JPH0278516A - 射出成形機における成形品良否判別方式 - Google Patents
射出成形機における成形品良否判別方式Info
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- JPH0278516A JPH0278516A JP13006489A JP13006489A JPH0278516A JP H0278516 A JPH0278516 A JP H0278516A JP 13006489 A JP13006489 A JP 13006489A JP 13006489 A JP13006489 A JP 13006489A JP H0278516 A JPH0278516 A JP H0278516A
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- injection pressure
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- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 title claims description 49
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 297
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 297
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 163
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 43
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 11
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012850 discrimination method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- -1 screw position Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、射出成形機における成形品良否判別方式に関
する。
する。
従来の技術
射出成形作業中に成形品の良否を判別する方法として、
スクリュー位置を検出して行うものと射出圧力を検出し
て行うものとがあることは既に公知である。
スクリュー位置を検出して行うものと射出圧力を検出し
て行うものとがあることは既に公知である。
従来、スクリュー位置を検出して成形品の良否を判別す
る場合においては、射出の最終段階である保圧終了時の
スクリュー位置(クツション量)もしくはスクリュー最
前進位置(最小クツション量)を検出しており、また、
射出圧力を検出して成形品の良否を判別する場合におい
ては、主に射出工程のピーク射出圧力を検出しており、
いずれの場合においても、スクリュー位置や射出圧力を
検出するための検出タイミングは固定的なものであった
。
る場合においては、射出の最終段階である保圧終了時の
スクリュー位置(クツション量)もしくはスクリュー最
前進位置(最小クツション量)を検出しており、また、
射出圧力を検出して成形品の良否を判別する場合におい
ては、主に射出工程のピーク射出圧力を検出しており、
いずれの場合においても、スクリュー位置や射出圧力を
検出するための検出タイミングは固定的なものであった
。
発明が解決しようとする課題
ところが、射出成形作業においては、必ずしも保圧終了
時のスクリュー位置、スクリュー最前進位置やピーク射
出圧力が成形品の良否を決定するとは限らず、成形品の
形状及び成形作業に用いられる樹脂の種類等により、上
記とは異なったタイミングにおけるスクリュー位置や射
出圧力の値が成形品の良否に多大な影響を与える場合が
ある。
時のスクリュー位置、スクリュー最前進位置やピーク射
出圧力が成形品の良否を決定するとは限らず、成形品の
形状及び成形作業に用いられる樹脂の種類等により、上
記とは異なったタイミングにおけるスクリュー位置や射
出圧力の値が成形品の良否に多大な影響を与える場合が
ある。
また、実際の射出成形作業のプロセスでは、射出開始後
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力等が複雑に関連
して成形品の良否に影響を与えるので、スクリュー位置
や射出圧力にのみ基いて単純に成形品の良否を判別する
ことは難しく、成形品の良否を的確に判別するためには
、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ、射出開始後の経
過時間。
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力等が複雑に関連
して成形品の良否に影響を与えるので、スクリュー位置
や射出圧力にのみ基いて単純に成形品の良否を判別する
ことは難しく、成形品の良否を的確に判別するためには
、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ、射出開始後の経
過時間。
スクリュー位置、射出圧力等の内どのような要素が成形
品の良否に多大な影響を与えるか又、成形品の良否の判
別が容易かを考慮することが望ましい。
品の良否に多大な影響を与えるか又、成形品の良否の判
別が容易かを考慮することが望ましい。
本発明の目的は、この様な状況に鑑み、より的確に成形
品の良否を判別できる射出成形機における成形品良否判
別方式を提供することにある。
品の良否を判別できる射出成形機における成形品良否判
別方式を提供することにある。
課題を解決するための手段
第1図は本発明の方式における検出タイミングと該検出
タイミングにおいて検出される値及び上記検出タイミン
グに対応して設定される比較値との対応関係を示す概念
図であり、本発明の基本的概念においては、射出開始後
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力の3要素の内、
いずれか1つの要素を基準として検出タイミングを設定
すると共に、該検出タイミングにおいて、これとは異な
る別の要素の現在値を検出し、該検出された値と上記検
出タイミングに対応して成形品良否判別のために予め設
定された比較値との差に応じて自動的に成形品の良否を
判別することにより、的確に成形品の良否を判別するよ
うにした。
タイミングにおいて検出される値及び上記検出タイミン
グに対応して設定される比較値との対応関係を示す概念
図であり、本発明の基本的概念においては、射出開始後
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力の3要素の内、
いずれか1つの要素を基準として検出タイミングを設定
すると共に、該検出タイミングにおいて、これとは異な
る別の要素の現在値を検出し、該検出された値と上記検
出タイミングに対応して成形品良否判別のために予め設
定された比較値との差に応じて自動的に成形品の良否を
判別することにより、的確に成形品の良否を判別するよ
うにした。
射出開始後の経過時間を検出タイミングとして設定する
場合には、残る2つの要素、即ち、スクリュー位置もし
くは射出圧力の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出開始後の経過時間
を検出タイミングとし、スクリュー位置に基いて成形品
の良否を判別する場合には、射出開始から計時を開始す
るタイマーを設け、上記タイマーが成形品良否判別のた
めに設定された時間を計時した時点におけるスクリュー
位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出し
たスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定さ
れた比較値であるスクリュー位置との差によって自動的
に成形品の良否を判別する。また、射出圧力に基いて成
形品の良否を判別する場合には、上記タイマーが成形品
良否判別のために設定された時間を計時した時点におけ
る射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検出し
た射出圧力の値と成形品良否判別のために設定された比
較値である射出圧力との差によって自動的に成形品の良
否を判別する。
場合には、残る2つの要素、即ち、スクリュー位置もし
くは射出圧力の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出開始後の経過時間
を検出タイミングとし、スクリュー位置に基いて成形品
の良否を判別する場合には、射出開始から計時を開始す
るタイマーを設け、上記タイマーが成形品良否判別のた
めに設定された時間を計時した時点におけるスクリュー
位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出し
たスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定さ
れた比較値であるスクリュー位置との差によって自動的
に成形品の良否を判別する。また、射出圧力に基いて成
形品の良否を判別する場合には、上記タイマーが成形品
良否判別のために設定された時間を計時した時点におけ
る射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検出し
た射出圧力の値と成形品良否判別のために設定された比
較値である射出圧力との差によって自動的に成形品の良
否を判別する。
また、スクリュー位置を検出タイミングとして設定する
場合には、残る要素、即ち、射出圧力もしくは射出開始
後の経過時間の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。スクリュー位置を検出
タイミングとし、射出圧力に基いて成形品の良否を判別
する場合には、スクリュー位置検出手段が成形品良否判
別のために設定されたスクリュー位置を検出した時点に
おける射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検
出した射出圧力の値と成形品良否判別のために設定され
た比較値である射出圧力との差によって自動的に成形品
の良否を判別する。また、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別する場合には、スクリュー位置検
出手段が成形品良否判別のために設定されたスクリュー
位置を検出した時点における上記タイマーの経過時間を
検出し、検出した経過時間の値と成形品良否判別のため
に設定された比較値である経過時間との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。
場合には、残る要素、即ち、射出圧力もしくは射出開始
後の経過時間の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。スクリュー位置を検出
タイミングとし、射出圧力に基いて成形品の良否を判別
する場合には、スクリュー位置検出手段が成形品良否判
別のために設定されたスクリュー位置を検出した時点に
おける射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検
出した射出圧力の値と成形品良否判別のために設定され
た比較値である射出圧力との差によって自動的に成形品
の良否を判別する。また、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別する場合には、スクリュー位置検
出手段が成形品良否判別のために設定されたスクリュー
位置を検出した時点における上記タイマーの経過時間を
検出し、検出した経過時間の値と成形品良否判別のため
に設定された比較値である経過時間との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。
また、射出圧力を検出タイミングとして設定する場合に
は、残る要素、即ち、射出開始後の経過時間もしくはス
クリュー位置の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出圧力を検出タイミ
ングとし、射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判
別のために設定された射出圧力を検出した時点における
上記タイマーの経過時間を検出し、検出した経過時間の
値と成形品良否判別のために設定された比較値である経
過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別する
。また、スクリュー位置に基いて成形品の良否を判別す
る場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判別のため
に設定された射出圧力を検出した時点におけるスクリュ
ー位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出
したスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定
された比較値であるスクリュー位置との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。
は、残る要素、即ち、射出開始後の経過時間もしくはス
クリュー位置の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出圧力を検出タイミ
ングとし、射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判
別のために設定された射出圧力を検出した時点における
上記タイマーの経過時間を検出し、検出した経過時間の
値と成形品良否判別のために設定された比較値である経
過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別する
。また、スクリュー位置に基いて成形品の良否を判別す
る場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判別のため
に設定された射出圧力を検出した時点におけるスクリュ
ー位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出
したスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定
された比較値であるスクリュー位置との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。
また、上記各成形品良否判別方式において複数の検出タ
イミングを設定し、各検出タイミング毎に良否判別を行
い、美々の判別結果を総合して成形品の良否を判別する
ようにすれば、より的確に成形品の良否を判別すること
ができる。
イミングを設定し、各検出タイミング毎に良否判別を行
い、美々の判別結果を総合して成形品の良否を判別する
ようにすれば、より的確に成形品の良否を判別すること
ができる。
更に、上記各成形品良否判別方式の内少なくとも2つの
方式を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判
別結果を総合して成形品の良否を判別するようにすれば
、より的確な良否判別が実現される。
方式を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判
別結果を総合して成形品の良否を判別するようにすれば
、より的確な良否判別が実現される。
また、射出成形機の制御装置内に上記各成形品良否判別
方式の内少なくとも2つ以上の成形品良否判別方式を記
憶させておき、成形品良否判別方式を選択する手段で1
つの成形品良否判別方式を選択して成形品の良否を判別
するようにすれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ
、より的確に成形品の良否を判別することができる。
方式の内少なくとも2つ以上の成形品良否判別方式を記
憶させておき、成形品良否判別方式を選択する手段で1
つの成形品良否判別方式を選択して成形品の良否を判別
するようにすれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ
、より的確に成形品の良否を判別することができる。
作用
タイマーは射出開始後の経過時間を計時し、スクリュー
位置検出手段及び射出圧力検出手段は、夫々、スクリュ
ー位置及び射出圧力の現在値を検出する。
位置検出手段及び射出圧力検出手段は、夫々、スクリュ
ー位置及び射出圧力の現在値を検出する。
射出開始後の経過時間、スクリュー位置、射出圧力の3
要素の内いずれか1つの要素を基準として設定された検
出タイミングが上記タイマーもしくは上記各検出手段に
よって検出された時点で、これとは異なる別の要素の現
在値が検出され、該検出された値と成形品良否判別のた
めに設定された比較値との差に応じて、成形品の良否が
自動的に判別される。
要素の内いずれか1つの要素を基準として設定された検
出タイミングが上記タイマーもしくは上記各検出手段に
よって検出された時点で、これとは異なる別の要素の現
在値が検出され、該検出された値と成形品良否判別のた
めに設定された比較値との差に応じて、成形品の良否が
自動的に判別される。
