JP2647209B2 - 電気回路の試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、複数の回路部分を備えている電気回路の試
験方法に関し、特に、集積回路（LSI）や装置全体等の
大規模電気回路の試験に適用して好適な方法に関する。

［従来の技術］ 例えば、通信ネットワークの多重化装置に使用される
ような集積回路は、非常に多くの回路部分（機能ユニッ
ト部分）を備え、また、入力データ群が多種多様に変化
する。このような集積回路の試験は、以下のように行わ
れていた。

すなわち、第２図に示すような多くの機能ユニット部
分F1、F2、…Fnを備えた集積回路１に対して、主として
動作する機能ユニット部分を考慮した試験パターンデー
タを入力ピンから入力して集積回路１を動作させ、出力
ピンから出力されたパターンデータが、試験パターンデ
ータに対して期待されたパターンデータになっているか
否かを判断して試験を行なっていた。

［発明が解決しようとする課題］ ところで、通信ネットワークのための各種装置に用い
られる集積回路の入出力ピン数は両者合わせて200〜300
ピンと非常に多く、しかも、多くの機能ユニット部分に
分かれている。また、通信ネットワークが公衆を対象と
したネットワークの場合、信頼性が特に問題となり、考
えられる全ての試験パターンデータで試験を繰返すこと
が求められる。このような集積回路に対する試験パター
ンデータの総数は、実際上、50000個程度であった。

そのため、試験のための操作工数も非常に多くなって
おり、１個に対する試験時間も非常に長くなっていた。
また、多くの機能ユニット部分を考慮した試験パターン
データの設計も大変な作業となっていた。

今後、さらに集積化が進むと考えられ、かかる課題の
早期の解決が求められている。

なお、このような問題は集積回路について生じるだけ
でなく、集積回路や各種の部品を多数搭載したプリント
配線基板についても同様に生じており、また、複数のプ
リント配線基板等でなる装置全体の試験についても同様
に生じている。

本発明は、以上の点を考慮してなされたものであり、
試験信号数を少なくすることができ、試験信号の設計作
業や実際の試験操作が容易な、しかも、試験時間を短く
することができる電気回路の試験方法を提供しようとす
るものである。

［課題を解決するための手段］ かかる課題を解決するため、本発明においては、第１
の回路部分及びこの第１の回路部分の処理結果を利用す
る第２の回路部分を少なくとも備えた電気回路を以下の
ように試験することとした。すなわち、第１及び第２の
回路部分間にセレクタ回路を介挿させた。

そして、第１の回路部分に対しては、入力端子を介し
て第１の試験信号を与え、この第１の試験信号に対する
第１の回路部分からの出力信号をセレクタ回路を介して
試験用出力端子から取り出し、取り出した信号が所定の
ものとなっているか否かに基づいて試験を行なう。

第２の回路部分に対しては、試験用入力端子から第２
の試験信号を入力し、この第２の試験信号をセレクタ回
路を介して第２の回路部分に与え、この第２の試験信号
に対する第２の回路部分からの出力信号を出力端子から
取り出し、取り出した信号が所定のものとなっているか
否かに基づいて試験を行なう。

また、セレクタ回路部分に対しては、セレクタ回路に
よって選択された選択信号を試験用出力端子から取り出
し、取り出した信号が所定のものとなっているか否かに
基づいて試験を行なう。

［作用］ 本発明は、複数の回路部分でなる電気回路の試験を全
体的に行なうのではなく、各回路部分毎に行なうことを
目的とするものであり、本発明自体は、その内の第１の
回路部分とこの第１の回路部分の処理結果を利用する第
２の回路部分とでなる基本的な電気回路を試験するもの
である。勿論、この基本的な電気回路を有する、より大
きな電気回路も試験することができる。

ここで、前段の第１の回路部分からの出力信号を取り
出せるように、また、後段の第２の回路部分に第２の試
験信号を与えることができるようにセレクタ回路を設け
ている。また、第１の回路部分からの出力信号を外部に
取り出せるように試験用出力端子を設け、第２の回路部
分に第２の試験信号を入力できるように試験用入力端子
を設けている。

