JPH028025A

JPH028025A - 射出成形機の制御状態監視方法

Info

Publication number: JPH028025A
Application number: JP16021788A
Authority: JP
Inventors: Koichi Sakai; 康一酒井
Original assignee: Meiki Seisakusho KK
Current assignee: Meiki Seisakusho KK
Priority date: 1988-06-28
Filing date: 1988-06-28
Publication date: 1990-01-11

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（技術分野）本発明は射出成形機の制御状態監視方法に係り、詳しく
は射出成形機の制御状態に応じて変動する変動量が、各
制御段階においてその変動量について予め設定された許
容範囲内に入っているか否かを判断して、射出成形機が
予め定められた制御パターンに従って正常に制御されて
いるかどうかを監視する制御状態監視方法に関するもの
である。

（背景技術）射出成形機において、良好な品質の成形品を安定して成
形するためには、成形操作下における各種の制御量、例
えばインラインスクリュ弐の射出成形機の場合には、成
形材料の可塑化・計量操作時における射出スクリュの回
転速度および背圧、並びに射出操作時における射出速度
乃至は射出圧力等の制′４Ｈ量を、それぞれの制御量に
ついて予め設定された制御パターンに従って精度良く制
御する必要がある。そして、そのために、従来より、そ
れらの制御に際して、クローズトループ制御やプログラ
ム制御を適用することが提案されている。

しかしながら、かかる射出成形機においては、上述のよ
うに、各制御量をそれぞれの制御パターンに従ってクロ
ーズトループ制御あるいはプログラム制御するようにし
た場合にあっても、外乱や成形材料中への粉砕材の混入
等の種々の原因に起因して、実際の制′４１１が大きく
バラツク場合があり、それによって不良品を生じたり、
成形作動に異常を来たしたりするといった不具合を招く
ことがあった。

（解決課題）本発明は、このような事情を背景として為されたもので
あり、その解決すべき課題とするところは、射出成形機
の制御状態に応じて変動する変動量が成形操作の進行状
態に応じて正常に変化しているか否かを監視して、不良
品の発生や成形作動の異常状態の発生等の不具合の発生
を直ちに、しかも精度良く検知して、それら不具合の発
生に対して直ちに対処し得るようにすることにある。

（解決手段）そして、かかる課題を達成するために、本発明は、射出
成形機の任意の制御区間で射出成形機の制御状態に応じ
て変動する変動量について、射出成形機の実際の成形操
作に従４て所定のサンプリング間隔で得られる測定デー
タと、その測定データの各サンプリング位置に対応して
予め設定された許容範囲の上限値および下限値とを逐次
比較して、その制御区間における射出成形機の制御状態
を監視するに際して、前記変動量について実際の成形操
作による良品成形時の測定データを記憶手段に記憶させ
、その記憶手段に記憶させた良品成形時の測定データに
基づいて、前記許容範囲の上限値および下限値を設定せ
しめるようにしたことを、その要旨とする。

また、本発明は、射出成形機の任意の制御区間で射出成
形機の制御状態に応じて変動する変動量について、射出
成形機の実際の成形操作に従って所定のサンプリング間
隔で得られる測定データの積分値と、その測定データの
各サンプリング位置に対応して予め設定された許容範囲
の上限値および下限値の各積分値とを逐次比較して、そ
の制御区間における射出成形機の制御状態を監視するに
際して、前記変動量について実際の成形操作による良品
成形時の測定データを記憶手段に記憶させ、その記憶手
段に記憶させた良品成形時の測定データに基づいて、前
記許容範囲の上限値および下限値を設定せしめるように
したことをも、その要旨とする。

ここで、許容範囲の上限値および下限値は、例えば、良
品成形時の測定データを複数の成形操作回数分記憶手段
に記憶させ、その複数の成形操作回数分の測定データの
各サンプリング位置における平均値若しくは中央値を求
めて、その平均値若しくは中央値に所定の値を加減算し
て決定される。

また、良品成形時の測定データを複数の成形操作回数分
記憶手段に記憶させ、その複数の成形操作回数分の測定
データの各サンプリング位置における最大値と最小値と
を求めて、それら最大値と最小値とをそれぞれ許容範囲
の上限値および下限値として設定することも可能であり
、その最大値および最小値にそれぞれ所定の値を加減算
した値を許容範囲の上限値および下限値として設定する
ことも可能である。

さらに、記憶手段に記憶させた１回の成形操作骨の測定
データに基づいて許容範囲の上限値および下限値を設定
することも可能である。この場合には、各サンプリング
位置の測定データに所定の値を加算した値を上限値とし
て設定する一方、その測定データから所定の値を減算し
た値を下限値として設定すればよいのである。

ところで、許容範囲の上限値および下限値の設定に際し
ては、良品成形時の測定データをＣＲＴ等の平面ディス
プレイ上に重畳表示させて、良品成形時の測定データの
バラツキ具合を視認できるようにすることが望ましく、
また測定データを平面ディスプレイ上に重畳表示させる
ようにした場合には、その測定データを重畳表示する平
面ディスプレイ上において、測定データの時間軸方向に
移動可能な直線状のカーソルを設け、そのカーソルの移
動位置に対応したサンプリング位置における測定データ
の中央値に対する最大偏差値を算出、表示させるように
することが好ましい。

さらに、制御状態の監視は、必ずしも監視対象とする変
動量の全変動区間で行なう必要はなく、その変動区間の
うちの特定の区間だけで行なうようにすることも可能で
あるが、このような場合には、許容範囲を表示するため
の平面ディスプレイを設け、その平面ディスプレイ上に
おいて時間軸方向にそれぞれ任意に移動させ得る直線状
のカーソルを二つ設けて、それら二つのカーソルで画定
した区間について監視を行わせるようにすることが好ま
しい。

また、許容範囲は必ずしも一組の上限値と下限値だけで
限定する必要はなく、許容範囲を複数組の上限値と下限
値とで複数の段階に設定して、測定データがその複数段
階で設定された許容範囲から外れる段階に応じて、射出
成形機の対処手法を異なるようにすることも可能である
。

（実施例）以下、本発明をより一層具体的に明らかにするために、
その実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、以
下では、インラインスクリュ式射出成形機に本発明を適
用した例について述べるが、射出作動がプランジャにて
行なわれるプランジャ式射出成形機に本発明を適用する
ことも、勿論可能である。