また、複数の検出タイミングを設定した場合、及び、少
なくとも2つの方式を併用して良否判別を実施する場合
には、各射出工程毎に、夫々の検出タイミング、及び、
夫々の方式における判別結果を総合して成形品の良否が
自動的に判別される。
なくとも2つの方式を併用して良否判別を実施する場合
には、各射出工程毎に、夫々の検出タイミング、及び、
夫々の方式における判別結果を総合して成形品の良否が
自動的に判別される。
更に、射出成形機の制御装置内に少なくとも2つ以上の
成形品良否判別方式を記憶させておくことにより、成形
品の形状や樹脂の種類等に応じて、最も適当な成形品良
否判別方式を選択することができる。
成形品良否判別方式を記憶させておくことにより、成形
品の形状や樹脂の種類等に応じて、最も適当な成形品良
否判別方式を選択することができる。
実施例
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の各方式を実施する一実施例の電動式射
出成形機及び該射出成形機の制御系要部を示すブロック
図で、符号1はスクリュー、符号2はスクリュー1を軸
方向に駆動する射出用のサーボモータであり、該サーボ
モータ2にはスクリュー位置検出手段としてのパルスコ
ーダ3が装着されている。上記スクリュー1にはスクリ
ュー軸方向に作用する樹脂の反力を検出する圧力センサ
4が設けられ、また、金型6のキャビティ内には該金型
6内の樹脂圧を検出する圧力センサ7が設けられている
。
出成形機及び該射出成形機の制御系要部を示すブロック
図で、符号1はスクリュー、符号2はスクリュー1を軸
方向に駆動する射出用のサーボモータであり、該サーボ
モータ2にはスクリュー位置検出手段としてのパルスコ
ーダ3が装着されている。上記スクリュー1にはスクリ
ュー軸方向に作用する樹脂の反力を検出する圧力センサ
4が設けられ、また、金型6のキャビティ内には該金型
6内の樹脂圧を検出する圧力センサ7が設けられている
。
符号100は、射出成形機を制御する制御装置としての
数値制御装置(以下、NC装置という)で、該NC装置
100はNC用のマイクロプロセッサ(以下、CPUと
いう)108とプログラマブルマシンコントローラ(以
下、PMCという)用のCPUll0を有しており、P
MC用CPU110には射出成形機のシーケンス動作を
制御するシーケンスプログラムや成形品良否判別に関わ
る各種処理のプログラム等を記憶したROMI 13と
データの一時記憶に用いられるRAMI O6が接続さ
れている。
数値制御装置(以下、NC装置という)で、該NC装置
100はNC用のマイクロプロセッサ(以下、CPUと
いう)108とプログラマブルマシンコントローラ(以
下、PMCという)用のCPUll0を有しており、P
MC用CPU110には射出成形機のシーケンス動作を
制御するシーケンスプログラムや成形品良否判別に関わ
る各種処理のプログラム等を記憶したROMI 13と
データの一時記憶に用いられるRAMI O6が接続さ
れている。
NC用CPU108には射出成形機を全体的に制御する
管理プログラムを記憶したROMI 11及び射出用、
クランプ用、スクリュー回転用、エジェクタ用等の各軸
のサーボモータを駆動制御するサーボ回路101がサー
ボインターフェイス107を介して接続されている。な
お、第2図では射出用のサーボモータ2、該サーボモー
タ2のサーボ回路101のみ図示している。また、10
3はバブルメモリやCMOSメモリで構成される不揮発
性の共有RAMで、射出成形機の各動作を制御するNC
プログラム等を記憶するメモリ部と各種設定値、パラメ
ータ、マクロ変数を記憶する設定メモリ部とを有し、該
設定メモリ部には、さらに、各種検出タイミング及び成
形品良否判別のための比較値や成形品良否判別に関連す
る各種許容値が設定記憶されている。
管理プログラムを記憶したROMI 11及び射出用、
クランプ用、スクリュー回転用、エジェクタ用等の各軸
のサーボモータを駆動制御するサーボ回路101がサー
ボインターフェイス107を介して接続されている。な
お、第2図では射出用のサーボモータ2、該サーボモー
タ2のサーボ回路101のみ図示している。また、10
3はバブルメモリやCMOSメモリで構成される不揮発
性の共有RAMで、射出成形機の各動作を制御するNC
プログラム等を記憶するメモリ部と各種設定値、パラメ
ータ、マクロ変数を記憶する設定メモリ部とを有し、該
設定メモリ部には、さらに、各種検出タイミング及び成
形品良否判別のための比較値や成形品良否判別に関連す
る各種許容値が設定記憶されている。
109はバスアービタコントローラ(以下、BACとい
う)で、該BAC109にはNC用cpU108及びP
MC用CPUll0.共有RAM103、入力回路10
4.出力回路105の各バスが接続され、該BAC10
9によって、使用するバスが選択的に制御されるように
なっている。
う)で、該BAC109にはNC用cpU108及びP
MC用CPUll0.共有RAM103、入力回路10
4.出力回路105の各バスが接続され、該BAC10
9によって、使用するバスが選択的に制御されるように
なっている。
また、114はオペレータパネルコントローラ(以下、
OPCという)112を介してBAC109に接続され
たCR7表示装置付手動データ入力装置(以下、CRT
/MDIという)であり、ソフトキーやテンキー等の各
種操作キーを操作することにより様々な指令及び設定デ
ータの入力ができるようになっている。なお、102は
NC用CPU108にバス接続されたRAMでデータの
一時記憶等に利用されるものである。
OPCという)112を介してBAC109に接続され
たCR7表示装置付手動データ入力装置(以下、CRT
/MDIという)であり、ソフトキーやテンキー等の各
種操作キーを操作することにより様々な指令及び設定デ
ータの入力ができるようになっている。なお、102は
NC用CPU108にバス接続されたRAMでデータの
一時記憶等に利用されるものである。
第2図では、射出成形機の射出軸に関するもの、即ちス
クリュー1を駆動して射出させるための射出用サーボモ
ータ2、射出用サーボモータ2に取付けられ、該サーボ
モータの回転を検出してスクリュー位置を検出するパル
スコーダ3を示しており、他の型締軸、スクリュー回転
軸、エジェクタ軸等は省略している。そのため、NC装
置i ]、 00内のサーボ回路101も射出用サーボ
モータ用のものだけを示し、他の軸のサーボ回路は省略
している。そして、該サーボ回路101は、射出用サー
ボモータ2に接続され、又、パルスコーダ3からの出力
はサーボ回路101に入力されている。
クリュー1を駆動して射出させるための射出用サーボモ
ータ2、射出用サーボモータ2に取付けられ、該サーボ
モータの回転を検出してスクリュー位置を検出するパル
スコーダ3を示しており、他の型締軸、スクリュー回転
軸、エジェクタ軸等は省略している。そのため、NC装
置i ]、 00内のサーボ回路101も射出用サーボ
モータ用のものだけを示し、他の軸のサーボ回路は省略
している。そして、該サーボ回路101は、射出用サー
ボモータ2に接続され、又、パルスコーダ3からの出力
はサーボ回路101に入力されている。
又、出力回路105からサーボ回路101には、射出用
サーボモータ2の出力トルクを制限するためのトルクリ
ミット値が出力されるようになっている。なお、サーボ
回路101に入力されるパルスコーダ3の出力は、所定
周期毎、例えばパルス分配周期毎に、サーボインタフェ
ース107゜BAC109を介して共有RAM103に
更新記憶さ、れ、常時、スクリュー1の現在位置Saが
検出できるようになっている。なお、本実施例において
は、シリンダ5先端でのスクリュー位置を原点とし、ス
クリュー後退方向を正方向に規定している。
サーボモータ2の出力トルクを制限するためのトルクリ
ミット値が出力されるようになっている。なお、サーボ
回路101に入力されるパルスコーダ3の出力は、所定
周期毎、例えばパルス分配周期毎に、サーボインタフェ
ース107゜BAC109を介して共有RAM103に
更新記憶さ、れ、常時、スクリュー1の現在位置Saが
検出できるようになっている。なお、本実施例において
は、シリンダ5先端でのスクリュー位置を原点とし、ス
クリュー後退方向を正方向に規定している。
また、入力回路104には、A/D変換器115及びロ
ータリースイッチ8を介し、射出圧力検出手段となる圧
力センサ4または圧力センサ7からの出力信号及び射出
用サーボモータ2の駆動電流の内いずれか1つが選択的
に入力され、これらの値は、上記と同様に所定周期毎、
例えばパルス分配周期毎に射出圧力の現在値Paとして
共有RAM103に更新記憶されるようになっている。
ータリースイッチ8を介し、射出圧力検出手段となる圧
力センサ4または圧力センサ7からの出力信号及び射出
用サーボモータ2の駆動電流の内いずれか1つが選択的
に入力され、これらの値は、上記と同様に所定周期毎、
例えばパルス分配周期毎に射出圧力の現在値Paとして
共有RAM103に更新記憶されるようになっている。
以上のような構成において、NC装置100は、共有R
AMIO3に格納された射出成形機の各動作を制御する
NCプログラム及び上記設定メモリ部に記憶された各種
成形条件等のパラメータやROM113に格納されてい
るシーケンスプログラムにより、PMC用CPUll0
がシーケンス制御を行いながら、NC用CPU108が
射出成形機の各軸のサーボ回路101ヘサーボインター
フエイス107を介してパルス分配し、射出成形機を制
御するものである。
AMIO3に格納された射出成形機の各動作を制御する
NCプログラム及び上記設定メモリ部に記憶された各種
成形条件等のパラメータやROM113に格納されてい
るシーケンスプログラムにより、PMC用CPUll0
がシーケンス制御を行いながら、NC用CPU108が
射出成形機の各軸のサーボ回路101ヘサーボインター
フエイス107を介してパルス分配し、射出成形機を制
御するものである。
以下、上記電動式射出成形機及び制御装置の構成に基き
、本発明における各方式の実施例を順次説明する。
、本発明における各方式の実施例を順次説明する。
まず、第1の実施例として、射出開始後の経過時間を基
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別する
方式の実施例を説明する。
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別する
方式の実施例を説明する。
第1の実施例においては、成形品良否判別のための時間
(以下、単に検出タイミングという)Tsl及びスクリ
ュー理想位置(以下、単に比較値という)Ssl並びに
許容値S w Iを上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。これらの値はCRT/M
D I 114゜0PC112,BAC109を介して
共有RAM103の設定メモリ部に任意に入力設定され
るものであり、この際、過去の射出成形作業のデータに
基き、スクリュー位置が成形品の良否に最も良く反映す
る射出開始後の経過時間を検出タイミングTSiとして
、また、該経過時間における良品成形時のスクリュー位
置の平均的値(スクリュー理想位置)を比較値Sslと
して、各々、共有RAM103に入力設定する。なお、
第12図は成る成形品における射出開始後の経過時間と
スクリュー位置との関係を示す線図で、−点鎖線でスク
リュー理想位置が示され、射出開始後の経過時間がTS
Iとなった時点でのスクリュー位置が成形品の良否を最
も良く反映しており、該時点でのスクリュー理想位置を
比較値Sslとしている。
(以下、単に検出タイミングという)Tsl及びスクリ
ュー理想位置(以下、単に比較値という)Ssl並びに
許容値S w Iを上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。これらの値はCRT/M
D I 114゜0PC112,BAC109を介して
共有RAM103の設定メモリ部に任意に入力設定され
るものであり、この際、過去の射出成形作業のデータに
基き、スクリュー位置が成形品の良否に最も良く反映す
る射出開始後の経過時間を検出タイミングTSiとして
、また、該経過時間における良品成形時のスクリュー位
置の平均的値(スクリュー理想位置)を比較値Sslと
して、各々、共有RAM103に入力設定する。なお、
第12図は成る成形品における射出開始後の経過時間と
スクリュー位置との関係を示す線図で、−点鎖線でスク
リュー理想位置が示され、射出開始後の経過時間がTS
Iとなった時点でのスクリュー位置が成形品の良否を最
も良く反映しており、該時点でのスクリュー理想位置を
比較値Sslとしている。
以下、本方式による成形品良否判別処理(以下、単に処
理1という)を示すフローチャート第3図と共に本実施
例の成形品良否判別動作について説明する。なお、この
処理はPMC用CPUI 10が所定の処理周期毎に実
行するものである。
理1という)を示すフローチャート第3図と共に本実施
例の成形品良否判別動作について説明する。なお、この
処理はPMC用CPUI 10が所定の処理周期毎に実
行するものである。
まず、PMC用CPUll0は一処理周期における成形
品良否判別処理において、射出開始からの経過時間を監
視するタイマが作動中であることを示すフラグFTIが
セットされているか否かを判別しくステップS1)、該
フラグFTIがセットされていなければステップS2に
移行して、射出保圧工程中か否かを判別する。なお、ス
テップS2における判別処理は、自動運転中であるか否
か、及び、射出保圧工程になると共有RAM103にセ
ットされる射出保圧工程フラグが既にセットされている
か否かに基づいて行われ、自動運転中に上記射出保圧工
程フラグのセットが検出された場合にのみ射出保圧工程
中であると判別される。したがって、手動運転中である
場合、もしくは、射出保圧工程中でない場合には射出保
圧工程記憶フラグFSに0をセットした後(ステップS
3)、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。なお、射出保圧工程記憶フラグFSは上記射出保
圧工程フラグとは別個にセット、リセットされるもので
あり、該成形品良否判別処理における判別処理にのみ用
いられる。
品良否判別処理において、射出開始からの経過時間を監
視するタイマが作動中であることを示すフラグFTIが
セットされているか否かを判別しくステップS1)、該
フラグFTIがセットされていなければステップS2に
移行して、射出保圧工程中か否かを判別する。なお、ス
テップS2における判別処理は、自動運転中であるか否
か、及び、射出保圧工程になると共有RAM103にセ
ットされる射出保圧工程フラグが既にセットされている
か否かに基づいて行われ、自動運転中に上記射出保圧工
程フラグのセットが検出された場合にのみ射出保圧工程
中であると判別される。したがって、手動運転中である
場合、もしくは、射出保圧工程中でない場合には射出保
圧工程記憶フラグFSに0をセットした後(ステップS
3)、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。なお、射出保圧工程記憶フラグFSは上記射出保
圧工程フラグとは別個にセット、リセットされるもので
あり、該成形品良否判別処理における判別処理にのみ用
いられる。
ステップS2において射出保圧工程中でないと判別され
た場合には、PMC用CPU110は以降の処理におい
て一処理周期毎にステップ81〜ステツプS3の処理の
みを繰返し実行することとなる。
た場合には、PMC用CPU110は以降の処理におい
て一処理周期毎にステップ81〜ステツプS3の処理の
みを繰返し実行することとなる。
このようにしてステップ81〜ステツプS3の処理を繰
返し実行する間にステップS2で射出保圧工程中と判別
されると、PMC用CPUll0は射出保圧工程記憶フ
ラグFsがセットされているか否かを判別するが(ステ
ップS4)、この段階においては該フラグFsはセット
されていないので、次にステップS5に移行してフラグ
FTIをセットし、射出開始からの経過時間を監視する
タイマに共有RAM103に記憶された検出タイミング
TSIをセットしてスタートさせる(ステップ86)。
返し実行する間にステップS2で射出保圧工程中と判別
されると、PMC用CPUll0は射出保圧工程記憶フ
ラグFsがセットされているか否かを判別するが(ステ
ップS4)、この段階においては該フラグFsはセット
されていないので、次にステップS5に移行してフラグ
FTIをセットし、射出開始からの経過時間を監視する
タイマに共有RAM103に記憶された検出タイミング
TSIをセットしてスタートさせる(ステップ86)。
次に、タイマの設定時間が終了したか否か、即ち、射出
開始からの経過時間が検出タイミングTSIに達したか
否かを判別するが(ステップ$7)、タイマスタート直
後の現時点においてはタイマの設定時間は終了していな
いので、ステップS7の判別処理を実行した後、この処
理周期における成形品良否判別処理を終了する。
開始からの経過時間が検出タイミングTSIに達したか
否かを判別するが(ステップ$7)、タイマスタート直
後の現時点においてはタイマの設定時間は終了していな
いので、ステップS7の判別処理を実行した後、この処
理周期における成形品良否判別処理を終了する。
次周期以降の成形品良否判別処理においては、射出開始
からの経過時間を監視するタイマが作動中であることを
示すフラグFTIが既にセットされ−ているので、PM
C用CPUll0はステップS1からステップS7へ移
行し、タイマがタイムアツプするまでステップS1.ス
