JPH0422268Y2 - - Google Patents
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- JPH0422268Y2 JPH0422268Y2 JP6216584U JP6216584U JPH0422268Y2 JP H0422268 Y2 JPH0422268 Y2 JP H0422268Y2 JP 6216584 U JP6216584 U JP 6216584U JP 6216584 U JP6216584 U JP 6216584U JP H0422268 Y2 JPH0422268 Y2 JP H0422268Y2
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- heat
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- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案はガス流量検出装置に関する。
従来技術
ガス流量、例えば内燃機関の吸入空気量を検出
するために熱線風速計の原理を応用したガス流量
検出装置が例えば特開昭55−137321号公報に記載
されているように公知である。このガス流量検出
装置では抵抗ブリツジの隣接する辺に夫々に抵抗
を接続してこれら抵抗を吸入空気流内に配置し、
ブリツジがバランスするように一方の抵抗を加熱
して両抵抗の温度差を一定温度に維持するように
している。即ち、熱線風速計の原理を応用したこ
の種のガス流量検出装置では吸入空気流内に配置
された両抵抗の温度差を一定温度に維持すること
が必要であり、このとき温度差を一定に維持する
のに必要な一方の抵抗に供給すべき加熱用電流値
から吸入空気量が検出される。
するために熱線風速計の原理を応用したガス流量
検出装置が例えば特開昭55−137321号公報に記載
されているように公知である。このガス流量検出
装置では抵抗ブリツジの隣接する辺に夫々に抵抗
を接続してこれら抵抗を吸入空気流内に配置し、
ブリツジがバランスするように一方の抵抗を加熱
して両抵抗の温度差を一定温度に維持するように
している。即ち、熱線風速計の原理を応用したこ
の種のガス流量検出装置では吸入空気流内に配置
された両抵抗の温度差を一定温度に維持すること
が必要であり、このとき温度差を一定に維持する
のに必要な一方の抵抗に供給すべき加熱用電流値
から吸入空気量が検出される。
しかしながら上述の如きガス流量検出装置にお
いてはブリツジがバランスするように一方の抵抗
を加熱制御すると両抵抗の温度差が実際には予め
定められた一定温度にならず、その結果吸入空気
量を正確に検出することができないという問題が
ある。
いてはブリツジがバランスするように一方の抵抗
を加熱制御すると両抵抗の温度差が実際には予め
定められた一定温度にならず、その結果吸入空気
量を正確に検出することができないという問題が
ある。
考案の目的
本考案はガス流内に配置された一対の抵抗の温
度を一定に維持することができ、それによつてガ
ス流量を正確に検出することのできるガス流量検
出装置を提供することにある。
度を一定に維持することができ、それによつてガ
ス流量を正確に検出することのできるガス流量検
出装置を提供することにある。
考案の構成
本考案の構成は、抵抗ブリツジの隣接する辺に
夫々第1の抵抗R1と第2の抵抗R2を接続してこ
れら抵抗R1,R2をガス流内に配置し、第1抵抗
R1と第2抵抗R2が予め定められた抵抗温度係数
αを有すると共に基準温度において夫々一定の抵
抗値R10,R20を有し、ブリツジがバランスする
ように第2抵抗R2を加熱して第2抵抗R2の温度
