JPH0549181B2 - - Google Patents
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- JPH0549181B2 JPH0549181B2 JP62140597A JP14059787A JPH0549181B2 JP H0549181 B2 JPH0549181 B2 JP H0549181B2 JP 62140597 A JP62140597 A JP 62140597A JP 14059787 A JP14059787 A JP 14059787A JP H0549181 B2 JPH0549181 B2 JP H0549181B2
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- JP
- Japan
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- bottle
- inspection device
- signal
- bottle body
- defect detection
- Prior art date
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 81
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 66
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 54
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 23
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 235000013334 alcoholic beverage Nutrition 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 235000014214 soft drink Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は回転する壜の胴部の欠陥を検出する壜
の胴部検査装置に関する。
の胴部検査装置に関する。
酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜
は、製壜装置により作られた新しい壜でも回収し
て再使用する回収壜でも、欠陥が存在するか否か
を検査する必要がある。壜の検査は壜の各部、壜
胴、壜底、口部、ねじ口部を検査することにな
る。このうち壜の胴部の欠陥には異物よごれなど
食品衛生上の問題となるものと、クラツク泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるた
め、これら欠陥壜を正確に検出して排除する必要
がある。
は、製壜装置により作られた新しい壜でも回収し
て再使用する回収壜でも、欠陥が存在するか否か
を検査する必要がある。壜の検査は壜の各部、壜
胴、壜底、口部、ねじ口部を検査することにな
る。このうち壜の胴部の欠陥には異物よごれなど
食品衛生上の問題となるものと、クラツク泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるた
め、これら欠陥壜を正確に検出して排除する必要
がある。
しかしながら、通常壜の胴部には色むらや肉厚
のむらがあり、これらむらのために本来の欠陥が
検出できなかつたり、これらむらを欠陥と誤つて
検出してしまうという問題点があつた。またこれ
らむらのために検査領域の設定や感度の設定等を
適切に行うことが困難であるという問題点があつ
た。
のむらがあり、これらむらのために本来の欠陥が
検出できなかつたり、これらむらを欠陥と誤つて
検出してしまうという問題点があつた。またこれ
らむらのために検査領域の設定や感度の設定等を
適切に行うことが困難であるという問題点があつ
た。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、
回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度
調整等を簡単に行うことができる壜の胴部検査装
置を提供することを目的とする。
回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度
調整等を簡単に行うことができる壜の胴部検査装
置を提供することを目的とする。
上記目的は、回転する壜の胴部を照明する照明
手段と、照明手段により照明された壜の胴部の透
過映像を光電変換する光電変換手段と、光電変換
手段により光電変換された透過映像画面を予め定
められた検出走査線上の少なくとも2点の明るさ
に基づいて欠陥点を検出する欠陥検出手段と、欠
陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて検
出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判
定する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の
胴部検査装置によつて達成される。
手段と、照明手段により照明された壜の胴部の透
過映像を光電変換する光電変換手段と、光電変換
手段により光電変換された透過映像画面を予め定
められた検出走査線上の少なくとも2点の明るさ
に基づいて欠陥点を検出する欠陥検出手段と、欠
陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて検
出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判
定する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の
胴部検査装置によつて達成される。
本発明による壜の胴部検査装置は、回転する壜
の胴部の透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥
点に基づいて判定された欠陥走査線の連続状態か
ら欠陥の有無を検査する。