テップS7の処理のみを繰返し実行することとなる。
からの経過時間を監視するタイマが作動中であることを
示すフラグFTIが既にセットされ−ているので、PM
C用CPUll0はステップS1からステップS7へ移
行し、タイマがタイムアツプするまでステップS1.ス
テップS7の処理のみを繰返し実行することとなる。
このようにして、ステップSl、ステップS7の処理を
繰返し実行する間に射出開始からの経過時間が検出タイ
ミングTSIに達してタイマの設定時間が終了したこと
がステップS7で判別されると、PMC用CPUll0
は共有RAM103に更新記憶されているスクリュー現
在位置Saを読込み(第12図参照、ステップS8)、
予め共有RAMIO3に設定記憶された比較値SSIと
の間の位置偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許
容値Swlの範囲に含まれているか否かを判別しくステ
ップS9)、位置偏差が設定許容値Swlの範囲内にあ
れば良品信号を出力しくステップ510)、また、設定
許容値Swlの範囲を超えていれば不良信号を出力して
CRT/MD1114の表示画面上に不良品発生の警告
メツセージ等を表示する(ステップ511)。なお、第
12図に示される例では、射出開始からの経過時間が検
出タイミングTSIに達した時点でのスクリュー現在位
置Saと比較値SSIとの差が設定許容値Swlの範囲
を越えているので、該射出保圧工程の成形品は不良品と
判別される。
繰返し実行する間に射出開始からの経過時間が検出タイ
ミングTSIに達してタイマの設定時間が終了したこと
がステップS7で判別されると、PMC用CPUll0
は共有RAM103に更新記憶されているスクリュー現
在位置Saを読込み(第12図参照、ステップS8)、
予め共有RAMIO3に設定記憶された比較値SSIと
の間の位置偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許
容値Swlの範囲に含まれているか否かを判別しくステ
ップS9)、位置偏差が設定許容値Swlの範囲内にあ
れば良品信号を出力しくステップ510)、また、設定
許容値Swlの範囲を超えていれば不良信号を出力して
CRT/MD1114の表示画面上に不良品発生の警告
メツセージ等を表示する(ステップ511)。なお、第
12図に示される例では、射出開始からの経過時間が検
出タイミングTSIに達した時点でのスクリュー現在位
置Saと比較値SSIとの差が設定許容値Swlの範囲
を越えているので、該射出保圧工程の成形品は不良品と
判別される。
このようにして、良品信号もしくは不良信号を出力した
後、タイマ作動中を示すフラグFTIをリセットする一
方、射出保圧工程記憶フラグFSをセットし、成形品良
否の判別は終了しているが射出保圧工程は継続して行わ
れていることを記憶しくステップ5L2)、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了する。
後、タイマ作動中を示すフラグFTIをリセットする一
方、射出保圧工程記憶フラグFSをセットし、成形品良
否の判別は終了しているが射出保圧工程は継続して行わ
れていることを記憶しくステップ5L2)、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了する。
タイマ作動中を示すフラグFTIがリセットされると、
PMC用CPUll0は次周期以降ではステップS1か
らステップS2へ移行し、まだ射出保圧工程中であれば
、ステップS4に移行して射出保圧工程記憶フラグFS
がセットされているか否かを判別し、射出保圧工程記憶
フラグFSがセットされていれば当該成形サイクルの成
形品良否の判別は終了しているのでステップ85〜ステ
ツプS12による成形品良否の判別を実行する必要はな
く、この処理周期における成形品良否判別処理を終了す
る。また、ステップS2で射出保圧工程が終了したと判
別された場合、即ち、共有RAM103の射出保圧工程
フラグがリセットされて射出保圧工程が終了した場合に
は射出保圧工程記憶フラグFSをリセットして(ステッ
プS3)初期状態に復帰し、前述と同様に一処理周期毎
にステップ81〜ステツプS3の処理のみを繰返し実行
することとな、る。
PMC用CPUll0は次周期以降ではステップS1か
らステップS2へ移行し、まだ射出保圧工程中であれば
、ステップS4に移行して射出保圧工程記憶フラグFS
がセットされているか否かを判別し、射出保圧工程記憶
フラグFSがセットされていれば当該成形サイクルの成
形品良否の判別は終了しているのでステップ85〜ステ
ツプS12による成形品良否の判別を実行する必要はな
く、この処理周期における成形品良否判別処理を終了す
る。また、ステップS2で射出保圧工程が終了したと判
別された場合、即ち、共有RAM103の射出保圧工程
フラグがリセットされて射出保圧工程が終了した場合に
は射出保圧工程記憶フラグFSをリセットして(ステッ
プS3)初期状態に復帰し、前述と同様に一処理周期毎
にステップ81〜ステツプS3の処理のみを繰返し実行
することとな、る。
以上に述べたように、本実施例においては、過去の射出
成形作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良
否に最も良く反映する射出開始後の経過時間を検出タイ
ミングTSIとして、また、該射出開始後の経過時間に
おける良品成形時のスクリュー位置の平均的値(スクリ
ュー理想位置)を比較値Sslとして、さらに、成形品
良否判別の基準となる位置偏差の許容値をSwlとして
、これら設定値を共有RAMIO3に設定記憶させてお
き、射出成形作業中においては、射出開始と同時に上記
タイマに検出タイミングTSIを設定してスタートさせ
(ステップS6)、射出開始からの経過時間を監視しく
ステップSt、ステップS7)、射出開始からの経過時
間が検出タイミングTSIに達してタイマが設定時間の
経過を検出した時点でのスクリュー現在位置Saと比較
値Sslとの間の位置偏差を検出し、該位置偏差の大小
に応じて現成形サイクルにおける成形品の良否を判別す
るようにしているので(ステップ89〜ステツプ511
)、スクリュー位置が成形品の良否を最もよく反映する
タイミングで的確に成形品の良否を判別することができ
る。
成形作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良
否に最も良く反映する射出開始後の経過時間を検出タイ
ミングTSIとして、また、該射出開始後の経過時間に
おける良品成形時のスクリュー位置の平均的値(スクリ
ュー理想位置)を比較値Sslとして、さらに、成形品
良否判別の基準となる位置偏差の許容値をSwlとして
、これら設定値を共有RAMIO3に設定記憶させてお
き、射出成形作業中においては、射出開始と同時に上記
タイマに検出タイミングTSIを設定してスタートさせ
(ステップS6)、射出開始からの経過時間を監視しく
ステップSt、ステップS7)、射出開始からの経過時
間が検出タイミングTSIに達してタイマが設定時間の
経過を検出した時点でのスクリュー現在位置Saと比較
値Sslとの間の位置偏差を検出し、該位置偏差の大小
に応じて現成形サイクルにおける成形品の良否を判別す
るようにしているので(ステップ89〜ステツプ511
)、スクリュー位置が成形品の良否を最もよく反映する
タイミングで的確に成形品の良否を判別することができ
る。
また、本実施例によれば、スクリュー現在位置Saと比
較値Sslとの間の位置偏差の大小に応じて現成形サイ
クルにおける成形品の良否を判別する際に良否判別の基
準となる位置偏差の許容値Swlを適宜設定変更するこ
とができるので、成形品に要求される精度等に応じて良
否判別の基準を適宜変更することもできる。
較値Sslとの間の位置偏差の大小に応じて現成形サイ
クルにおける成形品の良否を判別する際に良否判別の基
準となる位置偏差の許容値Swlを適宜設定変更するこ
とができるので、成形品に要求される精度等に応じて良
否判別の基準を適宜変更することもできる。
さらに、様々な成形品を単一の射出成形機を用いて成形
するような場合には、共有RAM103にテーブル状の
記憶手段を設け、それぞれの成形品においてスクリュー
位置が成形品の良否に最も良く反映するタイミングとス
クリュー理想位置及び位置偏差の許容値とを対応させて
記憶しておき、それぞれの成形品に応じたタイミングで
本実施例と同様の成形品良否判別処理を行わせるように
すればよい。
するような場合には、共有RAM103にテーブル状の
記憶手段を設け、それぞれの成形品においてスクリュー
位置が成形品の良否に最も良く反映するタイミングとス
クリュー理想位置及び位置偏差の許容値とを対応させて
記憶しておき、それぞれの成形品に応じたタイミングで
本実施例と同様の成形品良否判別処理を行わせるように
すればよい。
次に、第2の実施例として、射出開始後の経過時間を基
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おける射出圧力(保圧圧力を含む)に基いて成形品の良
否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おける射出圧力(保圧圧力を含む)に基いて成形品の良
否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。
第2の実施例においては、成形品良否判別のための時間
(以下、単に検出タイミングという)Tpl及び理想射
出圧力(以下、単に比較値という)Psl並びに許容値
P w Iを上記共有RAM103の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業の
データに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良く反映
する射出開始後の経過時間を検出タイミングTpl と
して、また、該経過時間における良品成形時の射出圧力
の平均的値(理想射出圧力)を比較値Psi として、
各々、共有RAM103に入力設定する。なお、第13
図は、成る成形品における射出開始後の経過時間と射出
圧力との関係を示す図で、−点鎖線で理想射出圧力が示
され、射出開始後の経過時間がTplとなった時点での
射出圧力が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想射出圧力を比較値Psl としている。
(以下、単に検出タイミングという)Tpl及び理想射
出圧力(以下、単に比較値という)Psl並びに許容値
P w Iを上記共有RAM103の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業の
データに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良く反映
する射出開始後の経過時間を検出タイミングTpl と
して、また、該経過時間における良品成形時の射出圧力
の平均的値(理想射出圧力)を比較値Psi として、
各々、共有RAM103に入力設定する。なお、第13
図は、成る成形品における射出開始後の経過時間と射出
圧力との関係を示す図で、−点鎖線で理想射出圧力が示
され、射出開始後の経過時間がTplとなった時点での
射出圧力が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想射出圧力を比較値Psl としている。
第4図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理2という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUI 10か所定の処理周期毎に実行
するものである。
に処理2という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUI 10か所定の処理周期毎に実行
するものである。
本実施例の成形品良否判別処理では、第3図に示す第1
の実施例と相違する点は、第3図におけるステップS8
.S9がステップ3108,3109に変った点であり
他は同一処理である。即ち、射出開始と同時にタイマに
検出タイミングTplをセットしてスタートさせ(ステ
ップ3106)、射出開始からの経過時間が検出タイミ
ングTplに達した時点で共有RAMI 03から射出
圧力の現在値Paを読込み(ステップ5108)、予め
共有RAM103に設定記憶された比較値Pslとの間
の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定許容値
Pwlの範囲に含まれているか否かを判別しくステップ
5109)、圧力偏差が設定許容値P w lの範囲内
にあれば良品信号を出力しくステップ5110)、また
、設定許容値P w 1の範囲を超えていれば不良信号
を出力してCRT/MD1114の表示画面上に不良発
生の警告メツセージ等を表示する(ステップ5ill)
。なお、第13図に示される例では、射出開始からの経
過時間が検出タイミングTplに達した時点での射出圧
力の現在値Paと比較値Pslとの差が設定許容値Pw
lの範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。
の実施例と相違する点は、第3図におけるステップS8
.S9がステップ3108,3109に変った点であり
他は同一処理である。即ち、射出開始と同時にタイマに
検出タイミングTplをセットしてスタートさせ(ステ
ップ3106)、射出開始からの経過時間が検出タイミ
ングTplに達した時点で共有RAMI 03から射出
圧力の現在値Paを読込み(ステップ5108)、予め
共有RAM103に設定記憶された比較値Pslとの間
の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定許容値
Pwlの範囲に含まれているか否かを判別しくステップ
5109)、圧力偏差が設定許容値P w lの範囲内
にあれば良品信号を出力しくステップ5110)、また
、設定許容値P w 1の範囲を超えていれば不良信号
を出力してCRT/MD1114の表示画面上に不良発
生の警告メツセージ等を表示する(ステップ5ill)
。なお、第13図に示される例では、射出開始からの経
過時間が検出タイミングTplに達した時点での射出圧
力の現在値Paと比較値Pslとの差が設定許容値Pw
lの範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。
本実施例では、射出開始後の経過時間を基準として検出
タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形品の良否を
判別するようにしているので、射出圧力が成形品の良否
を最もよく反映する時間的タイミングにおいて的確に成
形品の良否を判別することができる。
タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形品の良否を
判別するようにしているので、射出圧力が成形品の良否
を最もよく反映する時間的タイミングにおいて的確に成
形品の良否を判別することができる。
次に、第3の実施例として、射出保圧工程におけるスク
リュー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検
出タイミングにおける射出圧力に基いて成形品の良否を
判別する方式の実施例を簡単に説明する。
リュー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検
出タイミングにおける射出圧力に基いて成形品の良否を
判別する方式の実施例を簡単に説明する。
第3の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sbl
及び理想射出圧力(以下、単に比較値という)Ps2並
びに許容値Pw2を上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良
く反映する射出保圧工程におけるスクリュー位置を検出
タイミングSbl として、また、該スクリュー位置に
おける良品成形時の射出圧力の平均的値(理想射出圧力
)を比較値Ps2として、各々、共有RAM103に入
力設定する。なお、第14図は、成る成形品における射
出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を示す
図で、−点鎖線で理想射出圧力が示され、射出保圧工程
の支クリユー位置がSblとなった時点での射出圧力が
成形品の良否を最も良く反映しており、該時点での理想
射出圧力を比較値Ps2としている。
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sbl
及び理想射出圧力(以下、単に比較値という)Ps2並
びに許容値Pw2を上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良
く反映する射出保圧工程におけるスクリュー位置を検出
タイミングSbl として、また、該スクリュー位置に
おける良品成形時の射出圧力の平均的値(理想射出圧力
)を比較値Ps2として、各々、共有RAM103に入
力設定する。なお、第14図は、成る成形品における射
出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を示す
図で、−点鎖線で理想射出圧力が示され、射出保圧工程
の支クリユー位置がSblとなった時点での射出圧力が
