JPH0435414A - 出力回路 - Google Patents

出力回路

Info

Publication number
JPH0435414A
JPH0435414A JP2139855A JP13985590A JPH0435414A JP H0435414 A JPH0435414 A JP H0435414A JP 2139855 A JP2139855 A JP 2139855A JP 13985590 A JP13985590 A JP 13985590A JP H0435414 A JPH0435414 A JP H0435414A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
mos transistor
signal
channel mos
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2139855A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2616142B2 (ja
Inventor
Toshiyuki Kano
敏行 加納
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2139855A priority Critical patent/JP2616142B2/ja
Priority to US07/706,992 priority patent/US5166555A/en
Priority to CA002043610A priority patent/CA2043610C/en
Priority to GB9111626A priority patent/GB2244613B/en
Priority to AU78087/91A priority patent/AU636987B2/en
Publication of JPH0435414A publication Critical patent/JPH0435414A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2616142B2 publication Critical patent/JP2616142B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0013Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
    • H03K19/01721Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は出力回路に関し、特にMO3半導体集積回路で
構成された出力回路に関する。
[従来の技術] 二の種の出力回路は、入力側に接続された前段の回路か
らの出力信号を、出力側に接続された後段の回路に入力
する際に、後段の回路動作か前段の回路動作に悪影響を
及ぼさない様に、また、後段の回路で必要となる入力電
流が得られるように、電源からの電圧信号に変換するた
めに設けられるものである。
従来の出力回路を第2図に示す。
従来の出力回路は、インバーター回路21と、pチャン
ネル型MOSトランジスタ22(以下、単にトランジス
タ22)と、nチャンネル型M○Sトランジスタ23(
以下、単にトランジスタ23)とを有している。
インバーター回路21の入力端子は、入力部24に接続
され、その出力端子はトランジスタ22及び23のゲー
ト端子に接続されている。
トランジスタ22とトランジスタ23のドレイン電極は
出力部25に接続されており、トランジスタ22のソー
ス電極は正電極VDDに、トランジスタ23のソース電
極は負電極vSSに接続されている。
次に第2図の出力回路の動作を説明する。
入力部24に入力される信号が論理“0”のとき、イン
バーター回路21の出力は論理“1′である。トランジ
スタ22はノーマリオン型であり、トランジスタ23は
ノーマリオフ型であるから、トランジスタ22はカット
オフ状態、トランジスタ23はオン状態であって、出力
部25には負電源VSS、即ち、論理“0#が与えられ
る。
入力部24に入力される信号が論理“1°に変わると、
インバーター回路21の出力は論理“0″に変わる。す
ると、トランジスタ22はオン状態、トランジスタ23
はカットオフ状態となり、出力部25には電圧VDD、
即ち論理“1゛が与えられる。
この様にして、従来の出力回路は、入力信号に応答して
出力部に電源電圧を供給している。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の出力回路では、入力信号が変化し
