JPH0324483A

JPH0324483A - 故障診断回路

Info

Publication number: JPH0324483A
Application number: JP1159254A
Authority: JP
Inventors: Takenori Hirano; 武範平野; Hiroshi Nakamura; 寛中村; Hidekazu Kiuchi; 木内　英一
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1989-06-21
Filing date: 1989-06-21
Publication date: 1991-02-01

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野〉本発明は故障診断回路に関する．（従来の技術〉周知のように、電子装置は保守の容易化を図るため、最
小交換単位の電子回路の複数個を相互接続して構成され
、電子回路ごとに故障診断を行い、保守ができるように
なっている．即ち、例えば各電子回路に所定パターンのテスト信号を
発生するテスト信号発生器を内蔵させ、係員が該当電子
回路をテストモードにセ・ントしてテスト信号を入力さ
せ、その出力段における出力信号と期待値信号とを計測
器にて比較器して当該電子回路の良否判定を行い、これ
を全ての電子回路について順々に行う．（発明が解決しようとする課題〉しかし、上述した従来の故障診断方式では次のような問
題がある．即ち、電子回路内蔵のテスト信号を用いる場合、テスト
信号パターンの種類は限定されたバタ・−ンとなるので
、この限られたパターンのテスト信号で回路の全動作を
点検することは困難である。

従って、各電子回路の動作確認を完全に行い正しい良否
判定をし、故障部位を正しく特定するためには、専門の
故障診断員が専用計測器を用いて各電子回路ごとに精査
しなければならず、故障診断処理に多大な時間を要する
．本発明は、このような従来の問題に鑑みなされたもので
、その目的は、自動的に故障部位の特定をなし得る故障
診断回路を提供することにある．（課題を解決するため
の手段）前記目的を達成するために、本発明の故障診断回路は次
の如き構成を有する。

即ち、本発明の故障診断回路は、相互接続された複数の
電子回路で構成される電子装置におけるその各電子回路
の故障診断を行う故障診断回路であって；　この故障診
断回路は、テスト信号を発生するテスト信号発生器と；
　装置入力信号とテスト信号とを切り替えてそれを装置
の入力段に印加する信号切替器と；　各電子回路の出力
段において入力テスト信号に対する出力信号とこの出力
信号に対する期待値信号とを比較し当該電子回路の良否
判定を行う良否判定器と；　この良否判定器の判定結果
出力に基づいて故障電子回路を特定する故障部位特定器
と；　を備えることを特徴とするものである．（作　用）次に、前記の如く構戒される本発明の故障診断回路の作
用を説明する．本発明では、テスト信号発生器を独立した回路として設
け、任意パターンのテスト信号を発生できるようにして
ある．このテスト信号は装置入カ信号と切り替えられて
装置に入カする．そして、装置内の各電子回路は、通常
信号の流れ等を基準にして配列の前後関係が定められる
がら、各電子回路の良否判定をこのルールに従った順序
で行う．そうすれば、順々になされた判定結果によって
、前回までの判定結果が「良」で今回の判定結果が「否
」であれば、「今回Ｊに該当する電子回路が故障部位で
あると特定できることになる．以上の故障診断動作は、
全て自動的に行われ、従来必要であった専用計測器、専
門故障診断員は不要であり、大幅に省力化が可能となる
。

