JPH0549181B2 - - Google Patents
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- JPH0549181B2 JPH0549181B2 JP62140597A JP14059787A JPH0549181B2 JP H0549181 B2 JPH0549181 B2 JP H0549181B2 JP 62140597 A JP62140597 A JP 62140597A JP 14059787 A JP14059787 A JP 14059787A JP H0549181 B2 JPH0549181 B2 JP H0549181B2
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- Japan
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- bottle
- inspection device
- signal
- bottle body
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 23
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9045—Inspection of ornamented or stippled container walls
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は回転する壜の胴部の欠陥を検出する壜
の胴部検査装置に関する。
の胴部検査装置に関する。
酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜
は、製壜装置により作られた新しい壜でも回収し
て再使用する回収壜でも、欠陥が存在するか否か
を検査する必要がある。壜の検査は壜の各部、壜
胴、壜底、口部、ねじ口部を検査することにな
る。このうち壜の胴部の欠陥には異物よごれなど
食品衛生上の問題となるものと、クラツク泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるた
め、これら欠陥壜を正確に検出して排除する必要
がある。
は、製壜装置により作られた新しい壜でも回収し
て再使用する回収壜でも、欠陥が存在するか否か
を検査する必要がある。壜の検査は壜の各部、壜
胴、壜底、口部、ねじ口部を検査することにな
る。このうち壜の胴部の欠陥には異物よごれなど
食品衛生上の問題となるものと、クラツク泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるた
め、これら欠陥壜を正確に検出して排除する必要
がある。
しかしながら、通常壜の胴部には色むらや肉厚
のむらがあり、これらむらのために本来の欠陥が
検出できなかつたり、これらむらを欠陥と誤つて
検出してしまうという問題点があつた。またこれ
らむらのために検査領域の設定や感度の設定等を
適切に行うことが困難であるという問題点があつ
た。
のむらがあり、これらむらのために本来の欠陥が
検出できなかつたり、これらむらを欠陥と誤つて
検出してしまうという問題点があつた。またこれ
らむらのために検査領域の設定や感度の設定等を
適切に行うことが困難であるという問題点があつ
た。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、
回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度
調整等を簡単に行うことができる壜の胴部検査装
置を提供することを目的とする。
回転する壜の胴部の欠陥を精度よく検出し、感度
調整等を簡単に行うことができる壜の胴部検査装
置を提供することを目的とする。
上記目的は、回転する壜の胴部を照明する照明
手段と、照明手段により照明された壜の胴部の透
過映像を光電変換する光電変換手段と、光電変換
手段により光電変換された透過映像画面を予め定
められた検出走査線上の少なくとも２点の明るさ
に基づいて欠陥点を検出する欠陥検出手段と、欠
陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて検
出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判
定する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の
胴部検査装置によつて達成される。
手段と、照明手段により照明された壜の胴部の透
過映像を光電変換する光電変換手段と、光電変換
手段により光電変換された透過映像画面を予め定
められた検出走査線上の少なくとも２点の明るさ
に基づいて欠陥点を検出する欠陥検出手段と、欠
陥検出手段により検出された欠陥点に基づいて検
出走査線が欠陥走査線か否か判定し、欠陥走査線
の連続状態に基づいて壜の胴部の欠陥の有無を判
定する判定手段とを備えたことを特徴とする壜の
胴部検査装置によつて達成される。
本発明による壜の胴部検査装置は、回転する壜
の胴部の透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥
点に基づいて判定された欠陥走査線の連続状態か
ら欠陥の有無を検査する。
の胴部の透過映像から欠陥点を検出し、この欠陥
点に基づいて判定された欠陥走査線の連続状態か
ら欠陥の有無を検査する。
本発明の一実施例による壜の胴部検査装置を第
１図に示す。本実施例では操作される壜１２は回
転しながら連続して流れていく。この壜１２は均
一な拡散光を放つ面を有する拡散光源１０により
照明される。この壜１２の胴部の透過映像は振動
レンズ１４を介して一次元光電変換装置１６に入
射される。一次元光電変換装置１６はリニア
CCDのように透過映像を電気的アナログ信号に
変換する受光部とこの受光部に透過映像を結像す
るための光学系とで構成されている。振動レンズ
１４は振動レンズ駆動装置２１により駆動され
る。この振動レンズ１４は、一次元光電変換装置
１６の受光部に透過映像が結像するように壜１２
の動きに同期して動かされる。例えば、第２図に
示すように一次元光電変換装置１６の受光部がリ
ニアCCD１６ａで光学系が凸レンズ１６ｂの場
合には、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レ
ンズ１４を振動させる。即ち、壜１２が位置Ａか
ら位置A′に移動するに従い、凹レンズ１４も位
置Ａから位置A′に回転させられる。このように
すると壜１２の透過映像の中心像が常にリニア
CCD１６ａの一定の位置に結像する。壜１２は
位置Ａから位置A′に移動する間に１回転自転さ
せられるので、リニアCCD１６ａには壜１２の
