JPH04251444A - 光ピックアップの合焦調整装置 - Google Patents
光ピックアップの合焦調整装置Info
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- JPH04251444A JPH04251444A JP41686590A JP41686590A JPH04251444A JP H04251444 A JPH04251444 A JP H04251444A JP 41686590 A JP41686590 A JP 41686590A JP 41686590 A JP41686590 A JP 41686590A JP H04251444 A JPH04251444 A JP H04251444A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 41
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＤ（コンパクトディ
スク）プレーヤなどにおける光ピックアップの合焦調整
装置にかかり、特に生産組立て時における自動調整に好
適な光ピックアップの合焦調整装置に関する。
スク）プレーヤなどにおける光ピックアップの合焦調整
装置にかかり、特に生産組立て時における自動調整に好
適な光ピックアップの合焦調整装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤなどにおける光ピックアップは、た
とえば図４に概略を示すように構成されている。同図に
おいて、レ−ザ発振器１０から出力されたレ−ザ光は、
回折格子１２を介してビ−ムスプリッタ１４に入射し、
ここで光ディスク１６側に反射される。レ−ザ光は、コ
リメ−タレンズ１８によってコリメ−トされた後対物レ
ンズ２０に入射し、ここで収束されて光ディスク１６に
入射する。
とえば図４に概略を示すように構成されている。同図に
おいて、レ−ザ発振器１０から出力されたレ−ザ光は、
回折格子１２を介してビ−ムスプリッタ１４に入射し、
ここで光ディスク１６側に反射される。レ−ザ光は、コ
リメ−タレンズ１８によってコリメ−トされた後対物レ
ンズ２０に入射し、ここで収束されて光ディスク１６に
入射する。
【０００３】他方、光ディスク１６によって反射された
レ−ザ光は、対物レンズ２０，コリメ−タレンズ１８，
ビ−ムスプリッタ１４，検出レンズ２２を各々順に透過
してフォトディテクタ２４に入射する。これによって、
光ディスク１６に対する情報の記録あるいは再生が行な
われる。
レ−ザ光は、対物レンズ２０，コリメ−タレンズ１８，
ビ−ムスプリッタ１４，検出レンズ２２を各々順に透過
してフォトディテクタ２４に入射する。これによって、
光ディスク１６に対する情報の記録あるいは再生が行な
われる。
【０００４】ところで、このような光ピックアップにお
ける従来の合焦調整は、たとえば検出レンズ２２を変位
させ、このときの再生信号のジッタ量が最小となるよう
に検出レンズ２２の位置を調整して行われている。
ける従来の合焦調整は、たとえば検出レンズ２２を変位
させ、このときの再生信号のジッタ量が最小となるよう
に検出レンズ２２の位置を調整して行われている。
【０００５】この場合の合焦ずれとジッタ量の関係は、
一般的に図５のグラフＧＡに示されているような特性を
持っている。この特性を利用して、ジッタ量の最少点に
検出レンズ２２を位置調整するわけである。ところが、
合焦点付近のジッタ変化量が少ないことから、一定の合
焦ずれを＋側と−側に交互に与え、各々の場合のジッタ
悪化量のバランスで調整を行うようにしている。このと
きの＋，−の合焦ずれの与え方は、連続もしくは１Ｈｚ
以下の交流信号を、手動スイッチによってフォ−カスサ
−ボ制御回路に印加することより行なわれる。
一般的に図５のグラフＧＡに示されているような特性を
持っている。この特性を利用して、ジッタ量の最少点に
検出レンズ２２を位置調整するわけである。ところが、
合焦点付近のジッタ変化量が少ないことから、一定の合
焦ずれを＋側と−側に交互に与え、各々の場合のジッタ
悪化量のバランスで調整を行うようにしている。このと
きの＋，−の合焦ずれの与え方は、連続もしくは１Ｈｚ
以下の交流信号を、手動スイッチによってフォ−カスサ
−ボ制御回路に印加することより行なわれる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来技術では、次のような不都合がある。 （１）ジッタは変動が多いことから、調整精度が低く良
