JP2592656B2 - マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 - Google Patents

マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法

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JP2592656B2 JP15309788A JP15309788A JP2592656B2 JP 2592656 B2 JP2592656 B2 JP 2592656B2 JP 15309788 A JP15309788 A JP 15309788A JP 15309788 A JP15309788 A JP 15309788A JP 2592656 B2 JP2592656 B2 JP 2592656B2
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は入力段にマルチプレクサを具備したAD変換
器に対する試験法に関する。
「従来の技術」 従来の試験法は一つの可変電圧源をマルチプレクサ付
AD変換器の一つのチャネルに接続し、その電圧源の電圧
値をAD変換器のLSBの1/Nのステップで、ゼロスケールか
らフルスケールまで単純に変化させ、AD変換出力をバッ
ファメモリに取込み、出力の遷移点を探す直線性のチェ
ックを行っていた。
「発明が解決しようとする課題」 従来は入力値を単純に１ステップずつ変化させる静的
な測定であったが、実際には入力はダイナミックに変化
するものであり実動作と異なった試験となっていた。
また入力電圧を１ステップずつ変化させて測定を行う
が、その１ステップ変化した電圧が安定するまでの時
間、いわゆるセットリング時間が存在しているため、こ
のセットリング時間の間は測定を中止する必要があり、
測定回数が非常に多いため、数ミリセコンドの待ち時間
も無視できなくなる。
「課題を解決するための手段」 この発明によれば被試験マルチプレクサ付AD変換器に
対し２台の可変電圧源が接続され、チャネル選択、AD変
換、AD変換出力の取込み、入力値の変化の一連の動作は
各チャネル交互に行われる。その入力値の変化は一方を
ゼロスケールからフルスケールへ変化させ、他方をフル
スケールからゼロスケールに変化させる。
「実施例」 第１図はこの発明の実施例を示す。被試験マルチプレ
クサ付AD変換器11は入力段にマルチプレクサ12が設けら
れ、マルチプレクサ12で選択されたチャネルがAD変換部
13に接続される。マルチプレクサ12はアドレスラッチ14
にラッチされたアドレスにより選択制御が行われる。コ
ントロールロジック15でAD変換のモード選択と、チャネ
ル選択とが行われる。
この発明においては可変電圧源16,17がマルチプレク
サ付AD変換器11に接続される。この例では、第１チャネ
ルCH1と、第４チャネルCH4とに可変電圧源16,17がそれ
ぞれ接続される。パターン発生器18からアドレスラッチ
14へラッチされるアドレス、つまり選択するチャネルが
出力されると共に、全体の動作クロックCLKと、AD変換
部13の変換起動指令STARTとが出力される。更にパター
ン発生器18により可変電圧源16,17と発生電圧が制御さ
れる。
可変電圧源16はゼロスケールからフルスケールまで、
AD変換部13のLSBの1/Nのステップで変化される。一方可
変電圧源17はフルスケールからゼロスケールまで、AD変
換部13のLSBの1/Nのステップで変化される。この各ステ
ップ変化ごとにアドレスラッチ14に対して第１チャネル
CH1と第４チャネルCH4とのアドレスが交互にラッチされ
る。
第２図Ａに示す動作クロックに対し、チャネルを選択
するアドレスは第２図Ｂに示すように発生し、AD変換の
開始指令が第２図Ｃに示すように発生し、第２図Ｄに示
すようにAD変換出力が取出され、可変電圧源16,17に対
する電圧設定が第２図E,Fに示すように行われ、AD変換
出力が第２図Ｇに示すようにバッファメモリに取込まれ
る。
第２図の時点でチャネル選択が行われ、時点でAD
変換が行われ、時点でAD変換出力のバッファメモリへ
の取込みが行われ、時点で可変電圧源の電圧が変化さ
れる。
このように可変電圧源16,17が交互に選択されるた
め、可変電圧源のセットリング時間に影響されることな
く、試験をすることができる。また可変電圧源16はゼロ
スケールからフルスケールに変化し、可変電圧源17はフ
ルスケールからゼロスケールに変化するため、出力コー
ドは第３図に示すようになり、AD変換部13に入力される
電圧はダイナミックに変化し、実際の動作に近い試験が
行われる。
上述では可変電圧源を２台使用したが、３台以上使用
してもよい。
「発明の効果」 以上述べたようにこの発明によれば交互にチャネル選
択をしているため可変電圧源16,17のセットリング時間
に影響されることなく試験を行うことができ、それだけ
短時間に試験を行うことができる。また可変電圧源16,1
7の一方をゼロスケールからフルスケールに変化させ、
他方をフルスケールからゼロスケールに変化させ、これ
ら電圧を交互にAD変換しているため、AD変換部13の入力
がダイナミックに変化し、実動作に近い試験を行うこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
その動作例を示すタイムチャート、第３図は出力の変化
状態を示す図である。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】被試験マルチプレクサ付AD変換器に対し、
    ２台の可変電圧源を接続し、 チャネル選択、AD変換、AD変換出力の取込み、入力値の
    変化の一連の動作を各チャネル交互に行い、 入力値の変化は一方をゼロスケールからフルスケールへ
    変化させ、他方をフルスケールからゼロスケールに変化
    させるマルチプレクサ付AD変換器の試験法。
JP15309788A 1988-06-20 1988-06-20 マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 Expired - Lifetime JP2592656B2 (ja)

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JP4801180B2 (ja) * 2009-03-06 2011-10-26 株式会社日立製作所 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法
JP5590078B2 (ja) 2012-07-17 2014-09-17 株式会社デンソー マルチプレクサの異常診断装置

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