JPH08505492A - 炭化ケイ素におけるパワーmosfet - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
パワー金属酸化物半導体電界効果形トランジスタ(MOSFET)は、炭化ケイ素から形成された、ドルイン領域、チャンネル領域及びソース領域を有する。ドレイン領域は第1伝導形の炭化ケイ素基板と、同じ伝導形を有し、基板に隣接する炭化ケイ素のドルイン−ドリフト領域とを有する。チャンネル領域はドレイン−ドリフト領域に隣接し、ドレイン−ドリフト領域とは反対の伝導形を有する。ソース領域はチャンネル領域に隣接し、ドレイン−ドリフト領域と同じ伝導形を有する。このMOSFETはソース領域の第1部分、チャンネル領域の第1部分及びドレイン領域の第1部分上に形成されるゲート電極を含むゲート領域を有する。ソース電極はソース領域の第2部分及びチャンネル領域の第2部分上に形成される。また、ドレイン電極はドレイン領域の第2部分上に形成される。
Description
【発明の詳細な説明】
炭化ケイ素におけるパワーMOSFET
関連出願
本出願は1992年6月5日出願の同時係属米国特許出願第07/893,6
42号に関連する。
発明の分野
本発明は、少なくとも一部は、米国航空宇宙局(“NASA”),契約番号N
AS25956の下で政府の支援を受けて実施された。政府は本発明にある一定
の権利を有する。本発明はパワー金属酸化物半導体電界効果形トランンジスター
(“MOSFET”)に関し、特に詳しくは、炭化ケイ素中に形成されるMOS
FETに関する。
発明の背景
例えば、高出力バイポーラー接合トランジスタ(“HPBT”)、パワー金属
酸化物半導体電界効果形トランンジスター(“MOSFET”)、又はゲートタ
ーンオフサイリスタ(“GTO”)のようなパワー半導体デバイスは多量の電流
を制御又は通過させ、高電圧を遮断することができる半導体デバイスである。パ
ワーMOSFETは一般に知られており、パワーMOSFETに関する最も重要
なパラメータの1つは固有オン抵抗(specific on-resistance)(すなわち、デ
バイスに電源を入れる場合の線状部分におけるデバイスの抵抗)である。パワー
MOSFETの固有オン抵抗はMOSFETに印加される一定のソース〜ドレイ
ン電圧(source to drain voltage)に対する単位面積あたりのソース〜ドレイ
ン電流(source to drain current)を最大にするために出来るだけ小さくある
べきである。固有オン抵抗が低ければ低いほど、一定の電流定格(current rati
ng)の電圧低下は低くなる。
通常のパワーMOSFETはシリコン(Si)中に製造される。しかし、Si
中に形成されるMOSFETは、例えばドレイン−ドリフト領域の厚さのような
、Si材料自体に固有のある種の性能制限を有する。固有オン抵抗に対する最大
寄与要素はMOSFETのドレイン−ドリフト領域の抵抗である。ドレイン−ド
リフト領域の厚さとドーピングとはオン抵抗を限定する。MOSFETの定格電
圧
が増加するにつれて、典型的に、ドレイン−ドリフト領域の厚さは増大し、ドレ
イン−ドリフト領域のドーピングは減少する。それ故、ドレイン−ドリフト領域
の抵抗は明白に増大する。このため、デバイスの固有オン抵抗を最小にするため
には、ドレイン−ドリフト領域の厚さを一定の定格電圧に対して最小にするべき
である。
オン抵抗に関するこれらの問題は認識されており、オン抵抗問題を解決しよう
と試みて、幾つかのMOSFET構造が開発されている。このような開発の例は
、“高い破壊電圧と小さいオン抵抗とを有する垂直電界効果形トランジスタ”な
る名称のカユマ(Kayuma)による米国特許第4,952,991号;“低いオン
抵抗と高い破壊電圧とを有する高出力MOSFET”なる名称のリンドウ(Lind
ow)等による米国特許第4,959,699号;“垂直形MOSトランジスタ”
なる名称のミハラ(Mihara)による米国特許第4,608,584号;“ショー
トチャンネル低電圧DMOSトランジスタの製造方法”なる名称のヒシッヒ(Hs
hich)による米国特許第4,931,408号;“半導体高出力MOSFETデ
バイス”なる名称のキンザー(Kinzer)による米国特許第4,974,059号
;“低オン抵抗と高破壊電圧とを有する高出力MOSFET”なる名称のリンド
ウ等による米国特許第4,642,666号;“高い抵抗電圧と高い切り替え速
度とを有する垂直MOS電界効果形トランジスタ”なる名称のタカハシ(Takaha
shi)による米国特許第4,965,647号;“V形ドレイン接点を有する半
導体デバイスMOSFET”なる名称のシバタ(Shibata)による米国特許第4
,860,084号;及び“導電状態において低い抵抗を有するパワーMOSF
ET”なる名称のミハラによる米国特許第4,697,201号に見ることがで
きる。問題を解決しようとするこれらの先行技術の試みは、オン抵抗を低下させ
ようとして種々な構造のSi半導体材料を含むものであった。しかし、これらの
先行技術の試みはSi半導体材料自体における固有の限界を充分に理解すること
ができなかった。
したがって、発明者の知る限りでは、低いオン抵抗と、高電圧のための高い温
度範囲とを有するパワーMOSFETは現在存在しない。
発明の概要
それ故、本発明は低いオン抵抗と、高電圧のための高い温度範囲とを有するパ
ワーMOSFETを提供する。炭化ケイ素における材料処理方法を理解し、開発
することによって、炭化ケイ素中に形成されるパワーMOSFETはSi中に形
成される通常のパワーMOSFETに比べてオン抵抗と高温性能との改良を提供
する。
さらに詳しくは、パワー金属酸化物半導体電界効果形トランジスタ(MOSF
ET)は炭化ケイ素中に形成されたドレイン領域、チャンネル領域及びソース領
域を有する。ドレイン領域は第1伝導形(first conductivity type)の炭化ケ
イ素の基板と、同じ伝導形を有する基板に隣接する炭化ケイ素のドレイン−ドリ
フト領域とを有する。チャンネル領域はドレイン−ドリフト領域に隣接し、ドル