たときに、pチャンネルMO5型トランジスタと、nチ
ャンネルMOS型トランジスタとの双方がオン状態にな
る時間が存在する。このため、pチャンネルMO3型ト
ランジスタとnチャンネルMOS型トランジスタとを介
して、正電源と負電源との間に大電流が流れ、出力回路
の消費電力が増加するという問題点がある。
また、正電源と負電源との間に大電流が流れることによ
って、この電源に接続された他の電源線上にノイズが発
生し、これら電源線に接続された論理回路の誤動作を招
くという問題点もある。
本発明は、入力信号の変化に伴い正電源と負電源との間
に流れる電流を低減させることを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明によれば、入力部に入力された入力信号に応答し
て、電源電圧を出力部へ与える出力回路であって、第1
及び第2のインバーター回路と、NAND回路と、NO
R回路と、所定のチャンネル幅の第1のpチャンネル型
MOSトランジスタ及び第1のnチャンネル型MOSト
ランジスタと、第2のpチャンネル型MOSトランジス
タと、第2のnチャンネル型MOSトランジスタとを有
し、前記入力部は前記第1のインバーター回路の入力端
子と、NAND回路の第1の入力端子と、NOR回路の
第1の入力端子とに接続され、前記第1のインバーター
回路の出力端子は前記第1のpチャンネル型MO8トラ
ンジスタ及び前記第1のnチャンネル型MOSトランジ
スタのゲート電極に接続され、前記第2のインバーター
回路の出力端子は前記NAND回路の第2の入力端子及
び前記NOR回路の第2の入力端子に接続され、前記N
AND回路の出力端子は前記第2のnチャンネル型MO
Sトランジスタのゲート電極に接続され、前記NOR回
路の出力端子は前記第2のnチャンネル型MOSトラン
ジスタのゲート電極に接続され、前記第1及び第2のn
チャンネル型MOSトランジスタのドレイン電極と前記
第1及び第2のnチャンネル型MOSトランジスタのド
レイン電極とは前記第2のインバーター回路の入力端子
に接続されると共に前記出力部に接続され、前記第1及
び第2のpチャンネル型MOSl−ランジスタのソース
電極は正電源に、前記第1及び第2のnチャンネル型M
O5I−ランジスタのソース電極は負電源に接続されて
いることを特徴とする出力回路が得られる。
また、本発明によれば、後段の回路の動作が前段の回路
の動作に悪影響を及ぼさないように、前記前段の回路と
前記後段の回路との間に挿入され、前記前段の回路から
入力信号を入力部で受け、出力部より出力信号を前記後
段の回路へ送出する出力回路であって、前記入力信号及
び前記出力信号の各々は論理“0°値と論理“1′値の
2つの状態をとる2値信号であり、 前記入力信号及び前記出力信号の状態変化時にみに駆動
される過渡期用出力回路と、 前記出力信号が安定したときに、該安定した出力信号を
保持するための安定期用出力回路とを有する出力回路が
得られる。
[実施例] 以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図に本発明の実施例の回路図を示す。
第1図の出力回路は、第1及び第2のインバーター回路
11.12と、NAND回路13と、NOR回路14と
、第1及び第2のpチャンネル型MOSトランジスタ1
5.16と、第1及び第2のnチャンネル型MOSトラ
ンジスタ17.18とを有している。そして、これらは
以下のように接続されている。
入力部19には、第1のインバーター回路11の入力端
子、NAND回路13の第1の入力端子、及びNOR回
路14の第1の入力端子が接続されている。
第1のインバーター回路11の出力端子は、第1のnチ
ャンネル型MOSトランジスタ15のゲート電極及び第
1のnチャンネル型MO5I−ランジスタ17のゲート
電極に接続されている。
NAND回路13の第2の入力端子、及びNOR回路1
4の第2の入力端子には、その入力端子が出力部20に
接続されている第2のインバーター回路12の入力端子
か接続されている。
NAND回路13の出力端子は、第2のpチャンネル型
MOSトランジスタ16のゲート電極に接続されている
前記NOR回路の出力端子は、前記第2のnチャンネル
型MOSトランジスタ18のゲート電極に接続されてい
る。
第1及び第2のnチャンネル型MOSトランジスタ15
.16のドレイン電極と、前記第1及び第2のnチャン
ネル型MOSトランジスタ17.18のドレイン電極と
は出力部20に接続されている。
前記第1及び第2のnチャンネル型MOSトランジスタ
15.16のソース電極は正電源VDDに、前記第1及
び第2のnチャンネル型MOSトランジスタ17.18
のソース電極は負電源に接続されている。