先ず、第１図には、本発明手法が通用されるインライン
スクリュ式射出成形機の一例が示されている。そこにお
いて、１０は、加熱筒１２内に挿入された射出スクリュ
であって、油圧モータ１４によって回転作動させられる
ようになっていると共に、射出シリンダ１６によって軸
心方向に移動させられるようになっている。そして、よ
く知られているように、油圧モータ１４による該射出ス
クリュ１０の回転作動により、樹脂材料の可塑化・計量
操作が行なわれるようになっていると共に、その可塑化
・計量操作後において、射出スクリュ１０が射出シリン
ダ１６にて前進作動させられることにより、所定の射出
操作が行なわれるようになっている。射出シリンダ１６
によって射出スクリュ１０が前進作動させられると、そ
の射出スクリュ１０の前進作動に伴って、加熱筒１２の
先端のノズルから金型２０のキャビティ２２内に樹脂材
料が射出せしめられるのである。

ここで、油圧モータ１４は、ポンプ２４から切換弁２６
を介して供給される作動油によって回転駆動されるよう
になっており、電磁比例流量制御弁２８によってその回
転速度、ひいては射出スクリュ１０の回転速度が制御さ
れるようになっている。また、射出シリンダ１６は、ポ
ンプ２４から電磁比例流量制御弁２８および切換弁２６
を介して供給される作動油によって駆動されるようにな
っていると共に、その作動油圧が電磁比例圧力制御弁３
０によって調整されるようになっており、これにより、
電磁比例流量制御弁２８による作動油流入量の調整に基
づいて、射出操作時における射出スクリュ１０の前進速
度（射出速度）が調整され得るようになっていると共に
、電磁比例圧力制御弁３０による作動油圧の調整に基づ
いて、射出操作時における射出圧力が調整され得るよう
になっている。なお、可塑化・計量操作時における背圧
も、この電磁比例圧力制御弁３０の設定圧力の制御に基
づいて制御されることとなる。

前記射出スクリュ１０を回転駆動する油圧モータ１４に
は、該油圧モータ１４、ひいては射出スクリュ１０の回
転速度を検出するための回転センサ４８が設けられてい
る。そして、射出スクリュ１０の回転速度を表す信号が
、この回転センサ４８からインタフェース回路３４を介
してコントローラ３６のＣＰＵ３８に供給されるように
なっている。また、かかる油圧モータ１４に作動油を導
く油通路には、該油圧モータ１４に供給される作動油の
油圧、ひいては樹脂材料の可塑化・計量操作時における
射出スクリュ１０の回転トルクを検出するための油圧セ
ンサ５０が接続されており、樹脂材料の可塑化・計量操
作時、における射出スクリュ１０の回転トルクを表す信
号が、この油圧センサ５０からインタフェース回路３４
を介してＣＰＵ３　Ｂに供給されるようになっている。

さらに、前記射出シリンダ１６には油圧センサ４０が接
続されており、射出シリンダの作動油圧、ひいては樹脂
材料の可塑化・計量操作時における背圧や、射出操作時
における射出圧力を表す信号が、かかる油圧センサ４０
からインタフェース回路３４を介してＣＰＵ３８に供給
されるようになっている。

また、前記射出スクリュ１０には、該射出スクリュ１０
の移動位置、所謂スクリュ位置を検出する位置センサ３
２が取り付けられており、射出スクリュ１０のスクリュ
位置、ひいては射出スクリュ１０の前進・後退速度を表
す信号が、この位置センサ３２からＣＰＵ３８に供給さ
れるようになっている。

そして、ＣＰＵ３８は、樹脂材料の可塑化・計量操作時
において、前記センサ３２，４０．４８５０からの各検
出信号を、その可塑化・計量操作区間について設定され
たサンプリング間隔に従って読み込み、また射出操作時
において、センサ３２．４０からの検出信号を、その射
出操作区間について設定されたサンプリング間隔に従っ
て読み込んで、それら信号が表す各検出値を、内部メモ
リ４２の各対応するメモリ領域に記憶させるようになっ
ている。

なお、位置センサ３２からの検出信号は、射出スクリュ
１０の移動速度値として内部メモリ４２に記憶させられ
る。また、上記各検出値は、必要に応じて、インタフェ
ース回路４４を介して、フロッピーディスクやＩＣカー
ド１、あるいはＲＡＭパック等の外部メモリ４６にも記
憶させられる。

さらに、上記サンプリング間隔は、時間若しくはスクリ
ュ位置の何れかを基準として設定される。

ここで、ＣＰＵ３　Ｂには、インタフェース回路４４を
介して、各種の設定器からなる設定装置５２が接続され
ており、またディスプレイとしてのＣＲＴ５４が接続さ
れている。そして、かかる設定装置５２に設けられた各
種の設定器の設定操作に基づいて、可塑化・計量工程に
おける射出スクリエ１０の回転速度制御パターンや背圧
制御パターン、射出工程における射出速度制御パターン
や射出圧力制御パターン等の各種成形条件が設定される
ようになっている。そして、樹脂材料の可塑化・計量操
作時においては、回転速度制御パターンおよび背圧制御
パターンに従って、またその後の射出操作時においては
射出速度制御パターンおよび射出圧力制御パターンに従
って、ＣＰＵ３８からインタフェース回路５６を介して
電磁比例流量制御弁２８および電磁比例圧力制御弁３０
に制御信号が供給されるようになっており、これにより
、樹脂材料の可塑化・計量操作時においては、回転速度
制御パターンおよび背圧制御パターンに従って射出スク
リュｌＯの回転速度および射出シリンダ１６の作動油圧
がそれぞれ制御される一方、射出操作時においては、射
出速度制御パターンに従って射出スクリュ１０の前進速
度が制御され、若しくは射出圧力制御パターンに従って
射出シリンダ１６の作動油圧が制御されるようになって
いる。

つまり、これにより、特別の事情がない限り、成形機が
予め設定された制御パターンに従って精度良く作動させ
られて、良好な品質の成形品が安定して得られるように
なっているのである。

なお、ここでは、詳述はしないが、上記各制御量につい
ての制御パターンおよびそれら制御量についての実測ト
レンドが、ＣＲＴ５４上において、それぞれ任意の組み
合わせで重畳表示乃至は同時表示若しくは選択的に表示
できるようになっている。

ところで、このような射出成形機においては、上述のよ
うに、特別な事情がない限り、例えば外部雑音の影響や
樹脂材料中への粉砕材の混入等の事情がない限り、可塑
化・計量操作時および射出操作時における各制御量はそ
れぞれの制御パターンに従って精度良く制御されること
となり、その結果、品質の良好な成形品が常に安定して
成形されることとなる。しかしながら、上述の如き特別
の事情が生じた場合には、それぞれの制御パターンに従
って各制？ＩＩｌ量が精度良く制御されずに大きくバラ
ツクことかあり、その結果、不良品が成形されたり、成
形作動に異常を来たしたりするといった不具合を招く場
合がある。

