JPH0245126B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0245126B2 JPH0245126B2 JP62282931A JP28293187A JPH0245126B2 JP H0245126 B2 JPH0245126 B2 JP H0245126B2 JP 62282931 A JP62282931 A JP 62282931A JP 28293187 A JP28293187 A JP 28293187A JP H0245126 B2 JPH0245126 B2 JP H0245126B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grating
- relative
- light
- image
- members
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 25
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 23
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000009416 shuttering Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/363—Direction discrimination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は一平面に於ける自由度1の直線運動又
は回転運動に対応する態様での第一部材の第二部
材に対する変位を測定する装置に係り、より詳細
には、度量衡的格子(metrological grating)を
利用するこの種の装置に係る。
は回転運動に対応する態様での第一部材の第二部
材に対する変位を測定する装置に係り、より詳細
には、度量衡的格子(metrological grating)を
利用するこの種の装置に係る。
この種の種々の装置が工作機械の制御等の分野
に使用されている。従来のこの種の装置は、相対
変位を測定すべき第一及び第二部材の夫々に対し
て固定位置に設けられた同一周波数又はほぼ同一
周波数の一対の格子を有する。この一対の格子の
うちの一方の格子は透過性であり、他方の格子は
透過性又は反射性である。一対の格子の組合体は
適当な光源で照射される。更に、二つの格子の相
対運動に応じて変化する格子の組合体による透過
又は反射光の変化に応答する手段が設けられてい
る。
に使用されている。従来のこの種の装置は、相対
変位を測定すべき第一及び第二部材の夫々に対し
て固定位置に設けられた同一周波数又はほぼ同一
周波数の一対の格子を有する。この一対の格子の
うちの一方の格子は透過性であり、他方の格子は
透過性又は反射性である。一対の格子の組合体は
適当な光源で照射される。更に、二つの格子の相
対運動に応じて変化する格子の組合体による透過
又は反射光の変化に応答する手段が設けられてい
る。
この従来の装置には設計上乃至使用上多くの問
題がある。特に高度のコリメートして格子系を照
射する必要があり、格子間の間隔を非常に正確に
維持する必要があり、ときには格子間の間隔を非
常に小さくする必要がある。細かい格子を使用す
る場合、特にこれらの問題が避け難い。一般には
測定に必要な分解能を直接与える格子より粗い格
子が使用され、必要な精度乃至分解能の結果を得
るべく補間法が用いられるが、この補間自体が誤
差の原因になる虞れがある。
題がある。特に高度のコリメートして格子系を照
射する必要があり、格子間の間隔を非常に正確に
維持する必要があり、ときには格子間の間隔を非
常に小さくする必要がある。細かい格子を使用す
る場合、特にこれらの問題が避け難い。一般には
測定に必要な分解能を直接与える格子より粗い格
子が使用され、必要な精度乃至分解能の結果を得
るべく補間法が用いられるが、この補間自体が誤
差の原因になる虞れがある。
本発明は前記した点に鑑みなされたものであ
り、その目的とするところは、空間的に周期的な
光学的物体(すなわちコリメートされていない光
を出す)に対する格子の光学的結線特性を利用す
るという考え方に立脚して、前記した問題点の少
なくとも一部を解決し得、補間法を用いることな
くしても所望の分解能を有する比較的簡単で容易
に製造される相対変位測定装置を提供することに
ある。
り、その目的とするところは、空間的に周期的な
光学的物体(すなわちコリメートされていない光
を出す)に対する格子の光学的結線特性を利用す
るという考え方に立脚して、前記した問題点の少
なくとも一部を解決し得、補間法を用いることな
くしても所望の分解能を有する比較的簡単で容易
に製造される相対変位測定装置を提供することに
ある。
前記考え方に従う本発明の相対変位測定装置
は、原理的には、 一つの平面内での自由度1の運動に対応する様
態での第二部材に対する第一部材の相対変位を測
定するための装置であつて、 相互に実質的に一様な間隔となるように夫々が
第一及び第二部材に対して固定位置に設けられて
おり、前記運動方向に空間的に周期的に線を有し
ている第一及び第二の格子と、 第二の格子をコリメートされていない光で照ら
す照射手段と、光検出器手段とからなり、 前記第一及び第二の格子並びに前記照射手段
は、 第二の格子によつて規定された空間的に周期的
な光学的物体の、前記運動方向に空間的に周期的
であり且つ第一の格子から実質的に一様に離間し
た実像が前記第一の格子によつて形成されるよう
に、且つ 第一及び第二部材間に前記相対運動が生じた
際、前記実像が一つの平面内での自由度1の運動
に応じて第二部材に対して相対運動するように配
置されており、 前記光検出器手段は、前記第二部材に対して固
定位置に設けられた前記運動方向に空間的に周期
的な構造体を有しており、前記実像を形成してい
る光を受け取るべく構成されており、且つ第一及
び第二部材間に前記相対運動が生じた際、前記構
造体が前記像と相互作用して光検出手段の出力が
周期的に変動するように構成されている、相対変
位測定装置からなる。
は、原理的には、 一つの平面内での自由度1の運動に対応する様
態での第二部材に対する第一部材の相対変位を測
定するための装置であつて、 相互に実質的に一様な間隔となるように夫々が
第一及び第二部材に対して固定位置に設けられて
おり、前記運動方向に空間的に周期的に線を有し
ている第一及び第二の格子と、 第二の格子をコリメートされていない光で照ら
す照射手段と、光検出器手段とからなり、 前記第一及び第二の格子並びに前記照射手段
は、 第二の格子によつて規定された空間的に周期的
