JPH0473162B2 - - Google Patents
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- JPH0473162B2 JPH0473162B2 JP15768084A JP15768084A JPH0473162B2 JP H0473162 B2 JPH0473162 B2 JP H0473162B2 JP 15768084 A JP15768084 A JP 15768084A JP 15768084 A JP15768084 A JP 15768084A JP H0473162 B2 JPH0473162 B2 JP H0473162B2
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 7
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012369 In process control Methods 0.000 description 1
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B9/00—Safety arrangements
- G05B9/02—Safety arrangements electric
- G05B9/03—Safety arrangements electric with multiple-channel loop, i.e. redundant control systems
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明はプロセス状態を制御する多重化された
プロセス制御装置に関する。
プロセス制御装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
近年、高い信頼性が要求されるプロセス制御装
置においては、２重化、３重化等の多重化構成を
採用して制御装置の信頼度を向上させることが多
くなつてきている。
置においては、２重化、３重化等の多重化構成を
採用して制御装置の信頼度を向上させることが多
くなつてきている。
プロセス制御装置を多重化するには、常用の制
御器と待機側の制御器を有し、常用の制御器が故
障の場合に待機側に切替える方式と、常時複数の
制御器を動作させ、それら制御器の出力を多数決
で選択して出力する方式とが知られている。
御器と待機側の制御器を有し、常用の制御器が故
障の場合に待機側に切替える方式と、常時複数の
制御器を動作させ、それら制御器の出力を多数決
で選択して出力する方式とが知られている。
前者の方式では、制御器の正常、異常を判定す
る故障検出回路が不可欠となるが、制御器の正
常、異常の判定は複雑、困難である。また、常用
の制御器から待機側への切り替えは故障検出回路
により異常と判定された場合に行なわれるため、
故障検出回路により検出できないような故障が発
生した場合には、切替動作が行なわれずプロセス
への出力が異常となる。また、故障検出回路の故
障検出能力を高めるほど、故障検出回路自体が複
雑となり、故障検出回路自体の故障が問題とな
る。
る故障検出回路が不可欠となるが、制御器の正
常、異常の判定は複雑、困難である。また、常用
の制御器から待機側への切り替えは故障検出回路
により異常と判定された場合に行なわれるため、
故障検出回路により検出できないような故障が発
生した場合には、切替動作が行なわれずプロセス
への出力が異常となる。また、故障検出回路の故
障検出能力を高めるほど、故障検出回路自体が複
雑となり、故障検出回路自体の故障が問題とな
る。
これに対して、後者の方式は、多数決によつて
出力を選択するため、少なくとも３台の制御器が
必要となるが、制御器の正常、異常を判定する故
障検出回路が不要となる。また、その多数決回路
は制御器を３重化する場合、制御器の出力がアナ
ログ量なら中間値選択回路、制御器の出力が２値