なお、第1のpチャンネル型MOSトランジスタ]5及
び第1のnチャンネル型MO5hランジスタ170チャ
ンネル幅は、双方がオン状態のときに、正電源VDDと
負電源vSSとの間に流れる貫通電流か所定の電流値以
上にならないような大きさに設定されている。また、第
2のnチャンネル型MOSトランジスタ16、第2のn
チャンネル型トランジスタ18のチャンネル幅は、高駆
動能力を得るために、第1のnチャンネル型MOSトラ
ンジスタ15及び第1のnチャンネル型MOSトランジ
スタ17のチャンネル幅より大きいものか好ましい。
この出力回路では、第1のインバーター回路11と、第
1のnチャンネル型MOSトランジスタ15と、第1の
nチャンネル型MOSトランジスタ17とが、出力信号
が安定したときに、安定した出力信号を保持する安定期
用出力回路を構成している。また、第2のインバーター
回路12、NAND回路13、NOR回路14、第2の
pチャンネル型MOSトランジスタ16、及び、第2の
。チャンネル型MOSトランジスタ18が、出力信号が
論理“0°から論理“1°へ、または、論理゛1°から
論理“0°へ変化するときに駆動される過渡期用出力回
路を構成している。
次に、この出力回路の動作を説明する。
入力部19に与えられる入力信号が、論理“0゜のとき
、第1、第2のpチャンネル型MO8トランジスタ15
.16、及び第2のnチャンネル型MOSトランジスタ
18はカットオフ状態、第1のnチャンネル型MOSト
ランジスタ17はオン状態である。従って、出力部20
には第1のnチャンネル型MOSトランジスタ17を介
して論理“0° (VSS)が供給されている。
ここで、入力信号が論理“0°から論理“1゜へ変わる
と、第1のインバーター回路11の出力は論理“1”か
ら論理“0”へ変わる。また、出力部20は論理“0°
であるから、第2のインバーター回路12の出力は論理
“1″であり、NAND回路13の出力も論理“1°か
ら論理“0′へ変わる。一方、NOR回路14の出力は
論理“0°のままである。
これにより、第1及び第2のnチャンネル型MOSトラ
ンジスタ15.16はオン状態になり、第1のnチャン
ネル型MOSトランジスタ17はカットオフ状態になる
。また、第2のnチャンネル型MOSトランジスタ18
は、カットオフ状態のままである。これにより、出力部
20に“1“(VDD)が供給される。
なお、第2のpチャンネル型MOSトランジスタ16の
チャンネル幅は広く、出力部20に大きな電流を供給す
ることができ、高駆動能力の出力回路を実現している。
ここで、第1及び第2のpチャンネル型MOSトランジ
スタ15.16がオン状態になった時点で、第1のnチ
ャンネル型MOSトランジスタ17がカットオフ状態に
なっていない時間が存在する場合がある。このとき、正
電源VDDから負電源vSSへ、第1及び第2のpチャ
ンネル型MOSトランジスタ15.16と、第1のnチ
ャンネル型MOSトランジスタ17を介して電流が流れ
てしまう。
しかし、本実施例では、第1のnチャンネル型MoSト
ランジスタ17のチャンネル幅は小さく、ドレイン・ソ
ース間には所定の電流値以上の電流は流れない。従って
、正電極VDDから負電極VSSへ大電流が流れること
はない。
続いて、出力部20に論理“1”が与えられ、第2のイ
ンバーター回路12のしきい値電圧を越えると出力は論
理“0°となる。これにより、NAND回路13の出力
は論理“1“になり、第2のpチャンネル型MOSトラ
ンジスタ16はカットオフ状態になる。即ち、出力部2
0では、第1のpチャンネル型MOSトランジスタ15
によってのみ、論理“1′が保持される。
次に、入力信号が論理“1”から論理“O゛に変わると
、第1のインバーター回路11の出力は論理“1”にな
る。第2のインバーター回路12の出力はいまだ論理“
0”であるのでN A’ N D回路13の出力は論理
“0”で変化せず、NOR回路14の出力は“1”に変
化する。
第1のインバーター回路11の出力が論理“1”になる
と、第1のpチャンネル型MO5I−ランジスタ15は
カットオフ状態、第10チセンネル型MOSトランジス
タ17はオン状態へと変化する。
同時に、NOR回路14からの論理“1′が入力された
第2のnチャンネル型MOSトランジスタ18もオン状
態になる。
このときも、第1及び第2のpチャンネル型MOSトラ
ンジスタ17.18がオンしたとき、第1のpチャンネ
ル型MOSトランジスタ15が依然オン状態のままの時
間が存在する。しかし、第1のpチャンネル型MOSト
ランジスタ15のチャンネル幅は小さく、そこに流れる
電流は所定の電流値に制限されるので、正電源VDDと
負電源VSS間に大電流が流れるようなことはない。
次に、第1、第2のnチャンネル型トランジスタ17.