な光学的物体の、前記運動方向に空間的に周期的
であり且つ第一の格子から実質的に一様に離間し
た実像が前記第一の格子によつて形成されるよう
に、且つ 第一及び第二部材間に前記相対運動が生じた
際、前記実像が一つの平面内での自由度1の運動
に応じて第二部材に対して相対運動するように配
置されており、 前記光検出器手段は、前記第二部材に対して固
定位置に設けられた前記運動方向に空間的に周期
的な構造体を有しており、前記実像を形成してい
る光を受け取るべく構成されており、且つ第一及
び第二部材間に前記相対運動が生じた際、前記構
造体が前記像と相互作用して光検出手段の出力が
周期的に変動するように構成されている、相対変
位測定装置からなる。
前記原理に基づく本発明は、実際上光の回折を
無視し得、光学的物体の影の実像を形成するよう
な格子を用いるものであり、かかる本発明によれ
ば前記目的は、 一つの平面内での自由度1の運動に対応する様
態での第二部材に対する第一部材の相対変位を測
定するための装置であつて、 距離uだけ一様に離れ夫々が第一及び第二部材
に対して固定位置に設けられており、前記運動方
向にそれぞれ周波数f1及びf2(ただしf1は実質的に
f2の2倍に等しい)で空間的に周期的に線を有し
ている反射性の第一の格子及び透過性の第二の格
子と、距離uだけ前記第一の格子から一様に離れ
たところに、周波数f2で前記方向に空間的に周期
的であり、第一及び第二部材間に前記様態での運
動が生じた際第二部材に対して前記様態で動く、
光学的物体としての第二の格子の影の実像を第一
の格子によつて生ぜしめるべく、f1及びf2とは比
較にならない程高い周波数のコリメートされてい
ない光で第二の格子を照らす照射手段と、 第一及び第二部材間に相対運動が生じた際出力
に周期的変化を生ずるような前記第二の格子との
相互関係を有し、前記像に応答する光検出器手段
とを有する相対変位測定装置によつて達成され
る。
無視し得、光学的物体の影の実像を形成するよう
な格子を用いるものであり、かかる本発明によれ
ば前記目的は、 一つの平面内での自由度1の運動に対応する様
態での第二部材に対する第一部材の相対変位を測
定するための装置であつて、 距離uだけ一様に離れ夫々が第一及び第二部材
に対して固定位置に設けられており、前記運動方
向にそれぞれ周波数f1及びf2(ただしf1は実質的に
f2の2倍に等しい)で空間的に周期的に線を有し
ている反射性の第一の格子及び透過性の第二の格
子と、距離uだけ前記第一の格子から一様に離れ
たところに、周波数f2で前記方向に空間的に周期
的であり、第一及び第二部材間に前記様態での運
動が生じた際第二部材に対して前記様態で動く、
光学的物体としての第二の格子の影の実像を第一
の格子によつて生ぜしめるべく、f1及びf2とは比
較にならない程高い周波数のコリメートされてい
ない光で第二の格子を照らす照射手段と、 第一及び第二部材間に相対運動が生じた際出力
に周期的変化を生ずるような前記第二の格子との
相互関係を有し、前記像に応答する光検出器手段
とを有する相対変位測定装置によつて達成され
る。
本明細書中「光」という用語は可視光線並びに
紫外線及び赤外線を含むものとする。
紫外線及び赤外線を含むものとする。
本発明の相対変位測定装置では、第一部材と第
二部材との間の相対変位によつて、像と第二部材
との間により大きな相対変位が生じる。
二部材との間の相対変位によつて、像と第二部材
との間により大きな相対変位が生じる。
一般に前記第一の格子、光学的物体を構成する
前記第二の格子はすべて前記所与の平面に実質的
に平行な平面内に位置するように配設される。
前記第二の格子はすべて前記所与の平面に実質的
に平行な平面内に位置するように配設される。
次に添付図面を参照して本発明を詳細に設明す
る。
る。
第1図は本発明の前堤となる基本原理を示すも
のである。第1図に示す光学系において、ランプ
1からの光はレンズ2により集光され、三つの線
形の透過格子3,4,5を通過し、光電池6に達
する。第二の格子としての格子3及び第一の格子
としての格子4は、相互に距離u隔てられた平行
面内に夫々の線が平行になるように設けられてい
る。第一の格子4は空間周波数f1を有し、第二の
格子3は空間周波数f2を有する。格子3は格子4
を散漫に照射する空間的に周期的な光学的物体を
規定している。以上において第二の格子3をコリ
メートされていない光で照らす照射手段は、ラン
プ1及びレンズ2からなる。
のである。第1図に示す光学系において、ランプ
1からの光はレンズ2により集光され、三つの線
形の透過格子3,4,5を通過し、光電池6に達
する。第二の格子としての格子3及び第一の格子
としての格子4は、相互に距離u隔てられた平行
面内に夫々の線が平行になるように設けられてい
る。第一の格子4は空間周波数f1を有し、第二の
格子3は空間周波数f2を有する。格子3は格子4
を散漫に照射する空間的に周期的な光学的物体を
規定している。以上において第二の格子3をコリ
メートされていない光で照らす照射手段は、ラン
プ1及びレンズ2からなる。
格子4の結像特性を考えるに際して、ランプ1
及びレンズ2からのコリメートされていない光の
周波数は格子3,4の空間周波数f2,f1とは比較
にならない程大きく、格子4による回折効果が無
視できる状態にある。このため光は直線的に伝播
し、格子4から距離vにある格子4に平行な面内
に、格子4の影が実像の形で形成される。ここで
f2とf1は次の式(1)の関係にある。
及びレンズ2からのコリメートされていない光の
周波数は格子3,4の空間周波数f2,f1とは比較
にならない程大きく、格子4による回折効果が無
視できる状態にある。このため光は直線的に伝播
し、格子4から距離vにある格子4に平行な面内
に、格子4の影が実像の形で形成される。ここで
f2とf1は次の式(1)の関係にある。
f2/f1=1/2 ……(1)
この影の像は次の式(2)により与えられる空間周
波数f3を有する。
波数f3を有する。
f3/f1=1/2 ……(2)
格子3に対して格子4を、格子3,4の面に平
行に且つ格子3,4の線に垂直に大きさdだけ変
位させると、映像が大きさDだけ平行に変位す
る。ここで映像の変位の大きさDは次の式(3)によ
り決定される。
行に且つ格子3,4の線に垂直に大きさdだけ変
位させると、映像が大きさDだけ平行に変位す
る。ここで映像の変位の大きさDは次の式(3)によ
り決定される。
D=2d ……(3)
従つて空間周波数がf3の格子5を形成し、この
格子5を、格子3,4の線と格子5の線とが平行
になるように格子3,4に平行に格子4からvの
距離に格子3に対して固定的に設置すると、格子
3及び4が格子面に平行に且つ格子の線に垂直に
