JPH0682388A - 走行中のストリップの欠陥の検出装置 - Google Patents
走行中のストリップの欠陥の検出装置Info
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- JPH0682388A JPH0682388A JP3356966A JP35696691A JPH0682388A JP H0682388 A JPH0682388 A JP H0682388A JP 3356966 A JP3356966 A JP 3356966A JP 35696691 A JP35696691 A JP 35696691A JP H0682388 A JPH0682388 A JP H0682388A
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- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 走行中のストリップ、特に冷間圧延機または
酸洗浴の出口で鋼ストリップの表面の欠陥を検出する装
置。 【構成】 ストリップ(T) の下側表面を検査する光学的
手段(25, 27)と、その上側表面を検査する光学的手段(2
9, 31)と、ストリップの端縁部を検出する独立した光学
的手段(33, 34)と、各光学的手段(25, 27, 29, 31)と組
み合わされた欠陥を示すための電子手段(35, 36)と、端
縁部を検出する光学的手段(33, 34)と組み合わされたス
トリップの孔の存在を示すための電子手段(37)と、各電
子手段(35,36, 37) から出力された情報の処理手段(38)
と、この処理手段(38)に接続されたストリップの上下表
面の欠陥および孔を表示するためのディスプレイ手段(4
2)とを有する。
酸洗浴の出口で鋼ストリップの表面の欠陥を検出する装
置。 【構成】 ストリップ(T) の下側表面を検査する光学的
手段(25, 27)と、その上側表面を検査する光学的手段(2
9, 31)と、ストリップの端縁部を検出する独立した光学
的手段(33, 34)と、各光学的手段(25, 27, 29, 31)と組
み合わされた欠陥を示すための電子手段(35, 36)と、端
縁部を検出する光学的手段(33, 34)と組み合わされたス
トリップの孔の存在を示すための電子手段(37)と、各電
子手段(35,36, 37) から出力された情報の処理手段(38)
と、この処理手段(38)に接続されたストリップの上下表
面の欠陥および孔を表示するためのディスプレイ手段(4
2)とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、走行中のストリップの
表面の欠陥を検出する装置に関するものであり、特に、
冷間圧延機または酸洗浴の出口で鋼のストリップの欠陥
を検出する装置に関するものである。
表面の欠陥を検出する装置に関するものであり、特に、
冷間圧延機または酸洗浴の出口で鋼のストリップの欠陥
を検出する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】アンスチチュ ドゥ ルシェルシュ ド
ゥ ラ シデルルジー フランセーズ(Institut de Rec
herches de la Siderurgie Francaise、イルシッド(IRS
ID))が1985年２月４日に出願したヨーロッパ特許第0,15
3,218 号には、走行中のストリップの表面の欠陥検出方
法と装置が記載されている。この特許ではストリップ表
面の各部分の画像を一定周期で形成し、各画像をアナロ
グ信号に変換した後に信号処理をして信号レベルの異常
な変化を検出する。この信号処理ではアナログ信号をデ
ジタル信号に変換して各画像を画像要素に分割し、各画
像要素をデジタル値と対応させ、画像を表す各デジタル
信号をフィルターにかけて画像要素のデジタル値の相対
変化を検出し、フィルター後の信号を解析して、検出さ
れた変化の関数で欠陥検出信号の有無を出力する。この
方法では単一の光感応装置を用いて各画像を形成する。
また、画像を形成する際には、(1) 各画像を表すアナロ
グ信号をアナログ画像のメモリーに記録し、(2) 各画像
に対するアナログ信号の処理を次の画像を表す信号が来
る前に行い、一つの画像を表すデジタル信号のフィルタ
ー操作の少なくとも一部を、任意の方向を向いた輪郭の
検出が可能な輪郭検出用２方向フィルターで行って、互
いに隣接した複数の画像要素の間で各方向で、所定の第
１の閾値を越える振幅の画像要素のデジタル値の変化を
検出し、(3) 欠陥検出信号の有無に応じて画像の記録の
保持の有無を決め、(4) 画像のビジュシル覚制御を行う
のに十分な時間の間、保持された各記録をディスプレイ
で読み出す。このヨーロッパ特許の基本的問題点は、鋼
板の欠陥とその端縁部とを１つの同じカメラで検出する
ため、十分な精度が常に得られると限らない点にある。
ゥ ラ シデルルジー フランセーズ(Institut de Rec
herches de la Siderurgie Francaise、イルシッド(IRS
ID))が1985年２月４日に出願したヨーロッパ特許第0,15
3,218 号には、走行中のストリップの表面の欠陥検出方
法と装置が記載されている。この特許ではストリップ表
面の各部分の画像を一定周期で形成し、各画像をアナロ
グ信号に変換した後に信号処理をして信号レベルの異常
な変化を検出する。この信号処理ではアナログ信号をデ
ジタル信号に変換して各画像を画像要素に分割し、各画
像要素をデジタル値と対応させ、画像を表す各デジタル
信号をフィルターにかけて画像要素のデジタル値の相対
変化を検出し、フィルター後の信号を解析して、検出さ
れた変化の関数で欠陥検出信号の有無を出力する。この
方法では単一の光感応装置を用いて各画像を形成する。
また、画像を形成する際には、(1) 各画像を表すアナロ
グ信号をアナログ画像のメモリーに記録し、(2) 各画像
に対するアナログ信号の処理を次の画像を表す信号が来
る前に行い、一つの画像を表すデジタル信号のフィルタ
ー操作の少なくとも一部を、任意の方向を向いた輪郭の
検出が可能な輪郭検出用２方向フィルターで行って、互
いに隣接した複数の画像要素の間で各方向で、所定の第
１の閾値を越える振幅の画像要素のデジタル値の変化を
検出し、(3) 欠陥検出信号の有無に応じて画像の記録の
保持の有無を決め、(4) 画像のビジュシル覚制御を行う
のに十分な時間の間、保持された各記録をディスプレイ
で読み出す。このヨーロッパ特許の基本的問題点は、鋼
板の欠陥とその端縁部とを１つの同じカメラで検出する
ため、十分な精度が常に得られると限らない点にある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的はこの欠
点を解決して、走行中のストリップの欠陥を公知の装置
よりも高精度且つ高感度に検出する装置を提供すること
にある。
点を解決して、走行中のストリップの欠陥を公知の装置
よりも高精度且つ高感度に検出する装置を提供すること
にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明による走行中のス
トリップの欠陥を検出する装置の特徴は、ストリップの
下側表面を検査する光学的手段と、ストリップの上側表
面を検査する光学的手段と、ストリップの端縁部を検出
する独立した光学的手段と、ストリップの下側表面およ
び上側表面を検査する各光学的手段と組み合わされた欠
陥を示すための電子手段と、ストリップの端縁部を検出
する光学的手段と組み合わされたストリップの孔の存在
を示すための電子手段と、上記各電子手段から出力され
た情報の処理手段と、この処理手段に接続されたストリ
ップの下側表面および上側表面の欠陥およびストリップ
の孔を表示するためのディスプレイ手段とを有する点に
ある。以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明
するが、本発明が以下の実施例に限定されるものではな
い。
トリップの欠陥を検出する装置の特徴は、ストリップの
下側表面を検査する光学的手段と、ストリップの上側表
面を検査する光学的手段と、ストリップの端縁部を検出
する独立した光学的手段と、ストリップの下側表面およ
び上側表面を検査する各光学的手段と組み合わされた欠
陥を示すための電子手段と、ストリップの端縁部を検出
する光学的手段と組み合わされたストリップの孔の存在
を示すための電子手段と、上記各電子手段から出力され
た情報の処理手段と、この処理手段に接続されたストリ
ップの下側表面および上側表面の欠陥およびストリップ
の孔を表示するためのディスプレイ手段とを有する点に
ある。以下、添付図面を参照して本発明の実施例を説明
するが、本発明が以下の実施例に限定されるものではな
い。
【０００５】
