JPH0287819A - BiCMOS論理回路 - Google Patents
BiCMOS論理回路Info
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- JPH0287819A JPH0287819A JP63240176A JP24017688A JPH0287819A JP H0287819 A JPH0287819 A JP H0287819A JP 63240176 A JP63240176 A JP 63240176A JP 24017688 A JP24017688 A JP 24017688A JP H0287819 A JPH0287819 A JP H0287819A
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- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
-
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、B i CMOS論理回路に関し、特にその
動作速度を高速ならしめたB i CMOS論理回路に
関する。
動作速度を高速ならしめたB i CMOS論理回路に
関する。
[従来の技術]
従来のB i CMOS論理回路においては、その出力
がフォールする際の電荷引き抜き用のバイポーラトラン
ジスタのベース電流は、そのゲートが論理入力に接続さ
れたMOS)ランジスタで供給しているのみであった。
がフォールする際の電荷引き抜き用のバイポーラトラン
ジスタのベース電流は、そのゲートが論理入力に接続さ
れたMOS)ランジスタで供給しているのみであった。
そのようなりiCMO3論理回路の例を第4図に示す、
これはB i CMOSインバータの例であって、同図
に示すように、二つの電源VCCとVEEとの間には、
PMOSトランジスタ401とNMOS)ランジスタ4
゜2とからなるCMOSインバータと、NPNバイポー
ラトランジスタ404と405との直列回路とが接続さ
れている。そして、CMOSインバータの出力端子N4
1は、電源Vce寄りのバイポーラトランジスタ404
のベースに接続され、また、電源VEE寄りのバイポー
ラトランジスタ405のコレクタ・ベース間には、その
ゲートが入力端子に接続されたNMOS)ランジスタ4
03が接続され、NMOSトランジスタ403のソース
とバイポーラトランジスタ405のベースとの接続点N
42と電源VEEとの間には抵抗406が接続されてい
る。
これはB i CMOSインバータの例であって、同図
に示すように、二つの電源VCCとVEEとの間には、
PMOSトランジスタ401とNMOS)ランジスタ4
゜2とからなるCMOSインバータと、NPNバイポー
ラトランジスタ404と405との直列回路とが接続さ
れている。そして、CMOSインバータの出力端子N4
1は、電源Vce寄りのバイポーラトランジスタ404
のベースに接続され、また、電源VEE寄りのバイポー
ラトランジスタ405のコレクタ・ベース間には、その
ゲートが入力端子に接続されたNMOS)ランジスタ4
03が接続され、NMOSトランジスタ403のソース
とバイポーラトランジスタ405のベースとの接続点N
42と電源VEEとの間には抵抗406が接続されてい
る。
この種B i CMOS論理回路においては、その出力
がフォールする場合、出力端子○からの電荷の引き抜き
は、直列接続されたバイポーラトランジスタのうち、V
EE寄りのバイポーラトランジスタ405で行い、その
ベース電流は、コレクタ・ベース間に接続されたNMO
Sトランジスタ403のゲートに入力信号を与えること
によりこれを導通せしめて、供給していた。
がフォールする場合、出力端子○からの電荷の引き抜き
は、直列接続されたバイポーラトランジスタのうち、V