そこで、ここでは、可塑化・計量操作時の射出成形機の
制御状態に応じて変動する射出スクリュ１０の回転速度
、後退速度、トルクおよび背圧の各変動量について、そ
れら変動量が予め設定された許容範囲内に入っているか
否かを判断して、射出成形機の成形作動が正常に行なわ
れているかどうかを判断するための監視プログラムが前
記ＣＰＵ３Ｂに設けられている。そして、その監視プロ
グラムによって射出成形機の制御状態に異常が生じたこ
とが認められると、音響警報器５８等によってそのこと
が報知される一方、図示しない射出成形機の成形品排出
シュータの位置が切り換えられて、その異常状態発生下
で成形された成形品が不良品収容容器側に導かれるよう
になっている。

以下、第２図に示す監視プログラムのフローチャートに
従って、ＣＰＵ３８の監視作動について説明する。なお
、射出スクリュ１０の回転速度、後退速度、トルクおよ
び背圧の各変動量に対するＣＰＵ３８の監視作動は、何
れの変動量についても同様であるため、ここでは、射出
スクリュＩＯの回転速度を監視対象とする例についての
み、ＣＰＵ３８の監視作動を詳述する。また、ここでは
、射出スクリュｌＯの回転速度を検出するサンプリング
間隔が、射出スクリュ１０のスクリュ位置を基準として
設定されているものとして、ＣＰＵ３８の監視作動を説
明する。

すなわち、第２図のフローチャートにおいて、可塑化・
計量操作指令が発せられ、前記ＣＰＯ３８から電磁比例
流量制御弁２８および電磁比例圧力制御弁３０への制御
信号の供給に基づく可塑化・計量操作が開始されると、
先ず、ステップＳ１が実行され、監視対象とするスクリ
ュ回転速度の測定データのサンプリング回数：Ｘを計数
するためのサンプリングカウンタがリセットされる。そ
して、続くステップＳ２において、そのサンプリングカ
ウンタの計数値：Ｘが表すサンプリング位置：ＳＸに対
応して予め設定された許容範囲の上限値：ＡＸ３．Ｘお
よび下限値’Ａｘｍｉ□が、読み出される。

なお、サンプリングカウンタの計数値：Ｘがリセット値
を示すステップＳ１実行直後のステップＳ２においては
、第一番目のサンプリング位置：８１に対応した許容範
囲の上限値：Ａｌ□８および下限値：Ａ＋＋＋＋ｉｎが
読み出される。

ステップＳ２において、サンプリング位置：８８に対応
した許容範囲の上限値：Ａｘ□９および下限値：Ａｘｍ
ｉ、が読み出されると、引き続いてステップＳ３が実行
され、前記サンプリングカウンタの計数値：Ｘが表すサ
ンプリング位置：ＳＸに対応した測定データ：ＤＸが読
み込まれたか否かの判断が為される。そして、その判断
の結果、サンプリング位ｆ：ｓｘに対応した測定データ
：ＤＸが読み込まれたことが確認されると、続くステッ
プＳ４において、その測定データ＝ＤＸが前記上限値’
　ＡＸ　ＦＡＲＸと下限値：ＡＸヵ、、、とで規定され
た許容範囲内に入っているか否かが判断される。

ステップＳ４での判断の結果、測定データ：ＤＸが許容
範囲内に入っていることが認められると、引き続いてス
テップＳ５が実行されるが、逆に、測定データ：ＤＸが
許容範囲内に入っていないと判断されると、ステップ３
６．Ｓ７が引き続いて実行される。そして、測定データ
：ＤＸが許容範囲内に入っていないと判断された場合に
実行されるステップＳ６においては、インタフェース回
路５６を介して音響警報器５８等に警報信号が出力され
て、かかる音響警報器５８等によって警報が発せられ、
続くステップＳ７において、成形品排出シュータの位置
が切り換えられて、その成形サイクルにおける成形品が
不良品収容容器側に導かれるようにされる。なお、ステ
ップＳ７が完了すると、ステップＳ５が引き続いて実行
される。

ステップＳ５においては、サンプリングカウンタの計数
値：Ｘが予め設定された最終サンプリング計数値：ｎと
比較される。そして、計数値：Ｘが最終サンプリング計
数値：ｎに既に達していると判断されると、監視プログ
ラムが終了するが、計数値：Ｘが未だ最終サンプリング
計数値：ｎに達していないと判断されると、引き続いて
ステップＳ８が実行され、サンプリングカウンタがカウ
ントアツプされる。そして、このステップＳ８の完了後
、前記ステップ８２以下が繰り返される。

つまり、各サンプリング位置：ＳＸにおけるスクリュ回
転速度の測定データ：Ｄｘが、それぞれのサンプリング
位置：ＳＸについて予め設定された上限値：　ＡＸ　＋
ＨｉＸと下限値：ＡＸヨ８、とで規定された許容範囲と
比較されるのであり、その比較によって回転速度が許容
範囲から外れたことが認められると、音響警報器５８等
でそのことが報知せしめられる一方、成形品排出シュー
タの位置の切換えによって、その成形サイクルで成形さ
れた成形品が不良品収容容器側に収容させられるように
なっているのである。

そして、本実施例においては、上記監視プログラムのス
テップＳ２において読み出される許容範囲の上限値’　
ＡＸ　ｍｓ＊と下限値：　Ａｘ　ｍｉｎとが次のように
して設定されることにより、不良品成形時や成形作動の
異常状態発生時において、前記音響警報器５８等によっ
て警報が発せられると共に、その成形サイクルで成形さ
れた不良品が不良品収容容器に収容されて、不良品が良
品と自動的に選別されるようになっているのである。

すなわち、本実施例においては、前記許容範囲の上限値
：Ａイい、。と下限値：Ａｘｍ！。との設定に際して、
先ず、各制御量について予め設定された制御パターンに
従って、実際の射出成形操作が繰り返し行なわれる。そ
して、品質の良好な成形品が連続して得られる射出成形
操作下において、できるだけ多くの若しくは予め設定さ
れた回数の成形操作について、監視対象とする変動士が
予め設定されたサンプリング間隔で実測され、その実測
値が各々のサンプリング位置：ＳＸに対応して内部メモ
リ４２の所定のメモリ領域に記憶させられる。そして、
それら内部メモリ４２に記憶させられた複数回の成形操
作骨の測定データ（実測値）に基づいて、前記ＣＰＵ３
　Ｂにより、各サンプリング位１ｔｓＸにおける中央値
（サンプリング位置：ＳＸにおける測定データの最大値
と最小値との平均値）が演算せしめられ、次いで、この
ようにして求められた中央値に対して、設定装置５２で
監視幅として設定される数値：ΔＡが加減算せしめられ
て、前記許容範囲の上限値：　ＡＸ＋ｎ＋＋ｘおよび下
限値：Ａｘｍｉｎが決定される（第４図参照）。