を第1抵抗R1の温度よりも一定温度ΔTだけ高く
維持するようにしたガス流量検出装置において、
第1抵抗R1に抵抗値がR10αΔTなる補償抵抗を直
列接続したことにある。
夫々第1の抵抗R1と第2の抵抗R2を接続してこ
れら抵抗R1,R2をガス流内に配置し、第1抵抗
R1と第2抵抗R2が予め定められた抵抗温度係数
αを有すると共に基準温度において夫々一定の抵
抗値R10,R20を有し、ブリツジがバランスする
ように第2抵抗R2を加熱して第2抵抗R2の温度
を第1抵抗R1の温度よりも一定温度ΔTだけ高く
維持するようにしたガス流量検出装置において、
第1抵抗R1に抵抗値がR10αΔTなる補償抵抗を直
列接続したことにある。
実施例
第1図および第2図を参照すると、1はガス流
通管、2はガス流通路、3は非導電性断熱性の合
成樹脂材料からなる検出素子ホルダ、4は流速検
出用素子、5はガス温検出用素子を夫々示す。本
考案を内燃機関に適用する場合にはガス流通路2
は吸気通路を示す。第1図から第3図に示される
ように流速検出用素子4はシリコンウエハのチツ
プからなる基板6からなり、この基板6の表面上
に後述のブリツジ回路の第2抵抗を形成する薄膜
の感熱抵抗体R2と、この感熱抵抗体R2を加熱す
るために感熱抵抗体R2に隣接配置された薄膜の
感熱抵抗体RHとが形成される。流速検出用素子
4はこれら抵抗体R2,RHのリード端子7によつ
て検出素子ホルダ3上において支持される。一
方、ガス温検出用素子5もシリコンウエハのチツ
プからなる基板8からなり、この基板8の表面上
に後述のブリツジ回路の第1抵抗を形成する薄膜
の感熱抵抗体R1が形成される。ガス温検出用素
子5はこの感熱抵抗体R1のリード端子9によつ
て検出素子ホルダ3上において支持される。ガス
はガス流通路2内を第1図の矢印Fに示す方向に
流れ、従つて加熱抵抗体RHの発する熱がガス流
による熱伝達作用によつて感熱抵抗体R2に伝え
られるように加熱抵抗体RHは感熱抵抗体R2の上
流側に配置される。
通管、2はガス流通路、3は非導電性断熱性の合
成樹脂材料からなる検出素子ホルダ、4は流速検
出用素子、5はガス温検出用素子を夫々示す。本
考案を内燃機関に適用する場合にはガス流通路2
は吸気通路を示す。第1図から第3図に示される
ように流速検出用素子4はシリコンウエハのチツ
プからなる基板6からなり、この基板6の表面上
に後述のブリツジ回路の第2抵抗を形成する薄膜
の感熱抵抗体R2と、この感熱抵抗体R2を加熱す
るために感熱抵抗体R2に隣接配置された薄膜の
感熱抵抗体RHとが形成される。流速検出用素子
4はこれら抵抗体R2,RHのリード端子7によつ
て検出素子ホルダ3上において支持される。一
方、ガス温検出用素子5もシリコンウエハのチツ
プからなる基板8からなり、この基板8の表面上
に後述のブリツジ回路の第1抵抗を形成する薄膜
の感熱抵抗体R1が形成される。ガス温検出用素
子5はこの感熱抵抗体R1のリード端子9によつ
て検出素子ホルダ3上において支持される。ガス
はガス流通路2内を第1図の矢印Fに示す方向に
流れ、従つて加熱抵抗体RHの発する熱がガス流
による熱伝達作用によつて感熱抵抗体R2に伝え
られるように加熱抵抗体RHは感熱抵抗体R2の上
流側に配置される。
第4図は加熱抵抗体RHおよび感熱抵抗体R1,
R2によつてガス流速を検出するために当初用い
られていた検出回路を示す。第4図を参照すると
加熱抵抗体RHの一端は固定抵抗RSを介して接地
され、加熱抵抗体RHの他端はトランジスタTrの
エミツタに接続される。また一対の半固定抵抗
r1,r2が設けられ、これら半固定抵抗r1,r2と感
熱抵抗体R1,R2によりブリツジ回路が形成され
る。半固定抵抗r1,r2の接続点Pはコンパレータ
Cの一方の入力端子に接続され、感熱抵抗体R1,
