JPH044523B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH044523B2
JPH044523B2 JP57011822A JP1182282A JPH044523B2 JP H044523 B2 JPH044523 B2 JP H044523B2 JP 57011822 A JP57011822 A JP 57011822A JP 1182282 A JP1182282 A JP 1182282A JP H044523 B2 JPH044523 B2 JP H044523B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
points
imaging
straight line
distance
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57011822A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58129304A (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1182282A priority Critical patent/JPS58129304A/ja
Publication of JPS58129304A publication Critical patent/JPS58129304A/ja
Publication of JPH044523B2 publication Critical patent/JPH044523B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、距離と角度の光学的計測方法及びそ
れに用いる計測装置に関する。
距離及び角度を遠隔測定したり、あるいはその
測定した数値を電気信号化したい場合にはTVカ
メル又は電荷結合素子等の撮像素子が用いられ
る。
ところが、従来は一平面上の二点を撮像するこ
とによつて二点間距離及び角度を計測できたが、
三次元空間にある二点間距離や角度関係は計測で
きなかつた。
そこで本発明はかかる欠点を解消し、三次元空
間にある二点間距離及び角度を計測することがで
きる光学的計測方法及びそれに用いる計測装置を
提供するものである。斯る目的を達成するための
本発明の計測方法に係る構成は空間にある二点へ
向けた撮像体を一直線上で移動させ、夫々の点と
ピントが合う撮像体の位置を求め、この両位置間
距離から前記二点を結ぶ線分を前記一直線と平行
な面へ投撮した長さを演算し、撮像体による撮像
から前記二点を結ぶ線分を前記一直線と垂直な平
面へ投撮した長さを演算し、これらの長さから前
記二点間の真の距離及び角度関係を求めることを
特徴とする。更に計測装置に係る構成は、複数の
計測点を有する被測定体を撮像する撮像体と、 撮像体を被測定体に向う一直線上で往復移動さ
せる駆動装置と、 撮像体で撮像した画像を伝送するイメージフア
イバと、 イメージフアイバにより伝送された画像を、受
像体を介して撮像する撮像装置と、 撮像装置で撮像した画像を画像処理することに
より、被測定体上の二点とピントが合う撮像体の
位置を求め、このピントが合う両位置間距離から
前記二点を結ぶ線分を前記一直線と平行な面へ投
影した長さを演算するとともに、前記二点を結ぶ
線分を前記一直線と垂直な平面へ投影した長さを
演算し、これらの長さから前記二点間の真の距離
及び角度関係を求める情報処理装置と、 を備えたことを特徴とする。
以下、本発明を図面に示す一実施例にもとづい
て詳細に説明する。
本発明は、三次元空間にある二点間の距離及び
角度関係を求めるために、撮像体がその撮像する
方向に移動される。ところが従来使用されている
TVカメラ等では大きさ、重量的に移動が困難で
あり、そのために本発明は撮像体から撮像装置ま
でイメージフアイバを使つて撮像を送る構造の計
測装置を使用することにより撮像体の移動を容易
にしている。
本発明に使用する計測装置は第1図のような構
造である。構造装置としての本実施例ではTVカ
メラ6に受像体としての本実施例ではレンズ5を
介してイメージフアイバ1の基端部が接続され
る。該イメージフアイバ1の先端部には撮像体と
しての本実施例ではレンズ3が接続される。また
前記TVカメラ6には演算を行なう情報処理装置
7が接続される。
以上のほか、本発明に係る光学的計測方法を使
用するために次のような装置が接続される。即
ち、前記レンズ3が被測定体2に向けて駆動装置
4に取り付けられ、図中上下方向へ移動可能とな
つている。TVカメラ6にはモニタ8が接続され
る。また前述のように、レンズ3を上下動させて
被測定体2とレンズ3との距離を変化させるよう
信号を前記駆動装置4に送る駆動回路9が接続さ
れる。そして前記情報処理装置7からは処理後の
出力信号が取り出し可能となつている。
かかる計測装置を用いれば、従来と同様にレン
ズ3を一ケ所に固定して一平面上(二次元)の二
点間の距離及び角度関係が計測できるほか、本発
明に係る光学的計測方法により、第1図に矢印で
示す上下方向へレンズ3を移動して三次元空間に
ある二点間の距離及び角度関係を計測できる。即
ち、前記駆動回路9から駆動装置4へ信号を送
り、レンズ3を被測定体2に向かう一直線上で往
復移動させる。そして該レンズ3が各高さにある
ときにTVカメラ6に写る画像の輝度分布から、