相対的に移動されるにつれ、格子4により形成さ
れる影像が格子5と相互作用して光電池6に達す
る光の強度が周期的に変化する。更に、格子5が
格子3に対して静止している故、光電池6の出力
から前記相対運動の大きさを求め得る。
格子5を、格子3,4の線と格子5の線とが平行
になるように格子3,4に平行に格子4からvの
距離に格子3に対して固定的に設置すると、格子
3及び4が格子面に平行に且つ格子の線に垂直に
相対的に移動されるにつれ、格子4により形成さ
れる影像が格子5と相互作用して光電池6に達す
る光の強度が周期的に変化する。更に、格子5が
格子3に対して静止している故、光電池6の出力
から前記相対運動の大きさを求め得る。
以上において、光検出器手段は空間的に周期的
な構造体としての格子5と光電池6とからなる。
な構造体としての格子5と光電池6とからなる。
本発明においてはu=vであり、かつ1/2f1=
f2=f3であつて、第1図に示す光学系の格子4の
代りに反射格子7が使用される。これにより鏡像
面を格子3の面と一致させることが可能となつ
た。この結果、上記光学系は三つの格子を有する
構造から二つの格子のみを有する構造に簡略化さ
れ、これらの格子3,7のうちの一方の格子3が
二つの機能(第1図の格子3と格子5の機能)を
果す。即ち、例えば第2図の格子3は空間的に周
期的な光学的物体を構成する第二の格子として働
くのみならず影像と相互作用する光検出器手段の
空間的に周期的な構造体としても働く。この変更
を加えた特定の光学系についての詳細は後述す
る。
f2=f3であつて、第1図に示す光学系の格子4の
代りに反射格子7が使用される。これにより鏡像
面を格子3の面と一致させることが可能となつ
た。この結果、上記光学系は三つの格子を有する
構造から二つの格子のみを有する構造に簡略化さ
れ、これらの格子3,7のうちの一方の格子3が
二つの機能(第1図の格子3と格子5の機能)を
果す。即ち、例えば第2図の格子3は空間的に周
期的な光学的物体を構成する第二の格子として働
くのみならず影像と相互作用する光検出器手段の
空間的に周期的な構造体としても働く。この変更
を加えた特定の光学系についての詳細は後述す
る。
格子3に入射する光が完全にコリメートされて
いる場合影像は全く形成されない。更に部分的に
コリメートされている入射光の場合、ほぼ(N−
1/2)/λf1f2なる距離uに対しては良好な影像は
形成されない。ここでNは整数であり、λは使用
する光の平均波長である。一般に距離vが増加す
るにつれ、光が直進するという仮定は次第に有効
性を失うため、影像のコントラストは減少する。
いる場合影像は全く形成されない。更に部分的に
コリメートされている入射光の場合、ほぼ(N−
1/2)/λf1f2なる距離uに対しては良好な影像は
形成されない。ここでNは整数であり、λは使用
する光の平均波長である。一般に距離vが増加す
るにつれ、光が直進するという仮定は次第に有効
性を失うため、影像のコントラストは減少する。
上記の例に対応する光学系において、格子3,
4,5は全てその線が平行になるように設けられ
ており、従つて光強度の周期的変化を生じさせる
像と格子5の相互作用は、「シヤツタリング」効
果(shuttering effect)とみなされ得る。勿論、
別の方法も可能である。格子4の線を格子3,5
の線に対してわずかに傾斜させてもよく、像が格
子5と相互作用するとき、(複数の)モアレ縞が
生成される。これは単一のモアレ縞に亘る複数の
光電池により検出され得る。格子5が格子4によ
り形成される像の空間周波数とわずか異なる空間
周波数を有していてもよく、この場合には、バー
ニヤ縞として知られる縞が生成され、モアレ縞と
同様な方法で検出され得る。
4,5は全てその線が平行になるように設けられ
ており、従つて光強度の周期的変化を生じさせる
像と格子5の相互作用は、「シヤツタリング」効
果(shuttering effect)とみなされ得る。勿論、
別の方法も可能である。格子4の線を格子3,5
の線に対してわずかに傾斜させてもよく、像が格
子5と相互作用するとき、(複数の)モアレ縞が
生成される。これは単一のモアレ縞に亘る複数の
光電池により検出され得る。格子5が格子4によ
り形成される像の空間周波数とわずか異なる空間
周波数を有していてもよく、この場合には、バー
ニヤ縞として知られる縞が生成され、モアレ縞と
同様な方法で検出され得る。
上記の説明は又回転変位の測定に使用される放
射状格子の場合にも適用できる。しかし乍ら、こ
の場合、線形格子に比較して、系の使用可能光学
的アパーチヤ上のピツチ変化に応じる程度の像の
コントラストが悪くなる。
射状格子の場合にも適用できる。しかし乍ら、こ
の場合、線形格子に比較して、系の使用可能光学
的アパーチヤ上のピツチ変化に応じる程度の像の
コントラストが悪くなる。
第2図及び第3図は第1図に示された本発明の
前提となる基本原理に基づき、これを具体化する
ための実施例を示すもので、透過格子4の代りに
反射格子7を使用している。第2図の光学系にお
いて、ランプ1からの光はレンズ2により集光さ
れ、ハーフミラー8で反射され、透過型指標格子
3を通つて反射型スケール格子7に入射される。
格子7からの反射光は再び格子3を通り、ハーフ
ミラー8を透過して光電池6に入る。
前提となる基本原理に基づき、これを具体化する
ための実施例を示すもので、透過格子4の代りに
反射格子7を使用している。第2図の光学系にお
いて、ランプ1からの光はレンズ2により集光さ
れ、ハーフミラー8で反射され、透過型指標格子
3を通つて反射型スケール格子7に入射される。
格子7からの反射光は再び格子3を通り、ハーフ
ミラー8を透過して光電池6に入る。
第3図の光学系では、ランプ1からの光は鏡9
で反射され、レンズ2で集光され、指標格子3を
透過した後、反射スケール格子7に入射される。
格子7からの反射光は再び格子3を通り、レンズ
10及び鏡11を介して光電池6に達する。光学
要素1,9,2,3,10,11,6は固定的に
組み立てられた読取ヘツド12を構成している。
読取ヘツド12と反射格子7とからなる相対変位
測定装置では、読取ヘツド12と格子7との間の
横方向相対運動が測定される。これらの両光学系
に於いて、格子3,7の空間周波数及びこれら相
互の間隔は勿論上記の原理に従つて選択されてい
る。
で反射され、レンズ2で集光され、指標格子3を
透過した後、反射スケール格子7に入射される。
格子7からの反射光は再び格子3を通り、レンズ
10及び鏡11を介して光電池6に達する。光学
要素1,9,2,3,10,11,6は固定的に
組み立てられた読取ヘツド12を構成している。
読取ヘツド12と反射格子7とからなる相対変位
測定装置では、読取ヘツド12と格子7との間の
