JPS61292457A - 電子交換機の診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 障害系または予備・待機系の電子交換機を試験する診断
方法であって、診断に対する要求の違いにより試験項目
を適宜組み合せて診断を行うことにより、診断時間の短
縮を図った診断方法。

〔産業上の利用分野〕

本発明は障害系汝たは予備・待機系の電子交換機を試験
する診断方法に関する。

〔従来の技術〕

一般に、電子交換機は現用系と予備・待機系の２系統を
用意して障害に対処している。そして、予備・待機系ま
たは障害系の電子交換機は、現用系または正常な実行系
の電子交換機によって、例えば２４時間毎あるいは４８
時間毎に試験・診断が行われ、障害が潜在化することを
防止している。

この試験・診断に要する時間はできる限り短いことが望
ましい。

第３図に、診断対象を説明するための機能ブロック図を
示す。第３図において、ＡＣ’ｌ’は現用系、ＳＢＹは
予備・待機系の電子交換機を示している。

予備・待機系ＳＢＹに替えて、障害系ＯＵＳが診断対象
となることもある。現用系ＡＣＴ、予備・待機系ＳＢＹ
はそれぞれ、中央処理装置ＣＣ１主記憶装置ＭＭ、チャ
ネルコントロール装置ＣＨＣｌ周辺人出力装置、１０を
含む複数の装置を備えている。図においては、現用系Ｃ
Ｃには中央処理装置ＣＣのみが示されて他の装置は図示
を省略しである。

予備・待機系ＳＢＹまたは障害系ＯＵＳの試験項目には
、例えば、次の８項目がある。

１、ＣＣ通常動作正常性試験 ２、ＣＣ特殊動作正常性試験 ３、ＣＣ異常動作検出機能試験 ４、ＭＭ正常機能試験 ５、ＭＭ異常検出機能試験 ６、ＣＨＣ正常動作試験 ７、ＣＨＣ異常動作検出機能試験 ８、■０試験 従来の診断方法によれば、例えば第４図のフローチャー
トに示すように、上記試験項目１〜８を１から順番に実
行していた。すなわち、最初に試験項目１〜３にて、中
央処理装置ＣＣの試験を行い、次いで試験項目４および
５にて主記憶装置ＭＭの試験を行い、次に試験項目６お
よび７にてチャネルコントロール装置ＣＨＣの試験を行
い、最後に試験項目８にて周辺入出力装置１０の試験を
行っていた。

〔発明が解決すべき問題点〕

上記の従来方法においては、試験項目の１から順番に試
験を行うので、電子交換機の試験・診断に要する時間が
長すぎるという問題がある。試験診断時間が長いと、障
害復旧までの時間が長くなり、この間に現用系に障害が
発生した場合には現用・予備共にシステムダウンとなり
、システム全体としての稼動率が低下し、ひいてはシス
テム全体の信軌性が低下するという問題点を生ずる。

〔問題点を解決するための手段〕

上記の問題点を解決するために、本発明により、中央処
理装置、主記憶装置、チャネルコントロール装置、およ
び周辺入出力装置を含む複数の装置を備えた、障害系ま
たは予備・待機系の電子交換機を試験する診断方法であ
って、試験診断項目を装置の各々の単位に分割するとと
もに必要に応じて装置の各々に含まれる機能毎の単位に
分割し、且つ、試験診断項目を、装置の各々の正常動作
の確認項目と異常動作の確認項目に分割し、診断に対す
る要求の違いにより試験項目を適宜組み合せて診断を行
うことを特徴とする電子交換機の診断方法が提供される
。

〔作　用〕

診断項目を、装置毎、各装置の機能毎、および各装置の
正常動作確認と異常動作確認に分割し、これら分割した
診断項目を適宜組合せて診断を行うことにより、すべて
の診断項目を実行しなくてもすべての装置の診断が可能
になり、診断時間を短縮できる。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例による電子交換機の診断方法
を示すフローチャートである。第１図において、最初に
、ステップＳ１にて、試験項目８の周辺入出力装置１０
の試験を行う。現用系ＡＣＴ内の中央処理装置ＣＣから
見て、予備・待機系ＳＢＹ内の中央処理装置ＣＣ１主記
憶装置ＭＭ、チャネルコントロール装置ＣＨＣは、周辺
入出力装置ＩＯの上位装置である。従って、ステップＳ
１にてＩＯが正常と判定されると、その上位装置ＣＣ，
ＭＭ、ＣＨＣの通常動作正常性試験、すなわち試験項目
１，４．および６は実行しなくてもすべて正常であった
とみなされ、ステップＳ２に進む。ステップ８２〜Ｓ５
では、各装置の通常動作正常性試験（試験項目１，４．
６）を除く残りの試験（試験項目５．３．２）が順次行
われる。