（実　施　例）以下、本発明の実施例を添付図面を参照して説明する．第１図は本発明の第１実施例に係る故障診断回路を示す
．第１図において、電子装置２は、最小交換囃位たる複
数の電子回路（３Ａ〜３Ｎ）の相互接続で楕戒される．
これら複数の電子回路（３Ａ〜３Ｎ）は、信号の流れ等
を基準にして配列の前後関係が定められる．テスト信号発生器４は、各電子回路（３Ａ〜３Ｎ〉の十
分な動作点検を行うに必要な各種パターンのテスト信号
１１を任意に発生する．これは独立した回路であるがら
可能である．信号切替器１は、電子装置２に前置され、装置入力信号
１０とテスト信号１１とを切り替えてそれを電子装置２
に入力信号として出力する．この信号切替器の制御態様
には各種あり、詳細は後述する．良否判定器５は，前記テスト信号１１の入力する各電子
回路（３Ａ〜３Ｎ）の出力信号（１２Ａ〜１２Ｎ）を受
け、それに対する期待値信号とを比較し各電子回路（３
Ａ〜３Ｎ）の動作の良否の判定を行うことを、所定の順
序で、例えば電子回路３Ａから順に行い、その判定結果
を順次故障部位特定器６に出力する．故障部位特定器６は、例えば第１表に示す如き故障診断
アルゴリズムを内蔵し、各電子回路（３Ａ〜３Ｎ）の出
力信号についての良否判定結果入力を順に監視し、例え
ば電子回路３Ｄまでの判定良否判定結果　　○・・・・
・・良、　×・・曲否、第　　１表結果が「良」であり、次の電子回路３Ｅの判定結果が「
否」であれば、電子回路３Ｅを故障部位として特定する
．次に、第２図は第２実施例に係る故障診断回路を示す．
この第２実施例回路は、モード選択器７を追加したもの
である．このモード選択器７は、信号切替器１に対し、
電子装置２が運用状態にあるときは装置入力信号１０を
選択し、また非運用状態にあるときはテスト信号１１を
選択するように切替制御信号１３を出力する．即ち、本第２実施例回路によれば、モード選択器７を外
部から制御して電子装置２の運用モードを選択させ、電
子装置２が非運用状態にあるとき故障診断を行うように
することができる．また、第３図に示すように、タイミ
ング制御器８を信号切替器１とモード選択器７間に介在
させ、電子装置２の運用状態では故障検出を行い、非運
用状態で故障部位の特定を行うようにも構成できる．即ち、モード選択器７の出力たるモード選択信号１４が
運用状態を示すときは、タイミング制御器８は所定のタ
イミングスケジュールに基づき所定の時間内だけテスト
信号１１を選択するように信号切替器１に対して切替制
御信号１３を出力する．このとき、故障部位特定器６は、最後段の電子回路３Ｎ
の出力信号の良否判定結果を監視し、その判定結果が「
否」であった場合、電子回路３Ａ〜同３Ｎのいずれかに
故障が発生したと判断する．そして、この判断結果に基
づきモード選択器７に非運用状態を選択させ、タイミン
グ制御器８に信号切替器ｌが常時テスト信号１１を選択
するように切替ｒｔｉｒｍ信号ｌ３を出力させる．これ
により、故障部位特定器６は、各電子回路（３Ａ〜３Ｎ
）の出力信号の良否判定結果を前述したようにして順次
監視し、故障部位の特定を行うことができる．なお、第４図に示すように、電子装置２内に共通バス９
を設け、各電子回路（３Ａ〜３Ｎ）はテスト信号１１に
対する出力信号（１２Ａ〜１　２Ｎ）を所定のタイミン
グスケジュールに基づいて順次共通バス９に出力し、各
出力信号（１２Ａ〜１２Ｎ）が共通バス９からシリアル
に良否判定器５に取り込まれるようにしても良い．このようにすれば、良否判定器５の入力信号線の本数を
大幅に少なくすることができる．なお、この処置は第１
図、第２図に示すものにおいても同様に適用できること
は言うまでもない．（発明の効果）以上詳述したように、本発明の故障診断回路によれば、
電子装置外部で任意に発生させたテスト信号を電子装置
に入力し、各電子回路の良否判定を十分に行い、その判
定結果に基づき故障部位を特定することを自動的に行え
るようにしたので、従来必要であった専用計測器、専門
故障診ＴＩＲ員を不要とすることができ、大幅な省力化
が可能となる効果がある．

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例に係る故障診断回路の構戒
ブロック図、第２図は第２実施例に係る故障診断回路の
構成ブロック図、第３図は第３実施例に係る故障診断回
路の構戒ブロック図、第４図は第４実施例に係る故障診
断回路の楕或ブロック図である．１・・・・・・信号切替器、〜３Ｎ・・・・・・電子回路、５・・・・・・良否判定器、７・・・・・・モード選択器、９・・・・・・共通バス．２・・・・・・電子装置、　３Ａ４・・・・・・テスト信号発生器、６・・・・・・故障部位特定器、８・・・・・・タイミング制６ｌ器、

Claims

【特許請求の範囲】

相互接続された複数の電子回路で構成される電子装置に
おけるその各電子回路の故障診断を行う故障診断回路で
あつて；この故障診断回路は、テスト信号を発生するテ
スト信号発生器と；装置入力信号とテスト信号とを切り
替えてそれを装置の入力段に印加する信号切替器と；各
電子回路の出力段において入力テスト信号に対する出力
信号とこの出力信号に対する期待値信号とを比較し当該
電子回路の良否判定を行う良否判定器と；この良否判定
器の判定結果出力に基づいて故障電子回路を特定する故
障部位特定器と；を備えることを特徴とする故障診断回
路。