JPH0376428A - A/dコンバータ - Google Patents
A/dコンバータInfo
- Publication number
- JPH0376428A JPH0376428A JP21356689A JP21356689A JPH0376428A JP H0376428 A JPH0376428 A JP H0376428A JP 21356689 A JP21356689 A JP 21356689A JP 21356689 A JP21356689 A JP 21356689A JP H0376428 A JPH0376428 A JP H0376428A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- reference voltage
- analog input
- register
- test
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はA/Dコンバータのテスト機能に関するもの
である。
である。
第2図は従来のA/Dコンバータの回路図で、図におい
て、(1)はコンパレータ、(2)はアナログ入力端子
、(3)は基準電圧を発生するためのラダー抵抗、(4
)はA/D変換したデータを格納するA/Dレジスタ、
(5)は基準電圧の選択をするためのA/D制御回路で
ある。
て、(1)はコンパレータ、(2)はアナログ入力端子
、(3)は基準電圧を発生するためのラダー抵抗、(4
)はA/D変換したデータを格納するA/Dレジスタ、
(5)は基準電圧の選択をするためのA/D制御回路で
ある。
次に動作について説明する。8ビツトのA/D変換を行
なう場合、アナログ入力端子(2)より入力された電圧
は、まずVcc/2の基準電圧と比較され、その比較結
果がA/Dレジスタ(4)の最上位ビットである8ビツ
ト目に格納される。この比較結果により、A/D制御回
路(5)により、次に比較する基準電圧がVcc/4か
3Vcc/4かが選択される。この時、Vcc/2より
アナログ入力が小さいとすると、次に基準電圧はVcc
/4が選択される。Vcc/4とアナログ入力の比較結
果がアナログ入力の方が小ざい時、A/Dレジスタ(4
)のビット6に′o#が書き込まれ、次の基準電圧がV
cc/8に選択される。このような動作を8回くり返す
ことによりA/D変換が実行される。このようなA/D
コンバータをテストする場合は、8ビツトA/Dコンバ
ータである場合、256段階のアナログ値の電圧を外部
より入力することが必要となる。
なう場合、アナログ入力端子(2)より入力された電圧
は、まずVcc/2の基準電圧と比較され、その比較結
果がA/Dレジスタ(4)の最上位ビットである8ビツ
ト目に格納される。この比較結果により、A/D制御回
路(5)により、次に比較する基準電圧がVcc/4か
3Vcc/4かが選択される。この時、Vcc/2より
アナログ入力が小さいとすると、次に基準電圧はVcc
/4が選択される。Vcc/4とアナログ入力の比較結
果がアナログ入力の方が小ざい時、A/Dレジスタ(4
)のビット6に′o#が書き込まれ、次の基準電圧がV
cc/8に選択される。このような動作を8回くり返す
ことによりA/D変換が実行される。このようなA/D
コンバータをテストする場合は、8ビツトA/Dコンバ
ータである場合、256段階のアナログ値の電圧を外部
より入力することが必要となる。
〔発明が解決しようとする課題]
従来のA/Dコンバータは以上のように構成されていた
ので、デジタルICをテストするテスターを使用した時
、ICの外部にはノイズが多くあり、A/Dコンバータ
の実際の実力に対して測定結果が悪く出てしまうという
問題点があった。
ので、デジタルICをテストするテスターを使用した時
、ICの外部にはノイズが多くあり、A/Dコンバータ
の実際の実力に対して測定結果が悪く出てしまうという
問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、外部よりアナログ入力電圧をすべて入力しな
いでも、A/Dコンバータのテストが可能なA/Dコン
バータを得ることを目的とする。
たもので、外部よりアナログ入力電圧をすべて入力しな
いでも、A/Dコンバータのテストが可能なA/Dコン
バータを得ることを目的とする。
この発明に係るA/Dコンバータは、アナログ入力線に
基準電圧発生回路の出力を接続可能なようにするととも
に、この時、基準電圧の出力を選択できるよ、うにした
ものである。
基準電圧発生回路の出力を接続可能なようにするととも
に、この時、基準電圧の出力を選択できるよ、うにした
ものである。
この発明におけるA/Dコンバータは、テストする時に
外部よりアナログ入力を入力することなく、ICの内部
でアナログ電圧を選択することが可能になることにより
、ICの外部の環境にかかわらず、A/Dコンバータの
テストが可能となる。
外部よりアナログ入力を入力することなく、ICの内部
でアナログ電圧を選択することが可能になることにより
、ICの外部の環境にかかわらず、A/Dコンバータの
テストが可能となる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、(11はコンパレータ、(2)はアナログ
入力端子、(3)は基準電圧発生回路、(4)はコンパ
レータ(1)の出力を格納するA/Dレジスタ、(5)