全周の像が入力することとなる。
１図に示す。本実施例では操作される壜１２は回
転しながら連続して流れていく。この壜１２は均
一な拡散光を放つ面を有する拡散光源１０により
照明される。この壜１２の胴部の透過映像は振動
レンズ１４を介して一次元光電変換装置１６に入
射される。一次元光電変換装置１６はリニア
CCDのように透過映像を電気的アナログ信号に
変換する受光部とこの受光部に透過映像を結像す
るための光学系とで構成されている。振動レンズ
１４は振動レンズ駆動装置２１により駆動され
る。この振動レンズ１４は、一次元光電変換装置
１６の受光部に透過映像が結像するように壜１２
の動きに同期して動かされる。例えば、第２図に
示すように一次元光電変換装置１６の受光部がリ
ニアCCD１６ａで光学系が凸レンズ１６ｂの場
合には、振動レンズに凹レンズを用い、この凹レ
ンズ１４を振動させる。即ち、壜１２が位置Ａか
ら位置A′に移動するに従い、凹レンズ１４も位
置Ａから位置A′に回転させられる。このように
すると壜１２の透過映像の中心像が常にリニア
CCD１６ａの一定の位置に結像する。壜１２は
位置Ａから位置A′に移動する間に１回転自転さ
せられるので、リニアCCD１６ａには壜１２の
全周の像が入力することとなる。
Ａ／Ｄ変換器１８は一次元光電変換装置１６か
らのアナログ映像信号を所定ビツト数のデイジタ
ル映像信号に変換する。このデイジタル映像信号
は検査領域検査ゲート設定回路２０とモニタ表示
用RAM回路２２と欠陥検出回路２４に出力され
る。
らのアナログ映像信号を所定ビツト数のデイジタ
ル映像信号に変換する。このデイジタル映像信号
は検査領域検査ゲート設定回路２０とモニタ表示
用RAM回路２２と欠陥検出回路２４に出力され
る。
検査領域検査ゲート設定回路２０は、第３図に
示すような透過映像から後述する欠陥検出回路２
４で欠陥を検出する垂直方向の検査領域を定める
ための回路である。壜１２の形状に応じて、壜１
２上下端のエツジから検査領域を定め、この検査
領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する。第
３図では壜１２の全体を検査領域とし、この検査
領域を壜１２の形状に応じて５つの検査ゲート
１，２，３，４，５に分けている。検査領域検査
ゲート設定回路２０からは、リニアCCD１６ａ
の現在のスキヤンの位置が検査領域内のどの検査
ゲートであるかを示す検査ゲート信号がモニタ表
示用RAM回路２２、欠陥検出回路２４、マスク
処理回路２６、判定回路２８に出力される。
示すような透過映像から後述する欠陥検出回路２
４で欠陥を検出する垂直方向の検査領域を定める
ための回路である。壜１２の形状に応じて、壜１
２上下端のエツジから検査領域を定め、この検査
領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する。第
３図では壜１２の全体を検査領域とし、この検査
領域を壜１２の形状に応じて５つの検査ゲート
１，２，３，４，５に分けている。検査領域検査
ゲート設定回路２０からは、リニアCCD１６ａ
の現在のスキヤンの位置が検査領域内のどの検査
ゲートであるかを示す検査ゲート信号がモニタ表
示用RAM回路２２、欠陥検出回路２４、マスク
処理回路２６、判定回路２８に出力される。
欠陥検出回路２４は、Ａ／Ｄ変換回路１８から
のデイジタル映像信号に基づいて、垂直方向及び
水平方向にある一定距離離れた複数点の明るさを
比較することにより欠陥の検出を行なう。
のデイジタル映像信号に基づいて、垂直方向及び
水平方向にある一定距離離れた複数点の明るさを
比較することにより欠陥の検出を行なう。
複数点の明るさを比較する欠陥検出方式には、
２点の明るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥
検出方式と３点の明るさを比較して欠陥を検出す
る３点欠陥検出方式とがある。第４図は２点欠陥
検出方式の説明図であり、第５図は３点欠陥検出
方式の説明図である。
２点の明るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥
検出方式と３点の明るさを比較して欠陥を検出す
る３点欠陥検出方式とがある。第４図は２点欠陥
検出方式の説明図であり、第５図は３点欠陥検出
方式の説明図である。
２点欠陥検出方式では、比較演算する２点Ａ，
Ｂの明るさをQA，QBとして、次式が成立すれ
ば欠陥ありとする。
Ｂの明るさをQA，QBとして、次式が成立すれ
ば欠陥ありとする。
｜QA−QB｜≧（定数Ａ）
第４図の場合、リニアCCD１６ａの走査線上
の点Ａ１とＢ１、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれ
QA１，QB１，QA２，QB２として、次式によ
り比較演算することにより欠陥の検出を行う。
の点Ａ１とＢ１、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれ
QA１，QB１，QA２，QB２として、次式によ
り比較演算することにより欠陥の検出を行う。
｜QA1−QB1｜≧Ａ
｜QA2−QB2｜≧Ａ
なお、定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決め
ておく。第４図ａに示すように走査線上の透過映
像の明るさが均一であれば、 QA1−QB1＞Ａ QA2−QB2＝０ が成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。
このように明るさが均一であれば、この２点欠陥
検出方式が有効である。しかし、第４図ｂに示す
ように走査線上の透過映像の明るさが不均一であ
ると、 ｜QA1−QB1｜＜Ａ ｜QA2−QB2｜＜Ａ となり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがあ
る。
ておく。第４図ａに示すように走査線上の透過映
像の明るさが均一であれば、 QA1−QB1＞Ａ QA2−QB2＝０ が成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。
このように明るさが均一であれば、この２点欠陥
検出方式が有効である。しかし、第４図ｂに示す
ように走査線上の透過映像の明るさが不均一であ
ると、 ｜QA1−QB1｜＜Ａ ｜QA2−QB2｜＜Ａ となり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがあ
る。
３点欠陥検出方式はこのような場合でも確実に
検出できる。３点欠陥検出方式では、比較演算す
る３点Ａ，Ｂ，Ｃの明るさをQA，QB，QCとし
て、次式により比較演算して欠陥を検出する。
検出できる。３点欠陥検出方式では、比較演算す
る３点Ａ，Ｂ，Ｃの明るさをQA，QB，QCとし
