JPH07170723A - 半導体スタック - Google Patents

半導体スタック

Info

Publication number
JPH07170723A
JPH07170723A JP5312939A JP31293993A JPH07170723A JP H07170723 A JPH07170723 A JP H07170723A JP 5312939 A JP5312939 A JP 5312939A JP 31293993 A JP31293993 A JP 31293993A JP H07170723 A JPH07170723 A JP H07170723A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gate
side conductor
electrode side
switching element
conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5312939A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Kaneko
宏一 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5312939A priority Critical patent/JPH07170723A/ja
Publication of JPH07170723A publication Critical patent/JPH07170723A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Rectifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】主回路電流で発生する磁束によるゲート信号の
立上りと立下げの影響を防ぐ。 【構成】正極側直流導体4とスイッチング素子1,2の
間の絶縁板7の上下端を折り曲げて延ばす。この延長部
分に、ゲート抵抗器16を搭載する。また、絶縁板7の延
長部分の裏面には、エミッタパターンとゲートパターン
を形成し、ゲート抵抗器16を接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体電力変換装置に
組み込まれる半導体スタックに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体電力変換装置においては、この電
力変換器の高性能化のために、高速スイッチング素子を
使った高周波PWM制御方式の採用が増え、また、半導
体電力変換装置の大容量化に伴い、大容量素子を並列に
接続して用いられている。さらに、高周波PWM制御方
式では、高速スイッチング素子間を接続する導体のイン
ダクタンスを減らして、スイッチング時に発生するサー
ジ電圧を抑える必要があるので、高速スイッチング素子
は互いに近接させ、平滑コンデンサを接続する導体も短
くなるように考慮されている。
【0003】従来の半導体電力変換装置の一例を図5〜
図7により説明する。図5に示す回路例は三相又は単相
ブリッジ回路に用いられる1ブリッジ分の逆変換回路で
あり、直流電源P,N間の上下2アームで構成されてい
る。正極側の端子8にコレクタ側が接続されている一対
のP側スイッチング素子1と、このP側スイッチング素
子1にコレクタ側が接続され、エミッタ側が負極側の端
子9に接続されている一対のN側スイッチング素子2で
1ブリッジを構成し、スイッチング素子1,2の中間点
が交流側の端子10に接続される。
【0004】また、各スイッチング素子1,2のゲート
回路については、図示していない制御回路によって各ス
イッチング素子のドライブタイミングをゲート駆動基板
11で受け、このゲート駆動基板11にて絶縁し、スイッチ
ング素子に必要なゲート信号に増幅して、各スイッチン
グ素子1,2にゲート信号を入力する。
【0005】ここで、ゲート抵抗器16は、並列接続され
ているスイッチング素子1,2の近傍に設けられ、並列
接続されているスイッチング素子1,2のゲートトリガ
電圧のばらつきによって生じるスイッチング電流のアン
バランスを改善するために挿入され、スイッチング素子
を並列接続して使用する場合には必要となる。
【0006】図6及び図7は、図5で示した逆変換回路
を組み立てた半導体スタックを示し、このうち図7は左
側面図で、図6は図7のB−B断面図である。図6及び
図7において、スイッチング素子1,2は、冷却フィン
3に対して、2アームの2個並列接続分の計4個のスイ
ッチング素子が取り付けられ、正極側導体4、負極側導
体5及び上下アーム間を接続する交流側導体6の間で、
導体と導体の間に絶縁板7を挟み、サンドイッチ状に一
体化(以下、一括積層導体と呼ぶ)して、スイッチング
素子1,2の上面に配置する。
【0007】この一括積層導体は、正極側スイッチング
素子1のコレクタ端子が正極側導体4に接続され正極側
のスイッチング素子1のエミック端子と負極側のスイッ
チング素子2のコレクタ端子が交流側導体6に、更に負
極側のスイッチング素子2のエミッタ端子が正極側導体
5にそれぞれ接続されており、半導体スタック内のイン