の胴部の透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥
点に基づいて判定された欠陥走査線の連続状態か
ら欠陥の有無を検査する。
本発明の一実施例による壜の胴部検査装置を第
1図に示す。本実施例では操作される壜12は回
転しながら連続して流れていく。この壜12は均
一な拡散光を放つ面を有する拡散光源10により
照明される。この壜12の胴部の透過映像は振動
レンズ14を介して一次元光電変換装置16に入
射される。一次元光電変換装置16はリニア
CCDのように透過映像を電気的アナログ信号に
変換する受光部とこの受光部に透過映像を結像す
るための光学系とで構成されている。振動レンズ
14は振動レンズ駆動装置21により駆動され
る。この振動レンズ14は、一次元光電変換装置
16の受光部に透過映像が結像するように壜12
の動きに同期して動かされる。例えば、第2図に
示すように一次元光電変換装置16の受光部がリ
ニアCCD16aで光学系が凸レンズ16bの場
合には、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レ
ンズ14を振動させる。即ち、壜12が位置Aか
ら位置A′に移動するに従い、凹レンズ14も位
置Aから位置A′に回転させられる。このように
すると壜12の透過映像の中心像が常にリニア
CCD16aの一定の位置に結像する。壜12は
位置Aから位置A′に移動する間に1回転自転さ
せられるので、リニアCCD16aには壜12の
全周の像が入力することとなる。
1図に示す。本実施例では操作される壜12は回
転しながら連続して流れていく。この壜12は均
一な拡散光を放つ面を有する拡散光源10により
照明される。この壜12の胴部の透過映像は振動
レンズ14を介して一次元光電変換装置16に入
射される。一次元光電変換装置16はリニア
CCDのように透過映像を電気的アナログ信号に
変換する受光部とこの受光部に透過映像を結像す
るための光学系とで構成されている。振動レンズ
14は振動レンズ駆動装置21により駆動され
る。この振動レンズ14は、一次元光電変換装置
16の受光部に透過映像が結像するように壜12
の動きに同期して動かされる。例えば、第2図に
示すように一次元光電変換装置16の受光部がリ
ニアCCD16aで光学系が凸レンズ16bの場
合には、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レ
ンズ14を振動させる。即ち、壜12が位置Aか
ら位置A′に移動するに従い、凹レンズ14も位
置Aから位置A′に回転させられる。このように
すると壜12の透過映像の中心像が常にリニア
CCD16aの一定の位置に結像する。壜12は
位置Aから位置A′に移動する間に1回転自転さ
せられるので、リニアCCD16aには壜12の
全周の像が入力することとなる。
A/D変換器18は一次元光電変換装置16か
らのアナログ映像信号を所定ビツト数のデイジタ
ル映像信号に変換する。このデイジタル映像信号
は検査領域検査ゲート設定回路20とモニタ表示
用RAM回路22と欠陥検出回路24に出力され
る。
らのアナログ映像信号を所定ビツト数のデイジタ
ル映像信号に変換する。このデイジタル映像信号
は検査領域検査ゲート設定回路20とモニタ表示
用RAM回路22と欠陥検出回路24に出力され
る。
検査領域検査ゲート設定回路20は、第3図に
示すような透過映像から後述する欠陥検出回路2
4で欠陥を検出する垂直方向の検査領域を定める
ための回路である。壜12の形状に応じて、壜1
2上下端のエツジから検査領域を定め、この検査
領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する。第
3図では壜12の全体を検査領域とし、この検査
領域を壜12の形状に応じて5つの検査ゲート
1,2,3,4,5に分けている。検査領域検査
ゲート設定回路20からは、リニアCCD16a
の現在のスキヤンの位置が検査領域内のどの検査
ゲートであるかを示す検査ゲート信号がモニタ表
示用RAM回路22、欠陥検出回路24、マスク
処理回路26、判定回路28に出力される。
示すような透過映像から後述する欠陥検出回路2
4で欠陥を検出する垂直方向の検査領域を定める
ための回路である。壜12の形状に応じて、壜1
2上下端のエツジから検査領域を定め、この検査
領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する。第
3図では壜12の全体を検査領域とし、この検査
領域を壜12の形状に応じて5つの検査ゲート
1,2,3,4,5に分けている。検査領域検査
ゲート設定回路20からは、リニアCCD16a
の現在のスキヤンの位置が検査領域内のどの検査
ゲートであるかを示す検査ゲート信号がモニタ表
示用RAM回路22、欠陥検出回路24、マスク
処理回路26、判定回路28に出力される。
欠陥検出回路24は、A/D変換回路18から
のデイジタル映像信号に基づいて、垂直方向及び
水平方向にある一定距離離れた複数点の明るさを
比較することにより欠陥の検出を行なう。
のデイジタル映像信号に基づいて、垂直方向及び
水平方向にある一定距離離れた複数点の明るさを
比較することにより欠陥の検出を行なう。
複数点の明るさを比較する欠陥検出方式には、
2点の明るさを比較して欠陥を検出する2点欠陥
検出方式と3点の明るさを比較して欠陥を検出す
る3点欠陥検出方式とがある。第4図は2点欠陥
検出方式の説明図であり、第5図は3点欠陥検出
方式の説明図である。
2点の明るさを比較して欠陥を検出する2点欠陥
検出方式と3点の明るさを比較して欠陥を検出す
る3点欠陥検出方式とがある。第4図は2点欠陥
検出方式の説明図であり、第5図は3点欠陥検出
方式の説明図である。
2点欠陥検出方式では、比較演算する2点A,
Bの明るさをQA,QBとして、次式が成立すれ
ば欠陥ありとする。
Bの明るさをQA,QBとして、次式が成立すれ
ば欠陥ありとする。
|QA−QB|≧(定数A)
第4図の場合、リニアCCD16aの走査線上
の点A1とB1、A2とB2の明るさをそれぞれ
QA1,QB1,QA2,QB2として、次式によ
り比較演算することにより欠陥の検出を行う。
の点A1とB1、A2とB2の明るさをそれぞれ
QA1,QB1,QA2,QB2として、次式によ
り比較演算することにより欠陥の検出を行う。