入力端子を介して第１の試験信号を第１の回路部分に
与え、この第１の試験信号に対する第１の回路部分から
の出力信号をセレクタ回路を介して試験用出力端子から
取り出し、取り出した信号が第１の試験信号に対応した
所定のものとなっているか否かに基づいて第１の回路部
分の試験を行なう。

他方、試験用入力端子から第２の試験信号をセレクタ
回路を介して第２の回路部分に入力し、この第２の試験
信号に対する第２の回路部分からの出力信号を出力端子
から取り出し、取り出した信号が所定のものとなってい
るか否かに基づいて第２の回路部分の試験を行なう。

第１又は第２の回路部分に対する試験のための入力信
号として多くの試験信号を用いることが求められる場合
には、上途の処理を繰返す。

［実施例］ 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。第１図は、この実施例の試験方法を具現化した基本
的構成である。

第１図において、第１の回路部分（機能ユニット部
分）11は、入力端子10から与えられた入力信号を処理す
るものである。第１の機能ユニット部分11の出力信号は
セレクタ回路12の第１の選択入力端子に与えられる。

セレクタ回路12の第２の選択入力端子には、入力端子
13から試験信号が入力される。セレクタ回路12には、通
常動作モードか又は第２の試験モードかを示す選択制御
信号モード入力端子17から与えられる。セレクタ回路12
は、通常動作モード及び第１の試験モードのときに第１
の機能ユニット部分11の出力信号を選択し、第２の試験
モードのときに試験信号を選択する。

セレクタ回路12で選択された選択信号は、第２の回路
部分（機能ユニット部分）14及び試験用出力端子15に与
えられる。第２の機能ユニット部分14は、選択信号に対
して所定の処理を施して得られた信号を出力端子16に与
える。

この実施例の試験方法では、第１の機能ユニット部分
11と第２の機能ユニット部分14とを共に動作させた試験
は行なわない。すなわち、第１の機能ユニット部分11と
第２の機能ユニット部分14とを別個に試験する。

第１の機能ユニット部分11に対する試験では、第１の
試験信号を入力する前に、セレクタ回路12が第１の機能
ユニット部分11からの出力信号を選択するように制御し
ておく。そして、入力端子10に第１の試験信号を入力
し、その試験信号に対して第１の機能ユニット部分11が
処理を施して得た信号を試験用出力端子15から得て、こ
の出力信号が入力された試験信号に対応したものになっ
ているか否かを判断して試験を行なう。このような１個
の試験信号に対する試験を、複数の試験信号に対して行
なって第１の機能ユニット部分11の試験を行なう。

第２の機能ユニット部分14に対する試験では、第２の
試験信号を入力する前に、セレクタ回路12が試験用入力
端子13から入力された第２の試験信号を選択するように
制御しておく。そして、試験用入力端子13に第２の試験
信号を入力し、その試験信号に対して第２の機能ユニッ
ト部分14が処理を施して得た信号を出力端子16から得
て、この出力信号が入力された第２の試験信号に対応し
たものになっているか否かを判断して試験を行なう。こ
のような１個の試験信号に対する試験を、複数種類の試
験信号に対して行なって第２の機能ユニット部分14の試
験を行なう。

従って、この実施例によれば、大規模電気回路を複数
の回路部分に分けて試験することができ、異常箇所の特
定がし易いものとなる。

また、第１の機能ユニット部分11及び第２の機能ユニ
ット部分14を分離することなく試験する場合に必要な試
験信号数より、第１の機能ユニット部分11だけを試験す
るのに必要な第１の試験信号数及び第２の機能ユニット
部分14だけを試験するのに必要な第２の試験信号数の和
の方が少なくなり、試験工数及び試験時間を従来より削
減することができ、試験信号の設計も容易にすることが
できる。これは、後者のような場合には、回路部分の相
互作用を考慮した試験を省略することができるからであ
る。また、相互作用を考慮した試験を省略しても、各単
独の試験から相互作用を考慮した場合の結果を推測する
ことができ、そのことが問題となることがないためであ
る。