R2の接続点QはコンパレータCの他方の入力端
子に接続される。また、コンパレータCの出力端
子はトランジスタTrのベースに接続される。感
熱抵抗体R1,R2は抵抗温度係数αの大きな材料
から形成されており、感熱抵抗体R2の温度が感
熱抵抗体R1の温度よりも一定温度ΔTだけ高いと
きに接続点P,Qの電圧が等しくなるように感熱
抵抗体R1,R2,r1,r2の抵抗値が定められてい
る。従つて感熱抵抗体R1,R2の温度差がΔTより
も小さくなると接続点Qの電圧は接続点Pの電圧
よりも高くなり、その結果コンパレータCの出力
電圧は高レベルとなる。コンパレータCの出力電
圧が高レベルになるとトランジスタTrはオンと
なり、加熱抵抗体RHに電力が供給されるために
感熱抵抗体R2の温度が上昇する。次いで感熱抵
抗体R1,R2の温度差がΔTに等しくなるとコンパ
レータCの出力電圧は低レベルになり、その結果
トランジスタTrがオフとなるために加熱抵抗体
RHへの電力の供給が停止される。このように加
熱抵抗体RHへの電力の供給を制御することによ
つて感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTが一定に保持
される。
R2によつてガス流速を検出するために当初用い
られていた検出回路を示す。第4図を参照すると
加熱抵抗体RHの一端は固定抵抗RSを介して接地
され、加熱抵抗体RHの他端はトランジスタTrの
エミツタに接続される。また一対の半固定抵抗
r1,r2が設けられ、これら半固定抵抗r1,r2と感
熱抵抗体R1,R2によりブリツジ回路が形成され
る。半固定抵抗r1,r2の接続点Pはコンパレータ
Cの一方の入力端子に接続され、感熱抵抗体R1,
R2の接続点QはコンパレータCの他方の入力端
子に接続される。また、コンパレータCの出力端
子はトランジスタTrのベースに接続される。感
熱抵抗体R1,R2は抵抗温度係数αの大きな材料
から形成されており、感熱抵抗体R2の温度が感
熱抵抗体R1の温度よりも一定温度ΔTだけ高いと
きに接続点P,Qの電圧が等しくなるように感熱
抵抗体R1,R2,r1,r2の抵抗値が定められてい
る。従つて感熱抵抗体R1,R2の温度差がΔTより
も小さくなると接続点Qの電圧は接続点Pの電圧
よりも高くなり、その結果コンパレータCの出力
電圧は高レベルとなる。コンパレータCの出力電
圧が高レベルになるとトランジスタTrはオンと
なり、加熱抵抗体RHに電力が供給されるために
感熱抵抗体R2の温度が上昇する。次いで感熱抵
抗体R1,R2の温度差がΔTに等しくなるとコンパ
レータCの出力電圧は低レベルになり、その結果
トランジスタTrがオフとなるために加熱抵抗体
RHへの電力の供給が停止される。このように加
熱抵抗体RHへの電力の供給を制御することによ
つて感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTが一定に保持
される。
一方、直径dの白金線を流速Vの流体内に配置
し、白金線を加熱したときに流体によつて持ち去
られる熱量Hは次のL.V.Kingの式によつて表わ
される。
し、白金線を加熱したときに流体によつて持ち去
られる熱量Hは次のL.V.Kingの式によつて表わ
される。
H=KT+√2T ……(a)
ここでK:流体の熱伝導率
Cv:流体の定容比熱
P:流体の密度
T:白金線の温度と流体の温度との温度差
この式を本考案に適用すると温度差Tは感熱抵
抗体R1,R2の温度差がΔTに等しくなる。また、
感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTを一定に保持する
ためには流体によつて持ち去られる熱量Hと等し
い熱量を感熱抵抗体R2に加えなければならず、
従つて熱量Hは加熱抵抗体RHの発熱量i2R/Jに
