JPH02122335A - Ras回路の試験方法 - Google Patents
Ras回路の試験方法Info
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- JPH02122335A JPH02122335A JP63276766A JP27676688A JPH02122335A JP H02122335 A JPH02122335 A JP H02122335A JP 63276766 A JP63276766 A JP 63276766A JP 27676688 A JP27676688 A JP 27676688A JP H02122335 A JPH02122335 A JP H02122335A
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- Japan
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- program
- ras
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- computer system
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
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- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
計算機システムにおけるRAS回路において、イニシア
ルマイクロプログラムロード(IMPL)時に該RAS
回路の試験を行うことを可能とするRAS回路の試験方
法に関し、 計算機システムのジョブ遂行を一時停止させることなく
、RAS回路の正常性を保証することを目的とし、 記憶手段に格納されたプログラムを読出して、計算機シ
ステムに対するIMPLを行うサービスプロセッサにお
いて、該記憶手段に該サービスプロセッサに対するIM
PLと、該計算機システムに対するIMPLを指示する
プログラムに続いて、RAS回路の試験を指示するプロ
グラムを格納しておき、該記憶手段からIMPLを指示
するプログラムを読出して、該サービスプロセッサに対
するIMPLを行った後、該記憶手段からRAS回路の
試験を指示するプログラムを読出して、該計算機システ
ムに備わるRAS回路の試験を実行し、再びIMPLを
指示するプログラムの次のシーケンスに戻り、該計算機
システムに対するIMPLを行った後は、再びRAS回
路の試験を指示するプログラムの実行は行わない構成と
する。
ルマイクロプログラムロード(IMPL)時に該RAS
回路の試験を行うことを可能とするRAS回路の試験方
法に関し、 計算機システムのジョブ遂行を一時停止させることなく
、RAS回路の正常性を保証することを目的とし、 記憶手段に格納されたプログラムを読出して、計算機シ
ステムに対するIMPLを行うサービスプロセッサにお
いて、該記憶手段に該サービスプロセッサに対するIM
PLと、該計算機システムに対するIMPLを指示する
プログラムに続いて、RAS回路の試験を指示するプロ
グラムを格納しておき、該記憶手段からIMPLを指示
するプログラムを読出して、該サービスプロセッサに対
するIMPLを行った後、該記憶手段からRAS回路の
試験を指示するプログラムを読出して、該計算機システ
ムに備わるRAS回路の試験を実行し、再びIMPLを
指示するプログラムの次のシーケンスに戻り、該計算機
システムに対するIMPLを行った後は、再びRAS回
路の試験を指示するプログラムの実行は行わない構成と
する。
本発明は計算機システムにおけるR A S (Rel
ial)ility+^vailability an
d 5erviceability)回路に係り、特に
イニシアルマイクロプログラムロード(以後IMPLと
略す)時に該RAS回路の試験を行うことを可能とする
RAS回路の試験方法に関する。
ial)ility+^vailability an
d 5erviceability)回路に係り、特に
イニシアルマイクロプログラムロード(以後IMPLと
略す)時に該RAS回路の試験を行うことを可能とする
RAS回路の試験方法に関する。
計算機システムに対する高信頼性の要求に対応して、計
算機システムを構成する中央処理装置、主記憶制御装置
及びチャネル等にRAS回路を設け、各装置の回路等の
動作に異常が発生するとエラー情報を送出すると共に、
障害発生個所を指摘することで、障害の早期発見及び早
期復旧を可能とするように考慮されている。
算機システムを構成する中央処理装置、主記憶制御装置
及びチャネル等にRAS回路を設け、各装置の回路等の
動作に異常が発生するとエラー情報を送出すると共に、
障害発生個所を指摘することで、障害の早期発見及び早
期復旧を可能とするように考慮されている。
ところで、近年計算機システムにおけるRAS機能の重
要性が益々高まって来ているが、このRAS機能の正常
性を保証するためには、計算機システムに設けられてい
るRAS回路を短い間隔で試験することが必要である。
要性が益々高まって来ているが、このRAS機能の正常
性を保証するためには、計算機システムに設けられてい
るRAS回路を短い間隔で試験することが必要である。
従来、ユーザ先における計算機システムのRAS回路の