て、次式により比較演算して欠陥を検出する。
｜QB−｛（QA＋QC）／２｝｜≧（定数Ｂ）
なお、定数Ｂは壜の種類等に基づいて予め決め
ておく。第５図の場合、リニアCCD１６ａの走
査線上の点Ａ１とＢ１とＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２
の明るさをそれぞれQA１，QB１，QC１，QA
２，QB２，QC２として、次式により比較演算す
ることにより欠陥の検出を行なう。
ておく。第５図の場合、リニアCCD１６ａの走
査線上の点Ａ１とＢ１とＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２
の明るさをそれぞれQA１，QB１，QC１，QA
２，QB２，QC２として、次式により比較演算す
ることにより欠陥の検出を行なう。
｜QB1−｛（QA1＋QC1）／２｝１≧Ｂ
｜QB2−｛（QA2＋QC2）／２｝｜≧Ｂ
中間の点Ｂ１，Ｂ２の明るさと比較する明るさ
が両側の点Ａ１とＣ１、Ａ２とＣ２の明るさの算
術平均であるので、明るさが均一である第５図ａ
の場合も、明るさが不均一である第５図ｂの場合
も正確に欠陥点Ｂ１が検出できる。
が両側の点Ａ１とＣ１、Ａ２とＣ２の明るさの算
術平均であるので、明るさが均一である第５図ａ
の場合も、明るさが不均一である第５図ｂの場合
も正確に欠陥点Ｂ１が検出できる。
２点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例
を第６図に示す。２点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ２４ａのシフト幅により定まる。このシ
フト幅はシフト幅設定部２４ｂにより定められ
る。比較部２４ｃは現在入力されているデイジタ
ル映像信号とシフト幅だけ前のエイジタル映像信
号であるシフレジスタ２４ａの出力信号とを比較
し、その差の絶対値が感度設定部２４ｄに設定さ
れた感度（即ち、定数Ａ）より大きいか否かを判
断して欠陥検出信号を出力する。定数Ａは検査ゲ
ートにより異なるため、感度設定部２４ｄは入力
する検査ゲート信号により適切な定数Ａを比較部
２４ｃに出力する。
を第６図に示す。２点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ２４ａのシフト幅により定まる。このシ
フト幅はシフト幅設定部２４ｂにより定められ
る。比較部２４ｃは現在入力されているデイジタ
ル映像信号とシフト幅だけ前のエイジタル映像信
号であるシフレジスタ２４ａの出力信号とを比較
し、その差の絶対値が感度設定部２４ｄに設定さ
れた感度（即ち、定数Ａ）より大きいか否かを判
断して欠陥検出信号を出力する。定数Ａは検査ゲ
ートにより異なるため、感度設定部２４ｄは入力
する検査ゲート信号により適切な定数Ａを比較部
２４ｃに出力する。
３点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例
を第７図に示す。３点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ２４ｅ，２４ｆのシフト幅により定ま
る。シフトレジスタ２４ｅ，２４ｆのシフト幅は
シフト幅設定部２４ｇにより定められる。この具
体例では２つのシフトレジスタ２４ｅ，２４ｆの
シフト幅は同じシフト幅に設定される。演算回路
２４ｈは現在入力しているデイジタル映像信号と
シフトレジスタ２４ｆから出力されるデイジタル
映像信号との算術平均を演算する。これにより現
在走査している映像の平均の明るさが計算され
る。比較回路２４ｉは演算回路２４ｈにより演算
された平均の明るさと、シフトレジスタ２４ｅか
らのデイジタル映像信号とを比較し、その差の絶
対値が感度設定部２４ｊに設定された感度（即
ち、定数Ｂ）より大きいか否かを判断して欠陥検
出信号を出力する。定数Ｂは検査ゲートにより異
なるため、感度設定部２４ｊは入力する検査ゲー
ト信号により適切な定数Ｂを比較部２４ｉに出力
する。
を第７図に示す。３点間の距離をどの位にするか
は、デイジタル映像信号が順次入力されるシフト
レジスタ２４ｅ，２４ｆのシフト幅により定ま
る。シフトレジスタ２４ｅ，２４ｆのシフト幅は
シフト幅設定部２４ｇにより定められる。この具
体例では２つのシフトレジスタ２４ｅ，２４ｆの
シフト幅は同じシフト幅に設定される。演算回路
２４ｈは現在入力しているデイジタル映像信号と
シフトレジスタ２４ｆから出力されるデイジタル
映像信号との算術平均を演算する。これにより現
在走査している映像の平均の明るさが計算され
る。比較回路２４ｉは演算回路２４ｈにより演算
された平均の明るさと、シフトレジスタ２４ｅか
らのデイジタル映像信号とを比較し、その差の絶
対値が感度設定部２４ｊに設定された感度（即
ち、定数Ｂ）より大きいか否かを判断して欠陥検
出信号を出力する。定数Ｂは検査ゲートにより異
なるため、感度設定部２４ｊは入力する検査ゲー
ト信号により適切な定数Ｂを比較部２４ｉに出力
する。
第６図、第７図はリニアCCD１６ａの走査線
（即ち、壜１２の垂直方向）に添つた２点間又は
３点間の明るさを比較する回路であつたが、壜１
２の水平方向に添つた２点間又は３点間の明るさ
を比較する場合には、デイジタル映像信号を必要
な走査線数分だけメモリ（図示せず）に記憶し、
メモリからデイジタル映像信号を走査線に垂直方
向に順次読出してシフトレジスタ２４ａ又は２４
ｅに入力するようにすればよい。なお、この場合
シフトレジスタ２４ａ又は２４ｅに入力されるデ
イジタル映像信号は壜１２のスピン速度に依存す
ることになるため、シフト幅を設定するシフト幅
設定回路２４ｂ又は２４ｇに速度信号を入力して
いる。例えば、壜１２のスピン速度に応じて４段
階のシフト幅設定を行なうことにより、スピン速
度が異なつてもほぼ一定距離離れた２点又は３点
の比較を行なうことができる。
（即ち、壜１２の垂直方向）に添つた２点間又は
３点間の明るさを比較する回路であつたが、壜１
２の水平方向に添つた２点間又は３点間の明るさ
を比較する場合には、デイジタル映像信号を必要
な走査線数分だけメモリ（図示せず）に記憶し、
メモリからデイジタル映像信号を走査線に垂直方
向に順次読出してシフトレジスタ２４ａ又は２４
ｅに入力するようにすればよい。なお、この場合
シフトレジスタ２４ａ又は２４ｅに入力されるデ
イジタル映像信号は壜１２のスピン速度に依存す
ることになるため、シフト幅を設定するシフト幅
設定回路２４ｂ又は２４ｇに速度信号を入力して
いる。例えば、壜１２のスピン速度に応じて４段
階のシフト幅設定を行なうことにより、スピン速
度が異なつてもほぼ一定距離離れた２点又は３点
の比較を行なうことができる。
欠陥検出回路２４から出力される欠陥検出信号
はマスク処理回路２６によりマスク処理される。
