルＩ／Ｆ診断３の詳細テストは、テ
スト項目の追加により、転送制御回路の障害部位を特定
する。

【００３５】データ圧縮診断４の詳細テストは、テスト
データの追加により、圧縮／復元機能の障害部位を特定
する。

【００３６】データバッファ診断５の詳細テストは、テ
スト項目の追加により、チャネル側転送制御回路／ドラ
イブ側転送制御回路／メモリ制御回路のどれに障害が有
るかを、特定する。

【００３７】ドライブＩ／Ｆ診断６の詳細テストは、テ
ストデータの追加により、ドライブユニット２５からの
読み出しデータの修正回路の、どのトラックに障害が有
るかを特定する。

【００３８】ライブラリＩ／Ｆ診断７は、詳細テストは
追加せず、障害検出時のＩ／Ｆレジスタの状態を、障害
情報に盛り込む。

【００３９】上記詳細テストを詳細テスト１１で実行し
て得られた詳細情報は、障害情報格納１２によって、Ｒ
ＡＭ２７に、規定されたフォーマットで格納される。

【００４０】格納したらテスト終了９に移行し、診断が
終了していなければ、テスト実行制御２に戻り、次の通
常診断を実行する。次の通常診断のエラーチェック８で
障害を検出したら、詳細テスト実行準備１０、詳細テス
ト１１、障害情報格納１２と、順次移行する。障害情報
格納１２では、先に情報が格納されているので、上書き
せずに、次のエリアに格納する。

【００４１】テスト終了９ですべての通常診断が終了し
たと判断したら、障害情報有り１３へ移行する。ここで
ＲＡＭ２７に情報が格納されていたら、エラー報告・表
示１４へ移行し、通常診断３〜７の詳細テストで得られ
た詳細情報を、装置のメッセージ表示２９へ報告する。
また、遠隔保守機構３０が接続されていたら、通信回線
３１を経由して、保守センタへも通報する。

【００４２】以上のように装置を診断する事で、通常は
診断時間が短く、障害検出時は障害部位を細かく指摘
し、一回の診断の実行で全ての障害を検出する。また、
これら一連の診断を容易に行う事が出来る。

【００４３】

【発明の効果】本発明によれば、マイクロプロセッサと
マイクロプログラムを備えた装置の自己診断において、
障害が検出されない場合は、診断時間が短く済み、障害
が検出された場合は、障害部位を細かく指摘可能とな
る。また、一度の診断の実行で複数の障害が検出出来、
障害部位の交換作業を短時間で済ませる事が出来る。こ
れらが自動で実行されるので、自己診断が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明である装置診断制御方式による、自己診
断プログラムのフローチャート。

【図２】第一図の自己診断プログラムで診断する、 マ
イクロプロセッサとマイクロプログラムを備えた装置の
ブロック図。

【符号の説明】

２…テスト実行制御、８…エラーチェック、１０…詳細
テスト実行準備、１１…詳細テスト、１２…障害情報格
納、１４…エラー報告・表示

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】マイクロプロセッサとマイクロプログラム
   を備えた装置の自己診断において、通常診断機能と、障
   害部位を細かく指摘する詳細診断機能と、通常診断の結
   果から詳細診断の起動を制御する機能を備えた事を特徴
   とする装置診断方式。
2. 【請求項２】上記請求項１の装置診断方式において、被
   診断装置に障害情報を蓄積する手段を設け、詳細診断の
   結果を蓄積する機能と、１ヶ所の障害検出でエラーダウ
   ンとせず、障害情報を蓄積しながら診断を最後（装置全
   体）まで続行させ、診断終了時に蓄積した情報を報告す
   る機能を備えた事を特徴とする診断制御方式。
3. 【請求項３】マイクロプロセッサとマイクロプログラム
   を備えた装置の自己診断において、上記請求項１と上記
   請求項２の各機能を備えた事を特徴とする、装置診断制
   御方式。