成形品の良否を最も良く反映しており、該時点での理想
射出圧力を比較値Ps2としている。
第5図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理3という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
に処理3という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
以下、第5図を参照して本実施例の成形品良否判別動作
について簡単に説明する。
について簡単に説明する。
まず、PMC用CPUll0は一処理周期における成形
品良否判別処理において、フラグFT3がセットされて
いるか否かを判別しくステップ5201)、該フラグF
T3がセットされていなければステップ5202に移行
して、射出保圧工程中か否かを判別する。
品良否判別処理において、フラグFT3がセットされて
いるか否かを判別しくステップ5201)、該フラグF
T3がセットされていなければステップ5202に移行
して、射出保圧工程中か否かを判別する。
ステップ5202において射出保圧工程中でないと判別
された場合には、2MC用CPUll0は以降の処理に
おいて一処理周期毎第1の実施例と同様にステップ82
01〜ステツプ5203の処理のみを繰返し実行するこ
ととなる。
された場合には、2MC用CPUll0は以降の処理に
おいて一処理周期毎第1の実施例と同様にステップ82
01〜ステツプ5203の処理のみを繰返し実行するこ
ととなる。
このようにしてステップ8201〜ステツプ5203の
処理を繰返し実行する間にステップ5202で射出保圧
工程中と判別されると、2MC用CPUll0は射出保
圧工程記憶フラグFSがセットされているか否かを判別
するが(ステップ5204)、この段階においては該フ
ラグFsはセットされていないので、次にステップ52
05に移行してフラグFT3をセットし、共有RAMI
O3に更新記憶されているスクリュー現在位置Saを読
込み(ステップ5206)、該スクリュー現在位置Sa
が検出タイミングSblに達したか否かを判別するが(
ステップ5207)、射出開始直後の現時点においては
スクリューの現在位置が検出タイミングSblに達して
いないので、ステップ5207の判別処理を実行した後
、この処理周期における成形品良否判別処理を終了する
。なお、既に述べたように、シリンダ5先端でのスクリ
ュー位置を原点とし、スクリュー後退方向を正方向に規
定しているため、スクリュー現在位置Saが検出タイミ
ングSblに到達するまでの間はSa > Sbl
が成立する。
処理を繰返し実行する間にステップ5202で射出保圧
工程中と判別されると、2MC用CPUll0は射出保
圧工程記憶フラグFSがセットされているか否かを判別
するが(ステップ5204)、この段階においては該フ
ラグFsはセットされていないので、次にステップ52
05に移行してフラグFT3をセットし、共有RAMI
O3に更新記憶されているスクリュー現在位置Saを読
込み(ステップ5206)、該スクリュー現在位置Sa
が検出タイミングSblに達したか否かを判別するが(
ステップ5207)、射出開始直後の現時点においては
スクリューの現在位置が検出タイミングSblに達して
いないので、ステップ5207の判別処理を実行した後
、この処理周期における成形品良否判別処理を終了する
。なお、既に述べたように、シリンダ5先端でのスクリ
ュー位置を原点とし、スクリュー後退方向を正方向に規
定しているため、スクリュー現在位置Saが検出タイミ
ングSblに到達するまでの間はSa > Sbl
が成立する。
次周期以降の成形品良否判別処理においては、フラグF
T3が既にセットされているので、2MC用CPUll
0はステップ5201からステップ8206へ移行して
スクリュー現在位置S aを検出し、スクリュー現在位
置Saが検出タイミングSblに達したか否かを判別し
くステップ5207)、スクリュー現在位置Saが検出
タイミングSblに達していなければこの処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以下、処理周期毎に
ステップ5201.ステップS 206.ステップ52
07の処理のみが繰り返し実行される。
T3が既にセットされているので、2MC用CPUll
0はステップ5201からステップ8206へ移行して
スクリュー現在位置S aを検出し、スクリュー現在位
置Saが検出タイミングSblに達したか否かを判別し
くステップ5207)、スクリュー現在位置Saが検出
タイミングSblに達していなければこの処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以下、処理周期毎に
ステップ5201.ステップS 206.ステップ52
07の処理のみが繰り返し実行される。
このようにして、ステップ5201.ステップ5206
.ステップ5207の処理を繰返し実行する間にスクリ
ュー現在位置Saが検出タイミングSblに達してSa
≦ Sbl となったことがステップ5207で判
別されると、PMC用CPU110は共有RAM103
に更新記憶されている射出圧力の現在値Paを読込み(
ステップ5208)、予め共有RAM 103に設定記
憶された比較値Ps2との間の圧力偏差を求め、該圧力
偏差が圧力偏差の設定許容値Pw2の範囲に含まれてい
るか否かを判別しくステップ5209)、該圧力偏差が
設定許容値Pw2の範囲内にあれば良品信号を出力しく
ステップ5210)、また、設定許容値Pw2の範囲を
超えていれば不良信号を出力してCRT/MDI 11
4の表示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示
する(ステップ5211)。なお、第14図に示される
例では、スクリュー現在位置Saが検出タイミングSb
lに達した時点での射出圧力の現在値Paと比較値Ps
2との差が設定許容値P w 2の範囲を越えているの
で、該射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。
.ステップ5207の処理を繰返し実行する間にスクリ
ュー現在位置Saが検出タイミングSblに達してSa
≦ Sbl となったことがステップ5207で判
別されると、PMC用CPU110は共有RAM103
に更新記憶されている射出圧力の現在値Paを読込み(
ステップ5208)、予め共有RAM 103に設定記
憶された比較値Ps2との間の圧力偏差を求め、該圧力
偏差が圧力偏差の設定許容値Pw2の範囲に含まれてい
るか否かを判別しくステップ5209)、該圧力偏差が
設定許容値Pw2の範囲内にあれば良品信号を出力しく
ステップ5210)、また、設定許容値Pw2の範囲を
超えていれば不良信号を出力してCRT/MDI 11
4の表示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示
する(ステップ5211)。なお、第14図に示される
例では、スクリュー現在位置Saが検出タイミングSb
lに達した時点での射出圧力の現在値Paと比較値Ps
2との差が設定許容値P w 2の範囲を越えているの
で、該射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。
本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、射出圧力が成
形品の良否を最もよく反映するスクリュー位置のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
として検出タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、射出圧力が成
形品の良否を最もよく反映するスクリュー位置のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
次に、第4の実施例として、射出保圧工程中のスクリュ
ー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検出タ
イミングにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品
の良否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。
ー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検出タ
イミングにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品
の良否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。
第4の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sb2
及び理想経過時間(以下、単に比較値という)Ta2並
びに許容値Twlを上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出開始後の経過時間が成形品の
良否に最も良く反映する射出保圧工程におけるスクリュ
ー位置を検出タイミングSb2として、また、該スクリ
ュー位置における良品成形時の経過時間の平均的値(理
想経過時間)を比較値Ts2として、各々、共有RAM
103に入力設定する。なお、第15図は、成る成形品
における射出保圧工程のスクリュー位置と経過時間との
関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示され、射
出保圧工程のスクリュー位置がSb2となった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良(反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ts2としている。
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sb2
及び理想経過時間(以下、単に比較値という)Ta2並
びに許容値Twlを上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出開始後の経過時間が成形品の
良否に最も良く反映する射出保圧工程におけるスクリュ
ー位置を検出タイミングSb2として、また、該スクリ
ュー位置における良品成形時の経過時間の平均的値(理
想経過時間)を比較値Ts2として、各々、共有RAM
103に入力設定する。なお、第15図は、成る成形品
における射出保圧工程のスクリュー位置と経過時間との
関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示され、射
出保圧工程のスクリュー位置がSb2となった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良(反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ts2としている。
第6図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理4という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPULIOが所定の処理周期毎に実行す
るものである。
に処理4という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPULIOが所定の処理周期毎に実行す
るものである。
本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ830
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103からスクリュー現在位置Saを
読込み(ステップ5307)、スクリュー現在位置Sa
が検出タイミングSb2に達した時点でのタイマTの計
測値、即ち、検出タイミングSb2における射出開始後
の経過時間をレジスタTalに読み込み(ステップ53
09)、予め共有RAM103に設定記憶された比較値
Ts2との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差
の設定許容値Twlの範囲に含まれているか否かを判別
しくステップ5310)、該時間偏差が設定許容値Tw
lの範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ331
1)、また、設定許容値Twlの範囲を超えていれば不
良信号を出力してCRT/MD I 114の表示画面
上に不良発生の警告メツセージ等を表示する(ステップ
5312)。なお、第15図に示される例では、射出保
圧工程中のスクリュー位置が検出タイミングSb2に達
した時点での経過時間Tと比較値Ts2との差が設定許
容値T w 1の範囲を越えているので、該射出保圧工
程の成形品は不良と判別される。
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ830
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103からスクリュー現在位置Saを
読込み(ステップ5307)、スクリュー現在位置Sa
が検出タイミングSb2に達した時点でのタイマTの計
測値、即ち、検出タイミングSb2における射出開始後
の経過時間をレジスタTalに読み込み(ステップ53
09)、予め共有RAM103に設定記憶された比較値
Ts2との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差
の設定許容値Twlの範囲に含まれているか否かを判別
しくステップ5310)、該時間偏差が設定許容値Tw
lの範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ331
1)、また、設定許容値Twlの範囲を超えていれば不
良信号を出力してCRT/MD I 114の表示画面
上に不良発生の警告メツセージ等を表示する(ステップ
5312)。なお、第15図に示される例では、射出保
圧工程中のスクリュー位置が検出タイミングSb2に達
した時点での経過時間Tと比較値Ts2との差が設定許
容値T w 1の範囲を越えているので、該射出保圧工
程の成形品は不良と判別される。
本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間
に基いて成形品の良否を判別するようにしているので、
経過時間が成形品の良否を最もよく反映するスクリュー
位置のタイミングにおいて的確に成形品の良否を判別す
ることができる。
として検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間
に基いて成形品の良否を判別するようにしているので、
経過時間が成形品の良否を最もよく反映するスクリュー
位置のタイミングにおいて的確に成形品の良否を判別す
ることができる。
次に、第5の実施例として、射出保圧工程中の射出圧力
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する方式q実施例を説明する。
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する方式q実施例を説明する。
第5の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pbl及び理
想経過時間(以下、単に比較値という)Ta2並びに許
容値Tw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pbl及び理
想経過時間(以下、単に比較値という)Ta2並びに許
容値Tw2を上記共有RAM103の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。
この際、過去の射出成形作業のデータに基き、射出開始
後の経過時間が成形品の良否に最も良く反映する射出保
圧工程における射出圧力を検出タイミングPbl とし
て、また、該射出圧力に達する良品成形時の経過時間の
平均的値(理想経過時間)を比較値Ts3として、各々
、共有RAM103に入力設定する。なお、第16図は
、成る成形品における射出保圧工程の射出圧力と経過時
間との関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示さ
れ、射出保圧工程の射出圧力がPblとなった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ts3としている。
後の経過時間が成形品の良否に最も良く反映する射出保
圧工程における射出圧力を検出タイミングPbl とし
て、また、該射出圧力に達する良品成形時の経過時間の
平均的値(理想経過時間)を比較値Ts3として、各々
、共有RAM103に入力設定する。なお、第16図は
、成る成形品における射出保圧工程の射出圧力と経過時
間との関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示さ
れ、射出保圧工程の射出圧力がPblとなった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ts3としている。
第7図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理5という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
