JPH06196746A - 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー - Google Patents

光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー

Info

Publication number
JPH06196746A
JPH06196746A JP35774292A JP35774292A JPH06196746A JP H06196746 A JPH06196746 A JP H06196746A JP 35774292 A JP35774292 A JP 35774292A JP 35774292 A JP35774292 A JP 35774292A JP H06196746 A JPH06196746 A JP H06196746A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
output
circuit
drive circuit
light emitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35774292A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Sato
俊明 佐藤
Shunichi Kaizu
俊一 海津
Toshihiko Ichinose
敏彦 一瀬
Takaharu Ishizuka
敬治 石塚
Shunichi Morita
俊一 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP35774292A priority Critical patent/JPH06196746A/ja
Priority to US08/170,753 priority patent/US5514989A/en
Priority to EP93120831A priority patent/EP0603899B1/en
Priority to DE69329486T priority patent/DE69329486T2/de
Publication of JPH06196746A publication Critical patent/JPH06196746A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/0412Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
    • H03K17/04126Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in bipolar transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/567Circuits characterised by the use of more than one type of semiconductor device, e.g. BIMOS, composite devices such as IGBT
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/60Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H01S5/0428Electrical excitation ; Circuits therefor for applying pulses to the laser

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 暗電流によるノイズ成分を補償し、低照度領
域までリニアリティのある光出力を得る。 【構成】 フォトダイオード1と、フォトダイオード1
と相似形を成す遮光したpn接合ダイオード2と、pn
接合ダイオードの逆方向飽和電流を前記フォトダイオー
ドと前記pn接合ダイオードとの相似比倍する電流増幅
手段3と、この電流増幅手段により増幅された電流を前
記フォトダイオードの発生電流から差引いて出力する出
力手段4と、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光電変換装置に係り、特
にフォトダイオードの光起電力効果を用いた光電変換装
置に関するものである。
【0002】また、本発明は駆動回路及び半導体発光素
子駆動回路に係り、特に半導体発光素子などの負荷を高
速でスイッチング動作させるための駆動回路及び該駆動
回路を用いた半導体発光素子駆動回路に関するものであ
る。
【0003】また、本発明は記憶装置に係り、特に複数
のデータ記憶要素に固定された複数のデータを記憶さ
せ、任意の選択信号を与えることによって、任意のデー
タを出力する記憶装置に関するものである。
【0004】本発明は、アドレスをシーケンシャルアク
セスするメモリーに関するものである。
【0005】
【従来の技術】(従来例1)まず、本発明の光電変換装
置に係る従来の技術について説明する。
【0006】従来、フォトダイオードを用いた光電変換
装置は、通常図20に示す様にフォトダイオード1を直
接オペアンプ5等から構成される電流−電圧変換器の反
転入力端子に接続し、光の照射によって前記フォトダイ
オード1で発生した光起電流IL を電圧交換し、光量に
応じた電圧出力を得る様に構成されている。オプアンプ
5の非反転入力端子には電圧V1 が印加される。
【0007】フォトダイオード1は電圧V1 及びフォト
ダイオード1のカソード側に印加される電圧V2 によっ
てpn接合をゼロバイアス(V1 =V2 )又は逆バイア
ス(V1 <V2 )の状態として使用される。 (従来例2)次に、本発明の駆動回路及び半導体発光素
子駆動回路に係る従来の技術について説明する。
【0008】図23は従来の駆動回路の一例を示す回路
構成図であり、半導体発光素子の駆動回路である。同図
に示すように、カソードが低電位点(GND)に接続さ
れているレーザダイオード50のアノードはNPNトラ
ンジスタ19,20より構成されるカレントミラー回路
の出力に接続され、上記カレントミラー回路の入力低電
位点の間にはレーザダイオードをスイッチングさせる能
動素子40が接続されている。さらに上記カレントミラ
ー回路の入力と高電位点(VCC)の間にはPMOSトラ
ンジスタ38,39より構成されるカレントミラー回路
が接続されている。
【0009】次に上記駆動回路の動作について説明す
る。
【0010】いま、P0 なるレーザ出力でレーザを発光
させるにはI0 なる入力電流が必要であるとし、図23
において、NPNトランジスタ19,20より構成され
るカレントミラー回路の入力電流をI1 、カレントミラ
ー比を1:nとする。スイッチング用能動素子40がO
FFのとき、レーザダイオード50にはnI1 なる電流
が流れ、nI1 がI0 と等しいときレーザダイオード5
0はP0 なる出力で発光する。一方、スイッチング用能
動素子40がONのとき、スイッチング用能動素子40
にはI1 なる電流の吸い込みが生じてレーザダイオード
50に流れる電流は無くなり、レーザの発光は停止され
る。従って図23の回路では、スイッチング用能動素子
40の制御信号によりレーザダイオード50にスイッチ
ング動作を行わせることができる。 (従来例3)次に本発明の記憶装置に係る従来の技術に
ついて説明する。
【0011】従来、ROM(Read Only Me
mory)は図24、図25のように構成されていた。
図24に示すように、ROMにアドレス信号aを入力す
ることにより、任意の出力bを得ることができる。RO
Mの総ビット数は2n ×mで定義される。一般に、RO
Mのデータは、MOSトランジスタで構成する場合に
は、MOSトランジスタが、物理的に配置されているか
どうか、あるいは物理的に結線されているかどうかによ
って生成される。図25はMOSトランジスタmφφを
結線しない場合のROMの構成を示すものである。
【0012】以下、その動作を具体的に説明する。RO
Mのデータとして、表1のようなデータについて考え
る。
【0013】
【表1】 表1のように図25に示されるROMにワードアドレス
aφを入力するとデータ“1φ”が出力され、ワードア
ドレスa1を入力するとデータ“11”が出力される。