横方向相対運動が測定される。これらの両光学系
に於いて、格子3,7の空間周波数及びこれら相
互の間隔は勿論上記の原理に従つて選択されてい
る。
第2図及び第3図に示す装置に於いて、光検出
手段は格子3と光電池6との組み合わせにより効
果的に構成され、透過格子と空間的に周期的な光
検出器の機能とを結した単一の周期的構造体に代
えることが可能となつた。この構造体は格子7に
より反射された光を受けるために格子の線と夫々
協働する感光素子列からなる。前記構造体は例え
ば英国特許1231029号明細書に述べられている。
これらの変形で、透過格子の照射に使われる装置
は勿論第1図の格子3の照射に使用した装置と同
様なものでもよい。
手段は格子3と光電池6との組み合わせにより効
果的に構成され、透過格子と空間的に周期的な光
検出器の機能とを結した単一の周期的構造体に代
えることが可能となつた。この構造体は格子7に
より反射された光を受けるために格子の線と夫々
協働する感光素子列からなる。前記構造体は例え
ば英国特許1231029号明細書に述べられている。
これらの変形で、透過格子の照射に使われる装置
は勿論第1図の格子3の照射に使用した装置と同
様なものでもよい。
反射格子を使つて結像させる装置に原則として
適用可能な別の変形としては、別個の光源で照射
される格子3と、空間的に周期的な光学的物体を
構成する発光素子列を内蔵する装置に置き代える
ことである。この発光素子列は、該発光素子と感
光素子とを交互に並べてなる空間的に周期的な構
造体の一部分となつてもよい。
適用可能な別の変形としては、別個の光源で照射
される格子3と、空間的に周期的な光学的物体を
構成する発光素子列を内蔵する装置に置き代える
ことである。この発光素子列は、該発光素子と感
光素子とを交互に並べてなる空間的に周期的な構
造体の一部分となつてもよい。
次に第4図及び第5図に示す本発明の具体例に
ついて説明する。この装置は第二部材としての部
材14に固定的に設けられた読み取りヘツド13
と、第一部材としての部材17の機械加工面16
に固定的に設けられた線形の反射スケール格子1
5とからなる。部材14は格子15の面に平行に
且つ該格子ラインに垂直に部材17に対して移動
可能である。案内ねじ19の動作により部材14
が部材17に形成された溝18内をすべり、その
結果読み取りヘツド13が格子15に対して移動
し、部材14,17間の相対運動の程度及び方向
が測定可能となる。この相対運動は制御の対象で
ある工作機械の構成要素の運動と一致させてもよ
い。
ついて説明する。この装置は第二部材としての部
材14に固定的に設けられた読み取りヘツド13
と、第一部材としての部材17の機械加工面16
に固定的に設けられた線形の反射スケール格子1
5とからなる。部材14は格子15の面に平行に
且つ該格子ラインに垂直に部材17に対して移動
可能である。案内ねじ19の動作により部材14
が部材17に形成された溝18内をすべり、その
結果読み取りヘツド13が格子15に対して移動
し、部材14,17間の相対運動の程度及び方向
が測定可能となる。この相対運動は制御の対象で
ある工作機械の構成要素の運動と一致させてもよ
い。
第5図は第4図の読み取りヘツド13の部分を
示す透視図であり、線形の透過型指標格子20は
格子15,20間の間隔が一様になるように格子
15に対向して読み取りヘツド13に装着されて
いる。格子20の背面には4つの同一ユニツト2
1が適当な接着剤により固定されている。各ユニ
ツト21は合成樹脂でシールドされた固体発光器
22と固体光検出器23とを有している。更に発
光器22に電力を供給し光検出器23から出力信
号をとりだす導線が設けられている。光源22か
ら出た光は格子20を通り、格子20の面に像が
形成されるように格子15で反射される。格子2
0を通過した反射光は光検出器23に達する。各
光検出器23は基本的に各検出器23が属するユ
ニツト21内の光源22から出た光を受け取るた
め、部材14,17間に相対運動が生じた場合、
各光検出器23の出力は周期的に変化する。
示す透視図であり、線形の透過型指標格子20は
格子15,20間の間隔が一様になるように格子
15に対向して読み取りヘツド13に装着されて
いる。格子20の背面には4つの同一ユニツト2
1が適当な接着剤により固定されている。各ユニ
ツト21は合成樹脂でシールドされた固体発光器
22と固体光検出器23とを有している。更に発
光器22に電力を供給し光検出器23から出力信
号をとりだす導線が設けられている。光源22か
ら出た光は格子20を通り、格子20の面に像が
形成されるように格子15で反射される。格子2
0を通過した反射光は光検出器23に達する。各
光検出器23は基本的に各検出器23が属するユ
ニツト21内の光源22から出た光を受け取るた
め、部材14,17間に相対運動が生じた場合、
各光検出器23の出力は周期的に変化する。
格子20はその線が格子15の線に対してわず
かに傾斜した状態で読み取りヘツド13内に設け
られており、格子15によつて形成された像が格
子20と相互作用したとき、この像はモアレ縞を
生じさせる。
かに傾斜した状態で読み取りヘツド13内に設け
られており、格子15によつて形成された像が格
子20と相互作用したとき、この像はモアレ縞を
生じさせる。
4つの光検出器23が単一のモアレ縞に亘り、
部材14,17間の相対運動によつて生じる4つ
の光検出器23の検出出力の周期的変化の位相が
順次90゜増で変化するように、ユニツト21は格
子20上に設置されている。
部材14,17間の相対運動によつて生じる4つ
の光検出器23の検出出力の周期的変化の位相が
順次90゜増で変化するように、ユニツト21は格
子20上に設置されている。
第6図は光検出器23の出力を用いて部材1
4,17間の相対運動の方向と大きさとを決定す
る1方法を示す図である。第6図の回路におい
て、光検出器23の出力は整合された増幅器24
によつて増幅され、位相順にみて第1及び第3の
光検出器23の増幅出力は差動回路25で減算さ
れる。回路25の出力は信号Aを発生する矩形波
用のシユミツトトリガ26に入る。第2及び第4の
光検出器23の増幅出力は差動回路27で減算さ
れ、回路27の出力は信号Bを出力するシユミツ
トトリガ28によつて矩形波化される。部材1
4,17間の相対運動の結果生ずる各信号A、B
の大きさの変化は90゜ずれた位相関係にある。信
号A及びBは一対のJ−Kフリツプフロツプ2
9,30に加えられる。信号Aはフリツプフロツ
プ29のクロツク入力31とフリツプフロツプ3
0のリセツト入力32に与えられ、信号Bはフリ
ツプフロツプ29のリセツト入力33とフリツプ