EE寄りのバイポーラトランジスタ405で行い、その
ベース電流は、コレクタ・ベース間に接続されたNMO
Sトランジスタ403のゲートに入力信号を与えること
によりこれを導通せしめて、供給していた。
[発明が解決しようとする開題点]
上述した従来のB i CMOS論理回路は、出力がフ
ォールする場合、出力引き下げ用のバイポーラトランジ
スタのベース電流を、該バイポーラトランジスタのコレ
クタ・ベース間に接続されたNMOS)ランジスタで供
給しているため、出力の電位がある程度まで下がって、
バイポーラトランジスタのコレクタ・ベース間の電圧が
小さくなると、NMOSトランジスタのドレイン・ソー
ス間電圧が小さくなる。そのため、NMo5トランジス
タは線型動作領域にはいり、十分なベース電流を供給す
ることができなくなる。その結果、出力電位の低下速度
が小さくなり、論理回路の遅延時間が増大する。
ォールする場合、出力引き下げ用のバイポーラトランジ
スタのベース電流を、該バイポーラトランジスタのコレ
クタ・ベース間に接続されたNMOS)ランジスタで供
給しているため、出力の電位がある程度まで下がって、
バイポーラトランジスタのコレクタ・ベース間の電圧が
小さくなると、NMOSトランジスタのドレイン・ソー
ス間電圧が小さくなる。そのため、NMo5トランジス
タは線型動作領域にはいり、十分なベース電流を供給す
ることができなくなる。その結果、出力電位の低下速度
が小さくなり、論理回路の遅延時間が増大する。
第5図に第4図の回路に対する入力端子■、出力端子0
の電位VI、VOの時間に対する波形及びCMOS論理
回路の出力端子N41の電位VN41の波形を示す。こ
こで、VS21が速やかに下降しているにも拘らず、バ
イポーラトランジスタ405に十分なベース電流が供給
されず、そのコレクタ電流は小さいままに留まるので、
VOの降下が遅れ、伝播遅延時間tpdが大きくなって
いる。例えば、PMOSトランジスタ401.NMOS
トランジスタ402.403のゲート巾/ゲート長を°
各々20/1.5.5/1.3.10/1.3[μm]
とし、バイポーラトランジスタ304.305のエミッ
タ面積を7.2μm2抵抗306を20にΩとし、電源
電圧を4,5Vとした場合、遅延時間tpc+は、tp
d=0.63ns程度となる。
の電位VI、VOの時間に対する波形及びCMOS論理
回路の出力端子N41の電位VN41の波形を示す。こ
こで、VS21が速やかに下降しているにも拘らず、バ
イポーラトランジスタ405に十分なベース電流が供給
されず、そのコレクタ電流は小さいままに留まるので、
VOの降下が遅れ、伝播遅延時間tpdが大きくなって
いる。例えば、PMOSトランジスタ401.NMOS
トランジスタ402.403のゲート巾/ゲート長を°
各々20/1.5.5/1.3.10/1.3[μm]
とし、バイポーラトランジスタ304.305のエミッ
タ面積を7.2μm2抵抗306を20にΩとし、電源
電圧を4,5Vとした場合、遅延時間tpc+は、tp
d=0.63ns程度となる。
[問題点を解決するための手段]
本発明によるB1CMOS論理回路は、正電源と負電源
との間に、CMOS論理回路と、2つのNPNバイポー
ラトランジスタの直列回路とが接続され、CMOS論理
回路の出力端子が正電源側のバイポーラトランジスタの
ベースに接続されており、かつ、正電源と、負電源側の
バイポーラトランジスタのベースとの間には、そのゲー
トがCMOS論理回路の出力端子に接続されたNMOS
トランジスタと、そのゲートがCMOS論理回路の入力
端子に接続されたNMOSトランジスタとの直列回路が
接続されたものである。
との間に、CMOS論理回路と、2つのNPNバイポー
ラトランジスタの直列回路とが接続され、CMOS論理
回路の出力端子が正電源側のバイポーラトランジスタの
ベースに接続されており、かつ、正電源と、負電源側の