なお、図25の構成のROMは、図26のタイミングで
動作されるものとする。
【0014】CK(クロック)信号がLowレベルの期
間において、出力D1,D2がプリチャージ回路(図2
5に図示)によってHighレベルまでプリチャージさ
れるとする。次にROMに対して、図24のようにnビ
ットのアドレス信号aが入力されて、所定のアドレスデ
コーダ回路によってデコードされ、ワードアドレスa
φ,a1,…が決定される(デコード回路の出力をワー
ドアドレスと呼ぶものとする。)。なお、ワードアドレ
スaφが選択されるとそのワードアドレスaφの信号ラ
インはHighレベルになり、他のワードアドレスの信
号ラインは全てLowレベルになるとする。ワードアド
レスa1が選択された場合においても同様である。
【0015】今、ワードアドレスaφが選択され、CK
信号がHighレベルになると、MOSトランジスタm
φ1がONとなリ、プリチャージ回路の出力がハイ・イ
ンピーダンスとなって、出力ラインq1はLowレベル
となる。出力ラインq1の信号はインバータI1により
反転され出力D1はHighレベルとなる。一方出力ラ
インqφはMOSトランジスタmφφに接続されていな
いので、Highレベルのままである。このHighレ
ベルは、出力ラインqφに接続されている寄生容量によ
り一定時間保持される。出力ラインqφの信号はインバ
ータIφにより反転され、出力DφはLowレベルとな
る。即ち、データ“1φ”が出力されることになる。な
お、ワードアドレスa1が選択された場合でも同様にし
てデータ“11”がROMより出力される。上記構成の
ROMにおいて、ワードアドレスaφの出力データを確
定させる手段としては、図25にように出力ラインqφ
にMOSトランジスタmφφを接続しない場合の他に、
MOSトランジスタmφφを形成しない場合などが考え
られる。 (従来例4)次に本発明のシーケンシャルアクセスメモ
リーに係る従来の技術について説明する。
【0016】シーケンシャルアクセスメモリーは、所定
の記憶情報を得る場合、配列された情報を順次アクセス
して所定の情報に達するものであり、アクセス時間は記
憶場所ごとに異なり、一般的にランダムアクセスメモリ
ー等に比してアクセス時間は遅い。
【0017】従来、シーケンシャルアクセスメモリーは
リード・ライトを行なうメモリーセルを特定するための
アドレスデコード機能を持ったメモリーとカウンタとで
構成されていた。ここでカウンタはアドレスをシーケン
シャルに与えるポインタである。
【0018】シーケンシャルアクセスメモリーの高速化
技術としては、入出力データをデマルチプレクス又はマ
ルチプレクスして、いくつかのサイクルのデータに対し
メモリーアレイをバンク又はブロックに分割して交互に
リードする技術が用いられていた。また省面積,高速化
を図るため、カウンターデコーダの代りにシフトレジス
タが使われることもあった。図27はデュアルポートメ
モリー401と二つのカウンタ402,403を使った
FIFO(First In First Out)の
回路図である。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】(課題1)しかしなが
ら、従来例1において説明した従来の光電変換装置で
は、フォトダイオード1は光量が0の時でも暗電流ID
が流れる為に、低照度領域ではノイズ成分が出力に現わ
れる。すなわち図20の従来例に於て出力V0 は、 V0 =V1 −R3L (光量大 IL ≫ID ) (1) V0 =V1 −(R3L +R3D )(光量小 IL ≒ID ) (2) となる。ここで(2)式の右辺第3項(−R3D )が
暗電流ID によるノイズ成分である。このノイズ成分は
低照度領域の光出力のリニアリティを図21の様に失調
させ低照度領域の光の測定に限界を与えてしまい、かつ
前記暗電流ID は温度及び前記フォトダイオード1のp
n接合の逆バイアス量によって図22に示す様に著しく
変化するので、使用状態及び使用環境によっても前記測
定限界が大きく変動してしまうという課題があった。 (課題2)また、従来例2において説明した従来の駆動
回路は、カレントミラー回路の寄生容量が大きいためレ
ーザダイオード50を高速でスイッチング動作させる際
に上記寄生容量によりレーザダイオード50のスイッチ
ング速度が律速されるという課題があった。
【0020】また、従来例の駆動回路の負荷の両端にか
かる電圧VL が、例えば1.5〜2.5Vの場合、駆動
回路を電源電圧5Vで動作させようとすると電圧VL
び図23のNPNトランジスタ19,20のベース−エ
ミッタ間電圧のために、図23のPMOSトランジスタ
38,39より構成されるカレントミラー回路の動作マ
ージンが十分に確保できないという課題もあった。
【0021】本発明の駆動回路及び半導体発光素子駆動
回路は、このような課題を解消するためになされたもの
で、半導体発光素子などの負荷を高速でスイッチング動
作させ、かつ駆動回路自身の動作マージンを十分に確保
できる駆動回路及び半導体発光素子駆動回路を得ること
を目的とする。 (課題3)また、従来例3において説明した従来の記憶
装置では、既に述べたように、アドレス入力aがnビッ
トで出力bがmビットの場合において、総ビット数は2
n×mとなり、ROMのデータを生成させる手段として
図25のような構成をとると、ROMを実現する面積と
して、MOSトランジスタの2n ×m個分の面積が必要
であった。
【0022】従って、総ビット数が増大することによ
り、面積が増大し、コストが上昇したり動作スピードが
低減するなどの課題があった。 (課題4)また、従来例4において説明した従来例で
は、アドレスデコード機能を持つメモリーとカウンター
とを用い、シーケンシャルアクセスメモリーを実現した
場合、アドレスデコードによる性能(サイクルタイム)
の劣化及びデコーダ回路によるチップ面積の増加の問題
があった。これをデマルチプレクサ、マルチプレクサ又
はバンク構成を使って高速化した場合、付加回路による
回路規模の増大、回路の複雑化を招くことになる。
【0023】またシフトレジスタを使い回路を省面積・
高速化した場合に、メモリーのアドレスデコード時間が
不用となっても、外部制御信号(クロック)のデューテ
ィ比によっては十分な特性を得ることができなかった。
これは、メモリーの動作が一般にクロックの各電位に対
し、独立した別々の動作を割り当てており、それぞれに
必要とされる時間が異るためである。さらにメモリーが
大容量化した場合、マスクパターンにおいてメモリーセ
ルアレイを分割するとき、各アレイに対する制御が複雑
になった。
【0024】
【課題を解決するための手段】本発明の光電変換装置
は、前述した課題1を解決するものであって、フォトダ
イオードと、このフォトダイオードと相似形を成す遮光
したpn接合ダイオードと、このpn接合ダイオードの
逆方向飽和電流を前記フォトダイオードと前記pn接合
ダイオードとの相似比倍する電流増幅手段と、この電流
増幅手段により増幅された電流を前記フォトダイオード
の発生電流から差引いて出力する出力手段と、を備えた
ことを特徴とする。
【0025】また、本発明の駆動回路は、前述した課題
2を解決するものであって、カレントミラー回路の出力
トランジスタの一方の主電極を負荷に接続し、該出力ト
ランジスタにより負荷に流す電流の制御を行う駆動回路
において、前記出力トランジスタの制御電極に電流を供
給する電流供給手段を設けたことを特徴とする。
【0026】また、本発明の半導体発光素子駆動回路
は、上記駆動回路を用いたものであって、カレントミラ
ー回路の出力トランジスタの一方の主電極を半導体発光
素子に接続し、該出力トランジスタにより該半導体発光
素子に流す電流の制御を行う半導体発光素子駆動回路に
おいて、前記出力トランジスタの制御電極に電流を供給
する電流供給手段を設けたことを特徴とする。
【0027】また、本発明の記憶装置は、前述した課題
3を解決するものであって、複数のデータ記憶要素に固
定された複数のデータを記憶させ、任意の選択信号を与
えることによって、任意のデータを出力する記憶装置に
おいて、出現頻度の高いデータを確定させるデータ記憶
要素を省略し、該出現頻度の高いデータが選択された時
に、該出現頻度の高いデータに出力を確定させる手段を
設けたことを特徴とする。
【0028】また、本発明のシーケンシャルアクセスメ
モリーは、前述した課題4を解決するものであって、メ
モリセルアレイのロー(行)アドレスとカラム(列)ア