等しくなる。ここでiは加熱抵抗体RHを流れる
電流値、Rは加熱抵抗体RHの抵抗値、Jは熱の
仕事当量である。従って加熱抵抗体RHとして抵
抗温度係数が極めて小さい抵抗を用いれば上式は
次のように簡単に表わせる。
抗体R1,R2の温度差がΔTに等しくなる。また、
感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTを一定に保持する
ためには流体によつて持ち去られる熱量Hと等し
い熱量を感熱抵抗体R2に加えなければならず、
従つて熱量Hは加熱抵抗体RHの発熱量i2R/Jに
等しくなる。ここでiは加熱抵抗体RHを流れる
電流値、Rは加熱抵抗体RHの抵抗値、Jは熱の
仕事当量である。従って加熱抵抗体RHとして抵
抗温度係数が極めて小さい抵抗を用いれば上式は
次のように簡単に表わせる。
i2=B√+C ……(b)
ここで、B,Cは流体の種類や加熱抵抗体RH
の抵抗値から定まる定数である。
の抵抗値から定まる定数である。
従つてこの式から加熱抵抗体RHに流れる電流
を検出すれば流体の速度νを検出できることがわ
かる。第4図に示す実施例では抵抗RSの一端の
電圧を検出器Dにより検出することによつて加熱
抵抗体RHを流れる電流を検出するようにしてい
る。従つて検出器Dによりガス流速を検出するこ
とができ、斯くしてガス流量を検出することがで
きる。
を検出すれば流体の速度νを検出できることがわ
かる。第4図に示す実施例では抵抗RSの一端の
電圧を検出器Dにより検出することによつて加熱
抵抗体RHを流れる電流を検出するようにしてい
る。従つて検出器Dによりガス流速を検出するこ
とができ、斯くしてガス流量を検出することがで
きる。
上式(b)のように流体の流速νと電流値iとの間
に一定の関係が生ずるのは上式(a)においてT、即
ち感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTが一定になると
きである。しかしながら第4図に示す当初用いら
れていた検出回路を用いても実際には感熱抵抗体
R1,R2の温度差ΔTは一定とならず、従つてこの
検出回路ではガス流量を正確に検出できないこと
が判明したのである。次にこのことについて説明
する。
に一定の関係が生ずるのは上式(a)においてT、即
ち感熱抵抗体R1,R2の温度差ΔTが一定になると
きである。しかしながら第4図に示す当初用いら
れていた検出回路を用いても実際には感熱抵抗体
R1,R2の温度差ΔTは一定とならず、従つてこの
検出回路ではガス流量を正確に検出できないこと
が判明したのである。次にこのことについて説明
する。
説明を理解しやすくするために以下、感熱抵抗
体R1を第1抵抗R1と称し、感熱抵抗体R2を第2
抵抗R2と称する。従つて第4図に示す抵抗ブリ
ツジでは抵抗ブリツジの隣接する辺に夫々第1抵
抗R1と第2抵抗R2が接続され、第2抵抗R2が加
熱抵抗体RHによつて加熱されることになる。更
に、第1抵抗R1と第2抵抗R2の抵抗温度係数を
α、半固定抵抗r1,r2の抵抗温度係数を0、第1
抵抗R1と第2抵抗R2の予め定められた基準温度
t0℃、例えば0℃における抵抗値を夫々R10,R20
とする。
体R1を第1抵抗R1と称し、感熱抵抗体R2を第2
抵抗R2と称する。従つて第4図に示す抵抗ブリ
ツジでは抵抗ブリツジの隣接する辺に夫々第1抵
抗R1と第2抵抗R2が接続され、第2抵抗R2が加
熱抵抗体RHによつて加熱されることになる。更
に、第1抵抗R1と第2抵抗R2の抵抗温度係数を
α、半固定抵抗r1,r2の抵抗温度係数を0、第1
抵抗R1と第2抵抗R2の予め定められた基準温度
t0℃、例えば0℃における抵抗値を夫々R10,R20
とする。
このように各因子の符号を定めると基準温度t