なお、このようにして求められた許容範囲の上限値：Ａ
Ｘ□８および下限値：ＡＸｍｉｎは、各制御量の制御パ
ターン等とセットにされて外部メモリ４６にも記憶させ
られ、外部メモリ４６の差し替えによって成形条件とセ
ットで設定し得るようにされることとなる。

ここで、本実施例においては、上記測定データの測定・
記憶操作および中央値の演算操作と並行して、設定装置
５２にて選択されたＣＲＴ５４の画面上において、上記
内部メモリ４２に記憶させられた複数の成形操作画数分
の測定データが、第３図に示されているように、横軸を
時間軸（スクリュ位置；サンプリング位置）として重畳
表示せしめられるようになっており、また、かかる画面
上において、第３図に示されているように、設定装置５
２による設定操作によって時間軸方向に移動させ得る直
線状のカーソルＫが設けられて、設定装置５２の設定操
作に基づく演算指令により、そのカーソルにの移動位置
に対応したサンプリング位置：ＳＸにおける測定データ
の中央値に対する最大偏差値（ＤＥＶ）：ΔＤが演算、
表示されるようになっている。

つまり、ここでは、ＣＲＴ５４の画面上に表示される測
定データのバラツキ具合やカーソルにの位置における最
大偏差値：ΔＤの表示数値に基づいて、作業者が適正な
監視幅を容易に認識できるようになっているのであり、
かかる認識に基づいて前記監視幅：ΔＡが設定できるよ
うになっているのである。

従って、このようにして設定される監視幅：ΔＡに基づ
いて許容範囲の上限値：Ａい６−および下限値：Ａｘｍ
ｒｎを決定し、かかる上限値：ＡＸ□、および下限値：
　ＡＸ　ｍｉ、、で規定される許容範囲を基準として前
記ＣＰＵ３　Ｂの監視プログラムに従う監視を行なうよ
うにすれば、不良品の発生や成形作動の異常状態の発生
を精度良く検知して、それらの不具合の発生を音響警報
器５８等の警報によって速やかに報知させることができ
ると共に、成形品排出シュータの位置の切換えによって
、不良品と良品とを高い精度をもって自動的に選別する
ことができるのである。

なお、前記許容範囲の上限値：ＡＸ□８および下限値：
　Ａ　ｌｌ　１１１　’の設定に際しての中央値の演算
指令は、通常は、設定装置５２の設定操作に基づいて発
せられることとなるが、予め設定された成形操作回数分
の測定データが記憶させられた時点で、自動的に発せら
れるようにすることも可能である。

また、前記監視幅：ΔＡとしては、通常、前記最大偏差
値：ΔＤよりも若干大きめの値が設定されることとなる
が、かかる監視幅：ΔＡと最大偏差値：ΔＤとの比率を
予め設定しておくことにより、その監視幅：ΔＡを最大
偏差値：ΔＤから自動的に求めるようにすることも可能
である。

さらに、本実施例では、上記スクリュ回転速度に対する
許容範囲の上限値：ＡＸ□９および下限値：ＡｘＭｉｎ
の設定操作と同様の設定操作が、射出スクリュ１０の回
転トルク、後退速度および背圧についても同様にして行
なわれるのであり、それら各変動量について設定された
許容範囲の上限値および下限値に基づいて、前述のよう
に、それら各変動量について、前記射出スクリュ１０の
回転速度に対する監視作動と同様の監視作動が行なわれ
るのである。因に、第５図乃至第７図には、射出スクリ
ュＩＯの背圧、後退速度および回転トルクの各変動量に
ついての、スクリュ回転速度の第３図に対応する図が示
されている。

以上説明したように、本実施例においては、樹脂材料の
可塑化・計量操作時において、射出成形機の制御状態に
応じて変動する射出スクリュ１０の回転速度、後退速度
、トルクおよび背圧について、それぞれ良品成形時の実
測値に基づいて許容範囲の上限値（Ａ、　、、Ｘ）およ
び下限値（ＡＸ、ｉ、）が設定され、各変動量について
の実際の測定データ（Ｄ、）がそのようにして設定され
た許容範囲と常時比較されて、不良品の発生や成形作動
の異常状態の発生の有無が判断されるようになっている
ため、それら不良品の発生や成形作動の異常状態の発生
を速やかに、且つ精度良く検知して、報知することがで
きるのである。そして、ここでは、それら不具合の発生
と同時に成形品排出シュータの位置を切換えて、不良品
を不良品収容容器側に収容させるようになっているため
、不良品と良品との選別を高い精度で自動的に行なうこ
とができるのであり、それ故、成形品の選別作業を不要
にすることができるといった利点もあるのである。

ところで、上記実施例においては、各変動量についての
許容範囲の上限値（Ａ、□Ｘ）および下限値（Ａ、□、
１）の設定に際して、先ず、内部メモリ４２に記憶させ
られた良品成形時の実測値（測定データ）に基づいて、
各サンプリング位置（ＳＸ）におけるそれら測定データ
の中央値が演算され、その演算された中央値に対して、
監視幅として設定された数値（ΔＡ）が加減算されて、
上限値（Ａ、□、）および下限値（Ａ、、１ｆｉ）が設
定されるようになっているが、上記中央値の代わりに各
サンプリング位置（Ｓ、）における測定データの平均値
を求め、その平均値に対してそれぞれ所定の適正な値、
例えば上記実施例におけるΔＡを加減算して、許容範囲
の上ｒ＠植（Ａ、、□）および下限値（Ａつｆｆ１ｉｎ
　）を設定するようにすることも可能であり、また内部
メモリ４２に記憶させられた測定データに基づいて各サ
ンプリング位置（Ｓ、）における測定データの最大値お
よび最小値を求め、それら最大値および最小値をそのま
ま許容範囲の上限値（Ａ、□Ｘ）および下限値（ＡＸ□
４．、）として設定することも可能であり（第８図参照
）、更にはそれら最大値および最小値に対して所定の適
正な値、例えば上記実施例におけるΔＡとΔＤ（最大偏
差値）との差程度の値：ΔＢを加減算した値を、それぞ
れ許容範囲の上限値（ＡＸ□Ｘ）および下限値（Ａ、、
、、、）として設定することも可能である（第９回参照
）。また、内部メモリ４２に記憶させられた１回の成形
操作骨の測定データに対してそれぞれ所定の適正な値を
加減算して、許容範囲の上限値（ＡＸ、、Ｘ）および下
限値（ＡＸｍｉ、、）を設定するようにすることも可能
である（第１０図参照）。

