JPH06238481A - フラックス - Google Patents

フラックス

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JPH06238481A
JPH06238481A JP2642493A JP2642493A JPH06238481A JP H06238481 A JPH06238481 A JP H06238481A JP 2642493 A JP2642493 A JP 2642493A JP 2642493 A JP2642493 A JP 2642493A JP H06238481 A JPH06238481 A JP H06238481A
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halogen
solder
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伸一 黒木
Tadahiko Sakai
忠彦 境
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子部品をクリーム半田でプリント基板に半
田付けした後、プリント基板の表面に残存するハロゲン
化合物をフロンで洗浄除去するのを不要にできるフラッ
クスを提供すること。 【構成】 半田粒子2の溶融温度よりも高い溶融温度を
有する熱可塑性合成樹脂5で表面を被覆したハロゲン捕
捉剤6をフラックス3に含有させた。 【効果】 半田付けのためにプリント基板8を半田粒子
2の溶融温度以上に加熱すると、熱可塑性合成樹脂5は
溶融してハロゲン捕捉剤6が溶出し、ハロゲンを捕捉す
るので、半田付け後のフロンによるプリント基板8の洗
浄を不要にできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品の電極をプリン
ト基板の回路パターンの電極に半田付けするためのフラ
ックスに関するものである。
【0002】
【従来の技術】コンデンサチップ、抵抗チップ、リード
付チップなどの電子部品の電極をプリント基板の回路パ
ターンの電極に半田付けするための半田としてクリーム
半田が多様されている。図4に示すようにクリーム半田
1は、直径が数10μm程度の半田粒子2とフラックス
3を混合して生成されているが、半田粒子2やプリント
基板の回路パターンなどの表面は空気中の酸素に触れて
酸化膜が生じやすく、この酸化膜は半田付けに悪影響を
及ぼすことから、従来のフラックス3には、通常、酸化
膜を還元して除去するためにロジンや有機酸塩酸、有機
酸臭酸などのハロゲン化合物が混合されている。
【0003】このハロゲン化合物は、電子部品をプリン
ト基板に半田付けした後もプリント基板の表面に残存
し、プリント基板の回路パターンのオープンやショート
を生じやすいことから、従来は電子部品をプリント基板
に半田付けした後、プリント基板をフロンで洗浄してハ
ロゲン化合物を除去することが行われていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらフロンは
環境上の問題を生じることから、その使用を中止するこ
とが望まれている。
【0005】そこで本発明は、フロンによるプリント基
板の洗浄を不要にできるフラックスを提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】このために本発明のフラ
ックスは、半田の溶融温度よりも高い溶融温度を有する
熱可塑性合成樹脂で表面を被覆したハロゲン捕捉剤を含
有させたものである。
【0007】
【作用】上記構成によれば、電子部品を半田付けするた
めにプリント基板を加熱すると、半田粒子は溶融し、溶
融した半田はフラックスにより活性化され、電子部品の
電極にヌレ性よく付着するとともに、半田粒子や回路パ
ターンの表面の酸化膜はロジンやハロゲン化合物により
還元されて除去される。更にプリント基板を高温に加熱
すると、熱可塑性合成樹脂は溶融してその内部からハロ
ゲン捕捉剤が溶出する。
【0008】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
【0009】図1は本発明の一実施例におけるフラック
スを含むクリーム半田の拡大図である。このクリーム半
田4は、半田粒子2と熱可塑性合成樹脂5で表面を被覆
したハロゲン捕捉剤6を含むフラックス3を混合して生
成されている。フラックス3はロジンと有機酸塩酸や有
機酸臭酸などのハロゲン化合物を含有している。ハロゲ
ン捕捉剤6はイオン化した塩素や臭素などのハロゲン原
子を捕捉するものであり、例えば東亜合成化学工業株式
会社製、商品名IXE−500,IXE−703,IX
E−800が知られている。また熱可塑性合成樹脂5の
溶融温度は183℃〜230℃程度であり、例えばポリ
フェニレンサルファイド、ポリフェニレンオキサイド、
ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスル
ホン、ポリエーテルエーテルケトン等が知られている。
半田粒子2の溶融温度は一般に約183℃であり、熱可
塑性合成樹脂5の溶融温度はこれよりも高く、半田粒子
2が溶融した後で溶融する。
【0010】図2は本発明における一実施例のフラック
スを用いて電子部品を半田付けしたプリント基盤の断面
図を示している。電子部品7の電極であるリード9は、
プリント基板8の上面に形成された回路パターン10の
電極に半田付けされている。図3はこの半田付けを行う
ためにプリント基板8を加熱する加熱炉の代表的な温度
プロファイルを示している。縦軸は温度(℃)、横軸は
時間(秒)である。プリント基板8は常温(ポイント
a)から150℃(ポイントb)程度まで比較的急速に
加熱される。次に150℃(ポイントb)から170℃
(ポイントc)までゆっくり加熱され、プリント基板8
全体の温度を均一化する。
【0011】次に170℃(ポイントc)から230℃
(ポイントf)まで急激に加熱されるが、その間、18
3℃(ポイントd)で半田粒子2は溶融し、フラックス
3中のロジンやハロゲン化合物は半田粒子2やプリント
基板8の回路パターン10の表面の酸化膜を還元して除
去するとともに、溶融した半田はフラックス3で活性化
されてリード9にヌレ性よく付着する。続いてポイント
eで熱可塑性合成樹脂5が溶融してハロゲン捕捉剤6は
溶出し、溶融した半田中にイオン化して浮遊する塩素イ
オンや臭素イオンなどを捕捉する。次にプリント基板8
は加熱炉から搬出されて常温になるまで冷却され、溶融
したクリーム半田4は固化して図2に示すように電子部
品7のリード9は半田付けされる。
【0012】次に、本発明の実施例と従来の比較例を
(表1)に示す。
【0013】
【表1】
【0014】(表1)において、カプセル型ハロゲン捕
捉剤は、上記したIXE−703を熱可塑性合成樹脂で
あるポリエーテルスルホン(溶融温度200℃)でカプ
セル化したものである。また広がり率、絶縁抵抗、腐食
性の試験は、JIS.Z3197に従った。また残渣中
のハロゲン含有量は、メタノールで可溶分を抽出後、J
IS.Z3197に従った。(表1)から明らかなよう
に、本発明は腐食性で比較例よりすぐれており、また半
田付け後のハロゲン含有量は著しく減少する。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明のフラックス
は、半田の溶融温度よりも高い溶融温度を有する熱可塑
性合成樹脂で表面を被覆したハロゲン捕捉剤を含有して
いるので、半田付けのためにプリント基板を半田粒子の
溶融温度以上の高温に加熱すると、熱可塑性合成樹脂は
溶融してその内部からハロゲン捕捉剤が溶出し、イオン
化したハロゲン化合物中の塩素や臭素などのハロゲンを
捕捉するので、従来のフラックスに必要であった半田付
け後のフロンによる洗浄を不要にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のフラックスを含むクリーム
半田の拡大図
【図2】本発明の一実施例におけるフラックスを用いて
電子部品を半田付けしたプリント基板の断面図
【図3】本発明の一実施例における加熱炉の温度プロフ
ァイル図
【図4】従来のフラックスを含むクリーム半田の拡大図
【符号の説明】
2 半田粒子 3 フラックス 4 クリーム半田 5 熱可塑性合成樹脂 6 ハロゲン捕捉剤

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半田の溶融温度よりも高い溶融温度を有す
    る熱可塑性合成樹脂で表面を被覆したハロゲン捕捉剤を
    含有することを特徴とするフラックス。
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