デイジタル量なら2outof3論理回路で簡単に構成
できる。このとき、制御器１台に故障が生じても
プロセス制御装置の出力が正常に保たれるのは言
うまでもない。
出力を選択するため、少なくとも３台の制御器が
必要となるが、制御器の正常、異常を判定する故
障検出回路が不要となる。また、その多数決回路
は制御器を３重化する場合、制御器の出力がアナ
ログ量なら中間値選択回路、制御器の出力が２値
デイジタル量なら2outof3論理回路で簡単に構成
できる。このとき、制御器１台に故障が生じても
プロセス制御装置の出力が正常に保たれるのは言
うまでもない。
このため、原子力発電所等特に高い信頼性を要
求されるプロセスの制御には後者の方式による制
御装置が多く用いられている。
求されるプロセスの制御には後者の方式による制
御装置が多く用いられている。
第５図は３重化されたプロセス制御装置の概念
図を示したものである。第５図において、制御対
象であるプロセス１には、３台の制御器２Ａ，２
Ｂ，２Ｃの出力信号S1A，S1B，S1Cのうち、選択
回路３で選択された値がプロセス制御装置４の出
力信号S2として出力される。選択回路３は制御器
３重化の場合、中間選択回路あるいは2outof3論
理回路で構成されるが、以後、３重化されたプロ
セス制御装置を対象とし、選択回路３を中間値選
択回路として話を進める。勿論、３重化以上のプ
ロセス制御装置でも同様なことは言う迄もない。
図を示したものである。第５図において、制御対
象であるプロセス１には、３台の制御器２Ａ，２
Ｂ，２Ｃの出力信号S1A，S1B，S1Cのうち、選択
回路３で選択された値がプロセス制御装置４の出
力信号S2として出力される。選択回路３は制御器
３重化の場合、中間選択回路あるいは2outof3論
理回路で構成されるが、以後、３重化されたプロ
セス制御装置を対象とし、選択回路３を中間値選
択回路として話を進める。勿論、３重化以上のプ
ロセス制御装置でも同様なことは言う迄もない。
３重化プロセス制御装置４では、制御器２Ａ，
２Ｂ，２Ｃのうち、何れか１台が故障してもプロ
セス制御装置４の出力信号S2は正常なため、制御
装置の機能を途切れることなく維持でき、制御器
２Ａ，２Ｂ，２C1台の場合に比べ高い信頼性が
実現できる。しかし、３重化した制御器２Ａ，２
Ｂ，２Ｃのうち１台が故障してもプロセス制御装
置４の出力を正常に保つ目的で設けている中間値
選択回路３は１重化である。従つて、中間値選択
回路３の信頼性が十分でないと、 制御器を多重化している意味がなくなるばかり
でなく、中間値選択回路３のため、プロス制御装
置４全体としての信頼度を低下させる問題が生じ
る。
２Ｂ，２Ｃのうち、何れか１台が故障してもプロ
セス制御装置４の出力信号S2は正常なため、制御
装置の機能を途切れることなく維持でき、制御器
２Ａ，２Ｂ，２C1台の場合に比べ高い信頼性が
実現できる。しかし、３重化した制御器２Ａ，２
Ｂ，２Ｃのうち１台が故障してもプロセス制御装
置４の出力を正常に保つ目的で設けている中間値
選択回路３は１重化である。従つて、中間値選択
回路３の信頼性が十分でないと、 制御器を多重化している意味がなくなるばかり
でなく、中間値選択回路３のため、プロス制御装
置４全体としての信頼度を低下させる問題が生じ
る。
［発明の目的］
本発明は、以上の問題を解消して常に正常な出
力をプロセスに与えることのできる信頼性の高い
プロセス制御装置を提供することを目的とする。
力をプロセスに与えることのできる信頼性の高い
プロセス制御装置を提供することを目的とする。
［発明の概要］
このため、本発明は多重化された制御器の出力
を選択する多数決回路の信号を監視して故障を検
出する診断回路をその多数決回路に付加し、多数
決回路の故障を検出できるようにすると共に、こ
の多数決回路を多重化し、診断回路の出力によつ
て正常な多数決回路が常にプロセス制御装置の出
力として選択されるような出力切替回路を設けて
プロセス制御装置全体としての信頼性を高めるよ
うにしたことを特徴としている。
を選択する多数決回路の信号を監視して故障を検