また、上記実施例においては、樹脂材料の可塑化・計量
操作時における射出スクリュ１０の回転速度、後退速度
、トルクおよび背圧の４つの変動量が監視対象とされて
、それら４つの変動量に対する監視作動によって、可塑
化・計量操作時の制御状態の監視が行なわれるようにな
っているが、それらのうちの１つの変動量だけを監視対
象として任意に選択し得るようにすることも可能である
。

また、本発明は、射出操作時における射出速度や射出圧
力、更には加熱筒温度や金型温度等の変動量を監視対象
とする場合にも適用することが可能である。

さらに、上記実施例においては、ＣＰＵ３８における監
視プログラムにおいて、監視対象とする変動量の実測デ
ータ（Ｄ、）が許容範囲の上限値（Ａ、、、、）　　お
よび下限値（Ａ、　ｍｉｎ　）と直接比較され、測定デ
ータ（ＤＸ）が許容範囲から少しでも外れると、その変
動量の監視下における射出成形機の制御状態に異常が生
じたものと判定されるようになっているが、測定データ
（Ｄ、）が許容範囲から一定期間連続して外れた場合に
おける回数を計数し、その回数が予め設定された回数よ
りも大きくなったときだけ、制御状態に異常が生じたも
のと判定するように為して、測定データ（Ｄ、）の許容
範囲からの一時的な逸脱を異常状態の発生として誤検知
しないようにすることも可能であり、また測定データ（
ＤＸ）の積分値と許容範囲の上限値（Ａ、、、、）およ
び下限値（Ａ、　、、ｉ、）の各積分値とを比較して、
それらの比較結果に基づいて異常制御状態の発生の有無
を判定するようにすることも可能である。

また、上記実施例においては、監視対象とする各変動量
について、許容範囲が一組の上限値（Ａ。

、１Ｘ）および下限値（ＡＸ、ｉ、）だけで規定され、
測定データ（Ｄ、）が単にその一組の上限値（Ａ。

１１Ｘ）および下限値（Ａ、　、、ｉ、、”）で規定さ
れた許容範囲と比較されて、異常状態検知時において、
その異常状態の程度に拘わらず、常に同じ対処手段が講
じられるようになっているが、監視対象とする変動量に
ついての許容範囲を複数組の上限値および下限値で複数
段階に規定し、測定データ（Ｄ、）がその複数段階で規
定された許容範囲から外れる段階に応じて異なる対処手
法を講じるようにすることも可能である。

因に、第１１図は、監視対象とする変動量について、そ
の測定データ（Ｄや）の積分値と許容範囲の上限値（Ａ
Ｘ□ヶ）および下限値（Ａ、　、ｉ、　）の各積分値と
を比較して、それらの比較結果に基づいて異常制御状態
の発生の有無を判定するようにした監視プログラムの一
例を示すものであり、また第１３図は、許容範囲を複数
組の上限値および下限値で複数段階に設定して、測定デ
ータ（Ｄ、）がその複数段階で規定された許容範囲から
外れる段階に応じて異なる対処手法を講じるようにした
監視プログラムの一例を示すものであり、以下において
は、それら第１１図および第１３図に示す監視プログラ
ムのフローチャートに基づいて、本発明の別の実施例を
それぞれ説明することとする。

ただし、ここでは、前記実施例と同様に、射出スクリュ
１０の回転作動を監視対象とする場合について述べるも
のとする。また、ここでは、先ず、第１１図に示す監視
プログラムに従って監視作動が行なわれる例について述
べ、その後、第１３図に示す監視プログラムに従って監
視作動が行なわれる例について述べるが、第１１図の監
視プログラムに従って監視作動が行なわれる射出成形機
においては、射出スクリュ１０の全回転作動区間（変動
区間）のうち、設定装置５２の設定操作に基づいて予め
設定される区間内においてのみ、制御状態の監視を行な
う場合について説明する。

すなわち、第１１図に示す監視プログラムに従って監視
作動が行なわれる射出成形機においては、可塑化・計量
操作指令によって監視プログラムが開始させられると、
先ず、ステップＳ１が実行されて、前記実施例と同様に
、サンプリングカウンタがリセットされる。そして、続
くステップＳ２において、そのサンプリングカウンタの
計数値、すなわちスクリュ回転速度の実測回数：Ｘが、
監視区間の監視開始位置（監視開始サンプリング位置）
：Ｓ、に対応して予め設定された設定測定回数：Ｘ５に
達したか否かが判断される。

ステップＳ２において、サンプリングカウンタの計数値
が表すスクリュ回転速度の実測回数：Ｘが、未だ監視開
始位置：８５に対応して設定された設定測定回数；ｘ８
に達していないと判断されると、引き続いてステップＳ
３が実行され、サンプリングカウンタの計数内容：Ｘに
対応したサンプリング位置：Ｓ、Ｉの測定データ：ＤＸ
が読み込まれたか否かの判断が為される。そして、かか
るステップＳ３において、測定データ：ＤＸが読み込ま
れたことが確認されると、続くステップＳ４において、
サンプリングカウンタがカウントアツプされた後、ステ
ップＳ２が再び実行される。

一方、ステップＳ２において、サンプリングカウンタの
計数値：Ｘが、監視開始位置：Ｓ、に対応して設定され
た設定値二ｘ５に達したことが確認されると、引き続い
てステップＳ５が実行され、サンプリングカウンタの計
数値：χに応じたサンプリング位置：ＳＸにおける上限
値：ＡＸ□、および下限値ＡＸｍｉｎの各積分値：Ｌｍ
ａｘおよびＩｘｍｆｒ＋が演算される。なお、これら上
限値：ＡＸ、□および下限値：Ａつ１，１の各積分値：
ＩＸ□８およびＩｗｍｉｎは、監視プログラム開始当初
からの積分値として求めることも可能であるが、ここで
は、監視開始位置：３５からの積分値として求められる
。

ステップＳ５において、積分値’　ＩＸ　１％ＩＩＸ＋
　　Ｉｙｏ、。が求められると、続くステップＳ６にお
いて、前記ステップＳ３と同様に、サンプリングカウン
タの計数値：Ｘに応じたサンプリング位置：Ｓつの測定
データ：ＤＸが読み込まれたか否かの判断が為される。

そして、その測定データ：ＤＸが読み込まれたことが確
認されると、続くステップＳ７において、そのサンプリ
ング位置：Ｓイにおける測定データ＝ＤＫの積分値：Ｉ
ヶが演算される。