空間にある二点としての本実施例では被測定体2
の両エツジ10,11に対応する位置での輝度に
関する微係数を算出する。レンズ3が一往復する
間にエツジ10の輝度の微係数が最大となる、つ
まりピントが合うA点及びエツジ11の輝度の微
係数が最大となる(ピントが合う)B点が存在す
る。レンズ3の高さが夫々A点、B点のときで第
4図に対応する位置と輝度との関係を第2図及び
第3図に示す。A点ではエツジ10とピントが合
うので、この位置で輝度の微係数は最大値を示
し、第2図中エツジ10と対応する位置でのグラ
フの傾き12は最大となる。B点ではエツジ11
とピントが合うので、この位置で輝度の微係数は
最大値を示し、第3図中エツジ11と対応する位
置でのグラフの傾き13は最大となる。この最大
となるグラフの傾き12及び13の夫々の中央部
の位置14,15をエツジ10,11に対応する
位置とし、位置14と15間の距離を求めること
ができる。
以上のようにして求めたA点とB点の間の距離
及びTVカメラ6に写る中央部の位置14,15
間の距離から、これらを情報処理装置7で演算す
ることによつて、エツジ10と11を結ぶ線分を
レンズ3が移動する前記一直線と平行な面へ投影
した長さL2とエツジ10と11を結ぶ線分を前
記一直線と垂直な平面へ投影した長さL1を求め
る。そしてこれらの長さL1,L2が、相互に直交
する二辺の長さとなる直角三角形を想定し、該直
角三角形の斜辺の長さを演算することによりエツ
ジ10,11の真の距離が求められ、更に角度関
係、例えばエツジ10,11を結ぶ線分と前記一
直線とのなす角が求められる。
以上、本実施例では三次元空間における二点間
の距離及び角度関係を計測する場合について述べ
たが三点以上の場合においても同様に求めること
ができる。
以上、一実施例を図面とともに説明したよう
に、本発明に係る光学的計測方法では撮像体を被
測定体に向つて移動させるので三次元空間にある
被測定体の計測が可能である。また本発明に係る
計測装置は計測地点から撮像装置までイメージフ
アイバを使用して像を送るので、撮像装置をもち
こめない狭いところでの計測が可能である。又イ
メージフアイバは電気を使わないので、ノイズの
強いところでも撮像装置をノイズ領域から離せば
使用することができる。更にイメージフアイバは
高温に強いため、撮像装置をもちこめない高温領
域での計測が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる計測装置の一実施例を
示す説明図、第2図〜第4図は本発明に係る光学
的計測方法の一実施例を説明するためのもので、
第4図は被測定体の位置関係を示す配置図、第2
図、第3図は夫々第4図に対応する位置での輝度
を示すグラフである。 図面中、1はイメージフアイバ、2は被測定
体、3,5はレンズ、4は駆動装置、6はTVカ
メラ、7は情報処理装置、8はモニタ、9は駆動
回路、10,11はエツジ、12,13はグラフ
の傾き、14,15は中央部の位置である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 空間にある二点へ向けた撮像体を一直線上で
    移動させ、夫々の点とピントが合う撮像体の位置
    を求め、この両位置間距離から前記二点を結ぶ線
    分を前記一直線と平行な面へ投影した長さを演算
    し、撮像体による撮像から前記二点を結ぶ線分を
    前記一直線と垂直な平面へ投影した長さを演算
    し、これらの長さから前記二点間の真の距離及び
    角度関係を求めることを特徴とする光学的計測方
    法。 2 複数の計測点を有する被測定体を撮像する撮
    像体と、 撮像体を被測定体に向う一直線上で往復移動さ
    せる駆動装置と、 撮像体で撮像した画像を伝送するイメージフア
    イバと、 イメージフアイバにより伝送された画像を、受
    像体を介して撮像する撮像装置と、 撮像装置で撮像した画像を画像処理することに
    より、被測定体上の二点とピントが合う撮像体の
    位置を求め、このピントが合う両位置間距離から
    前記二点を結ぶ線分を前記一直線と平行な面へ投
    影した長さを演算するとともに、前記二点を結ぶ
    線分を前記一直線と垂直な平面へ投影した長さを
    演算し、これらの長さから前記二点間の真の距離
    及び角度関係を求める情報処理装置と、 を備えたことを特徴とする計測装置。
JP1182282A 1982-01-29 1982-01-29 光学的計測方法及びそれに用いる計測装置 Granted JPS58129304A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1182282A JPS58129304A (ja) 1982-01-29 1982-01-29 光学的計測方法及びそれに用いる計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1182282A JPS58129304A (ja) 1982-01-29 1982-01-29 光学的計測方法及びそれに用いる計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58129304A JPS58129304A (ja) 1983-08-02
JPH044523B2 true JPH044523B2 (ja) 1992-01-28