出する診断回路をその多数決回路に付加し、多数
決回路の故障を検出できるようにすると共に、こ
の多数決回路を多重化し、診断回路の出力によつ
て正常な多数決回路が常にプロセス制御装置の出
力として選択されるような出力切替回路を設けて
プロセス制御装置全体としての信頼性を高めるよ
うにしたことを特徴としている。
［発明の実施例］
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例に係るプロセス制御
装置の構成図を示したものである。図中、第５図
と同一符号は同一または相当部分を示し、第５図
の従来構成と異なる点は選択回路を２重化して３
Ａ，３Ｂとすると共に、その選択回路３Ａ，３Ｂ
を中間値選択回路５Ａ，５Ｂと、その正常、異常
をチエツクする診断回路６Ａ，６Ｂとで構成した
点、また更には、その中間値選択回路５Ａ，５Ｂ
の出力S3A，S3Bを切替えるリレー７とその接点７
Ａ，７Ｂから成る切替回路を設けた点、および、
診断回路６Ｂにより付勢される表示器８を設けた
点である。
装置の構成図を示したものである。図中、第５図
と同一符号は同一または相当部分を示し、第５図
の従来構成と異なる点は選択回路を２重化して３
Ａ，３Ｂとすると共に、その選択回路３Ａ，３Ｂ
を中間値選択回路５Ａ，５Ｂと、その正常、異常
をチエツクする診断回路６Ａ，６Ｂとで構成した
点、また更には、その中間値選択回路５Ａ，５Ｂ
の出力S3A，S3Bを切替えるリレー７とその接点７
Ａ，７Ｂから成る切替回路を設けた点、および、
診断回路６Ｂにより付勢される表示器８を設けた
点である。
この構成で、制御対象であるプロセス１には３
台の制御器２Ａ，２Ｂ，２Ｃの出力信号S1A，
S1B，S1Cのうち中間値選択回路５Ａ，５Ｂで選択
された信号がプロセス制御装置４の出力信号S2と
して出力される。ここで、中間値選択回路５Ａ，
５Ｂは診断回路６Ａ，６Ｂによつて出力が監視さ
れ、その故障が検出される。使用側の選択回路３
Ａが正常に動作している場合には、診断回路６Ａ
において故障は検出されず、診断回路６Ａの出力
S4Aは“０”となり、リレー７は非励磁となる。
従つて、リレー７の接点７ＢがON、接点７Ａが
OFFとなるので、中間値選択回路５Ａの出力信
号S3Aがプロセス制御装置４の出力信号S2となる。
台の制御器２Ａ，２Ｂ，２Ｃの出力信号S1A，
S1B，S1Cのうち中間値選択回路５Ａ，５Ｂで選択
された信号がプロセス制御装置４の出力信号S2と
して出力される。ここで、中間値選択回路５Ａ，
５Ｂは診断回路６Ａ，６Ｂによつて出力が監視さ
れ、その故障が検出される。使用側の選択回路３
Ａが正常に動作している場合には、診断回路６Ａ
において故障は検出されず、診断回路６Ａの出力
S4Aは“０”となり、リレー７は非励磁となる。
従つて、リレー７の接点７ＢがON、接点７Ａが
OFFとなるので、中間値選択回路５Ａの出力信
号S3Aがプロセス制御装置４の出力信号S2となる。
次に、使用側の選択回路３Ａの診断回路６Ａに
よつて、中間値選択回路５Ａの故障が検出された
場合、診断回路６Ａの出力S4Aは“１”となり、
リレー７を励磁する。リレー７が励磁されると、
リレー７の接点７ＢがOFF、接点７ＡがONとな
るので、待機側の選択回路３Ｂへの切替えが行な
われ、待機側の中間値選択回路５Ｂの出力信号
S3Bがプロセス制御装置４の出力信号S2となる。
よつて、中間値選択回路５Ａの故障が検出された
場合、診断回路６Ａの出力S4Aは“１”となり、
リレー７を励磁する。リレー７が励磁されると、
リレー７の接点７ＢがOFF、接点７ＡがONとな
るので、待機側の選択回路３Ｂへの切替えが行な
われ、待機側の中間値選択回路５Ｂの出力信号
S3Bがプロセス制御装置４の出力信号S2となる。
このように、使用側の中間値選択回路５Ａが故
障しても、診断回路６Ａで故障を検出することに
よつて、待機側の中間値選択回路５Ｂに切替え、
プロセス制御装置４の出力信号S2を正常に保つこ
とができる。
障しても、診断回路６Ａで故障を検出することに