イン−ドリフト領域とは反対の伝導形を有する。ソース領域はチャンネル領域に
隣接し、ドレイン−ドリフト領域と同じ伝導形を有する。MOSFETはまた、
ソース領域の第1部分、チャンネル領域の第1部分及びドレイン領域の第1部分
に隣接して形成されるゲート電極を含むゲート領域を有する。ソース電極はソー
ス領域の第2部分とチャンネル領域の第2部分とに隣接して形成される。ドレイ
ン電極はドレイン領域の第2部分上に形成される。
図面の説明
本発明の特徴及び利益の一部を説明したが、他の特徴及び利益は添付図面に関
連して説明を進めるにつれて明らかになるであろう。
図1は本発明による、U形ゲート接点領域を有する、炭化ケイ素中に形成され
た垂直MOSFETの部分断面略図である;
図2は本発明の他の実施態様による、炭化ケイ素中に形成された、V形ゲート
接点領域を有する垂直MOSFET(“VMOSFET”)の部分断面略図であ
る;
図3は本発明のさらに他の実施態様による、炭化ケイ素中に形成されたVMO
SFETの部分断面略図である;
図4は本発明のさらに他の実施態様による、炭化ケイ素中に形成されたVMO
SFETの部分断面略図である;
図5は300°Kの温度において6.7x10-4cm2の活性面積を有する炭
化ケイ素中に形成されたVMOSFETのドレイン電流−電圧特性のプロットで
ある;
図6は本発明によるVMOSFETの相互コンダクタンス−ゲート電圧特性の
プロットである;
図7は本発明のさらに他の実施態様による、炭化ケイ素中に形成されたアース
のない(ungrounded)VMOSFETの部分断面略図である;
図8は図7の実施態様によるアースのないVMOSFETのドレイン電流−電
圧特性のプロットである;
図9は本発明によるMOSFETの形成に用いられるマスクの写真図である。
詳細な説明
以下では、本発明の好ましい実施態様を示す添付図面を参照しながら、本発明
をさらに詳しく説明する。しかし、本発明は多様な形式で具体化することができ
、ここに述べる実施態様に限定されるものと見なすべきではない;むしろ、この
実施態様はこの開示が詳細でかつ完全であり、本発明の範囲を当業者に完全に伝
えるために提供するものである。同じ数字は同じ要素を終始意味する。
次に図面に関して説明すると、本発明によるパワーMOSFETデバイスは図
1〜3に示すようなアースつき(grounded)構造を用いて製造することができる
。図1は本発明による、U形ゲート接点領域(27と大ざっぱに表示する)を有
する、炭化ケイ素中に形成されたパワー金属酸化物半導体電界効果形トランジス
タ(MOSFET)の部分断面略図を示す。20と大ざっぱに表示する、このM
OSFETは、図示した実施態様ではn+として示される第1伝導形の炭化ケイ
素(SiC)から形成された基板21を含むドレイン領域23を有する。ここで
述べるSiCは典型的に6Hポリタイプ(polytype)を有するが、当業者に明ら
かであるように、SiCは非限定的に3C、2H、4H又は15Rポリタイプを
含む、他のポリタイプから成ることもできる。ドレイン領域23はまた、図示し
た実施態様ではn−として示される同じ伝導形を有するSiCのドレイン−ドリ
フト領域をも有する。n+とn−は、p+とp−と同様に、それぞれ同じ材料の
高い及び低いドーピングレベルに関して“+”及び“−”と表示される。チャン
ネル領域24はドルイン領域23のドレイン−ドリフト領域22に隣接し、p−
と示される反対の伝導形を有する。ソース領域25はその一部に隣接して形成さ
れるソ
ース接点として示されるソース電極を有し、チャンネル領域24に隣接し、n+
として示されるドレイン−ドリフト領域22と同じ伝導形を有する。ゲート領域
27はソース領域25、チャンネル領域24及びドレイン領域23の一部に隣接
して形成されるゲート接点30として示されるソース電極を有する。ゲート領域
27は図示したようにソース領域25、チャンネル領域24及びドレイン領域2
3のこれらの部分中に入り込むことによって形成される。ドレイン接点32とし
て示されるドレイン電極もドレイン領域23の一部に隣接して形成される。
また、絶縁層31もゲート接点30とソース領域25、チャンネル領域24及
びドレイン領域23の種々な部分との間に形成される。絶縁層31は典型的に例
えば二酸化ケイ素(SiO2)のような酸化物層である。さらに、本発明による
MOSFETはその1側面に沿って35と表示される、図1に示されるメサ形エ
ッジ末端を有する。図2〜4及び7に示される実施態様にも、図示しないが、メ
サ形エッジ末端が生ずる。メサ形エッジ末端は典型的に36と表示され、SiO2
によって不動態化され、MOSFETの他の部分よりも厚い。
炭素面(C面)ウェファーとケイ素面(Si面)ウェファーの両方を製造する
ことができるが、C面ウェファーが好ましいので、以下ではこれについて詳述す
る。ゲート接点30がインプラントされたソース材料と溝(trench)の底部とに
重なり合うウェファー頂部に成長する酸化物層31は、異方性の酸化速度のため
に、側壁上の酸化物層よりも一般に厚いので、C面がこのデバイスのためにより
最適である。これは誘電障害が最も起こりやすい厚い酸化物を形成するが、側壁
上の酸化物を比較的薄く留めることを可能にし、良好な輸送特性を生じる。
C面基板(n=1〜4x1018/立方センチメートル(cm-3)(1−4E1
8))は下記のように成長したエピタキシャル構造を有する。成長した第1エピ
層(図示せず)は、ドレイン−ドリフト領域22の突き抜け(punch-through)
のための基板21上の0.5マイクロメートル(μm)厚さn+層である。次に
、n−ドルイン−ドリフト領域22を5〜7x1015cm-3(5−7E15)の
範囲のドーピング密度及び厚さ4.3μmで成長させる。これらの条件を、n+
層21までの突き抜けの前に約50V以上の電圧(V)のドレインバイアスを維
持するように設計する。チャンネル層24は7〜15x1015cm-3(7−15
E
15)の範囲のキャリヤー濃度及び2.0μmの厚さによって成長させる。ソー
ス領域25のためのn+イオンのインンプラント後に、チャンネル長さは約1.