ダクタンス値を減らすとともに、スイッチング時のサー
ジ電圧の抑制が図れている。
【0008】一方、各スイッチング素子1,2のゲート
回路については、各スイッチング素子1,2のゲート端
子にゲート駆動基板11のコネクタ13から、ゲート配線1
4、中継ブッシング15、及びゲート抵抗器16を介してゲ
ート信号を供給する。
【0009】ゲート駆動基板11は、スイッチング素子近
傍の上下左右あるいは前面に配置され、図7では、スイ
ッチング素子の前面に取付板12aを介して基板取付板12
を取り付け、その上に配置する例を示している。
【0010】また、ゲート信号は、各アームのスイッチ
ング素子が複数個並列接続であっても、ゲート抵抗器16
を介するまでは、共通の信号でよいが、ゲート抵抗器16
はスイッチング素子各々に各1個ずつ必要となる。した
がって、ゲート配線14は、スイッチング素子以外の場
所、図6及び図7では冷却フィン3に取り付け、絶縁さ
れた中継ブッシング15で中継することによって、スイッ
チング素子単位にゲート抵抗器16が設けられている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】このように、ゲート配
線14をスイッチング素子1,2に接続する場合、近傍に
正極側導体4、負極側導体5や交流側導体6に主回路電
流を流す導体が配置されると、主回路導体は、スイッチ
ング素子1,2により大電流を高周波・高速でスイッチ
ングしており、主回路電流により発生する磁束の影響
で、ゲート信号のオン・オフ時の立上り、立下りに影響
を受けるため、並列接続あるいは上下アーム間でスイッ
チング時間がばらついて、その結果並列接続のスイッチ
ング素子間の電流バランスが悪くなり、上下アームのス
イッチング素子のサージ電圧が異なってくる。
【0012】例えば、図5の部分拡大図を示す図8にお
いて、ゲート信号がオンとなり、主回路電流が正極側端
子8からスイッチング素子1を介して交流端子10に流れ
ると、主回路電流Icにより生じる磁束は、同図の渦状
の矢印に示すようになるので、ゲート配線14と、鎖交す
る磁束の変化によって、ゲート電流は抑制され、スイッ
チング時間は、主回路電流によって遅くなる。
【0013】主回路の影響を減らすためには、ゲート配
線のループ(同図の斜線部分)の面積を減らせばよい
が、ゲート抵抗器16をスイッチング素子の近くに配置す
る必要性から、この面積を減らすことは難しい。
【0014】この結果、変換装置の大容量化のためにス
イッチング素子を並列接続しているにもかかわらず、利
用できる容量は、スイッチングサージ電圧,電流のアン
バランスと発生熱量等で最も実装条件が悪くなるスイッ
チング素子で決まる容量に下げて使わなければならな
い。
【0015】そこで、本発明の目的は、このような課題
に鑑みてなされたもので、冷却フィン上に実装されたス
イッチング素子等のゲート配線に対する主回路電流の影
響を減らして、半導体装置の容量の低下を防ぐことので
きる半導体スタックを提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、絶縁板を介して重ねられた正極側導体及び負極側導
体と交流側導体の片側に、正極側導体及び負極側導体と
交流側導体が接続される複数のスイッチング素子が配設
され、正極側導体及び負極側導体と交流側導体の他側に
スイッチング素子をゲート抵抗を介して駆動する駆動基
板が設けられた半導体スタックにおいて、絶縁板の両端
をスイッチング素子側に折曲し、この折曲部にゲート抵
抗を実装したことを特徴とする。
【0017】また、請求項2に記載の発明は、絶縁板を
介して重ねられた正極側導体及び負極側導体と交流側導
体の片側に、正極側導体及び負極側導体と交流側導体が
接続される複数のスイッチング素子が配設され、正極側
導体及び負極側導体と交流側導体の他側にスイッチング
素子をゲート抵抗を介して駆動する駆動基板が設けられ
た半導体スタックにおいて、絶縁板の両端を前記スイッ
チング素子側に折曲し、この折曲部にゲート抵抗を実装
し、スイッチング素子の付属回路を形成したことを特徴
とする。
【0018】
【作用】請求項1に記載の発明においては、スイッチン
グ素子のゲートとゲート抵抗を接続する導体は短縮さ
れ、スイッチング素子を流れる主回路電流によって発生
した磁束によるゲート信号への影響は低減される。
【0019】また、請求項2に記載の発明においては、
スイッチング素子のゲートとゲート抵抗を接続する導体
は短縮され、スイッチング素子を流れる主回路電流によ
って発生した磁束によるゲート信号への影響は低減され
るるとともに、付属回路部品の実装密度が向上する。
【0020】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。但し、従来の技術と同一部分には、同一符号を
付して説明を省略する。図2は、従来の技術において示
した図7の半導体スタックに対応する左側面図で、図1
は図2のA−A断面図で、同じく従来の技術で示した図
6に対応する正面図である。また、図3は図1の部分拡
大詳細図で、図4は、図2の部分拡大詳細図である。
【0021】図1,図2,図3及び図4において、従来
の技術で示した図6,図7と異なる点は、一括積層導体