よつて、待機側の中間値選択回路５Ｂに切替え、
プロセス制御装置４の出力信号S2を正常に保つこ
とができる。
また、このとき待機側お中間値選択回路５Ｂの
故障が診断回路６Ｂによつて検出されても、使用
側の中間値選択回路５Ａが正常であれば、プロセ
ス制御装置４の出力信号S2は正常を保つことがで
きる。この場合、診断回路６Ｂの出力信号S4Bに
より、中間値選択回路５Ｂが故障した旨を表示器
８に表示することによつて、待機側の中間値選択
回路５Ｂの故障を認識することができる。
故障が診断回路６Ｂによつて検出されても、使用
側の中間値選択回路５Ａが正常であれば、プロセ
ス制御装置４の出力信号S2は正常を保つことがで
きる。この場合、診断回路６Ｂの出力信号S4Bに
より、中間値選択回路５Ｂが故障した旨を表示器
８に表示することによつて、待機側の中間値選択
回路５Ｂの故障を認識することができる。
第２図はその中間値選択回路５Ａと診断回路６
Ａとかる成る選択回路３Ａの一実施例の概念図を
示したものである。図示の通り、本実施例の中間
値選択回路５Ａは多重化された制御器の出力信号
S1A，S1B，S1Cを受ける低値選択回路９Ａ，９Ｂ，
９Ｃとそれらの出力信号S5A，S5B，S5Cを受ける
高値選択回路１０Ａとから構成される。一方、診
断回路６Ａは、中間値選択回路５Ａを構成する低
値選択回路９Ａ，９Ｂ，９Ｃの出力S5A，S5B，
S5Cと高値選択回路１０Ａの出力S3Aを受けて、中
間値選択回路５Ａの正常、異常を判断し、故障が
検出されたら診断回路出力信号S4Aを“１”とし
てリレーを励磁する。
Ａとかる成る選択回路３Ａの一実施例の概念図を
示したものである。図示の通り、本実施例の中間
値選択回路５Ａは多重化された制御器の出力信号
S1A，S1B，S1Cを受ける低値選択回路９Ａ，９Ｂ，
９Ｃとそれらの出力信号S5A，S5B，S5Cを受ける
高値選択回路１０Ａとから構成される。一方、診
断回路６Ａは、中間値選択回路５Ａを構成する低
値選択回路９Ａ，９Ｂ，９Ｃの出力S5A，S5B，
S5Cと高値選択回路１０Ａの出力S3Aを受けて、中
間値選択回路５Ａの正常、異常を判断し、故障が
検出されたら診断回路出力信号S4Aを“１”とし
てリレーを励磁する。
診断回路６Ａでの中間値選択回路５Ａの正常、
異常の判定は、低値選択回路出力信号S5A，S5B，
S5Cと高値選択回路信号S3Aの値を比較することに
よつて行なう。即ち、低値選択回路出力信号S5A，
S5B，S5Cの値が３つとも異なる値の場合は、低値
選択回路９Ａ，９Ｂ，９Ｃのうち何れかの回路の
故障と見なす。また、低値選択回路出力信号S5A，
S5B，S5Cのうち何れか２つの値が等しい場合は、
残り１つの低値選択回路出力信号の値と高値選択
回路出力信号S3Aの値が異なると高値選択回路１
０Ａの故障と見なす。
異常の判定は、低値選択回路出力信号S5A，S5B，
S5Cと高値選択回路信号S3Aの値を比較することに
よつて行なう。即ち、低値選択回路出力信号S5A，
S5B，S5Cの値が３つとも異なる値の場合は、低値
選択回路９Ａ，９Ｂ，９Ｃのうち何れかの回路の
故障と見なす。また、低値選択回路出力信号S5A，
S5B，S5Cのうち何れか２つの値が等しい場合は、
残り１つの低値選択回路出力信号の値と高値選択
回路出力信号S3Aの値が異なると高値選択回路１
０Ａの故障と見なす。
以上の診断によつて、診断回路６Ａにて故障が
検出されると、リレー７が励磁されて中間値選択
回路５Ａの出力S3Aを切り離し、他の正常な中間
値選択回路５Ｂの出力S3Bへ切替える。
検出されると、リレー７が励磁されて中間値選択
回路５Ａの出力S3Aを切り離し、他の正常な中間
値選択回路５Ｂの出力S3Bへ切替える。
第３図にその診断回路６Ａの一例を示す。図に
示すように診断回路６Ａは低値選択回路出力信号
S5A，S5B，S5Cと高値選択回路出力信号S3Aのうち
２つの信号を入力する比較回路１１と、比較回路
１１の出力を反転させるインバータ素子１２、更
にインバータ素子１２あるいは比較回路１１の出