18がオンし、第1のpチャンネル型MOSトランジス
タがカットオフすると、出力部20には論理“0” (
VSS)が与えられる。
出力部20に論理“0”が与えられ、その電位が第2の
インバーター回路12のしきい値を下回ると、第2のイ
ンバーター回路12の出力は論理″1′となる。
第2のインバーター回路12の出力が論理“1″になる
と、NOR回路14の出力が論理“0”になり、第2の
nチャンネル型MoSトランジスタ18はカットオフ状
態になる。そして、第1のnチャンネル型MOSトラン
ジスタ17を介してのみ出力信号を論理“0°に保持す
る。
上述のように、本実施例ではチャンネル幅の小さいMO
Sトランジスタと、チャンネル幅の大きいMOSトラン
ジスタを組み合わせることて、出力信号が変化する際は
、チャンネル幅の大きいkiOSトランジスタが高駆動
能力を実現すると共に、正電源VDDと負電源VSSと
の間に流れる電流をチャンネル幅の小さいMOSトラン
ジスタか低減する。
また、電源間の電流を低減したことtこより、雑音の発
生、及び雑音による論理回路の誤動作を防止することが
できる。
[発明の効果コ 本発明によれば、入力部に第1のインバーター回路の入
力端子と、NAND回路の第1の入力端子と、NOR回
路の第1の入力端子とを接続し、第2のインバーター回
路の出力端子をNAND回路の第2の入力端子及びNO
R回路の第2の入力端子に接続し、第1のインバーター
回路の出力端子を所定のチャンネル幅の第1のnチャン
ネル型MOSトランジスタ及び第1のnチャンネル型M
OSトランジスタのゲート電極に接続し、NAND回路
の出力端子を第2のnチャンネル型MOSトランジスタ
のゲート電極に接続し、NOR回路の出力端子を第2の
nチャンネル型MOSトランジスタのゲート電極に接続
し、第1及び第2のnチャンネル型MOSトランジスタ
のドレイン電極と第1及び第2のnチャンネル型MOS
トランジスタのドレイン電極とを第2のインバーター回
路の入力端子に接続すると共に出力部に接続し、第1及
び第2のpチャンネル型MOSトランジスタのソース電
極を正電源に、第1及び第2のnチャンネル型MOSト
ランジスタのソース電極を負電源に接続して出力回路を
構成したことで、高駆動能力、低雑音、かつ低消費電力
を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の出力回路の一実施例の回路図、第2図
は従来の出力回路の回路図である。 11.12.21・・・インバーター回路、13・・・
NAND回路、14・・・NOR回路、15,16゜2
2・・・pチャンネル型MOSトランジスタ、17゜1
8.23・・・nチャンネル型MOSトランジスタ、1
9.24・・・入力部、20.25・・・出力部。 第1図 DD OO 第2図 D0 \vss ss ss

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入力部に入力された入力信号に応答して、電源電圧
    を出力部へ与える出力回路であって、第1及び第2のイ
    ンバーター回路と、NAND回路と、NOR回路と、所
    定のチャンネル幅を有する第1のpチャンネル型MOS
    トランジスタ及び第1のnチャンネル型MOSトランジ
    スタと、第2のpチャンネル型MOSトランジスタと、
    第2のnチャンネル型MOSトランジスタとを有し、前
    記入力部は前記第1のインバーター回路の入力端子と、
    NAND回路の第1の入力端子と、NOR回路の第1の
    入力端子とに接続され、 前記第1のインバーター回路の出力端子は前記第1のp
    チャンネル型MOSトランジスタ及び前記第1のnチャ
    ンネル型MOSトランジスタのゲート電極に接続され、 前記第2のインバーター回路の出力端子は前記NAND
    回路の第2の入力端子及び前記NOR回路の第2の入力
    端子に接続され、 前記NAND回路の出力端子は前記第2のpチャンネル
    型MOSトランジスタのゲート電極に接続され、 前記NOR回路の出力端子は前記第2のnチャンネル型
    MOSトランジスタのゲート電極に接続され、 前記第1及び第2のpチャンネル型MOSトランジスタ
    のドレイン電極と前記第1及び第2のnチャンネル型M
    OSトランジスタのドレイン電極とは前記第2のインバ
    ーター回路の入力端子に接続されると共に前記出力部に
    接続され、 前記第1及び第2のpチャンネル型MOSトランジスタ
    のソース電極は正電源に、前記第1及び第2のnチャン
    ネル型MOSトランジスタのソース電極は負電源に接続
    されている ことを特徴とする出力回路。 2、後段の回路の動作が前段の回路の動作に悪影響を及
    ぼさないように、前記前段の回路と前記後段の回路との
    間に挿入され、前記前段の回路から入力信号を入力部で
    受け、出力部より出力信号を前記後段の回路へ送出する
    出力回路であって、前記入力信号及び前記出力信号の各
    々は論理“0”値と論理“1”値の2つの状態をとる2
    値信号であり、 前記入力信号及び前記出力信号の状態変化時にみに駆動
    される過渡期用出力回路と、 前記出力信号が安定したときに、該安定した出力信号を
    保持するための安定期用出力回路とを有する出力回路。 3、前記安定期用出力回路は、 前記入力信号を反転して第1の反転信号を出力する第1
    のインバーター回路と、 前記第1の反転信号がゲート電極に供給され、ソース電
    極には正電源が接続され、ドレイン電極が前記出力部に
    接続された第1のpチャンネル型MOSトランジスタと
    、 前記第1の反転信号がゲート電極に供給され、ソース電
    極には負電源が接続され、ドレイン電極が前記出力部に
    接続された第1のnチャンネル型MOSトランジスタと
    を有し、 前記過渡期用出力回路は、 前記出力信号を反転して第2の反転信号を出力する第2
    のインバーター回路と、 前記入力信号と前記第2の反転信号とのNAND演算を
    行いNAND結果信号を出力するNAND回路と、 前記入力信号と前記第2の反転信号とのNOR演算を行