欠陥検出回路２４で欠陥の検出ミスを防止するた
め感度を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点で
あると誤つて検出してしまうことがある。マスク
処理はかかる欠陥検出信号を除くために行なう処
理である。実際の欠陥箇所ではその大きさに応じ
た欠陥検出信号が連続して現れるのに対し、その
他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が離散的に
現れる。そこでこのマスク処理では弧立した欠陥
検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検
出信号は、実際には欠陥ではないとして削除す
る。
はマスク処理回路２６によりマスク処理される。
欠陥検出回路２４で欠陥の検出ミスを防止するた
め感度を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点で
あると誤つて検出してしまうことがある。マスク
処理はかかる欠陥検出信号を除くために行なう処
理である。実際の欠陥箇所ではその大きさに応じ
た欠陥検出信号が連続して現れるのに対し、その
他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が離散的に
現れる。そこでこのマスク処理では弧立した欠陥
検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検
出信号は、実際には欠陥ではないとして削除す
る。
判定回路２８は、マスク処理回路２６によりマ
スク処理された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有
無を判定する。例えば、欠陥検出信号の数をスキ
ヤン毎に計数し、その計数値が所定の設定値を越
えるとエラースキヤン（欠陥走査線）とする。更
に、そのエラースキヤンが連続する数を計数し、
その計数値が所定の設定値を越えた場合に欠陥壜
であると判定する。この判定信号は壜１２の搬送
系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結
果に応じて、例えば欠陥壜を排除するようにす
る。
スク処理された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有
無を判定する。例えば、欠陥検出信号の数をスキ
ヤン毎に計数し、その計数値が所定の設定値を越
えるとエラースキヤン（欠陥走査線）とする。更
に、そのエラースキヤンが連続する数を計数し、
その計数値が所定の設定値を越えた場合に欠陥壜
であると判定する。この判定信号は壜１２の搬送
系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結
果に応じて、例えば欠陥壜を排除するようにす
る。
基準信号発生回路３０は壜位置検出器３２から
の壜位置信号に基づいて、レンズ振角信号、検査
期間信号、RAM書込信号を生成して出力する。
レンズ振角信号は、壜１２の中心線の像を常に一
次元光電変換装置１６で得るように振動レンズ１
４を振動させるための信号で、振動レンズ駆動回
路３４に出力される。振動レンズ駆動回路３４は
このレンズ振角信号に基づいて振動レンズ１４を
振動させる。検査期間信号は、振動レンズ１４が
壜１２の動きに追随して動いている間である検査
期間を指示するための信号で、判定回路２８に出
力される。RAM書込信号は、モニタ表示用
RAM回路２２にデイジタル映像信号を書込むべ
きタイミングを指示するための信号である。これ
によりモニタ３６は、検査期間信号で示される検
査期間中に等ピツチで例えば480スキヤンのデイ
ジタル映像信号を表示する。
の壜位置信号に基づいて、レンズ振角信号、検査
期間信号、RAM書込信号を生成して出力する。
レンズ振角信号は、壜１２の中心線の像を常に一
次元光電変換装置１６で得るように振動レンズ１
４を振動させるための信号で、振動レンズ駆動回
路３４に出力される。振動レンズ駆動回路３４は
このレンズ振角信号に基づいて振動レンズ１４を
振動させる。検査期間信号は、振動レンズ１４が
壜１２の動きに追随して動いている間である検査
期間を指示するための信号で、判定回路２８に出
力される。RAM書込信号は、モニタ表示用
RAM回路２２にデイジタル映像信号を書込むべ
きタイミングを指示するための信号である。これ
によりモニタ３６は、検査期間信号で示される検
査期間中に等ピツチで例えば480スキヤンのデイ
ジタル映像信号を表示する。
壜１２の位置とレンズ振角信号、検査期間信
号、RAM書込信号の関係を第８図、第９図に示
す。第９図に示すように連続して流れる壜１２の
ピツチをＬ、壜１２が１回転するときに移動する
距離をｌ（＝Ｌ×0.8）、振動レンズ１４が壜１２
の動きに追随する距離をＭ（＝Ｌ×0.9）とする。
号、RAM書込信号の関係を第８図、第９図に示
す。第９図に示すように連続して流れる壜１２の
ピツチをＬ、壜１２が１回転するときに移動する
距離をｌ（＝Ｌ×0.8）、振動レンズ１４が壜１２
の動きに追随する距離をＭ（＝Ｌ×0.9）とする。
レンズ振角信号は、壜１２がＡ点からA′点ま
での間は振動レンズ１４が壜１２の動きに追随す
るように変化する。壜１２が振動レンズ１４の位
置を中心とする円弧上を移動する場合、レンズ振
角信号は第９図ａに示すように所定の傾きの直線
となる。壜１２がA′点になると振動レンズ１４
が直ちにＡ点に戻るように変化する。この時点で
は次の壜１２はまだB′点にあるので、この壜１
２がＡ点に達するまで変化しない。壜１２がＡ点
に達すると再び振動レンズ１４が壜１２の動きに
追随するようにレンズ振角信号は変化する。
での間は振動レンズ１４が壜１２の動きに追随す
るように変化する。壜１２が振動レンズ１４の位
置を中心とする円弧上を移動する場合、レンズ振
角信号は第９図ａに示すように所定の傾きの直線
となる。壜１２がA′点になると振動レンズ１４
が直ちにＡ点に戻るように変化する。この時点で
は次の壜１２はまだB′点にあるので、この壜１
２がＡ点に達するまで変化しない。壜１２がＡ点
に達すると再び振動レンズ１４が壜１２の動きに
追随するようにレンズ振角信号は変化する。
検査期間信号は振動レンズ１４が壜１２の動き
に追随している距離Ｍのうち壜１２が１回転する
距離ｌを含むような期間として設定される。即
ち、例えば検査期間信号は、第９図ｂに示すよう
にＬ×0.85（＞ｌ）の期間中ハイレベルとなる。
に追随している距離Ｍのうち壜１２が１回転する
距離ｌを含むような期間として設定される。即
ち、例えば検査期間信号は、第９図ｂに示すよう
にＬ×0.85（＞ｌ）の期間中ハイレベルとなる。
RAM書込信号は壜１２の一周を走査する走査
線の本数分のパルス信号である。例えば、壜１２