力を入力とするAND素子１３Ａ〜１３Ｄと、
AND素子１３Ａ〜１３Ｄの出力すべてを入力と
するOR素子１４より構成される。ここで、比較
回路１１は２つの信号の値が等しければ、“０”
を出力し、異なれば“１”を出力する。比較回路
１１の出力は、そのまま、あるいはインバータ素
子１２により反転されて、AND素子１３Ａ〜１
３Ｄの入力となり、AND素子１３Ａ〜１３Ｄで
低値選択回路出力信号S5A，S5B，S5Cと高値選択
回路出力信号S3Aの正常、異常の判定が行なわる。
即ち、AND素子１３Ａでは低値選択回路出力信
号S5A，S5B，S5Cのうち、２つの信号の比較の組
み合わせを全て入力しているので、低値選択回路
出力信号S5A，S5B，S5Cの値がすべて異なる場合、
AND素子１３Ａの出力は“１”となり、低値選
択回路の故障を検出できる。また、AND素子１
３Ｂでは、低値選択回路出力信号S5A，S5Bの値が
等しい場合、高値選択回路出力信号S3Aが正常な
らば低値選択回路出力信号S5Cに等しくなるが、
等しくない場合、AND素子１３Ｂの出力は“１”
となり、高値選択回路の故障を検出できる。同様
にして、AND素子１３Ｃでは低値選択回路出力
信号S5B，S5Cの値が等しい場合、AND素子１３
Ｄでは低値選択回路出力信号S5C，S5Aの値が等し
い場合の高値選択回路の故障を検出することがで
きる。AND素子１３Ａ〜１３Ｄの出力はOR素子
１４に入力され、AND素子１３Ａ〜１３Ｄのう
ちどれか１つでも故障を検出すれば、診断回路出
力信号は“１”となる。
示すように診断回路６Ａは低値選択回路出力信号
S5A，S5B，S5Cと高値選択回路出力信号S3Aのうち
２つの信号を入力する比較回路１１と、比較回路
１１の出力を反転させるインバータ素子１２、更
にインバータ素子１２あるいは比較回路１１の出
力を入力とするAND素子１３Ａ〜１３Ｄと、
AND素子１３Ａ〜１３Ｄの出力すべてを入力と
するOR素子１４より構成される。ここで、比較
回路１１は２つの信号の値が等しければ、“０”
を出力し、異なれば“１”を出力する。比較回路
１１の出力は、そのまま、あるいはインバータ素
子１２により反転されて、AND素子１３Ａ〜１
３Ｄの入力となり、AND素子１３Ａ〜１３Ｄで
低値選択回路出力信号S5A，S5B，S5Cと高値選択
回路出力信号S3Aの正常、異常の判定が行なわる。
即ち、AND素子１３Ａでは低値選択回路出力信
号S5A，S5B，S5Cのうち、２つの信号の比較の組
み合わせを全て入力しているので、低値選択回路
出力信号S5A，S5B，S5Cの値がすべて異なる場合、
AND素子１３Ａの出力は“１”となり、低値選
択回路の故障を検出できる。また、AND素子１
３Ｂでは、低値選択回路出力信号S5A，S5Bの値が
等しい場合、高値選択回路出力信号S3Aが正常な
らば低値選択回路出力信号S5Cに等しくなるが、
等しくない場合、AND素子１３Ｂの出力は“１”
となり、高値選択回路の故障を検出できる。同様
にして、AND素子１３Ｃでは低値選択回路出力
信号S5B，S5Cの値が等しい場合、AND素子１３
Ｄでは低値選択回路出力信号S5C，S5Aの値が等し
い場合の高値選択回路の故障を検出することがで
きる。AND素子１３Ａ〜１３Ｄの出力はOR素子
１４に入力され、AND素子１３Ａ〜１３Ｄのう
ちどれか１つでも故障を検出すれば、診断回路出
力信号は“１”となる。
以上の説明のように、中間値選択回路５Ａにそ
の故障を検出する診断回路６Ａを付加して選択回
路３Ａを構成し、中間値選択回路５Ａの出力を監
視して、故障が検出されれば多重化された他の選
択回路３Ｂへ切替えることによつて、プロセスに
常に正常な制御信号を伝えることができる。ま
た、一般に中間値選択回路の平均修復時間
（MTTR）は平均故障時間（MTBF）に比べ充
分小さいので、中間値選択回路の同時故障は考え
なくてもよいこと、更に中間値選択回路の切替え
を行なうリレー部は構造が単純であるので、その
信頼性を非常に高くすることができることからプ