に処理5という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ540
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAMI 03から射出圧力の現在値Paを
読込み(ステップS407)、射出圧力の現在値Paが
検出タイミングPblに達した時点でのタイマTの計測
値、即ち、検出タイミングpbtにおける射出開始後の
経過時間をレジスタTa2に読込み(ステップ5409
)、予め共有RAM103に設定記憶された比較値Ts
3との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差の設
定許容値Tw2の範囲に含まれているか否かを判別しく
ステップ8410)、該時間偏差が設定許容値Tw2の
範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ5411)
、また、設定許容値Tw2の範囲を超えていれば不良信
号を出力してCRT/MD I 114の表示画面上に
不良発生の警告メツセージ等を表示する(ステップ54
12)。なお、第16図に示される例では、射出保圧工
程中の射出圧力が検出タイミングPblに達した時点で
の経過時間Tと比較値Ts3との差が設定許容値 Tw
2の範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ540
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAMI 03から射出圧力の現在値Paを
読込み(ステップS407)、射出圧力の現在値Paが
検出タイミングPblに達した時点でのタイマTの計測
値、即ち、検出タイミングpbtにおける射出開始後の
経過時間をレジスタTa2に読込み(ステップ5409
)、予め共有RAM103に設定記憶された比較値Ts
3との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差の設
定許容値Tw2の範囲に含まれているか否かを判別しく
ステップ8410)、該時間偏差が設定許容値Tw2の
範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ5411)
、また、設定許容値Tw2の範囲を超えていれば不良信
号を出力してCRT/MD I 114の表示画面上に
不良発生の警告メツセージ等を表示する(ステップ54
12)。なお、第16図に示される例では、射出保圧工
程中の射出圧力が検出タイミングPblに達した時点で
の経過時間Tと比較値Ts3との差が設定許容値 Tw
2の範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。
本実施例では、射出保圧工程中の射出圧力を基準として
検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別するようにしているので、経過時
間が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別するようにしているので、経過時
間が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
次に、第6の実施例として、射出保圧工程中の射出圧力
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別
する方式の実施例を簡単に説明する。
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別
する方式の実施例を簡単に説明する。
第6の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pb2及びス
クリュー理想位置(以下、単に比較値という)Ss2並
びに許容値Sw2を上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良否に
最も良く反映する射出保圧工程における射出圧力を検出
タイミングPb2として、また、該射出圧力に達する良
品成形時のスクリュー位置の平均的値(スクリュー理想
位置)を比較値Ss2として、各々、共有RAM103
に入力設定する。なお、第17図は、成る成形品におけ
る射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位置との関係を
示す図で、−点鎖線でスクリュー理想位置が示され、射
出保圧工程の射出圧力がPb2となった時点でのスクリ
ュー位置が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点でのスクリュー理想位置を比較値Ss2としている。
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pb2及びス
クリュー理想位置(以下、単に比較値という)Ss2並
びに許容値Sw2を上記共有RAM103の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良否に
最も良く反映する射出保圧工程における射出圧力を検出
タイミングPb2として、また、該射出圧力に達する良
品成形時のスクリュー位置の平均的値(スクリュー理想
位置)を比較値Ss2として、各々、共有RAM103
に入力設定する。なお、第17図は、成る成形品におけ
る射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位置との関係を
示す図で、−点鎖線でスクリュー理想位置が示され、射
出保圧工程の射出圧力がPb2となった時点でのスクリ
ュー位置が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点でのスクリュー理想位置を比較値Ss2としている。
第8図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理6という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
に処理6という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始後、処理
周期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを
読込み(ステップ8506)、射出圧力の現在値Paが
検出タイミングPb2に達した時点でのスクリュー現在
位置Saを共有RAM103から読み込んで(ステップ
S 508)、予め共有RAM103に設定記憶された
比較値Ss2との間の位置偏差を求め、該位置偏差が位
置偏差の設定許容値Sw2の範囲に含まれているか否か
を判別しくステップ5509)、該位置偏差が設定許容
値Sw2の範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ
3510)、また、設定許容値Sw2の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してCRT/MD I 114の表
示画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示する(ス
テップ5511)。なお、第17図に示される例では、
射出保圧工程中の射出圧力が検出タイミングI’b2に
達した時点でのスクリュー現在位置Saと比較値Ss2
との差が設定許容値Sw2の範囲を越えているので、該
射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。
周期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを
読込み(ステップ8506)、射出圧力の現在値Paが
検出タイミングPb2に達した時点でのスクリュー現在
位置Saを共有RAM103から読み込んで(ステップ
S 508)、予め共有RAM103に設定記憶された
比較値Ss2との間の位置偏差を求め、該位置偏差が位
置偏差の設定許容値Sw2の範囲に含まれているか否か
を判別しくステップ5509)、該位置偏差が設定許容
値Sw2の範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ
3510)、また、設定許容値Sw2の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してCRT/MD I 114の表
示画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示する(ス
テップ5511)。なお、第17図に示される例では、
射出保圧工程中の射出圧力が検出タイミングI’b2に
達した時点でのスクリュー現在位置Saと比較値Ss2
との差が設定許容値Sw2の範囲を越えているので、該
射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。
本実施例では、射出保圧工程中の射出圧力を基準として
検出タイミングを設定し、スクリュー位置に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、スクリュー位
置が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
検出タイミングを設定し、スクリュー位置に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、スクリュー位
置が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。
なお、第17図では、射出保圧工程中の射出圧力が検出
タイミングPb2となるときのスクリュー位置がQl、
Q2と2箇所存在するが、処理6のステップ5507に
おいて、射出圧力の現在値Paが検出タイミングPb2
に最初に達した時点で成形品の良否が判別され、ステッ
プ5512でフラグFT6がリセットされると共にフラ
グFsがセットされるので、成形品の良否判別に関わる
ステップ8508〜ステツプ5510もしくはステップ
8508〜ステツプ5511の処理が1回のみ実行され
ることとなり、上記01点に関してのみ判別処理が実行
される。
タイミングPb2となるときのスクリュー位置がQl、
Q2と2箇所存在するが、処理6のステップ5507に
おいて、射出圧力の現在値Paが検出タイミングPb2
に最初に達した時点で成形品の良否が判別され、ステッ
プ5512でフラグFT6がリセットされると共にフラ
グFsがセットされるので、成形品の良否判別に関わる
ステップ8508〜ステツプ5510もしくはステップ
8508〜ステツプ5511の処理が1回のみ実行され
ることとなり、上記01点に関してのみ判別処理が実行
される。
次に、第7の実施例として、複数の検出タイミングを設
定し、各検出タイミング毎に良否判別を実行し、夫々の
判別結果を総合して成形品の良否を判別する方式の実施
例について説明する。本実施例では、該方式の一例とし
て、射出保圧工程におけるスクリュー位置を基準として
検出タイミングを2つ設定し、各検出タイミング毎に射
出圧力に基いて良否判別を実行し、2つの良否判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。
定し、各検出タイミング毎に良否判別を実行し、夫々の
判別結果を総合して成形品の良否を判別する方式の実施
例について説明する。本実施例では、該方式の一例とし
て、射出保圧工程におけるスクリュー位置を基準として
検出タイミングを2つ設定し、各検出タイミング毎に射
出圧力に基いて良否判別を実行し、2つの良否判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。
第7の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sb3
とSb4、及び、理想射出圧力(以下、単に比較値とい
う)Ps3とP s 4 、並びに、許容値Pw3とP
w4を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定
記憶させておく。
リュー位置(以下、単に検出タイミングという)Sb3
とSb4、及び、理想射出圧力(以下、単に比較値とい
う)Ps3とP s 4 、並びに、許容値Pw3とP
w4を上記共有RAM103の設定メモリ部に予め設定
記憶させておく。
この際、過去の射出成形作業のデータに基き、射出圧力
が成形品の良否に大きな影響を与えるスクリュー位置を
2箇所選択して検出タイミングsb3及び Sb4とし
、また、各スクリュー位置における良品成形時の射出圧
力の平均的値(理想射出圧力)を比較値Ps3及びPs
4とし、各々、共有RAMIO3に入力設定する。なお
、第18図は、成る成形品における射出保圧工程のスク
リュー位置と射出圧力との関係を示す図で、−点鎖線で
理想射出圧力が示され、射出保圧工程のスクリュー位置
がSb3及びSb4となった時点での射出圧力が成形品
の良否に多大な影響を与え、各々のスクリュー位置にお
ける理想射出圧力を比較値Ps3及びPs4としている
(但し、図中、Sb3 ≧ Sb4 とする)。
が成形品の良否に大きな影響を与えるスクリュー位置を
2箇所選択して検出タイミングsb3及び Sb4とし
、また、各スクリュー位置における良品成形時の射出圧
力の平均的値(理想射出圧力)を比較値Ps3及びPs
4とし、各々、共有RAMIO3に入力設定する。なお
、第18図は、成る成形品における射出保圧工程のスク
リュー位置と射出圧力との関係を示す図で、−点鎖線で
理想射出圧力が示され、射出保圧工程のスクリュー位置
がSb3及びSb4となった時点での射出圧力が成形品
の良否に多大な影響を与え、各々のスクリュー位置にお
ける理想射出圧力を比較値Ps3及びPs4としている
(但し、図中、Sb3 ≧ Sb4 とする)。
第9図は、本方式による成形品良否判別処理(以下、単
に処理7という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUI 10が所定の処理周期毎に実行
するものである。
に処理7という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUI 10が所定の処理周期毎に実行
するものである。
以下、本実施例の成形品良否判別処理を示すフローチャ
ート第9図と共に本実施例の成形品良否判別動作につい
て説明する。
ート第9図と共に本実施例の成形品良否判別動作につい
て説明する。
まず、PMC用CPUI 10は一処理周期における成
形品良否判別処理において、フラグFT7がセットされ
ているか否かを判別しくステップ5601)、該フラグ
FT7がセットされていなければステップ5602に移
行して、射出保圧工程中か否かを判別する。
形品良否判別処理において、フラグFT7がセットされ
ているか否かを判別しくステップ5601)、該フラグ
FT7がセットされていなければステップ5602に移
行して、射出保圧工程中か否かを判別する。
ステップ5602において射出保圧工程中でないと判別
された場合には、射出保圧工程記憶フラグFsに0をセ
ットしくステップ5603)、PMC用CPUll0は
以降の処理において一処理周期毎にステップ8601〜
ステツプ5603の処理のみを繰返し実行することとな
る。
された場合には、射出保圧工程記憶フラグFsに0をセ
ットしくステップ5603)、PMC用CPUll0は
以降の処理において一処理周期毎にステップ8601〜
ステツプ5603の処理のみを繰返し実行することとな
る。
このようにしてステップ8601〜ステツプ5603の
処理を繰返し実行する間にステップ5602で射出保圧
工程中と判別されると、PMC用CPUI 10は射出
保圧工程記憶フラグFsがセットされているか否かを判
別するが(ステップ5604)、この段階においては該
フラグFsはセットされていないので、次にステップ5
605に移行してフラグFT7をセットし、共有RAM
IO3からスクリュー現在位置Saを読み込んで記憶す
る(ステップS 606)。
処理を繰返し実行する間にステップ5602で射出保圧
工程中と判別されると、PMC用CPUI 10は射出
保圧工程記憶フラグFsがセットされているか否かを判
別するが(ステップ5604)、この段階においては該
フラグFsはセットされていないので、次にステップ5
605に移行してフラグFT7をセットし、共有RAM
IO3からスクリュー現在位置Saを読み込んで記憶す
る(ステップS 606)。
次いで、第1回目の良否判別が完了しているが否かを示
すフラグF1がセットされているか否かを判別するが(
ステップ5607)、現段階においては該フラグFlは
セットされていないので、ステップ8606で読込んだ
スクリュー現在位置Saが予め共有RAM103に設定
記憶された検出タイミングSb3に達しているか否かを
判別する(ステップ8608)。射出開始直後の現時点
においてはスクリュー現在位置Saが検出タイミングS
b3に達していないので、ステップ8608の判別処理
を実行した後、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。
すフラグF1がセットされているか否かを判別するが(
ステップ5607)、現段階においては該フラグFlは
セットされていないので、ステップ8606で読込んだ
スクリュー現在位置Saが予め共有RAM103に設定
