JPH042939A - 光ディスクヘッド部非点収差検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクヘッド部非点収差検出装置、特に
光ディスクヘッド部の組立時、調整時に光デイスクヘッ
ト部の非点収差を自動的に検出する光ティスクｌ＼ツド
部非点収差検出装置に関する。

〔共通的技術〕

一般に、光ティスフヘット部の構成は第７図の様になっ
ている。

第７図に示す光デイスクヘット部は光源である半導体レ
ーザ１６と、コリメータレンズ１７と、フォーカスザー
ボ用アクチュエータ１−８と、収束レンズ１つから構成
される。

光ディスクヘッド部は光源に半導体レーザを使用してい
るなめに出射するレーザ光の非点収差を測定し修正する
必要がある。

〔従来の技術〕

従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は非測定物
である光ヘツド部に含まれる半導体レーザを駆動する電
源部と、光ディスクヘッド部を移動させる手動ステージ
と、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビーム
ウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する９０度の角を
持ったナイフェツジ部と、ナイフェツジ部を振動させる
発振器と、ナイフェツジ部を通過した半導体レーザ光を
受光しその受光量に比例した電流を出力するフォトディ
テクタと、そのフォトディテクタから出力した電流を時
間で微分する微分回路と、その微分回路で時間微分され
た微分信号の波形を見るためのオシロスコープを含んで
構成される。

第８図は従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置の
一例を示すブロック図である。

第８図に示す光ディスクヘッド部非点収差検出装置は被
測定物である光ディスクヘッド部３１−に含まれる半導
体レーザを駆動する電源部２０と、光ディスクヘッド部
３１を移動させる手動ステージ２１−と、光ディスクヘ
ッド部３］で収束されたレーザ光のビームウェスト付近
を光軸方向に垂直に振動する９０度の角を持ったナイフ
ェツジ部２２と、ナイフェツジ部２２を振動させる発振
器２３と、ナイフェツジ部２２を通過したレーザ光を受
光しその受光量に比例した電流を出力するフォトディテ
クタ２４と、その電流を時間で微分する微分回路２５と
、その微分回路２５て時間微分された微分された微分信
号の波形を見るためのオシロスコープ２６を含んでいる
。

光ディスクヘット部の被点収差の検出は以下のように行
う。

まず光ティスフヘッド部３１の半導体レーザ１６を光デ
ィスクヘッド部用電源で発光させそのレーザ光をコリメ
ータレンズ］７で平行光に近くする。次にそのレーザ光
を収束レンズ部］っで収束させる。収束したレーザ光は
ナイフェツジ部２２で光軸方向に垂直に切断される。

ナイフェツジ部はガラス板２７と、９０度の角を持つナ
イフェツジパターン部２８から構成される（第９図およ
び第１０図参照）。

レーザビーム短軸方向、長軸方向をそれぞれＸ軸、Ｙ軸
としたときナイフェツジパターンの４辺かＸ軸Ｙ軸と一
致させ、ナイフェツジパターンをＩ−Ｉａの矢印の方向
に、４５度の角度で振動させナイフェツジパターンの右
下の角かレーザビームを切断するようにナイフェツジ部
２２に位置を調整する。

そのときナイフェツジパターン部はレーザビームを１ス
トローク中に短軸方向長軸方向の２方向から次々に切断
する。その時ナイフェツジ部２２を通過したレーザ光を
フォトディテクタ２４で受光し、そのフォトディテクタ
が出力する電流の波形は第１−１図の様になる。その電
流は微分回路２５で時間微分され、第１２図に示すよう
な波形がオシロスコープ２６の画面に表示される。

第１２図の正側負側の４つの波形Ｅ、Ｆ、ＧＨのうち、
ＥとＨ，ＦとＧの波形はそれぞれ同一であり符号が逆転
している。

このうちＥとＦに注目したがら収束レンズ部の調整機能
により収束レンズ部を光軸方向に移動させる。２つの波
形ＥとＦとがそれぞれ正側負側の最大値（絶対値で）を
とる時の収束レンズ部の位置の差が被測定物の被点収差
になる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は
以下のような理由により検出精度が悪く検出時間が長く
かかるという欠点があった。

