JPH0278516A - 射出成形機における成形品良否判別方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、射出成形機における成形品良否判別方式に関
する。

従来の技術 射出成形作業中に成形品の良否を判別する方法として、
スクリュー位置を検出して行うものと射出圧力を検出し
て行うものとがあることは既に公知である。

従来、スクリュー位置を検出して成形品の良否を判別す
る場合においては、射出の最終段階である保圧終了時の
スクリュー位置（クツション量）もしくはスクリュー最
前進位置（最小クツション量）を検出しており、また、
射出圧力を検出して成形品の良否を判別する場合におい
ては、主に射出工程のピーク射出圧力を検出しており、
いずれの場合においても、スクリュー位置や射出圧力を
検出するための検出タイミングは固定的なものであった
。

発明が解決しようとする課題 ところが、射出成形作業においては、必ずしも保圧終了
時のスクリュー位置、スクリュー最前進位置やピーク射
出圧力が成形品の良否を決定するとは限らず、成形品の
形状及び成形作業に用いられる樹脂の種類等により、上
記とは異なったタイミングにおけるスクリュー位置や射
出圧力の値が成形品の良否に多大な影響を与える場合が
ある。

また、実際の射出成形作業のプロセスでは、射出開始後
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力等が複雑に関連
して成形品の良否に影響を与えるので、スクリュー位置
や射出圧力にのみ基いて単純に成形品の良否を判別する
ことは難しく、成形品の良否を的確に判別するためには
、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ、射出開始後の経
過時間。

スクリュー位置、射出圧力等の内どのような要素が成形
品の良否に多大な影響を与えるか又、成形品の良否の判
別が容易かを考慮することが望ましい。

本発明の目的は、この様な状況に鑑み、より的確に成形
品の良否を判別できる射出成形機における成形品良否判
別方式を提供することにある。

課題を解決するための手段 第１図は本発明の方式における検出タイミングと該検出
タイミングにおいて検出される値及び上記検出タイミン
グに対応して設定される比較値との対応関係を示す概念
図であり、本発明の基本的概念においては、射出開始後
の経過時間、スクリュー位置、射出圧力の３要素の内、
いずれか１つの要素を基準として検出タイミングを設定
すると共に、該検出タイミングにおいて、これとは異な
る別の要素の現在値を検出し、該検出された値と上記検
出タイミングに対応して成形品良否判別のために予め設
定された比較値との差に応じて自動的に成形品の良否を
判別することにより、的確に成形品の良否を判別するよ
うにした。

射出開始後の経過時間を検出タイミングとして設定する
場合には、残る２つの要素、即ち、スクリュー位置もし
くは射出圧力の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出開始後の経過時間
を検出タイミングとし、スクリュー位置に基いて成形品
の良否を判別する場合には、射出開始から計時を開始す
るタイマーを設け、上記タイマーが成形品良否判別のた
めに設定された時間を計時した時点におけるスクリュー
位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出し
たスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定さ
れた比較値であるスクリュー位置との差によって自動的
に成形品の良否を判別する。また、射出圧力に基いて成
形品の良否を判別する場合には、上記タイマーが成形品
良否判別のために設定された時間を計時した時点におけ
る射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検出し
た射出圧力の値と成形品良否判別のために設定された比
較値である射出圧力との差によって自動的に成形品の良
否を判別する。

また、スクリュー位置を検出タイミングとして設定する
場合には、残る要素、即ち、射出圧力もしくは射出開始
後の経過時間の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。スクリュー位置を検出
タイミングとし、射出圧力に基いて成形品の良否を判別
する場合には、スクリュー位置検出手段が成形品良否判
別のために設定されたスクリュー位置を検出した時点に
おける射出圧力を射出圧力検出手段によって検出し、検
出した射出圧力の値と成形品良否判別のために設定され
た比較値である射出圧力との差によって自動的に成形品
の良否を判別する。また、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別する場合には、スクリュー位置検
出手段が成形品良否判別のために設定されたスクリュー
位置を検出した時点における上記タイマーの経過時間を
検出し、検出した経過時間の値と成形品良否判別のため
に設定された比較値である経過時間との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。

また、射出圧力を検出タイミングとして設定する場合に
は、残る要素、即ち、射出開始後の経過時間もしくはス
クリュー位置の内いずれかの現在値を検出し、該検出値
と予め設定された比較値との差に応じて自動的に成形品
の良否を判別することができる。射出圧力を検出タイミ
ングとし、射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判
別のために設定された射出圧力を検出した時点における
上記タイマーの経過時間を検出し、検出した経過時間の
値と成形品良否判別のために設定された比較値である経
過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別する
。また、スクリュー位置に基いて成形品の良否を判別す
る場合には、射出圧力検出手段が成形品良否判別のため
に設定された射出圧力を検出した時点におけるスクリュ
ー位置をスクリュー位置検出手段によって検出し、検出
したスクリュー位置の値と成形品良否判別のために設定
された比較値であるスクリュー位置との差によって自動
的に成形品の良否を判別する。

また、上記各成形品良否判別方式において複数の検出タ
イミングを設定し、各検出タイミング毎に良否判別を行
い、美々の判別結果を総合して成形品の良否を判別する
ようにすれば、より的確に成形品の良否を判別すること
ができる。

更に、上記各成形品良否判別方式の内少なくとも２つの
方式を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判
別結果を総合して成形品の良否を判別するようにすれば
、より的確な良否判別が実現される。

また、射出成形機の制御装置内に上記各成形品良否判別
方式の内少なくとも２つ以上の成形品良否判別方式を記
憶させておき、成形品良否判別方式を選択する手段で１
つの成形品良否判別方式を選択して成形品の良否を判別
するようにすれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ
、より的確に成形品の良否を判別することができる。

作用 タイマーは射出開始後の経過時間を計時し、スクリュー
位置検出手段及び射出圧力検出手段は、夫々、スクリュ
ー位置及び射出圧力の現在値を検出する。

射出開始後の経過時間、スクリュー位置、射出圧力の３
要素の内いずれか１つの要素を基準として設定された検
出タイミングが上記タイマーもしくは上記各検出手段に
よって検出された時点で、これとは異なる別の要素の現
在値が検出され、該検出された値と成形品良否判別のた
めに設定された比較値との差に応じて、成形品の良否が
自動的に判別される。

また、複数の検出タイミングを設定した場合、及び、少
なくとも２つの方式を併用して良否判別を実施する場合
には、各射出工程毎に、夫々の検出タイミング、及び、
夫々の方式における判別結果を総合して成形品の良否が
自動的に判別される。

更に、射出成形機の制御装置内に少なくとも２つ以上の
成形品良否判別方式を記憶させておくことにより、成形
品の形状や樹脂の種類等に応じて、最も適当な成形品良
否判別方式を選択することができる。

実施例 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第２図は本発明の各方式を実施する一実施例の電動式射
出成形機及び該射出成形機の制御系要部を示すブロック
図で、符号１はスクリュー、符号２はスクリュー１を軸
方向に駆動する射出用のサーボモータであり、該サーボ
モータ２にはスクリュー位置検出手段としてのパルスコ
ーダ３が装着されている。上記スクリュー１にはスクリ
ュー軸方向に作用する樹脂の反力を検出する圧力センサ
４が設けられ、また、金型６のキャビティ内には該金型
６内の樹脂圧を検出する圧力センサ７が設けられている
。

符号１００は、射出成形機を制御する制御装置としての
数値制御装置（以下、ＮＣ装置という）で、該ＮＣ装置
１００はＮＣ用のマイクロプロセッサ（以下、ＣＰＵと
いう）１０８とプログラマブルマシンコントローラ（以
下、ＰＭＣという）用のＣＰＵｌｌ０を有しており、Ｐ
ＭＣ用ＣＰＵ１１０には射出成形機のシーケンス動作を
制御するシーケンスプログラムや成形品良否判別に関わ
る各種処理のプログラム等を記憶したＲＯＭＩ　１３と
データの一時記憶に用いられるＲＡＭＩ　Ｏ６が接続さ
れている。