フロツプ30のクロツク入力34に与えられる。
各フリツプフロツプ29,30のJ及びK入力は
論理1に維持された端子35に接続されている。
フリツプフロツプ29のQ出力は両方向計数器3
7の「アツプ」入力36に入り、フリツプフロツ
プ33のQ出力は計数器37の「ダウン」入力3
8に入る。計数器37の出力は適当な文字及び数
字表示装置39により表示される。
4,17間の相対運動の方向と大きさとを決定す
る1方法を示す図である。第6図の回路におい
て、光検出器23の出力は整合された増幅器24
によつて増幅され、位相順にみて第1及び第3の
光検出器23の増幅出力は差動回路25で減算さ
れる。回路25の出力は信号Aを発生する矩形波
用のシユミツトトリガ26に入る。第2及び第4の
光検出器23の増幅出力は差動回路27で減算さ
れ、回路27の出力は信号Bを出力するシユミツ
トトリガ28によつて矩形波化される。部材1
4,17間の相対運動の結果生ずる各信号A、B
の大きさの変化は90゜ずれた位相関係にある。信
号A及びBは一対のJ−Kフリツプフロツプ2
9,30に加えられる。信号Aはフリツプフロツ
プ29のクロツク入力31とフリツプフロツプ3
0のリセツト入力32に与えられ、信号Bはフリ
ツプフロツプ29のリセツト入力33とフリツプ
フロツプ30のクロツク入力34に与えられる。
各フリツプフロツプ29,30のJ及びK入力は
論理1に維持された端子35に接続されている。
フリツプフロツプ29のQ出力は両方向計数器3
7の「アツプ」入力36に入り、フリツプフロツ
プ33のQ出力は計数器37の「ダウン」入力3
8に入る。計数器37の出力は適当な文字及び数
字表示装置39により表示される。
上記方法でフリツプフロツプ29及び30に信
号A及びBを送ると、部材14,17間の相対運
動の一対向に対して単に1個のみのフリツプフロ
ツプが計数器37に出力を出し得る。他方のフリ
ツプフロツプではクロツク入力に信号が発生する
間、リセツト入力に信号が現われ従つてそのQ出
力の変化を抑制するからである。フリツプフロツ
プ29,30のいずれが出力を与えるかは、部材
14,17間の相対運動の向きにより決定される
信号AとBの位相差の向きに依存している適切な
フリツプフロツプにより計数器37に送られるパ
ルス数は勿論相対運動の程度に比例する。
号A及びBを送ると、部材14,17間の相対運
動の一対向に対して単に1個のみのフリツプフロ
ツプが計数器37に出力を出し得る。他方のフリ
ツプフロツプではクロツク入力に信号が発生する
間、リセツト入力に信号が現われ従つてそのQ出
力の変化を抑制するからである。フリツプフロツ
プ29,30のいずれが出力を与えるかは、部材
14,17間の相対運動の向きにより決定される
信号AとBの位相差の向きに依存している適切な
フリツプフロツプにより計数器37に送られるパ
ルス数は勿論相対運動の程度に比例する。
第4図及び第5図に示す装置において、格子1
5及び20の空間周波数及びその間隔は当然上記
の原理に従つて式(1)及び(2)を満たすように選択さ
れている。例えば光源22として、ピークが波長
940ナノメータにあるガリウムヒ素赤外線用発光
ダイオードを使用し、光検出器23とN−P−N
シリコンフオトトランジスタを使用する際、格子
15及び20の夫々の空間周波数が100ライン/
cm及び50ライン/cmで、格子15,20間の間隔
を2cmあけた配列が適当である。
5及び20の空間周波数及びその間隔は当然上記
の原理に従つて式(1)及び(2)を満たすように選択さ
れている。例えば光源22として、ピークが波長
940ナノメータにあるガリウムヒ素赤外線用発光
ダイオードを使用し、光検出器23とN−P−N
シリコンフオトトランジスタを使用する際、格子
15及び20の夫々の空間周波数が100ライン/
cm及び50ライン/cmで、格子15,20間の間隔
を2cmあけた配列が適当である。
以上のとおり、本発明相対変位測定装置では、
第二の格子をコリメートされていない光で照らす
照射手段が設けられており、第二の格子が空間的
に周期的な光学的物体を規定するように第二の格
子及び照射手段が構成されているために、 第二の格子が光学的物体として散漫な光を出
し、 しかも、前記光学的物体の、第一及び第二部材
の相対運動方向に空間的に周期的であり且つ第一
の格子から実質的に一様に離間した実際が第一の
格子によつて形成されるように第一及び第二の格
子が構成されているために、 空間的に周期的な光学的物体として働く第二の
格子からの散漫な光が第一の格子によつて実像と
して結像される。
第二の格子をコリメートされていない光で照らす
照射手段が設けられており、第二の格子が空間的
に周期的な光学的物体を規定するように第二の格
子及び照射手段が構成されているために、 第二の格子が光学的物体として散漫な光を出
し、 しかも、前記光学的物体の、第一及び第二部材
の相対運動方向に空間的に周期的であり且つ第一
の格子から実質的に一様に離間した実際が第一の
格子によつて形成されるように第一及び第二の格
子が構成されているために、 空間的に周期的な光学的物体として働く第二の
格子からの散漫な光が第一の格子によつて実像と
して結像される。
本発明の相対変位測定装置では、第二の格子を
散漫な光を出す光学的物体として機能させ、第一
の格子を結像手段として機能させるようにしたた
め、第二部材に対する第一部材の相対変位を第二
部材に対する像の拡大された変位に変換し得る。
散漫な光を出す光学的物体として機能させ、第一
の格子を結像手段として機能させるようにしたた
め、第二部材に対する第一部材の相対変位を第二
部材に対する像の拡大された変位に変換し得る。
しかも、本発明の相対変位測定装置では、光検
出器手段が、実像を形成した光を受け取るべく構
成されているために、前記の拡大された像変位
を、周期的に変動する出力の形で出し得、高精度
の相対変位測定を可能にしている。
出器手段が、実像を形成した光を受け取るべく構
成されているために、前記の拡大された像変位
を、周期的に変動する出力の形で出し得、高精度
の相対変位測定を可能にしている。
第1図は本発明の前提となる基本原理を示す説
明図、第2図及び第3図はそれぞれ第1図の配列
の変形態様を示す説明図、第4図は本発明に係る
装置の概略透視図、第5図は第4図の装置の一部
の概略透視図、第6図は第4図の装置に使用する
電気回路の概略を示す回路図である。 1,22……光源、2,10……レンズ、3,
4,5,7,15,20……格子、6,23……
光検出器、8,9,11……鏡、12,13……
読取ヘツド。
明図、第2図及び第3図はそれぞれ第1図の配列
の変形態様を示す説明図、第4図は本発明に係る
装置の概略透視図、第5図は第4図の装置の一部