    いNOR結果信号を出力するNOR回路と、 前記NAND結果信号がゲート電極に供給され、ソース
    電極には前記正電源が接続され、ドレイン電極が前記出
    力部に接続された第2のpチャンネル型MOSトランジ
    スタと、 前記NOR結果信号がゲート電極に供給され、ソース電
    極には前記負電源が接続印加され、ドレイン電極が前記
    出力部に接続された第2のnチャンネル型MOSトラン
    ジスタとを有し、 前記第1のpチャネル型MOSトランジスタと前記第1
    のnチャネル型MOSトランジスタの各々は、前記入力
    信号の状態が変化することによって前記第1のpチャネ
    ル型MOSトランジスタと前記第1のnチャネル型MO
    Sトランジスタとが同時にオン状態になるときに前記正
    電源から前記負電源へ前記第1のpチャネル型MOSト
    ランジスタと前記第1のnチャネル型MOSトランジス
    タを介して流れる貫通電流が所定の電流値以下となるよ
    うなチャンネル幅をもつ ことを特徴とする請求項2記載の出力回路。
JP2139855A 1990-05-31 1990-05-31 出力回路 Expired - Lifetime JP2616142B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2139855A JP2616142B2 (ja) 1990-05-31 1990-05-31 出力回路
US07/706,992 US5166555A (en) 1990-05-31 1991-05-29 Drive circuit comprising a subsidiary drive circuit
CA002043610A CA2043610C (en) 1990-05-31 1991-05-30 Drive circuit comprising a subsidiary drive circuit
GB9111626A GB2244613B (en) 1990-05-31 1991-05-30 Drive circuit comprising a subsidiary drive circuit
AU78087/91A AU636987B2 (en) 1990-05-31 1991-05-31 Drive circuit comprising a subsidiary drive circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2139855A JP2616142B2 (ja) 1990-05-31 1990-05-31 出力回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0435414A true JPH0435414A (ja) 1992-02-06
JP2616142B2 JP2616142B2 (ja) 1997-06-04

Family

ID=15255109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2139855A Expired - Lifetime JP2616142B2 (ja) 1990-05-31 1990-05-31 出力回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5166555A (ja)
JP (1) JP2616142B2 (ja)
AU (1) AU636987B2 (ja)
CA (1) CA2043610C (ja)
GB (1) GB2244613B (ja)

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2573431B2 (ja) * 1991-04-30 1997-01-22 株式会社東芝 出力バッファ回路
JP2567172B2 (ja) * 1992-01-09 1996-12-25 株式会社東芝 半導体回路の出力段に配置される出力回路
JPH05276004A (ja) * 1992-03-30 1993-10-22 Mitsubishi Electric Corp 出力回路
US5270585A (en) * 1992-07-27 1993-12-14 Motorola, Inc. Output driver stage with two tier current limit protection
JPH06112801A (ja) * 1992-09-29 1994-04-22 Hitachi Ltd 出力回路
KR960009247B1 (en) * 1993-06-08 1996-07-16 Samsung Electronics Co Ltd Data output buffer of semiconductor integrated circuit
GB9321396D0 (en) * 1993-10-16 1993-12-08 Motorola Inc A transition control circuit for driver circuits
GB2318233B (en) * 1993-10-16 1998-05-27 Motorola Inc A transition control circuit for driver circuits
JPH07307649A (ja) * 1994-05-13 1995-11-21 Fujitsu Ltd 電子装置
US5488322A (en) * 1994-08-29 1996-01-30 Kaplinsky; Cecil H. Digital interface circuit with dual switching points for increased speed
US5486782A (en) * 1994-09-27 1996-01-23 International Business Machines Corporation Transmission line output driver
JP2907053B2 (ja) * 1995-02-21 1999-06-21 日本電気株式会社 スイッチング速度変動検出装置
