JPH09159713A - ピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法並びにピンボード - Google Patents
ピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法並びにピンボードInfo
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- JPH09159713A JPH09159713A JP7344756A JP34475695A JPH09159713A JP H09159713 A JPH09159713 A JP H09159713A JP 7344756 A JP7344756 A JP 7344756A JP 34475695 A JP34475695 A JP 34475695A JP H09159713 A JPH09159713 A JP H09159713A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被検査基板に配設した多数の導電箇所の内、
いずれの導電箇所が所定箇所からずれていても、ブリッ
ジ或いは断線検出を行なえるようにする。 【解決手段】 各導電箇所２２毎にそこに接触すべき複
数本のピンプローブ２８からなるグループを対応させて
配置し、隣接する各ピンプローブグループ間に絶縁基板
２０と接触すべきピンプローブ２８を対応させて配置し
ておき、隣接する各ピンプローブ２８の間の導通の有無
を検出し、非導通のピンプローブ２８によって導通する
複数本のピンプローブ２８からなるグループに分け、各
ピンプローブグループ間でピンプローブ２８の導通の有
無を検出して、各導電箇所２２の間のブリッジ或いは断
線の有無を判定する。
いずれの導電箇所が所定箇所からずれていても、ブリッ
ジ或いは断線検出を行なえるようにする。 【解決手段】 各導電箇所２２毎にそこに接触すべき複
数本のピンプローブ２８からなるグループを対応させて
配置し、隣接する各ピンプローブグループ間に絶縁基板
２０と接触すべきピンプローブ２８を対応させて配置し
ておき、隣接する各ピンプローブ２８の間の導通の有無
を検出し、非導通のピンプローブ２８によって導通する
複数本のピンプローブ２８からなるグループに分け、各
ピンプローブグループ間でピンプローブ２８の導通の有
無を検出して、各導電箇所２２の間のブリッジ或いは断
線の有無を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はピンボード方式イン
サーキットテスタ等のピンボード方式基板検査装置を用
いて行なう被検査基板に配設した多数の導電箇所間のブ
リッジ或いは断線検出方法並びにそのブリッジ或いは断
線検出方法において使用に適するピンボードに関する。
サーキットテスタ等のピンボード方式基板検査装置を用
いて行なう被検査基板に配設した多数の導電箇所間のブ
リッジ或いは断線検出方法並びにそのブリッジ或いは断
線検出方法において使用に適するピンボードに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電子部品等を
半田付けしたプリント基板に対してはインサーキットテ
スタを用いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプロ
ーブを接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出
し、或いは各部の特性値を電気的に測定する等して基板
の良否の判定を行っている。そして、同一の被検査基板
が多量に存在する場合にはピンボード方式のインサーキ
ットテスタを用いている。その際、検査治具としてボー
ド上に被検査基板の測定点の数に等しい数のピンプロー
ブを測定点の位置に対応させて立設したピンボード（フ
ィクスチュアー）を用い、そのピンボード上に被検査基
板を載せて固定することによって、全てのピンプローブ
を対応する全ての測定点に一括接触させている。その
後、検査内容に合わせてスイッチを切り換えて測定に用
いるピンプローブの選択を行なうと、高速検査が可能と
なる。
半田付けしたプリント基板に対してはインサーキットテ
スタを用いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプロ
ーブを接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出
し、或いは各部の特性値を電気的に測定する等して基板
の良否の判定を行っている。そして、同一の被検査基板
が多量に存在する場合にはピンボード方式のインサーキ
ットテスタを用いている。その際、検査治具としてボー