【実施例】図１は圧延設備の一部の概念図であり、特
に、酸洗装置 (脱スケール装置) の出口と冷間圧延装置
の入口との間に配置される設備の一部の概念図である。
この設備はローラ４、５、６、７によって構成されるル
ープ３を有する酸洗装置の出口セクション１を有してい
る。ループ３の後にはストリップに張力を加えるテンシ
ョンループ８が続いている。このテンションループ８
は、対になって配置された４本のローラ９、10、11、12
で構成されている。本発明の装置はテンションループ８
に設置される。テンションループ８の後には、反転ロー
ラ14、15、16、17、18とテンションロール19、20とによ
って構成されるストリップ蓄積セクション13が続いてい
る。ストリップ蓄積セクション13の次には、冷間圧延装
置の入口タンデムセクション21が続いている。入口タン
デムセクション21は本発明とは直接関係しないので詳細
は省略する。
に、酸洗装置 (脱スケール装置) の出口と冷間圧延装置
の入口との間に配置される設備の一部の概念図である。
この設備はローラ４、５、６、７によって構成されるル
ープ３を有する酸洗装置の出口セクション１を有してい
る。ループ３の後にはストリップに張力を加えるテンシ
ョンループ８が続いている。このテンションループ８
は、対になって配置された４本のローラ９、10、11、12
で構成されている。本発明の装置はテンションループ８
に設置される。テンションループ８の後には、反転ロー
ラ14、15、16、17、18とテンションロール19、20とによ
って構成されるストリップ蓄積セクション13が続いてい
る。ストリップ蓄積セクション13の次には、冷間圧延装
置の入口タンデムセクション21が続いている。入口タン
デムセクション21は本発明とは直接関係しないので詳細
は省略する。
【０００６】図２にはテンションループ８すなわちテン
ショナーが概念的に示してある。テンションナーのロー
ラ９、10には、鋼板Ｔの下側表面を検査する手段がロー
ラ９の母線に沿って設けられている。ローラ11、12に
は、鋼板Ｔの上側表面を検査する手段がローラ12の母線
に沿って設けられている。鋼板Ｔの下側表面を検査する
手段はローラ９の母線の方を向いた方向が調節可能な照
明灯25を有している。この照明灯25は固定支持体26に取
付られている。照明灯25には、同じく方向が調整可能な
電荷結合カメラ27が組み合わされている。この電荷結合
カメラ27は固定支持体28に支持されている。同様に、鋼
板Ｔの上側表面を検査する手段はローラ12の母線の方を
向いた方向が調節可能な照明灯29を有している。この照
明灯29を固定支持体30に支持されている。照明灯29には
電荷結合カメラ31が組み合わされている。この電荷結合
カメラ31は固定支持体32に支持されている。各電荷結合
カメラ27、31は、鋼板Ｔの幅全体を検査するための対物
レンズを備えた線形のＣＣＤアレーを有しているのが好
ましい。本発明装置は鋼板Ｔの孔と、鋼板Ｔの端縁部を
検出するための第３のセンサ33とを備えている。このセ
ンサ33はテンショナー８の下流で、鋼板Ｔの直線部分の
上に配置されている。このセンサ33には、鋼板Ｔの下側
表面に配置された光源34が組み合わされている。このセ
ンサ33は透過型のＣＣＤカメラである。各電荷結合カメ
ラ27、31の出力は、鋼板Ｔの対応する表面の欠陥を表示
するための電子装置35、36の入力部に接続されている。
孔のセンサ33は鋼板Ｔの孔の存在を表示するための電子
装置37の入力部に接続されている。各電子装置35、36は
表面の欠陥を警告するアラーム出力を出し、電子装置37
は孔を警告するアラーム出力を出し、これらの出力はコ
ンピュータ38の対応する入力部に接続されている。コン
ピュータ38は双方向接続線39、40を介して各電子装置3
5、36に接続され、接続41を介してオペレーター端末42
に接続されている。コンピュータ38は接続線43を介して
圧延設備のプロセスを管理するシステム（図示せず）に
も接続されている。
ショナーが概念的に示してある。テンションナーのロー
ラ９、10には、鋼板Ｔの下側表面を検査する手段がロー
ラ９の母線に沿って設けられている。ローラ11、12に
は、鋼板Ｔの上側表面を検査する手段がローラ12の母線
に沿って設けられている。鋼板Ｔの下側表面を検査する
手段はローラ９の母線の方を向いた方向が調節可能な照
明灯25を有している。この照明灯25は固定支持体26に取
付られている。照明灯25には、同じく方向が調整可能な
電荷結合カメラ27が組み合わされている。この電荷結合
カメラ27は固定支持体28に支持されている。同様に、鋼
板Ｔの上側表面を検査する手段はローラ12の母線の方を
向いた方向が調節可能な照明灯29を有している。この照
明灯29を固定支持体30に支持されている。照明灯29には
電荷結合カメラ31が組み合わされている。この電荷結合
カメラ31は固定支持体32に支持されている。各電荷結合
カメラ27、31は、鋼板Ｔの幅全体を検査するための対物
レンズを備えた線形のＣＣＤアレーを有しているのが好
ましい。本発明装置は鋼板Ｔの孔と、鋼板Ｔの端縁部を
検出するための第３のセンサ33とを備えている。このセ
ンサ33はテンショナー８の下流で、鋼板Ｔの直線部分の
上に配置されている。このセンサ33には、鋼板Ｔの下側
表面に配置された光源34が組み合わされている。このセ
ンサ33は透過型のＣＣＤカメラである。各電荷結合カメ
ラ27、31の出力は、鋼板Ｔの対応する表面の欠陥を表示
するための電子装置35、36の入力部に接続されている。
孔のセンサ33は鋼板Ｔの孔の存在を表示するための電子
装置37の入力部に接続されている。各電子装置35、36は
表面の欠陥を警告するアラーム出力を出し、電子装置37
は孔を警告するアラーム出力を出し、これらの出力はコ
ンピュータ38の対応する入力部に接続されている。コン
ピュータ38は双方向接続線39、40を介して各電子装置3
5、36に接続され、接続41を介してオペレーター端末42
に接続されている。コンピュータ38は接続線43を介して
圧延設備のプロセスを管理するシステム（図示せず）に
も接続されている。
【０００７】図３は本発明装置の電子・情報処理システ
ム構造の一般的概念図である。各電荷結合カメラ27、31
は鋼板Ｔの下側表面および上側表面面に関するデジタル
信号を処理するデジタル信号手段45、46に接続され、一
方、鋼板Ｔの端縁部の位置の検出と孔の検出をする電荷
結合カメラ33はデジタル信号処理手段47に接続されてい
る。各デジタル信号処理手段45、46は、さらに制御線4
8、49を介して電荷結合カメラ27、31に接続され、さら
に、端縁部の検出信号の処理手段47にも接続されてい
る。鋼板Ｔの表面を検査する電荷結合カメラ27、31は、
各カメラの出力信号を格納するためのデジタル画像メモ
リー50、51にも接続されている。各デジタル画像メモリ
ー50、51は、図２のオベレータ端末42で構成可能なディ
スプレイ手段52、53に接続されている。デジタル信号処
理手段45、46、47およびデジタル画像メモリー50、51は
コンピューターのバスすなわちＱバス54に接続されてい
る。このＱバス54はマイクロバックス(Microvax)型のコ
ンピータ55とマスメモリ56とに接続されている。コンピ
ュータ55は信号処理装置の他の部分との接続バス57を有
している。
ム構造の一般的概念図である。各電荷結合カメラ27、31
は鋼板Ｔの下側表面および上側表面面に関するデジタル
信号を処理するデジタル信号手段45、46に接続され、一
方、鋼板Ｔの端縁部の位置の検出と孔の検出をする電荷
結合カメラ33はデジタル信号処理手段47に接続されてい
る。各デジタル信号処理手段45、46は、さらに制御線4
8、49を介して電荷結合カメラ27、31に接続され、さら
に、端縁部の検出信号の処理手段47にも接続されてい
る。鋼板Ｔの表面を検査する電荷結合カメラ27、31は、
各カメラの出力信号を格納するためのデジタル画像メモ
リー50、51にも接続されている。各デジタル画像メモリ
ー50、51は、図２のオベレータ端末42で構成可能なディ
スプレイ手段52、53に接続されている。デジタル信号処
理手段45、46、47およびデジタル画像メモリー50、51は
コンピューターのバスすなわちＱバス54に接続されてい
る。このＱバス54はマイクロバックス(Microvax)型のコ
ンピータ55とマスメモリ56とに接続されている。コンピ
ュータ55は信号処理装置の他の部分との接続バス57を有
している。
【０００８】図４は本発明装置の実際の電子部品の詳細
図である。各信号処理電子部品は以下の機能に分けるこ
とができる： (1) デジタルフイルターによって欠陥を検出し且つ使用
したフィルターの閾値を超えた区域点(points d'aire)