記憶された検出タイミングSb3に達しているか否かを
判別する(ステップ8608)。射出開始直後の現時点
においてはスクリュー現在位置Saが検出タイミングS
b3に達していないので、ステップ8608の判別処理
を実行した後、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。
次周期以降の成形品良否判別処理においてはフラグFT
7が既にセットされているので、2MC用CPUll0
はステップ5601からステップ8606へ移行して共
有RAM103からスクリュー現在位置Saを読み込み
、第1回目の良否判別が完了しているか否かを示すフラ
グF1がセットされているか否かを判別しくステップS
607)、ステップ8606で読込んだスクリュー現
在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検
出タイミングSb3に達しているか否かを判別するが(
ステップ5608)、いずれの判別結果も否であると、
ステップ5608の判別処理終了後、この処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周期にお
いては、ステップ5601、ステップS 606.ステ
ップ5607゜ステップ5608の処理のみが繰返し実
行されることとなる。
7が既にセットされているので、2MC用CPUll0
はステップ5601からステップ8606へ移行して共
有RAM103からスクリュー現在位置Saを読み込み
、第1回目の良否判別が完了しているか否かを示すフラ
グF1がセットされているか否かを判別しくステップS
607)、ステップ8606で読込んだスクリュー現
在位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検
出タイミングSb3に達しているか否かを判別するが(
ステップ5608)、いずれの判別結果も否であると、
ステップ5608の判別処理終了後、この処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周期にお
いては、ステップ5601、ステップS 606.ステ
ップ5607゜ステップ5608の処理のみが繰返し実
行されることとなる。
このようにして、ステップ5601.ステップS 60
6.ステップS 607.ステップ5608の処理が繰
返し実行される間にスクリュー現在位置Saが予め共有
RAM 103に設定記憶された検出タイミングSb3
に達してSa ≦ Sb3となったことがステップ5
608で判別されると、2MC用CPUll0は共有R
AM103に更新記憶されている射出圧力の現在値Pa
(第18図中I’alで示す)を読込み(ステップS
609)、予め共有RAM103に設定記憶された比較
値Ps3との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏
差の設定許容値Pw3の範囲に含まれているか否かを判
別しくステップ5610)、該圧力偏差が設定許容値P
w3の範囲内にあれば第1回目の良否判別が完了したこ
とを示すフラグFlをセットしくステップ5611)、
この処理周期における成形品良否判別処理を終了する。
6.ステップS 607.ステップ5608の処理が繰
返し実行される間にスクリュー現在位置Saが予め共有
RAM 103に設定記憶された検出タイミングSb3
に達してSa ≦ Sb3となったことがステップ5
608で判別されると、2MC用CPUll0は共有R
AM103に更新記憶されている射出圧力の現在値Pa
(第18図中I’alで示す)を読込み(ステップS
609)、予め共有RAM103に設定記憶された比較
値Ps3との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏
差の設定許容値Pw3の範囲に含まれているか否かを判
別しくステップ5610)、該圧力偏差が設定許容値P
w3の範囲内にあれば第1回目の良否判別が完了したこ
とを示すフラグFlをセットしくステップ5611)、
この処理周期における成形品良否判別処理を終了する。
この場合、第1回目の検出タイミングにおける判別結果
が上記フラグFlにより良品として記憶される。
が上記フラグFlにより良品として記憶される。
一方、ステップ5610において上記圧力偏差が設定許
容値Pw3の範囲を越えていると判別された場合には、
不良信号を出力してCRT/MD1114の表示画面上
に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくステップ5
612)、フラグFT?及びフラグF1をリセットする
一方、射出保圧工程記憶フラグFsをセットしくステッ
プ5613)、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。第18図に示される例では、射出圧力の
現在値Pa(Pal)と比較値Ps3との差が設定許容
値Pw3の範囲内にあるので、第1回目の検出タイミン
グにおける判別結果は良品とされる。
容値Pw3の範囲を越えていると判別された場合には、
不良信号を出力してCRT/MD1114の表示画面上
に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくステップ5
612)、フラグFT?及びフラグF1をリセットする
一方、射出保圧工程記憶フラグFsをセットしくステッ
プ5613)、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。第18図に示される例では、射出圧力の
現在値Pa(Pal)と比較値Ps3との差が設定許容
値Pw3の範囲内にあるので、第1回目の検出タイミン
グにおける判別結果は良品とされる。
なお、第1回目の検出タイミングにおける判別結果が不
良とされた場合には、フラグFT7かリセットされ射出
保圧工程記憶フラグFsがセットされているので、次周
期の成形品良否判別処理においては、ステップ5601
からステップ5602へ移行して射出保圧工程中である
か否かを判別し、まだ射出保圧工程中であれば、ステッ
プ5604に移行して射出保圧工程記憶フラグFSがセ
ットされているか否かを判別する。フラグFSはセット
されているので当該処理周期の成形品良否判別処理を終
了し、以降の処理周期においては、ステップ5601.
ステップS 602.ステップ5604の処理のみが
繰り返し実行され、射出保圧工程の終了がステップ56
02で確認された段階で射出保圧工程記憶フラグFSを
リセットし初期状態に復帰する(ステップS 603)
。
良とされた場合には、フラグFT7かリセットされ射出
保圧工程記憶フラグFsがセットされているので、次周
期の成形品良否判別処理においては、ステップ5601
からステップ5602へ移行して射出保圧工程中である
か否かを判別し、まだ射出保圧工程中であれば、ステッ
プ5604に移行して射出保圧工程記憶フラグFSがセ
ットされているか否かを判別する。フラグFSはセット
されているので当該処理周期の成形品良否判別処理を終
了し、以降の処理周期においては、ステップ5601.
ステップS 602.ステップ5604の処理のみが
繰り返し実行され、射出保圧工程の終了がステップ56
02で確認された段階で射出保圧工程記憶フラグFSを
リセットし初期状態に復帰する(ステップS 603)
。
また、第18図の例のように第1回目の検出タイミング
における判別結果が良品とされた場合には、引き続き、
第2回目の検出タイミングにおける判別処理を実行する
こととなる。
における判別結果が良品とされた場合には、引き続き、
第2回目の検出タイミングにおける判別処理を実行する
こととなる。
この場合、次周期の成形品良否判別処理においては、フ
ラグFT?及びフラグF1がセットされているので、ス
テップ5601の判別処理実行後ステップ8606に移
行して共有RAM103からスクリュー現在位ff1s
aを読み込み、第1回目の良否判別が完了しているか否
かを示すフラグF1がセットされているか否かを判別す
る(ステップS 607)。フラグF1がセットされて
いるので、PMC用CPUll0はステップ5614に
移行して、ステップ8606で読込んだスクリュー現在
位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検出
タイミングSb4に達しているか否か、即ち、スクリュ
ー位置が第2回目の検出タイミングに達しているか否か
を判別しくステップ5614)、スクリュー位置が第2
回目の検出タイミングに達していなければ、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周
期においては、ステップ5601.ステップS 606
.ステップS 607.ステップ5614の処理のみが
繰返し実行されることとなる。
ラグFT?及びフラグF1がセットされているので、ス
テップ5601の判別処理実行後ステップ8606に移
行して共有RAM103からスクリュー現在位ff1s
aを読み込み、第1回目の良否判別が完了しているか否
かを示すフラグF1がセットされているか否かを判別す
る(ステップS 607)。フラグF1がセットされて
いるので、PMC用CPUll0はステップ5614に
移行して、ステップ8606で読込んだスクリュー現在
位置Saが予め共有RAM103に設定記憶された検出
タイミングSb4に達しているか否か、即ち、スクリュ
ー位置が第2回目の検出タイミングに達しているか否か
を判別しくステップ5614)、スクリュー位置が第2
回目の検出タイミングに達していなければ、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周
期においては、ステップ5601.ステップS 606
.ステップS 607.ステップ5614の処理のみが
繰返し実行されることとなる。
このようにして、ステップ8601.ステップ5606
.ステップS 607.ステップ5614の処理が繰返
し実行される間にスクリュー現在位置Saが予め共有R
AM103に設定記憶された検出タイミングSb4に達
してSa ≦ Sb4となったことがステップ561
4で判別されると、PMC用CPUll0は共有RAM
103に更新記憶されている射出圧力の現在値Pa(第
18図中Pa2で示す)を読込み(ステップ3615)
、予め共有RAM103に設定記憶された比較値Ps4
との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定
許容値Pw4の範囲に含まれているか否かを判別しくス
テップ5616)、該圧力偏差が設定許容値Pv4の範
囲内にあれば良品信号を出力しくステップ5617)、
また、該圧力偏差が設定許容値Pw3の範囲を越えてい
れば不良信号を出力してCRT/MD I 114の表
示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくス
テップ5612)、フラグFT?及びフラグFlをリセ
ットすると共に、射出保圧工程記憶フラグFsをセット
しくステップ5613)、この処理周期における成形品
良否判別処理を終了する。即ち、本実施例によれば第1
回目の検出タイミング及び第2回目の検出タイミングに
おける夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該
射出保圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外
の場合にはすべて不良品として判別されることとなる。
.ステップS 607.ステップ5614の処理が繰返
し実行される間にスクリュー現在位置Saが予め共有R
AM103に設定記憶された検出タイミングSb4に達
してSa ≦ Sb4となったことがステップ561
4で判別されると、PMC用CPUll0は共有RAM
103に更新記憶されている射出圧力の現在値Pa(第
18図中Pa2で示す)を読込み(ステップ3615)
、予め共有RAM103に設定記憶された比較値Ps4
との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定
許容値Pw4の範囲に含まれているか否かを判別しくス
テップ5616)、該圧力偏差が設定許容値Pv4の範
囲内にあれば良品信号を出力しくステップ5617)、
また、該圧力偏差が設定許容値Pw3の範囲を越えてい
れば不良信号を出力してCRT/MD I 114の表
示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくス
テップ5612)、フラグFT?及びフラグFlをリセ
ットすると共に、射出保圧工程記憶フラグFsをセット
しくステップ5613)、この処理周期における成形品
良否判別処理を終了する。即ち、本実施例によれば第1
回目の検出タイミング及び第2回目の検出タイミングに
おける夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該
射出保圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外
の場合にはすべて不良品として判別されることとなる。
第18図に示される例では、第2回目の検出タイミング
における射出圧力の現在値Pa(Pa2)と比較値Ps
4との差が設定許容値Pw4の範囲内にあるので、第1
回目の検出タイミングにおける判別結果及び該第2回目
の検出タイミングにおける判別結果が共に良品として判
別され、当該射出保圧工程の成形品が良品として判別さ
れることとなる。
における射出圧力の現在値Pa(Pa2)と比較値Ps
4との差が設定許容値Pw4の範囲内にあるので、第1
回目の検出タイミングにおける判別結果及び該第2回目
の検出タイミングにおける判別結果が共に良品として判
別され、当該射出保圧工程の成形品が良品として判別さ
れることとなる。
本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを複数設定し、各検出タイミング
毎に射出圧力に基いて良否判別を実行し、夫々の良否判
別結果を総合して当該射出保圧工程の成形品の良否を判
別するようにしているので、より的確な良否判別を行う
ことができる。
として検出タイミングを複数設定し、各検出タイミング
毎に射出圧力に基いて良否判別を実行し、夫々の良否判
別結果を総合して当該射出保圧工程の成形品の良否を判
別するようにしているので、より的確な良否判別を行う
ことができる。
この第7の実施例は、スクリュー位置を基準に検出タイ
ミングを設定して射出圧力を検出し良否判別を行う成形
品良否判別方式(第3の実施例参照)に関して、各検出
タイミング毎に良否判別を実行する方式を説明したが、
上記第1.第2.第4、第5.第6の各実施例において
も、該第7の実施例と同様な処理により複数の検出タイ
ミングを設定し、複数の判別結果を総合して成形品の良
否を判別することにより、より的確な良否判別を行うこ
とができる。
ミングを設定して射出圧力を検出し良否判別を行う成形
品良否判別方式(第3の実施例参照)に関して、各検出
タイミング毎に良否判別を実行する方式を説明したが、
上記第1.第2.第4、第5.第6の各実施例において
も、該第7の実施例と同様な処理により複数の検出タイ
ミングを設定し、複数の判別結果を総合して成形品の良
否を判別することにより、より的確な良否判別を行うこ
とができる。
また、検出タイミングの設定箇所も2か所と限らず、3
点以上設定してもよく、この内何点かの検出タイミング
において良品と判別された場合に当該射出保圧工程の成
形品を良品と判別するようにしても良い。
点以上設定してもよく、この内何点かの検出タイミング
において良品と判別された場合に当該射出保圧工程の成
形品を良品と判別するようにしても良い。
次に、第8の実施例として、複数の成形品良否判別方式
を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判別結
果を総合して成形品の良否を判別する実施例について説
明する。本実施例では、「射出保圧工程における射出圧
力を基準として検出タイミングを設定し経過時間に基づ
いて成形品の良否を判別する方式」と「射出保圧工程に
おける射出圧力を基準として検出タイミングを設定しス
クリュー位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」
を各射出保圧工程で実施し、上記各方式による判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。
を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判別結
果を総合して成形品の良否を判別する実施例について説
明する。本実施例では、「射出保圧工程における射出圧
力を基準として検出タイミングを設定し経過時間に基づ
いて成形品の良否を判別する方式」と「射出保圧工程に
おける射出圧力を基準として検出タイミングを設定しス
クリュー位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」
を各射出保圧工程で実施し、上記各方式による判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。
第8の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pbl とP
b2、及び、比較値としての理想経過時間Ts3とスク
リュー理想位置S82、並びに、許容値としての時間偏
差Tw2と位置偏差Sw2を上記共有RAM103の設