5μmであるべきであり、ソース領域25までの突き抜けなしに、50vを維持
することも可能であるべきである。
図1のデバイスは下記のように製造する。第一に、外部メサ形パターンをSi
C表面中に0.5μm反応性イオンエッチングして、今後のレベルのためのアラ
インメント・マーク(alignment mark)として作用させる。次に、ポリシリコン
(厚さ0.75μm)をウェファー上に付着させ、ジクロロジフルオロメタン(
CCl2F2)中での反応性イオンエッチングを用いてパターン化する。ソース接
点26の小さいサイズの(undersized)パターンを除いてウェファー全体がイン
プラントされるように、残りのインプラントマスクをパターン化する。マスクは
2.5μm小さいサイズであり(2.5μm undersized)、このことは15μm幅
のソース接点の中央10μmがインプラントされないp形材料上にあることを意
味する。ソース孔25のイオンインプランテーションは2x1020cm-3(2E
20)ピーク濃度を生じる下記条件:
E=40keV,φ=1.34x1015cm-2
E=80keV,φ=2.18x1015cm-2
E=150keV,φ=3.10x1015cm-2
[式中、Eはエネルギーであり、keVはキロ電子ボルトであり、φは原子/c
m2の用量である]
の下で650摂氏度(℃)において3回インプラントすることによって実施する
。
インプランテーション後に、ポリシリコンをストリップし、ウェファーをアル
ゴン(Ar)中1500℃において10分間焼きなます。次に、アルミニウム(
Al)層を付着させ、パターン化して、溝を反応性イオンエッチングするための
窓を開ける。このパターンは5μmx250μm長さである8フィンガーを開け
るに過ぎない。次に、酸化二窒素(N2O)10%につき三フッ化窒素100%
中においてn+イオンインプラントされた材料25、p形チャンネル層24を通
して、n−ドレイン領域23中に溝をエッチングする;エッチ(etch)の深さは
約3.0μmである。次に、Alをストリップし、Alの新しい層を付着させ、
外側メサ形末端35のパターンにもう一度パターン化する。メサ形の外側の材料
を、成長したエピ層の全体を透過するNF3による反応性イオンエッチング(“
RIE”)を再び用いて、約7.2μm深さにエッチングする。
次に、ウェファーを湿った酸素(O2)中で1100℃において30分間酸化
して、ゲート酸化物31と外部側壁不動態化層35とを形成する。メサ形の頂部
における酸化物厚さは約80ナノメートル(nm)厚さであり、酸化物破壊計算
に基づいて、側壁酸化物厚さは約40nm厚さである。次に、例えばモリブデン
(Mo)のような金属の300nm厚さ層をウェファー上に付着させ、例えばリ
ン酸/硝酸/酢酸混合物中での湿式エッチングによってパターン化して、ゲート
接点30を形成する。ゲート層もポリシリコンから形成することができる。次に
、65nm厚さニッケルソース接点26を、フォトレジスト中の窓を通してフル
オロホルム(fluoroform)(CHF3)中で二酸化ケイ素(SiO2)を第1反応
性イオンエッチングし、次にNiを付着させ、リフトオフする(lift-off)こと
によって付着させる。次に、酸化物をウェファーの裏側(backside)からエッチ
ングオフし(etched off)、その上にNiの200nm厚さフィルムをドレイン
接点32として付着させる。
このウェファーを次に800℃において水素(H2)4%につきアルゴン中で
2分間焼きなます。焼きなまし後に、ウェファー上に耐酸化性オーバーレイ(図
示せず)をスパッターする。ソース26とゲート接点30とをリフトーオフ方法
を用いて小さいサイズのパターン(undersized pattern)でチタン(Ti)/白
金(Pt)/金(Au)によって被覆する。同様に、ウェファーの裏をTi/P
t/Auによって上塗りする。
図2〜4は本発明の他の3実施態様によるV形ゲート接点を有するアース付き
垂直MOSFET20’、20”、20'''(“VMOSFET”)を示す。こ
れらの実施態様は図1に示した要素と同じような要素を有し、それぞれプライム
(’)、ダブルプライム(”),トリプルプライム(''')と表示される。図2
の実施態様では、p−チャンネル領域24’中にn+ソース領域25’がインプ
ラントされる。次に、ソース接点26’をn+ソース25’及びp−チャンネル
26’領域上に形成する。図3の実施態様では、n+ソース領域25”がp−チ
ャ
ンネル領域24”上に、図示したように、エピタキシャル成長する。p−チャン
ネル領域24”との接触のために、n+ソース領域25”の一部をエッチングす
る。次に、ソース接点26”をn+ソース25”及びp−チャンネル24”領域
上に形成する。図4の実施態様においても、n+ソース領域25'''がp−チャ
ンネル領域24'''上にエピタキシャル成長する。次に、p−チャンネル領域2
4'''とソース接点26'''との間の接触のために、n+ソース領域25'''中に
P+領域33をインプラントする。p−チャンネル領域24'''とソース接点2
6'''との間の接触のためにp+インプラントした領域33も、図1〜3に示し
た実施態様において、使用可能であることも当業者に明らかであろう。イオンイ
ンプランテーション方法が使用可能であり、特に、本明細書に援用される、“単
結晶炭化ケイ素中へのドーパントのインプランテーション及び電気的活性化”な