をカウントする機能 (2) リアルタイムで画像を表示する機能 (3) 鋼板Ｔの走行速度に合わせる機能 (4) 鋼板Ｔの端縁部を検出する機能 (5) 計算機とのインターフェス機能（ＤＥＣのＱバス） (6) プログラミングされた遠隔操作により検出器を制御
するする機能
図である。各信号処理電子部品は以下の機能に分けるこ
とができる： (1) デジタルフイルターによって欠陥を検出し且つ使用
したフィルターの閾値を超えた区域点(points d'aire)
をカウントする機能 (2) リアルタイムで画像を表示する機能 (3) 鋼板Ｔの走行速度に合わせる機能 (4) 鋼板Ｔの端縁部を検出する機能 (5) 計算機とのインターフェス機能（ＤＥＣのＱバス） (6) プログラミングされた遠隔操作により検出器を制御
するする機能
【０００９】図４の電荷結合カメラ27、31、33は線形Ｃ
ＣＤアレーを有し、これらの線形ＣＣＤアレーは2048個
の点の条件を決める(conditionnement) 手段と組み合わ
されている。電荷結合カメラ27、31の出力は、ビデオ増
幅器60、61の入力側に接続されている。同様に、電荷結
合カメラ33の出力はビデオ増幅器62の入力側に接続され
ている。鋼板Ｔの下側表面および上側表面を検査するラ
インのビデオ増幅器60、61の出力はプリウィット(Prewi
tt) フィルタにより輪郭を検出する検出回路63、64の第
１入力に接続されている。検出回路63、64の各々にはプ
リウィット(Prewitt) 閾値の設定回路65、66が接続され
ている。鋼板Ｔの孔と端縁部とを検出するラインのビデ
オ増幅器62は鋼板Ｔの孔および端縁部の検出回路67の入
力側に接続されている。
ＣＤアレーを有し、これらの線形ＣＣＤアレーは2048個
の点の条件を決める(conditionnement) 手段と組み合わ
されている。電荷結合カメラ27、31の出力は、ビデオ増
幅器60、61の入力側に接続されている。同様に、電荷結
合カメラ33の出力はビデオ増幅器62の入力側に接続され
ている。鋼板Ｔの下側表面および上側表面を検査するラ
インのビデオ増幅器60、61の出力はプリウィット(Prewi
tt) フィルタにより輪郭を検出する検出回路63、64の第
１入力に接続されている。検出回路63、64の各々にはプ
リウィット(Prewitt) 閾値の設定回路65、66が接続され
ている。鋼板Ｔの孔と端縁部とを検出するラインのビデ
オ増幅器62は鋼板Ｔの孔および端縁部の検出回路67の入
力側に接続されている。
【００１０】図１の圧延ローラにはタコメータ式発電機
68が機械的に接続されている。この発電機68の出力は同
期回路69の入力側に接続されている。同期回路69の出力
は各電荷結合カメラカメラ27、31、33の同期入力端子に
接続されている。同期回路69の別の出力は検出回路63、
64、67の同期化入力端子に接続されている。同期回路69
の第３の出力はラインの処理ウィンド発生器70の入力側
に接続されている。この処理ウィンド発生器70の別の入
力端子には鋼板Ｔの孔および端縁部の検出回路67の出力
が接続されており、その出力は検出回路63、64、67の対
応する入力端子に接続されている。ビデオ増幅器60、61
の出力は、輪郭ハメ込み(des circuit d'incrustation
decontour)回路72、73にも接続されており、この回路7
2、73には輪郭センサ63、64の出力も入る。孔と端縁部
の検出回路67には許容値を設定する回路(circuit de to
lerance)74が組み合わされている。下側表面の検出回路
63の出力は下側表面の外観の欠陥をカウントする計算回
路75の入力端子に接続されている。この計算回路75には
区域閾値(seuil d'aire)を有する回路76が接続されてい
る。同様に、上側表面の検出回路64の出力は計算回路77
の入力端子に接続され、この計算回路77には外観閾値回
路78が接続されている。
68が機械的に接続されている。この発電機68の出力は同
期回路69の入力側に接続されている。同期回路69の出力
は各電荷結合カメラカメラ27、31、33の同期入力端子に
接続されている。同期回路69の別の出力は検出回路63、
64、67の同期化入力端子に接続されている。同期回路69
の第３の出力はラインの処理ウィンド発生器70の入力側
に接続されている。この処理ウィンド発生器70の別の入
力端子には鋼板Ｔの孔および端縁部の検出回路67の出力
が接続されており、その出力は検出回路63、64、67の対
応する入力端子に接続されている。ビデオ増幅器60、61
の出力は、輪郭ハメ込み(des circuit d'incrustation
decontour)回路72、73にも接続されており、この回路7
2、73には輪郭センサ63、64の出力も入る。孔と端縁部
の検出回路67には許容値を設定する回路(circuit de to
lerance)74が組み合わされている。下側表面の検出回路
63の出力は下側表面の外観の欠陥をカウントする計算回
路75の入力端子に接続されている。この計算回路75には
区域閾値(seuil d'aire)を有する回路76が接続されてい
る。同様に、上側表面の検出回路64の出力は計算回路77
の入力端子に接続され、この計算回路77には外観閾値回
路78が接続されている。
【００１１】各回路75; 76, 77; 78は比較器79、80に接
続されており、これらの比較器79、80の出力は割り込み
制御回路(circuit de commande d'inter- interruptio
n) 81に接続されている。この割り込み制御回路81には
孔および端縁部の検出回路67の出力が直接接続されてい
る。割り込み制御回路81はバス82を介してコンピュータ
55に接続され（図３）、このコンピュータ55はバス83、
84を介して汎用情報処理システム、特に、製品に関する
する情報を含むメモリ85と、工業プロセスに従属する同
期プログラムを含むシステム86とに接続されている。輪
郭ハメ込み回路72、73はコンピュータ38（図２）、特に
上側表面記憶および下側表面のデジタル化・記憶回路8
7、88に接続されている。これらの回路87、88の出力は
マルチプレクサ89を介してビデオ嵌め込み器90に接続さ
れている。このビデオ嵌め込み器90はディスプレイモニ
ター42（図２）に接続されている。鋼板Ｔの孔および端
縁部の許容値設定回路74 (図４) には、シフト・飛び越
し形成回路(circuit de formation de decalage et sau
te) 91が接続されている。このシフト・飛び越し形成回
路91には画像ウィンド形成回路92が接続され、この画像
ウィンド形成回路92の出力は、鋼板Ｔの下側表面および
上側表面面を検査する電荷結合カメラ27、31からくる画
像をデジタル化し、記憶するデジタル化・記憶回路87、
88の対応する入力側に接続されている。コンピュータ55
はバス92ａを介してコンピュータ38の一部を成す分割メ
モリー92ｂに接続されている。
続されており、これらの比較器79、80の出力は割り込み
制御回路(circuit de commande d'inter- interruptio
n) 81に接続されている。この割り込み制御回路81には
孔および端縁部の検出回路67の出力が直接接続されてい
る。割り込み制御回路81はバス82を介してコンピュータ
55に接続され（図３）、このコンピュータ55はバス83、
84を介して汎用情報処理システム、特に、製品に関する
する情報を含むメモリ85と、工業プロセスに従属する同
期プログラムを含むシステム86とに接続されている。輪
郭ハメ込み回路72、73はコンピュータ38（図２）、特に
上側表面記憶および下側表面のデジタル化・記憶回路8
7、88に接続されている。これらの回路87、88の出力は
マルチプレクサ89を介してビデオ嵌め込み器90に接続さ
れている。このビデオ嵌め込み器90はディスプレイモニ
ター42（図２）に接続されている。鋼板Ｔの孔および端
縁部の許容値設定回路74 (図４) には、シフト・飛び越
し形成回路(circuit de formation de decalage et sau
te) 91が接続されている。このシフト・飛び越し形成回
路91には画像ウィンド形成回路92が接続され、この画像
ウィンド形成回路92の出力は、鋼板Ｔの下側表面および
上側表面面を検査する電荷結合カメラ27、31からくる画
像をデジタル化し、記憶するデジタル化・記憶回路87、
88の対応する入力側に接続されている。コンピュータ55
はバス92ａを介してコンピュータ38の一部を成す分割メ
モリー92ｂに接続されている。
【００１２】図５、図６は、本発明の検査装置の一部分
を成す鋼板Ｔの端縁部の検出手段の概念図である。この
検出手段は図２〜図４に示した電荷結合カメラ33に接続
されており、図４では67で表わされている。電荷結合カ
メラ33 (図５ではブロックで表示) の信号出力は比較器
を備えたビデオ信号発生回路93に接続されている。ビデ