ＮＣ用ＣＰＵ１０８には射出成形機を全体的に制御する
管理プログラムを記憶したＲＯＭＩ　１１及び射出用、
クランプ用、スクリュー回転用、エジェクタ用等の各軸
のサーボモータを駆動制御するサーボ回路１０１がサー
ボインターフェイス１０７を介して接続されている。な
お、第２図では射出用のサーボモータ２、該サーボモー
タ２のサーボ回路１０１のみ図示している。また、１０
３はバブルメモリやＣＭＯＳメモリで構成される不揮発
性の共有ＲＡＭで、射出成形機の各動作を制御するＮＣ
プログラム等を記憶するメモリ部と各種設定値、パラメ
ータ、マクロ変数を記憶する設定メモリ部とを有し、該
設定メモリ部には、さらに、各種検出タイミング及び成
形品良否判別のための比較値や成形品良否判別に関連す
る各種許容値が設定記憶されている。

１０９はバスアービタコントローラ（以下、ＢＡＣとい
う）で、該ＢＡＣ１０９にはＮＣ用ｃｐＵ１０８及びＰ
ＭＣ用ＣＰＵｌｌ０．共有ＲＡＭ１０３、入力回路１０
４．出力回路１０５の各バスが接続され、該ＢＡＣ１０
９によって、使用するバスが選択的に制御されるように
なっている。

また、１１４はオペレータパネルコントローラ（以下、
ＯＰＣという）１１２を介してＢＡＣ１０９に接続され
たＣＲ７表示装置付手動データ入力装置（以下、ＣＲＴ
／ＭＤＩという）であり、ソフトキーやテンキー等の各
種操作キーを操作することにより様々な指令及び設定デ
ータの入力ができるようになっている。なお、１０２は
ＮＣ用ＣＰＵ１０８にバス接続されたＲＡＭでデータの
一時記憶等に利用されるものである。

第２図では、射出成形機の射出軸に関するもの、即ちス
クリュー１を駆動して射出させるための射出用サーボモ
ータ２、射出用サーボモータ２に取付けられ、該サーボ
モータの回転を検出してスクリュー位置を検出するパル
スコーダ３を示しており、他の型締軸、スクリュー回転
軸、エジェクタ軸等は省略している。そのため、ＮＣ装
置ｉ　］、　００内のサーボ回路１０１も射出用サーボ
モータ用のものだけを示し、他の軸のサーボ回路は省略
している。そして、該サーボ回路１０１は、射出用サー
ボモータ２に接続され、又、パルスコーダ３からの出力
はサーボ回路１０１に入力されている。

又、出力回路１０５からサーボ回路１０１には、射出用
サーボモータ２の出力トルクを制限するためのトルクリ
ミット値が出力されるようになっている。なお、サーボ
回路１０１に入力されるパルスコーダ３の出力は、所定
周期毎、例えばパルス分配周期毎に、サーボインタフェ
ース１０７゜ＢＡＣ１０９を介して共有ＲＡＭ１０３に
更新記憶さ、れ、常時、スクリュー１の現在位置Ｓａが
検出できるようになっている。なお、本実施例において
は、シリンダ５先端でのスクリュー位置を原点とし、ス
クリュー後退方向を正方向に規定している。

また、入力回路１０４には、Ａ／Ｄ変換器１１５及びロ
ータリースイッチ８を介し、射出圧力検出手段となる圧
力センサ４または圧力センサ７からの出力信号及び射出
用サーボモータ２の駆動電流の内いずれか１つが選択的
に入力され、これらの値は、上記と同様に所定周期毎、
例えばパルス分配周期毎に射出圧力の現在値Ｐａとして
共有ＲＡＭ１０３に更新記憶されるようになっている。

以上のような構成において、ＮＣ装置１００は、共有Ｒ
ＡＭＩＯ３に格納された射出成形機の各動作を制御する
ＮＣプログラム及び上記設定メモリ部に記憶された各種
成形条件等のパラメータやＲＯＭ１１３に格納されてい
るシーケンスプログラムにより、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０
がシーケンス制御を行いながら、ＮＣ用ＣＰＵ１０８が
射出成形機の各軸のサーボ回路１０１ヘサーボインター
フエイス１０７を介してパルス分配し、射出成形機を制
御するものである。

以下、上記電動式射出成形機及び制御装置の構成に基き
、本発明における各方式の実施例を順次説明する。

まず、第１の実施例として、射出開始後の経過時間を基
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別する
方式の実施例を説明する。

第１の実施例においては、成形品良否判別のための時間
（以下、単に検出タイミングという）Ｔｓｌ及びスクリ
ュー理想位置（以下、単に比較値という）Ｓｓｌ並びに
許容値Ｓ　ｗ　Ｉを上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。これらの値はＣＲＴ／Ｍ
Ｄ　Ｉ　１１４゜０ＰＣ１１２，ＢＡＣ１０９を介して
共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ部に任意に入力設定され
るものであり、この際、過去の射出成形作業のデータに
基き、スクリュー位置が成形品の良否に最も良く反映す
る射出開始後の経過時間を検出タイミングＴＳｉとして
、また、該経過時間における良品成形時のスクリュー位
置の平均的値（スクリュー理想位置）を比較値Ｓｓｌと
して、各々、共有ＲＡＭ１０３に入力設定する。なお、
第１２図は成る成形品における射出開始後の経過時間と
スクリュー位置との関係を示す線図で、−点鎖線でスク
リュー理想位置が示され、射出開始後の経過時間がＴＳ
Ｉとなった時点でのスクリュー位置が成形品の良否を最
も良く反映しており、該時点でのスクリュー理想位置を
比較値Ｓｓｌとしている。

以下、本方式による成形品良否判別処理（以下、単に処
理１という）を示すフローチャート第３図と共に本実施
例の成形品良否判別動作について説明する。なお、この
処理はＰＭＣ用ＣＰＵＩ　１０が所定の処理周期毎に実
行するものである。

まず、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は一処理周期における成形
品良否判別処理において、射出開始からの経過時間を監
視するタイマが作動中であることを示すフラグＦＴＩが
セットされているか否かを判別しくステップＳ１）、該
フラグＦＴＩがセットされていなければステップＳ２に
移行して、射出保圧工程中か否かを判別する。なお、ス
テップＳ２における判別処理は、自動運転中であるか否
か、及び、射出保圧工程になると共有ＲＡＭ１０３にセ
ットされる射出保圧工程フラグが既にセットされている
か否かに基づいて行われ、自動運転中に上記射出保圧工
程フラグのセットが検出された場合にのみ射出保圧工程
中であると判別される。したがって、手動運転中である
場合、もしくは、射出保圧工程中でない場合には射出保
圧工程記憶フラグＦＳに０をセットした後（ステップＳ
３）、この処理周期における成形品良否判別処理を終了
する。なお、射出保圧工程記憶フラグＦＳは上記射出保
圧工程フラグとは別個にセット、リセットされるもので
あり、該成形品良否判別処理における判別処理にのみ用
いられる。

ステップＳ２において射出保圧工程中でないと判別され
た場合には、ＰＭＣ用ＣＰＵ１１０は以降の処理におい
て一処理周期毎にステップ８１〜ステツプＳ３の処理の
みを繰返し実行することとなる。

このようにしてステップ８１〜ステツプＳ３の処理を繰
返し実行する間にステップＳ２で射出保圧工程中と判別
されると、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は射出保圧工程記憶フ
ラグＦｓがセットされているか否かを判別するが（ステ
ップＳ４）、この段階においては該フラグＦｓはセット
されていないので、次にステップＳ５に移行してフラグ
ＦＴＩをセットし、射出開始からの経過時間を監視する
タイマに共有ＲＡＭ１０３に記憶された検出タイミング
ＴＳＩをセットしてスタートさせる（ステップ８６）。

次に、タイマの設定時間が終了したか否か、即ち、射出
開始からの経過時間が検出タイミングＴＳＩに達したか
否かを判別するが（ステップ＄７）、タイマスタート直
後の現時点においてはタイマの設定時間は終了していな
いので、ステップＳ７の判別処理を実行した後、この処
理周期における成形品良否判別処理を終了する。