US5528166A (en) * 1995-03-14 1996-06-18 Intel Corporation Pulse controlled impedance compensated output buffer
EP0823148B1 (de) * 1995-04-28 2000-01-19 Siemens Aktiengesellschaft Gtl-ausgangsverstärker zum einkoppeln eines am eingang anliegenden eingangssignales in eine am ausgang anliegende übertragungsleitung
US5568062A (en) * 1995-07-14 1996-10-22 Kaplinsky; Cecil H. Low noise tri-state output buffer
US5877647A (en) * 1995-10-16 1999-03-02 Texas Instruments Incorporated CMOS output buffer with slew rate control
US5739715A (en) * 1995-10-31 1998-04-14 Hewlett-Packard Co. Digital signal driver circuit having a high slew rate
KR0175279B1 (ko) * 1996-04-04 1999-04-01 김광호 Cmos 출력버퍼회로
US6046621A (en) * 1996-09-30 2000-04-04 Advanced Micro Devices, Inc. Differential signal generator with dynamic beta ratios
US6356102B1 (en) 1998-11-13 2002-03-12 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having control circuits therein that utilize output signal feedback to control pull-up and pull-down time intervals
US6242942B1 (en) * 1998-11-13 2001-06-05 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having feedback switches therein for reducing simultaneous switching noise and improving impedance matching characteristics
US6288563B1 (en) * 1998-12-31 2001-09-11 Intel Corporation Slew rate control
DE19942688C2 (de) * 1999-09-07 2001-11-29 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb einer elektronischen Schaltung und elektronische Schaltung
US6414523B1 (en) * 2000-01-24 2002-07-02 Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. Pull-up method and apparatus for a universal serial bus output driver
US6636069B1 (en) 2000-03-22 2003-10-21 Intel Corporation Method and apparatus for compensated slew rate control of line termination
US6924669B2 (en) * 2000-03-30 2005-08-02 Fujitsu Limited Output buffer circuit and control method therefor
US6426652B1 (en) * 2001-05-14 2002-07-30 Sun Microsystems, Inc. Dual-edge triggered dynamic logic
US20020171898A1 (en) * 2001-05-15 2002-11-21 Patton Charles Milan Method and apparatus for using strategically located reflectors to create pathways for networking of line-of-sight computing devices
US6359478B1 (en) * 2001-08-31 2002-03-19 Pericom Semiconductor Corp. Reduced-undershoot CMOS output buffer with delayed VOL-driver transistor
US6680629B2 (en) * 2001-12-18 2004-01-20 Lsi Logic Corporation 5 V tolerant hot carrier injection (HCI) protection circuit
GB2388981B (en) * 2002-05-20 2006-11-15 Micron Technology Inc Increasing drive strength and reducing propagation delays through the use of feedback
JP4286041B2 (ja) * 2002-07-15 2009-06-24 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US6894529B1 (en) 2003-07-09 2005-05-17 Integrated Device Technology, Inc. Impedance-matched output driver circuits having linear characteristics and enhanced coarse and fine tuning control