の１周を480本の走査線分だけモニタ表示用
RAM回路２２に書込むとすると、第９図ｃに示
すように検査期間信号がハイレベルの間に480パ
ルスのRAM書込信号を出力する。
線の本数分のパルス信号である。例えば、壜１２
の１周を480本の走査線分だけモニタ表示用
RAM回路２２に書込むとすると、第９図ｃに示
すように検査期間信号がハイレベルの間に480パ
ルスのRAM書込信号を出力する。
なお、基準信号発生回路３０ではレンズ振角信
号、検査期間信号、RAM書込信号を生成するの
にROMを用いる。即ち、壜位置信号をアドレス
として各アドレスに予めレンズ振角信号、検査期
間信号、RAM書込信号を書込んでおくことによ
り、壜位置信号をアドレスとして入力すると適切
なレンズ振角信号、検査期間信号、RAM書込信
号を得ることができる。
号、検査期間信号、RAM書込信号を生成するの
にROMを用いる。即ち、壜位置信号をアドレス
として各アドレスに予めレンズ振角信号、検査期
間信号、RAM書込信号を書込んでおくことによ
り、壜位置信号をアドレスとして入力すると適切
なレンズ振角信号、検査期間信号、RAM書込信
号を得ることができる。
基準信号発生回路３０からのレンズ振角信号に
基づいて振動レンズ駆動回路２１は振動レンズ１
４を駆動する。この振動レンズ駆動回路２１は振
動レンズ１４側から振角位置信号をフイードバツ
ク信号としてフイードバツク制御する。なお、振
動レンズ１４側から振角位置信号が出力されない
場合にはオープンループで制御する。
基づいて振動レンズ駆動回路２１は振動レンズ１
４を駆動する。この振動レンズ駆動回路２１は振
動レンズ１４側から振角位置信号をフイードバツ
ク信号としてフイードバツク制御する。なお、振
動レンズ１４側から振角位置信号が出力されない
場合にはオープンループで制御する。
基準信号発生回路３０からの検査期間信号は例
えば判定回路２８に出力される。判定回路２８は
検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する欠
陥検出信号だけを有効として、壜１２が欠陥であ
るか否かを判断する。なお、この検査期間信号
を、検査領域検査ゲート設定回路２０、欠陥検出
回路２４又はマスク処理回路２６に出力し、検査
期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号だ
けを有効とするようにしてもよい。
えば判定回路２８に出力される。判定回路２８は
検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する欠
陥検出信号だけを有効として、壜１２が欠陥であ
るか否かを判断する。なお、この検査期間信号
を、検査領域検査ゲート設定回路２０、欠陥検出
回路２４又はマスク処理回路２６に出力し、検査
期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号だ
けを有効とするようにしてもよい。
基準信号発生回路３０からのRAM書込信号は
モニタ表示用RAM回路２２に出力される。この
RAM書込信号に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８か
らのデイジタル映像信号がモニタ表示用RAM回
路２２に書込まれる。モニタ表示用RAM回路２
２にはRAM書込信号の他にマスク処理回路２６
から欠陥検出信号と判定回路２８からのエラース
キヤン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路２０からの検査ゲート信号が入力され
ている。欠陥検出信号及びエラースキヤン信号に
基づいて欠陥点やエラースキヤンをモニタ表示用
RAM回路２２に書込む。また検査ゲート信号に
基づいてモニタ３６上に検査ゲートを表示する。
モニタ表示用RAM回路２２に出力される。この
RAM書込信号に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８か
らのデイジタル映像信号がモニタ表示用RAM回
路２２に書込まれる。モニタ表示用RAM回路２
２にはRAM書込信号の他にマスク処理回路２６
から欠陥検出信号と判定回路２８からのエラース
キヤン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回路２０からの検査ゲート信号が入力され
ている。欠陥検出信号及びエラースキヤン信号に
基づいて欠陥点やエラースキヤンをモニタ表示用
RAM回路２２に書込む。また検査ゲート信号に
基づいてモニタ３６上に検査ゲートを表示する。
モニタ表示用RAM回路２２は２つのフレーム
メモリを有し、これら２つのフレームメモリを交
互に用いて、検査中の壜１２のデイジタル映像信
号と前回検査した壜１２のデイジタル映像信号と
を記憶する。通常は検査中の壜１２のデイジタル
映像信号を順次にモニタ３６に表示するが、判定
回路２８からの欠陥壜であることの判定信号が入
力されると、その欠陥壜のデイジタル映像信号を
記憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表
示し、欠陥の状態を詳細に検査することができ
る。
メモリを有し、これら２つのフレームメモリを交
互に用いて、検査中の壜１２のデイジタル映像信
号と前回検査した壜１２のデイジタル映像信号と
を記憶する。通常は検査中の壜１２のデイジタル
映像信号を順次にモニタ３６に表示するが、判定
回路２８からの欠陥壜であることの判定信号が入
力されると、その欠陥壜のデイジタル映像信号を
記憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表
示し、欠陥の状態を詳細に検査することができ
る。
このように本実施例によれば連続して移動しな
がら回転する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状
態を詳細に調べることができる。
がら回転する壜胴部の欠陥を検出してその欠陥状
態を詳細に調べることができる。
本発明は上記実施例に限らず以下に示すように
種々の変形が可能である。
種々の変形が可能である。
上記実施例では第２図に示すように振動レンズ
１４を一次元光電変換装置１６の光学系１６ｂと
壜１２の間の位置に設けたが、第１０図に示すよ
うに一次元光電変換装置１６の光学系の一部とし
て振動レンズ１６ｃを設け、この振動レンズ１６
ｃを壜１２の動きに追随して動かしてもよい。ま
た、振動レンズの代わりに第１１図に振動ミラー
３８を設け、壜１２の動きに追随してこの振動ミ
ラー３８を振動させるようにしてもよい。
１４を一次元光電変換装置１６の光学系１６ｂと
壜１２の間の位置に設けたが、第１０図に示すよ
うに一次元光電変換装置１６の光学系の一部とし
て振動レンズ１６ｃを設け、この振動レンズ１６