ロセス制御装置の信頼性を極めて高くすることが
できる。
の故障を検出する診断回路６Ａを付加して選択回
路３Ａを構成し、中間値選択回路５Ａの出力を監
視して、故障が検出されれば多重化された他の選
択回路３Ｂへ切替えることによつて、プロセスに
常に正常な制御信号を伝えることができる。ま
た、一般に中間値選択回路の平均修復時間
（MTTR）は平均故障時間（MTBF）に比べ充
分小さいので、中間値選択回路の同時故障は考え
なくてもよいこと、更に中間値選択回路の切替え
を行なうリレー部は構造が単純であるので、その
信頼性を非常に高くすることができることからプ
ロセス制御装置の信頼性を極めて高くすることが
できる。
尚、上記実施例では選択回路３を２重化した場
合について説明したが、例えば、第４図に示すよ
うに中間値選択回路５Ｃと診断回路６Ｃから成る
選択回路３Ｃと、リレー１５とその接点１５Ａ，
１５Ｂから成る切替回路を追加することにより、
３重化構成とすることができる。同様にして４重
化構成等の多重化構成を採用し得ることも言う迄
もない。
合について説明したが、例えば、第４図に示すよ
うに中間値選択回路５Ｃと診断回路６Ｃから成る
選択回路３Ｃと、リレー１５とその接点１５Ａ，
１５Ｂから成る切替回路を追加することにより、
３重化構成とすることができる。同様にして４重
化構成等の多重化構成を採用し得ることも言う迄
もない。
また、上記実施例では切替回路をリレーを用い
て構成した例について示したが、FET等の半導
体素子および回路を用いて構成し得ることも当然
のことである。
て構成した例について示したが、FET等の半導
体素子および回路を用いて構成し得ることも当然
のことである。
更に、上記実施例では、中間値選択回路を３台
の低値選択回路と１台の高値選択回路で構成した
例について説明したが、これを入れ替えて３台の
高値選択回路と１台の低値選択回路で中間値選択
回路を構成しても上記実施例同様の作用効果が得
られることは勿論のことである。
の低値選択回路と１台の高値選択回路で構成した
例について説明したが、これを入れ替えて３台の
高値選択回路と１台の低値選択回路で中間値選択
回路を構成しても上記実施例同様の作用効果が得
られることは勿論のことである。
また、上記実式例では多数決回路として中間値
選択回路を例にとり説明したが、信号デイジタル
の場合は多数決論理回路でも良いことも当然であ
る。
選択回路を例にとり説明したが、信号デイジタル
の場合は多数決論理回路でも良いことも当然であ
る。
［発明の効果］
以上のように本発明によれば、多重化された制
御器の出力を選択する選択回路を多数決回路とそ
の診断回路とで構成し、その診断回路で故障検出
したとき、多数決回路の切り替えを行なうことに
より、制御器だけでなくその出力を選択する選択
回路を多重化することができ、プロセス制御装置
の信頼性を大きく向上させることができる。
御器の出力を選択する選択回路を多数決回路とそ
の診断回路とで構成し、その診断回路で故障検出
したとき、多数決回路の切り替えを行なうことに
より、制御器だけでなくその出力を選択する選択
回路を多重化することができ、プロセス制御装置
の信頼性を大きく向上させることができる。
第１図は本発明の一実施例に係るプロセス制御
装置の概念図、第２図は第１図の選択回路の一実
施例を示す概念図、第３図は第２図の診断回路の
一実施例を示す構成図、第４図は本発明の他の実
施例に係るプロセス制御装置の概念図、第５図は
従来の多重化プロセス制御装置の構成を示す概念
図である。 １……プロセス、２Ａ，２Ｂ，２Ｃ……制御
器、３Ａ，３Ｂ，３Ｃ……選択回路、４……プロ
セス制御装置、５Ａ，５Ｂ，５Ｃ……中間値選択
回路、６Ａ，６Ｂ，６Ｃ……診断回路、７……リ
レー、８……表示器。
装置の概念図、第２図は第１図の選択回路の一実
施例を示す概念図、第３図は第２図の診断回路の
一実施例を示す構成図、第４図は本発明の他の実
施例に係るプロセス制御装置の概念図、第５図は
従来の多重化プロセス制御装置の構成を示す概念