ステップＳ１にてＩＯが異常と判定されると、ステップ
Ｓ６に進み、■０の次の上位装置であるチャネルコント
ロール装置ＣＨＣの正常動作を試験しく試験項目６）、
正常であればステップＳ２に、異常であればステップＳ
７に進む。

ステップＳ７にて、ＣＨＣの上位装置である主記憶装置
ＭＭの正常機能を試験しく試験項目４）、正常であれば
ステップＳ３に、異常であればステップＳ８に進む。

ステップＳ８にて、ＭＭの上位装置である中央処理装置
ＣＣの通常動作正常性を試験しく試験項目１）、正常で
あればステップＳ４に進み、異常であれば診断を終了す
る。

ステップＳ１にて、周辺入出力装置■０が異常である確
率は一般に小さいので、ステップ８６〜Ｓ８が実行され
ることは稀である。従って、診断の殆んどがステップ８
１〜Ｓ５の５ステツプで済む。

第２図は第１図に示した方法の利点の理解を容易にする
概念図を示す。第２図において、試験項目８で周辺入出
力装置ＩＯの正常性が確認されれば、試験項目１，４．
６におけるＣＣ，ＭＭ。

ＣＨＣの正常性は確認されたものとみなされ、残された
試験項目７，５．３．２のみを実行すればよいことがわ
かる。

以上の実施例の説明では、最下位装置である周辺入出力
装置■０の試験を最初に行う例を示したが、試験項目１
〜８を診断に対する要求の違いにより適宜組合せること
により、従来より少ないステップ数で予備・待機系ＳＢ
、Ｙまたは障害系ＯＵＳの診断を行うことが可能である
ことは明らかである。例えば障害系ＯＵＳより障害発生
装置を検出する場合、試験項目１〜８を項目順に実行す
る事ですみやかに検出でき、予じめ装置が正常である事
を期待できる定期切替直前の試験の場合では、試験項目
を８．７，５，２．３の順で実行する事で短時間で診断
を終える事ができる。

また、試験項目は上記１〜８に限定されるものではない
。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、障害
系または予備・待機系の電子交換機を試験する診断方法
において、電子交換機内の複数の装置の診断項目を、装
置毎、各装置の機能毎、および各装置の正常動作確認と
異常動作確認に分割し、これら分割した診断項目を適宜
組合せて診断を行うことにより、一部の診断項目を実行
することですべての装置の診断が可能になり、診断時間
を大幅に短縮でき、その結果、障害復旧時間が短縮され
、システムの稼動率が向上し、ひいてはシステム全体の
信頼性が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例による電子交換機の診断方法
を示すフローチャート、 第２図は第１図に示した方法の利点の理解を容易にする
概念図、 第３図は診断対象を説明するための機能プロ・ツク図、 第４図は従来の診断方法の一例を示すフローチャートで
ある。 ＣＣ・・・中央処理装置 ＭＭ・・・主記憶装置 Ｃ）（Ｃ・・・チャネルコントロール装置■０・・・周
辺入出力装置

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、中央処理装置、主記憶装置、チャネルコントロール
   装置、および周辺入出力装置を含む複数の装置を備えた
   、障害系または予備・待機系の電子交換機を試験する診
   断方法であって、 試験診断項目を該装置の各々の単位に分割するとともに
   必要に応じて該装置の各々に含まれる機能毎の単位に分
   割し、且つ、 該試験診断項目を、該装置の各々の正常動作の確認項目
   と異常動作の確認項目に分割し、 診断に対する要求の違いにより該試験項目を適宜組み合
   せて診断を行うことを特徴とする電子交換機の診断方法
   。