|QA1−QB1|≧A
|QA2−QB2|≧A
なお、定数Aは壜の種類等に基づいて予め決め
ておく。第4図aに示すように走査線上の透過映
像の明るさが均一であれば、 QA1−QB1>A QA2−QB2=0 が成立し、点B1が欠陥点であることがわかる。
このように明るさが均一であれば、この2点欠陥
検出方式が有効である。しかし、第4図bに示す
ように走査線上の透過映像の明るさが不均一であ
ると、 |QA1−QB1|<A |QA2−QB2|<A となり、点B1の欠陥を検出できないおそれがあ
る。
ておく。第4図aに示すように走査線上の透過映
像の明るさが均一であれば、 QA1−QB1>A QA2−QB2=0 が成立し、点B1が欠陥点であることがわかる。
このように明るさが均一であれば、この2点欠陥
検出方式が有効である。しかし、第4図bに示す
ように走査線上の透過映像の明るさが不均一であ
ると、 |QA1−QB1|<A |QA2−QB2|<A となり、点B1の欠陥を検出できないおそれがあ
る。
3点欠陥検出方式はこのような場合でも確実に
検出できる。3点欠陥検出方式では、比較演算す
る3点A,B,Cの明るさをQA,QB,QCとし
て、次式により比較演算して欠陥を検出する。
検出できる。3点欠陥検出方式では、比較演算す
る3点A,B,Cの明るさをQA,QB,QCとし
て、次式により比較演算して欠陥を検出する。
|QB−{(QA+QC)/2}|≧(定数B)
なお、定数Bは壜の種類等に基づいて予め決め
ておく。第5図の場合、リニアCCD16aの走
査線上の点A1とB1とC1、A2とB2とC2
の明るさをそれぞれQA1,QB1,QC1,QA
2,QB2,QC2として、次式により比較演算す
ることにより欠陥の検出を行なう。
ておく。第5図の場合、リニアCCD16aの走
査線上の点A1とB1とC1、A2とB2とC2
の明るさをそれぞれQA1,QB1,QC1,QA
2,QB2,QC2として、次式により比較演算す
ることにより欠陥の検出を行なう。
|QB1−{(QA1+QC1)/2}1≧B
|QB2−{(QA2+QC2)/2}|≧B
中間の点B1,B2の明るさと比較する明るさ
が両側の点A1とC1、A2とC2の明るさの算
術平均であるので、明るさが均一である第5図a
の場合も、明るさが不均一である第5図bの場合
も正確に欠陥点B1が検出できる。
が両側の点A1とC1、A2とC2の明るさの算
術平均であるので、明るさが均一である第5図a
の場合も、明るさが不均一である第5図bの場合
も正確に欠陥点B1が検出できる。
2点欠陥検出方式の欠陥検出回路24の具体例
を第6図に示す。2点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ24aのシフト幅により定まる。このシ
フト幅はシフト幅設定部24bにより定められ
る。比較部24cは現在入力されているデイジタ
ル映像信号とシフト幅だけ前のエイジタル映像信
号であるシフレジスタ24aの出力信号とを比較
し、その差の絶対値が感度設定部24dに設定さ
れた感度(即ち、定数A)より大きいか否かを判
断して欠陥検出信号を出力する。定数Aは検査ゲ
ートにより異なるため、感度設定部24dは入力
する検査ゲート信号により適切な定数Aを比較部
24cに出力する。
を第6図に示す。2点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ24aのシフト幅により定まる。このシ
フト幅はシフト幅設定部24bにより定められ
る。比較部24cは現在入力されているデイジタ
ル映像信号とシフト幅だけ前のエイジタル映像信
号であるシフレジスタ24aの出力信号とを比較
し、その差の絶対値が感度設定部24dに設定さ
れた感度(即ち、定数A)より大きいか否かを判
断して欠陥検出信号を出力する。定数Aは検査ゲ
ートにより異なるため、感度設定部24dは入力
する検査ゲート信号により適切な定数Aを比較部
24cに出力する。
3点欠陥検出方式の欠陥検出回路24の具体例
を第7図に示す。3点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ24e,24fのシフト幅により定ま
る。シフトレジスタ24e,24fのシフト幅は
シフト幅設定部24gにより定められる。この具
体例では2つのシフトレジスタ24e,24fの
シフト幅は同じシフト幅に設定される。演算回路
24hは現在入力しているデイジタル映像信号と
シフトレジスタ24fから出力されるデイジタル
映像信号との算術平均を演算する。これにより現
在走査している映像の平均の明るさが計算され
る。比較回路24iは演算回路24hにより演算
された平均の明るさと、シフトレジスタ24eか
らのデイジタル映像信号とを比較し、その差の絶
対値が感度設定部24jに設定された感度(即
ち、定数B)より大きいか否かを判断して欠陥検
出信号を出力する。定数Bは検査ゲートにより異
なるため、感度設定部24jは入力する検査ゲー
ト信号により適切な定数Bを比較部24iに出力
する。
を第7図に示す。3点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ24e,24fのシフト幅により定ま
る。シフトレジスタ24e,24fのシフト幅は
シフト幅設定部24gにより定められる。この具
体例では2つのシフトレジスタ24e,24fの
シフト幅は同じシフト幅に設定される。演算回路
24hは現在入力しているデイジタル映像信号と
シフトレジスタ24fから出力されるデイジタル
映像信号との算術平均を演算する。これにより現
在走査している映像の平均の明るさが計算され
る。比較回路24iは演算回路24hにより演算
された平均の明るさと、シフトレジスタ24eか
らのデイジタル映像信号とを比較し、その差の絶
対値が感度設定部24jに設定された感度(即
ち、定数B)より大きいか否かを判断して欠陥検
出信号を出力する。定数Bは検査ゲートにより異
なるため、感度設定部24jは入力する検査ゲー
ト信号により適切な定数Bを比較部24iに出力
する。
第6図、第7図はリニアCCD16aの走査線
(即ち、壜12の垂直方向)に添つた2点間又は
3点間の明るさを比較する回路であつたが、壜1
2の水平方向に添つた2点間又は3点間の明るさ
を比較する場合には、デイジタル映像信号を必要