る名称のエドモンド(Edmond)等による米国特許第5,087,576号に示さ
れる高温イオンインプランテーション方法が使用可能である。
図5は最低抵抗デバイスの1つのI−V曲線を示す。図5は本発明によるVM
OSFETのドルイン電流−電圧特性のプロットである。図6は同じVMOSF
ETの相互コンダクタンス−ゲート電圧特性のプロットである。この特定のウェ
ファーはp=9.5x1015cm-3(9.5E15)のチャンネルドーピングを
有した。ゲート電圧(VG)が僅か+10Vであったときに、40ミリアンペア
(mA)のオン−電流が2.3ボルト(V)の電圧低下を伴って得られ、57オ
ーム(Ω)のオン−抵抗を生じた(デバイスの活性面積は6.7x10-4平方セ
ンチメートル(cm2)であり、ドレイン〜ソース抵抗(RDS(0n))=38mΩ
−cm2であるので)。室温(“RT”)におけるこのデバイスの限界電圧(Vt h
)は1.6Vであり、ドレイン電圧(VD)=18VかつVG=+10Vにおけ
る相互コンダクタンスは24ミリジーメンス(mS)(6.0mS/ミリメート
ル(mm))であった。
これらのデバイスを温度の関数としても特徴づけた。もう一つの低ドープト(
low doped)パワーデバイスは3.2VのRT Vthと5mS/mmの相互コン
ダクタンスを有した。VG=+10VにおけるこのデバイスのRDs(on)は49.
6mΩ−cm2であった。VthはRT〜150摂氏度(℃)において1.7Vに
迅
速に低下し、RDs(on)、は低下してから、再び上昇し始め、150℃では46.
2mΩ−cm2であった。この温度において相互コンダクタンスは3.5mS/
mmに低下した。これらのデバイスは300℃において良好に作動した。この温
度において、電圧は約1.6Vにおいて安定化した。RDS(on)は60mΩ−cm2
に上昇し、相互コンダクタンスは2.75mS/mmに低下した。これらのデ
バイスを冷却した後に、デバイス特性値はこれらのデバイスのオリジナル特性値
に戻った。
したがって、同じ発明者による1992年6月5日出願の“炭化ケイ素上での
高品質二酸化ケイ素不動態化の生成方法と得られる不動態化構造体”なる名称の
同時係属米国特許出願第07/893,642号に示されるような、種々な酸化
方法もこれらのデバイスに使用可能である。この同時係属出願は本明細書に援用
される。これらの図(view)はMOSFETのV形ゲート接点を示すが、例えば
二重拡散金属酸化物半導体(DDMOS)又はプレーナMOSFETのような、
他の種々な形態も使用可能である。SiO2/SiC界面における高い界面トラ
ップ密度のために、Alp形酸化の使用が熱成長した酸化物中に低いチャンネル
移動度を生ずることも判明している。さらに、図示した実施態様を形成するため
のドーピングレベルは2E15〜5E15原子/cm3の範囲である。
したがって、通常のドーピング方法を用いる今までの実施態様の低チャンネル
ドーピングとは対照的に、上記酸化方法を用いる高チャンネルドーピングによっ
ても垂直パワーMOSFETが製造された。酸化前の犠牲的(sacrificial)層
として薄層の付着ポリシリコンを用いた。このような使用において、ポリシリコ
ンはエピタキシャル成長した非ドープトSiCに比べて幾つかの利点を有する。
均一な被膜が得られることの他に、得られる熱酸化物(thermal oxide)はSi
C酸化の種々な炭素酸化物(COx)のいずれも含まない。酸化は低温において
も実施することができるが、より短時間に実施することもでき、あるいは両方で
実施することができる。SiはSiCよりも迅速に酸化されるので、ポリシリコ
ンはかなり迅速に消耗されるが、SiO2がSiC界面に達すると、SiO2は本
質的に停止する。それ故、SiCは実際に消耗されないが、高性能の熱(therma
l)SiO2/SiC界面が得られる。この界面におけるAlの存在は界面状態を
さら
に与える可能性があるので、問題を可能なかぎり最小化することができる。
ウェファーはSi面n+ウェファー上に2.5〜3x1018cm-3(2.5−
3E18)のドーパント密度で成長した。これらのウェファーのエピタキシャル
構造は既述した構造に類似したが、この場合には、ドレイン領域はn=1〜2x
1016cm-3(1−2E16)のドーピングを有し、p形チャンネルドーピング
は1〜1.7x1017cm-3(1−1.7E17)の範囲であり、1.0μmの
厚さであった。
これらのウェファーに関するデバイス製造も低チャンネルドーピングを有する
既述構造に関して述べたデバイス製造に類似した。唯一の差はインプラントと酸
化条件とにあった。酸化物製造は材料を全く除去しないので、インプラントは浅
く作られた。得られたゲート長さは約0.5μmであった。これらの条件は:
E=25keV,φ=9.02x1014cm-2
E=40keV,φ=1.34x1015cm-2
E=80keV,φ=2.17x1015cm-2
E=150keV,φ=3.11x1015cm-2
であった。
p−層が薄いために、溝は1.3μmの深さまでエッチングされたに過ぎなか
った。溝及びメサ形の形成後に、低圧化学蒸着(“LPCVD”)によって40
nm厚さの犠牲的ポリシリコン層を付着させた。この層を次に湿ったO2中で1
100℃において9分間酸化した。得られた酸化物厚さは78nm厚さであった
。デバイス加工の残りは既述した加工と同じであった。
特定のウェファーのチャンネルドーピングはp=1.2x1017cm-3(1.