次周期以降の成形品良否判別処理においては、射出開始
からの経過時間を監視するタイマが作動中であることを
示すフラグＦＴＩが既にセットされ−ているので、ＰＭ
Ｃ用ＣＰＵｌｌ０はステップＳ１からステップＳ７へ移
行し、タイマがタイムアツプするまでステップＳ１．ス
テップＳ７の処理のみを繰返し実行することとなる。

このようにして、ステップＳｌ、ステップＳ７の処理を
繰返し実行する間に射出開始からの経過時間が検出タイ
ミングＴＳＩに達してタイマの設定時間が終了したこと
がステップＳ７で判別されると、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０
は共有ＲＡＭ１０３に更新記憶されているスクリュー現
在位置Ｓａを読込み（第１２図参照、ステップＳ８）、
予め共有ＲＡＭＩＯ３に設定記憶された比較値ＳＳＩと
の間の位置偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許
容値Ｓｗｌの範囲に含まれているか否かを判別しくステ
ップＳ９）、位置偏差が設定許容値Ｓｗｌの範囲内にあ
れば良品信号を出力しくステップ５１０）、また、設定
許容値Ｓｗｌの範囲を超えていれば不良信号を出力して
ＣＲＴ／ＭＤ１１１４の表示画面上に不良品発生の警告
メツセージ等を表示する（ステップ５１１）。なお、第
１２図に示される例では、射出開始からの経過時間が検
出タイミングＴＳＩに達した時点でのスクリュー現在位
置Ｓａと比較値ＳＳＩとの差が設定許容値Ｓｗｌの範囲
を越えているので、該射出保圧工程の成形品は不良品と
判別される。

このようにして、良品信号もしくは不良信号を出力した
後、タイマ作動中を示すフラグＦＴＩをリセットする一
方、射出保圧工程記憶フラグＦＳをセットし、成形品良
否の判別は終了しているが射出保圧工程は継続して行わ
れていることを記憶しくステップ５Ｌ２）、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了する。

タイマ作動中を示すフラグＦＴＩがリセットされると、
ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は次周期以降ではステップＳ１か
らステップＳ２へ移行し、まだ射出保圧工程中であれば
、ステップＳ４に移行して射出保圧工程記憶フラグＦＳ
がセットされているか否かを判別し、射出保圧工程記憶
フラグＦＳがセットされていれば当該成形サイクルの成
形品良否の判別は終了しているのでステップ８５〜ステ
ツプＳ１２による成形品良否の判別を実行する必要はな
く、この処理周期における成形品良否判別処理を終了す
る。また、ステップＳ２で射出保圧工程が終了したと判
別された場合、即ち、共有ＲＡＭ１０３の射出保圧工程
フラグがリセットされて射出保圧工程が終了した場合に
は射出保圧工程記憶フラグＦＳをリセットして（ステッ
プＳ３）初期状態に復帰し、前述と同様に一処理周期毎
にステップ８１〜ステツプＳ３の処理のみを繰返し実行
することとな、る。

以上に述べたように、本実施例においては、過去の射出
成形作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良
否に最も良く反映する射出開始後の経過時間を検出タイ
ミングＴＳＩとして、また、該射出開始後の経過時間に
おける良品成形時のスクリュー位置の平均的値（スクリ
ュー理想位置）を比較値Ｓｓｌとして、さらに、成形品
良否判別の基準となる位置偏差の許容値をＳｗｌとして
、これら設定値を共有ＲＡＭＩＯ３に設定記憶させてお
き、射出成形作業中においては、射出開始と同時に上記
タイマに検出タイミングＴＳＩを設定してスタートさせ
（ステップＳ６）、射出開始からの経過時間を監視しく
ステップＳｔ、ステップＳ７）、射出開始からの経過時
間が検出タイミングＴＳＩに達してタイマが設定時間の
経過を検出した時点でのスクリュー現在位置Ｓａと比較
値Ｓｓｌとの間の位置偏差を検出し、該位置偏差の大小
に応じて現成形サイクルにおける成形品の良否を判別す
るようにしているので（ステップ８９〜ステツプ５１１
）、スクリュー位置が成形品の良否を最もよく反映する
タイミングで的確に成形品の良否を判別することができ
る。

また、本実施例によれば、スクリュー現在位置Ｓａと比
較値Ｓｓｌとの間の位置偏差の大小に応じて現成形サイ
クルにおける成形品の良否を判別する際に良否判別の基
準となる位置偏差の許容値Ｓｗｌを適宜設定変更するこ
とができるので、成形品に要求される精度等に応じて良
否判別の基準を適宜変更することもできる。

さらに、様々な成形品を単一の射出成形機を用いて成形
するような場合には、共有ＲＡＭ１０３にテーブル状の
記憶手段を設け、それぞれの成形品においてスクリュー
位置が成形品の良否に最も良く反映するタイミングとス
クリュー理想位置及び位置偏差の許容値とを対応させて
記憶しておき、それぞれの成形品に応じたタイミングで
本実施例と同様の成形品良否判別処理を行わせるように
すればよい。

次に、第２の実施例として、射出開始後の経過時間を基
準として検出タイミングを設定し、該検出タイミングに
おける射出圧力（保圧圧力を含む）に基いて成形品の良
否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。

第２の実施例においては、成形品良否判別のための時間
（以下、単に検出タイミングという）Ｔｐｌ及び理想射
出圧力（以下、単に比較値という）Ｐｓｌ並びに許容値
Ｐ　ｗ　Ｉを上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形作業の
データに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良く反映
する射出開始後の経過時間を検出タイミングＴｐｌ　と
して、また、該経過時間における良品成形時の射出圧力
の平均的値（理想射出圧力）を比較値Ｐｓｉ　として、
各々、共有ＲＡＭ１０３に入力設定する。なお、第１３
図は、成る成形品における射出開始後の経過時間と射出
圧力との関係を示す図で、−点鎖線で理想射出圧力が示
され、射出開始後の経過時間がＴｐｌとなった時点での
射出圧力が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想射出圧力を比較値Ｐｓｌ　としている。

第４図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理２という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵＩ　１０か所定の処理周期毎に実行
するものである。

本実施例の成形品良否判別処理では、第３図に示す第１
の実施例と相違する点は、第３図におけるステップＳ８
．Ｓ９がステップ３１０８，３１０９に変った点であり
他は同一処理である。即ち、射出開始と同時にタイマに
検出タイミングＴｐｌをセットしてスタートさせ（ステ
ップ３１０６）、射出開始からの経過時間が検出タイミ
ングＴｐｌに達した時点で共有ＲＡＭＩ　０３から射出
圧力の現在値Ｐａを読込み（ステップ５１０８）、予め
共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された比較値Ｐｓｌとの間
の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定許容値
Ｐｗｌの範囲に含まれているか否かを判別しくステップ
５１０９）、圧力偏差が設定許容値Ｐ　ｗ　ｌの範囲内
にあれば良品信号を出力しくステップ５１１０）、また
、設定許容値Ｐ　ｗ　１の範囲を超えていれば不良信号
を出力してＣＲＴ／ＭＤ１１１４の表示画面上に不良発
生の警告メツセージ等を表示する（ステップ５ｉｌｌ）
。なお、第１３図に示される例では、射出開始からの経
過時間が検出タイミングＴｐｌに達した時点での射出圧
力の現在値Ｐａと比較値Ｐｓｌとの差が設定許容値Ｐｗ
ｌの範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。

本実施例では、射出開始後の経過時間を基準として検出
タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形品の良否を
判別するようにしているので、射出圧力が成形品の良否
を最もよく反映する時間的タイミングにおいて的確に成
形品の良否を判別することができる。

次に、第３の実施例として、射出保圧工程におけるスク
リュー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検
出タイミングにおける射出圧力に基いて成形品の良否を
判別する方式の実施例を簡単に説明する。