な走査線数分だけメモリ(図示せず)に記憶し、
メモリからデイジタル映像信号を走査線に垂直方
向に順次読出してシフトレジスタ24a又は24
eに入力するようにすればよい。なお、この場合
シフトレジスタ24a又は24eに入力されるデ
イジタル映像信号は壜12のスピン速度に依存す
ることになるため、シフト幅を設定するシフト幅
設定回路24b又は24gに速度信号を入力して
いる。例えば、壜12のスピン速度に応じて4段
階のシフト幅設定を行なうことにより、スピン速
度が異なつてもほぼ一定距離離れた2点又は3点
の比較を行なうことができる。
(即ち、壜12の垂直方向)に添つた2点間又は
3点間の明るさを比較する回路であつたが、壜1
2の水平方向に添つた2点間又は3点間の明るさ
を比較する場合には、デイジタル映像信号を必要
な走査線数分だけメモリ(図示せず)に記憶し、
メモリからデイジタル映像信号を走査線に垂直方
向に順次読出してシフトレジスタ24a又は24
eに入力するようにすればよい。なお、この場合
シフトレジスタ24a又は24eに入力されるデ
イジタル映像信号は壜12のスピン速度に依存す
ることになるため、シフト幅を設定するシフト幅
設定回路24b又は24gに速度信号を入力して
いる。例えば、壜12のスピン速度に応じて4段
階のシフト幅設定を行なうことにより、スピン速
度が異なつてもほぼ一定距離離れた2点又は3点
の比較を行なうことができる。
欠陥検出回路24から出力される欠陥検出信号
はマスク処理回路26によりマスク処理される。
欠陥検出回路24で欠陥の検出ミスを防止するた
め感度を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点で
あると誤つて検出してしまうことがある。マスク
処理はかかる欠陥検出信号を除くために行なう処
理である。実際の欠陥箇所ではその大きさに応じ
た欠陥検出信号が連続して現れるのに対し、その
他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が離散的に
現れる。そこでこのマスク処理では弧立した欠陥
検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検
出信号は、実際には欠陥ではないとして削除す
る。
はマスク処理回路26によりマスク処理される。
欠陥検出回路24で欠陥の検出ミスを防止するた
め感度を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点で
あると誤つて検出してしまうことがある。マスク
処理はかかる欠陥検出信号を除くために行なう処
理である。実際の欠陥箇所ではその大きさに応じ
た欠陥検出信号が連続して現れるのに対し、その
他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が離散的に
現れる。そこでこのマスク処理では弧立した欠陥
検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検
出信号は、実際には欠陥ではないとして削除す
る。
判定回路28は、マスク処理回路26によりマ
スク処理された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有
無を判定する。例えば、欠陥検出信号の数をスキ
ヤン毎に計数し、その計数値が所定の設定値を越
えるとエラースキヤン(欠陥走査線)とする。更
に、そのエラースキヤンが連続する数を計数し、
その計数値が所定の設定値を越えた場合に欠陥壜
であると判定する。この判定信号は壜12の搬送
系(図示せず)に送出され、搬送系はその判定結
果に応じて、例えば欠陥壜を排除するようにす
る。
スク処理された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有
無を判定する。例えば、欠陥検出信号の数をスキ
ヤン毎に計数し、その計数値が所定の設定値を越
えるとエラースキヤン(欠陥走査線)とする。更
に、そのエラースキヤンが連続する数を計数し、
その計数値が所定の設定値を越えた場合に欠陥壜
であると判定する。この判定信号は壜12の搬送
系(図示せず)に送出され、搬送系はその判定結
果に応じて、例えば欠陥壜を排除するようにす
る。
基準信号発生回路30は壜位置検出器32から
の壜位置信号に基づいて、レンズ振角信号、検査
期間信号、RAM書込信号を生成して出力する。
レンズ振角信号は、壜12の中心線の像を常に一
次元光電変換装置16で得るように振動レンズ1
4を振動させるための信号で、振動レンズ駆動回
路34に出力される。振動レンズ駆動回路34は
このレンズ振角信号に基づいて振動レンズ14を
振動させる。検査期間信号は、振動レンズ14が
壜12の動きに追随して動いている間である検査
期間を指示するための信号で、判定回路28に出
力される。RAM書込信号は、モニタ表示用
RAM回路22にデイジタル映像信号を書込むべ
きタイミングを指示するための信号である。これ
によりモニタ36は、検査期間信号で示される検
査期間中に等ピツチで例えば480スキヤンのデイ
ジタル映像信号を表示する。
の壜位置信号に基づいて、レンズ振角信号、検査
期間信号、RAM書込信号を生成して出力する。
レンズ振角信号は、壜12の中心線の像を常に一
次元光電変換装置16で得るように振動レンズ1
4を振動させるための信号で、振動レンズ駆動回
路34に出力される。振動レンズ駆動回路34は
このレンズ振角信号に基づいて振動レンズ14を
振動させる。検査期間信号は、振動レンズ14が
壜12の動きに追随して動いている間である検査
期間を指示するための信号で、判定回路28に出
力される。RAM書込信号は、モニタ表示用
RAM回路22にデイジタル映像信号を書込むべ
きタイミングを指示するための信号である。これ
によりモニタ36は、検査期間信号で示される検
査期間中に等ピツチで例えば480スキヤンのデイ
ジタル映像信号を表示する。
壜12の位置とレンズ振角信号、検査期間信
号、RAM書込信号の関係を第8図、第9図に示
す。第9図に示すように連続して流れる壜12の
ピツチをL、壜12が1回転するときに移動する
距離をl(=L×0.8)、振動レンズ14が壜12
の動きに追随する距離をM(=L×0.9)とする。
号、RAM書込信号の関係を第8図、第9図に示
す。第9図に示すように連続して流れる壜12の
ピツチをL、壜12が1回転するときに移動する
距離をl(=L×0.8)、振動レンズ14が壜12
の動きに追随する距離をM(=L×0.9)とする。
レンズ振角信号は、壜12がA点からA′点ま
での間は振動レンズ14が壜12の動きに追随す
るように変化する。壜12が振動レンズ14の位
置を中心とする円弧上を移動する場合、レンズ振
角信号は第9図aに示すように所定の傾きの直線
となる。壜12がA′点になると振動レンズ14
が直ちにA点に戻るように変化する。この時点で
は次の壜12はまだB′点にあるので、この壜1
2がA点に達するまで変化しない。壜12がA点
に達すると再び振動レンズ14が壜12の動きに
追随するようにレンズ振角信号は変化する。
での間は振動レンズ14が壜12の動きに追随す
るように変化する。壜12が振動レンズ14の位
置を中心とする円弧上を移動する場合、レンズ振
角信号は第9図aに示すように所定の傾きの直線
となる。壜12がA′点になると振動レンズ14
が直ちにA点に戻るように変化する。この時点で
は次の壜12はまだB′点にあるので、この壜1
2がA点に達するまで変化しない。壜12がA点
に達すると再び振動レンズ14が壜12の動きに
追随するようにレンズ振角信号は変化する。
検査期間信号は振動レンズ14が壜12の動き
に追随している距離Mのうち壜12が1回転する
距離lを含むような期間として設定される。即
ち、例えば検査期間信号は、第9図bに示すよう
にL×0.85(>l)の期間中ハイレベルとなる。
に追随している距離Mのうち壜12が1回転する
距離lを含むような期間として設定される。即
ち、例えば検査期間信号は、第9図bに示すよう
にL×0.85(>l)の期間中ハイレベルとなる。
RAM書込信号は壜12の一周を走査する走査
線の本数分のパルス信号である。例えば、壜12
の1周を480本の走査線分だけモニタ表示用
RAM回路22に書込むとすると、第9図cに示
すように検査期間信号がハイレベルの間に480パ
ルスのRAM書込信号を出力する。
線の本数分のパルス信号である。例えば、壜12
の1周を480本の走査線分だけモニタ表示用
RAM回路22に書込むとすると、第9図cに示
すように検査期間信号がハイレベルの間に480パ
ルスのRAM書込信号を出力する。
なお、基準信号発生回路30ではレンズ振角信
号、検査期間信号、RAM書込信号を生成するの
にROMを用いる。即ち、壜位置信号をアドレス
として各アドレスに予めレンズ振角信号、検査期
間信号、RAM書込信号を書込んでおくことによ
り、壜位置信号をアドレスとして入力すると適切
なレンズ振角信号、検査期間信号、RAM書込信
号を得ることができる。
号、検査期間信号、RAM書込信号を生成するの
にROMを用いる。即ち、壜位置信号をアドレス
として各アドレスに予めレンズ振角信号、検査期
間信号、RAM書込信号を書込んでおくことによ
り、壜位置信号をアドレスとして入力すると適切
なレンズ振角信号、検査期間信号、RAM書込信
号を得ることができる。
基準信号発生回路30からのレンズ振角信号に
基づいて振動レンズ駆動回路21は振動レンズ1
4を駆動する。この振動レンズ駆動回路21は振
動レンズ14側から振角位置信号をフイードバツ
ク信号としてフイードバツク制御する。なお、振
動レンズ14側から振角位置信号が出力されない
場合にはオープンループで制御する。
基づいて振動レンズ駆動回路21は振動レンズ1
4を駆動する。この振動レンズ駆動回路21は振
動レンズ14側から振角位置信号をフイードバツ
ク信号としてフイードバツク制御する。なお、振
動レンズ14側から振角位置信号が出力されない
場合にはオープンループで制御する。
基準信号発生回路30からの検査期間信号は例
えば判定回路28に出力される。判定回路28は
検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する欠
陥検出信号だけを有効として、壜12が欠陥であ
るか否かを判断する。なお、この検査期間信号
を、検査領域検査ゲート設定回路20、欠陥検出
回路24又はマスク処理回路26に出力し、検査
期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号だ
けを有効とするようにしてもよい。
えば判定回路28に出力される。判定回路28は
検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する欠
陥検出信号だけを有効として、壜12が欠陥であ
るか否かを判断する。なお、この検査期間信号
を、検査領域検査ゲート設定回路20、欠陥検出
回路24又はマスク処理回路26に出力し、検査
期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号だ
けを有効とするようにしてもよい。
基準信号発生回路30からのRAM書込信号は
モニタ表示用RAM回路22に出力される。この
RAM書込信号に基づいてA/D変換回路18か
らのデイジタル映像信号がモニタ表示用RAM回
路22に書込まれる。モニタ表示用RAM回路2
2にはRAM書込信号の他にマスク処理回路26
から欠陥検出信号と判定回路28からのエラース
キヤン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路20からの検査ゲート信号が入力され
ている。欠陥検出信号及びエラースキヤン信号に
基づいて欠陥点やエラースキヤンをモニタ表示用
RAM回路22に書込む。また検査ゲート信号に
基づいてモニタ36上に検査ゲートを表示する。
モニタ表示用RAM回路22に出力される。この
RAM書込信号に基づいてA/D変換回路18か
らのデイジタル映像信号がモニタ表示用RAM回
路22に書込まれる。モニタ表示用RAM回路2
2にはRAM書込信号の他にマスク処理回路26
から欠陥検出信号と判定回路28からのエラース
キヤン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路20からの検査ゲート信号が入力され
ている。欠陥検出信号及びエラースキヤン信号に
基づいて欠陥点やエラースキヤンをモニタ表示用
RAM回路22に書込む。また検査ゲート信号に
基づいてモニタ36上に検査ゲートを表示する。
モニタ表示用RAM回路22は2つのフレーム