の構成部分のスイッチング素子1,2に近い図7におい
て左端の絶縁板27の上下端を延長し、スイッチング素子
1,2のゲート端子に直接接続できるように折り曲げた
絶縁板7を用いている。さらに、この絶縁板7の延長部
分にゲート駆動基板11からのゲート配線14を接続する端
子と、ゲートエミッタ側は並列接続間のスイッチング素
子に並列に接続されるエミッタパターン19を絶縁板7の
裏面に図3の破線に示すように配置し、ゲート側はエミ
ッタパターン19と反対側の表面に平行させるようにゲー
トパターン20を配置し、かつ、各スイッチング素子のゲ
ート抵抗器16がスイッチング素子のゲート端子に接続さ
れるように実装されている。
【0022】したがって、ゲート回路の接続は、ゲート
ドライブ基板11のコネクタ13とゲート配線14を介して一
括積層導体のゲート端子17に接続され、一括積層導体上
の絶縁板上に形成された印刷回路によって、各スイッチ
ング素子のゲート端子には、各々のゲート抵抗16を介し
てゲート信号が供給されることになる。
【0023】このようなスイッチング素子1,2の実装
構造において、スイッチング素子間の主回路接続を半導
体接続部のインダクタンス値を最小にし、スイッチング
素子のサージ電圧を抑制することができる一括積層導体
の絶縁板にゲート抵抗器16、ゲートパターン20、及びエ
ミッタパターン19を実装し、ゲートパターン20とエミッ
タパターン19は絶縁板の裏表に重ねて配置することによ
って、主回路電流によって生じる磁束がゲート回路と鎖
交する面積を減らし、スイッチング素子に流れる主回路
電流で生じた磁束の影響を減らしてゲート電流の抑制を
防ぎ、スイッチング素子間の電流の不平衡を防ぐことが
できる。
【0024】以上のような半導体スタックを構成するこ
とによって、主回路のサージ電圧を抑制することができ
る。一括積層導体を用いて、スイッチング素子のゲート
信号の配線を両面パターンで構成できる構造としている
ため、主回路電流の磁束の影響を防ぐことができるゲー
ト回路とすることができるとともに、一括積層導体をス
イッチング素子に取り付けるだけで、主回路及びゲート
回路の配線ができ、半導体スタックの組立作業時間も短
縮し、実装密度が高く、小形で信頼性の高い半導体電力
変換装置を提供することができる。
【0025】なお図1では、一括積層導体には、ゲート
パターン及びゲート抵抗器を実装した例で示したが、こ
れ以外にもスイッチング素子の保護のためにコレクタ・
エミッタ間の電圧を検出する配線、素子の温度上昇値を
検出する配線、素子の過電流を検出する配線及び付属の
電気部品等を実装してもよく、一括積層導体上にコネク
タを実装すれば、ゲート信号とスイッチング素子の保護
検出信号を一括して取り扱うことができ、特に、組み立
て作業時間が短縮され、高密度実装が可能となる。
【0026】また、一括積層導体には、上記の他に、ス
イッチング素子のゲート・エミッタ間の過電圧に対して
保護可能な定電圧ダイオード、ノイズ対策用のコンデン
サ及びフェライトコア等、更には、ゲート駆動回路を実
装することも可能である。
【0027】
【発明の効果】以上、請求項1に記載の発明によれば、
絶縁板を介して重ねられた正極側導体及び負極側導体と
交流側導体の片側に、正極側導体及び負極側導体と交流
側導体が接続される複数のスイッチング素子が配設さ
れ、正極側導体及び負極側導体と交流側導体の他側にス
イッチング素子をゲート抵抗を介して駆動する駆動基板
が設けられた半導体スタックにおいて、絶縁板の両端を
スイッチング素子側に折曲し、この折曲部にゲート抵抗
を実装することで、スイッチング素子のゲートとゲート
抵抗を接続する導体を短縮し、スイッチング素子を流れ
る主回路電流によって発生した磁束によるゲート信号へ
の影響を低減させたので、スイッチング電流の不均衡に
よる容量の低下を防ぐことのできる半導体スタックを得
ることができる。 また、請求項2に記載の発明によれ
ば、絶縁板を介して重ねられた正極側導体及び負極側導
体と交流側導体の片側に、正極側導体及び負極側導体と
交流側導体が接続される複数のスイッチング素子が配設
され、正極側導体及び負極側導体と交流側導体の他側に
スイッチング素子をゲート抵抗を介して駆動する駆動基
板が設けられた半導体スタックにおいて、絶縁板の両端
を前記スイッチング素子側に折曲し、この折曲部にゲー
ト抵抗を実装し、スイッチング素子の付属回路を形成す
ることで、スイッチング素子のゲートとゲート抵抗を接
続する導体を短縮し、スイッチング素子を流れる主回路
電流によって発生した磁束によるゲート信号への影響を
低減させるとともに、付属回路部品の実装密度を向上さ
せたので、スイッチング電流の不均衡による容量の低下
を防ぐとともに、実装密度を上げ外形を小形化すること
のできる半導体スタックを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体スタックの一実施例を示す図
で、図2のA−A断面図。
【図2】本発明の半導体スタックの一実施例を示す左側
面図。
【図3】図1の部分拡大詳細図。
【図4】図2の部分拡大詳細図。
【図5】従来及び本発明の半導体スタックの接続図。
【図6】従来の半導体スタックの一例を示す図で、図7
のB−B断面図。