2E17)であった。+16Vのゲート電圧によって22mAのオン電流が室温
において得られた。このゲート電圧におけるオン抵抗は184Ωであり、RDS(o n)
=123mΩ−cm2を生じた。室温におけるこのデバイスの限界電圧は7.
5Vであり、VD=20VかつVG=+16Vにおける最大相互コンダクタンスは
6.8mS(1.7mS/mm)であった。これらの数値は既述した数値ほど良
好ではないが、これらのデバイスでは酸化物は約2倍の厚さであり、このことが
相互コンダクタンスの低下に有意な影響を及ぼすことを認めるべきである。
低チャンネル移動度は、SiO2/SiC界面におけるAlによって生ずる高
い界面トラップ密度のために、チャンネル領域の高いAlドーピングレベルによ
って生ずることが判明した。発明者は特定の理論によって縛られることを望む訳
ではないが、チャンネル領域のドーピングのためのホウ素(B)の使用がこれら
の低いチャンネル移動度問題を減ずるように思われる。このため、本明細書にお
いてAlを述べる場合にBドーピングが使用可能であることは当業者に明らかで
あろう。
これらのデバイスも温度の関数として特徴づけた。これらのデバイスの限界電
圧の低下は温度上昇に対して全く安定であった。150℃において、Vthは6.
7Vに低下し、RDS(on)は117mΩ−cm2までやや低下した。この温度にお
いて相互コンダクタンスはやや上昇して1.8mS/mmになった。これらのデ
バイスも300℃まで良好に作動した。この温度において、Vthは約6.7Vま
でにさらに低下した。RDS(on)は117mΩ−cm2に安定に留まり、相互コン
ダクタンスは2.0mS/mmに増加した。
Vthはデバイスの両方のセットに関して良好に挙動し、使用ドーピング密度を
仮定した算出数値に非常に近い。重度ドープトデバイスの平均低下速度は約4〜
5ミリボルト(mV)/℃であり、これはSiMOSFETで観察されたほぼ同
じ速度である。低ドープトサンプルのVthは室温から100℃までにおいて迅速
に低下したが、温度上昇に対して非常に安定に留まった。
高ドープトチャンネル層の相互コンダクタンスは約200℃まで温度と共に上
昇した。このことは、デバイスがRTにおいては界面トラップによってまだ支配
されるが、高温においてはこれらが克服されることを実証した。低ドープトサン
プルは非常に高いRT相互コンダクタンスを示したが、これは温度によって低下
した。これは理想的な場合に非常に近似し、トラップは特性を支配せず、相互コ
ンダクタンスは温度上昇によって移動度の低下のために低下する。
低チャンネルドーピング(RDS(on)=37.5mΩ−cm2)を有する垂直M
OSFETによって得られた最近の最良の結果に基づくと、20アンペア(A)
パワーMOSFETは5V低下に関して約4ミリメートル(mm)x4mmのダ
イサイズを有する。0.9mΩ−cm2のRDS(on)を有する1000VパワーM
OSFETが形成されるような、良好な性能が生ずると考えられる。
図7は、本発明のさらに他の実施態様によるアースなしのVMOSFETであ
る。これは最適の構造ではないが、エピタキシーによる全てのドーピングの実施
を可能にし、イオンインプランテーションの必要性を除去する。製造操作は、イ
オンインプランテーションを省略した以外は、既述した操作と同じである。酸化
物は通常、湿ったO2内で、SiCから成長した。
この構造によって製造された第1垂直デバイスは作動したが、高いゲート漏れ
電流を示し、限界電圧は+10Vを越えた。25Vより高いドレインバイアスに
おいて過度の漏れ電流が観察された。VG=22Vにおけるこれらのデバイスの
測定固有オン抵抗は約350mΩ−cm2であった。これらのデバイスに関して
観察された高い限界電圧はp=1x1017cm-3(1E17)の比較的高いチャ
ンネルドーピングによるものであった。この重度チャンネルドーピングが高密度
の界面トラップを惹起し、これが次に既述した酸化物中のAlの劣化効果(degr
ading effect)による低い相互コンダクタンスと高いRDS(on)とを惹起すること
によって低いチャンネル移動度に寄与すると想定された。チャンネルを重度にド
ーピングする理由は、SiパワーMOSFETに対して通常実施されるように、
短い(ミクロン未満)ゲート長さを50〜100Vバイアスによって使用するこ
とを可能にするためであった。これらのデバイスの性能に基づいて、p=1〜2
x1016cm-3(1−2E16)を有する厚い(1.4μm)低ドープトチャン
ネル領域を伴って、次のセットのウェファーを製造した。ドレイン領域は約n=
3〜8x1015cm-3(3−8E15)でドーピングされ、5μm厚さであった
。これらの厚さは、空乏(depletion)領域がドレインを通り抜けてn+基板に
達する前に、50V操作を可能にした。
これらのデバイスは重度ドープトデバイスよりも非常に良好な特性を有するが
、チャンネル層にアースの存在しないことがI−V特性に明白に影響を与えるこ
とが判明した。I−V曲線は、約60Vのドレイン電圧に達するまで、飽和電流
が殆ど生じないことを示した。曲線の直線領域では非常に高い抵抗(13,00
0〜15,000Ω)が観察された。デバイスにタングステンランプを照射した
場合に、これらの特性は明白に改良された。この直線領域は1150Ωの非常に
低
い抵抗を有し、VD=10V未満において曲線は飽和状態に達するが、飽和はか
なり傾斜的であった(出力抵抗=15,000Ω)。照射がp−n接合における
幾つかの電子孔対を形成し、これがチャンネル電荷の若干のブリードオフ(blee
ding off)を可能にし、アース効果を生ずると考えられる。同様に、高いドレイ
ン電圧はより多くの接合漏れを生じ、これもチャンネル層を効果的にアースする
。これらのRT特性は一般に好ましくないが、大きい接合漏れ電流がチャンネル
層をアースすることを可能にするので、これらのデバイスは高温において良好に
作動すると考えられる。
図8は、これらのアースなしデバイスの1つの照射下で得られたI−V曲線の
典型的なセットを示す。図8は、本発明の他の実施態様による、ゲート長さ1.