オ信号発生回路93の出力は最初に検出した鋼板Ｔの第１
の端縁部を検出するための第１の下降先端の検出回路94
と、鋼板Ｔの孔および第２の端縁部の全てを検出する上
昇先端の検出回路95とに接続されている。これらの検出
回路94、95の出力は、左側端縁部を記憶する第１のレジ
スタ97と右側端縁部を記憶する第１のレジスタ98とを有
する第１の複式バッファ回路96に接続されている。２つ
の第１のレジスタ97、98は、左側端縁部と右側端縁部の
アドレスを記憶する第２のレジスタ99、100 に接続され
ている。この回路にはさらに、同期信号発生器 101を有
し、その一つ出力線 102は電荷結合カメラ33と、アドレ
スカウンタ 103のゼロ設定入力端子に接続され、その画
素出力 104は電荷結合カメラ33と、カウンタ 103のアド
レスインクリメント入力端子に接続されている。同期信
号発生器 101の出力線 102は、複式バッファ回路96の第
２のレジスタ99および 100の入力側に接続されている。
アドレスカウンタ 103の出力は、複式バッファ回路96の
第１のレジスタ97、98の入力側とデジタル比較器 105、
106 の第１の入力端子に接続されている。これらのデジ
タル比較器 105、106 の第２の入力側は第２のレジスタ
99、 100の出力端子にも接続されている。デジタル比較
器 105、106 の出力は処理ウィンド回路 107の対応する
入力端子に接続されている。
を成す鋼板Ｔの端縁部の検出手段の概念図である。この
検出手段は図２〜図４に示した電荷結合カメラ33に接続
されており、図４では67で表わされている。電荷結合カ
メラ33 (図５ではブロックで表示) の信号出力は比較器
を備えたビデオ信号発生回路93に接続されている。ビデ
オ信号発生回路93の出力は最初に検出した鋼板Ｔの第１
の端縁部を検出するための第１の下降先端の検出回路94
と、鋼板Ｔの孔および第２の端縁部の全てを検出する上
昇先端の検出回路95とに接続されている。これらの検出
回路94、95の出力は、左側端縁部を記憶する第１のレジ
スタ97と右側端縁部を記憶する第１のレジスタ98とを有
する第１の複式バッファ回路96に接続されている。２つ
の第１のレジスタ97、98は、左側端縁部と右側端縁部の
アドレスを記憶する第２のレジスタ99、100 に接続され
ている。この回路にはさらに、同期信号発生器 101を有
し、その一つ出力線 102は電荷結合カメラ33と、アドレ
スカウンタ 103のゼロ設定入力端子に接続され、その画
素出力 104は電荷結合カメラ33と、カウンタ 103のアド
レスインクリメント入力端子に接続されている。同期信
号発生器 101の出力線 102は、複式バッファ回路96の第
２のレジスタ99および 100の入力側に接続されている。
アドレスカウンタ 103の出力は、複式バッファ回路96の
第１のレジスタ97、98の入力側とデジタル比較器 105、
106 の第１の入力端子に接続されている。これらのデジ
タル比較器 105、106 の第２の入力側は第２のレジスタ
99、 100の出力端子にも接続されている。デジタル比較
器 105、106 の出力は処理ウィンド回路 107の対応する
入力端子に接続されている。
【００１３】図２に示すように、電荷結合カメラ33と光
源と34の間を走行する鋼板Ｔの端縁部の検出は「透過」
モードで行われる。鋼板の表面欠陥を検出するための各
電荷結合カメラとその光源は鋼板Ｔの同じ側に配置され
ていて、画像の処理が「反射」すなわち「平面照明(ecl
airage rasant)」モードで行われる。透過モードの電荷
結合カメラ33から出るビデオ信号は約１Ｖ（１Ｖ＝白色
レベル、０Ｖ＝黒色レベル）であり、(1) この信号の振
幅は、初期ラインと鋼板Ｔの左端縁部が現れた時との間
が１Ｖになり、(2) 左端縁部と右端縁部との間では、電
荷結合カメラが光源34からの光を受けないので、振幅は
０Ｖであり、(3) 鋼板Ｔに孔が存在すると、電荷結合カ
メラの出力信号の振幅は１Ｖになり、(4) 右端縁部と最
終ラインとの間で、振幅は再び１Ｖに戻る。比較器を備
えたビデオ信号発生回路93で作られたビデオ信号は、初
期ビデオ信号と同じ形をしているが、そのレベルはＴＴ
Ｌレベル（０〜５Ｖ）である。鋼板Ｔと各電荷結合カメ
ラタルとの間の距離は正確に同じでなければならず、対
物レンズは、各カメラの同じ画素が鋼板Ｔの同じ横座標
と対応するように、同じ焦点距離を有していなければな
らない。
源と34の間を走行する鋼板Ｔの端縁部の検出は「透過」
モードで行われる。鋼板の表面欠陥を検出するための各
電荷結合カメラとその光源は鋼板Ｔの同じ側に配置され
ていて、画像の処理が「反射」すなわち「平面照明(ecl
airage rasant)」モードで行われる。透過モードの電荷
結合カメラ33から出るビデオ信号は約１Ｖ（１Ｖ＝白色
レベル、０Ｖ＝黒色レベル）であり、(1) この信号の振
幅は、初期ラインと鋼板Ｔの左端縁部が現れた時との間
が１Ｖになり、(2) 左端縁部と右端縁部との間では、電
荷結合カメラが光源34からの光を受けないので、振幅は
０Ｖであり、(3) 鋼板Ｔに孔が存在すると、電荷結合カ
メラの出力信号の振幅は１Ｖになり、(4) 右端縁部と最
終ラインとの間で、振幅は再び１Ｖに戻る。比較器を備
えたビデオ信号発生回路93で作られたビデオ信号は、初
期ビデオ信号と同じ形をしているが、そのレベルはＴＴ
Ｌレベル（０〜５Ｖ）である。鋼板Ｔと各電荷結合カメ
ラタルとの間の距離は正確に同じでなければならず、対
物レンズは、各カメラの同じ画素が鋼板Ｔの同じ横座標
と対応するように、同じ焦点距離を有していなければな
らない。
【００１４】次に、鋼板Ｔの端縁部の検出機能を図６の
概念図を参照して説明する。ビデオ信号ライン上の第１
の高／低変化は鋼板Ｔの左側端縁部に対応する。ビデオ
信号ライン上の最後の低／高変化は鋼板Ｔの右側端縁部
に対応する。一つの同じライン内に複数の低／高変化が
ある場合には、鋼板Ｔに少なくとも１つの孔が存在する
ことを意味している。図６に示すように「初期ライン信
号」はフリップフロップ 110の入力側に加えられる。こ
のフリップフロップ 110の別の入力にはアドレスカウン
タ 103の出力が入る。フリップフロップ 110の出力は、
ＡＮＤゲート 111の入力側に接続され、このＡＮＤゲー
ト 111の別の入力にはアドレスインクリメント信号が入
力される。ＡＮＤゲート 111の出力はアドレスカウンタ
103に入力される。
概念図を参照して説明する。ビデオ信号ライン上の第１
の高／低変化は鋼板Ｔの左側端縁部に対応する。ビデオ
信号ライン上の最後の低／高変化は鋼板Ｔの右側端縁部
に対応する。一つの同じライン内に複数の低／高変化が
ある場合には、鋼板Ｔに少なくとも１つの孔が存在する
ことを意味している。図６に示すように「初期ライン信
号」はフリップフロップ 110の入力側に加えられる。こ
のフリップフロップ 110の別の入力にはアドレスカウン
タ 103の出力が入る。フリップフロップ 110の出力は、
ＡＮＤゲート 111の入力側に接続され、このＡＮＤゲー
ト 111の別の入力にはアドレスインクリメント信号が入
力される。ＡＮＤゲート 111の出力はアドレスカウンタ
103に入力される。
【００１５】図６の回路は別のフリップフロップ 112を
有している。このフリップフロップ112 の入力はアドレ
スカウンタ 103の出力に接続されて、現在のアドレス信
号を受ける。フリップフロップ112 の別の入力はアドレ
ス比較器 113の出力に接続されている。このアドレス比
較器 113にはアドレスカウンタ 103の現在のアドレスも
出力される。フリップフロップ 112の出力はＡＮＤゲー
ト 114の入力側に接続されており、その別の入力はアド
レスインクリメント信号を受ける。ＡＮＤゲート 114の
出力はフリップフロップ 115に入力され、このフリップ
フロップ 115の出力は別のフリップフロップ 116に入力
される。フリップフロップ 115、116 には初期ライン信
号も入る。この初期ライン信号はアドレスカウンタ 103
と組合わされたフリップフロップ 110にも入る。フリッ
プフロップ 116の出力は第１の右側端縁部アドレスレジ
スタ 117に接続されている。このレジスタ 117はアドレ
スカウンタ 103の出力にも接続されている。
有している。このフリップフロップ112 の入力はアドレ
スカウンタ 103の出力に接続されて、現在のアドレス信
号を受ける。フリップフロップ112 の別の入力はアドレ
ス比較器 113の出力に接続されている。このアドレス比
較器 113にはアドレスカウンタ 103の現在のアドレスも
出力される。フリップフロップ 112の出力はＡＮＤゲー
ト 114の入力側に接続されており、その別の入力はアド
レスインクリメント信号を受ける。ＡＮＤゲート 114の
出力はフリップフロップ 115に入力され、このフリップ
フロップ 115の出力は別のフリップフロップ 116に入力
される。フリップフロップ 115、116 には初期ライン信
号も入る。この初期ライン信号はアドレスカウンタ 103
と組合わされたフリップフロップ 110にも入る。フリッ
プフロップ 116の出力は第１の右側端縁部アドレスレジ
スタ 117に接続されている。このレジスタ 117はアドレ
スカウンタ 103の出力にも接続されている。
【００１６】初期ライン信号はさらに、インバータ 118
を介して第２の左側端縁部アドレスレジスタ 119と第２
の右側端縁部アドレスレジスタ 120とへ送られる。アド
レスカウンタ 103の出力はさらに、左側端縁部アドレス
比較器 121の入力側および右側端縁部アドレス比較器 1
22の各入力側に接続されている。図６の回路はさらに、
フリップフロップ 123を有している。このフリップフロ
ップ 123の入力側にはビデオ信号 (ＴＴＬ信号) が入
る。このビデオ信号はインバータ 124で反転された後に
フリップフロップ 115にも入る。フリップフロップ 123
にはさらに、初期ライン信号も入る。この初期ライン信
号はＡＮＤゲート 114の出力側にも接続されている。フ
リップフロップ 123の出力は第１の右側端縁部アドレス
レジスタ 125の入力側に接続されている。このレジスタ
125はアドレスカウンタ 103の出力側にも接続されてい
る。第１の右側端縁部アドレスレジスタ 125の出力は、
第２の右側端縁部アドレスレジスタ 120の入力側に接続
されている。左側端縁および右側端縁のアドレス比較器
121、122 の各出力は処理ウィンド信号発生用フリップ
フロップ 126に接続されている。
を介して第２の左側端縁部アドレスレジスタ 119と第２
の右側端縁部アドレスレジスタ 120とへ送られる。アド
レスカウンタ 103の出力はさらに、左側端縁部アドレス
比較器 121の入力側および右側端縁部アドレス比較器 1
22の各入力側に接続されている。図６の回路はさらに、
フリップフロップ 123を有している。このフリップフロ
ップ 123の入力側にはビデオ信号 (ＴＴＬ信号) が入
る。このビデオ信号はインバータ 124で反転された後に
フリップフロップ 115にも入る。フリップフロップ 123
にはさらに、初期ライン信号も入る。この初期ライン信
号はＡＮＤゲート 114の出力側にも接続されている。フ
リップフロップ 123の出力は第１の右側端縁部アドレス
レジスタ 125の入力側に接続されている。このレジスタ
125はアドレスカウンタ 103の出力側にも接続されてい
る。第１の右側端縁部アドレスレジスタ 125の出力は、
第２の右側端縁部アドレスレジスタ 120の入力側に接続
されている。左側端縁および右側端縁のアドレス比較器
121、122 の各出力は処理ウィンド信号発生用フリップ
フロップ 126に接続されている。
【００１７】開始状態は以下の通りである：2048個の画
素で構成されたラインは０から2047のアドレスを有して
いる。アドレスカウンタ 103は2047までブロックされ、
この状態ではフリップフリップ 110は第１の状態にあ
る。この状態は、次の「初期ライン」信号が出るまで続
く。鋼板Ｔの端縁部の検出を許可するウィンドはフリッ
プフロップ 112によってアドレス８と2040との間に形成
される。アドレスカウンタ 103から来る重み８のビット
３によって、フリップフロップ112 は「高」状態にな
る。重みの大きい８ビットが入るとアドレス2040がデコ
ードされてフリップフロップ 112はゼロになる。「初期
ライン」信号でフリップフロップ 115と 116が解除され
る。次に、鋼板Ｔの左側端縁部の検査方法を説明する。
生成されたビデオ信号は反転された後にフリップフロッ
プ(BG-1) 115の端子DBG-1 に入る。一方、端子CLKG-1は
アドレス８と2040との間でのみ、ＡＮＤゲート114 を介
して「アドレスインクリメント」命令に接続される。こ
のＡＮＤゲート114 の入力はフリップフロップ 112の出
力である。従って、フリップフロップ 115の出力ＱＢＧ
−１は「同期」した状態で入力ＤＢＧ−１に従属する。
この出力ＱＢＧ−１は、次のフリップフロップ(BG-2) 1
16の入力ＣＬＫＢＧ−２となり、ＰＲＢＧ２とＤＢＧ−
２は５Ｖに維持される。フリップフロップ 116の出力Ｑ
ＢＧ−２は反転ビデオ信号の第１の立ち上がり先端の時
に高状態となり、フリップフロップが解除されるまでそ
の状態を維持する（初期ライン）。
素で構成されたラインは０から2047のアドレスを有して
いる。アドレスカウンタ 103は2047までブロックされ、
この状態ではフリップフリップ 110は第１の状態にあ
る。この状態は、次の「初期ライン」信号が出るまで続
く。鋼板Ｔの端縁部の検出を許可するウィンドはフリッ
プフロップ 112によってアドレス８と2040との間に形成
される。アドレスカウンタ 103から来る重み８のビット
３によって、フリップフロップ112 は「高」状態にな
る。重みの大きい８ビットが入るとアドレス2040がデコ
ードされてフリップフロップ 112はゼロになる。「初期
ライン」信号でフリップフロップ 115と 116が解除され
る。次に、鋼板Ｔの左側端縁部の検査方法を説明する。
生成されたビデオ信号は反転された後にフリップフロッ
プ(BG-1) 115の端子DBG-1 に入る。一方、端子CLKG-1は
アドレス８と2040との間でのみ、ＡＮＤゲート114 を介
して「アドレスインクリメント」命令に接続される。こ
のＡＮＤゲート114 の入力はフリップフロップ 112の出
力である。従って、フリップフロップ 115の出力ＱＢＧ
−１は「同期」した状態で入力ＤＢＧ−１に従属する。
この出力ＱＢＧ−１は、次のフリップフロップ(BG-2) 1
16の入力ＣＬＫＢＧ−２となり、ＰＲＢＧ２とＤＢＧ−
２は５Ｖに維持される。フリップフロップ 116の出力Ｑ
ＢＧ−２は反転ビデオ信号の第１の立ち上がり先端の時
に高状態となり、フリップフロップが解除されるまでそ
の状態を維持する（初期ライン）。
【００１８】図７に示したタイムチャートはこの状態を
示している。この図には走査線ｎの全信号が図示されて
いる。立ち上がり変化は、11ビットの第１のアドレス記
憶レジスタ(RG-1) 117のクロック信号の役目をする。こ
のレジスタ 117は変化時の「カレント (現在) 」アドレ
スを記憶する。右側端縁部を検出する場合には、ビデオ
信号がフリップフロップ(BD)123 の端子ＤＢＧに入力さ
れる。端子ＣＬＫＢＤは、アドレス８と2030との間でだ
け「アドレスインクリメント」命令に接続される。従っ
て、出力ＱＢＤはＢＤと同期する。信号ＱＢＤが立ち上
がり変化する度に、記憶レジスタ(RD-1) 125の端子ＣＬ
ＫＲＤ−１が駆動されて、カレントアドレスが記憶され
る。ラインの終点でこのレジスタに含まれるアドレスは
右側端縁部のアドレスである。鋼板Ｔに孔が存在する
と、中間が記憶される。問題とするラインｎの終点では
レジスタＲＧ−１およびＲＤ−１(117, 125)には鋼板Ｔ
の左端縁部のアドレスと右端縁部のアドレスとが入って
いる。次のラインｎ＋１の開始時には、レジスタＲＧ−
２とＲＤ−２のクロック端子の「反転ラインの開始」信
号で上記アドレスがレジスタＲＧ−２とＲＤ−２へ送さ
れ、レジスタ 117、125 を解除するので、これらのレジ
スタはラインｎ＋１の左側端縁部と右側端縁部のアドレ
スを記憶化することができる。すなわち、ラインｎ＋１
の開始時には、レジスタＲＧ−２(119) は鋼板Ｔの左側
端縁部のアドレスを含み、レジスタＲＤ−２(120) はラ
インｎの鋼板Ｔの右側端縁部のアドレスを含んでいる。
示している。この図には走査線ｎの全信号が図示されて
いる。立ち上がり変化は、11ビットの第１のアドレス記
憶レジスタ(RG-1) 117のクロック信号の役目をする。こ
のレジスタ 117は変化時の「カレント (現在) 」アドレ
スを記憶する。右側端縁部を検出する場合には、ビデオ
信号がフリップフロップ(BD)123 の端子ＤＢＧに入力さ
れる。端子ＣＬＫＢＤは、アドレス８と2030との間でだ
け「アドレスインクリメント」命令に接続される。従っ
て、出力ＱＢＤはＢＤと同期する。信号ＱＢＤが立ち上
がり変化する度に、記憶レジスタ(RD-1) 125の端子ＣＬ
ＫＲＤ−１が駆動されて、カレントアドレスが記憶され
る。ラインの終点でこのレジスタに含まれるアドレスは
右側端縁部のアドレスである。鋼板Ｔに孔が存在する
と、中間が記憶される。問題とするラインｎの終点では
レジスタＲＧ−１およびＲＤ−１(117, 125)には鋼板Ｔ
の左端縁部のアドレスと右端縁部のアドレスとが入って
いる。次のラインｎ＋１の開始時には、レジスタＲＧ−
２とＲＤ−２のクロック端子の「反転ラインの開始」信
号で上記アドレスがレジスタＲＧ−２とＲＤ−２へ送さ
れ、レジスタ 117、125 を解除するので、これらのレジ
スタはラインｎ＋１の左側端縁部と右側端縁部のアドレ
スを記憶化することができる。すなわち、ラインｎ＋１
の開始時には、レジスタＲＧ−２(119) は鋼板Ｔの左側
端縁部のアドレスを含み、レジスタＲＤ−２(120) はラ
インｎの鋼板Ｔの右側端縁部のアドレスを含んでいる。
【００１９】以下、処理ウィンドの形成方法を説明す
る。ラインｎ＋１で、(1) ラインｎで得られた左側端縁
部のアドレスを含むレジスタＲＧ−２(119) の内容を比
較器 121内のカレントアドレスと比較する。両者が等し
い場合にはフリップフロップ 126がセットされ、(2) ラ
インｎで得られた右側端縁部のアドレスを含むレジスタ
ＲＤ−２(120) の内容は比較器122 内のカレントアドレ
スと比較する。両者が等しい場合にはフリップフロップ
126が解除される。鋼板Ｔが存在しない場合には信号の
処理をしないようにするために、左側端縁部のアドレス
ではシフトを加え、右側端縁部のアドレスではシフトを
差し引く。この方法を用いることによって、アドレスシ
フトを加えたデコードから、有効な信号処理をしなけれ
ばならないビデオラインの区域を限定することができ
る。この区域の再能動化は各ラインの終点で行う。
る。ラインｎ＋１で、(1) ラインｎで得られた左側端縁
部のアドレスを含むレジスタＲＧ−２(119) の内容を比
較器 121内のカレントアドレスと比較する。両者が等し
い場合にはフリップフロップ 126がセットされ、(2) ラ
インｎで得られた右側端縁部のアドレスを含むレジスタ
ＲＤ−２(120) の内容は比較器122 内のカレントアドレ
スと比較する。両者が等しい場合にはフリップフロップ
126が解除される。鋼板Ｔが存在しない場合には信号の
処理をしないようにするために、左側端縁部のアドレス
ではシフトを加え、右側端縁部のアドレスではシフトを
差し引く。この方法を用いることによって、アドレスシ
フトを加えたデコードから、有効な信号処理をしなけれ
ばならないビデオラインの区域を限定することができ
る。この区域の再能動化は各ラインの終点で行う。
【００２０】以下、例として鋼板Ｔの下側表面の検査カ
メラ27と、図４に示する処理に対応する方法を用いて鋼
板Ｔの表面欠陥を検出する本発明装置の動作を説明す
る。同期回路69によって圧延ラインの１つのロールによ
って駆動されるタコメータ式発電機と同期した電荷結合
カメラ27は、光源25によって照射されたロール９上を通
る鋼板Ｔの下側表面のある区域を走査線ごとに2048個の
画素で取り出す。電荷結合カメラ27の出力信号は増幅器
60で増幅されて検出回路63に入る。この検出回路63には
ラインの処理ウィンド発生回路70の信号と同期回路69の
同期信号も入る。検出回路63には設定回路65からのプリ
ウィット閾値も入る。電荷結合カメラ27から受けた信号
がプリウィット閾値より大きい場合には欠陥信号を出力
する。この信号は欠陥カウンタ75に入力される。欠陥カ
ウンタ75には外観閾値回路76の16ビットにコード化され
た欠陥区域閾値信号が入る。
メラ27と、図４に示する処理に対応する方法を用いて鋼
板Ｔの表面欠陥を検出する本発明装置の動作を説明す
る。同期回路69によって圧延ラインの１つのロールによ
って駆動されるタコメータ式発電機と同期した電荷結合
カメラ27は、光源25によって照射されたロール９上を通
る鋼板Ｔの下側表面のある区域を走査線ごとに2048個の
画素で取り出す。電荷結合カメラ27の出力信号は増幅器
60で増幅されて検出回路63に入る。この検出回路63には
ラインの処理ウィンド発生回路70の信号と同期回路69の
同期信号も入る。検出回路63には設定回路65からのプリ
ウィット閾値も入る。電荷結合カメラ27から受けた信号
がプリウィット閾値より大きい場合には欠陥信号を出力
する。この信号は欠陥カウンタ75に入力される。欠陥カ
ウンタ75には外観閾値回路76の16ビットにコード化され
た欠陥区域閾値信号が入る。
【００２１】一つの画像の欠陥点の数が区域閾値の値に
達した場合には、比較器79がインターフェース回路81の
対応する入力側へ割り込み信号を出力する。これに対応
する情報はコンピュータ55に送られ、このコンピュータ
55からは製品に関する情報を格納するメモリー85に送ら
れる。また、割り込み信号が工業プロセスに従属する同
期プログラムを含むシステム86に送られる。電荷結合カ
メラ27の出力信号は、増幅後、輪郭ハメ込み回路72へも
送られた後に、コンピュータ38のデジタル化・記憶回路
88へも入力される。このデジタル化・記憶回路88には、
シフト・飛び越し形成回路91で作られた画像ウィンド形
成回路92を介して画像ウィンド信号も入る。従って、ラ
インｎ（例えば４）上に一つの画素をディスプレイする
メモリに処理ラインの画素を保持することができ、従っ
て、メモリが過剰にロードされることはない。デジタル
化・記憶回路88は、回路72から出力されるウィンド形成
回路92によって定義されたウィンド内に含まれる信号の
みしか受けない。この信号は鋼板Ｔの有効幅に対応して
いる。処理ウィンドの形成方法は図５、図６を参照して
既に説明してある。
達した場合には、比較器79がインターフェース回路81の
対応する入力側へ割り込み信号を出力する。これに対応
する情報はコンピュータ55に送られ、このコンピュータ
55からは製品に関する情報を格納するメモリー85に送ら
れる。また、割り込み信号が工業プロセスに従属する同
期プログラムを含むシステム86に送られる。電荷結合カ
メラ27の出力信号は、増幅後、輪郭ハメ込み回路72へも
送られた後に、コンピュータ38のデジタル化・記憶回路
88へも入力される。このデジタル化・記憶回路88には、
シフト・飛び越し形成回路91で作られた画像ウィンド形
成回路92を介して画像ウィンド信号も入る。従って、ラ
インｎ（例えば４）上に一つの画素をディスプレイする
メモリに処理ラインの画素を保持することができ、従っ
て、メモリが過剰にロードされることはない。デジタル
化・記憶回路88は、回路72から出力されるウィンド形成
回路92によって定義されたウィンド内に含まれる信号の
みしか受けない。この信号は鋼板Ｔの有効幅に対応して
いる。処理ウィンドの形成方法は図５、図６を参照して
既に説明してある。
【００２２】検査すべき欠陥を表すデジタル化された画
像は多重化されてビデオ嵌め込み器90に入力される。こ
のビデオ嵌め込み器90は鋼板Ｔの下側表面および上側表
面で検出された欠陥に関する情報をモニターするスクリ
ーン42上に表示する表示命令を出す。鋼板Ｔの上側表面
を検査する電荷結合カメラ31と組み合わされた処理経路
の動作は、下側表面を検査する電荷結合カメラ27と組み
合わされた上記の処理経路の動作と同じである。鋼板Ｔ
に孔が検出されると、検出回路67が割り込み信号を出力
する。この割り込み信号はインターフェース回路81を介
してコンピュータ55へ送られた後、工業プロセスに従属
する同期プログラムを含むシステム86に送られる。
像は多重化されてビデオ嵌め込み器90に入力される。こ
のビデオ嵌め込み器90は鋼板Ｔの下側表面および上側表
面で検出された欠陥に関する情報をモニターするスクリ
ーン42上に表示する表示命令を出す。鋼板Ｔの上側表面
を検査する電荷結合カメラ31と組み合わされた処理経路
の動作は、下側表面を検査する電荷結合カメラ27と組み
合わされた上記の処理経路の動作と同じである。鋼板Ｔ
に孔が検出されると、検出回路67が割り込み信号を出力
する。この割り込み信号はインターフェース回路81を介
してコンピュータ55へ送られた後、工業プロセスに従属
する同期プログラムを含むシステム86に送られる。
【図１】 圧延ラインの一部分の概念図で、本発明の欠
陥検出装置の位置を示している。
陥検出装置の位置を示している。
【図２】 本発明の欠陥検出装置の概念図。
【図３】 本発明の欠陥検出装置の光学的手段と組み合
された電子・情報処理システムの一般的な概念図。
された電子・情報処理システムの一般的な概念図。
【図４】 本発明の欠陥検出装置の電子部分の具体的な
詳細図。
詳細図。
【図５】 本発明の欠陥検出装置で走行中のストリップ
の端縁部を検出する回路の概念図。
の端縁部を検出する回路の概念図。
【図６】 図５の回路の詳細図。
【図７】 図６の端縁部の検出回路の信号を立ち上がり
時間の関数で表したタイムチャート。
時間の関数で表したタイムチャート。
Ｔ 鋼板 ８ テンションループ 25、29 照明光源 27、31、33 電荷結合カ
メラ 35、36、37 電子装置 38 情報処理手段 42 ディスプレイモニター 55 欠陥情報処理コンピ
ュータ 72、73 輪郭ハメ込み回路 75、76、77、78、79、80 区域欠陥カント手段 80 マルチプレクサ 81 インターフェース回
路 85 記憶手段 87、88 デジタル化回路