【図7】従来の半導体スタックの一例を示す左側面図
【図8】従来の半導体スタックの作用を示す部分説明
図。
【符号の説明】
1、2…スイッチング素子、3…冷却フィン、4…正極
側導体、5…負極側導体、6…交流側導体、7,27…絶
縁板、8…正極側の端子、9…負極側の端子、10…交流
側の端子、11…ゲート駆動基板、12…基盤取付板、13…
コネクタ、14…ゲート配線、15…ゲート抵抗器、17…ゲ
ート端子、18…ゲートエッタ端子。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁板を介して重ねられた正極側導体及
    び負極側導体と交流側導体の片側に、前記正極側導体及
    び負極側導体と交流側導体が接続される複数のスイッチ
    ング素子が配設され、前記正極側導体及び負極側導体と
    交流側導体の他側に前記スイッチング素子をゲート抵抗
    を介して駆動する駆動基板が設けられた半導体スタック
    において、前記絶縁板の両端を前記スイッチング素子側
    に折曲し、この折曲部に前記ゲート抵抗を実装したこと
    を特徴とする半導体スタック。
  2. 【請求項2】 絶縁板を介して重ねられた正極側導体及
    び負極側導体と交流側導体の片側に、前記正極側導体及
    び負極側導体と交流側導体が接続される複数のスイッチ
    ング素子が配設され、前記正極側導体及び負極側導体と
    交流側導体の他側に前記スイッチング素子をゲート抵抗
    を介して駆動する駆動基板が設けられた半導体スタック
    において、前記絶縁板の両端を前記スイッチング素子側
    に折曲し、この折曲部に前記ゲート抵抗を実装し、前記
    スイッチング素子の付属回路を形成したことを特徴とす
    る半導体スタック。
JP5312939A 1993-12-14 1993-12-14 半導体スタック Pending JPH07170723A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5312939A JPH07170723A (ja) 1993-12-14 1993-12-14 半導体スタック

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5312939A JPH07170723A (ja) 1993-12-14 1993-12-14 半導体スタック

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07170723A true JPH07170723A (ja) 1995-07-04

Family

ID=18035301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5312939A Pending JPH07170723A (ja) 1993-12-14 1993-12-14 半導体スタック

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07170723A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09261948A (ja) * 1996-03-26 1997-10-03 Fuji Electric Co Ltd 電力変換装置
JP2003018860A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Hitachi Ltd 電力変換装置
JP2008199796A (ja) * 2007-02-13 2008-08-28 Ihi Corp 電力スイッチングモジュール
JP2010011605A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Hitachi Ltd 電力変換装置
JP2010252490A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Toshiba Corp ゲート駆動基板及び電力変換装置
JP2013021855A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Toyota Motor Corp 電力変換装置
JP2013055781A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Daihen Corp 電力変換装置のスイッチモジュール
JP2013055782A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Daihen Corp 電力変換装置のスイッチモジュール
CN103441654A (zh) * 2013-09-13 2013-12-11 深圳市英威腾电气股份有限公司 一种变频器的制造方法
JP2014209812A (ja) * 2013-04-16 2014-11-06 株式会社日立製作所 半導体素子及び電力変換装置の配線構造
WO2015025512A1 (ja) * 2013-08-22 2015-02-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 駆動装置、電力変換装置、車両