=t0において第2抵抗R2の温度が第1抵抗R1の
温度よりもΔTだけ高くなつたときにブリツジ回
路がバランスする条件は次の式で表わされる。
=t0において第2抵抗R2の温度が第1抵抗R1の
温度よりもΔTだけ高くなつたときにブリツジ回
路がバランスする条件は次の式で表わされる。
R10×r2=R20(1+αΔT)×r1 ……(1)
即ち、上式(1)を満足するように半固定抵抗r1,
r2の抵抗値を調整すれば基準温度t=t0において
ブリツジ回路はバランスし、このとき第1抵抗
R1と第2抵抗R2の温度差は一定値ΔTに維持され
る。
r2の抵抗値を調整すれば基準温度t=t0において
ブリツジ回路はバランスし、このとき第1抵抗
R1と第2抵抗R2の温度差は一定値ΔTに維持され
る。
次に第1抵抗R1の温度がt1となり、第2抵抗
R2の温度がt2になつてブリツジ回路がバランスし
たときにt2−t1=ΔTであれば問題はない。しか
しながらこのときt2−t1=ΔTとならないので問
題を生ずる。即ち、このときブリツジ回路がバラ
ンスする条件は次の式で表わされる。
R2の温度がt2になつてブリツジ回路がバランスし
たときにt2−t1=ΔTであれば問題はない。しか
しながらこのときt2−t1=ΔTとならないので問
題を生ずる。即ち、このときブリツジ回路がバラ
ンスする条件は次の式で表わされる。
R10{1+α(t1−t0)}×r2=
R20{1+α(t2−t0)}×r1
これを書き直すと次のようになる。
R10×r2=R20×r1×1+α(t2−t0)/1+α(t1−
t0)……(2) 上記(1),(2)式から第1抵抗R1と第2抵抗R2の
温度差の(t2−t1)は次のようになる。
t0)……(2) 上記(1),(2)式から第1抵抗R1と第2抵抗R2の
温度差の(t2−t1)は次のようになる。
t2−t1=ΔT+ΔTα(t1−t0)
上式からわかるようにブリツジ回路がバランス
したときには第1抵抗R1と第2抵抗R2の温度差
(t2−t1)はΔTとはならず、ΔTよりも更にΔTα
(t1−t0)だけ高くなつている。従つて第1抵抗
R1と第2抵抗R2の温度差が一定に維持されない
ためにガス流量を正確に計測できないことにな
る。
したときには第1抵抗R1と第2抵抗R2の温度差
(t2−t1)はΔTとはならず、ΔTよりも更にΔTα
(t1−t0)だけ高くなつている。従つて第1抵抗
R1と第2抵抗R2の温度差が一定に維持されない
ためにガス流量を正確に計測できないことにな
る。
そこでまず始めに第1抵抗R1および第2抵抗
R2の温度が上昇した場合においてブリツジ回路
がバランスしたときに第1抵抗R1と第2抵抗R2
の温度差の(t2−t1)が予め定められた一定値
ΔTとなるように第1抵抗R1の抵抗温度係数αを
α′に変えた場合を考えてみる。
R2の温度が上昇した場合においてブリツジ回路
がバランスしたときに第1抵抗R1と第2抵抗R2
の温度差の(t2−t1)が予め定められた一定値
ΔTとなるように第1抵抗R1の抵抗温度係数αを
α′に変えた場合を考えてみる。
この場合、ブリツジ回路がバランスする条件は
次のようになる。
次のようになる。
R10{1+α′(t1−t0)}×r2=
R20{1+α(t1+ΔT−t0)}×r1
これを(2)式のように書き直すと次のようにな
る。
る。
R10×r2=R20×r1×1+α(t1+ΔT−t0)/1+α
′(t1−t0) ……(3) 上式(1),(3)式からα′を求めると次にようにな
る。
′(t1−t0) ……(3) 上式(1),(3)式からα′を求めると次にようにな
る。
α′=α×1/1+α・ΔT ……(4)
即ち、第1抵抗R1の抵抗温度係数をαとし、
第2抵抗R2の抵抗温度係数を上式(4)から定まる
α′とすれば第1抵抗R1および第2抵抗R2が温度