好な調整を行うまでに時間がかかる。 （２）ジッタを測定するためには、トラッキングなどの
全サ−ボがかけられる程度に各部の調整が終了していな
ければならない。 （３）ジッタ量の変化が小さいためにその積分を行う必
要がある。このため、積分時間以上に高速で調整するこ
とができず、高速自動調整の妨げとなっている。本発明
は、この点に着目したもので、短時間で簡便に精度よく
合焦調整を行うことをその目的とする。
うな従来技術では、次のような不都合がある。 （１）ジッタは変動が多いことから、調整精度が低く良
好な調整を行うまでに時間がかかる。 （２）ジッタを測定するためには、トラッキングなどの
全サ−ボがかけられる程度に各部の調整が終了していな
ければならない。 （３）ジッタ量の変化が小さいためにその積分を行う必
要がある。このため、積分時間以上に高速で調整するこ
とができず、高速自動調整の妨げとなっている。本発明
は、この点に着目したもので、短時間で簡便に精度よく
合焦調整を行うことをその目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のひとつは、光デ
ィスクから入射する光ビームに対する光ピックアップの
合焦位置を調整する光ピックアップの合焦調整装置にお
いて、前記光ビームに対する光ピックアップの異なる方
向の非合焦状態を，所望の周期で交互に電気的に与える
非合焦状態生成手段と、これによる非合焦状態にあると
きの光ピックアップの出力信号から前記周期に同期した
成分を取り出して合焦ずれに関する情報を得る合焦検出
手段とを備えたことを特徴とする。他の発明は、前記発
明において、光ディスクの回転周期に対応して非合焦状
態を光ピックアップに与えることを特徴とする。
ィスクから入射する光ビームに対する光ピックアップの
合焦位置を調整する光ピックアップの合焦調整装置にお
いて、前記光ビームに対する光ピックアップの異なる方
向の非合焦状態を，所望の周期で交互に電気的に与える
非合焦状態生成手段と、これによる非合焦状態にあると
きの光ピックアップの出力信号から前記周期に同期した
成分を取り出して合焦ずれに関する情報を得る合焦検出
手段とを備えたことを特徴とする。他の発明は、前記発
明において、光ディスクの回転周期に対応して非合焦状
態を光ピックアップに与えることを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明によれば、光ピックアップの非合焦状態
が電気的に発生される。たとえば、外乱信号がフォーカ
スサーボ制御手段に印加されることによって、＋，−方
向の合焦ずれが所定の周期で与えられる。この周期は、
他の発明によれば、光ディスクの回転周期に対応して設
定される。このときの光ピックアップの出力信号は、非
合焦方向，合焦ずれ量に対応して変化し、これから合焦
ずれに関する情報が得られる。
が電気的に発生される。たとえば、外乱信号がフォーカ
スサーボ制御手段に印加されることによって、＋，−方
向の合焦ずれが所定の周期で与えられる。この周期は、
他の発明によれば、光ディスクの回転周期に対応して設
定される。このときの光ピックアップの出力信号は、非
合焦方向，合焦ずれ量に対応して変化し、これから合焦
ずれに関する情報が得られる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明による光ピックアップの合焦調
整装置の実施例について、添付図面を参照しながら説明
する。 ａ，実施例１ 最初に、図１及び図２を参照しながら、本発明の実施例
１について説明する。図１には、実施例１の主要部の構
成が示されている。同図において、上述したフォトディ
テクタ２４から出力されるＲＦ信号は、包絡線検波回路
３０に入力されるようになっている。この包絡線検波回
路３０の出力側は、必要な周波数帯域成分を取り出すバ
ンドパスフィルタ３２の入力側に接続されており、この
バンドパスフィルタ３２の出力側は、半サイクルスイッ
チング回路３４の入力側に接続されている。
整装置の実施例について、添付図面を参照しながら説明
する。 ａ，実施例１ 最初に、図１及び図２を参照しながら、本発明の実施例
１について説明する。図１には、実施例１の主要部の構
成が示されている。同図において、上述したフォトディ
テクタ２４から出力されるＲＦ信号は、包絡線検波回路
３０に入力されるようになっている。この包絡線検波回