第３の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置（以下、単に検出タイミングという）Ｓｂｌ
及び理想射出圧力（以下、単に比較値という）Ｐｓ２並
びに許容値Ｐｗ２を上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出圧力が成形品の良否に最も良
く反映する射出保圧工程におけるスクリュー位置を検出
タイミングＳｂｌ　として、また、該スクリュー位置に
おける良品成形時の射出圧力の平均的値（理想射出圧力
）を比較値Ｐｓ２として、各々、共有ＲＡＭ１０３に入
力設定する。なお、第１４図は、成る成形品における射
出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を示す
図で、−点鎖線で理想射出圧力が示され、射出保圧工程
の支クリユー位置がＳｂｌとなった時点での射出圧力が
成形品の良否を最も良く反映しており、該時点での理想
射出圧力を比較値Ｐｓ２としている。

第５図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理３という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０が所定の処理周期毎に実行す
るものである。

以下、第５図を参照して本実施例の成形品良否判別動作
について簡単に説明する。

まず、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は一処理周期における成形
品良否判別処理において、フラグＦＴ３がセットされて
いるか否かを判別しくステップ５２０１）、該フラグＦ
Ｔ３がセットされていなければステップ５２０２に移行
して、射出保圧工程中か否かを判別する。

ステップ５２０２において射出保圧工程中でないと判別
された場合には、２ＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は以降の処理に
おいて一処理周期毎第１の実施例と同様にステップ８２
０１〜ステツプ５２０３の処理のみを繰返し実行するこ
ととなる。

このようにしてステップ８２０１〜ステツプ５２０３の
処理を繰返し実行する間にステップ５２０２で射出保圧
工程中と判別されると、２ＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は射出保
圧工程記憶フラグＦＳがセットされているか否かを判別
するが（ステップ５２０４）、この段階においては該フ
ラグＦｓはセットされていないので、次にステップ５２
０５に移行してフラグＦＴ３をセットし、共有ＲＡＭＩ
Ｏ３に更新記憶されているスクリュー現在位置Ｓａを読
込み（ステップ５２０６）、該スクリュー現在位置Ｓａ
が検出タイミングＳｂｌに達したか否かを判別するが（
ステップ５２０７）、射出開始直後の現時点においては
スクリューの現在位置が検出タイミングＳｂｌに達して
いないので、ステップ５２０７の判別処理を実行した後
、この処理周期における成形品良否判別処理を終了する
。なお、既に述べたように、シリンダ５先端でのスクリ
ュー位置を原点とし、スクリュー後退方向を正方向に規
定しているため、スクリュー現在位置Ｓａが検出タイミ
ングＳｂｌに到達するまでの間はＳａ　　＞　　Ｓｂｌ
が成立する。

次周期以降の成形品良否判別処理においては、フラグＦ
Ｔ３が既にセットされているので、２ＭＣ用ＣＰＵｌｌ
０はステップ５２０１からステップ８２０６へ移行して
スクリュー現在位置Ｓ　ａを検出し、スクリュー現在位
置Ｓａが検出タイミングＳｂｌに達したか否かを判別し
くステップ５２０７）、スクリュー現在位置Ｓａが検出
タイミングＳｂｌに達していなければこの処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以下、処理周期毎に
ステップ５２０１．ステップＳ　２０６．ステップ５２
０７の処理のみが繰り返し実行される。

このようにして、ステップ５２０１．ステップ５２０６
．ステップ５２０７の処理を繰返し実行する間にスクリ
ュー現在位置Ｓａが検出タイミングＳｂｌに達してＳａ
　　≦　Ｓｂｌ　となったことがステップ５２０７で判
別されると、ＰＭＣ用ＣＰＵ１１０は共有ＲＡＭ１０３
に更新記憶されている射出圧力の現在値Ｐａを読込み（
ステップ５２０８）、予め共有ＲＡＭ　１０３に設定記
憶された比較値Ｐｓ２との間の圧力偏差を求め、該圧力
偏差が圧力偏差の設定許容値Ｐｗ２の範囲に含まれてい
るか否かを判別しくステップ５２０９）、該圧力偏差が
設定許容値Ｐｗ２の範囲内にあれば良品信号を出力しく
ステップ５２１０）、また、設定許容値Ｐｗ２の範囲を
超えていれば不良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤＩ　１１
４の表示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示
する（ステップ５２１１）。なお、第１４図に示される
例では、スクリュー現在位置Ｓａが検出タイミングＳｂ
ｌに達した時点での射出圧力の現在値Ｐａと比較値Ｐｓ
２との差が設定許容値Ｐ　ｗ　２の範囲を越えているの
で、該射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを設定し、射出圧力に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、射出圧力が成
形品の良否を最もよく反映するスクリュー位置のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。

次に、第４の実施例として、射出保圧工程中のスクリュ
ー位置を基準として検出タイミングを設定し、該検出タ
イミングにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品
の良否を判別する方式の実施例を簡単に説明する。

第４の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置（以下、単に検出タイミングという）Ｓｂ２
及び理想経過時間（以下、単に比較値という）Ｔａ２並
びに許容値Ｔｗｌを上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、射出開始後の経過時間が成形品の
良否に最も良く反映する射出保圧工程におけるスクリュ
ー位置を検出タイミングＳｂ２として、また、該スクリ
ュー位置における良品成形時の経過時間の平均的値（理
想経過時間）を比較値Ｔｓ２として、各々、共有ＲＡＭ
１０３に入力設定する。なお、第１５図は、成る成形品
における射出保圧工程のスクリュー位置と経過時間との
関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示され、射
出保圧工程のスクリュー位置がＳｂ２となった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良（反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ｔｓ２としている。

第６図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理４という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵＬＩＯが所定の処理周期毎に実行す
るものである。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップ８３０
６）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有ＲＡＭ１０３からスクリュー現在位置Ｓａを
読込み（ステップ５３０７）、スクリュー現在位置Ｓａ
が検出タイミングＳｂ２に達した時点でのタイマＴの計
測値、即ち、検出タイミングＳｂ２における射出開始後
の経過時間をレジスタＴａｌに読み込み（ステップ５３
０９）、予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された比較値
Ｔｓ２との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差
の設定許容値Ｔｗｌの範囲に含まれているか否かを判別
しくステップ５３１０）、該時間偏差が設定許容値Ｔｗ
ｌの範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ３３１
１）、また、設定許容値Ｔｗｌの範囲を超えていれば不
良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤ　Ｉ　１１４の表示画面
上に不良発生の警告メツセージ等を表示する（ステップ
５３１２）。なお、第１５図に示される例では、射出保
圧工程中のスクリュー位置が検出タイミングＳｂ２に達
した時点での経過時間Ｔと比較値Ｔｓ２との差が設定許
容値Ｔ　ｗ　１の範囲を越えているので、該射出保圧工
程の成形品は不良と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間
に基いて成形品の良否を判別するようにしているので、
経過時間が成形品の良否を最もよく反映するスクリュー
位置のタイミングにおいて的確に成形品の良否を判別す
ることができる。

次に、第５の実施例として、射出保圧工程中の射出圧力
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおける射出開始後の経過時間に基いて成形品の良否
を判別する方式ｑ実施例を説明する。

第５の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力（以下、単に検出タイミングという）Ｐｂｌ及び理
想経過時間（以下、単に比較値という）Ｔａ２並びに許
容値Ｔｗ２を上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ部に予
め設定記憶させておく。

この際、過去の射出成形作業のデータに基き、射出開始
後の経過時間が成形品の良否に最も良く反映する射出保
圧工程における射出圧力を検出タイミングＰｂｌ　とし
て、また、該射出圧力に達する良品成形時の経過時間の
平均的値（理想経過時間）を比較値Ｔｓ３として、各々
、共有ＲＡＭ１０３に入力設定する。なお、第１６図は
、成る成形品における射出保圧工程の射出圧力と経過時
間との関係を示す図で、−点鎖線で理想経過時間が示さ
れ、射出保圧工程の射出圧力がＰｂｌとなった時点での
経過時間が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点での理想経過時間を比較値Ｔｓ３としている。