ところで、この実施例の試験方法を実現するために
は、新たに設けられたセレクタ回路12が必須の要件であ
るが、このセレクタ回路12をも試験することができる。
すなわち、セレクタ回路12によって選択された選択信号
を試験用出力端子15にも与えるようにしたので、例え
ば、デジタル信号におけるオール論理「１」故障や論理
「０」故障を検出することができる。また、両入力端子
10及び13に試験信号を入力した状態で選択制御信号を繰
返し切り替えて出力信号を検出することで切替えに対す
る試験を行なうことができる。このようにセレクタ回路
12を試験してセレクタ回路12の正常を確認できるので、
試験信号及び出力信号の比較によって各機能ユニット部
分11又は14の正確な試験を行なうことができる。

各機能ユニット部分11又は14を個別に試験するだけで
あれば、試験用出力端子15をセレクタ回路12の出力端子
に接続するのではなく、試験用出力端子15を第１の機能
ユニット部分11の出力端子に直接接続すれば良いが、こ
のようにするとセレクタ回路12の故障を検出できず、セ
レクタ回路の故障を機能ユニット部分の故障と誤って判
断する恐れがある。

第３図は、上途した試験方法を機能ユニット部分が３
個の場合に適用した構成を示し、３個の機能ユニット部
分が直列に接続されている構成を示す。

第３図において、通常動作時には、第１の機能ユニッ
ト部分20の処理結果が第１のセレクタ回路21を介して第
２の機能ユニット部分22に与えられ、第２の機能ユニッ
ト部分22の処理結果が第２のセレクタ回路23を介して第
３の機能ユニット部分24に与えられ、第３の機能ユニッ
ト部分24の処理結果が出力端子25を介して出力される。
すなわち、かかる経路で信号が流れるようにセレクタ回
路21及び23の選択が制御される。なお、この通常動作時
において、出力端子26及び28からの出力信号を適宜監視
することにより、セレクタ回路21及び23の故障を検出す
ることができる。

第１の機能ユニット部分20の試験は、入力端子19を介
して試験信号を入力し、第１の機能ユニット部分20から
出力された信号を第１のセレクタ回路21及び第１の試験
用出力端子26を介して取り出し、この出力信号が入力さ
れた試験信号に対応したものになっているか否かを判断
して行なう。

第２の機能ユニット部分22の試験は、第１の試験用入
力端子27及び第１のセレクタ回路21を介して第２の機能
ユニット部分22に試験信号を入力し、第２の機能ユニッ
ト部分22から出力された信号を第２のセレクタ回路23及
び第２の試験用出力端子28を介して取り出し、この出力
信号が入力された試験信号に対応したものになっている
か否かを判断して行なう。

第３の機能ユニット部分24の試験は、第２の試験用入
力端子29及び第２のセレクタ回路23を介して第３の機能
ユニット部分24に試験信号を入力し、第３の機能ユニッ
ト部分24から出力された信号を出力端子25を介して取り
出し、この信号が入力された試験信号に対応しったもの
になっているか否かを判断して行なう。

このように第１図に示した基本的な試験構成を拡張す
ることができる。機能ユニット部分が４個以上直列に配
置されている場合も同様に構成できる。

第４図は、上途した第１図の基本的な試験方法を機能
ユニット部分が３個の場合に適用した構成を示し、２個
の機能ユニット部分の処理結果を他の機能ユニット部分
が利用する場合の構成を示している。

第４図において、通常動作時には、第１の機能ユニッ
ト部分35の処理結果が第１のセレクタ回路36を介して第
２の機能ユニット部分37に与えられ、第３の機能ユニッ
ト部分38の処理結果が第２のセレクタ回路39を介して第
２の機能ユニット部分37に与えられ、第２の機能ユニッ
ト部分37は、第１及び第３の機能ユニット部分35及び38
の処理結果を利用して処理を行ない、その処理結果を出
力端子45を介して出力する。すなわち、かかる経路で信
号が流れるようにセレクタ回路36及び39の選択が制御さ
れる。なお、この通常動作時において、出力端子40及び
42からの出力信号を適宜監視することにより、セレクタ
回路36及び39の故障を検出することができる。