試験は、定期保守時に保守技術者が計算機システムのジ
ョブ遂行を一時停止させた後、RAS回路を試験するプ
ログラムをサービスプロセッサに実行させ、計算機シス
テムの各部を擬似的にエラー状態として、該各部毎に設
けられているRAS回路の動作を調べている。
試験は、定期保守時に保守技術者が計算機システムのジ
ョブ遂行を一時停止させた後、RAS回路を試験するプ
ログラムをサービスプロセッサに実行させ、計算機シス
テムの各部を擬似的にエラー状態として、該各部毎に設
けられているRAS回路の動作を調べている。
そして、現在、この定期保守は3〜6月間隔で実施され
ており、この間にRAS回路が試験されることは無い。
ており、この間にRAS回路が試験されることは無い。
上記の如く、従来は3〜6月の間はRAS回路の試験が
行われず、この間にRAS回路に障害が発生すると、計
算機システムに発生した障害に対応するエラー情報が送
出されなかったり、又は、誤ったエラー情報が送出され
たりして、計算機システムの障害の早期発見及び早期復
旧を阻害するという問題がある。
行われず、この間にRAS回路に障害が発生すると、計
算機システムに発生した障害に対応するエラー情報が送
出されなかったり、又は、誤ったエラー情報が送出され
たりして、計算機システムの障害の早期発見及び早期復
旧を阻害するという問題がある。
本発明はこのような問題点に漏み、計算機システムに対
するIMPL時に、RAS回路の試験を行うことを可能
として、計算機システムのジョブ遂行を一時停止させる
ことなく、RAS回路の正常性を保証することを目的と
している。
するIMPL時に、RAS回路の試験を行うことを可能
として、計算機システムのジョブ遂行を一時停止させる
ことなく、RAS回路の正常性を保証することを目的と
している。
計算機システムにおいては通常データ処理の開始に先立
って、プログラムを外部記憶装置から読出して、それを
主記憶装置に格納するイニシアルマイクロプログラムロ
ードと呼ばれる処理が行われる。このIMPL時には、
イニシアル診断として命令を実行させて、その結果を調
べることで、計算機システムの各機能の試験は行われる
が、RAS回路の試験は行われていない。
って、プログラムを外部記憶装置から読出して、それを
主記憶装置に格納するイニシアルマイクロプログラムロ
ードと呼ばれる処理が行われる。このIMPL時には、
イニシアル診断として命令を実行させて、その結果を調
べることで、計算機システムの各機能の試験は行われる
が、RAS回路の試験は行われていない。
本発明は、このIMPL時に、RAS回路の試験を行え
るようにしたものである。
るようにしたものである。
第1図は本発明の原理ブロック図である。
サービスプロセッサ2は記憶手段3に格納されているサ
ービスプロセッサ2自身のIMPLを指示すると共に、
計算機システム1に対するIMPLを指示するプログラ
ム4を読出して、内部メモリに格納すると、このプログ
ラム4の指示に基づいて動作し、先ずサービスプロセッ
サ2自身に対してIMPLを行う。
ービスプロセッサ2自身のIMPLを指示すると共に、
計算機システム1に対するIMPLを指示するプログラ
ム4を読出して、内部メモリに格納すると、このプログ
ラム4の指示に基づいて動作し、先ずサービスプロセッ
サ2自身に対してIMPLを行う。
サービスプロセッサ2は自身のIMPLが済むと、記憶
手段3からRAS回路の試験を指示するプログラム5を
読出して、内部メモリに格納した後、このプログラム5
の指示に基づき、計算機システム1の各部のRAS回路
の試験を行う。
手段3からRAS回路の試験を指示するプログラム5を
読出して、内部メモリに格納した後、このプログラム5
の指示に基づき、計算機システム1の各部のRAS回路
の試験を行う。
即ち、計算機システム1の各部のハードウェア上でデー
タを誤らせ、RAS回路が正常にエラー情報を送出する
か、更に、正確なエラー発生個所を指示しているか等を
調べる。
タを誤らせ、RAS回路が正常にエラー情報を送出する
か、更に、正確なエラー発生個所を指示しているか等を
調べる。
サービスプロセッサ2はこのRAS回路の試験が完了す
ると、内部メモリからプログラム4の次のシーケンスを
読出して、計算機システム1に対するIMPLを実行す
るが、プログラム5を再度実行することは行わない。
ると、内部メモリからプログラム4の次のシーケンスを
読出して、計算機システム1に対するIMPLを実行す
るが、プログラム5を再度実行することは行わない。
計算機システム1に対してrMPLが完了すると、イニ
シアル診断が実行され、計算機システム1の各部はリセ
ットされてからデータが書込まれた後、命令が送出され
、この命令が実行された結果が収集されて、計算機シス
テム1の各部の機能が試験される。
シアル診断が実行され、計算機システム1の各部はリセ
ットされてからデータが書込まれた後、命令が送出され
、この命令が実行された結果が収集されて、計算機シス
テム1の各部の機能が試験される。
上記の如く構成することにより、サービスプロセッサ2
は記憶手段3に格納されているプログラム4を読出して
、サービスプロセッサ2自身に対するIMPLを行って
RAS回路の試験を行える準備を整え、続いてプログラ
ム5を読出して計算機システム1のRAS回路の試験を
行い、再びプログラム4の次のシーケンスを実行するこ
とで、計算機システム1に対するTMPLを行い、RA
S回路の試験により誤ったデータが格納された計算機シ
ステムlの各部を正常状態にすることが出来る。
は記憶手段3に格納されているプログラム4を読出して
、サービスプロセッサ2自身に対するIMPLを行って
RAS回路の試験を行える準備を整え、続いてプログラ
ム5を読出して計算機システム1のRAS回路の試験を
行い、再びプログラム4の次のシーケンスを実行するこ
とで、計算機システム1に対するTMPLを行い、RA
S回路の試験により誤ったデータが格納された計算機シ
ステムlの各部を正常状態にすることが出来る。
そして、サービスプロセッサ2は再びプログラム5を内
部メモリから読出して実行することは行わないため、計
算機システム1のハードウェア上に再び誤ったデータが
書込まれることが無く、計算機システム1は正常にジョ
ブを遂行することが出来る。
部メモリから読出して実行することは行わないため、計
算機システム1のハードウェア上に再び誤ったデータが
書込まれることが無く、計算機システム1は正常にジョ
ブを遂行することが出来る。
第2図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図で、
第3図は第2図の動作を説明するフローチャートである
。
第3図は第2図の動作を説明するフローチャートである
。
サービスプロセッサ2は電源が投入されると、図示省略
した電源制御装置に指示して計算機システムを構成する
中央処理袋W6、主記憶制御装置7、主記憶8、チャネ
ル9及び入出力装置10に電源を供給させる。
した電源制御装置に指示して計算機システムを構成する
中央処理袋W6、主記憶制御装置7、主記憶8、チャネ
ル9及び入出力装置10に電源を供給させる。
ここで、サービスプロセッサ2は第3図■に示す如く、
ディスク11からIMPLを指示するプログラム4を読
出して内部のメモリにロードすると、このプログラム4
の指示に従い第3図■に示す如く、先ずサービスプロセ
ッサ2自身のIMPLを実行する。
ディスク11からIMPLを指示するプログラム4を読
出して内部のメモリにロードすると、このプログラム4
の指示に従い第3図■に示す如く、先ずサービスプロセ
ッサ2自身のIMPLを実行する。
そして、第3図■に示す如く、サービスプロセッサ2は
自身のIMPL実行が完了するのを監視しており、自身
のIMPL実行が完了すると第3図■に示す如く、ディ
スク11から内部のメモリに、RAS回路の試験を指示
するプログラム5を読出してロードする。
自身のIMPL実行が完了するのを監視しており、自身
のIMPL実行が完了すると第3図■に示す如く、ディ
スク11から内部のメモリに、RAS回路の試験を指示
するプログラム5を読出してロードする。
そして、このプログラム5の指示により、第3図■に示
す如く、RAS回路の試験を実行する。
す如く、RAS回路の試験を実行する。
即ち、中央処理装置6、主記憶制御装置7及びチャネル
9の各部に誤ったデータを送出し、この各部のハードウ
ェア上に誤ったデータを順次書込んで、該各部のRAS
回路が正常にエラー情報を送出するか、正しい障害位置
を指示するか等を調べる。
9の各部に誤ったデータを送出し、この各部のハードウ
ェア上に誤ったデータを順次書込んで、該各部のRAS
回路が正常にエラー情報を送出するか、正しい障害位置
を指示するか等を調べる。
サービスプロセッサ2は第3図■に示す如く、RAS回
路の試験の完了を監視しており、RAS回路の試験が完
了すると、第3図■に示す如く、プログラム4の次のシ
ーケンスに戻り、第3図■に示す如(、計算機システム
に対するIMPLを実行する。即ち、中央処理装置6、
主記憶制御装置7及びチャネル9に対するIMPLを実
行する。
路の試験の完了を監視しており、RAS回路の試験が完
了すると、第3図■に示す如く、プログラム4の次のシ
ーケンスに戻り、第3図■に示す如(、計算機システム
に対するIMPLを実行する。即ち、中央処理装置6、
主記憶制御装置7及びチャネル9に対するIMPLを実
行する。
そして、第3図■に示す如(、IMPLの完了を監視し
ており、IMPLが完了すると、第3図0に示す如く、
中央処理装置6と主記憶制御装置7とチャネル9の各部
をリセットしてからデータを書込んだ後、この各部に命
令を送出して実行させた結果を収集して、この各部の機
能を試験するイニシアル診断を行う。
ており、IMPLが完了すると、第3図0に示す如く、
中央処理装置6と主記憶制御装置7とチャネル9の各部
をリセットしてからデータを書込んだ後、この各部に命
令を送出して実行させた結果を収集して、この各部の機
能を試験するイニシアル診断を行う。
そして、第3図0に示す如く、イニシアル診断完了を監
視しており、イニシアル診断完了により、動作を終了す
る。
視しており、イニシアル診断完了により、動作を終了す
る。
以上説明した如く、本発明は計算機システムに対するビ
ニシアルプログラムロード時に、RAS回路の試験を実
施することが出来るため、計算機システムの定期保守時
までRAS回路の試験を待つ必要が無く、RAS回路の
正常性を短い期間で調べることが出来る。
ニシアルプログラムロード時に、RAS回路の試験を実
施することが出来るため、計算機システムの定期保守時
までRAS回路の試験を待つ必要が無く、RAS回路の
正常性を短い期間で調べることが出来る。
従って、RAS回路が送出するエラー情報に対する信頼