路３０の出力側は、必要な周波数帯域成分を取り出すバ
ンドパスフィルタ３２の入力側に接続されており、この
バンドパスフィルタ３２の出力側は、半サイクルスイッ
チング回路３４の入力側に接続されている。
【００１０】この半サイクルスイッチング回路３４の出
力側は、振幅検出回路３６，ローパスフィルタ３８，メ
ータアンプ４０，及び指示計４２の直列回路の入力側に
接続されている。これらのうち、ローパスフィルタ３８
から合焦検出出力が行われるようになっている。次に、
発振回路４４の出力側は、一方において位相調整回路４
６及び波形整形回路４８の直列回路の入力側に接続され
ており、その直列回路の出力側は、上述した半サイクル
スイッチング回路３４の制御入力側に接続されている。 発振回路４４の出力側は、他方においてバッファ回路５
０の入力側に接続されており、このバッファ回路５０の
出力側は、フォーカスサーボ制御回路（図示せず）に接
続されている。なお、このフォーカスサーボ制御回路は
、光ディスクにおける入射ビームの合焦制御を行うもの
である。図中に破線で示す部分については実施例２で説
明する。
力側は、振幅検出回路３６，ローパスフィルタ３８，メ
ータアンプ４０，及び指示計４２の直列回路の入力側に
接続されている。これらのうち、ローパスフィルタ３８
から合焦検出出力が行われるようになっている。次に、
発振回路４４の出力側は、一方において位相調整回路４
６及び波形整形回路４８の直列回路の入力側に接続され
ており、その直列回路の出力側は、上述した半サイクル
スイッチング回路３４の制御入力側に接続されている。 発振回路４４の出力側は、他方においてバッファ回路５
０の入力側に接続されており、このバッファ回路５０の
出力側は、フォーカスサーボ制御回路（図示せず）に接
続されている。なお、このフォーカスサーボ制御回路は
、光ディスクにおける入射ビームの合焦制御を行うもの
である。図中に破線で示す部分については実施例２で説
明する。
【００１１】以上の各部のうち、発振回路４４は、図５
に示した＋，−交互の非合焦状態を得るためのもので、
バッファ回路５０を介してフォ−カスサ−ボ制御回路に
外乱として印加されるようになっている。これによって
、電気的に＋，−交互の非合焦状態が発生することにな
る。また、この発振回路４４の出力は、半サイクルスイ
ッチング回路３４に後述する振幅演算のためのタイミン
グ信号として入力されている。
に示した＋，−交互の非合焦状態を得るためのもので、
バッファ回路５０を介してフォ−カスサ−ボ制御回路に
外乱として印加されるようになっている。これによって
、電気的に＋，−交互の非合焦状態が発生することにな
る。また、この発振回路４４の出力は、半サイクルスイ
ッチング回路３４に後述する振幅演算のためのタイミン
グ信号として入力されている。
【００１２】次に、以上のように構成された実施例１の
作用について、図２のタイムチャートを参照しながら説
明する。なお、本実施例では、検波信号に対して１８０
度の位相反転が行われているので、同図（Ｃ）〜（Ｅ）
には、かかる反転信号が示されている。発振回路４４か
ら出力された適宜の周波数の交流信号（同図（Ａ）参照
）は、非合焦外乱信号として光ピックアップのフォーカ
スサーボ制御回路に供給される。
作用について、図２のタイムチャートを参照しながら説
明する。なお、本実施例では、検波信号に対して１８０
度の位相反転が行われているので、同図（Ｃ）〜（Ｅ）
には、かかる反転信号が示されている。発振回路４４か
ら出力された適宜の周波数の交流信号（同図（Ａ）参照
）は、非合焦外乱信号として光ピックアップのフォーカ
スサーボ制御回路に供給される。
【００１３】ここで、まず光ピックアップが合焦状態に
ある場合，すなわちフォトディテクタ２４（図４参照）
が合焦中心位置にあるとすると、そのフォトディテクタ
の出力ＲＦ信号は、図２（Ｂ）に示すように振幅変動し
た波形となる。これは、合焦ずれとＲＦ信号レベルとの
関係が、図５のグラフＧＢに示すような特性となってい
るためである。このようなＲＦ信号は、包絡線検波回路
３０に入力され、ここで包絡線検波が行われる。従って
、包絡線検波回路３０の出力ＲＦ検波信号は、図２（Ｃ
）に示すようになる。
ある場合，すなわちフォトディテクタ２４（図４参照）
が合焦中心位置にあるとすると、そのフォトディテクタ
の出力ＲＦ信号は、図２（Ｂ）に示すように振幅変動し
た波形となる。これは、合焦ずれとＲＦ信号レベルとの