非点収差の測定をオシロスコープ上の画面の波形のみを
見て行うなめその時点の波形が最大値であるかどうかの
判定か困難であり測定時間がかかってしまう。またその
時点の非点収差の大きさが数字で分７！りらないため、
客観的な判断基準がなく、測定精度が作業者により異な
ってしまう。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、被測
定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レーザ
を駆動する電源部と、光ディスクヘッド部のフォーカス
サーボ用アクチエエータを駆動するコントローラ部と、
光ティスフヘッド部で収束されなレーザ光のビームウェ
スＩ・付近を光軸方向に垂直に振動する９０度の角を持
つナイフェツジ部と、ナイフェツジ部を振動させる発振
器と、ナイフェツジ部を通過したレーザ光を受光しその
受光量に比例した電流を出力するフォトディテクタと、
そのフォトディテクタから出力した電流を時間で微分す
る微分回路と、微分回路で微分された電流信号のうち必
要な部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路と
、サンプルホールド回路で取り出された信号から正側の
みの信号波形と負側のみの信号波形とをそれぞれ取り出
す２つの整流回路と、２つに分けられた信号波形の正側
負側それぞれのピーク値を求めるための２つのコンパレ
ータと、ピーク値を取るときの収束レンズ部の位置をコ
ントローラから求めて記憶する２つのメモリーと、正側
負側２つのメモリーの収束レンズ部の位置から被測定物
の非点収差を求めるコンパレータとを含んで構成される
。

〔実施例〕

第１−図は本発明の一実施例を示すフロック図である。

第１図に示ず光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、
非測定物である光ディスクヘッド部と非測定物である光
ディスクヘッド部に含まれる半導体レーザを駆動する電
源部１と、光ティスフヘット部のフォーカスサーボ用ア
クチエエータを駆動するコントローラ部３と、光ディス
クヘッド部で収束されなレーザ光のビームウェスト付近
を光軸方向に垂直に振動する９０度の角を持つナイフェ
ツジ部４と、ナイフェツジ部を振動させる発振器５と、
ナイフェツジ部を通過したレーザ光を受光しその受光量
に比例した電流を出力するフォトディテクタ６・と、そ
のフォトディテクタから出力されな信号を時間で微分す
る微分回路７と、微分回路で微分された信号のうち必要
な部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路８と
、サンプルホールド回路でサンプルされた電流信号から
正側のみの電流信号を負側のみの電流信号とをそれぞれ
取り出す２つの整流回路、整流回路■９と整流回路■１
−０と、２つに分けられた電流信号の正側負側それぞれ
のピーク値を求めるための２つのコンパレータ、コンパ
レータ■１１と、コンパレータ■１−２と、ピーク値を
とるときの収束レンズ部の位置をコントローラから求め
て記憶するメモリー回路■１３と、メモリー回路■１４
と、正側負側２つのメモリーの収束レンズ部の位置の値
から被測定物の非点収差を求めるコンパレータ■１５を
含んで構成される。

被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レ
ーザ１６は、電源部１により駆動される。

半導体レーザ１６より発光したレーザ光はコリメータレ
ンズ１７で平行光にされ収束レンズ１つで収束され光デ
ィスクヘッド部から出射する。

光ディスクヘッド部から出射したレーザ光はナイフェツ
ジ部４により光軸方向に垂直に切断される。

ナイフェツジ部を通過したレーザ光はフォトディテクタ
６に入射する。フォトディテクタは入射したレーザ光の
光量に比例した電流を出力する。第２図はその電流信号
波形の例である。

フォトディテクタから出力する電流は微分回路７により
時間微分され、そのときの波形は第３図の様になる。第
３図においてＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄの波形のうちＡとＢ、Ｃと
Ｄの電流信号波形はそれぞれ同一であり符号か逆転して
いる。微分回路によって微分された信号はサンプルホー
ルド回路８により必要な部分の信号のみ（第３図の波形
ではＢとＣの波形）が取り出され、その時の信号波形は
第４図のようになる。

サンプルホールド回路によって取り出された信号波形は
整流回路■９と整流回路■１０の両方に入力される。入
力された信号波形のうち整流回路■９は正側の信号波形
のみを出力し、整流回路■１０は逆に負側の信号波形の
みを出力する。