4μmとゲート周縁4mmとを有するアースなしVMOSFETに関する電流−
電圧特性のプロットである。このデバイスは、約p=1.3x1016cm-3(1
.3E16)のチャンネルドーピングを有した。限界電圧はVth=+5.5Vで
あり、最大相互コンダクタンスは1.57mS(約0.39mS/mm)であっ
た。直線領域における抵抗は約635Ωであり、これはVG=19Vにおける約
430mΩ−cm2のRDS(on)に対応する。
図9は本発明によるMOSFETの製造に用いる組合せ(interdigitated)マ
スク設計の写真図を示す。これらの小面積デバイスのマスク設計は、既述した多
重フィンガー状(multiple fingered)溝設計を有する。8フィンガーによる左
接点パッドはゲート接点である。各フィンガーにエッチングされた5μmx25
0μm幅溝が存在し、それを部分的に覆う10μm幅ゲート接点が存在する。右
側の接点パッドから生ずる9ソース接点フィンガーがゲートフィンガーを囲む。
これらのフィンガーを囲む大きいアウトラインは、メサ形エッジ末端がエピ層を
通って基板までエッチングされる箇所である。このメサ形エッジ末端はドレイン
−ドリフト層における空乏領域を限定し、その面積は1.03x10-3cm-2で
ある。しかし、ソース及びゲートフィンガーが配置されるデバイスの活性面積は
6.7x10-4cm-2である。UMOSデバイスではマスクを用いたが、例えば
図2〜4及び7に示すような、他のVMOS断面設計もMOSFETを形成する
ために組合せマスクを用いる。さらに、例えば方形又は六辺形セルのような、他
の種々
な構造も本発明による種々なMOSFET構造の形成に使用可能であることは当
業者に明らかであろう。
本発明の典型的な好ましい実施態様を図面及び明細書において開示し、特定の
条件(terms)を用いるが、これらは包括的なかつ説明的な意味でのみ用いるも
のであり、下記請求の範囲に記載する本発明の範囲を限定する目的で用いるもの
ではない。
【手続補正書】特許法第184条の8
【提出日】1994年11月16日
【補正内容】差し替え用紙第3頁及び第3/1頁の翻訳文:原翻訳文の第2頁第23行〜第3 頁第13行(問題を解決しようとする・・・・・同じ伝導形を有する。)と差し 替える。
問題を解決しようとするこれらの先行技術の試みは、オン抵抗を低下させようと
して種々な構造のSi半導体材料を含むものであった。例えば、ウエノ(Ueno)
等による日本特許出願第04−239778号及びフジ(Fuji)等による日本特
許出願第04−029368号に見られるような、他の構造体も炭化ケイ素中に
形成されているが、これらの先行技術の試みはSi半導体材料自体における固有
の限界を充分に理解することができず及び/又は構造体のオン抵抗及びドレイン
領域に関連した問題を認識することができなかった。したがって、発明者の知る
限りでは、低いオン抵抗と、高電圧のための高い温度範囲とを有するパワーMO
SFETは現在存在しない。
発明の概要
それ故、本発明は低いオン抵抗と、高電圧のための高い温度範囲とを有するパ
ワーMOSFETを提供する。炭化ケイ素における材料処理方法を理解し、開発
することによって、炭化ケイ素中に形成されるパワーMOSFETはSi中に形
成される通常のパワーMOSFETに比べてオン抵抗と高温性能との改良を提供
する。
さらに詳しくは、パワー金属酸化物半導体電界効果形トランジスタ(MOSF
ET)は炭化ケイ素中に形成されたドレイン領域、チャンネル領域及びソース領
域を有する。ドレイン領域は第1伝導形(first conductivity type)の炭化ケ
イ素の基板と、同じ伝導形を有する基板に隣接する炭化ケイ素のドレイン−ドリ
フト領域とを有する。チャンネル領域はドレイン−ドリフト領域に隣接し、ドレ
イン−ドリフト領域とは反対の伝導形を有する。ソース領域はチャンネル領域に
隣接し、ドレイン−ドリフト領域と同じ伝導形を有する。
請求の範囲
(請求項1〜8を変更し、他の請求項は削除する)
1.第1伝導形の炭化ケイ素から形成されたドレイン領域(23)と;
炭化ケイ素から形成された前記ドレイン領域(23)上に配置され、前記ドレ
イン−ドリフト領域(23)とは異なる第2伝導形を有するチャンネル領域(2
4)と;
前記チャンネル領域(24)上に配置され、前記第1伝導形を有するソース領
域(25)と;
前記ソース領域(25)の第1部分上に配置されたソース電極(26)と;
前記ドレイン領域(23)の第1部分に隣接して配置されたドレイン電極(3
2)と
前記ソース領域の第2部分に隣接して形成されるソース電極(26)とを含む
、低オン抵抗と高温範囲とを有するパワー金属酸化物半導体電界効果形トランジ
スタ(MOSFET)(20)であって、
第1伝導形の炭化ケイ素の基板(21)と前記第1伝導形を有する前記基板(
21)上に配置された炭化ケイ素のドレイン−ドリフト領域(22)とを有する
前記ドルイン領域(23)と;
前記ソース(25)及びドルイン−ドリフト(22)領域の第2部分と前記チ
ャンネル領域(24)の一部との中に形成されたV形溝と;
前記溝中に配置され、前記ソース(25)及びドレイン−ドリフト(22)領
域の前記第2部分の上に重なる絶縁層(31)と;
前記溝上に、前記ソース(25)及びドルイン−ドリフト(22)領域の前記