関係が、図５のグラフＧＢに示すような特性となってい
るためである。このようなＲＦ信号は、包絡線検波回路
３０に入力され、ここで包絡線検波が行われる。従って
、包絡線検波回路３０の出力ＲＦ検波信号は、図２（Ｃ
）に示すようになる。
【００１４】これに対し、たとえばフォトディテクタ２
４の合焦調整状態が−側にあった場合には、同図（Ｄ）
に示すようになる。すなわち、非合焦外乱信号が−側に
印加されているときは非合焦状態が一層増加されるので
、ＲＦ検波信号レベルは大きく低下する（同図時刻ＴＢ
〜ＴＣ参照）。しかし、非合焦外乱信号が＋側に印加さ
れたときは、ずれが相殺されて合焦中心に近づくように
なるので、ＲＦ検波信号レベルの低下量は少なくなる（
同図ＴＡ〜ＴＢ参照）。
４の合焦調整状態が−側にあった場合には、同図（Ｄ）
に示すようになる。すなわち、非合焦外乱信号が−側に
印加されているときは非合焦状態が一層増加されるので
、ＲＦ検波信号レベルは大きく低下する（同図時刻ＴＢ
〜ＴＣ参照）。しかし、非合焦外乱信号が＋側に印加さ
れたときは、ずれが相殺されて合焦中心に近づくように
なるので、ＲＦ検波信号レベルの低下量は少なくなる（
同図ＴＡ〜ＴＢ参照）。
【００１５】また、逆にフォトディテクタ２４の合焦調
整状態が＋側にあった場合には、同図（Ｅ）に示すよう
になる。すなわち、非合焦外乱信号が−側に印加されて
いるときは、ずれが相殺されて合焦中心に近づくように
なるので、ＲＦ検波信号レベルの低下量は少なくなる（
同図ＴＢ〜ＴＣ参照）。しかし、非合焦外乱信号が＋側
に印加されたときは、非合焦状態が一層増加されるので
、ＲＦ検波信号レベルは大きく低下する（同図時刻ＴＡ
〜ＴＢ参照）。
整状態が＋側にあった場合には、同図（Ｅ）に示すよう
になる。すなわち、非合焦外乱信号が−側に印加されて
いるときは、ずれが相殺されて合焦中心に近づくように
なるので、ＲＦ検波信号レベルの低下量は少なくなる（
同図ＴＢ〜ＴＣ参照）。しかし、非合焦外乱信号が＋側
に印加されたときは、非合焦状態が一層増加されるので
、ＲＦ検波信号レベルは大きく低下する（同図時刻ＴＡ
〜ＴＢ参照）。
【００１６】従って、光ピックアップの非合焦状態は、
同図に示す時刻ＴＡ〜ＴＢ間のＲＦ検波信号低下量と、
時刻ＴＢ〜ＴＣ間の同低下量を比較演算することによっ
て検出可能となる。発振回路４４から出力された非合焦
外乱信号は、位相調整回路４６において必要な位相調整
が行われる。これは、ＲＦ検波信号処理側の伝送経路（
包絡線検波回路３０，バンドパスフィルタ３２）及びフ
ォーカス駆動側の伝送経路（バッファ回路５０，フォー
カスサーボ制御回路（図示せず））において位相遅れが
発生するためである。この位相調整回路４６の作用によ
って、同図（Ａ）〜（Ｅ）に示す信号間の時刻ＴＡ〜Ｔ
Ｃ中の位相が一致するようになる。この位相調整後の非
合焦外乱信号は、波形整形回路４８による整形処理の後
半サイクルスイッチング回路３４に供給される。
同図に示す時刻ＴＡ〜ＴＢ間のＲＦ検波信号低下量と、
時刻ＴＢ〜ＴＣ間の同低下量を比較演算することによっ
て検出可能となる。発振回路４４から出力された非合焦
外乱信号は、位相調整回路４６において必要な位相調整
が行われる。これは、ＲＦ検波信号処理側の伝送経路（
包絡線検波回路３０，バンドパスフィルタ３２）及びフ
ォーカス駆動側の伝送経路（バッファ回路５０，フォー
カスサーボ制御回路（図示せず））において位相遅れが
発生するためである。この位相調整回路４６の作用によ
って、同図（Ａ）〜（Ｅ）に示す信号間の時刻ＴＡ〜Ｔ
Ｃ中の位相が一致するようになる。この位相調整後の非
合焦外乱信号は、波形整形回路４８による整形処理の後
半サイクルスイッチング回路３４に供給される。
【００１７】半サイクルスイッチング回路３４では、入
力信号に対して非合焦外乱信号の半サイクルでスイッチ
ング出力が行われ、これが振幅検出回路３６に供給され
る。振幅検出回路３６では、半サイクルごとに入力ＲＦ
検波信号の振幅の検出演算が行われる。検出結果は、ロ
ーパスフィルタ３８，メータアンプ４０を介して指示計
４２に供給され、これによって光ピックアップの合焦ず
れ量の指示が行われる。光ピックアップの位置調整作業
は、この指示計４２の指示を参照しつつ行われる。
力信号に対して非合焦外乱信号の半サイクルでスイッチ
ング出力が行われ、これが振幅検出回路３６に供給され
る。振幅検出回路３６では、半サイクルごとに入力ＲＦ
検波信号の振幅の検出演算が行われる。検出結果は、ロ