定メモリ部に予め設定記憶させておく(但し、Pbl
≦ Pb2とする)。
圧力(以下、単に検出タイミングという)Pbl とP
b2、及び、比較値としての理想経過時間Ts3とスク
リュー理想位置S82、並びに、許容値としての時間偏
差Tw2と位置偏差Sw2を上記共有RAM103の設
定メモリ部に予め設定記憶させておく(但し、Pbl
≦ Pb2とする)。
第10図はこの実施例の成形品良否判別処理(以下、単
に処理8という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
に処理8という)を示すフローチャートであり、この処
理はPMC用CPUll0が所定の処理周期毎に実行す
るものである。
本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ570
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読
み込み(ステップ5707)、射出圧力の現在値Paが
「射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイ
ミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別
する方式」の検出タイミングPblに達した時点でのタ
イマTの計測値をレジスタTa2に読み込み(ステップ
5710)、予め共有RAMIO3に設定記憶された比
較値Ts3との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間
偏差の設定許容値Tw2の範囲に含まれているか否かを
判別しくステップ5711)、該時間偏差が設定許容値
Tw2の範囲を超えていれば不良信号を出力してCRT
/MD I 114の表示画面上に不良発生の警告メツ
セージ等を表示する一方(ステップ5713)、該時間
偏差が設定許容値Tw2の範囲内にあればフラグF2を
セットしくステップ5712)、引き続き、「射出保圧
工程における射出圧力を基準として検出タイミングを設
定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否゛を判別す
る方式」による良否判別を実施し、処理周期毎に共有R
AMIO3から射出圧力の現在値Paを読込み(ステッ
プ5707)、フラグF2がセットされているのでステ
ップ5708からステップ5715へ進み、射出圧力の
現在値Paが「射出保圧工程における射出圧力を基準と
して検出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて
成形品の良否を判別する方式」の検出タイミングPb2
に達した時点でのスクリュー現在位置Saを共有RAM
IO3から読み込み(ステップ5716)、予め共有R
AM103に設定記憶された比較値Ss2との間の位置
偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許容値Sw2
の範囲に含まれているか否かを判別しくステップ571
7)、該位置偏差が設定許容値Sw2の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してCRT/MDI 114の表示
画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示しくステッ
プ8713)、また、該位置偏差が設定許容値Sw2の
範囲内にあれば良品信号を出力する(ステップ8718
)。
タイマTをリセットしてスタートさせ(ステップ570
6)、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有RAM103から射出圧力の現在値Paを読
み込み(ステップ5707)、射出圧力の現在値Paが
「射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイ
ミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別
する方式」の検出タイミングPblに達した時点でのタ
イマTの計測値をレジスタTa2に読み込み(ステップ
5710)、予め共有RAMIO3に設定記憶された比
較値Ts3との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間
偏差の設定許容値Tw2の範囲に含まれているか否かを
判別しくステップ5711)、該時間偏差が設定許容値
Tw2の範囲を超えていれば不良信号を出力してCRT
/MD I 114の表示画面上に不良発生の警告メツ
セージ等を表示する一方(ステップ5713)、該時間
偏差が設定許容値Tw2の範囲内にあればフラグF2を
セットしくステップ5712)、引き続き、「射出保圧
工程における射出圧力を基準として検出タイミングを設
定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否゛を判別す
る方式」による良否判別を実施し、処理周期毎に共有R
AMIO3から射出圧力の現在値Paを読込み(ステッ
プ5707)、フラグF2がセットされているのでステ
ップ5708からステップ5715へ進み、射出圧力の
現在値Paが「射出保圧工程における射出圧力を基準と
して検出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて
成形品の良否を判別する方式」の検出タイミングPb2
に達した時点でのスクリュー現在位置Saを共有RAM
IO3から読み込み(ステップ5716)、予め共有R
AM103に設定記憶された比較値Ss2との間の位置
偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許容値Sw2
の範囲に含まれているか否かを判別しくステップ571
7)、該位置偏差が設定許容値Sw2の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してCRT/MDI 114の表示
画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示しくステッ
プ8713)、また、該位置偏差が設定許容値Sw2の
範囲内にあれば良品信号を出力する(ステップ8718
)。
即ち、本実施例によれば、「射出圧力を基準として検出
タイミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を
判別する方式」 (第1回目の検出タイミング)及び「
射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイミ
ングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否を
判別する方式」(第2回目の検出タイミング)における
夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該射出保
圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外の場合
にはすべて不良品として判別されることとなる。
タイミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を
判別する方式」 (第1回目の検出タイミング)及び「
射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイミ
ングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否を
判別する方式」(第2回目の検出タイミング)における
夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該射出保
圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外の場合
にはすべて不良品として判別されることとなる。
本実施例では、「射出圧力を基準として検出タイミング
を設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方
式」と「射出保圧工程における射出圧力を基準として検
出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品
の良否を判別する方式」とを組合わせ、各方式毎に良否
判別を実行し、夫々の良否判別結果を総合して当該射出
保圧工程の成形品の良否を判別するようにしているので
、より的確な良否判別を行うことができる。
を設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方
式」と「射出保圧工程における射出圧力を基準として検
出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品
の良否を判別する方式」とを組合わせ、各方式毎に良否
判別を実行し、夫々の良否判別結果を総合して当該射出
保圧工程の成形品の良否を判別するようにしているので
、より的確な良否判別を行うことができる。
本実施例は、「射出圧力を基準として検出タイミングを
設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方式
」 (第5の実施例参照)と「射出保圧工程における射
出圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュー
位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」 (第6
の実施例参照)を実施して夫々の良否判別結果を総合し
て当該射出保圧工程の成形品の良否を判別する例につい
て説明したが、方式の組合せはこれに限らず、上記第1
〜第7の各実施例に示される方式から少なくとも2つ以
上のものを選択して組合わせれば良い。
設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方式
」 (第5の実施例参照)と「射出保圧工程における射
出圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュー
位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」 (第6
の実施例参照)を実施して夫々の良否判別結果を総合し
て当該射出保圧工程の成形品の良否を判別する例につい
て説明したが、方式の組合せはこれに限らず、上記第1
〜第7の各実施例に示される方式から少なくとも2つ以
上のものを選択して組合わせれば良い。
次に、第9の実施例として、上記第1〜第8の実施例に
示される成形品良否判別方式を予め射出成形機のNC装
置100内に記憶させておき、任意の判別方式を選択で
きるようにした実施例について簡単に説明する。
示される成形品良否判別方式を予め射出成形機のNC装
置100内に記憶させておき、任意の判別方式を選択で
きるようにした実施例について簡単に説明する。
第9の実施例においては、上記処理1〜処理8に至る各
処理がサブルーチン(定義線み処理)としてROM11
3に記憶され、また、処理1〜処理8で必要とされる各
種検出タイミング及び比較値並びに許容値が共有RAM
103に設定記憶されている。
処理がサブルーチン(定義線み処理)としてROM11
3に記憶され、また、処理1〜処理8で必要とされる各
種検出タイミング及び比較値並びに許容値が共有RAM
103に設定記憶されている。
第11図は本実施例の成形品良否判別処理の概略を示す
フローチャートであり、PMC用CPU110は、ステ
ップ8801〜ステツプ5809における判別処理によ
り、選択指標Rの値に基いて、所定の処理周期ごとに上
記処理1〜処理8の内いずれか1つの処理を選択し、該
選択された処理を繰返し実行して成形品の良否を判別す
る。例えば、選択指標Rに「1」がセットされた場合で
あれば、射出開始後の経過時間を基準として検出タイミ
ングを設定し、スクリュー位置に基いて成形品の良否を
判別するための処理1が所定周期毎に実行され、第1の
実施例と同様にして当該射出保圧工程の良否判別が実行
されることとなる。
フローチャートであり、PMC用CPU110は、ステ
ップ8801〜ステツプ5809における判別処理によ
り、選択指標Rの値に基いて、所定の処理周期ごとに上
記処理1〜処理8の内いずれか1つの処理を選択し、該
選択された処理を繰返し実行して成形品の良否を判別す
る。例えば、選択指標Rに「1」がセットされた場合で
あれば、射出開始後の経過時間を基準として検出タイミ
ングを設定し、スクリュー位置に基いて成形品の良否を
判別するための処理1が所定周期毎に実行され、第1の
実施例と同様にして当該射出保圧工程の良否判別が実行
されることとなる。
また、選択指標Rには、成形品良否判別処理を選択する
ための数値「1」〜「8」もしくは成形品良否判別処理
を非実行とするための数値「0」が、選択手段の一部を
構成するCRT/MD1114から入力設定されるもの
であり、オペレータは、CRT/MD I 114を操
作することにより、任意の成形品良否判別処理を選択し
、若しくは、非実行とすることができる。
ための数値「1」〜「8」もしくは成形品良否判別処理
を非実行とするための数値「0」が、選択手段の一部を
構成するCRT/MD1114から入力設定されるもの
であり、オペレータは、CRT/MD I 114を操
作することにより、任意の成形品良否判別処理を選択し
、若しくは、非実行とすることができる。
本実施例によれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ
、最も適した成形品良否判別方式を選択して成形品の良
否を判別することができるので、良否判別の精度をいっ
そう向上させることができる。
、最も適した成形品良否判別方式を選択して成形品の良
否を判別することができるので、良否判別の精度をいっ
そう向上させることができる。
また、上記した処理1〜処理8の方式の他、第7及び第
8の実施例で説明した各種紐み合わせの方式を予めサブ
ルーチンとして準備しておき、これらの方式を任意に選
択することも容易である。
8の実施例で説明した各種紐み合わせの方式を予めサブ
ルーチンとして準備しておき、これらの方式を任意に選
択することも容易である。
又、上記各実施例では良品信号、不良品信号を共に出力
するようにしたが、どちらか一方のみを出力するように
してもよく、成形品の良否判別を2点以上(検出タイミ
ングが2点以上又は良否判別方式が異なる方式で判別す
る場合)で行った場合、すべての判別で不良と判別され
たとき、成形品を不良とし、若しくは、1づI不良と判
別されたとき不良と判別し、不良信号を出力するように
してもよい。又、逆にすべての判別で良品と判別された
とき良品信号を出力するか、又は1つでも良品と判別さ
れたとき良品信号を出力するようにしてもよい。
するようにしたが、どちらか一方のみを出力するように
してもよく、成形品の良否判別を2点以上(検出タイミ
ングが2点以上又は良否判別方式が異なる方式で判別す
る場合)で行った場合、すべての判別で不良と判別され
たとき、成形品を不良とし、若しくは、1づI不良と判
別されたとき不良と判別し、不良信号を出力するように
してもよい。又、逆にすべての判別で良品と判別された
とき良品信号を出力するか、又は1つでも良品と判別さ
れたとき良品信号を出力するようにしてもよい。
なお、上述した各実施例においては成形品の良否に関す
る判別結果をCRT/MDI 114に警告メツセージ
として表示するようにしたが、不良と判別された成形品
に関しては該成形品のエジェクト時やコンベアによる搬
送時にエアノズルや振分片等を駆動して自動選別するよ
うにしてもよい。
る判別結果をCRT/MDI 114に警告メツセージ
として表示するようにしたが、不良と判別された成形品
に関しては該成形品のエジェクト時やコンベアによる搬
送時にエアノズルや振分片等を駆動して自動選別するよ
うにしてもよい。
エアノズルや振分片等を用いて成形品を選別する場合に
は判別タイミングと選別タイミングとの間にタイムラグ
を生じる場合があるので、エアノズルや振分片等の作動
時間を制御するタイマを設けてPMC用CPUll0よ
り出力される不良信号により該タイマを作動させて所定
時間エアノズルや振分片等を作動させるようにしてもよ
い。
は判別タイミングと選別タイミングとの間にタイムラグ
を生じる場合があるので、エアノズルや振分片等の作動
時間を制御するタイマを設けてPMC用CPUll0よ
り出力される不良信号により該タイマを作動させて所定
時間エアノズルや振分片等を作動させるようにしてもよ
い。
また、不良信号の入力によって不良成形品の数を計数す
ると共に良品信号の入力によってリセットされるカウン
タを設け、不良信号の連続入力回数をカウントし、不良
信号の連続入力回数が所定値(カウンタに予め設定する
)を超えた場合、即ち、何らかの原因によって良品の連
続成形が不能となった場合には、射出成形機に非常停止
信号等を出力するようにして射出成形作業を停止させる
ようにすることも可能である。
ると共に良品信号の入力によってリセットされるカウン
タを設け、不良信号の連続入力回数をカウントし、不良
信号の連続入力回数が所定値(カウンタに予め設定する
)を超えた場合、即ち、何らかの原因によって良品の連
続成形が不能となった場合には、射出成形機に非常停止
信号等を出力するようにして射出成形作業を停止させる
ようにすることも可能である。
発明の効果
本発明によれば、射出開始後の経過時間、スクリュー位