Family

ID=11788466

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1182282A Granted JPS58129304A (ja) 1982-01-29 1982-01-29 光学的計測方法及びそれに用いる計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58129304A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6170407A (ja) * 1984-08-08 1986-04-11 Canon Inc 距離測定装置
JPS63128213A (ja) * 1986-11-18 1988-05-31 Mitsutoyo Corp 光学測定機

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5611030A (en) * 1979-07-05 1981-02-04 Olympus Optical Co Displaying device for endoscope

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5611030A (en) * 1979-07-05 1981-02-04 Olympus Optical Co Displaying device for endoscope

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58129304A (ja) 1983-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04115108A (ja) 三次元スキャナ
KR100264393B1 (ko) 프리즘에 의한 스테레오 카메라 시스템
CN101858741A (zh) 一种基于单相机的变焦测距方法
US6424422B1 (en) Three-dimensional input device
CN101858742A (zh) 一种基于单相机的定焦测距方法
CN105699982A (zh) 双激光标定的高精度摄像头芯片多点测距装置及方法
CN105717511A (zh) 基于线束激光器和普通摄像头芯片的多点测距装置及方法
JP3752063B2 (ja) 全方位ステレオ画像撮影装置
JP2002099902A (ja) 両眼立体視によって物体の3次元情報を計測する画像処理装置およびその方法又は計測のプログラムを記録した記録媒体
JPH0483133A (ja) 三次元スキャナ
JPH044523B2 (ja)
JP3343583B2 (ja) 焦点光源付ステレオカメラによる3次元面形状推定方法
JP3501841B2 (ja) 立体物領域検出装置及び立体物領域迄の距離測定装置及びそれらの検出、測定方法
CN105717502A (zh) 一种基于线阵ccd的高速激光测距装置及方法
JPH05322526A (ja) 3次元形状測定装置
JPH05164519A (ja) 線路周辺構造物の三次元形状計測装置
JP4003274B2 (ja) 距離測定装置
JPH0282106A (ja) 光学的3次元位置計測方法
JP2809348B2 (ja) 3次元位置計測装置
JPH05296739A (ja) 輪郭形状測定装置
JP2526543B2 (ja) 物体の高さ測定装置
JP6091092B2 (ja) 画像処理装置、及び画像処理方法
JP2000180263A (ja) 熱画像の自動測定方法及び自動測定装置
KR100395773B1 (ko) 두 장의 사진을 이용한 광 삼각법 삼차원 측정 장치
JPH07139909A (ja) 視点位置計測制御方法