メモリを有し、これら2つのフレームメモリを交
互に用いて、検査中の壜12のデイジタル映像信
号と前回検査した壜12のデイジタル映像信号と
を記憶する。通常は検査中の壜12のデイジタル
映像信号を順次にモニタ36に表示するが、判定
回路28からの欠陥壜であることの判定信号が入
力されると、その欠陥壜のデイジタル映像信号を
記憶したフレームメモリの内容をモニタ36に表
示し、欠陥の状態を詳細に検査することができ
る。
メモリを有し、これら2つのフレームメモリを交
互に用いて、検査中の壜12のデイジタル映像信
号と前回検査した壜12のデイジタル映像信号と
を記憶する。通常は検査中の壜12のデイジタル
映像信号を順次にモニタ36に表示するが、判定
回路28からの欠陥壜であることの判定信号が入
力されると、その欠陥壜のデイジタル映像信号を
記憶したフレームメモリの内容をモニタ36に表
示し、欠陥の状態を詳細に検査することができ
る。
このように本実施例によれば連続して移動しな
がら回転する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状
態を詳細に調べることができる。
がら回転する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状
態を詳細に調べることができる。
本発明は上記実施例に限らず以下に示すように
種々の変形が可能である。
種々の変形が可能である。
上記実施例では第2図に示すように振動レンズ
14を一次元光電変換装置16の光学系16bと
壜12の間の位置に設けたが、第10図に示すよ
うに一次元光電変換装置16の光学系の一部とし
て振動レンズ16cを設け、この振動レンズ16
cを壜12の動きに追随して動かしてもよい。ま
た、振動レンズの代わりに第11図に振動ミラー
38を設け、壜12の動きに追随してこの振動ミ
ラー38を振動させるようにしてもよい。
14を一次元光電変換装置16の光学系16bと
壜12の間の位置に設けたが、第10図に示すよ
うに一次元光電変換装置16の光学系の一部とし
て振動レンズ16cを設け、この振動レンズ16
cを壜12の動きに追随して動かしてもよい。ま
た、振動レンズの代わりに第11図に振動ミラー
38を設け、壜12の動きに追随してこの振動ミ
ラー38を振動させるようにしてもよい。
また振動レンズを用いた場合は、振動レンズと
一次元光電変換装置からなる光学検出系が一直線
に並べられているので、光学検出系を横方向に近
接して並べることができる。従つて、連続して流
れる壜12の動きが速く一つの光学系では検出で
きない場合でも、第12図に示すように振動レン
ズ141,142,143,144と一次元光電
変換装置161,162,163,164からな
る光学検出系を例えば4台並べることにより、高
速で移動する壜12を検出することができる。
一次元光電変換装置からなる光学検出系が一直線
に並べられているので、光学検出系を横方向に近
接して並べることができる。従つて、連続して流
れる壜12の動きが速く一つの光学系では検出で
きない場合でも、第12図に示すように振動レン
ズ141,142,143,144と一次元光電
変換装置161,162,163,164からな
る光学検出系を例えば4台並べることにより、高
速で移動する壜12を検出することができる。
また上記実施例では回転しながら連続して移動
する壜12を検査したが、固定位置で回転する壜
12に対しては第13図に示すように振動レンズ
や振動ミラーを設けずに固定した一次元光電変換
装置16により壜12の全周の透過映像を得るよ
うにする。
する壜12を検査したが、固定位置で回転する壜
12に対しては第13図に示すように振動レンズ
や振動ミラーを設けずに固定した一次元光電変換
装置16により壜12の全周の透過映像を得るよ
うにする。
さらに上記実施例では壜12の透過映像を検出
するのに一次元光電変換装置を用いたが、エリア
CCDのような二次元光電変換装置を用いてもよ
い。
するのに一次元光電変換装置を用いたが、エリア
CCDのような二次元光電変換装置を用いてもよ
い。
また欠陥検出方式も上記実施例に示したものに
限らず種々の変形が可能である。例えば、比較演
算する2点の明るさをQA,QBとして、次式の
いずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
限らず種々の変形が可能である。例えば、比較演
算する2点の明るさをQA,QBとして、次式の
いずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
QA/QB≧(定数C)
QA/QB≦1/(定数C)
また比較する3点の明るさを、QA,QB,QC
として、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありと
してもよい。
として、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありと
してもよい。
QB/{(QA+QC)/2}≧(定数D)
QB/{(QA+QC)/2}≦1/(定数D)
なお定数C、定数Dは1以上の数である。
以上の通り本発明によれば検査領域の設定や感
度調整等を適切に行なつて回転する壜の胴部の欠
陥を精度よく検出することができる。
度調整等を適切に行なつて回転する壜の胴部の欠
陥を精度よく検出することができる。
第1図は本発明の一実施例による壜の胴部検査
装置のブロツク図、第2図は同壜の胴部検査装置
の光学検出系を示す図、第3図は同壜の胴部検査
装置における検査領域と検査ゲートを示す図、第
4図、第5図は同壜の胴部検査装置における欠陥
検出方式の説明図、第6図、第7図はこれら欠陥
検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例を示す
ブロツク図、第8図、第9図は同壜の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間
信号、RAM書込信号の関係を説明するための
図、第10図、第11図、第12図、第13図は
壜の胴部検査装置の光学検出系の他の具体例を示
す図である。 10……拡散光源、12……壜、14……振動
レンズ、16……一次元光電変換装置、18……
A/D変換回路、20……検査領域検査ゲート設