バイポーラトランジスタのベースとの間には、そのゲー
トがCMOS論理回路の出力端子に接続されたNMOS
トランジスタと、そのゲートがCMOS論理回路の入力
端子に接続されたNMOSトランジスタとの直列回路が
接続されたものである。
[実施例]
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は、本発明の一実施例を示すB1CMOSインバ
ータの回路図であるが、同図において、第4図の従来例
のものと共通の部分には、その1桁目が共通する番号が
付されているのでその部分に関する詳細な説明は省略す
る。この実施例においては、従来のB i CMOSイ
ンバータの回路に加えて、NMOS)ランジスタ107
と108との直列回路が、バイポーラトランジスタ10
5のベースとNMOS)ランジスタ103との接続点N
12と正電源■CCとの間に設置され、各々のNMOS
)ランジスタのゲートは、PMOSトランジスタ101
とNMOS)ランジスタ102からなるCMOSインバ
ータの出力端子Nil及び入力端子Iに接続されている
。
ータの回路図であるが、同図において、第4図の従来例
のものと共通の部分には、その1桁目が共通する番号が
付されているのでその部分に関する詳細な説明は省略す
る。この実施例においては、従来のB i CMOSイ
ンバータの回路に加えて、NMOS)ランジスタ107
と108との直列回路が、バイポーラトランジスタ10
5のベースとNMOS)ランジスタ103との接続点N
12と正電源■CCとの間に設置され、各々のNMOS
)ランジスタのゲートは、PMOSトランジスタ101
とNMOS)ランジスタ102からなるCMOSインバ
ータの出力端子Nil及び入力端子Iに接続されている
。
入力端子Iの電位VIが低レベルから高レベルへ移行す
る場合、第2図に示すように、入力信号VIが立上り初
めてから、ある一定時間をおいてCMOSインバータの
出力端子Nilの電位VN11が立下り始める。よって
、VIが上昇し、NMOSトランジスタ108がオンす
る時点t1から、VNllが下降し、N M OS ト
ランジスタ107がオフする時点t2までのある一定時
間t。
る場合、第2図に示すように、入力信号VIが立上り初
めてから、ある一定時間をおいてCMOSインバータの
出力端子Nilの電位VN11が立下り始める。よって
、VIが上昇し、NMOSトランジスタ108がオンす
る時点t1から、VNllが下降し、N M OS ト
ランジスタ107がオフする時点t2までのある一定時
間t。
においては、在来ルートとは別に、NMO3)ランジス
タ107.108を通してVCCから直接ベース電流が
バイポーラトランジスタ105へ供給され、ベース電流
が増加する。従って、この期間、コレクタ電流、即ち、
出力端子Oからの電荷の引き抜き速度が増大し、遅延時
間tpc+が減少する。例えば、PMOSトランジスタ
101、NMOSトランジスタ102.103.107
.108のゲート巾/ゲート長を、各々、20/1゜5
.5/1.3.10/1.3.20/1.3.20/1
.3 [μm]とし、バイポーラトランジスタ104.
105のエミッタ面積を7.2μm2、抵抗106を2
0にΩとし、電源電圧を4゜5■とした場合、遅延時間
tpdは、tpd=048nsとなり、従来の第4図の
例と比べて、24%程度の改善をはかることができる。
タ107.108を通してVCCから直接ベース電流が
バイポーラトランジスタ105へ供給され、ベース電流
が増加する。従って、この期間、コレクタ電流、即ち、
出力端子Oからの電荷の引き抜き速度が増大し、遅延時
間tpc+が減少する。例えば、PMOSトランジスタ
101、NMOSトランジスタ102.103.107
.108のゲート巾/ゲート長を、各々、20/1゜5
.5/1.3.10/1.3.20/1.3.20/1
.3 [μm]とし、バイポーラトランジスタ104.