第７図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理５という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０が所定の処理周期毎に実行す
るものである。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップ５４０
６）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有ＲＡＭＩ　０３から射出圧力の現在値Ｐａを
読込み（ステップＳ４０７）、射出圧力の現在値Ｐａが
検出タイミングＰｂｌに達した時点でのタイマＴの計測
値、即ち、検出タイミングｐｂｔにおける射出開始後の
経過時間をレジスタＴａ２に読込み（ステップ５４０９
）、予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された比較値Ｔｓ
３との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間偏差の設
定許容値Ｔｗ２の範囲に含まれているか否かを判別しく
ステップ８４１０）、該時間偏差が設定許容値Ｔｗ２の
範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ５４１１）
、また、設定許容値Ｔｗ２の範囲を超えていれば不良信
号を出力してＣＲＴ／ＭＤ　Ｉ　１１４の表示画面上に
不良発生の警告メツセージ等を表示する（ステップ５４
１２）。なお、第１６図に示される例では、射出保圧工
程中の射出圧力が検出タイミングＰｂｌに達した時点で
の経過時間Ｔと比較値Ｔｓ３との差が設定許容値　Ｔｗ
２の範囲内にあるので、該射出保圧工程の成形品は良品
と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中の射出圧力を基準として
検出タイミングを設定し、射出開始後の経過時間に基い
て成形品の良否を判別するようにしているので、経過時
間が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。

次に、第６の実施例として、射出保圧工程中の射出圧力
を基準として検出タイミングを設定し、該検出タイミン
グにおけるスクリュー位置に基いて成形品の良否を判別
する方式の実施例を簡単に説明する。

第６の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力（以下、単に検出タイミングという）Ｐｂ２及びス
クリュー理想位置（以下、単に比較値という）Ｓｓ２並
びに許容値Ｓｗ２を上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ
部に予め設定記憶させておく。この際、過去の射出成形
作業のデータに基き、スクリュー位置が成形品の良否に
最も良く反映する射出保圧工程における射出圧力を検出
タイミングＰｂ２として、また、該射出圧力に達する良
品成形時のスクリュー位置の平均的値（スクリュー理想
位置）を比較値Ｓｓ２として、各々、共有ＲＡＭ１０３
に入力設定する。なお、第１７図は、成る成形品におけ
る射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位置との関係を
示す図で、−点鎖線でスクリュー理想位置が示され、射
出保圧工程の射出圧力がＰｂ２となった時点でのスクリ
ュー位置が成形品の良否を最も良く反映しており、該時
点でのスクリュー理想位置を比較値Ｓｓ２としている。

第８図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理６という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０が所定の処理周期毎に実行す
るものである。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始後、処理
周期毎に共有ＲＡＭ１０３から射出圧力の現在値Ｐａを
読込み（ステップ８５０６）、射出圧力の現在値Ｐａが
検出タイミングＰｂ２に達した時点でのスクリュー現在
位置Ｓａを共有ＲＡＭ１０３から読み込んで（ステップ
Ｓ　５０８）、予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された
比較値Ｓｓ２との間の位置偏差を求め、該位置偏差が位
置偏差の設定許容値Ｓｗ２の範囲に含まれているか否か
を判別しくステップ５５０９）、該位置偏差が設定許容
値Ｓｗ２の範囲内にあれば良品信号を出力しくステップ
３５１０）、また、設定許容値Ｓｗ２の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤ　Ｉ　１１４の表
示画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示する（ス
テップ５５１１）。なお、第１７図に示される例では、
射出保圧工程中の射出圧力が検出タイミングＩ’ｂ２に
達した時点でのスクリュー現在位置Ｓａと比較値Ｓｓ２
との差が設定許容値Ｓｗ２の範囲を越えているので、該
射出保圧工程の成形品は不良品と判別される。

本実施例では、射出保圧工程中の射出圧力を基準として
検出タイミングを設定し、スクリュー位置に基いて成形
品の良否を判別するようにしているので、スクリュー位
置が成形品の良否を最もよく反映する射出圧力のタイミ
ングにおいて的確に成形品の良否を判別することができ
る。

なお、第１７図では、射出保圧工程中の射出圧力が検出
タイミングＰｂ２となるときのスクリュー位置がＱｌ、
Ｑ２と２箇所存在するが、処理６のステップ５５０７に
おいて、射出圧力の現在値Ｐａが検出タイミングＰｂ２
に最初に達した時点で成形品の良否が判別され、ステッ
プ５５１２でフラグＦＴ６がリセットされると共にフラ
グＦｓがセットされるので、成形品の良否判別に関わる
ステップ８５０８〜ステツプ５５１０もしくはステップ
８５０８〜ステツプ５５１１の処理が１回のみ実行され
ることとなり、上記０１点に関してのみ判別処理が実行
される。

次に、第７の実施例として、複数の検出タイミングを設
定し、各検出タイミング毎に良否判別を実行し、夫々の
判別結果を総合して成形品の良否を判別する方式の実施
例について説明する。本実施例では、該方式の一例とし
て、射出保圧工程におけるスクリュー位置を基準として
検出タイミングを２つ設定し、各検出タイミング毎に射
出圧力に基いて良否判別を実行し、２つの良否判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。

第７の実施例においては、成形品良否判別のためのスク
リュー位置（以下、単に検出タイミングという）Ｓｂ３
とＳｂ４、及び、理想射出圧力（以下、単に比較値とい
う）Ｐｓ３とＰ　ｓ　４　、並びに、許容値Ｐｗ３とＰ
ｗ４を上記共有ＲＡＭ１０３の設定メモリ部に予め設定
記憶させておく。

この際、過去の射出成形作業のデータに基き、射出圧力
が成形品の良否に大きな影響を与えるスクリュー位置を
２箇所選択して検出タイミングｓｂ３及び　Ｓｂ４とし
、また、各スクリュー位置における良品成形時の射出圧
力の平均的値（理想射出圧力）を比較値Ｐｓ３及びＰｓ
４とし、各々、共有ＲＡＭＩＯ３に入力設定する。なお
、第１８図は、成る成形品における射出保圧工程のスク
リュー位置と射出圧力との関係を示す図で、−点鎖線で
理想射出圧力が示され、射出保圧工程のスクリュー位置
がＳｂ３及びＳｂ４となった時点での射出圧力が成形品
の良否に多大な影響を与え、各々のスクリュー位置にお
ける理想射出圧力を比較値Ｐｓ３及びＰｓ４としている
（但し、図中、Ｓｂ３　　≧　Ｓｂ４　とする）。

第９図は、本方式による成形品良否判別処理（以下、単
に処理７という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵＩ　１０が所定の処理周期毎に実行
するものである。

以下、本実施例の成形品良否判別処理を示すフローチャ
ート第９図と共に本実施例の成形品良否判別動作につい
て説明する。

まず、ＰＭＣ用ＣＰＵＩ　１０は一処理周期における成
形品良否判別処理において、フラグＦＴ７がセットされ
ているか否かを判別しくステップ５６０１）、該フラグ
ＦＴ７がセットされていなければステップ５６０２に移
行して、射出保圧工程中か否かを判別する。

ステップ５６０２において射出保圧工程中でないと判別
された場合には、射出保圧工程記憶フラグＦｓに０をセ
ットしくステップ５６０３）、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は
以降の処理において一処理周期毎にステップ８６０１〜
ステツプ５６０３の処理のみを繰返し実行することとな
る。

このようにしてステップ８６０１〜ステツプ５６０３の
処理を繰返し実行する間にステップ５６０２で射出保圧
工程中と判別されると、ＰＭＣ用ＣＰＵＩ　１０は射出
保圧工程記憶フラグＦｓがセットされているか否かを判
別するが（ステップ５６０４）、この段階においては該
フラグＦｓはセットされていないので、次にステップ５
６０５に移行してフラグＦＴ７をセットし、共有ＲＡＭ
ＩＯ３からスクリュー現在位置Ｓａを読み込んで記憶す
る（ステップＳ　６０６）。

次いで、第１回目の良否判別が完了しているが否かを示
すフラグＦ１がセットされているか否かを判別するが（
ステップ５６０７）、現段階においては該フラグＦｌは
セットされていないので、ステップ８６０６で読込んだ
スクリュー現在位置Ｓａが予め共有ＲＡＭ１０３に設定
記憶された検出タイミングＳｂ３に達しているか否かを
判別する（ステップ８６０８）。射出開始直後の現時点
においてはスクリュー現在位置Ｓａが検出タイミングＳ
ｂ３に達していないので、ステップ８６０８の判別処理
を実行した後、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。