定回路、22……モニタ表示用RAM回路、24
……欠陥検出回路、26……マスク処理回路、2
8……判定回路、30……基準信号発生回路、3
2……壜位置検出器、36……モニタ、38……
振動ミラー。
装置のブロツク図、第2図は同壜の胴部検査装置
の光学検出系を示す図、第3図は同壜の胴部検査
装置における検査領域と検査ゲートを示す図、第
4図、第5図は同壜の胴部検査装置における欠陥
検出方式の説明図、第6図、第7図はこれら欠陥
検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例を示す
ブロツク図、第8図、第9図は同壜の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間
信号、RAM書込信号の関係を説明するための
図、第10図、第11図、第12図、第13図は
壜の胴部検査装置の光学検出系の他の具体例を示
す図である。 10……拡散光源、12……壜、14……振動
レンズ、16……一次元光電変換装置、18……
A/D変換回路、20……検査領域検査ゲート設
定回路、22……モニタ表示用RAM回路、24
……欠陥検出回路、26……マスク処理回路、2
8……判定回路、30……基準信号発生回路、3
2……壜位置検出器、36……モニタ、38……
振動ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 回転する壜の胴部を照明する照明手段と、 前記照明手段により照明された前記壜の胴部の
透過映像を光電変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段により光電変換された透過映
像画面を予め定められた検出走査線上の少なくと
も2点の明るさに基づいて欠陥点を検出する欠陥
検出手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥点に基
づいて前記検出走査線が欠陥走査線か否か判定
し、欠陥走査線の連続状態に基づいて前記壜の胴
部の欠陥の有無を判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の壜の胴部検査装
置において、前記壜の胴部の透過映像から前記欠
陥検出手段により検出する所定領域を定める検出
領域設定手段を有することを特徴とする壜の胴部
検査装置。 3 特許請求の範囲第1項または第2項記載の壜
の胴部検査装置において、前記壜は回転しながら
連続的に移動し、連続して移動する前記壜の透過
映像が順次前記光電変換手段上に結像するように
前記壜から前記光電変換手段に至る光路を変更す
る光路変更手段を備えたことを特徴とする壜の胴
部検査装置。 4 特許請求の範囲第3項記載の壜の胴部検査装
置において、前記光路変更手段は、前記壜から前
記光電変換手段に至る光路途中に位置するレンズ
を前記壜の移動に追随させて振動させる振動手段
を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。 5 特許請求の範囲第3項記載の壜の胴部検査装
置において、前記光路変更手段は、前記壜から前
記光電変換手段に至る光路途中に位置するミラー
を前記壜の移動に追随させて振動させる振動手段
を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。 6 特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか
に記載の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検
出手段は、欠陥走査線上の近接した2点の明るさ
を比較することにより欠陥点を検出することを特
徴とする壜の胴部検査装置。 7 特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか
に記載の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検
出手段は、欠陥走査線上の近接した3点のうち両
端の2点の明るさの平均値を真中の点の明るさと
比較することにより欠陥点を検出することを特徴
とする壜の胴部検査装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
US07/112,246 US4866263A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-21 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
CA000550048A CA1273694A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
AU80087/87A AU596454B2 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
EP87115664A EP0293510B1 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Apparatus for inspecting side-wall of bottle |
DE8787115664T DE3783907T2 (de) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Vorrichtung zur pruefung der seitenwand einer flasche. |
KR1019870011944A KR960016171B1 (ko) | 1987-06-04 | 1987-10-28 | 병의 측벽 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63304146A JPS63304146A (ja) | 1988-12-12 |
JPH0549181B2 true JPH0549181B2 (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=15272397