105のエミッタ面積を7.2μm2、抵抗106を2
0にΩとし、電源電圧を4゜5■とした場合、遅延時間
tpdは、tpd=048nsとなり、従来の第4図の
例と比べて、24%程度の改善をはかることができる。
次に、第3図を参照して、本発明の他の実施例について
説明する。この実施例は、BiCMO82人力NOR回
路に関するものであって、従来のBiCMO32人力N
OR回路と同様に、PMOSトランジスタ301.30
2及びN M OS +−ランジスタ303.304か
らなるCMOS2人力NOR回路並びに2電源VCC,
VEE間に接続された2つのバイポーラトランジスタ3
07.308、バイポーラトランジスタ308にベース
電流を供給するNMOSトランジスタ305.306及
びバイポーラトランジスタ308のベース・エミッタ間
に接続された抵抗309によってBiCMO32人力N
OR回路が構成されているが、この実施例では、従来の
このBiCMO82人力NOR回路に加えて、NMO3
)ランジスタ310と、NMO8トランジスタ311及
びNMOSトランジスタ312による並列回路との直列
回路が、図のように、バイポーラトランジスタ308の
ベースとNMo5トランジスタ305.306との接続
点N32と正電源VCCとの間に設置され、各々のゲー
トは、CMO32人力NOR回路の出力端子N31及び
入力端子■1、I2に接続されている。
説明する。この実施例は、BiCMO82人力NOR回
路に関するものであって、従来のBiCMO32人力N
OR回路と同様に、PMOSトランジスタ301.30
2及びN M OS +−ランジスタ303.304か
らなるCMOS2人力NOR回路並びに2電源VCC,
VEE間に接続された2つのバイポーラトランジスタ3
07.308、バイポーラトランジスタ308にベース
電流を供給するNMOSトランジスタ305.306及
びバイポーラトランジスタ308のベース・エミッタ間
に接続された抵抗309によってBiCMO32人力N
OR回路が構成されているが、この実施例では、従来の
このBiCMO82人力NOR回路に加えて、NMO3
)ランジスタ310と、NMO8トランジスタ311及
びNMOSトランジスタ312による並列回路との直列
回路が、図のように、バイポーラトランジスタ308の
ベースとNMo5トランジスタ305.306との接続
点N32と正電源VCCとの間に設置され、各々のゲー
トは、CMO32人力NOR回路の出力端子N31及び
入力端子■1、I2に接続されている。
先の実施例と同様に入力端子II(またはI2)の電位
VII(tたはVl 2)が低レベルから高レベルへ移
行する場合[ただし、このときI2(まなはII)の電
位は低レベルとする]、vrl(またはVl 2>が上
昇し、NMO3)ランジスタ311(または312)が
オンとなり、このトランジスタと既にオン状態となって
いたNMOSトランジスタ310との直列回路によりバ
イポーラトランジスタ308のベース電流を増加させる
。この状態は、CMOS論理回路の出力端子N31の電
位VN31が下降し、NMOSトランジスタ310がオ
フとなるまでの一定時間続き、その間、バイポーラトラ
ンジスタ308のコレクタ電流が増加し、その結果、遅
延時間tpdは小さくなる。
VII(tたはVl 2)が低レベルから高レベルへ移
行する場合[ただし、このときI2(まなはII)の電
位は低レベルとする]、vrl(またはVl 2>が上
昇し、NMO3)ランジスタ311(または312)が
オンとなり、このトランジスタと既にオン状態となって
いたNMOSトランジスタ310との直列回路によりバ
イポーラトランジスタ308のベース電流を増加させる
。この状態は、CMOS論理回路の出力端子N31の電
位VN31が下降し、NMOSトランジスタ310がオ
フとなるまでの一定時間続き、その間、バイポーラトラ
ンジスタ308のコレクタ電流が増加し、その結果、遅
延時間tpdは小さくなる。
以上、インバータとNOR回路の実施例について説明し
たが、本発明は、勿論、他のBiCMO8論理回路にも
適用することができる。
たが、本発明は、勿論、他のBiCMO8論理回路にも
適用することができる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、出力電位引き下げ用のバ
イポーラトランジスタのベースと正電源との間に、その
ゲートがCMOS論理回路の入力端子または出力端子の
それぞれに接続された、MOSトランジスタの直列回路
を接続することにより、出力電位引き下げ用のバイポー
ラトランジスタのベース電流を一定時間増大させるもの
であるから、出力がフォールする際のB i CMOS
論理回路の信号の伝播遅延時間tpdを小さくすること
ができる。
イポーラトランジスタのベースと正電源との間に、その
ゲートがCMOS論理回路の入力端子または出力端子の
それぞれに接続された、MOSトランジスタの直列回路
を接続することにより、出力電位引き下げ用のバイポー
ラトランジスタのベース電流を一定時間増大させるもの
であるから、出力がフォールする際のB i CMOS
論理回路の信号の伝播遅延時間tpdを小さくすること
ができる。
第1図は、本発明の一実施例を示す回路図、第2図は、
第1図の回路の動作説明図、第3図は、本発明の他の実
施例を示す回路図、第4図は、従来例を示す回路図、第
5図は、第4図の回路の動作説明図である。 101.301.302−P、MOSトランジスタ、
102.103.107.108.303304.30
5.306.310.311.32・・・N M OS
トランジスタ、104、 307. 308・・・バイポーラトランジスタ、106. 309・・・抵抗。
第1図の回路の動作説明図、第3図は、本発明の他の実
施例を示す回路図、第4図は、従来例を示す回路図、第
5図は、第4図の回路の動作説明図である。 101.301.302−P、MOSトランジスタ、
102.103.107.108.303304.30
5.306.310.311.32・・・N M OS
トランジスタ、104、 307. 308・・・バイポーラトランジスタ、106. 309・・・抵抗。