上昇した場合であつてもブリツジ回路がバランス
したときに第1抵抗R1と第2抵抗R2との温度差
(t2−t1)が常に予め定められた一定値ΔTとな
る。
第2抵抗R2の抵抗温度係数を上式(4)から定まる
α′とすれば第1抵抗R1および第2抵抗R2が温度
上昇した場合であつてもブリツジ回路がバランス
したときに第1抵抗R1と第2抵抗R2との温度差
(t2−t1)が常に予め定められた一定値ΔTとな
る。
しかしながら実際問題として基準温度t=t0に
おける抵抗値が予め定められたR10であつて抵抗
温度係数が予め定められたα′である薄膜抵抗を作
るのは困難である。そこで本考案は第1抵抗R1
の抵抗温度係数はαとしておき、その代りに第1
抵抗R1と直列に補償抵抗を接続してこの補償抵
抗により第1抵抗R1のみかけの抵抗温度係数を
α′に等しくなるようにしている。即ち、本考案に
よれば第5図に示されるように第1抵抗R1と直
列に補償抵抗Rcが接続される。
おける抵抗値が予め定められたR10であつて抵抗
温度係数が予め定められたα′である薄膜抵抗を作
るのは困難である。そこで本考案は第1抵抗R1
の抵抗温度係数はαとしておき、その代りに第1
抵抗R1と直列に補償抵抗を接続してこの補償抵
抗により第1抵抗R1のみかけの抵抗温度係数を
α′に等しくなるようにしている。即ち、本考案に
よれば第5図に示されるように第1抵抗R1と直
列に補償抵抗Rcが接続される。
第5図に示すように第1抵抗R1と補償抵抗Rc
からなる合成抵抗の抵抗温度係数をα″とし、第
1抵抗R1の抵抗温度係数をαとし、補償抵抗Rc
の抵抗温度係数αcとして各抵抗R1,Rcの温度が
基準温度に対してΔTだけ上昇したときを考える
と次式が成立する。
からなる合成抵抗の抵抗温度係数をα″とし、第
1抵抗R1の抵抗温度係数をαとし、補償抵抗Rc
の抵抗温度係数αcとして各抵抗R1,Rcの温度が
基準温度に対してΔTだけ上昇したときを考える
と次式が成立する。
(R10+Rc)(1+ΔTα″)=
R10(1+αΔt)+Rc(1+αcΔt)
これを書き直すと合成抵抗の抵抗温度係数
α″は次にようになる。
α″は次にようになる。
α″=R10α+Rcαc/R10+Rc
ここで補償抵抗Rcの抵抗温度係数αcを0とす
れば上式は次のように表わされる。
れば上式は次のように表わされる。
α″=α×R10/R10+Rc ……(5)
即ち、抵抗温度係数αc=0なる補償抵抗Rcを
第1抵抗R1に直列に接続すれば合成抵抗の抵抗
温度係数、即ち第1抵抗R1のみかけの抵抗温度
係数は上式(5)に示されるα″となる。
第1抵抗R1に直列に接続すれば合成抵抗の抵抗
温度係数、即ち第1抵抗R1のみかけの抵抗温度
係数は上式(5)に示されるα″となる。
従つて(5)式における抵抗温度係数α″が(4)式に
おける抵抗温度係数α′と等しくなるように補償抵
抗Rcの抵抗値を定めれば第1抵抗R1および第2
抵抗R2が温度上昇した場合であつてもブリツジ
回路がバランスしたときに第1抵抗R1と第2抵
抗R2との温度差(t2−t1)が常に予め定められた
一定値ΔTとなる。従つてα″=α′とすると次式が
成立する。
おける抵抗温度係数α′と等しくなるように補償抵
抗Rcの抵抗値を定めれば第1抵抗R1および第2
抵抗R2が温度上昇した場合であつてもブリツジ
回路がバランスしたときに第1抵抗R1と第2抵
抗R2との温度差(t2−t1)が常に予め定められた
一定値ΔTとなる。従つてα″=α′とすると次式が
成立する。
α×R10/R10+Rc=α×1/1+αΔT
これを書き直すと補償抵抗Rcの抵抗値は次の
ようになる。
ようになる。
Rc=R10αΔT ……(6)
従つて抵抗値がR10αΔTである補償抵抗Rcを第
1抵抗R1に直列に接続すればブリツジ回路がバ