なお、この積分値：Ｉ、も、前記上限ｊｌｔｉ：　Ａ　
ｘ　ｍ□、および下限値’Ａｘｍｉｎの各積分値ｌＸｆ
ｆ１ａＸおよびＩｘｍｉ、と同様、監視開始位置：３つ
からの積分値として求められることとなる。

ステップＳ７が完了すると、引き続いてステップＳ８が
実行され、ステップＳ７で演算された測定データ：ＤＸ
の積分値：ＩＸが、ステップＳ５で演算された上限値二
人Ｘ、〜および下限値：ＡＸｏ、７の両積分値’Ｉｌｌ
ＴＲｍＸおよびＩＸ□８、で規定される範囲内に入って
いるか否かが判断される。

ステップＳ８での判断の結果、積分値：■８が積分値’
　１．　Ｉｌｌ！ＬＸ　＋　　ＩＸ　１ｌｉ１１で規定
される範囲内に入っていることが認められると、引き続
いてステップＳ９が実行されるが、逆に、その範囲内に
入っていないと判断されると、ステップＳ１０゜Ｓｌｌ
が引き続いて実行される。そして、積分値：ＩＸが積分
値：Ｉｘｍ□、Ｉｘｍｔｎで規定される範囲内に入って
いないと判断された場合に実行されるステップＳＩＯに
おいては、インタフェース回路５６を介して音響警報器
５８等に警報信号が出力されて、かかる音響警報器５８
等によって制御状態に異常が生じたことが報知され、続
くステップＳｌｌにおいて、成形品の排出シュータの位
置が切り換えられる。つまり、その成形サイクルにおけ
る成形品が不良品収容容器側に導かれるようにされるの
である。なお、このステップＳ１１が完了すると、ステ
ップＳ９が引き続いて実行される。

ステップＳ９においては、サンプリングカウンタの計数
値：Ｘが、監視区間の監視終了位置（監視終了サンプリ
ング位置）：Ｓ、に対応して予め設定された計数内容：
ｘ、に達したか否かが判断される。そして、その判断の
結果、サンプリングカウンタの計数値：Ｘが未だその監
視終了位置：８８に対応して設定された設定値：ｘ、に
達していないと判断されると、続くステップＳ１２にお
いてサンプリングカウンタがカンウドアップされ、その
後、前記ステップ８５以下が繰り返される。

つまり、監視開始位置：Ｓ、と監視終了位置：３８とで
規定された監視区間において、各サンプリング位１．ｓ
Ｘにおける測定データ＝Ｄつの積分値：ＩＸが許容範囲
の上限値：ＡＸ□８および下限値：　Ａ　ｙ　ｍ　ｔ　
ｎの各積分値：Ｉｘｍｍ、＋ｌＸｌｌ１１１と比較され
るのであり、測定データ＝Ｄ工の積分値：■８が許容範
囲の上限値：ＡＸ□、および下限値：ＡＸ＋＋＋ｉｎの
各積分値：■Ｘ□Ｘ＋　　ＩＸＩＩ□、で規定される範
囲から外れた場合において、音響警報器５８等によって
警報が発生されるようになっていると共に、その成形サ
イクルで成形された不良品が不良品収容容器側に収容さ
れるようになっているのである。

なお、ステップＳ９において、サンプリングカウンタの
計数値：Ｘが既にその監視終了位置：Ｓ。

に対応して設定された設定値：Ｘｏに達していると判断
されると、引き続いてステップＳ１３が実行され、サン
プリングカウンタの計数値：Ｘが最終サンプリング計数
値：ｎと比較される。そして、かかるステップＳ１３に
′おいて、計数値：Ｘが未だ最終サンプリング計数値：
ｎに達していないと判断された場合には、前記ステップ
Ｓ４，３３と同様のステ・ンプＳ１４．Ｓ１５が実行さ
れて、サンプリングカウンタがカウントアツプされるが
、このステップＳ１３において、サンプリングカウンタ
の計数値：Ｘが最終サンプリング計数値：ｎに達したこ
とが確認されると、監視プログラムが終了する。

このように、測定データ＝ＤＸの積分値：ＩＸと許容範
囲の上限値、ＡＸ、−および下限値：ＡＸ６．７の各積
分値’ＩＸＩＩ□Ｘ＋　　ｌＸｌｌ１１１とを比較する
ようにしても、前記実施例と同様の監視効果を得ること
ができるのである。しかも、このように、測定データ：
ＤＸと許容範囲の上限値：ＡＸ□８および下限値：Ａｘ
ｍｉ、とをそれらの積分値同士で比較するようにすれば
、測定データ＝ＤＸの許容範囲からの瞬間的乃至は一時
的な逸脱による誤判定が良好に回避されることにもなる
のであり、その分監視結果の信頼性が向上することにも
なるのである。

なお、本実施例のように、監視対象とする変動量の変動
区間内において、監視開始位置：３８と監視終了位置：
３０とで規定した特定の区間についてのみ監視を行なう
ようにする場合には、第１２図に示されているように、
許容範囲の上限値：ＡＸ□８と下限値’Ａｘｍ＋ｎとを
ＣＲＴ５４上でトレンド表示（パターン表示）するよう
にする−方、その表示画面上において、時間軸方向（第
１２図中左右方向）にそれぞれ独立して移動させ得る直
線状の２本のカーソルＸｉ、Ｘ２を表示するように為し
、且つ一方のカーソルＸ１の移動位置を監視開始位置：
３５に対応させる一方、他方のカーソルＸ２の移動位置
を監視終了位置：Ｓ、〜に対応させて、それらカーソル
ＸＩ、Ｘ２の位Ｗから監視区間を認識できるようにする
ことが望ましい。この場合、監視開始位置：Ｓｓおよび
監視終了位置；３８を設定装置５２で数値設定すること
により、それらの数値に応じた画面上の位置にカーソル
Ｘｉ、Ｘ２を表示させるようにすることも可能であり、
また画面上におけるカーソルＸ１゜Ｘ２の移動位置に対
応したサンプリング位置：ＳＸをそれぞれ監視開始位置
：８５および監視終了位置：Ｓ、とじて自動的に読み込
むようにすることも可能である。

また、上述のように、測定データ：ＤＸを積分値二ＩＸ
で比較するような場合には、第１２図に示されているよ
うに、その許容範囲の上限値：ＡＸｌ、Ｘおよび下限値
’Ａｘｍｉｎをトレンド表示する画面上において、その
監視区間に積分比較であることを示す模様を表示するよ
うにすることが望ましい。なお、第１２図は、横軸方向
で移動可能な２本のカーソルＸＩ、Ｘ２と、縦軸方向で
移動可能な２本のカーソルＹｌ、Ｙ２で囲まれた領域に
おいて、積分演算並びにその積分演算に基づく監視が行
なわれることを示している。