メラ 35、36、37 電子装置 38 情報処理手段 42 ディスプレイモニター 55 欠陥情報処理コンピ
ュータ 72、73 輪郭ハメ込み回路 75、76、77、78、79、80 区域欠陥カント手段 80 マルチプレクサ 81 インターフェース回
路 85 記憶手段 87、88 デジタル化回路
Claims (9)
- 【請求項１】 ストリップ(T) の下側表面を検査する光
学的手段(25, 27)と、ストリップの上側表面を検査する
光学的手段(29, 31)と、ストリップの端縁部を検出する
独立した光学的手段(33, 34)と、ストリップの下側表面
および上側表面を検査する各光学的手段(25, 27, 29, 3
1)と組み合わされた欠陥を示すための電子手段(35, 36)
と、ストリップの端縁部を検出する光学的手段(33, 34)
と組み合わされたストリップの孔の存在を示すための電
子手段(37)と、上記各電子手段(35, 36, 37)から出力さ
れた情報の処理手段(38)と、この処理手段(38)に接続さ
れたストリップの下側表面および上側表面の欠陥および
ストリップの孔を表示するためのディスプレイ手段(42)
とを有することを特徴とする走行中のストリップの欠陥
を検出する装置。 - 【請求項２】 ストリップ(T) の下側表面および上側表
面の各検査手段 (25,27, 29, 31) がストリップの対応
する表面を照明する光源(25, 29)と、ストリップの表面
によって反射された光源(25, 29)の光路に配置されたビ
デオカメラ(27,31) とで構成される請求項１に記載の装
置。 - 【請求項３】 ストリップ(T) の端縁部の検出手段(33,
34)がストリップ (T)の片側に配置された光源(34)と、
この光源に対してストリップ (T)の反対側に配置された
ビデオカメラ(33)とで構成され、ストリップの端縁部の
検出をこのビデオカメラ(33)が受けた光源の光度変化で
行い、ストリップ内の孔の存在も類似の方法でこのビデ
オカメラ(33)で検出する請求項１または２に記載の装
置。 - 【請求項４】 ストリップ(T) の下側表面および上側表
面を検査する各光学的手段に接続された欠陥を示す各電
子手段(35, 36)が、ストリップ(T) の下側表面および上
側表面を検査するビデオカメラ(27, 31)に接続された欠
陥の輪郭を検出する手段(63, 65, 64, 66)と、この欠陥
の輪郭を検出する手段(63, 65, 64, 66)に接続された区
域欠陥カウント手段(75, 76, 79, 77, 78, 80)と、欠陥
情報を処理するコンピュータ(55)に割り込み信号を送る
インターフェース回路(81)と、欠陥の記憶手段(85)と、
コンピュータ(55)から命令されるプロセスに従う同期手
段とによって構成される請求項１〜３のいずれか一項に
記載の装置。 - 【請求項５】 ストリップ(T) の下側表面および上側表
面を検査するビデオカメラ(27, 31)に接続された輪郭ハ
メ込み回路(72, 73)と、この各輪郭ハメ込み回路(72, 7
3)に接続された輪郭のデジタル化・記憶回路(87, 88)
と、このデジタル化・記憶回路(87, 88)の出力信号のマ
ルチプレクサ(89)と、このマルチプレクサ(89)とディス
プレイモニター(42)との間に配置されたビデオハメ込み
器(90)とをさらに有する請求項４に記載の装置。 - 【請求項６】 デジタル化・記憶回路(87, 88)と、マル
チプレクサ(80)と、バス(92a) を介してコンピュータ(5
5)に接続された分割メモリ(92b) とが、検出されたスト
リップの欠陥に関する情報をディスプレイモニター(42)
上にディスプレイする制御コンピュータ(38)の一部分を
構成する請求項５に記載の装置。 - 【請求項７】 ストリップ内の孔の存在を表示する電子
手段(37)がストリップの端縁部を検出するビデオカメラ
(33)に接続されたストリップ(T) の端縁部と孔とを検出
する検出手段(67)を有し、この検出手段(67)は割り込み
回路(81)を介して欠陥情報を処理するコンピュータ(55)
に接続されており、割り込み回路(81)はストリップに孔
が存在する場合にコンピュータ(55)に割り込み信号を出
力する請求項４〜６のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項８】 ビデオカメラ(27, 31, 33)とストリップ
(T) との間の距離およびストリップ(T) の走行路上での
検査と検出光学的手段との整合度の変動を補償するため
に、検出手段(67)によってストリップの端縁部を検出す
る際の許容値を設定する回路(74)を有する処理ウィンド
の形成手段と、シフト・飛び越し設定回路(91)に接続さ
れた画像ウィンド形成回路(92)とを有し、画像ウィンド
はストリップの有効輪郭を計算するための処理ウィンド
信号のデジタル化・記憶回路(87,88) に入力され請求項
７に記載の装置。 - 【請求項９】 上記の処理ウィンド形成手段が、ストリ
ップの端縁部を検出するビデオカメラ(33)からのビデオ
出力信号の第１の立ち下がり先端を検出する回路(94)
と、ビデオ出力信号の全ての立ち上がり先端を検出する
回路(95)と、左側端縁部を記憶する第１のレジスタ(97)
および右側端縁部を記憶する第１のレジスタ(98)で構成
される複式バッファ回路(96)とを有し、これらのレジス
タ(97, 98)には左側端縁部を記憶する第２のレジスタ(9
9)および右側端縁部を記憶する第２のレジスタ(100) が
各々接続されており、これら第２のレジスタ(99, 100)
の各出力は比較器(105、106)の入力側に接続されてお
り、この比較器(105、106)の別の入力端子にはストリッ
プの端縁部を検出するビデオカメラ(33)に接続されたア
ドレスカウンタ(103) の出力信号が送られる請求項８に
記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9016239 | 1990-12-24 | ||
| FR909016239A FR2670896B1 (fr) | 1990-12-24 | 1990-12-24 | Dispositif de detection de defauts d'une bande en cours de defilement. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0682388A true JPH0682388A (ja) | 1994-03-22 |
| JP3119923B2 JP3119923B2 (ja) | 2000-12-25 |
Family
ID=9403638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03356966A Expired - Lifetime JP3119923B2 (ja) | 1990-12-24 | 1991-12-24 | 走行中のストリップの欠陥の検出装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0493291B1 (ja) |
| JP (1) | JP3119923B2 (ja) |
| AT (1) | ATE141686T1 (ja) |
| DE (1) | DE69121545T2 (ja) |
| DK (1) | DK0493291T3 (ja) |
| ES (1) | ES2092553T3 (ja) |
| FR (1) | FR2670896B1 (ja) |
| GR (1) | GR3021560T3 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030055572A (ko) * | 2001-12-27 | 2003-07-04 | 주식회사 포스코 | 스트립의 표면결함 검출장치 |
| KR100838722B1 (ko) * | 2001-12-05 | 2008-06-16 | 주식회사 포스코 | 열간압연공정에서의 스트립표면 결함부 검색장치 |
| WO2010039135A1 (en) * | 2008-10-01 | 2010-04-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Camera web support |
| KR101254898B1 (ko) * | 2011-10-06 | 2013-04-15 | 대원강업주식회사 | 코일링기 재료 표면 흠 검사장치 |
| EP2799378A1 (en) * | 2011-12-27 | 2014-11-05 | Toray Industries, Inc. | Manufacturing device and manufacturing method for microporous plastic film roll |