ドレスを選択するシフトレジスタと、外部制御信号より
内部制御信号及び分周信号を生成し該シフトレジスタを
動作させる制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【0029】
【作用】(本発明の光電変換装置の作用)本発明の光電
変換装置は、フォトダイオードと、このフォトダイオー
ドと相似形を成す遮光したpn接合ダイオードと、この
pn接合ダイオードの逆方向飽和電流IS を前記フォト
ダイオードと前記pn接合ダイオードとの相似比倍する
電流増幅手段と、この電流増幅手段により増幅された電
流を前記フォトダイオードの発生電流から差引いて出力
する出力手段と、を設け、前記フォトダイオードの発生
電流(光起電流IL +暗電流ID )から前記電流増幅手
段により増幅された前記pn接合ダイオードの逆方向飽
和電流の相似比倍の電流を差引いて前記出力手段から出
力することにより前記フォトダイオードの暗電流による
低照度領域でのノイズ成分を補償したものである。 (本発明の駆動回路及び半導体発光素子駆動回路の作
用)本発明の駆動回路は、カレントミラー回路の出力が
制御信号によりONになる際、上記カレントミラー回路
の出力トランジスタの制御電極を駆動するための電流供
給手段を設けることにより、負荷を高速にスイッチング
動作させることを可能としたものである。
【0030】本発明の半導体発光素子駆動回路は上記駆
動回路をレーザダイオード等の半導体発光素子の駆動に
用いたものである。
【0031】以下、本発明の駆動回路の作用について図
面を用いて説明する。
【0032】図3は、本発明に係る駆動回路の原理を説
明するための回路図である。同図において、11はカレ
ントミラー回路、12は電流供給手段となる電流源、1
3はNMOSトランジスタ、14はレーザダイオード、
15,17,18はNPNトランジスタ(NPNトラン
ジスタ18はカレントミラー回路の出力トランジスタと
なる)、16は抵抗(R1 )、19,20はPMOSト
ランジスタ、21,22はそれぞれ入力電圧Vin,駆動
電圧VCCが入力される端子である。またCNT1は出力
電流のON−OFFを制御する制御信号の入力端子、C
NT2はカレントミラー回路11の出力トランジスタ1
8の制御電極となるベースを駆動する電流源12のON
−OFFを制御する制御信号の入力端子である。出力ト
ランジスタ18の一方の主電極となるエミッタはレーザ
ダイオード14に接続される。
【0033】いま、図3において、端子21に入力電圧
inを印加したとき、NPNトランジスタ15のコレク
タに流れる電流を内部リファレンス電流Iref とする。
NPNトランジスタ15のベース−エミッタ間の電圧を
BE、抵抗16の抵抗値をR1 とすると、電流Iref
(3)式のように表される。
【0034】 (3)式の関係を図4のグラフに示す。
【0035】ここで、PMOSトランジスタ19,20
のゲート長比を1:nとし、ゲート幅は等しいとする。
またNPNトランジスタ17,18のエミッタ面積比を
1:m、NPNトランジスタ17,18の電流増幅率
(hFE)をともにβとすると、NPNトランジスタ17
のベース電流IB1は(4)式のように表される。
【0036】 PMOSトランジスタ19,20のゲートは互いに接続
されており同電位であり、かつソースは共に高電位点に
接続されているので、PMOSトランジスタ19,20
のゲート−ソース間電圧は互いに等しい。一方、上記の
ようにPMOSトランジスタ19,20のゲート長比は
1:nである。PMOSトランジスタ20のドレイン電
流はNPNトランジスタ18のベース電流と等しく、こ
れをIB2とすると、IB2は(5)式のように表される。
【0037】 またNPNトランジスタ17,18のエミッタ面積比は
1:mであり、いまm=nとする。よってNPNトラン
ジスタ18のコレクタ電流をIC2とすると、駆動回路の
出力電流Iout は上記(5)式を用いて(6)式で表さ
れる。
【0038】 Iout =IB2+IC2=(1+β)nIB1 =nIref (6) (6)式の関係を図5のグラフに示す。
【0039】さて、図6は本発明による駆動回路の動作
を表した過渡特性を示すタイミングチャートである。
【0040】まず、図3の入力端子21に電圧Vinを印
加し、電流源12がOFFの状態のとき(電流源12を
設けない場合に対応する)に、出力電流制御信号を端子
CNT1に印加すると、出力電流Iout1が流れる。図6
のCNT1で示す波形はレーザダイオード14がONす
るタイミングを示し、Iout1で示す波形はレーザダイオ
ード14に流れる電流を示す。出力電流Iout1は図3に
おけるカレントミラー回路を構成するトランジスタの寄
生容量によって定常状態に達するまでに時間がかかる。
【0041】次に、出力電流制御信号を端子CNT1に
印加するのと同期させて、電流源12の制御信号を端子
CNT2に印加すると、出力電流Iout2が流れる。図6
のCNT2で示す波形は電流源12がONするタイミン
グを示し、Iout2で示す波形はレーザダイオード14に
流れる電流を示す。カレントミラー回路の出力トランジ
スタ18のベースが電流源12によってオーバードライ
ブされることにより、出力電流はIout2のようになり、
従来の出力電流Iout1よりも短時間で定常状態に達する
ことが可能となる。
【0042】なお、端子CNT2に電流源12の制御信
号を印加する際、電流源12は出力電流の立ち上がり時
のみに動作すればよいことから、端子CNT2の制御信
号のパルス幅t2 は端子CNT1の制御信号のパルス幅
1 よりも小さくてよく、そのため電流源12による消
費電流の増加を最小限に抑えることができる。 (本発明の記憶装置の作用)本発明の記憶装置は、RO
M等の記憶装置のデータの中で、出現頻度の高いデータ
を生成するデータ記憶要素を省略し、省略されたデータ
記憶要素のアドレスがアクセスされた時のデータを確定
されるための手段を設けることにより、出現頻度の低い
データはデータ記憶要素に基づいて出力を行い、出現頻
度の高いデータは該手段より確定されたデータを出力す
るものであり、出現頻度の高いデータを生成するデータ
記憶要素を省略することで、総ビット数を低減させるも
のである。 (本発明のシーケンシャルアクセスメモリーの作用)本
発明のシーケンシャルアクセスメモリーは、アドレスポ
インタとしてシフトレジスタを用い、外部制御信号を使
って内部制御信号及び分周信号を生成して該シフトレジ
スタを動作させることで、省面積、高速のシーケンシャ
ルアクセスメモリーを構成するものである。
【0043】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。 〔本発明の光電変換装置の実施例〕(実施例1)図1は
本発明の光電変換装置の第1実施例を示す回路構成図で
あり、同図に於て、1はフォトダイオード、2はフォト
ダイオード1と相似形を成す遮光したpn接合ダイオー
ド、3はカレントミラー回路より成る電流増幅手段、4
はオペアンプ5から構成される電流−電圧交換部(出力
手段となる)である。
【0044】フォトダイオード1に光が照射されるとフ
ォトダイオード1は光起電流IL と暗電流ID の和とな
る電流IL +ID を流す。一方、前記遮光されたpn接
合ダイオード2はその形状が前記フォトダイオード1と
相似形(1:n)であるから逆方向飽和電流IS はV3
により逆バイアス量をV2 −V1 と等しくしてやれば、 IS =ID /n (7) と表わされ、これが電流増幅手段3となる、トランジス
タQ1〜Q3及び抵抗R1 ,R2 より構成されるカレン
トミラー回路の入力電流となる。
【0045】ここで、 となる様に抵抗R2 を設定してやれば、カレントミラー
回路の出力電流は、 nIS =ID (9) となり前記フォトダイオード1の暗電流ID と等しくな
る。従って、キルヒホッフの法則より電流−電圧変換部
4の抵抗R3 (オプアンプ5の出力端子と反転入力端子
間に接続される)には光起電流成分IL のみが流れ、出
力電圧VO は、 VO =V1 −R3 ・IL (10) となり暗電流ID によるノイズ成分が補償され、低照度
領域までリニアリティのある光電変換出力を得ることが
出来、また温度変化に対する変動も暗電流ID の変動に
対して前記pn接合ダイオード2の逆方向飽和電流IS
のn倍の電流の差分をとっているので前記電流増幅手段
3の温度による増幅誤差のみが出力に現われるだけで大
幅に軽減することが可能となる。
【0046】なお本実施例では前記電流増幅手段3であ
るところのカレントミラー回路は、バイポーラトランジ
スタで記述したがFETで構成しても同様の効果が得ら
れる。 (実施例2)図2は本発明の光電変換装置の第2実施例
を示す回路構成図であり、第1実施例との違いは電流増
幅手段3がオペアンプ5′によって構成されている点で
ある。このオプアンプ5′の出力端子と反転入力端子
間、及び出力端子と非反転入力端子間には各々抵抗R
4 ,抵抗R5 が接続されている。
【0047】本実施例ではpn接合ダイオード2の逆方
向飽和電流IS は抵抗R4 を流れオペアンプ5′の出力
A はオペアンプ5′の仮想接地点であるところのV1
より(11)式の様になる。
【0048】 VA =V1 −R4 ・IS (11) 従って、 R5 =R4 /n (n:相似比) (12) とすることによって抵抗R5 には、 nIS =ID (13) なる電流が流れ、フォトダイオード1の発生電流IL
D から(13)式を減ずることによって出力電圧V0
は、 V0 =V1 −R3 ・LL (14) となり、暗電流ID によるノイズ成分が補償される。 〔本発明の駆動回路及び半導体発光素子駆動回路の実施
例〕なお以下の説明においては、本発明の駆動回路を半
導体発光素子駆動回路に用いた場合を説明するが、本発
明の駆動回路は特にかかる用途に限定されるものではな
い。
【0049】図7は本発明の駆動回路の一実施例を示す
回路図である。なお、図3と同一構成部材については同
一符号を付する。
【0050】図7に示すように、PMOSトランジスタ
26〜28は電流源12を構成している。なお、電流源
12のON−OFF制御用のPMOSトランジスタ28
はトランスミッションゲートに置き換えることも可能で
ある。
【0051】図7に示すように、電流源12を設け、図
6のように電流源12の端子CNT2に加えられる制御
信号を、端子CNT1に加えられる駆動回路の出力電流
の制御信号に同期させてON−OFFさせることによ
り、出力電流の立ち上がりが短時間で定常状態に達する
ので、半導体発光素子などの負荷を高速でスイッチング
動作させることが可能となる。また、電流源12は出力
電流の立ち上がり時のみ動作すればよいことから、端子
CNT2のパルス幅は端子CNT1のペルス幅よりも小
さくてよく、そのため電流源12による消費電流の増加
を最小限に抑えることができる。
【0052】また、図7においてカレントミラー回路を
NPNトランジスタ17,18及びPMOSトランジス
タ19,20のような構成にすることにより、従来不十
分であったカレントミラー回路の動作マージンも確保で
きる。
【0053】さらに、駆動回路の入力電圧VinとNPN
トランジスタ15のコレクタ電流(内部リファレンス電
流)Iref 及び出力電流Iout は前述した式(3)、式
(6)及び図4、図5のような関係にあるので、図7の
抵抗16の抵抗値R1 あるいはカレントミラー回路のカ
レントミラー比nを変えることにより出力電流Iout
設定できる。
【0054】さて、図7においてNPNトランジスタ2
4のベース電流はNPNトランジスタ15のベース電流
B1と等しく、ゆえにNPNトランジスタ24のベース
−エミッタ間電圧はNPNトランジスタ15のベース−
エミッタ間電圧と等しく、これをVBEとする。いまNP
Nトランジスタ24のコレクタ電流をIt 、抵抗25の
抵抗値をR2 とすると、入力端子21に電圧Vinを印加
したときのコレクタ電流It は(15)式のように表され
る。
【0055】 さらに(15)式は前述した(3)式を用いて(16)式の
ように表される。
【0056】 (16)式の関係を図8のグラフに示す。また、電流源1
2のカレントミラー比を1:Xとすると、電流源12の
出力電流Iodは(17)式のように表せる。
【0057】 よって、図7において電流源12の出力電流Iodは(1
7)式のようにIref と比例関係にあり、抵抗25の抵
抗値R2 あるいは電流源12のカレントミラー比Xを変
えることによって電流源12の出力電流Iodを変えるこ
とが可能である。これにより駆動回路の負荷容量に応じ
て駆動回路の出力電流Iout の立ち上がり時間の最適化
が可能となる。
【0058】図9、図10は本発明の駆動回路の他の実
施例を示す部分回路図である。
【0059】図9は、電流源12のカレントミラー回路
を構成する能動素子として図7のMOSトランジスタの
替わりにPNPトランジスタを用いた場合の回路図であ
る。この実施例においては、電流源12のカレントミラ
ー回路にPNPトランジスタ29,30を用いることに
より、電流源12の駆動能力を上げることができる。こ
れにより駆動回路の負荷の駆動能力を上げることができ
る。
【0060】また図10は、電流源12のカレントミラ
ー回路を構成する能動素子としてPMOSトランジスタ
及びNPNトランジスタを用いた例である。NPNトラ
ンジスタ33,34はエミッタサイズが同一のPNPト
ランジスタよりも電流増幅率(hFE)が大きいため、こ
の実施例においては、図9の実施例と同一駆動能力の電
流源を構成する際に図9の実施例よりもトランジスタサ
イズを縮小できる。
【0061】図11は本発明の駆動回路の更に他の実施
例を示す部分回路図である。
【0062】図11は、図7における抵抗25を可変抵
抗35に置き換えることにより、電流源12の出力電流
を可変にしたものであり、それにより駆動回路の出力電
流の立ち上がり時間の最適化が可能となる。 〔本発明の記憶装置の実施例〕(実施例1)図12は本
発明の第1の実施例を示すROMの回路構成図であり、
本発明の特徴を最もよく表わす図面である。同図におい
て、P1,Pφはそれぞれ、出力ラインq1,qφをプ
リチャージする回路であり、aφ,a8,a14はRO
Mの物理的アドレス空間から任意の一つを選択するもの
であり、mφφ,mφ1,m8φ,m81,m14φ,
m141はそれぞれROMデータを確定させるMOSト
ランジスタである。図中B部はROMデータの中で最も
出現頻度の高いデータを省略した場合、その省略された
データをアクセスするアドレスが入力されたときに出力
を確定させる手段であり、出力ラインq1に接続され出
力D1を出力するバッファIφと、バッファIφの出力
に接続されるインバータI1と、インバータI1の出力
及び出力ラインqφが接続され、出力Dφを出力するA
ND回路I2と、で構成されている。
【0063】以下順を追ってその動作について説明す
る。
【0064】動作タイミング例として、従来例で使用し
た図26のタイミングチャートを使用する。本実施例で
はROMデータが表2のような場合について説明する。
【0065】
【表2】 図24に示したROMにアドレス信号aが与えられる
と、アドレスデコーダーによって、任意の一つの物理的
アドレスaφ〜a15が選択されるとする。ROMのデ
ータは上記表2に示すように、アドレスaφ,a8,a
14を除いて全て“2”である。
【0066】アドレス信号aが入力されアドレスaφが
選択されると、まずCK信号がLowレベルの期間で、
プリチャージ回路Pφ,P1により出力ラインqφ,q
1はHighレベルまでプリチャージされる。CK信号
がHighレベルになると、MOSトランジスタmφ
1,mφφがオン状態であるため、出力ラインq1,q
φはLowレベルになり、出力D1,DφもそれぞれL
owレベルになり、データ“φ”が確定する。
【0067】次に、アドレスa1が選択されると、アド
レスaφ,a8,a14の信号ラインは全てLowレベ
ルなので、トランジスタmφφ〜m141はオフ状態で
あり、CK信号がLowレベルの期間で、出力ラインq
φ,q1がHighレベルまでプリチャージされ、その
後CK信号がHighレベルになっても、出力ラインq
1は依然としてHighレベルであり、出力D1のHi
ghレベルが確定される。さらにB部において、出力D
1はインバータI1 により反転され、それが論理AND
回路I2 により出力DφをLowレベルに固定し、出力
DφのLowレベルが確定される。したがって出力デー
タは“2”となる。同様にして、アドレスaφ,a8,
a14以外がアクセスされた場合の出力は全て“2”と
なる。アドレスa8,a14がアクセスされた場合には
同様にして、出力がそれぞれ“1”と“φ”となる。
【0068】表2のデータを記憶する場合、従来の方法