ｃを壜１２の動きに追随して動かしてもよい。ま
た、振動レンズの代わりに第１１図に振動ミラー
３８を設け、壜１２の動きに追随してこの振動ミ
ラー３８を振動させるようにしてもよい。
また振動レンズを用いた場合は、振動レンズと
一次元光電変換装置からなる光学検出系が一直線
に並べられているので、光学検出系を横方向に近
接して並べることができる。従つて、連続して流
れる壜１２の動きが速く一つの光学系では検出で
きない場合でも、第１２図に示すように振動レン
ズ１４１，１４２，１４３，１４４と一次元光電
変換装置１６１，１６２，１６３，１６４からな
る光学検出系を例えば４台並べることにより、高
速で移動する壜１２を検出することができる。
一次元光電変換装置からなる光学検出系が一直線
に並べられているので、光学検出系を横方向に近
接して並べることができる。従つて、連続して流
れる壜１２の動きが速く一つの光学系では検出で
きない場合でも、第１２図に示すように振動レン
ズ１４１，１４２，１４３，１４４と一次元光電
変換装置１６１，１６２，１６３，１６４からな
る光学検出系を例えば４台並べることにより、高
速で移動する壜１２を検出することができる。
また上記実施例では回転しながら連続して移動
する壜１２を検査したが、固定位置で回転する壜
１２に対しては第１３図に示すように振動レンズ
や振動ミラーを設けずに固定した一次元光電変換
装置１６により壜１２の全周の透過映像を得るよ
うにする。
する壜１２を検査したが、固定位置で回転する壜
１２に対しては第１３図に示すように振動レンズ
や振動ミラーを設けずに固定した一次元光電変換
装置１６により壜１２の全周の透過映像を得るよ
うにする。
さらに上記実施例では壜１２の透過映像を検出
するのに一次元光電変換装置を用いたが、エリア
CCDのような二次元光電変換装置を用いてもよ
い。
するのに一次元光電変換装置を用いたが、エリア
CCDのような二次元光電変換装置を用いてもよ
い。
また欠陥検出方式も上記実施例に示したものに
限らず種々の変形が可能である。例えば、比較演
算する２点の明るさをQA，QBとして、次式の
いずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
限らず種々の変形が可能である。例えば、比較演
算する２点の明るさをQA，QBとして、次式の
いずれかが成立すれば欠陥ありとしてもよい。
QA／QB≧（定数Ｃ）
QA／QB≦１／（定数Ｃ）
また比較する３点の明るさを、QA，QB，QC
として、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありと
してもよい。
として、次式のいずれかが成立すれば欠陥ありと
してもよい。
QB／｛（QA＋QC）／２｝≧（定数Ｄ）
QB／｛（QA＋QC）／２｝≦１／（定数Ｄ）
なお定数Ｃ、定数Ｄは１以上の数である。
以上の通り本発明によれば検査領域の設定や感
度調整等を適切に行なつて回転する壜の胴部の欠
陥を精度よく検出することができる。
度調整等を適切に行なつて回転する壜の胴部の欠
陥を精度よく検出することができる。
第１図は本発明の一実施例による壜の胴部検査
装置のブロツク図、第２図は同壜の胴部検査装置
の光学検出系を示す図、第３図は同壜の胴部検査
装置における検査領域と検査ゲートを示す図、第
４図、第５図は同壜の胴部検査装置における欠陥
検出方式の説明図、第６図、第７図はこれら欠陥
検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例を示す
ブロツク図、第８図、第９図は同壜の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間
信号、RAM書込信号の関係を説明するための
図、第１０図、第１１図、第１２図、第１３図は
壜の胴部検査装置の光学検出系の他の具体例を示
す図である。 １０……拡散光源、１２……壜、１４……振動
レンズ、１６……一次元光電変換装置、１８……
Ａ／Ｄ変換回路、２０……検査領域検査ゲート設
定回路、２２……モニタ表示用RAM回路、２４
……欠陥検出回路、２６……マスク処理回路、２
８……判定回路、３０……基準信号発生回路、３
２……壜位置検出器、３６……モニタ、３８……
振動ミラー。
装置のブロツク図、第２図は同壜の胴部検査装置
の光学検出系を示す図、第３図は同壜の胴部検査
装置における検査領域と検査ゲートを示す図、第
４図、第５図は同壜の胴部検査装置における欠陥
検出方式の説明図、第６図、第７図はこれら欠陥
検出方式を実現する欠陥検出回路の具体例を示す
ブロツク図、第８図、第９図は同壜の胴部検査装
置における壜の位置とレンズ振角信号、検査期間
信号、RAM書込信号の関係を説明するための
図、第１０図、第１１図、第１２図、第１３図は
壜の胴部検査装置の光学検出系の他の具体例を示
す図である。 １０……拡散光源、１２……壜、１４……振動
レンズ、１６……一次元光電変換装置、１８……
Ａ／Ｄ変換回路、２０……検査領域検査ゲート設
定回路、２２……モニタ表示用RAM回路、２４
……欠陥検出回路、２６……マスク処理回路、２
８……判定回路、３０……基準信号発生回路、３
２……壜位置検出器、３６……モニタ、３８……
振動ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 回転する壜の胴部を照明する照明手段と、 前記照明手段により照明された前記壜の胴部の
透過映像を光電変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段により光電変換された透過映
像画面を予め定められた検出走査線上の少なくと
も２点の明るさに基づいて欠陥点を検出する欠陥
検出手段と、 前記欠陥検出手段により検出された欠陥点に基
づいて前記検出走査線が欠陥走査線か否か判定
し、欠陥走査線の連続状態に基づいて前記壜の胴
部の欠陥の有無を判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の壜の胴部検査装
置において、前記壜の胴部の透過映像から前記欠
陥検出手段により検出する所定領域を定める検出
領域設定手段を有することを特徴とする壜の胴部
検査装置。 ３ 特許請求の範囲第１項または第２項記載の壜
の胴部検査装置において、前記壜は回転しながら
連続的に移動し、連続して移動する前記壜の透過
映像が順次前記光電変換手段上に結像するように
前記壜から前記光電変換手段に至る光路を変更す
る光路変更手段を備えたことを特徴とする壜の胴
部検査装置。 ４ 特許請求の範囲第３項記載の壜の胴部検査装
置において、前記光路変更手段は、前記壜から前
記光電変換手段に至る光路途中に位置するレンズ
を前記壜の移動に追随させて振動させる振動手段