| KR101478185B1 (ko) * | 2010-12-21 | 2014-12-31 | 에스엠에스 지마크 악티엔게젤샤프트 | 스트립 피스의 표면 검사 방법 및 그 장치 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2282444B (en) * | 1993-09-29 | 1997-06-25 | Circuit Foil Sa | Visual inspection system |
| DE69515646T2 (de) * | 1995-05-10 | 2000-08-17 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern in Textilbahnen und dergleichen |
| DE19632988C1 (de) * | 1996-08-15 | 1998-01-22 | Stora Publication Paper Ag | Verfahren zur Beseitigung von Papierfehlern bei der kontinuierlichen Papierherstellung |
| DE19800781A1 (de) * | 1998-01-12 | 1999-07-15 | Arcotec Oberflaechentech Gmbh | Vorrichtung zur Bearbeitung von Materialbahnen |
| DE19805932A1 (de) * | 1998-02-13 | 1999-08-19 | Baehr Gmbh Bremen Ind Technik | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Verklebung von Folienlagen mehrlagiger Folienbahnen |
| DE19919895A1 (de) * | 1999-04-30 | 2000-11-02 | Zentrum Fuer Neuroinformatik G | Fehlererkennungssystem für bandförmiges Material, Beleuchtungs-, Steuer- und Aufnahmevorrichtung hierfür |
| KR100838724B1 (ko) * | 2001-12-05 | 2008-06-16 | 주식회사 포스코 | 산세강판의 롤마크 표면결함 검출시스템 |
| ES2388631B1 (es) * | 2010-04-27 | 2013-08-29 | Gehitek Visión Artificial S.L. | Sistema de señalización de defectos en vidrio plano aplicado a una línea de detección de defectos de visión artificial. |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3448279A (en) * | 1966-10-17 | 1969-06-03 | Lindly & Co Inc | Photoelectric defect detector having reflection test transmission test and edgewise test |
| US3843890A (en) * | 1973-07-27 | 1974-10-22 | Du Pont | Optical-electrical web inspection system |
| FR2454236A1 (fr) * | 1979-04-11 | 1980-11-07 | Seita | Procede et dispositif de traitement de signaux video |
| FR2559581B1 (fr) * | 1984-02-10 | 1986-07-11 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procede et installation de detection de defauts de surface sur une bande en cours de defilement |
| JPS61175552A (ja) * | 1985-01-30 | 1986-08-07 | Kanzaki Paper Mfg Co Ltd | 欠陥シ−トの検出方法 |
| JPS6293637A (ja) * | 1985-10-21 | 1987-04-30 | Hitachi Ltd | 自動検反システム |
| JPS63249768A (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-17 | グンゼ株式会社 | 検反方法及びその装置 |
-
1990
- 1990-12-24 FR FR909016239A patent/FR2670896B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-12-19 DK DK91470041.4T patent/DK0493291T3/da active
- 1991-12-19 EP EP91470041A patent/EP0493291B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-19 AT AT91470041T patent/ATE141686T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-12-19 ES ES91470041T patent/ES2092553T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-19 DE DE69121545T patent/DE69121545T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-24 JP JP03356966A patent/JP3119923B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-11-06 GR GR960402942T patent/GR3021560T3/el unknown
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100838722B1 (ko) * | 2001-12-05 | 2008-06-16 | 주식회사 포스코 | 열간압연공정에서의 스트립표면 결함부 검색장치 |
| KR20030055572A (ko) * | 2001-12-27 | 2003-07-04 | 주식회사 포스코 | 스트립의 표면결함 검출장치 |
| WO2010039135A1 (en) * | 2008-10-01 | 2010-04-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Camera web support |
| US8593635B2 (en) | 2008-10-01 | 2013-11-26 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Camera web support |
| KR101478185B1 (ko) * | 2010-12-21 | 2014-12-31 | 에스엠에스 지마크 악티엔게젤샤프트 | 스트립 피스의 표면 검사 방법 및 그 장치 |
| KR101254898B1 (ko) * | 2011-10-06 | 2013-04-15 | 대원강업주식회사 | 코일링기 재료 표면 흠 검사장치 |
| EP2799378A1 (en) * | 2011-12-27 | 2014-11-05 | Toray Industries, Inc. | Manufacturing device and manufacturing method for microporous plastic film roll |
| EP2799378A4 (en) * | 2011-12-27 | 2017-05-10 | Toray Industries, Inc. | Manufacturing device and manufacturing method for microporous plastic film roll |
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