DE10355509A1 (de) * 2003-11-27 2005-07-07 Infineon Technologies Ag Schaltung und Verfahren zum verzögerten Einschalten einer elektrischen Last
US6967501B1 (en) 2003-12-18 2005-11-22 Integrated Device Technology, Inc. Impedance-matched output driver circuits having enhanced predriver control
US6980018B2 (en) * 2004-04-29 2005-12-27 Internatiional Business Machines Corporation Self limiting gate leakage driver
US7142018B2 (en) * 2004-06-08 2006-11-28 Transmeta Corporation Circuits and methods for detecting and assisting wire transitions
US7405597B1 (en) 2005-06-30 2008-07-29 Transmeta Corporation Advanced repeater with duty cycle adjustment
US7119580B2 (en) * 2004-06-08 2006-10-10 Transmeta Corporation Repeater circuit with high performance repeater mode and normal repeater mode
US7656212B1 (en) 2004-06-08 2010-02-02 Robert Paul Masleid Configurable delay chain with switching control for tail delay elements
US7635992B1 (en) 2004-06-08 2009-12-22 Robert Paul Masleid Configurable tapered delay chain with multiple sizes of delay elements
US7304503B2 (en) * 2004-06-08 2007-12-04 Transmeta Corporation Repeater circuit with high performance repeater mode and normal repeater mode, wherein high performance repeater mode has fast reset capability
US7336103B1 (en) 2004-06-08 2008-02-26 Transmeta Corporation Stacked inverter delay chain
US7498846B1 (en) * 2004-06-08 2009-03-03 Transmeta Corporation Power efficient multiplexer
US7173455B2 (en) * 2004-06-08 2007-02-06 Transmeta Corporation Repeater circuit having different operating and reset voltage ranges, and methods thereof
US7071747B1 (en) * 2004-06-15 2006-07-04 Transmeta Corporation Inverting zipper repeater circuit
US7888962B1 (en) 2004-07-07 2011-02-15 Cypress Semiconductor Corporation Impedance matching circuit
US7142015B2 (en) * 2004-09-23 2006-11-28 International Business Machines Corporation Fast turn-off circuit for controlling leakage
US7330080B1 (en) 2004-11-04 2008-02-12 Transmeta Corporation Ring based impedance control of an output driver
US7592842B2 (en) * 2004-12-23 2009-09-22 Robert Paul Masleid Configurable delay chain with stacked inverter delay elements
US20070013425A1 (en) * 2005-06-30 2007-01-18 Burr James B Lower minimum retention voltage storage elements
US8036846B1 (en) 2005-10-20 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Variable impedance sense architecture and method
US7394681B1 (en) 2005-11-14 2008-07-01 Transmeta Corporation Column select multiplexer circuit for a domino random access memory array
US7642866B1 (en) 2005-12-30 2010-01-05 Robert Masleid Circuits, systems and methods relating to a dynamic dual domino ring oscillator