の概略透視図、第6図は第4図の装置に使用する
電気回路の概略を示す回路図である。 1,22……光源、2,10……レンズ、3,
4,5,7,15,20……格子、6,23……
光検出器、8,9,11……鏡、12,13……
読取ヘツド。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一つの平面内での自由度1の運動に対応する
様態での第二部材に対する第一部材の相対変位を
測定するための装置であつて、 距離uだけ一般に離れて夫々が第一及び第二部
材に対して固定位置に設けられており、前記運動
方向に夫々周波数f1及びf2(ただしf1は実質的にf2
の2倍に等しい)で空間的に周期的に線を有して
いる反射性の第一の格子及び透過性の第二の格
子、 距離uだけ前記第一の格子から一様に離れたと
ころに、周波数f2で前記方向に空間的に周期的で
あり、第一及び第二部材間に前記様態での運動が
生じた際、第二部材に対して前記様態で動く光学
的物体としての第二の格子の影の実像を第一の格
子によつて生ぜしめるべく、f1及びf2とは比較に
ならない程高い周波数のコリメートされていない
光で第二の格子を照らす照射手段、及び 第一及び第二部材間に相対運動が生じた際出力
に周期的変化を生ずるような前記第二の格子との
相互関係を有し、前記像に応答する光検出器手段
とを有する 相対変位測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB11598/74A GB1504691A (en) | 1974-03-15 | 1974-03-15 | Measurement apparatus |
GB44522/74 | 1974-10-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63153408A JPS63153408A (ja) | 1988-06-25 |
JPH0245126B2 true JPH0245126B2 (ja) | 1990-10-08 |
Family
ID=9989194
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62082179A Pending JPS6333604A (ja) | 1974-03-15 | 1987-04-01 | 相対変位測定装置 |
JP62282931A Granted JPS63153408A (ja) | 1974-03-15 | 1987-11-09 | 相対変位測定装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62082179A Pending JPS6333604A (ja) | 1974-03-15 | 1987-04-01 | 相対変位測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4051367A (ja) |
JP (2) | JPS6333604A (ja) |
CA (1) | CA1034368A (ja) |
GB (1) | GB1504691A (ja) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH626169A5 (ja) * | 1976-11-25 | 1981-10-30 | Leitz Ernst Gmbh | |
US4265542A (en) * | 1977-11-04 | 1981-05-05 | Computervision Corporation | Apparatus and method for fine alignment of a photomask to a semiconductor wafer |
US4218615A (en) * | 1978-10-23 | 1980-08-19 | Martin Marietta Corporation | Incremental digital shaft encoder |
JPS5726004U (ja) * | 1980-07-21 | 1982-02-10 | ||
JPS57157118A (en) * | 1981-03-24 | 1982-09-28 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Photoelectric type displacement detecting device |
GB8432574D0 (en) * | 1984-12-22 | 1985-02-06 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale-reading apparatus |
DE3541199C1 (de) * | 1985-11-21 | 1987-06-25 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung |
DE3543179A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-11 | Philips Patentverwaltung | Optischer weg-sensor mit einem filter |
GB8615197D0 (en) * | 1986-06-21 | 1986-07-23 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
GB8615196D0 (en) * | 1986-06-21 | 1986-07-23 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
IN168444B (ja) * | 1986-08-15 | 1991-04-06 | Mitutoyo Mfg Co Ltd | |
US5064290A (en) * | 1987-12-12 | 1991-11-12 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale-reading apparatus wherein phase-separated secondary orders of diffraction are generated |
GB8729246D0 (en) * | 1987-12-15 | 1988-01-27 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale-reading apparatus |