ランスしたときに第1抵抗R1と第2抵抗R2との
温度差(t2−t1)が常に予め定められた一定値
ΔTに等しくなり、斯くしてガス流量を正確に検
出できることになる。
1抵抗R1に直列に接続すればブリツジ回路がバ
ランスしたときに第1抵抗R1と第2抵抗R2との
温度差(t2−t1)が常に予め定められた一定値
ΔTに等しくなり、斯くしてガス流量を正確に検
出できることになる。
次に第1抵抗R1に補償抵抗Rcを直列接続した
場合のブリツジ回路の調整のしかたについて説明
する。この場合、基準温度t=t0において第2抵
抗R2の温度が第1抵抗R1の温度よりもΔTだけ高
くなつたときにブリツジ回路がバランスする条件
は次の式で表わされる。
場合のブリツジ回路の調整のしかたについて説明
する。この場合、基準温度t=t0において第2抵
抗R2の温度が第1抵抗R1の温度よりもΔTだけ高
くなつたときにブリツジ回路がバランスする条件
は次の式で表わされる。
(R10+Rc)×r2=
R20(1+αΔT)×r1
上式に(6)式を代入してRcを消去すると次のよ
うになる。
うになる。
R10×r2=R20×r1 ……(7)
(7)式は第2抵抗R2を加熱しないで第1抵抗R10
と第2抵抗R20を同一温度に保持し、Rc=0とし
た状態でブリツジ回路のバランスをとればブリツ
ジ回路を調整できることを意味している。即ち、
第5図において加熱抵抗体RHを加熱させること
なく補償抵抗Rcの両端を短絡させ、この状態で
ブリツジ回路がバランスするように半固定抵抗
r1,r2を調整すればブリツジ回路の調整は完了す
ることになる。なお、補償抵抗Rcの値は、第1
抵抗R1を10KΩ、αを3000ppm/℃、ΔTを20℃
とすると600Ωになる。
と第2抵抗R20を同一温度に保持し、Rc=0とし
た状態でブリツジ回路のバランスをとればブリツ
ジ回路を調整できることを意味している。即ち、
第5図において加熱抵抗体RHを加熱させること
なく補償抵抗Rcの両端を短絡させ、この状態で
ブリツジ回路がバランスするように半固定抵抗
r1,r2を調整すればブリツジ回路の調整は完了す
ることになる。なお、補償抵抗Rcの値は、第1
抵抗R1を10KΩ、αを3000ppm/℃、ΔTを20℃
とすると600Ωになる。
第5図に示す実施例は第2抵抗R2を加熱抵抗
体RHによつて加熱するようした、いわゆる間接
加熱式のガス流量検出装置である。しかしながら
本考案は第2抵抗R2を直接加熱するようにした
第6図に示すような自己加熱式のガス流量検出装
置にもそのまま適用することができる。第6図に
示す自己加熱式のガス流量検出装置では第1抵抗
R1と第2抵抗R2の接続点Lが制御回路10の出
力端子に接続され、ブリツジ回路の検出端M,N
の電位差が零となるように制御回路10から接続
点Lに電流が供給される。この場合でも第1抵抗
R1に直列接続される補助抵抗Rcの抵抗値はRc=
R10αΔTとなる。
体RHによつて加熱するようした、いわゆる間接
加熱式のガス流量検出装置である。しかしながら
本考案は第2抵抗R2を直接加熱するようにした
第6図に示すような自己加熱式のガス流量検出装
置にもそのまま適用することができる。第6図に
示す自己加熱式のガス流量検出装置では第1抵抗
R1と第2抵抗R2の接続点Lが制御回路10の出
力端子に接続され、ブリツジ回路の検出端M,N
の電位差が零となるように制御回路10から接続
点Lに電流が供給される。この場合でも第1抵抗
R1に直列接続される補助抵抗Rcの抵抗値はRc=
R10αΔTとなる。
考案の効果
第1抵抗および第2抵抗の温度によらずに、即
ちガスの流速によらずに第1抵抗と第2抵抗の温
度差を常時正確に予め定められた一定値に維持す
ることができるのでガス流量を正確に検出するこ