ーパスフィルタ３８，メータアンプ４０を介して指示計
４２に供給され、これによって光ピックアップの合焦ず
れ量の指示が行われる。光ピックアップの位置調整作業
は、この指示計４２の指示を参照しつつ行われる。
【００１８】このように、本実施例によれば、光ピック
アップの非合焦状態が電気的に形成され、これと同期し
た検出信号変化に基づいて合焦調整が行われるので、次
のような効果がある。 （１）検出信号の安定性がよく、極めて高精度に検出で
きる。 （２）検出信号のジッタ量を用いていないため、極めて
短時間で合焦ずれ量を検出でき、高速自動調整が可能と
なる。 （３）また、フォ−カスサ−ボがかけられる状態であれ
ば、その他の調整（たとえばトラッキングサーボなど）
に支配されることなく調整作業を行うことができる。デ
ィスクの回転速度も任意に設定でき、それに支配されな
い。 （４）調整すべき合焦ずれの方向と量を、明確に把握す
ることができる。
アップの非合焦状態が電気的に形成され、これと同期し
た検出信号変化に基づいて合焦調整が行われるので、次
のような効果がある。 （１）検出信号の安定性がよく、極めて高精度に検出で
きる。 （２）検出信号のジッタ量を用いていないため、極めて
短時間で合焦ずれ量を検出でき、高速自動調整が可能と
なる。 （３）また、フォ−カスサ−ボがかけられる状態であれ
ば、その他の調整（たとえばトラッキングサーボなど）
に支配されることなく調整作業を行うことができる。デ
ィスクの回転速度も任意に設定でき、それに支配されな
い。 （４）調整すべき合焦ずれの方向と量を、明確に把握す
ることができる。
【００１９】ｂ，実施例２
次に、本発明の実施例２について、図１を参照しながら
説明する。この実施例２では、図１に破線で示すように
、光ディスク１６を回転駆動するスピンドルモータ（図
示せず）に供給されている回転制御信号が発振回路４４
に入力されるようになっている。この実施例によれば、
発振回路４４では、入力回転制御信号に同期して発振が
行われる。このため、非合焦外乱信号は、光ディスク１
６の回転と同期して生成されるようになる。他方、上述
したように、ＲＦ検波信号の振幅検出は、非合焦外乱信
号に同期して行われる。従って、ディスク回転に同期し
たスピンドルモータや光ディスク１６の振動があっても
、それらの影響を受けることなく上述した合焦調整を行
うことができる。
説明する。この実施例２では、図１に破線で示すように
、光ディスク１６を回転駆動するスピンドルモータ（図
示せず）に供給されている回転制御信号が発振回路４４
に入力されるようになっている。この実施例によれば、
発振回路４４では、入力回転制御信号に同期して発振が
行われる。このため、非合焦外乱信号は、光ディスク１
６の回転と同期して生成されるようになる。他方、上述
したように、ＲＦ検波信号の振幅検出は、非合焦外乱信
号に同期して行われる。従って、ディスク回転に同期し
たスピンドルモータや光ディスク１６の振動があっても
、それらの影響を受けることなく上述した合焦調整を行
うことができる。
【００２０】ｃ，実施例３
次に、本発明の実施例３について、図３（Ａ）を参照し
ながら説明する。この実施例では、図１の発振回路４４
の代わりに、図３（Ａ）に示す分周回路５２，バンドパ
スフィルタ５４が接続された構成となっている。そして
、分周回路５２には、ディスク回転用のスピンドルモー
タの回転制御用ＦＧ（ＦＲＥＱＵＥＮＣＹ ＧＥＮＥＲ
ＡＴＥＲ）信号が入力されるようになっている。この実
施例によれば、発振回路部分がディスク回転用のものと
併用され、上述した合焦調整とディスク回転とが連動し
て行われるようになる。
ながら説明する。この実施例では、図１の発振回路４４
の代わりに、図３（Ａ）に示す分周回路５２，バンドパ
スフィルタ５４が接続された構成となっている。そして
、分周回路５２には、ディスク回転用のスピンドルモー
タの回転制御用ＦＧ（ＦＲＥＱＵＥＮＣＹ ＧＥＮＥＲ
ＡＴＥＲ）信号が入力されるようになっている。この実
施例によれば、発振回路部分がディスク回転用のものと
併用され、上述した合焦調整とディスク回転とが連動し
て行われるようになる。
【００２１】ｄ，実施例４
次に、図３（Ｂ）を参照しながら、本発明の実施例４に
ついて説明する。同図において、上述した図１のローパ
スフィルタ３８から出力される合焦検出信号は、制御回
路５６に入力されるようになっている。この制御回路５
６の出力側は、駆動回路５８の入力側に接続されており