図である。 １……プロセス、２Ａ，２Ｂ，２Ｃ……制御
器、３Ａ，３Ｂ，３Ｃ……選択回路、４……プロ
セス制御装置、５Ａ，５Ｂ，５Ｃ……中間値選択
回路、６Ａ，６Ｂ，６Ｃ……診断回路、７……リ
レー、８……表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 同一信号を入力して同一処理を行なう複数の
制御器と、これら各制御器からの出力信号のうち
正常な出力信号を選択して出力する選択回路とを
備えるプロセス制御装置において、前記選択回路
を多数決回路とその診断回路とで構成して複数個
設ける一方、それら選択回路の１個を選択して制
御出力を得るが、その選択回路内の診断回路が故
障を検出したときは、次段の選択回路に切り替え
る切替回路を設けたことを特徴とするプロセス制
御装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載において、多数決
回路が中間値選択回路であることを特徴とするプ
ロセス制御装置。 ３ 特許請求の範囲第１項記載において、多数決
回路が多数決論理回路であることを特徴とするプ
ロセス制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15768084A JPS6136803A (ja) | 1984-07-30 | 1984-07-30 | プロセス制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15768084A JPS6136803A (ja) | 1984-07-30 | 1984-07-30 | プロセス制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6136803A JPS6136803A (ja) | 1986-02-21 |
| JPH0473162B2 true JPH0473162B2 (ja) | 1992-11-20 |
Family
ID=15655035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15768084A Granted JPS6136803A (ja) | 1984-07-30 | 1984-07-30 | プロセス制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6136803A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03154901A (ja) * | 1989-11-14 | 1991-07-02 | Toshiba Corp | ２重化制御装置 |
| JP2763854B2 (ja) * | 1993-10-21 | 1998-06-11 | 株式会社日立製作所 | 鉄道設備の保守作業管理装置 |
| US8318877B2 (en) | 2008-05-20 | 2012-11-27 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Ethylene tetrafluoroethylene (meth)acrylate copolymers |
| JP5286151B2 (ja) * | 2009-04-24 | 2013-09-11 | 株式会社東芝 | 多重化制御システムおよび多重化制御システムの制御方法 |
| JP5319499B2 (ja) * | 2009-11-11 | 2013-10-16 | 株式会社日立製作所 | 多重化制御装置 |
-
1984
- 1984-07-30 JP JP15768084A patent/JPS6136803A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6136803A (ja) | 1986-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |