JPH06163413A - 成膜時の基板加熱方法および成膜装置の基板加熱機構 - Google Patents

成膜時の基板加熱方法および成膜装置の基板加熱機構

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JPH06163413A
JPH06163413A JP30574692A JP30574692A JPH06163413A JP H06163413 A JPH06163413 A JP H06163413A JP 30574692 A JP30574692 A JP 30574692A JP 30574692 A JP30574692 A JP 30574692A JP H06163413 A JPH06163413 A JP H06163413A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
heater
substrates
plate
susceptor
Prior art date
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Pending
Application number
JP30574692A
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English (en)
Inventor
Masahito Nishikawa
優人 西川
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Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 MBE等成膜時の基板の加熱を均一化する。 【構成】 基板1を複数保持するサセプター3に基板を
個別に加熱するヒーター付プレート2を設けそのヒータ
ー付プレート2に基板1を接して加熱する。 【効果】 ヒータ付プレート2に基板2を接するので基
板内の温度が均一となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体結晶基板の加
熱機構に関し、特に分子線エピタキシー(MBE)等の
結晶成長装置の基板加熱方式に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の結晶成長装置における基
板の加熱方式は、図4に示すようにサセプター3に複数
枚の基板2をのせ、上部に設置されたヒーター部6から
の輻射熱によって基板2を加熱する構造になっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の加熱機構では、
輻射熱により加熱する構造になっているので、熱が直接
基板に伝わらなく、基板内での温度が不均一になるとい
う欠点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明の加熱機構は、
基板を複数枚保持できるサセプターと、基板に接して基
板を個別に加熱するヒーター付プレートから構成されて
いる。
【0005】
【作用】上記の構成によると、ヒーター付プレートを直
接基板に接触できるため基板内および基板間の温度均一
性を向上させることができる。
【0006】
【実施例】以下、この発明について図面を参照に説明す
る。
【0007】図1に、この発明の一実施例の則断面図、
図2にこの発明の上面図、図3に上面図の拡大図を図
す。1は基板、2はヒーター付プレート、3は複数枚処
理できるサセプター、4は回転軸、5はプレートに付い
たヒーター、6はサセプターに付いたヒーターである。
図3に示すように、ヒーター付プレート2は、プレート
2aにヒーター5がコーティングされてなる。各々の基
板1に対して、ヒーター付プレート2で加熱するため、
基板間の温度差を小さく、基板内の温度均一性を向上す
ることができ、CDV膜、結晶膜等、各基板一様の特性
が得られるという利点がある。また、サセプターに堆積
した膜等は、サセプター3下部に設置されているヒータ
ー6を用いて除去することができる。
【0008】
【実施例2】上記実施例においては、基板を上向きに配
置する場合に付して説明したが、図4に示すような基板
を下向きに配置する場合も、基板の上にヒーター付プレ
ートを置くことで同様に実施できる。
【0009】
【発明の効果】以上、説明したように、この発明は基板
内の温度分布を均一にしたことにより、半導体結晶に関
する特性(膜厚、濃度、移動度etc)の面内分布をよ
り均一に出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の側断面図である。
【図2】 図1の上面図である。
【図3】 図2中ヒーター付プレートの拡大図である。
【図4】 従来の加熱方法例。
【符号の説明】
1 基板 2 ヒーター付プレート 3 サセプター 4 回転軸 5 ヒーター 6 ヒーター(サセプター)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板を複数枚保持できるサセプターに基板
    を個別に加熱するヒーター付プレートを個別に配置し、
    そのヒーター付プレートに基板を接触配置する成膜時の
    基板加熱方法。
  2. 【請求項2】基板を複数枚保持するサセプターと基板に
    接して基板を個別に加熱するヒーター付プレートを有す
    る成膜装置の基板加熱機構。
  3. 【請求項3】前記ヒーターは、前記プレートにコーティ
    ング形成されていることを特徴とする請求項2の基板加
    熱機構。
JP30574692A 1992-11-17 1992-11-17 成膜時の基板加熱方法および成膜装置の基板加熱機構 Pending JPH06163413A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100676157B1 (ko) * 2004-06-10 2007-02-01 세이코 엡슨 가부시키가이샤 액정 기판의 제조 방법 및 액정 기판의 제조 장치

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