整流回路■９．整流回路■コ０からそれぞれ出力する信
号波形は第５図、第６図のようになる。

整流回路■９から出力された信号波形はコンパレータ■
１］に入力され、その時点までの最大値と比較される。

最大値より大きいとその値はコンパレータ■］］の比較
基準電圧レベルになり、その時のフォーカスサーボ用ア
クチュエータ］８の位置はコントローラからもとめられ
てメモリー回路■１１に記憶させる。

同様に整流回路■］０から出力された信号波形はコンパ
レータ■１２に入力され、その時点までの最小値と比較
される。

最小値より小さいとその値はコンパレータ■１２の比較
基準電圧レベルになる、その時のフォーカスサーボ用ア
クチュエータの位置はコントローラから求められてメモ
リー回路■］２に記憶させる。

次に、コントローラ３により光ディスクヘッド部のフォ
ーカスサーボ用アクチュエータ１８を光軸方向に一定距
離移動し、以上の手順を繰り返す。

最終的にフォーカスサーボ用アクチュエータ］８の移動
か終了した時のメモリー■と、メモリー■に記憶されて
いるフォーカスサーボ用アクチュエータの位置の差が被
測定物の非点収差になる。

〔発明の効果〕

本発明の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、フォ
ーカスサーボ゛用アクチュエータをコントローラ部で°
動かしたがらフォトディテクタの出力電流を時間微分し
必要な部分の信号のみを取り出し、それを正側と負側と
に分けられそれぞれの絶対値の最大値を求め、非点収差
を検出するなめ、非点収差の測定時間が短くなり測定精
度が向上する。また収束レンズを移動させるのに非測定
物である光ティスフヘッド部のフォーカスサーボ用アク
チュエータを使用するため、装置の構成が簡単になると
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すフロック図、第２図は
第１図に示ずフォトディテクタの出力電流の波形図、第
３図は第１図に示す微分回路の出力電流波形図、第４図
は第１図に示すサンプルホールド回路の出力信号波形図
、第５図は正側の整流回路■の出力信号波形図、第６図
は負側の整流回路■の出力信号波形図、第７図は光ディ
スクヘッド部の構成図、第８図は従来の１例を示ずブロ
ック図、第９図はナイフェツジ部の構成図、第１０図は
ナイフェツジ部とレーザビームとの位置関係を説明する
図、第１１図はフォトディテクタの出力波形図、第１２
図は第８図のオシロスコープの画面上の波形図である。 １・・・電源部、３・・・コントローラ部、４・・・ナ
イフェツジ部、５・・・発振器、６・・・フォトディテ
クタ、７・・微分回路、８・・・サンプルホールド回路
、９・・・整流回路■、１０・・・整流回路■、１１・
・・コンパレータ■、１２・・・コンパレータ■、１３
・・・メモリー回路■、１４・・メモリー回路■、１５
・・・コンパレータ■、３０・・・光ティスフヘッド部
。 第 図 Ｘ　賽 第

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レ
   ーザを駆動する電源部と、光ディスクヘッド部のフォー
   カスサーボ用アクチュエータを駆動するコントローラ部
   と、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビーム
   ウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する９０度の角を
   持つナイフエッジ部と、ナイフエッジ部を振動させる発
   振器と、ナイフエッジ部を通過したレーザ光を受光しそ
   の受光量に比例した電流を出力するフォトディテクタと
   、そのフォトディテクタから出力した電流を時間で微分
   する微分回路と、微分回路で微分された電流信号のうち
   所定の部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路
   と、サンプルホールド回路で取り出された信号から正側
   のみの信号と負側のみの信号とをそれぞれ取り出す２つ
   の整流回路と、２つに分けられた信号の正側負側それぞ
   れのピーク値を求めるための２つのコンパレータと、ピ
   ーク値を取るときの収束レンズ部の位置をコントローラ
   から求めて記憶する２つのメモリーと、正側負側２つの
   メモリーの収束レンズ部の位置の値から被測定物の非点
   収差を求めるコンパレータとを含むことを特徴とする光
   ディスクヘッド部非点収差検出装置。