次周期以降の成形品良否判別処理においてはフラグＦＴ
７が既にセットされているので、２ＭＣ用ＣＰＵｌｌ０
はステップ５６０１からステップ８６０６へ移行して共
有ＲＡＭ１０３からスクリュー現在位置Ｓａを読み込み
、第１回目の良否判別が完了しているか否かを示すフラ
グＦ１がセットされているか否かを判別しくステップＳ
　６０７）、ステップ８６０６で読込んだスクリュー現
在位置Ｓａが予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された検
出タイミングＳｂ３に達しているか否かを判別するが（
ステップ５６０８）、いずれの判別結果も否であると、
ステップ５６０８の判別処理終了後、この処理周期にお
ける成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周期にお
いては、ステップ５６０１、ステップＳ　６０６．ステ
ップ５６０７゜ステップ５６０８の処理のみが繰返し実
行されることとなる。

このようにして、ステップ５６０１．ステップＳ　６０
６．ステップＳ　６０７．ステップ５６０８の処理が繰
返し実行される間にスクリュー現在位置Ｓａが予め共有
ＲＡＭ　１０３に設定記憶された検出タイミングＳｂ３
に達してＳａ　　≦　Ｓｂ３となったことがステップ５
６０８で判別されると、２ＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は共有Ｒ
ＡＭ１０３に更新記憶されている射出圧力の現在値Ｐａ
（第１８図中Ｉ’ａｌで示す）を読込み（ステップＳ　
６０９）、予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された比較
値Ｐｓ３との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏
差の設定許容値Ｐｗ３の範囲に含まれているか否かを判
別しくステップ５６１０）、該圧力偏差が設定許容値Ｐ
ｗ３の範囲内にあれば第１回目の良否判別が完了したこ
とを示すフラグＦｌをセットしくステップ５６１１）、
この処理周期における成形品良否判別処理を終了する。

この場合、第１回目の検出タイミングにおける判別結果
が上記フラグＦｌにより良品として記憶される。

一方、ステップ５６１０において上記圧力偏差が設定許
容値Ｐｗ３の範囲を越えていると判別された場合には、
不良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤ１１１４の表示画面上
に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくステップ５
６１２）、フラグＦＴ？及びフラグＦ１をリセットする
一方、射出保圧工程記憶フラグＦｓをセットしくステッ
プ５６１３）、この処理周期における成形品良否判別処
理を終了する。第１８図に示される例では、射出圧力の
現在値Ｐａ（Ｐａｌ）と比較値Ｐｓ３との差が設定許容
値Ｐｗ３の範囲内にあるので、第１回目の検出タイミン
グにおける判別結果は良品とされる。

なお、第１回目の検出タイミングにおける判別結果が不
良とされた場合には、フラグＦＴ７かリセットされ射出
保圧工程記憶フラグＦｓがセットされているので、次周
期の成形品良否判別処理においては、ステップ５６０１
からステップ５６０２へ移行して射出保圧工程中である
か否かを判別し、まだ射出保圧工程中であれば、ステッ
プ５６０４に移行して射出保圧工程記憶フラグＦＳがセ
ットされているか否かを判別する。フラグＦＳはセット
されているので当該処理周期の成形品良否判別処理を終
了し、以降の処理周期においては、ステップ５６０１．
　ステップＳ　６０２．ステップ５６０４の処理のみが
繰り返し実行され、射出保圧工程の終了がステップ５６
０２で確認された段階で射出保圧工程記憶フラグＦＳを
リセットし初期状態に復帰する（ステップＳ　６０３）
。

また、第１８図の例のように第１回目の検出タイミング
における判別結果が良品とされた場合には、引き続き、
第２回目の検出タイミングにおける判別処理を実行する
こととなる。

この場合、次周期の成形品良否判別処理においては、フ
ラグＦＴ？及びフラグＦ１がセットされているので、ス
テップ５６０１の判別処理実行後ステップ８６０６に移
行して共有ＲＡＭ１０３からスクリュー現在位ｆｆ１ｓ
ａを読み込み、第１回目の良否判別が完了しているか否
かを示すフラグＦ１がセットされているか否かを判別す
る（ステップＳ　６０７）。フラグＦ１がセットされて
いるので、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０はステップ５６１４に
移行して、ステップ８６０６で読込んだスクリュー現在
位置Ｓａが予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された検出
タイミングＳｂ４に達しているか否か、即ち、スクリュ
ー位置が第２回目の検出タイミングに達しているか否か
を判別しくステップ５６１４）、スクリュー位置が第２
回目の検出タイミングに達していなければ、この処理周
期における成形品良否判別処理を終了し、以降の処理周
期においては、ステップ５６０１．ステップＳ　６０６
．ステップＳ　６０７．ステップ５６１４の処理のみが
繰返し実行されることとなる。

このようにして、ステップ８６０１．ステップ５６０６
．ステップＳ　６０７．ステップ５６１４の処理が繰返
し実行される間にスクリュー現在位置Ｓａが予め共有Ｒ
ＡＭ１０３に設定記憶された検出タイミングＳｂ４に達
してＳａ　　≦　Ｓｂ４となったことがステップ５６１
４で判別されると、ＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０は共有ＲＡＭ
１０３に更新記憶されている射出圧力の現在値Ｐａ（第
１８図中Ｐａ２で示す）を読込み（ステップ３６１５）
、予め共有ＲＡＭ１０３に設定記憶された比較値Ｐｓ４
との間の圧力偏差を求め、該圧力偏差が圧力偏差の設定
許容値Ｐｗ４の範囲に含まれているか否かを判別しくス
テップ５６１６）、該圧力偏差が設定許容値Ｐｖ４の範
囲内にあれば良品信号を出力しくステップ５６１７）、
また、該圧力偏差が設定許容値Ｐｗ３の範囲を越えてい
れば不良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤ　Ｉ　１１４の表
示画面上に不良品発生の警告メツセージ等を表示しくス
テップ５６１２）、フラグＦＴ？及びフラグＦｌをリセ
ットすると共に、射出保圧工程記憶フラグＦｓをセット
しくステップ５６１３）、この処理周期における成形品
良否判別処理を終了する。即ち、本実施例によれば第１
回目の検出タイミング及び第２回目の検出タイミングに
おける夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該
射出保圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外
の場合にはすべて不良品として判別されることとなる。

第１８図に示される例では、第２回目の検出タイミング
における射出圧力の現在値Ｐａ（Ｐａ２）と比較値Ｐｓ
４との差が設定許容値Ｐｗ４の範囲内にあるので、第１
回目の検出タイミングにおける判別結果及び該第２回目
の検出タイミングにおける判別結果が共に良品として判
別され、当該射出保圧工程の成形品が良品として判別さ
れることとなる。

本実施例では、射出保圧工程中のスクリュー位置を基準
として検出タイミングを複数設定し、各検出タイミング
毎に射出圧力に基いて良否判別を実行し、夫々の良否判
別結果を総合して当該射出保圧工程の成形品の良否を判
別するようにしているので、より的確な良否判別を行う
ことができる。

この第７の実施例は、スクリュー位置を基準に検出タイ
ミングを設定して射出圧力を検出し良否判別を行う成形
品良否判別方式（第３の実施例参照）に関して、各検出
タイミング毎に良否判別を実行する方式を説明したが、
上記第１．第２．第４、第５．第６の各実施例において
も、該第７の実施例と同様な処理により複数の検出タイ
ミングを設定し、複数の判別結果を総合して成形品の良
否を判別することにより、より的確な良否判別を行うこ
とができる。

また、検出タイミングの設定箇所も２か所と限らず、３
点以上設定してもよく、この内何点かの検出タイミング
において良品と判別された場合に当該射出保圧工程の成
形品を良品と判別するようにしても良い。

次に、第８の実施例として、複数の成形品良否判別方式
を併用して良否判別を実施し、夫々の方式による判別結
果を総合して成形品の良否を判別する実施例について説
明する。本実施例では、「射出保圧工程における射出圧
力を基準として検出タイミングを設定し経過時間に基づ
いて成形品の良否を判別する方式」と「射出保圧工程に
おける射出圧力を基準として検出タイミングを設定しス
クリュー位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」
を各射出保圧工程で実施し、上記各方式による判別結果
を総合して成形品の良否を判別する実施例を説明する。