を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。 ５ 特許請求の範囲第３項記載の壜の胴部検査装
置において、前記光路変更手段は、前記壜から前
記光電変換手段に至る光路途中に位置するミラー
を前記壜の移動に追随させて振動させる振動手段
を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。 ６ 特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれか
に記載の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検
出手段は、欠陥走査線上の近接した２点の明るさ
を比較することにより欠陥点を検出することを特
徴とする壜の胴部検査装置。 ７ 特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれか
に記載の壜の胴部検査装置において、前記欠陥検
出手段は、欠陥走査線上の近接した３点のうち両
端の２点の明るさの平均値を真中の点の明るさと
比較することにより欠陥点を検出することを特徴
とする壜の胴部検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
| US07/112,246 US4866263A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-21 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| CA000550048A CA1273694A (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| AU80087/87A AU596454B2 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-23 | Apparatus for inspecting sidewall of bottle |
| EP87115664A EP0293510B1 (en) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Apparatus for inspecting side-wall of bottle |
| DE8787115664T DE3783907T2 (de) | 1987-06-04 | 1987-10-26 | Vorrichtung zur pruefung der seitenwand einer flasche. |
| KR1019870011944A KR960016171B1 (ko) | 1987-06-04 | 1987-10-28 | 병의 측벽 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62140597A JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63304146A JPS63304146A (ja) | 1988-12-12 |
| JPH0549181B2 true JPH0549181B2 (ja) | 1993-07-23 |
Family
ID=15272397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62140597A Granted JPS63304146A (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | 壜の胴部検査装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4866263A (ja) |
| EP (1) | EP0293510B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63304146A (ja) |
| KR (1) | KR960016171B1 (ja) |
| AU (1) | AU596454B2 (ja) |
| CA (1) | CA1273694A (ja) |
| DE (1) | DE3783907T2 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6396095A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜のねじ口部検査装置 |
| JPH01299443A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Kirin Brewery Co Ltd | 光軸変更式壜検査装置 |
| JPH0641924B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1994-06-01 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜胴部の欠陥検出装置 |
| DE68923653T2 (de) * | 1988-05-30 | 1996-01-18 | Kirin Techno Syst Yokohama | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Seitenwände von Flaschen. |
| DE3831401A1 (de) * | 1988-09-15 | 1990-03-29 | Kolb Gmbh & Co Hans | Verfahren und vorrichtung zur automatisierten beruehrungsfreien oberflaechenkontrolle von zylindrischen teilen |
| DE4022733C1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-05-08 | Elpatronic Ag, Zug, Ch | Three=dimensional cavity inspection appts. - uses matrix or line camera to receive reflected light via gp. of four mirrors and deflecting mirror |
| DK17791D0 (da) * | 1991-02-01 | 1991-02-01 | Novo Nordisk As | Beholderinspektion |
| US5243400A (en) * | 1992-04-27 | 1993-09-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers |
| US5233186A (en) * | 1992-06-19 | 1993-08-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Inspection of transparent containers with opposing reflection means |
| US5405015A (en) * | 1993-08-11 | 1995-04-11 | Videojet Systems International, Inc. | System and method for seeking and presenting an area for reading with a vision system |
| DE4417015A1 (de) * | 1994-05-14 | 1995-11-16 | Maschimpex Gmbh | Sortierautomat zur Sortierung bzw. Klassifikation von Kleinprodukten der pharmazeutischen und der Süßwarenindustrie nach Form und Farbe |
| FR2742865B1 (fr) * | 1995-12-22 | 1998-01-16 | Saint Gobain Cinematique | Procede de controle d'un recipient en verre |
| GB9720864D0 (en) * | 1997-10-01 | 1997-12-03 | Univ Nottingham Trent | Line-scan imaging in 3-d |
| US6473169B1 (en) | 2000-05-03 | 2002-10-29 | Air Logic Power Systems, Inc. | Integrated leak and vision inspection system |
| KR20010084934A (ko) * | 2001-05-16 | 2001-09-07 | 전주한 | Tilt-up 벽판의 단열 시공 기술 |
| US7060999B2 (en) | 2004-07-09 | 2006-06-13 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Apparatus and method for inspecting ribbed containers |
| EP1630550A1 (en) | 2004-08-27 | 2006-03-01 | Moller & Devicon A/S | Methods and apparatuses of detecting foreign particles or faults in a plurality of filled containers |
| KR101090105B1 (ko) * | 2011-08-26 | 2011-12-07 | 피엔에스테크놀러지(주) | 원통형 물체 표면 검사 장치 |
| US10422755B2 (en) * | 2016-12-07 | 2019-09-24 | Applied Vision Corporation | Identifying defects in transparent containers |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US3877821A (en) * | 1973-07-23 | 1975-04-15 | Inex Inc | Apparatus for detecting flaws using an array of photo sensitive devices |
| US4029416A (en) * | 1973-11-15 | 1977-06-14 | Hawes Roland C | Sample-background-signal autocancellation in fluid-sample analyzers |
| US4378494A (en) * | 1980-11-07 | 1983-03-29 | Owens-Illinois, Inc. | Apparatus and method for detecting defects in glass bottles using event proximity |
| US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
| DE3111194C2 (de) * | 1981-03-21 | 1984-01-05 | Fa. Hermann Heye, 3063 Obernkirchen | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung von Fehlern von Glasgegenständen |
| JPS5899738A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-06-14 | Yamamura Glass Kk | 透明体の欠陥検出装置 |
| JPS60220850A (ja) * | 1984-04-17 | 1985-11-05 | Suntory Ltd | 容器検査装置 |
| GB2157824B (en) * | 1984-04-19 | 1988-09-14 | Owens Illinois Inc | Inspecting and sorting of glass containers |
| JPS61107144A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Kirin Brewery Co Ltd | 容器の検査方法 |
| US4655349A (en) * | 1984-12-27 | 1987-04-07 | Brockway, Inc. | System for automatically inspecting transparent containers for sidewall and dimensional defects |
| JPS6396095A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | 株式会社キリンテクノシステム | 壜のねじ口部検査装置 |
-
1987
- 1987-06-04 JP JP62140597A patent/JPS63304146A/ja active Granted
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