US4806034A (en) * | 1988-02-10 | 1989-02-21 | Polaroid Corporation | Write head controller with grid synchronization |
US5099116A (en) * | 1990-10-25 | 1992-03-24 | The Perkin-Elmer Corporation | Optical device for measuring displacement |
GB9023659D0 (en) * | 1990-10-31 | 1990-12-12 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
EP0543513B2 (en) * | 1991-11-06 | 2007-10-24 | Renishaw Transducer Systems Limited | Opto-electronic scale-reading apparatus |
EP0599601A3 (en) * | 1992-11-23 | 1995-07-19 | British Aerospace | Swingplate analysis. |
GB9425907D0 (en) * | 1994-12-22 | 1995-02-22 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
GB9522491D0 (en) * | 1995-11-02 | 1996-01-03 | Renishaw Plc | Opto-electronic rotary encoder |
JP3631551B2 (ja) * | 1996-01-23 | 2005-03-23 | 株式会社ミツトヨ | 光学式エンコーダ |
GB9605278D0 (en) * | 1996-03-13 | 1996-05-15 | Renishaw Plc | Opto-electronic scale reading apparatus |
DE19859669A1 (de) * | 1998-12-23 | 2000-06-29 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Integrierter optoelektronischer Sensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE19859670A1 (de) | 1998-12-23 | 2000-06-29 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Abtastkopf und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE19917950A1 (de) * | 1999-04-21 | 2000-10-26 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Integrierter optoelektronischer Dünnschichtsensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE19918101A1 (de) * | 1999-04-22 | 2000-10-26 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Optische Positionsmeßeinrichtung |
US7186969B2 (en) * | 2003-02-12 | 2007-03-06 | Mitutoyo Corporation | Optical configuration for imaging-type optical encoders |
US7119911B2 (en) * | 2003-03-07 | 2006-10-10 | Lsa, Inc. | Moiré deflectometer including non-mechanical, transparent, spatial light modulators for demonstrating two-axis rulings |
KR20070020133A (ko) * | 2004-07-12 | 2007-02-16 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 광학식 인코더 |
JP4791811B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2011-10-12 | 株式会社ミツトヨ | 光電式ロータリエンコーダ |
US9029757B2 (en) | 2011-12-23 | 2015-05-12 | Mitutoyo Corporation | Illumination portion for an adaptable resolution optical encoder |
US9080899B2 (en) | 2011-12-23 | 2015-07-14 | Mitutoyo Corporation | Optical displacement encoder having plural scale grating portions with spatial phase offset of scale pitch |
US9018578B2 (en) | 2011-12-23 | 2015-04-28 | Mitutoyo Corporation | Adaptable resolution optical encoder having structured illumination and spatial filtering |
US8941052B2 (en) | 2011-12-23 | 2015-01-27 | Mitutoyo Corporation | Illumination portion for an adaptable resolution optical encoder |
JP6315548B2 (ja) | 2013-12-25 | 2018-04-25 | 株式会社ミツトヨ | 光学式エンコーダ |
JP6664155B2 (ja) | 2015-06-11 | 2020-03-13 | 株式会社ミツトヨ | 光学式エンコーダ |
DE102018108347B4 (de) | 2018-04-09 | 2021-02-04 | Picofine GmbH | Optischer Encoder und Verfahren zur Erfassung einer Relativbewegung |