第８の実施例においては、成形品良否判別のための射出
圧力（以下、単に検出タイミングという）Ｐｂｌ　とＰ
ｂ２、及び、比較値としての理想経過時間Ｔｓ３とスク
リュー理想位置Ｓ８２、並びに、許容値としての時間偏
差Ｔｗ２と位置偏差Ｓｗ２を上記共有ＲＡＭ１０３の設
定メモリ部に予め設定記憶させておく（但し、Ｐｂｌ　
　≦　Ｐｂ２とする）。

第１０図はこの実施例の成形品良否判別処理（以下、単
に処理８という）を示すフローチャートであり、この処
理はＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０が所定の処理周期毎に実行す
るものである。

本実施例の成形品良否判別処理では、射出開始と同時に
タイマＴをリセットしてスタートさせ（ステップ５７０
６）、射出開始からの経過時間を計測する一方、処理周
期毎に共有ＲＡＭ１０３から射出圧力の現在値Ｐａを読
み込み（ステップ５７０７）、射出圧力の現在値Ｐａが
「射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイ
ミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別
する方式」の検出タイミングＰｂｌに達した時点でのタ
イマＴの計測値をレジスタＴａ２に読み込み（ステップ
５７１０）、予め共有ＲＡＭＩＯ３に設定記憶された比
較値Ｔｓ３との間の時間偏差を求め、該時間偏差が時間
偏差の設定許容値Ｔｗ２の範囲に含まれているか否かを
判別しくステップ５７１１）、該時間偏差が設定許容値
Ｔｗ２の範囲を超えていれば不良信号を出力してＣＲＴ
／ＭＤ　Ｉ　１１４の表示画面上に不良発生の警告メツ
セージ等を表示する一方（ステップ５７１３）、該時間
偏差が設定許容値Ｔｗ２の範囲内にあればフラグＦ２を
セットしくステップ５７１２）、引き続き、「射出保圧
工程における射出圧力を基準として検出タイミングを設
定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否゛を判別す
る方式」による良否判別を実施し、処理周期毎に共有Ｒ
ＡＭＩＯ３から射出圧力の現在値Ｐａを読込み（ステッ
プ５７０７）、フラグＦ２がセットされているのでステ
ップ５７０８からステップ５７１５へ進み、射出圧力の
現在値Ｐａが「射出保圧工程における射出圧力を基準と
して検出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて
成形品の良否を判別する方式」の検出タイミングＰｂ２
に達した時点でのスクリュー現在位置Ｓａを共有ＲＡＭ
ＩＯ３から読み込み（ステップ５７１６）、予め共有Ｒ
ＡＭ１０３に設定記憶された比較値Ｓｓ２との間の位置
偏差を求め、該位置偏差が位置偏差の設定許容値Ｓｗ２
の範囲に含まれているか否かを判別しくステップ５７１
７）、該位置偏差が設定許容値Ｓｗ２の範囲を超えてい
れば不良信号を出力してＣＲＴ／ＭＤＩ　１１４の表示
画面上に不良発生の警告メツセージ等を表示しくステッ
プ８７１３）、また、該位置偏差が設定許容値Ｓｗ２の
範囲内にあれば良品信号を出力する（ステップ８７１８
）。

即ち、本実施例によれば、「射出圧力を基準として検出
タイミングを設定し経過時間に基づいて成形品の良否を
判別する方式」　（第１回目の検出タイミング）及び「
射出保圧工程における射出圧力を基準として検出タイミ
ングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品の良否を
判別する方式」（第２回目の検出タイミング）における
夫々の判別結果が共に良品である場合にのみ当該射出保
圧工程の成形品が良品として判別され、それ以外の場合
にはすべて不良品として判別されることとなる。

本実施例では、「射出圧力を基準として検出タイミング
を設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方
式」と「射出保圧工程における射出圧力を基準として検
出タイミングを設定しスクリュー位置に基づいて成形品
の良否を判別する方式」とを組合わせ、各方式毎に良否
判別を実行し、夫々の良否判別結果を総合して当該射出
保圧工程の成形品の良否を判別するようにしているので
、より的確な良否判別を行うことができる。

本実施例は、「射出圧力を基準として検出タイミングを
設定し経過時間に基づいて成形品の良否を判別する方式
」　（第５の実施例参照）と「射出保圧工程における射
出圧力を基準として検出タイミングを設定しスクリュー
位置に基づいて成形品の良否を判別する方式」　（第６
の実施例参照）を実施して夫々の良否判別結果を総合し
て当該射出保圧工程の成形品の良否を判別する例につい
て説明したが、方式の組合せはこれに限らず、上記第１
〜第７の各実施例に示される方式から少なくとも２つ以
上のものを選択して組合わせれば良い。

次に、第９の実施例として、上記第１〜第８の実施例に
示される成形品良否判別方式を予め射出成形機のＮＣ装
置１００内に記憶させておき、任意の判別方式を選択で
きるようにした実施例について簡単に説明する。

第９の実施例においては、上記処理１〜処理８に至る各
処理がサブルーチン（定義線み処理）としてＲＯＭ１１
３に記憶され、また、処理１〜処理８で必要とされる各
種検出タイミング及び比較値並びに許容値が共有ＲＡＭ
１０３に設定記憶されている。

第１１図は本実施例の成形品良否判別処理の概略を示す
フローチャートであり、ＰＭＣ用ＣＰＵ１１０は、ステ
ップ８８０１〜ステツプ５８０９における判別処理によ
り、選択指標Ｒの値に基いて、所定の処理周期ごとに上
記処理１〜処理８の内いずれか１つの処理を選択し、該
選択された処理を繰返し実行して成形品の良否を判別す
る。例えば、選択指標Ｒに「１」がセットされた場合で
あれば、射出開始後の経過時間を基準として検出タイミ
ングを設定し、スクリュー位置に基いて成形品の良否を
判別するための処理１が所定周期毎に実行され、第１の
実施例と同様にして当該射出保圧工程の良否判別が実行
されることとなる。

また、選択指標Ｒには、成形品良否判別処理を選択する
ための数値「１」〜「８」もしくは成形品良否判別処理
を非実行とするための数値「０」が、選択手段の一部を
構成するＣＲＴ／ＭＤ１１１４から入力設定されるもの
であり、オペレータは、ＣＲＴ／ＭＤ　Ｉ　１１４を操
作することにより、任意の成形品良否判別処理を選択し
、若しくは、非実行とすることができる。

本実施例によれば、成形品の形状や樹脂の種類等に応じ
、最も適した成形品良否判別方式を選択して成形品の良
否を判別することができるので、良否判別の精度をいっ
そう向上させることができる。

また、上記した処理１〜処理８の方式の他、第７及び第
８の実施例で説明した各種紐み合わせの方式を予めサブ
ルーチンとして準備しておき、これらの方式を任意に選
択することも容易である。

又、上記各実施例では良品信号、不良品信号を共に出力
するようにしたが、どちらか一方のみを出力するように
してもよく、成形品の良否判別を２点以上（検出タイミ
ングが２点以上又は良否判別方式が異なる方式で判別す
る場合）で行った場合、すべての判別で不良と判別され
たとき、成形品を不良とし、若しくは、１づＩ不良と判
別されたとき不良と判別し、不良信号を出力するように
してもよい。又、逆にすべての判別で良品と判別された
とき良品信号を出力するか、又は１つでも良品と判別さ
れたとき良品信号を出力するようにしてもよい。

なお、上述した各実施例においては成形品の良否に関す
る判別結果をＣＲＴ／ＭＤＩ　１１４に警告メツセージ
として表示するようにしたが、不良と判別された成形品
に関しては該成形品のエジェクト時やコンベアによる搬
送時にエアノズルや振分片等を駆動して自動選別するよ
うにしてもよい。

エアノズルや振分片等を用いて成形品を選別する場合に
は判別タイミングと選別タイミングとの間にタイムラグ
を生じる場合があるので、エアノズルや振分片等の作動
時間を制御するタイマを設けてＰＭＣ用ＣＰＵｌｌ０よ
り出力される不良信号により該タイマを作動させて所定
時間エアノズルや振分片等を作動させるようにしてもよ
い。