とができ、しかもブリツジ回路の調整を極めて簡
単に行なうことができる。
ちガスの流速によらずに第1抵抗と第2抵抗の温
度差を常時正確に予め定められた一定値に維持す
ることができるのでガス流量を正確に検出するこ
とができ、しかもブリツジ回路の調整を極めて簡
単に行なうことができる。
第1図はガス流量検出装置の側面断面図、第2
図は第1図の−線に沿つてみた断面図、第3
図は第1図の流速検出用素子およびガス温検出用
素子の拡大平面図、第4図は当初用いられていた
検出回路図、第5図は本考案による検出回路図、
第6図は本考案による別の実施例の検出回路図で
ある。 2……ガス流通路、4……流速検出用素子、5
……ガス温検出用素子、R1……第1抵抗、R2…
…第2抵抗、Rc……補償抵抗。
図は第1図の−線に沿つてみた断面図、第3
図は第1図の流速検出用素子およびガス温検出用
素子の拡大平面図、第4図は当初用いられていた
検出回路図、第5図は本考案による検出回路図、
第6図は本考案による別の実施例の検出回路図で
ある。 2……ガス流通路、4……流速検出用素子、5
……ガス温検出用素子、R1……第1抵抗、R2…
…第2抵抗、Rc……補償抵抗。
Claims (1)
- 抵抗ブリツジの隣接する辺に夫々第1の抵抗
R1と第2の抵抗R2を接続してこれら抵抗R1,R2
をガス流内に配置し、該第1抵抗R1と第2抵抗
R2が予め定められた抵抗温度係数αを有すると
共に基準温度において夫々一定の抵抗値R10,
R20を有し、上記ブリツジがバランスするように
第2抵抗R2を加熱して第2抵抗R2の温度を第1
抵抗R1の温度よりも一定温度ΔTだけ高く維持す
るようにしたガス流量検出装置において、上記第
1抵抗R1に抵抗値がR10αΔTなる補償抵抗を直列
接続したガス流量検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6216584U JPS60174832U (ja) | 1984-04-28 | 1984-04-28 | ガス流量検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6216584U JPS60174832U (ja) | 1984-04-28 | 1984-04-28 | ガス流量検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60174832U JPS60174832U (ja) | 1985-11-19 |
JPH0422268Y2 true JPH0422268Y2 (ja) | 1992-05-21 |
Family
ID=30591118
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6216584U Granted JPS60174832U (ja) | 1984-04-28 | 1984-04-28 | ガス流量検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60174832U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3758081B2 (ja) * | 2001-06-05 | 2006-03-22 | 三菱電機株式会社 | 熱式流量検出装置 |
-
1984
- 1984-04-28 JP JP6216584U patent/JPS60174832U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60174832U (ja) | 1985-11-19 |
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