はA/Dレジスタ(4)に格納されたデータにより次の
基準電圧を選択するためのA/D制御回路、(6)はテ
スト時にアナログ入力端子に出力する電圧を選択するA
/Dテストレジスタである。
図において、(11はコンパレータ、(2)はアナログ
入力端子、(3)は基準電圧発生回路、(4)はコンパ
レータ(1)の出力を格納するA/Dレジスタ、(5)
はA/Dレジスタ(4)に格納されたデータにより次の
基準電圧を選択するためのA/D制御回路、(6)はテ
スト時にアナログ入力端子に出力する電圧を選択するA
/Dテストレジスタである。
次に動作について説明する。通常の使用時については前
記従来のものと同様の動作を行なうが、テスト時にはA
/Dテストレジスタ(6)により選択されたアナログ電
圧がアナログ入力端子(2)と接続され、この電圧をA
/D変換することにより、テストを実行する。
記従来のものと同様の動作を行なうが、テスト時にはA
/Dテストレジスタ(6)により選択されたアナログ電
圧がアナログ入力端子(2)と接続され、この電圧をA
/D変換することにより、テストを実行する。
以上のようにこの発明によれば、外部よりアナログ入力
を入力することなく、内部にてアナログ値を発生するこ
とが可能なようにしたので、精度の高いA/Dコンバー
タのテストが可能なA/Dコンバータが得られるという
効果がある。
を入力することなく、内部にてアナログ値を発生するこ
とが可能なようにしたので、精度の高いA/Dコンバー
タのテストが可能なA/Dコンバータが得られるという
効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるテスト用の回路を内
蔵したA/Dコンバータの回路図、第2図は従来のA/
Dコンバータの回路図である。 図において、(1)はコンパレータ、(3)は基準電圧
発生回路、(4)はA/Dレジスタ、(5)はA/D制
御回路、(6)はA/Dテストレジスタを示す。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
蔵したA/Dコンバータの回路図、第2図は従来のA/
Dコンバータの回路図である。 図において、(1)はコンパレータ、(3)は基準電圧
発生回路、(4)はA/Dレジスタ、(5)はA/D制
御回路、(6)はA/Dテストレジスタを示す。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- アナログ入力を基準電圧と比較することによりデジタル
値に変換するA/Dコンバータにおいて、基準電圧発生
回路の出力電圧をテストモード時に外部に出力すること
が可能なことを特徴とするA/Dコンバータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21356689A JPH0376428A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | A/dコンバータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21356689A JPH0376428A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | A/dコンバータ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0376428A true JPH0376428A (ja) | 1991-04-02 |
Family
ID=16641334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21356689A Pending JPH0376428A (ja) | 1989-08-18 | 1989-08-18 | A/dコンバータ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0376428A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06181434A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-06-28 | Hitachi Ltd | アナログ・ディジタル変換装置の異常検出方式 |
JP2011038876A (ja) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Yazaki Corp | 複数組電池の電圧測定装置 |
-
1989
- 1989-08-18 JP JP21356689A patent/JPH0376428A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06181434A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-06-28 | Hitachi Ltd | アナログ・ディジタル変換装置の異常検出方式 |
JP2011038876A (ja) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Yazaki Corp | 複数組電池の電圧測定装置 |
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