Claims (1)
- 第1の電源と第2の電源との間に、入力端子と出力端子
とを有するCMOS論理回路及び第1のバイポーラトラ
ンジスタと第2のバイポーラトランジスタとの直列回路
が接続され、前記CMOS論理回路の出力端子に前記第
1のバイポーラトランジスタのベースが接続されたBi
CMOS論理回路において、前記第1の電源と前記第2
のバイポーラトランジスタのベースとの間には、そのゲ
ートが前記CMOS論理回路の出力端子に接続されたM
OSトランジスタと、そのゲートが前記CMOS論理回
路の入力端子に接続されたMOSトランジスタとの直列
回路が接続されていることを特徴とするBiCMOS論
理回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63240176A JP2696991B2 (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | BiCMOS論理回路 |
DE68925856T DE68925856T2 (de) | 1988-09-26 | 1989-09-26 | Logische Bicmos-Schaltung |
EP89309751A EP0361841B1 (en) | 1988-09-26 | 1989-09-26 | Bicmos logic circuit |
US07/412,814 US4985645A (en) | 1988-09-26 | 1989-09-26 | BiCMOS logic circuit having a rapid output voltage falling-down property |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63240176A JP2696991B2 (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | BiCMOS論理回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0287819A true JPH0287819A (ja) | 1990-03-28 |
JP2696991B2 JP2696991B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=17055604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63240176A Expired - Lifetime JP2696991B2 (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | BiCMOS論理回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4985645A (ja) |
EP (1) | EP0361841B1 (ja) |
JP (1) | JP2696991B2 (ja) |
DE (1) | DE68925856T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH043619A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
KR930004353B1 (ko) * | 1990-04-26 | 1993-05-26 | 한국전기통신공사 | BiCMOS의 제삼상태 출력회로 |
JPH0420121A (ja) * | 1990-05-15 | 1992-01-23 | Fujitsu Ltd | Bi―CMOS回路 |
US5153464A (en) * | 1990-12-14 | 1992-10-06 | Hewlett-Packard Company | Bicmos tri-state output buffer |
US5077490A (en) * | 1991-01-30 | 1991-12-31 | Northern Telecom Limited | Schottky-diode emulator for BiCMOS logic circuit |
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US5191239A (en) * | 1991-12-19 | 1993-03-02 | Sun Microsystems, Inc. | Reset gate for a phase detector in a phase-locked loop |
KR940007954B1 (ko) * | 1992-03-06 | 1994-08-29 | 삼성전자 주식회사 | BiCMOS 구동회로 |
US5287021A (en) * | 1992-05-06 | 1994-02-15 | Motorola, Inc. | Low noise BICMOS circuit |
US5355030A (en) * | 1992-12-04 | 1994-10-11 | International Business Machines Corporation | Low voltage BICMOS logic switching circuit |
US5332933A (en) * | 1993-01-21 | 1994-07-26 | Hewlett-Packard Company | Bipolar-MOS circuits with dimensions scaled to enhance performance |
US5438270A (en) * | 1994-06-24 | 1995-08-01 | National Semiconductor Corporation | Low battery tester comparing load and no-load battery voltage |
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