、駆動回路５８の出力側は光ピックアップの合焦調整機
構６０の入力側に接続されている。実施例１によって得
られた合焦検出信号が制御回路５６に入力されると、光
ピックアップの合焦調整の方向及び調整量が判断され、
対応する制御信号が駆動回路５８に出力される。駆動回
路５８では、入力制御信号に基づいて合焦調整機構６０
による光ピックアップの位置調整が行われる。このよう
に、実施例４によれば、合焦調整は自動的に行われる。
ついて説明する。同図において、上述した図１のローパ
スフィルタ３８から出力される合焦検出信号は、制御回
路５６に入力されるようになっている。この制御回路５
６の出力側は、駆動回路５８の入力側に接続されており
、駆動回路５８の出力側は光ピックアップの合焦調整機
構６０の入力側に接続されている。実施例１によって得
られた合焦検出信号が制御回路５６に入力されると、光
ピックアップの合焦調整の方向及び調整量が判断され、
対応する制御信号が駆動回路５８に出力される。駆動回
路５８では、入力制御信号に基づいて合焦調整機構６０
による光ピックアップの位置調整が行われる。このよう
に、実施例４によれば、合焦調整は自動的に行われる。
【００２２】ｅ，他の実施例
なお、本発明は、何ら上記実施例に限定されるものでは
ない。たとえば、上記実施例では、ＲＦ信号を用いて合
焦調整を行ったが、ジッタを用いるようにしてもよい。 この場合には、包絡線検波回路３０の代わりにジッタ変
動検出回路を用いるようにする。上述したように、光ピ
ックアップに対する非合焦状態は、光ディスクの回転周
期と同一又はその整数分の１で与えるようにしてもよい
。更に、回路構成は、同様の作用を奏するように種々設
計変更可能であり、これらのものも本発明に含まれる。
ない。たとえば、上記実施例では、ＲＦ信号を用いて合
焦調整を行ったが、ジッタを用いるようにしてもよい。 この場合には、包絡線検波回路３０の代わりにジッタ変
動検出回路を用いるようにする。上述したように、光ピ
ックアップに対する非合焦状態は、光ディスクの回転周
期と同一又はその整数分の１で与えるようにしてもよい
。更に、回路構成は、同様の作用を奏するように種々設
計変更可能であり、これらのものも本発明に含まれる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による光ピ
ックアップの合焦調整装置によれば、光ピックアップの
非合焦状態が電気的に形成されるとともに、信号検出が
非合焦状態に同期して行われるので、短時間で簡便に精
度よく合焦調整を行うことができるという効果がある。
ックアップの合焦調整装置によれば、光ピックアップの
非合焦状態が電気的に形成されるとともに、信号検出が
非合焦状態に同期して行われるので、短時間で簡便に精
度よく合焦調整を行うことができるという効果がある。
【図１】本発明による光ピックアップの合焦調整装置の
実施例１及び実施例２を示す構成図である。
実施例１及び実施例２を示す構成図である。
【図２】実施例１の作用を示すタイムチャートである。
【図３】本発明による光ピックアップの合焦調整装置の
実施例３及び実施例４を示す構成図である。
実施例３及び実施例４を示す構成図である。
【図４】光ピックアップの概略の構成を示す説明図であ
る。
る。
【図５】合焦ずれに対するジッタ量及びＲＦ信号レベル
の変化を示すグラフである。
の変化を示すグラフである。
１６…光ディスク
２４…フォトディテクタ
３０…包絡線検波回路
３２，５４…バンドパスフィルタ
３４…半サイクルスイッチング回路
３６…振幅検出回路（合焦検出手段）
３８…ローパスフィルタ
４０…メータアンプ
４２…指示計
４４…発振回路（非合焦状態生成手段）４６…位相調整
回路 ４８…波形整形回路 ５０…バッファ回路 ５２…分周回路（非合焦状態生成手段）５６…制御回路 ５８…駆動回路 ６０…合焦調整機構
回路 ４８…波形整形回路 ５０…バッファ回路 ５２…分周回路（非合焦状態生成手段）５６…制御回路 ５８…駆動回路 ６０…合焦調整機構
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクから入射する光ビームに対
する光ピックアップの合焦位置を調整する光ピックアッ
プの合焦調整装置において、前記光ビームに対する光ピ
ックアップの異なる方向の非合焦状態を，所望の周期で
交互に電気的に与える非合焦状態生成手段と、これによ
る非合焦状態にあるときの光ピックアップの出力信号か