では、アドレスが16通り(図24のアドレスaである
と、2進入力で最小4ビット)、出力が2ビットなの
で、16×2=32個分のMOSトランジスタを配置す
る面積を必要としていたが、本実施例によれば、アドレ
スaφ,a8,a16に対応するトランジスタ6個で済
むので、MOSトランジスタの占有面積を大幅に縮小す
ることができる。
【0069】なお、上記実施例において、図24のアド
レスaが入力されて、図12のアドレスaφ〜a15の
一つが選択されればどのような入力であっても構わな
い。また、ROMのデータをアクセスする方法や、RO
Mのデータを作成する方法も任意であり、アドレス空間
の大きさや、出力ビット数も自由に設定できる。また省
略されたアドレスがアクセスされた場合に、出力を確定
させるための手段も、結果として目的とする出力が確定
できるのであるならば、どのような論理回路であっても
構わない。 (実施例2)次に本発明の第2の実施例として、アドレ
ス入力が3bit、つまりデコード後の番地が16通り
あり、かつ、出力が3bitであり、次表3のROMデ
ータファイルに示される内容が必要とされる場合のマス
クROMについて説明する。
【0070】
【表3】 なお、図13は本発明の第2の実施例を示すマスクRO
Mの回路構成図であり、図14はその動作を示すタイミ
ングチャートである。図13において、P2,P1,P
φはそれぞれ、出力ラインb2,b1,bφをプリチャ
ージする回路であり、a3,a6,a11はROMの物
理的アドレス空間から任意の一つを選択するものであ
り、mφ〜m6はそれぞれROMデータを確定させるM
OSトランジスタである。図中B′部はROMデータの
中で最も出現頻度の高いデータを省略した場合、その省
略されたデータをアクセスするアドレスが入力されたと
きに出力を確定させる手段であり、出力ラインb2〜b
φが接続されるAND回路L1と、AND回路L1の出
力と出力ラインb2〜bφのいずれかとが接続されるN
OR回路L2〜L4と、で構成されている。
【0071】図13,図14に示すように、CK信号が
Lowレベルのプリチャージ期間において、プリチャー
ジ回路Pφ〜P2に接続される出力ラインb2〜bφは
全てHighレベルとなる。このHighレベルを論理
的に“1”とし、Lowレベルを“φ”とする。プリチ
ャージ期間中はアドレスa3,a6,a11の信号ライ
ンはLowレベルであり、MOSトランジスタmφ〜m
6は全てオフしている。次に、CK信号がHighレベ
ルとなり、読み出し期間に入ると、プリチャージ回路P
φ〜P2の出力はHighインピーダンスとなり、MO
Sトランジスタmφ〜m6がオンしないかぎり、出力ラ
インbφ〜b2の電位はHighレベルに保持される。
【0072】ここで、ROMにアドレスa5が入力され
ると、アドレスa5をデコードする、デコーダーが物理
的に存在しないので、出力ラインbφ〜b2はHigh
レベルのままである。したがって、AND回路L1の出
力は“1”となり、NOR回路L2〜L4の出力は
“φ”となり、出力D2〜Dφは“φ”に確定される。
【0073】次に、ROMにアドレスa6が入力される
と、読み出し期間中にMOSトランジスタm2,m3が
オンとなり、出力ラインb2,b1,bφはそれぞれ,
“φ”,“1”,“φ”となる。AND回路L1の出力
は“φ”なので、出力ラインb2〜bφは、NOR回路
L2〜L4により反転され、出力D2〜Dφは“1”,
“φ”,“1”となり、16進数表記であれば“5”を
確定させる。以下順次、必要なデータを確定させること
ができる。 〔本発明のシーケンシャルアクセスメモリーの実施例〕
(実施例1)図15は本発明のシーケンシャルアクセス
メモリーの第1実施例の構成を示す回路図である。な
お、図15はデュアルポートメモリーによるFIFO
(First In First Out)である。図
15において、101はデュアルポートのメモリセルア
レイ、102〜107はリードポートの回路の各構成
部、108〜113はライトポートの回路の各構成部を
示す。
【0074】リードポートの回路において、102,1
03はリードポートのアドレスポインタであり各々ロー
とカラムに対応し、シフトレジスタで構成される。10
4,105は各々ローとカラムのラインセレクタ、10
6はデータ読出し回路である。107はリードポートの
制御回路であり、アドレスポインタ102〜データ読出
し回路106の各構成部を制御する。
【0075】ライトポートの回路において、108,1
09はライトポートのアドレスポインタであり各々ロー
とカラムに対応し、シフトレジスタで構成される。11
0,111は各々ローとカラムのラインセレクタ、11
2はデータ書込み回路である。113はライトポートの
制御回路であり、アドレスポインタ108〜データ書込
み回路112の各構成部を制御する。
【0076】リードポートの回路の各構成部102〜1
07はリードクロックに、ライトポートの回路の各構成
部108〜113はライトクロックに同期して動く。
【0077】図16はローとコラムのシフトレジスタの
接続を示す回路図である。同図において、201はロー
側シフトレジスタ102,108に、202はカラム側
シフトレジスタ103,109に対応するものである。
【0078】次に上記シーケンシャルアクセスメモリー
の動作について説明する。図17は図15のシーケンシ
ャルアクセスメモリーの動作を説明するタイミングチャ
ートである。
【0079】書込み動作は、WCK(外部ライトクロッ
ク信号)に同期してリセット信号によりシフトレジスタ
108,109がリセットされた後、WCKに同期して
入力されるデータに対し実行される。シフトレジスタ1
08,109はデコーダを備えたメモリーのアドレスデ
コード後のライン選択情報と同じ情報を持つため、リセ
ットによりLSB(Least Significan
t Bit)にのみ、ロー、カラム側共“1”(選択情
報)が入いる。
【0080】WCKに同期して、アドレスがインクリメ
ントされるのに対応し、選択情報がシフトレジスタ10
8,109によりシフトされる。この時シフトレジスタ
109はWCKに同期してシフトするが、シフトレジス
タ108はシフトレジスタ109のMSBに選択情報が
あるときのみシフトする。シフトレジスタ108,10
9共にMSBに選択情報があるときWCKに同期してL
SBに選択情報が移る。ロー、カラムのシフトレジスタ
に選択情報が入っているラインがラインセレクタ11
0,111によりメモリセルアレイ101中で選ばれ、
データ書込み回路112を介し、データ書込みが行われ
る。
【0081】読み出し動作は、RCKに同期して行わ
れ、リードポートの回路の各構成部102〜105が各
々WCKに対応したライトポートの回路108〜111
と同様に動作する。データ読出し回路106は、メモリ
セルアレイ101の内容を増幅して出力する。
【0082】リードポート、ライトポート共に図16に
示したように、ローとカラムのシフトレジスタを連結し
て、カラムのMSBに選択情報があるときのみロー側シ
フトレジスタをシフトさせることでシフトレジスタを使
ってメモリセルアレイ上の行と列を選択できる。
【0083】本実施例においては、メモリーにおいてア
ドレスデコーダに替えてシフトレジスタでアドレス選択
を行う形にしたため、アドレスデコードに要する時間が
不要となる。また図15のリードポート制御回路10
7,ライトポート制御回路113において、外部制御信
号WCK,RCKより内部回路に適したデューティ比の
制御信号WCKO,RCKOを生成することで、外部制
御信号のデューティ比に関係なく最高動作周波数におけ
る動作を保証でき、かつアドレスデコード時間を不要と
するため最高動作周波数自身も高くすることができる。
図18にリードポート制御回路107,ライトポート制
御回路113の回路例を示す。図18の回路により、ク
ロック信号WCK又はRCKは内部回路に適したデュー
ティ比の制御信号WCK0又はRCK0として出力され
る。 (実施例2)図19は本発明のシーケンシャルアクセス
メモリーの第2実施例を示すデュアルポートメモリーに
よるLIFO(Last In First Out)
の回路構成図である。同図において、301は図15の
シーケンシャルアクセスメモリーを示すものであるが、
シフトレジスタ102,103はRCKによりアドレス
がデクリメントされるように逆に動く。302はシフト
レジスタ102,103に対しアドレスを設定するため
のデコーダである。アドレス設定後はシーケンシャルア
クセスメモリー301内のシフトレジスタによりアドレ
スが設定される。
【0084】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光電変換
装置によれば、フォトダイオードと、このフォトダイオ
ードと相似形を成す遮光したpn接合ダイオードと、こ
のpn接合ダイオードの逆方向飽和電流を前記フォトダ
イオードと前記pn接合ダイオードとの相似比倍する電
流増幅手段と、この電流増幅手段により増幅された電流
を前記フォトダイオードの発生電流から差引いて出力す
る出力手段と、を設け、該電流増幅手段によって増幅し
た電流を前記フォトダイオードの出力電流(光起電流I
L +暗電流LD )から差し引くことにより、暗電流ID
によるノイズ成分を補償し、低照度領域までリニアリテ
ィのある光出力を得ることが出来る。
【0085】また、本発明の駆動回路及び半導体発光素
子駆動回路によれば、カレントミラー回路の出力トラン
ジスタの制御電極に電流を供給するための電流供給手段
を設けたことにより、半導体発光素子などの負荷を従来
よりも高速でスイッチング動作させることが可能とな
る。
【0086】また上記電流供給手段をカレントミラー回
路の入力信号の電圧に比例して出力電流が設定され、か
つカレントミラー回路の内部リファレンス電流に比例し
て出力電流が設定されるようにすることにより駆動回路
の駆動能力の最適化が可能となる。
【0087】さらに上記電流供給手段の電流供給時間
を、カレントミラー回路の電流出力期間よりも短くすれ
ば、電流供給手段を設けたことによる消費電流の増加を
最小限に抑えることができる。
【0088】また、本発明の記憶装置によれば、ROM
等の記憶装置のデータ記憶要素の占有面積を低減するこ
とができ、コストを低減し、動作スピードも向上させる
ことができる。
【0089】また本発明のシーケンシャルアクセスメモ
リーによれば、シフトレジスタのみを使ってアドレスポ
インタを構成し、デコーダ回路が不要なためチップサイ
ズを削減できるとともに、内部制御信号、分周信号生成
回路を使うことにより、メモリー内部回路に応じて最適
なタイミングで動作させうる高速なメモリーを得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光電変換装置の第1実施例を示す回路
構成図である。
【図2】本発明の光電変換装置の第2実施例を示す回路
構成図である。
【図3】本発明の駆動回路の原理を説明するための回路
図である。
【図4】図3における入力印加電圧と内部リファレンス
電流の関係を示した特性図である。
【図5】図3における内部リファレンス電流と出力電流
の関係を示した特性図。
【図6】電流供給手段(電流源)による効果を示した駆
動回路の出力電流の過渡特性を説明するタイミングチャ
ートである。
【図7】本発明の駆動回路の一実施例を示す回路図であ
る。
【図8】図7における内部リファレンス電流と、電流源
のリファレンス電流との関係を示した特性図である。
【図9】本発明の駆動回路の他の実施例を示す部分回路
図である。
【図10】本発明の駆動回路の他の実施例を示す部分回
路図である。
【図11】本発明の駆動回路の更に他の実施例を示す部
分回路図である。
【図12】本発明の第1の実施例を示すROMの回路構
成図である。
【図13】本発明の第2の実施例を示すマスクROMの
回路構成図である。
【図14】図13のマスクROMの動作を示すタイミン
グチャートである。
【図15】本発明を実施したデュアルポートメモリー
(FIFO)の回路図である。
【図16】シフトレジスタによるアドレスポインタの構
成を示す図である。
【図17】図15のメモリーのタイミングチャートであ
る。
【図18】内部制御信号生成回路を示す構成図である。
【図19】本発明を実施したデュアルポートメモリー
(LIFO)の回路図である。
【図20】従来の光電変換装置の構成例を示した回路図
である。
【図21】従来例による照度と光出力の関係を示した特
性図である。
【図22】フォトダイオードの暗電流の温度、逆バイア
ス依存性を示した特性図である。
【図23】従来の駆動回路の一例を示す回路図である。
【図24】ROMのデータの入出力の説明図である。
【図25】従来のROMの回路構成図である。
【図26】図25の動作を説明するためのタイミングチ
ャートである。
【図27】従来のデュアルポートメモリー(FIFO)
の回路図である。
【符号の説明】
1 フォトダイオード 2 遮光したpn接合ダイオード 3 電流増幅手段 4 電流−電圧変換部 5,5′ オペアンプ 11 カレントミラー回路 12 電流供給手段となる電流源 13 NMOSトランジスタ 14 レーザダイオード 15 NPNトランジスタ 16 抵抗(R1 ) 17 NPNトランジスタ 18 NPNトランジスタ 19 PMOSトランジスタ 20 PMOSトランジスタ 21 端子 22 端子 24 NPNトランジスタ 25 抵抗(R2 ) 26 PMOSトランジスタ 27 PMOSトランジスタ 28 PMOSトランジスタ CNT1 入力端子 CNT2 入力端子 Pφ,P1,P2 プリチャージ回路 mφφ〜m141 MOSトランジスタ mφ〜m6 MOSトランジスタ q1,qφ 出力ライン bφ,b1,b2 出力ライン Iφ バッファ I1 インバータ I2,L1 AND回路 L2〜L4 NOR回路 101 メモリセルアレイ 102,103 リード用シフトレジスタ(アドレスポ
インタ) 104,105 リード用ラインセレクタ(アドレスポ
インタ) 106 データ読出し回路 107,113 制御回路 108,109 ライト用シフトレジスタ 110,111 ライト用ラインセレクタ 112 データ書込み回路 201 ロー側シフトレジスタ 202 カラム側シフトレジスタ 301 シーケンシャルアクセスメモリー 302 デコーダ 401 デュアルポートメモリ 402,403 カウンタ RCK,WCK 外部リードライトクロック RCKO,WCKO 内部リードライトクロック
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01S 3/096 (72)発明者 石塚 敬治 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 森田 俊一 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトダイオードと、このフォトダイオ
    ードと相似形を成す遮光したpn接合ダイオードと、こ
    のpn接合ダイオードの逆方向飽和電流を前記フォトダ
    イオードと前記pn接合ダイオードとの相似比倍する電
    流増幅手段と、この電流増幅手段により増幅された電流
    を前記フォトダイオードの発生電流から差引いて出力す
    る出力手段と、を備えた光電変換装置。
  2. 【請求項2】 カレントミラー回路の出力トランジスタ
    の一方の主電極を負荷に接続し、該出力トランジスタに
    より負荷に流す電流の制御を行う駆動回路において、前
    記出力トランジスタの制御電極に電流を供給する電流供
    給手段を設けたことを特徴とする駆動回路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の駆動回路において、前記
    電流供給手段はカレントミラー回路の入力信号の電圧に
    比例して出力電流が設定され、かつカレントミラー回路
    のリファレンス電流に比例して出力電流が設定されたこ
    とを特徴とする駆動回路。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の駆動回路において、前記
    電流供給手段による電流供給時間を、前記カレントミラ
    ー回路による電流出力期間よりも短くしたことを特徴と
    する駆動回路。
  5. 【請求項5】 カレントミラー回路の出力トランジスタ
    の一方の主電極を半導体発光素子に接続し、該出力トラ
    ンジスタにより該半導体発光素子に流す電流の制御を行
    う半導体発光素子駆動回路において、前記出力トランジ
    スタの制御電極に電流を供給する電流供給手段を設けた
    ことを特徴とする半導体発光素子駆動回路。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の半導体発光素子駆動回路
    において、前記電流供給手段はカレントミラー回路の入
    力信号の電圧に比例して出力電流が設定され、かつカレ
    ントミラー回路のリファレンス電流に比例して出力電流
    が設定されたことを特徴とする半導体発光素子駆動回
    路。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の半導体発光素子駆動回路
    において、前記電流供給手段による電流供給時間を、前
    記カレントミラー回路による電流出力期間よりも短くし
    たことを特徴とする半導体発光素子駆動回路。
  8. 【請求項8】 複数のデータ記憶要素に固定された複数
    のデータを記憶させ、任意の選択信号を与えることによ
    って、任意のデータを出力する記憶装置において、 出現頻度の高いデータを確定させるデータ記憶要素を省
    略し、該出現頻度の高いデータが選択された時に、該出
    現頻度の高いデータに出力を確定させる手段を設けたこ
    とを特徴とする記憶装置。
  9. 【請求項9】 メモリセルアレイのロー(行)アドレス
    とカラム(列)アドレスを選択するシフトレジスタと、
    外部制御信号より内部制御信号及び分周信号を生成し該
    シフトレジスタを動作させる制御手段と、を備えたこと
    を特徴とするシーケンシャルアクセスメモリー。
JP35774292A 1992-12-25 1992-12-25 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー Pending JPH06196746A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35774292A JPH06196746A (ja) 1992-12-25 1992-12-25 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー
US08/170,753 US5514989A (en) 1992-12-25 1993-12-21 Semiconductor light emitting element driver circuit
EP93120831A EP0603899B1 (en) 1992-12-25 1993-12-23 Driver circuit
DE69329486T DE69329486T2 (de) 1992-12-25 1993-12-23 Treiberschaltung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35774292A JPH06196746A (ja) 1992-12-25 1992-12-25 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06196746A true JPH06196746A (ja) 1994-07-15

Family

ID=18455691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35774292A Pending JPH06196746A (ja) 1992-12-25 1992-12-25 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5514989A (ja)
EP (1) EP0603899B1 (ja)
JP (1) JPH06196746A (ja)
DE (1) DE69329486T2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480042B2 (en) 2000-07-04 2002-11-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Current-to-voltage converting circuit, optical pickup head apparatus, and apparatus and method for recording/reproducing data
CN100352068C (zh) * 2003-08-20 2007-11-28 沛亨半导体股份有限公司 以电流镜驱动发光二极管的方法
CN100459821C (zh) * 2003-11-14 2009-02-04 立锜科技股份有限公司 驱动多组直流光源的驱动电路
JP2009094291A (ja) * 2007-10-09 2009-04-30 Panasonic Corp 光半導体装置及び赤外線データ通信装置
JP2009200124A (ja) * 2008-02-19 2009-09-03 Fujitsu Ltd 光検出装置および光検出方法
JP2010004026A (ja) * 2008-05-22 2010-01-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器
US7701989B2 (en) 2006-06-05 2010-04-20 Panasonic Corporation Laser diode driving apparatus
JP2010141302A (ja) * 2008-11-12 2010-06-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器
US7782917B2 (en) 2006-05-31 2010-08-24 Panasonic Corporation Laser driving circuit, optical pickup and recording/reading equipment
JP2021129259A (ja) * 2020-02-17 2021-09-02 株式会社東芝 光受信回路

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701133A (en) * 1994-10-13 1997-12-23 Lucent Technologies Inc. Cascaded multiplying current mirror driver for LED's
JPH09248912A (ja) 1996-01-11 1997-09-22 Canon Inc インクジェットヘッド及びヘッド用基体、インクジェットカートリッジ、並びにインクジェット装置
US5784178A (en) * 1996-03-06 1998-07-21 Dyna Image Corporation High performance contact image sensor
US5933441A (en) * 1997-11-06 1999-08-03 Chen; Hung-Ping Circuit for protecting a laser indicator
EP0924823A1 (en) * 1997-12-17 1999-06-23 Hewlett-Packard Company Driver circuit for a solid state optical emitter device
GB2335556B (en) * 1998-03-18 2002-10-30 Ericsson Telefon Ab L M Switch circuit
JP2000012950A (ja) * 1998-04-23 2000-01-14 Matsushita Electron Corp 半導体レ―ザ装置
US6005433A (en) * 1998-07-30 1999-12-21 Credence Systems Corporation Low charge injection mosfet switch
TW473984B (en) * 1999-08-19 2002-01-21 Toshiba Corp Laser driving circuit and reproducing device using the same
MXPA01010039A (es) * 2000-02-03 2002-07-30 Koninkl Philips Electronics Nv Ensamble de abastecimiento para un modulo de iluminacion led.