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62140597A Granted JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4866263A (ja) |
EP (1) | EP0293510B1 (ja) |
JP (1) | JPS63304146A (ja) |
KR (1) | KR960016171B1 (ja) |
AU (1) | AU596454B2 (ja) |
CA (1) | CA1273694A (ja) |
DE (1) | DE3783907T2 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6396095A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜のねじ口部検査装置 |
JPH01299443A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Kirin Brewery Co Ltd | 光軸変更式壜検査装置 |
JPH0641924B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1994-06-01 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜胴部の欠陥検出装置 |
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US5233186A (en) * | 1992-06-19 | 1993-08-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers with opposing reflection means |
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GB9720864D0 (en) * | 1997-10-01 | 1997-12-03 | Univ Nottingham Trent | Line-scan imaging in 3-d |
US6473169B1 (en) | 2000-05-03 | 2002-10-29 | Air Logic Power Systems, Inc. | Integrated leak and vision inspection system |
KR20010084934A (ko) * | 2001-05-16 | 2001-09-07 | 전주한 | Tilt-up 벽판의 단열 시공 기술 |
US7060999B2 (en) | 2004-07-09 | 2006-06-13 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Apparatus and method for inspecting ribbed containers |
EP1630550A1 (en) | 2004-08-27 | 2006-03-01 | Moller & Devicon A/S | Methods and apparatuses of detecting foreign particles or faults in a plurality of filled containers |
KR101090105B1 (ko) * | 2011-08-26 | 2011-12-07 | 피엔에스테크놀러지(주) | 원통형 물체 표면 검사 장치 |
US10422755B2 (en) * | 2016-12-07 | 2019-09-24 | Applied Vision Corporation | Identifying defects in transparent containers |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1987
- 1987-06-04 JP JP62140597A patent/JPS63304146A/ja active Granted
- 1987-10-21 US US07/112,246 patent/US4866263A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-23 CA CA000550048A patent/CA1273694A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-23 AU AU80087/87A patent/AU596454B2/en not_active Ceased
- 1987-10-26 DE DE8787115664T patent/DE3783907T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-26 EP EP87115664A patent/EP0293510B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-28 KR KR1019870011944A patent/KR960016171B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR890000877A (ko) | 1989-03-17 |
EP0293510A2 (en) | 1988-12-07 |
JPS63304146A (ja) | 1988-12-12 |
CA1273694A (en) | 1990-09-04 |
AU596454B2 (en) | 1990-05-03 |
EP0293510B1 (en) | 1993-01-27 |
DE3783907T2 (de) | 1993-05-19 |
KR960016171B1 (ko) | 1996-12-04 |
EP0293510A3 (en) | 1989-10-11 |
AU8008787A (en) | 1988-12-08 |
DE3783907D1 (de) | 1993-03-11 |
US4866263A (en) | 1989-09-12 |
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