EP3663723A1 (en) | 2018-12-04 | 2020-06-10 | Renishaw PLC | Encoder apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3812352A (en) * | 1972-08-28 | 1974-05-21 | Itek Corp | Encoder readout system |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1282988B (de) * | 1965-05-28 | 1968-11-14 | Zeiss Carl Fa | Einrichtung zum Messen von Lageaenderungen zweier zueinander beweglicher Teile unterVerwendung einer inkohaerenten Strahlung |
GB1231029A (ja) * | 1968-12-13 | 1971-05-05 | ||
DE1921507C2 (de) * | 1969-04-26 | 1971-02-11 | Zeiss Carl Fa | Einrichtung zur Erzeugung phasenverschobener elektrischer Signale |
GB1353470A (en) * | 1970-10-19 | 1974-05-15 | Post D | Position measuring apparatus utilizing moire fringe multiplication |
US3700907A (en) * | 1971-07-20 | 1972-10-24 | Hughes Aircraft Co | Code reading system for identification of moving and stationary objects utilizing noncoherent optics |
US3768911A (en) * | 1971-08-17 | 1973-10-30 | Keuffel & Esser Co | Electro-optical incremental motion and position indicator |
-
1974
- 1974-03-15 GB GB11598/74A patent/GB1504691A/en not_active Expired
-
1975
- 1975-03-06 US US05/555,817 patent/US4051367A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-03-13 CA CA222,030A patent/CA1034368A/en not_active Expired
-
1987
- 1987-04-01 JP JP62082179A patent/JPS6333604A/ja active Pending
- 1987-11-09 JP JP62282931A patent/JPS63153408A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3812352A (en) * | 1972-08-28 | 1974-05-21 | Itek Corp | Encoder readout system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1504691A (en) | 1978-03-22 |
JPS6333604A (ja) | 1988-02-13 |
US4051367A (en) | 1977-09-27 |
CA1034368A (en) | 1978-07-11 |
JPS63153408A (ja) | 1988-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0245126B2 (ja) | ||
US4079252A (en) | Photoelectric grating displacement measuring apparatus | |
US7154609B2 (en) | Interferential position measuring arrangement | |
US4912322A (en) | Optical type displacement detecting device | |
US4975571A (en) | Opto-electronic scale-reading apparatus | |
JPS6023282B2 (ja) | 相対変位測定装置 | |
US4049965A (en) | Measurement apparatus | |
US4025197A (en) | Novel technique for spot position measurement | |
JPH06109484A (ja) | 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ | |
JPH0623662B2 (ja) | 位置測定装置 | |
JP2003515153A5 (ja) | ||
JPS58191907A (ja) | 移動量測定方法 | |
US5184014A (en) | Opto-electronic scale reading apparatus | |
JP2718440B2 (ja) | 測長または測角装置 | |
JP2503561B2 (ja) | レ―ザ―干渉式エンコ―ダ | |
JPH11118422A (ja) | モアレ縞を用いた寸法測定装置 | |
CN114353671B (zh) | 实现位移和角度同步测量的双波长衍射干涉***及方法 | |
JPH0411807B2 (ja) | ||
JPH0444211B2 (ja) | ||
JPS62204126A (ja) | エンコ−ダ− | |
JPH0799325B2 (ja) | 微小変位測定方法および微小変位測定装置 | |
JP3013467B2 (ja) | レーザ干渉式エンコーダ | |
KR101308396B1 (ko) | 이미지 거리와 오브젝트 거리가 동일한 광학 인코더를 위한 otf에 기초한 광학계 설계방법 및 그에 따른 광학 인코더 | |
JPH02304313A (ja) | 光学式変位計 | |
JPS6129718A (ja) | 光電式透過型エンコ−ダ |