JP2016220356A (ja) * 2015-05-19 2016-12-22 株式会社日立製作所 電力変換装置
JP2017169344A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 富士電機株式会社 電力変換装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09261948A (ja) * 1996-03-26 1997-10-03 Fuji Electric Co Ltd 電力変換装置
JP2003018860A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Hitachi Ltd 電力変換装置
JP2008199796A (ja) * 2007-02-13 2008-08-28 Ihi Corp 電力スイッチングモジュール
JP2010011605A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Hitachi Ltd 電力変換装置
JP2010252490A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Toshiba Corp ゲート駆動基板及び電力変換装置
JP2013021855A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Toyota Motor Corp 電力変換装置
JP2013055781A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Daihen Corp 電力変換装置のスイッチモジュール
JP2013055782A (ja) * 2011-09-02 2013-03-21 Daihen Corp 電力変換装置のスイッチモジュール
JP2014209812A (ja) * 2013-04-16 2014-11-06 株式会社日立製作所 半導体素子及び電力変換装置の配線構造
WO2015025512A1 (ja) * 2013-08-22 2015-02-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 駆動装置、電力変換装置、車両
JP5845428B2 (ja) * 2013-08-22 2016-01-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 駆動装置、電力変換装置、車両
CN103441654A (zh) * 2013-09-13 2013-12-11 深圳市英威腾电气股份有限公司 一种变频器的制造方法
JP2016220356A (ja) * 2015-05-19 2016-12-22 株式会社日立製作所 電力変換装置
JP2017169344A (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 富士電機株式会社 電力変換装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4277169B2 (ja) 電力用半導体モジュール
EP1160866B1 (en) Semiconductor device with power wiring structure
US8487407B2 (en) Low impedance gate control method and apparatus
JP3548024B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
CN107851637B (zh) 功率半导体模块
JP5312386B2 (ja) 電力変換装置
JPH07170723A (ja) 半導体スタック
JP6288769B2 (ja) 半導体パワーモジュール、電力変換装置、およびこれを用いた移動体
JP4220731B2 (ja) 電力用半導体装置
JP3225847B2 (ja) 半導体モジュール
JP5125269B2 (ja) パワー半導体モジュール
JP2979930B2 (ja) 電力用半導体装置のパッケージ
JP2001274322A (ja) パワー半導体モジュール
JP3941266B2 (ja) 半導体パワーモジュール
JP4484400B2 (ja) 半導体装置
US6795324B2 (en) Power converter
US6266258B1 (en) Power substrate element topology
JP3220366B2 (ja) 半導体装置
JP4631179B2 (ja) 半導体装置およびこれを用いたインバータ装置
JP2856962B2 (ja) パワー配線基板
JP3512457B2 (ja) 電力変換装置
JP3394448B2 (ja) パワー半導体装置およびそれを用いた電力変換装置
JP3747931B2 (ja) 半導体装置
TWI677172B (zh) 緩衝器電路及功率半導體模組以及感應加熱用電源裝置
JP3629222B2 (ja) 半導体装置