置、射出圧力等の検出タイミングを任意に設定し、これ
らの時間2位置、圧力を基準として、任意の検出タイミ
ングにおけるスクリュー位置、射出圧力、射出開始後の
経過時間を検出し、これらの検出値を比較値と比較する
ことにより成形品の良否が判別されるので、検出値が成
形品の良否を最も良く反映する検出タイミングにおいて
成形品の良否を判別することができ、成形品の良否を的
確に判別することができる。
置、射出圧力等の検出タイミングを任意に設定し、これ
らの時間2位置、圧力を基準として、任意の検出タイミ
ングにおけるスクリュー位置、射出圧力、射出開始後の
経過時間を検出し、これらの検出値を比較値と比較する
ことにより成形品の良否が判別されるので、検出値が成
形品の良否を最も良く反映する検出タイミングにおいて
成形品の良否を判別することができ、成形品の良否を的
確に判別することができる。
また、複数の検出タイミングを設定し、各検出タイミン
グにおける判別結果を総合して成形品の良否を判別した
り、複数の判別方式を併用し、夫々の方式の判別結果を
総合して成形品の良否を判別することにより、成形品の
良否をより的確に判別することができる。
グにおける判別結果を総合して成形品の良否を判別した
り、複数の判別方式を併用し、夫々の方式の判別結果を
総合して成形品の良否を判別することにより、成形品の
良否をより的確に判別することができる。
さらに、射出成形機の制御装置内に次元の異なる検出タ
イミング、もしくは、次元の異なる検出値を用いた複数
の判別方式を記憶させておけば、成形品の形状や樹脂の
種類に応じ、最も適当な判別方式を選択して成形品の良
否判別を行うことができる。
イミング、もしくは、次元の異なる検出値を用いた複数
の判別方式を記憶させておけば、成形品の形状や樹脂の
種類に応じ、最も適当な判別方式を選択して成形品の良
否判別を行うことができる。
第1図は本発明の方式における検出タイミングと各検出
タイミングにおいて検出される値および比較値との対応
関係を示す図、第2図は本発明の方式を実施する一実施
例の電動式射出成形機および該射出成形機の制御系要部
を示すブロック図、第3図は第1の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第4図は第2の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第5図は第3
の実施例における処理の概略を示すフローチャート、第
6図は第4の実施例における処理の概略を示すフローチ
ャート、第7図は第5の実施例における処理の概略を示
すフローチャート、第8図は第6の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第9図は第7の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第10図は第
8の実施例における処理の概略を示すフローチャート、
第11図は第9の実施例における処理の要部を示すフロ
ーチャート、第12図は成る成形品における射出開始後
の経過時間とスクリュー位置との関係を示す概念図、第
13図は成る成形品における射出開始後の経過時間と射
出圧力との関係を示す概念図、第14図は成る成形品に
おける射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関
係を示す概念図、第15図は成る成形品における射出保
圧工程のスクリュー位置と経過時間との関係を示す概念
図、第16図は成る成形品における射出保圧工程の射出
圧力と経過時間との関係を示す概念図、第17図は成る
成形品における射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位
置との関係を示す概念図、第18図は成る成形品におけ
る射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を
示す概念図である。 1・・・スクリュー、2・・・射出用サーボモータ、3
・・・パルスコーダ、4・・・圧力センサ、5・・・シ
リンダ、6・・・金型、7・・・圧力センサ、8・・・
ロータリースイッチ、100・・・制御装置としてのN
C装置、1°01・・・サーボ回路、102・・・RA
M。 103・・・共有RAM、104・・・入力回路、10
5・・・出力回路、106・・・RAM、lQ7・・・
サーボインターフェイス、108・・・NC用CPU。 109・・・バスアービターコントローラ、110・・
・PMC用CPU、111・・・ROM。 112・・・オペレータパネルコントローラ、113・
・・ROM、114・・・CRT表示装置付手動データ
入力装置、115・・・A/D変換器。 第 3 因 第 4 口 第 5 口 第 6 口 第 7 口 第 8 口 第 9 呪 第110 スクリューイ立置
タイミングにおいて検出される値および比較値との対応
関係を示す図、第2図は本発明の方式を実施する一実施
例の電動式射出成形機および該射出成形機の制御系要部
を示すブロック図、第3図は第1の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第4図は第2の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第5図は第3
の実施例における処理の概略を示すフローチャート、第
6図は第4の実施例における処理の概略を示すフローチ
ャート、第7図は第5の実施例における処理の概略を示
すフローチャート、第8図は第6の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第9図は第7の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第10図は第
8の実施例における処理の概略を示すフローチャート、
第11図は第9の実施例における処理の要部を示すフロ
ーチャート、第12図は成る成形品における射出開始後
の経過時間とスクリュー位置との関係を示す概念図、第
13図は成る成形品における射出開始後の経過時間と射
出圧力との関係を示す概念図、第14図は成る成形品に
おける射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関
係を示す概念図、第15図は成る成形品における射出保
圧工程のスクリュー位置と経過時間との関係を示す概念
図、第16図は成る成形品における射出保圧工程の射出
圧力と経過時間との関係を示す概念図、第17図は成る
成形品における射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位
置との関係を示す概念図、第18図は成る成形品におけ
る射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を
示す概念図である。 1・・・スクリュー、2・・・射出用サーボモータ、3
・・・パルスコーダ、4・・・圧力センサ、5・・・シ
リンダ、6・・・金型、7・・・圧力センサ、8・・・
ロータリースイッチ、100・・・制御装置としてのN
C装置、1°01・・・サーボ回路、102・・・RA
M。 103・・・共有RAM、104・・・入力回路、10
5・・・出力回路、106・・・RAM、lQ7・・・
サーボインターフェイス、108・・・NC用CPU。 109・・・バスアービターコントローラ、110・・
・PMC用CPU、111・・・ROM。 112・・・オペレータパネルコントローラ、113・
・・ROM、114・・・CRT表示装置付手動データ
入力装置、115・・・A/D変換器。 第 3 因 第 4 口 第 5 口 第 6 口 第 7 口 第 8 口 第 9 呪 第110 スクリューイ立置
Claims (9)
- (1)射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
開始から計時を開始するタイマーを設け、上記タイマー
が成形品良否判別のために設定された時間を計時した時
点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおける
スクリュー位置を検出し、検出したスクリュー位置の値
と成形品良否判別のために設定された比較値であるスク
リュー位置との差によって自動的に成形品の良否を判別
するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
。 - (2)射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
開始から計時を開始するタイマーを設け、上記タイマー
が成形品良否判別のために設定された時間を計時した時
点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおける
射出圧力を検出し、該検出した射出圧力の値と成形品良
否判別のために設定された比較値である射出圧力との差
によって自動的に成形品の良否を判別するようにした射
出成形機における成形品良否判別方式。 - (3)射出成形機の成形品良否判別方式において、スク
リューの現在位置を検出するスクリュー位置検出手段を
設け、上記スクリュー位置検出手段が成形品良否判別の
ために設定されたスクリュー位置を検出した時点を検出
タイミングとして、該検出タイミングにおける射出圧力
を検出し、該検出した射出圧力の値と成形品良否判別の
ために設定された比較値である射出圧力との差によって
自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成形機
における成形品良否判別方式。 - (4)射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
開始から計時を開始するタイマーと、スクリューの現在
位置を検出するスクリュー位置検出手段とを設け、上記
スクリュー位置検出手段が成形品良否判別のために設定
されたスクリュー位置を検出した時点を検出タイミング
として、該検出タイミングにおける上記タイマーの経過
時間を検出し、該検出した経過時間の値と成形品良否判
別のために設定された比較値である経過時間との差によ
って自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成
形機における成形品良否判別方式。 - (5)射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
開始から計時を開始するタイマーと、射出圧力を検出す
る射出圧力検出手段とを設け、上記射出圧力検出手段が
成形品良否判別のために設定された射出圧力を検出した
時点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおけ
る上記タイマーの経過時間を検出し、該検出した経過時
間の値と成形品良否判別のために設定された比較値であ
る経過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別
するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
。 - (6)射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
圧力を検出する射出圧力検出手段を設け、上記射出圧力
検出手段が成形品良否判別のために設定された射出圧力
を検出した時点を検出タイミングとして、該検出タイミ
ングにおけるスクリュー位置を検出し、該検出したスク
リュー位置の値と成形品良否判別のために設定された比
較値であるスクリュー位置との差によって自動的に成形
品の良否を判別するようにした射出成形機における成形
品良否判別方式。 - (7)請求項1、2、3、4、5または6記載の成形品
良否判別方式において、複数の検出タイミングを設定す
ると共に、各検出タイミングにおいて検出された値と各
検出タイミングに対応して成形品良否判別のために設定
された比較値との夫々の差に基いて自動的に成形品の良
否を判別するようにしたことを特徴とする射出成形機に
おける成形品良否判別方式。 - (8)請求項1、2、3、4、5、6または7記載の成
形品良否判別方式の内少なくとも2つの成形品良否判別
方式を各射出保圧工程中に併用して実施し、上記各成形
品良否判別方式における夫々の良否判別結果に基づいて
各射出保圧工程の成形品の良否を自動的に判別するよう
にした射出成形機における成形品良否判別方式。 - (9)射出成形機の制御装置内に、予め、請求項1、2
、3、4、5、6、7または8記載の成形品良否判別方
式の内少なくとも2つ以上の成形品良否判別方式を記憶
させておき、成形品良否判別方式を選択する手段で1つ
の成形品良否判別方式を選択して、成形品の良否を判別
するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15359988 | 1988-06-23 | ||
JP63-153599 | 1988-06-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0278516A true JPH0278516A (ja) | 1990-03-19 |
JP2927449B2 JP2927449B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=15566009
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1130064A Expired - Fee Related JP2927449B2 (ja) | 1988-06-23 | 1989-05-25 | 射出成形機における成形品良否判別方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2927449B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0474627A (ja) * | 1990-07-17 | 1992-03-10 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形品良否判別装置 |
EP0493619A1 (en) * | 1990-07-24 | 1992-07-08 | Komatsu Ltd. | Method of detecting abnormal filling in injection molding machine |
JP2015013467A (ja) * | 2013-06-05 | 2015-01-22 | ファナック株式会社 | 射出成形機の圧力制御装置 |
US10882236B2 (en) | 2017-05-17 | 2021-01-05 | Aska Company | Molding system, molding apparatus, inspection apparatus, inspection method, and program |
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---|---|---|---|---|
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JPS61169219A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-07-30 | Toyoda Gosei Co Ltd | 樹脂射出成形機 |
JPS61229523A (ja) * | 1985-04-04 | 1986-10-13 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 射出圧力の自動監視方法 |
JPS6219425A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-28 | Yamashiro Seiki Seisakusho:Kk | 射出成形機の型締監視装置 |
JPS6266917A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-26 | Toshiba Mach Co Ltd | 射出成形機の製品良否判別装置 |
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JPS634925A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 射出成形品の良否判別モニタリング方法 |
-
1989
- 1989-05-25 JP JP1130064A patent/JP2927449B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US10882236B2 (en) | 2017-05-17 | 2021-01-05 | Aska Company | Molding system, molding apparatus, inspection apparatus, inspection method, and program |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2927449B2 (ja) | 1999-07-28 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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