第１の機能ユニット部分35の試験は、第１の入力端子
34を介して第１の試験信号を入力し、第１の機能ユニッ
ト部分35から出力された信号を第１のセレクタ回路36及
び第１の試験用出力端子40を介して取り出し、この出力
信号が第１の試験信号に対応したものになっているか否
かを判断して行なう。

第２の機能ユニット部分38の試験は、第２の入力端子
41を介して第２の機能ユニット部分38に第２の試験信号
を入力し、第２の機能ユニット部分38から出力された信
号を第２のセレクタ回路39及び第２の試験用出力端子42
を介して取り出し、この信号が第２の試験信号に対応し
たものになっているか否かを判断して行なう。

第３の機能ユニット部分37の試験は、第１及び第２の
試験用入力端子43及び44と、第１及び第２のセレクタ回
路36及び39を介して第３の機能ユニット部分37に試験信
号を入力し、第３の機能ユニット部分37から出力された
信号を出力端子45を介して取り出し、この信号が第３の
試験信号に対応したものになっているか否かを判断して
行なう。

このように第１図に示した基本的な試験構成を並列的
に拡張することができる。並列処理の機能ユニット部分
が３個以上配置されている場合も同様である。

実際上、単独で試験をすることが求められる機能ユニ
ット部分が複数ある場合それらが直列的及び又は並列的
な関係にあることが多く、第３図及び第４図の構成を適
宜利用することで試験を行なうことができ、試験効率を
良好なものとすることができる。

なお、本発明の試験方法は、多くの機能ユニット部分
を備えた集積回路だけでなく、多数の集積回路や各種の
部品を搭載したプリント配線基盤や、複数のプリント配
線基板等でなる装置全体の試験についても同様に適用す
ることができる。

また、デジタル信号処理又はアナログ信号処理を意図
したいずれの回路にも本発明を適用することができる。

［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば、大規模な電気回路を
構成する複数の回路部分を、セレクタ回路、試験用入力
端子及び試験用出力端子を設けることで個別に試験する
ようにしたので、全体として用意する試験信号数が従来
より少なくなり、試験信号の設計が容易になると共に試
験工数及び試験時間を削減することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による電気回路の試験方法の一実施例例
を示すブロック図、第２図は従来方法の説明図、第３図
及び第４図はそれぞれ第１図実施例を拡張した構成例を
示すブロック図である。 10……入力端子、11、14……回路部分、12……セレクタ
回路、13……試験用入力端子、15……試験用出力端子、
16……出力端子。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】第１の回路部分及びこの第１の回路部分の
   処理結果を利用する第２の回路部分を少なくとも備えた
   電気回路を試験する電気回路の試験方法において、 上記第１及び第２の回路部分間にセレクタ回路を介挿
   し、 上記第１の回路部分に対しては、入力端子を介して第１
   の試験信号を与え、この第１の試験信号に対する上記第
   １の回路部分からの出力信号を上記セレクタ回路を介し
   て試験用出力端子から取り出し、取り出した信号が所定
   のものとなっているか否かに基づいて試験を行ない、 上記第２の回路部分に対しては、試験用入力端子からの
   第２の試験信号を入力し、この第２の試験信号を上記セ
   レクタ回路を介して上記第２の回路部分に与え、この第
   ２の試験信号に対する上記第２の回路部分からの出力信
   号を出力端子から取り出し、取り出した信号が所定のも
   のとなっているか否かに基づいて試験を行ない、 上記セレクタ回路部分に対しては、上記セレクタ回路に
   よって選択された選択信号を上記試験用出力端子から取
   り出し、取り出した信号が所定のものとなっているか否
   かに基づいて試験を行なうことを特徴とする電気回路の
   試験方法。