性が向上し、計算機システムの障害の早期発見と早期復
旧に効果を奏すと共に、ユーザ先における計算機システ
ムの信頼性に寄与するところが大きい。
性が向上し、計算機システムの障害の早期発見と早期復
旧に効果を奏すと共に、ユーザ先における計算機システ
ムの信頼性に寄与するところが大きい。
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の一実施例を示す回路のプロ・7り図、
第3図は第2図の動作を説明するフローチャートである
。 図において、 ■は[機システム、2はサービスプロセッサ、3は記憶
手段、 4.5はプログラム、6は中央処理装置、
7は主記憶制御装置、8は主記憶、 9はチ
ャネル、10は入出力装置、 11はディスクである
。 本発明の斥シ里)079図 第 1図 に
。 図において、 ■は[機システム、2はサービスプロセッサ、3は記憶
手段、 4.5はプログラム、6は中央処理装置、
7は主記憶制御装置、8は主記憶、 9はチ
ャネル、10は入出力装置、 11はディスクである
。 本発明の斥シ里)079図 第 1図 に
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記憶手段(3)に格納されたプログラムを読出して、計
算機システム(1)に対するイニシアルマイクロプログ
ラムロードを行うサービスプロセッサ(2)において、 該記憶手段(3)に該サービスプロセッサ(2)に対す
るイニシアルマイクロプログラムロードと、該計算機シ
ステム(1)に対するイニシアルマイクロプログラムロ
ードを指示するプログラム(4)に続いて、RAS回路
の試験を指示するプログラム(5)を格納しておき、 該記憶手段(3)からイニシアルマイクロプログラムロ
ードを指示するプログラム(4)を読出して、該サービ
スプロセッサ(2)に対するイニシアルマイクロプログ
ラムロードを行った後、該記憶手段(3)からRAS回
路の試験を指示するプログラム(5)を読出して、該計
算機システム(1)に備わるRAS回路の試験を実行し
、再びイニシアルマイクロプログラムロードを指示する
プログラム(4)の次のシーケンスに戻り、該計算機シ
ステム(1)に対するイニシアルマイクロプログラムロ
ードを行った後は、再びRAS回路の試験を指示するプ
ログラム(5)の実行は行わないことを特徴とするRA
S回路の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63276766A JPH02122335A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | Ras回路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63276766A JPH02122335A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | Ras回路の試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02122335A true JPH02122335A (ja) | 1990-05-10 |
Family
ID=17574058
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63276766A Pending JPH02122335A (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | Ras回路の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02122335A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009020630A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Fujitsu Ltd | コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60107145A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-12 | Fujitsu Ltd | 計算機システムのテスト制御方式 |
-
1988
- 1988-11-01 JP JP63276766A patent/JPH02122335A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60107145A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-12 | Fujitsu Ltd | 計算機システムのテスト制御方式 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009020630A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Fujitsu Ltd | コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム |
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