次に、第１３図に示す監視プログラムに従って監視作動
が行なわれる例について説明する。

すなわち、第１３図に示す監視プログラムのフローチャ
ートにおいて、可塑化・計量操作が開始されると、先ず
、ステップＳ１においてサンプリングカウンタがリセッ
トされ、続くステップＳ２において、予め設定された狭
い範囲の上限値：Ａｘ、Ｘおよび下限値：Ａｘｍｉｎが
読み出される。そして、続くステップＳ３においてサン
プリング位置：３８の測定データ：ＤＸがサンプリング
されたことが確認されると、続くステップＳ４において
、その測定データ：ＤＸが、上記上限値：ＡＸｓａｗに
予め設定された値：αが加えられた広い範囲の上限値＝
　（ＡＸ□。＋α）と、上記下限値：ＡＸ、、、から予
め設定された値：αが差し引かれた広い範囲の下限値：
　　（ＡＸ□８、−α）とによって規定される範囲内に
入っているか否かが判断される。

かかるステップＳ４における判断の結果、測定データ＝
ＤＸが広い範囲の上限値と下限値との間にも入っていな
いと判断されると、引き続いてステップＳ５が実行され
、かかるステップＳ５において射出成形機の成形作動が
停止せしめられて、監視プログラムが直ちに終了させら
れる。しかし、その判断の結果、測定データ：ＤＸが広
い範囲の上限値と下限値との間に入っていることが認め
られると、引き続いてステップＳ６が実行され、測定デ
ータ：ＤＸが狭い範囲の上限値：　Ａｘ　ｍａｘおよび
下限値’　Ａｘ　ｍｉｎの間に入っているかどうかが判
断される。そして、測定データ：ＤＸがかかる狭い範囲
の上限値：　Ａｘ　ｍｉｘと下限値：ＡＸ、％、ｆｉと
の間にも入っていることが認められると、ステップＳ７
が直ちに実行され、逆に、そうでないと判断されると、
ステップＳ７の実行に先立ってステップＳ８．Ｓ９が実
行されて、それらステップＳ８．Ｓ９において、音響警
報器５８等に警報信号が出力されると共に、不良品収容
容器側に成形品を収容させる位置に成形品排出シュータ
が移動させられた後、ステップＳ７が実行される。

ステップＳ７では、サンプリングカウンタの計数値：Ｘ
が最終サンプリング計数値：ｎと比較され、計数値：Ｘ
が未だ最終サンプリング計数値：ｎよりも小さい場合に
は、ステップ３１０が実行されて、サンプリングカウン
タがカウントアツプされた後、ステップ３２以下が再び
繰り返されるが、このステップＳ７において、計数値：
Ｘが最終サンプリング計数値：ｎに一致したことが認め
られると、監視プログラムが終了する。

かかる監視プログラムにおいて、例えば、良品成形時の
各サンプリング位置：ＳＸにおける実測値（測定データ
）の最大値および最小値をそれぞれ前記狭い範囲の上限
値’　ＡＸ　ｆｆ１ｌｌＸおよび下限値：　ＡＸ　Ｍｉ
ｄとして設定する一方、通常の一時的な成形不良を生じ
る程度では、測定データＤつが広い範囲の上限値’　　
（Ａｘ　ｗａｘ十α）および下限値’　　（Ａｘ　ｍ＊
＝ｎ−α）で規定される範囲から外れない程度の大きさ
に、前記値：αを設定するようにすれば（第１４図参照
）、前記実施例と同様の監視効果が得られる上、不良品
が連続して成形されるような場合において、射出成形機
の成形作動を自動的に停止させることができるのであり
、射出成形機が不良品を連続して成形することに起因す
る不具合、例えば樹脂材料の無駄な消費等の不具合を、
未然に防止することができるのである。

なお、前記ステップＳ５において、射出成形機の成形作
動を直ちに停止させることなく、単に成形作動の停止命
令を出すようにして、その成形サイクルの成形作動の完
了後、射出成形機の成形作動を停止させるようにするこ
とも可能である。また、３組以上の上限値と下限値との
組み合わせによって、許容範囲を３段階以上に段階設定
して、それらの各段階の許容範囲を外れる毎に、射出成
形機の対処手法を異なるようにすることも勿論可能であ
る。

以上、本発明の実施例を詳細に説明したが、本発明が、
上記具体例に限定されることなく、その趣旨を逸脱しな
い範囲内において、当業者の有する知識に基づいて、種
々なる変更、修正等を施した態様で実施できることは勿
論である。

（発明の効果）以上の説明から明らかなように、本発明は、射出成形機
の制御状態に応じて変動する変動量について、良品成形
時の測定データに基づいて許容範囲の上限値および下限
値を設定し、この良品成形時の測定データに基づいて設
定した許容範囲の上限値および下限値と変動量の測定デ
ータ、若しくはそれらの積分値を逐次比較して、射出成
形機の成形作動が正常に行なわれているか否かの判定を
行なうようにするものであるため、本発明の適用によっ
て、不良品の発生や成形作動の異常状態の発生等の不具
合を直ちに、しかも精度良く検知することが可能となる
のであり、それ故、それらの不具合の発生に対して直ち
に対処することが可能となるのである。

そして、良品成形時の測定データから許容範囲の上限値
および下限値を設定するに際しては、複数の成形操作回
数分の測定データの各サンプリング位置における中央値
や平均値に所定の値を加減算して、それら下限値および
下限値を決定する手法や、複数の成形操作回数分の測定
データの各サンプリング位置における最大値および最小
値をそのまま上限値および下限値として設定する手法、
更には複数の成形操作回数分の測定データの各サンプリ
ング位置における最大値および最小値にそれぞれ所定の
値を加減算して、上限値および下限値を決定する手法や
、１回分の成形操作の測定データに所定の値を加減算し
て、上限値および下限値を決定する手法が、好適に採用
できるのである。

また、良品成形時の測定データから許容範囲の上限値お
よび下限値を設定するに際して、良品成形時の測定デー
タを所定のディスプレイ上に重畳表示させるようにすれ
ば、測定データのバラツキ具合を視認できるようになる
ことから、許容範囲の上限値および下限値を適正値に容
易に設定することが可能となるのであり、更にその画面
上において時間軸方向に移動可能な直線状のカーソルを
設ケチ、そのカーソルの移動位置に対応したサンプリン
グ位置の最大偏差値を演算、表示するようにすれば、そ
れら許容範囲の上限値および下限値の適正値への設定が
更に容易となるのである。