US7414485B1 (en) 2005-12-30 2008-08-19 Transmeta Corporation Circuits, systems and methods relating to dynamic ring oscillators
JP4836592B2 (ja) * 2006-02-09 2011-12-14 ソニー株式会社 ロボット装置及びその制御方法
US7710153B1 (en) 2006-06-30 2010-05-04 Masleid Robert P Cross point switch
US7388404B1 (en) * 2006-07-26 2008-06-17 National Semiconductor Corporation Driver circuit that limits the voltage of a wave front launched onto a transmission line
TWI388120B (zh) * 2009-12-17 2013-03-01 Phison Electronics Corp 輸入/輸出介面的驅動電路
KR20170068720A (ko) * 2015-12-09 2017-06-20 에스케이하이닉스 주식회사 인버터회로

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02237309A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア
JPH03175728A (ja) * 1989-12-04 1991-07-30 Matsushita Electron Corp 半導体メモリ装置
JPH03195120A (ja) * 1989-12-22 1991-08-26 Sharp Corp 半導体出力回路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR920006438B1 (ko) * 1985-04-22 1992-08-06 엘 에스 아이 로직 코포레이션 슬루 레이트(slew rate)가 제어되는 고속 CMOS 버퍼
US5030860A (en) * 1988-02-16 1991-07-09 Texas Instruments Incorporated Darlington BiCMOS driver circuit
KR920009870B1 (ko) * 1988-04-21 1992-11-02 삼성반도체통신 주식회사 Bi-CMOS 인버터 회로
US5023472A (en) * 1988-09-09 1991-06-11 Texas Instruments Incorporated Capacitor-driven signal transmission circuit
JPH0777345B2 (ja) * 1988-11-04 1995-08-16 三菱電機株式会社 半導体装置
US5079439A (en) * 1989-06-30 1992-01-07 Standard Microsystems Corporation Noise rejecting TTL to CMOS input buffer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02237309A (ja) * 1989-03-10 1990-09-19 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア
JPH03175728A (ja) * 1989-12-04 1991-07-30 Matsushita Electron Corp 半導体メモリ装置
JPH03195120A (ja) * 1989-12-22 1991-08-26 Sharp Corp 半導体出力回路

Also Published As

Publication number Publication date
AU636987B2 (en) 1993-05-13
US5166555A (en) 1992-11-24
GB9111626D0 (en) 1991-07-24
GB2244613A (en) 1991-12-04
GB2244613B (en) 1994-08-10
CA2043610A1 (en) 1991-12-01
AU7808791A (en) 1991-12-05
CA2043610C (en) 1996-07-09
JP2616142B2 (ja) 1997-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0435414A (ja) 出力回路
JP3031313B2 (ja) 半導体回路
JP2001156619A (ja) 半導体回路
US6396306B2 (en) Regenerative tie-high tie-low cell
KR970001697B1 (ko) 레벨 변환 회로
JP3556533B2 (ja) レベルシフタ回路
JP2769653B2 (ja) 反転回路
JPH0677804A (ja) 出力回路
JPH0437217A (ja) 論理レベル変換回路
KR970031312A (ko) 3-상태회로의 출력 안정화회로
JP3052433B2 (ja) レベルシフト回路
JP3557694B2 (ja) 出力回路
JPH05122049A (ja) 出力バツフア回路
JP3382144B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP3192049B2 (ja) バッファ回路
JP2000194432A (ja) Cmosロジック用電源回路
JPH0779150A (ja) 半導体集積回路
JPH1031889A (ja) アドレスデコーダ
JPS63284925A (ja) 出力バッファ回路
JPS62135013A (ja) 出力回路
JPH05327443A (ja) バッファ回路
JP3031090B2 (ja) 出力ポート回路
JP2934265B2 (ja) 相補型mos出力回路
JPH0563543A (ja) 入力回路
JP2674910B2 (ja) スリーステートバッファ回路