JP2001222283A (ja) * 2000-02-09 2001-08-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd ブザードライブ回路
US6396357B1 (en) * 2000-05-01 2002-05-28 Agere Systems Guardian Corp. Low voltage differential voltage-controlled ring oscillator
JP3835363B2 (ja) * 2002-07-09 2006-10-18 株式会社デンソー 車両用発電制御装置
JP4017960B2 (ja) * 2002-10-24 2007-12-05 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 駆動回路
CN105096930A (zh) * 2014-04-30 2015-11-25 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 蜂鸣器电路
US9405308B2 (en) 2014-05-19 2016-08-02 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Method and apparatus to minimize switching noise disturbance
JP6320273B2 (ja) * 2014-10-27 2018-05-09 三菱電機株式会社 駆動回路
CN108983860B (zh) * 2018-09-18 2024-01-12 杭州洪芯微电子科技有限公司 基于电压校准的电流自检调节电路

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4121122A (en) * 1976-12-22 1978-10-17 Kurt Pokrandt Current sensing circuitry
US4221979A (en) * 1977-12-08 1980-09-09 Rca Corporation Non-inverting buffer circuits
JPS56156993A (en) * 1980-05-08 1981-12-03 Fujitsu Ltd Read only memory
US4295226A (en) * 1980-07-02 1981-10-13 Bell Telephone Laboratories, Incorporated High speed driver for optoelectronic devices
JPS5762779A (en) * 1980-09-29 1982-04-15 Toshiba Corp Alwave rectifying circuit
JPS5766324A (en) * 1980-10-13 1982-04-22 Sharp Corp Light receiving circuit
JPS5855582B2 (ja) * 1981-11-13 1983-12-10 株式会社東芝 透視性テ−プカセツト
US4634902A (en) * 1982-11-17 1987-01-06 Clarion Co., Ltd. Circuit arrangement capable of adjusting a threshold level of a differential transistor circuit
US4544878A (en) * 1983-10-04 1985-10-01 At&T Bell Laboratories Switched current mirror
JPS60128711A (ja) * 1983-12-15 1985-07-09 Fujitsu Ltd トランジスタ切替回路
JPS61108931A (ja) * 1984-10-31 1986-05-27 Ricoh Co Ltd 光量測定方法
DE3604971A1 (de) * 1986-02-17 1987-08-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Photosensoreinrichtung mit dunkelstromkompensation
DE3705915C2 (de) * 1987-02-25 1996-09-05 Sel Alcatel Ag Schaltungsanordnung zur Differenzbildung zweier Photoströme
US4831395A (en) * 1987-04-01 1989-05-16 Eastman Kodak Company Printer apparatus
US4916307A (en) * 1987-12-15 1990-04-10 Fuji Electric Co., Ltd. Light intensity detecting circuit with dark current compensation
US4812907A (en) * 1987-12-31 1989-03-14 Zenith Electronics Corporation Sync pulse separator system
DE68921020T2 (de) * 1988-05-20 1995-06-29 Mitsubishi Electric Corp Integrierte MOS-Schaltung zum Steuern von lichtermittierenden Dioden.
US5117099A (en) * 1989-09-01 1992-05-26 Schmidt Terrence C Ambient light rejecting quad photodiode sensor
KR930000815B1 (ko) * 1990-02-20 1993-02-05 삼성전자 주식회사 Rom 회로
US5130923A (en) * 1990-06-06 1992-07-14 Valitek, Inc. Selective dynamic RAM address generator with provision for automatic refresh
JPH04117007A (ja) * 1990-08-31 1992-04-17 Fuji Electric Co Ltd 多出力定電流駆動回路
US5212456A (en) * 1991-09-03 1993-05-18 Allegro Microsystems, Inc. Wide-dynamic-range amplifier with a charge-pump load and energizing circuit

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480042B2 (en) 2000-07-04 2002-11-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Current-to-voltage converting circuit, optical pickup head apparatus, and apparatus and method for recording/reproducing data
CN100352068C (zh) * 2003-08-20 2007-11-28 沛亨半导体股份有限公司 以电流镜驱动发光二极管的方法
CN100459821C (zh) * 2003-11-14 2009-02-04 立锜科技股份有限公司 驱动多组直流光源的驱动电路
US7782917B2 (en) 2006-05-31 2010-08-24 Panasonic Corporation Laser driving circuit, optical pickup and recording/reading equipment
US7701989B2 (en) 2006-06-05 2010-04-20 Panasonic Corporation Laser diode driving apparatus
JP2009094291A (ja) * 2007-10-09 2009-04-30 Panasonic Corp 光半導体装置及び赤外線データ通信装置
US8035072B2 (en) 2007-10-09 2011-10-11 Panasonic Corporation Optical semiconductor device and infrared data communication apparatus eliminating low frequency component
JP2009200124A (ja) * 2008-02-19 2009-09-03 Fujitsu Ltd 光検出装置および光検出方法
JP2010004026A (ja) * 2008-05-22 2010-01-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器
JP2014017522A (ja) * 2008-05-22 2014-01-30 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 電子機器
JP2010141302A (ja) * 2008-11-12 2010-06-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器
JP2021129259A (ja) * 2020-02-17 2021-09-02 株式会社東芝 光受信回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0603899B1 (en) 2000-09-27
US5514989A (en) 1996-05-07
DE69329486D1 (de) 2000-11-02
EP0603899A2 (en) 1994-06-29
EP0603899A3 (en) 1994-10-12
DE69329486T2 (de) 2001-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06196746A (ja) 光電変換装置、駆動回路、半導体発光素子駆動回路、記憶装置、及びシーケンシャルアクセスメモリー
US5541885A (en) High speed memory with low standby current
JPH06187778A (ja) 半導体記憶装置
KR100241079B1 (ko) 병렬 데이터 초기화기능을 가진 멀티포트 메모리셀및 메모리
US5130704A (en) Logic operation circuit
JPS6161198B2 (ja)
JPH0799616B2 (ja) 半導体記憶装置
US6344992B1 (en) SRAM operating with a reduced power dissipation
US5373469A (en) Differential amplifier with a latching function and a memory apparatus employing same
JP2662822B2 (ja) 半導体記憶装置
US6212124B1 (en) Static RAM having word line driving circuitry shared by all the memory cells provided therein
JPS60136989A (ja) 半導体記憶装置の書き込み回路
JP2533399B2 (ja) センスアンプ
JPH04305889A (ja) シーケンシャルアクセスメモリ
JPH07141883A (ja) スタティックram
JPH04154212A (ja) 半導体記憶装置の出力回路
US4760562A (en) MOS static memory circuit
KR100227300B1 (ko) 반도체 기억 장치
US4899314A (en) Semiconductor memory
JPH11250670A (ja) 半導体記憶装置
JPS6196588A (ja) 半導体記憶装置
US5297080A (en) Sense amplifier in semiconductor memory device
JPH0777355B2 (ja) カスコード電圧スイツチ型論理回路ツリー
JP3228985B2 (ja) パルス発生回路
JPH03239363A (ja) 半導体記憶装置