また、許容範囲を表示するためのディスプレイを設けて
、そのディスプレイ上において時間軸方向に移動させ得
る２本の直線状のカーソルを設け、それらカーソルで画
定した制御区間において監視を行なうようにすれば、特
定の区間だけを監視する場合において、その監視区間を
極めて容易に設定することが可能となるのであり、さら
に、許容範囲を複数段階に設定して、測定データがその
複数段階で設定された許容範囲から外れる段階に応じて
対処手法を異なるようにすれば、発生した異常状態の程
度に応じて最も適切な対処手法を講じて、射出成形機の
成形効率の向上を図ることができるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明手法が適用される射出成形機の一例を
示す系統図であり、第２図は、第１図の射出成形機にお
ける監視プログラムを示すフローチャートである。第３
図は、第１図の射出成形機のスクリュ回転速度について
の許容範囲の上限値と下限値との設定に際して、良品成
形時の測定データが重畳表示されたＣＲＴ画面の一例を
示す図であり、第４図は、第１図の射出成形機における
スクリュ回転速度についての許容範囲の上限値と下限値
との設定例を説明するための図である。第５図、第６図
および第７図は、それぞれ、第１図の射出成形機におけ
る射出スクリュの背圧、後退速度および回転トルクにつ
いての第３図に対応する図である。第８図、第９図およ
び第１０図は、それぞれ、許容範囲の上限値と下限値と
の別の設定例を説明するための第４図に対応する図であ
る。第１１図は、本発明の別の実施例を説明するための第２
図に対応する図であり、第１２図は、ＣＲＴの画面上に
おいて、監視区間を規定するためのカーソルの表示例を
示す図である。第１３図は、本発明の更に別の実施例の
第２図に対応する図であり、第１４図は、第１３図の実
施例における許容範囲の上限値と下限値との設定例を説
明するための第４図に対応する図である。１０：射出スクリュ　　１４：油圧モータ１６：射出シ
リンダ２８：電磁比例流量制御弁３０：電磁比例圧力制御弁３２：位置センサ　　　３８：ＣＰＵ４０．５０：油圧センサ

Claims

【特許請求の範囲】

（１）射出成形機の任意の制御区間で射出成形機の制御
状態に応じて変動する変動量について、射出成形機の実
際の成形操作に従って所定のサンプリング間隔で得られ
る測定データと、その測定データの各サンプリング位置
に対応して予め設定された許容範囲の上限値および下限
値とを逐次比較して、その制御区間における射出成形機
の制御状態を監視するに際して、前記変動量について実際の成形操作による良品成形時の
測定データを記憶手段に記憶させ、その記憶手段に記憶
させた良品成形時の測定データに基づいて、前記許容範
囲の上限値および下限値を設定せしめるようにしたこと
を特徴とする射出成形機の制御状態監視方法。
（２）射出成形機の任意の制御区間で射出成形機の制御
状態に応じて変動する変動量について、射出成形機の実
際の成形操作に従って所定のサンプリング間隔で得られ
る測定データの積分値と、その測定データの各サンプリ
ング位置に対応して予め設定された許容範囲の上限値お
よび下限値の各積分値とを逐次比較して、その制御区間
における射出成形機の制御状態を監視するに際して、前記変動量について実際の成形操作による良品成形時の
測定データを記憶手段に記憶させ、その記憶手段に記憶
させた良品成形時の測定データに基づいて、前記許容範
囲の上限値および下限値を設定せしめるようにしたこと
を特徴とする射出成形機の制御状態監視方法。
（３）前記変動量についての良品成形時の測定データを
複数の成形操作回数分前記記憶手段に記憶させて、その
複数の成形操作回数分の測定データの各サンプリング位
置における平均値若しくは中央値を求め、その平均値若
しくは中央値に所定の値を加えた値を前記許容範囲の上
限値として設定せしめる一方、その平均値若しくは中央
値から所定の値を差し引いた値を前記許容範囲の下限値
として設定せしめるようにしたことを特徴とする請求項
第１項または第２項記載の監視方法。
（４）前記変動量についての良品成形時の測定データを
複数の成形操作回数分前記記憶手段に記憶させて、その
複数の成形操作回数分の測定データの各サンプリング位
置における最大値および最小値を求め、その最大値を前
記許容範囲の上限値として設定せしめる一方、その最小
値を前記許容範囲の下限値として設定せしめるようにし
たことを特徴とする請求項第１項または第２項記載の監
視方法。
（５）前記変動量についての良品成形時の測定データを
複数の成形操作回数分前記記憶手段に記憶させて、その
複数の成形操作回数分の測定データの各サンプリング位
置における最大値および最小値を求め、その最大値に所
定の値を加えた値を前記許容範囲の上限値として設定せ
しめる一方、その最小値から所定の値を差し引いた値を
前記許容範囲の下限値として設定せしめるようにしたこ
とを特徴とする請求項第１項または第２項記載の監視方
法。
（６）前記記憶手段に記憶させられた良品成形時の１回
の成形操作分の測定データに所定の値を加えた値を前記
許容範囲の上限値として設定せしめる一方、該測定デー
タから所定の値を差し引いた値を前記許容範囲の下限値
として設定せしめるようにしたことを特徴とする請求項
第１項または第２項記載の監視方法。
（７）前記記憶手段に記憶させられた良品成形時の測定
データを所定のディスプレイ上において重畳表示させた
状態で前記許容範囲の上限値および下限値を設定し得る
ようにしたことを特徴とする請求項第１項乃至第６項の
何れかに記載の監視方法。
（８）前記測定データを重畳表示せしめるディスプレイ
上において、該測定データの時間軸方向に任意に移動さ
せ得る直線状のカーソルを設け、該カーソルの移動位置
に対応したサンプリング位置における測定データの中央
値に対する最大偏差値を算出、表示させるようにしたこ
とを特徴とする請求項第７項記載の監視方法。
（９）前記許容範囲を表示するためのディスプレイを設
けると共に、そのディスプレイ上において、時間軸方向
においてそれぞれ任意に移動させ得る直線状のカーソル
を二つ設け、それらカーソルで画定した制御区間におい
て前記制御状態の監視を行なうようにしたことを特徴と
する請求項第１項乃至第８項の何れかに記載の監視方法
。
（１０）前記許容範囲を複数の段階に設定し、前記変動
量についての実際の成形操作に従って得られる測定デー
タがその複数段階で設定された許容範囲から外れる段階
に応じて、射出成形機の対処方法を異なるようにしたこ
とを特徴とする請求項第１項乃至第９項の何れかに記載
の監視方法。