第2部分に隣接して、前記チャンネル領域(24)の前記一部中に配置されたゲ
ート電極(30)と
を有することを特徴とする前記垂直パワーMOSFET(20)。
2.前記チャンネル(24)及び前記ドレイン−ドリフト(22)領域のメ
サ形エッジ末端をさらに含む請求項1記載の垂直パワーMOSFET(20)。
3.前記メサ形エッジ末端(35)上に配置され、前記チャンネル領域(2
4)と前記ゲート電極(30)との間に配置された前記絶縁層(31)よりも厚
い不動態化層(36)をさらに含む請求項2記載の垂直パワーMOSFET(2
0)。
4.炭化ケイ素の前記領域(23、24、25)の少なくとも1つが3C、
2H、4H、6H及び15Rから成る群から選択されるポリタイプを有する請求
項1〜3のいずれかに記載の垂直パワーMOSFET(20)。
5.前記チャンネル領域(24)がアルミニウム及びホウ素から成る群から
ドーピングされる請求項1〜4のいずれかに記載の垂直パワーMOSFET(2
0)。
6.前記チャンネル領域(24)が約2E15〜約5E18原子/cm3の
範囲のドーピング密度を有する請求項5記載の垂直パワーMOSFET(20)
。
7.前記チャンネル領域が約7E15〜約15E15原子/cm3の範囲の
ドーピング密度を有する請求項5記載の垂直パワーMOSFET(20)。
8.前記チャンネル領域が約2.5E18〜約3E18原子/cm3の範囲
のドーピング密度を有する請求項5記載の垂直パワーMOSFET(20)。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE,
DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M
C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG
,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN,
TD,TG),AT,AU,BB,BG,BR,BY,
CA,CH,CZ,DE,DK,ES,FI,GB,H
U,JP,KP,KR,KZ,LK,LU,LV,MG
,MN,MW,NL,NO,NZ,PL,PT,RO,
RU,SD,SE,SK,UA,US,UZ,VN
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.低オン抵抗と高温範囲とを有するパワー金属酸化物半導体電界効果形ト ランジスタ(MOSFET)であって、 炭化ケイ素基板と前記基板に隣接する炭化ケイ素のドレイン−ドリフト領域と を有する、炭化ケイ素のドレイン領域と; 前記ドレイン−ドリフト領域に隣接し、前記ドレイン−ドリフト領域とは反対 の伝導形を有する、炭化ケイ素のチャンネル領域と; 前記チャンネル領域に隣接し、前記ドレイン−ドリフト領域と同じ伝導形を有 する、炭化ケイ素のソース領域と; 前記チャンネル領域に隣接する絶縁層と; 前記絶縁層に隣接して形成されるゲート領域と; 前記ソース領域の第2部分に隣接して形成されるソース電極と; 前記ドレイン領域の第2部分に隣接して形成されるドレイン電極と を含むMOSFET。 2.前記ソース電極が前記チャンネル領域に隣接して伸びる請求項1記載の MOSFET。 3.前記ドレイン領域の前記基板が第1伝導形を有する炭化ケイ素から形成 され、前記ドレイン領域の前記ドレイン−ドリフト領域が前記第1伝導形を有す る炭化ケイ素から形成される請求項1又は2に記載のMOSFET。 4.前記ドレイン領域の前記基板が第1伝導形を有する炭化ケイ素から形成 され、前記ドレイン領域の前記ドレイン−ドリフト領域が反対伝導形を有する炭 化ケイ素から形成される請求項1又は2に記載のMOSFET。 5.前記ソース領域、前記チャンネル領域及び前記ドレイン−ドリフト領域 のメサ形エッジ末端をさらに含む請求項1又は2に記載のMOSFET。 6.前記絶縁層が二酸化ケイ素を含む請求項1記載のMOSFET。 7.炭化ケイ素の前記領域の少なくとも1つが3C、2H、4H、6H及び 15Rから成る群から選択されるポリタイプを有する請求項1記載のMOSFE T。 8.前記第1伝導形がn形炭化ケイ素を含み、前記反対伝導形がp形炭化ケ イ素を含む請求項1〜4のいずれかに記載のMOSFET。 9.前記第1伝導形がp形炭化ケイ素を含み、前記反対伝導形がn形炭化ケ イ素を含む請求項1〜4のいずれかに記載のMOSFET。 10.前記ソース電極と前記ドレイン電極とがニッケルを含む請求項1記載 のMOSFET。 11.前記ゲート電極が金属から形成されたゲート接点を含む請求項1記載 のMOSFET。 12.前記ゲート電極がポリシリコンから形成されたゲート接点を含む請求 項1記載のMOSFET。 13.前記チャンネル層がアルミニウムをドーピングされる請求項1又は2 に記載のMOSFET。 14.前記チャンネル層がホウ素をドーピングされる請求項1又は2に記載 のMOSFET。 15.前記チャンネル領域が2E15〜5E18原子/cm3のドーピング 範囲を有する請求項1又は2に記載のMOSFET。 16.低オン抵抗と高温範囲とを有する垂直パワー金属酸化物半導体電界効 果形トランジスタ(MOSFET)であって、 第1伝導形を有する炭化ケイ素基板と; 前記基板上の、ドレイン−ドリフト領域を形成するための前記第1伝導形を有 する炭化ケイ素の第1層と; 前記第1層上の、チャンネル層を形成する、第2伝導形を有する炭化ケイ素の 第2層と; 前記第2層上の、ソース領域を形成する、前記第1伝導形を有する炭化ケイ素 の第3層と; 前記ドレイン領域、前記チャンネル領域及び前記ソース領域の第1部分上の絶 縁層と; 前記絶縁層上のゲート電極と; 前記ソース領域の第2部分上に形成されるソース電極と; 前記ドレイン領域の第2部分上に形成されるドレイン電極と を含むMOSFET。 17.前記ソース電極が前記チャンネル領域の第2部分上に伸びる請求項1 6記載のMOSFET。 18.前記ソース領域、前記チャンネル領域及び前記ドレイン−ドリフト領 域のメサ形エッジ末端をさらに含む請求項16記載の垂直パワーMOSFET。 19.炭化ケイ素の前記領域の少なくとも1つが3C、2H、4H、6H及 び15Rから成る群から選択されるポリタイプを有する請求項16記載の垂直パ ワーMOSFET。 20.前記第1伝導形がn形炭化ケイ素を含み、前記反対伝導形がp形炭化 ケイ素を含む請求項16記載の垂直パワーMOSFET。 21.前記第1伝導形がp形炭化ケイ素を含み、前記反対伝導形がn形炭化 ケイ素を含む請求項16記載の垂直パワーMOSFET。 22.前記チャンネル領域がアルミニウムをドーピングされる請求項16記 載の垂直パワーMOSFET。 23.前記チャンネル領域がホウ素をドーピングされる請求項16記載の垂 直パワーMOSFET。 24.前記チャンネル領域が2E15〜5E18原子/cm3のドーピング 範囲を有する請求項16記載の垂直パワーMOSFET。 25.低オン抵抗と高温範囲とを有する垂直パワー金属酸化物半導体電界効 果形トランジスタ(MOSFET)であって、 第1伝導形の炭化ケイ素基板と、前記第1伝導形を有する、前記基板上の炭化 ケイ素のドレイン−ドリフト領域とを有する、炭化ケイ素のドレイン領域と; 炭化ケイ素から形成される、前記ドレイン−ドリフト領域上の、前記ドレイン −ドリフト領域とは異なる第2伝導形を有するチャンネル領域と; 前記チャンネル領域上の、前記第1伝導形を有するソース領域と; 前記ソース領域の第1部分上に形成されるソース電極と; 前記ドレイン領域の第1部分上に形成されるドレイン電極と; 前記ドレイン及びソース領域の第2部分と、前記ドレイン領域の前記第1部分 との中に形成される溝と; 前記溝上に、前記ドレイン及びソース領域の第2部分に隣接し、前記チャンネ ル領域の前記第1部分中に形成されるゲート領域と を含むMOSFET。 26.前記ソース領域が前記チャンネル領域の第2部分上に伸びる請求項2 5記載の垂直パワーMOSFET。 27.前記ソース領域、前記チャンネル領域及び前記ドレイン−ドリフト領 域のメサ形エッジ末端をさらに含む請求項25記載の垂直パワーMOSFET。 28.前記第1伝導形がn形炭化ケイ素を含み、前記第2伝導形がp形炭化 ケイ素を含む請求項25記載の垂直パワーMOSFET。 29.前記第1伝導形がp形炭化ケイ素を含み、前記反対伝導形がn形炭化 ケイ素を含む請求項25記載の垂直パワーMOSFET。 30.前記チャンネル領域がアルミニウムをドーピングされる請求項25記 載の垂直パワーMOSFET。 31.前記チャンネル領域がホウ素をドーピングされる請求項25記載の垂 直パワーMOSFET。 32.前記チャンネル領域が2E15〜5E18原子/cm3のドーピング 範囲を有する請求項25記載の垂直パワーMOSFET。 33.前記溝が実質的にU形を有する請求項25記載の垂直パワーMOSF ET。 34.前記溝が実質的にV形を有する請求項25記載の垂直パワーMOSF ET。 35.低オン抵抗と高温範囲とを有する垂直パワー金属酸化物半導体電界効 果形トランジスタ(MOSFET)の製造方法であって、 ドレイン領域を画定するために第1伝導形を有する炭化ケイ素の第1領域を形 成する工程と; チャンネル領域を画定するために第2伝導形を有する、前記第1領域に隣接す る炭化ケイ素の第2領域を形成する工程と; ソース領域を画定するために前記第1伝導形を有する、前記第2領域に隣接す る炭化ケイ素の第3領域を形成する工程と; 前記チャンネル領域に隣接して絶縁層を形成する工程と; 前記絶縁層に隣接してゲート層を形成する工程と を含む前記方法。 36.前記ソース領域、前記チャンネル領域及び前記ドレイン−ドリフト領 域のメサ形エッジ末端を形成する工程をさらに含む請求項35記載の方法。 37.炭化ケイ素の前記領域の少なくとも1つが3C、2H、4H、6H及 び15Rから成る群から選択されるポリタイプを有する請求項35記載の方法。 38.炭化ケイ素の領域を形成する工程が先行層上に炭化ケイ素をエピタキ シャル成長させる工程を含む請求項35記載の方法。 39.炭化ケイ素の第3領域を形成する工程が炭化ケイ素の第2領域の一部 中に高温において炭化ケイ素をインプラントする工程を含む請求項35記載の方 法。 40.ソース領域へのソース接点を形成する工程と;ドレイン領域へのドレ イン接点を形成する工程とをさらに含む請求項35記載の方法。
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