ら前記周期に同期した成分を取り出して合焦ずれに関す
る情報を得る合焦検出手段とを備えたことを特徴とする
光ピックアップの合焦調整装置。 - 【請求項２】 光ディスクから入射する光ビームに対
する光ピックアップの合焦位置を調整する光ピックアッ
プの合焦調整装置において、前記光ビームに対する光ピ
ックアップの異なる方向の非合焦状態を，光ディスクの
回転周期に対応して交互に電気的に与える非合焦状態生
成手段と、これによる非合焦状態にあるときの光ピック
アップの出力信号から前記周期に同期した成分を取り出
して合焦ずれに関する情報を得る合焦検出手段とを備え
たことを特徴とする光ピックアップの合焦調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2416865A JP2586741B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | 光ピックアップの合焦調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2416865A JP2586741B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | 光ピックアップの合焦調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04251444A true JPH04251444A (ja) | 1992-09-07 |
| JP2586741B2 JP2586741B2 (ja) | 1997-03-05 |
Family
ID=18525047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2416865A Expired - Lifetime JP2586741B2 (ja) | 1990-12-30 | 1990-12-30 | 光ピックアップの合焦調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2586741B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008146717A (ja) * | 2006-12-07 | 2008-06-26 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップの調整方法およびその装置 |
| JP2008217885A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップにおける受光素子基板の位置調整方法およびその装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59116940A (ja) * | 1982-11-20 | 1984-07-06 | Brother Ind Ltd | 光ピツクアツプの焦点補正装置 |
-
1990
- 1990-12-30 JP JP2416865A patent/JP2586741B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59116940A (ja) * | 1982-11-20 | 1984-07-06 | Brother Ind Ltd | 光ピツクアツプの焦点補正装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008146717A (ja) * | 2006-12-07 | 2008-06-26 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップの調整方法およびその装置 |
| JP2008217885A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップにおける受光素子基板の位置調整方法およびその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2586741B2 (ja) | 1997-03-05 |
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Legal Events
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