また、不良信号の入力によって不良成形品の数を計数す
ると共に良品信号の入力によってリセットされるカウン
タを設け、不良信号の連続入力回数をカウントし、不良
信号の連続入力回数が所定値（カウンタに予め設定する
）を超えた場合、即ち、何らかの原因によって良品の連
続成形が不能となった場合には、射出成形機に非常停止
信号等を出力するようにして射出成形作業を停止させる
ようにすることも可能である。

発明の効果 本発明によれば、射出開始後の経過時間、スクリュー位
置、射出圧力等の検出タイミングを任意に設定し、これ
らの時間２位置、圧力を基準として、任意の検出タイミ
ングにおけるスクリュー位置、射出圧力、射出開始後の
経過時間を検出し、これらの検出値を比較値と比較する
ことにより成形品の良否が判別されるので、検出値が成
形品の良否を最も良く反映する検出タイミングにおいて
成形品の良否を判別することができ、成形品の良否を的
確に判別することができる。

また、複数の検出タイミングを設定し、各検出タイミン
グにおける判別結果を総合して成形品の良否を判別した
り、複数の判別方式を併用し、夫々の方式の判別結果を
総合して成形品の良否を判別することにより、成形品の
良否をより的確に判別することができる。

さらに、射出成形機の制御装置内に次元の異なる検出タ
イミング、もしくは、次元の異なる検出値を用いた複数
の判別方式を記憶させておけば、成形品の形状や樹脂の
種類に応じ、最も適当な判別方式を選択して成形品の良
否判別を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方式における検出タイミングと各検出
タイミングにおいて検出される値および比較値との対応
関係を示す図、第２図は本発明の方式を実施する一実施
例の電動式射出成形機および該射出成形機の制御系要部
を示すブロック図、第３図は第１の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第４図は第２の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第５図は第３
の実施例における処理の概略を示すフローチャート、第
６図は第４の実施例における処理の概略を示すフローチ
ャート、第７図は第５の実施例における処理の概略を示
すフローチャート、第８図は第６の実施例における処理
の概略を示すフローチャート、第９図は第７の実施例に
おける処理の概略を示すフローチャート、第１０図は第
８の実施例における処理の概略を示すフローチャート、
第１１図は第９の実施例における処理の要部を示すフロ
ーチャート、第１２図は成る成形品における射出開始後
の経過時間とスクリュー位置との関係を示す概念図、第
１３図は成る成形品における射出開始後の経過時間と射
出圧力との関係を示す概念図、第１４図は成る成形品に
おける射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関
係を示す概念図、第１５図は成る成形品における射出保
圧工程のスクリュー位置と経過時間との関係を示す概念
図、第１６図は成る成形品における射出保圧工程の射出
圧力と経過時間との関係を示す概念図、第１７図は成る
成形品における射出保圧工程の射出圧力とスクリュー位
置との関係を示す概念図、第１８図は成る成形品におけ
る射出保圧工程のスクリュー位置と射出圧力との関係を
示す概念図である。 １・・・スクリュー、２・・・射出用サーボモータ、３
・・・パルスコーダ、４・・・圧力センサ、５・・・シ
リンダ、６・・・金型、７・・・圧力センサ、８・・・
ロータリースイッチ、１００・・・制御装置としてのＮ
Ｃ装置、１°０１・・・サーボ回路、１０２・・・ＲＡ
Ｍ。 １０３・・・共有ＲＡＭ、１０４・・・入力回路、１０
５・・・出力回路、１０６・・・ＲＡＭ、ｌＱ７・・・
サーボインターフェイス、１０８・・・ＮＣ用ＣＰＵ。 １０９・・・バスアービターコントローラ、１１０・・
・ＰＭＣ用ＣＰＵ、１１１・・・ＲＯＭ。 １１２・・・オペレータパネルコントローラ、１１３・
・・ＲＯＭ、１１４・・・ＣＲＴ表示装置付手動データ
入力装置、１１５・・・Ａ／Ｄ変換器。 第　３　因 第　４　口 第　５　口 第　６　口 第　７　口 第　８　口 第　９　呪 第１１０ スクリューイ立置

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. （１）射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
   開始から計時を開始するタイマーを設け、上記タイマー
   が成形品良否判別のために設定された時間を計時した時
   点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおける
   スクリュー位置を検出し、検出したスクリュー位置の値
   と成形品良否判別のために設定された比較値であるスク
   リュー位置との差によって自動的に成形品の良否を判別
   するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
   。
2. （２）射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
   開始から計時を開始するタイマーを設け、上記タイマー
   が成形品良否判別のために設定された時間を計時した時
   点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおける
   射出圧力を検出し、該検出した射出圧力の値と成形品良
   否判別のために設定された比較値である射出圧力との差
   によって自動的に成形品の良否を判別するようにした射
   出成形機における成形品良否判別方式。
3. （３）射出成形機の成形品良否判別方式において、スク
   リューの現在位置を検出するスクリュー位置検出手段を
   設け、上記スクリュー位置検出手段が成形品良否判別の
   ために設定されたスクリュー位置を検出した時点を検出
   タイミングとして、該検出タイミングにおける射出圧力
   を検出し、該検出した射出圧力の値と成形品良否判別の
   ために設定された比較値である射出圧力との差によって
   自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成形機
   における成形品良否判別方式。
4. （４）射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
   開始から計時を開始するタイマーと、スクリューの現在
   位置を検出するスクリュー位置検出手段とを設け、上記
   スクリュー位置検出手段が成形品良否判別のために設定
   されたスクリュー位置を検出した時点を検出タイミング
   として、該検出タイミングにおける上記タイマーの経過
   時間を検出し、該検出した経過時間の値と成形品良否判
   別のために設定された比較値である経過時間との差によ
   って自動的に成形品の良否を判別するようにした射出成
   形機における成形品良否判別方式。
5. （５）射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
   開始から計時を開始するタイマーと、射出圧力を検出す
   る射出圧力検出手段とを設け、上記射出圧力検出手段が
   成形品良否判別のために設定された射出圧力を検出した
   時点を検出タイミングとして、該検出タイミングにおけ
   る上記タイマーの経過時間を検出し、該検出した経過時
   間の値と成形品良否判別のために設定された比較値であ
   る経過時間との差によって自動的に成形品の良否を判別
   するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
   。
6. （６）射出成形機の成形品良否判別方式において、射出
   圧力を検出する射出圧力検出手段を設け、上記射出圧力
   検出手段が成形品良否判別のために設定された射出圧力
   を検出した時点を検出タイミングとして、該検出タイミ
   ングにおけるスクリュー位置を検出し、該検出したスク
   リュー位置の値と成形品良否判別のために設定された比
   較値であるスクリュー位置との差によって自動的に成形
   品の良否を判別するようにした射出成形機における成形
   品良否判別方式。
7. （７）請求項１、２、３、４、５または６記載の成形品
   良否判別方式において、複数の検出タイミングを設定す
   ると共に、各検出タイミングにおいて検出された値と各
   検出タイミングに対応して成形品良否判別のために設定
   された比較値との夫々の差に基いて自動的に成形品の良
   否を判別するようにしたことを特徴とする射出成形機に
   おける成形品良否判別方式。
8. （８）請求項１、２、３、４、５、６または７記載の成
   形品良否判別方式の内少なくとも２つの成形品良否判別
   方式を各射出保圧工程中に併用して実施し、上記各成形
   品良否判別方式における夫々の良否判別結果に基づいて
   各射出保圧工程の成形品の良否を自動的に判別するよう
   にした射出成形機における成形品良否判別方式。
9. （９）射出成形機の制御装置内に、予め、請求項１、２
   、３、４、５、６、７または８記載の成形品良否判別方
   式の内少なくとも２つ以上の成形品良否判別方式を記憶
   させておき、成形品良否判別方式を選択する手段で１つ
   の成形品良否判別方式を選択して、成形品の良否を判別
   するようにした射出成形機における成形品良否判別方式
   。