ド上に被検査基板の測定点の数に等しい数のピンプロー
ブを測定点の位置に対応させて立設したピンボード（フ
ィクスチュアー）を用い、そのピンボード上に被検査基
板を載せて固定することによって、全てのピンプローブ
を対応する全ての測定点に一括接触させている。その
後、検査内容に合わせてスイッチを切り換えて測定に用
いるピンプローブの選択を行なうと、高速検査が可能と
なる。
【０００３】このようなピンボード方式インサーキット
テスタを用いて、絶縁基板上に多数の導電箇所例えばパ
ターンが一列に並べて配設されている被検査基板に対
し、それ等の各パターン間のブリッジ或いは断線検出を
行なう場合、図４に示すようにそれ等のパターン１０の
配置に合わせて、多数のピンプローブ１２を一列に並べ
て配設したピンボードを用い、各ピンプローブ１２を対
応する各パターン１０の測定点に接触させた後、各ピン
プローブ１２間の導通の有無を検出して、各パターン１
０間のブリッジ或いは断線の有無を判定する。その際、
接続関係のないパターン１０にそれぞれ接触したピンプ
ローブ１２間が非導通状態であればブリッジがないこと
を確認でき、導通状態になればブリッジの存在を検出で
きる。又、接続関係にあるパターン１０にそれぞれ接触
したピンプローブ１２間が導通状態であれば短絡を確認
でき、非導通状態になれば断線の存在を検出できる。な
お、図には被検査基板１４の絶縁基板１６に配設した５
箇所の各パターン１０とそれぞれ接触する５本のピンプ
ローブ１２との対応関係を示している。
テスタを用いて、絶縁基板上に多数の導電箇所例えばパ
ターンが一列に並べて配設されている被検査基板に対
し、それ等の各パターン間のブリッジ或いは断線検出を
行なう場合、図４に示すようにそれ等のパターン１０の
配置に合わせて、多数のピンプローブ１２を一列に並べ
て配設したピンボードを用い、各ピンプローブ１２を対
応する各パターン１０の測定点に接触させた後、各ピン
プローブ１２間の導通の有無を検出して、各パターン１
０間のブリッジ或いは断線の有無を判定する。その際、
接続関係のないパターン１０にそれぞれ接触したピンプ
ローブ１２間が非導通状態であればブリッジがないこと
を確認でき、導通状態になればブリッジの存在を検出で
きる。又、接続関係にあるパターン１０にそれぞれ接触
したピンプローブ１２間が導通状態であれば短絡を確認
でき、非導通状態になれば断線の存在を検出できる。な
お、図には被検査基板１４の絶縁基板１６に配設した５
箇所の各パターン１０とそれぞれ接触する５本のピンプ
ローブ１２との対応関係を示している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ブリッ
ジ或いは断線検出に際し、このようなピンボードに配設
した多数のピンプローブを被検査基板に配設した多数の
パターンとそれぞれ対応させて接触しようとしても、被
検査基板に配設した多数のパターンにパターンの印刷ず
れや絶縁基板の変形によるパターンの位置ずれ等が発生
していると、パターンが所定箇所からずれてピンプロー
ブと対応するパターンとの接触が取れなくなることがあ
る。すると、ブリッジ或いは断線検出が不可能になる。
ジ或いは断線検出に際し、このようなピンボードに配設
した多数のピンプローブを被検査基板に配設した多数の
パターンとそれぞれ対応させて接触しようとしても、被
検査基板に配設した多数のパターンにパターンの印刷ず
れや絶縁基板の変形によるパターンの位置ずれ等が発生
していると、パターンが所定箇所からずれてピンプロー
ブと対応するパターンとの接触が取れなくなることがあ
る。すると、ブリッジ或いは断線検出が不可能になる。
【０００５】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、第１に被検査基板に配設した多
数の導電箇所にパターンの印刷ずれや絶縁基板の変形に
よるパターンの位置ずれ等が発生し、導電箇所が所定箇
所からずれていても、ブリッジ或いは断線検出を行なえ
るピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断
線検出方法を提供することを目的とする。又、第２に上
記ブリッジ或いは断線検出方法において使用に適する極
小の導電箇所ピッチに対応可能なピンボードを提供する
ことを目的とする。
てなされたものであり、第１に被検査基板に配設した多
数の導電箇所にパターンの印刷ずれや絶縁基板の変形に
よるパターンの位置ずれ等が発生し、導電箇所が所定箇
所からずれていても、ブリッジ或いは断線検出を行なえ
るピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断
線検出方法を提供することを目的とする。又、第２に上
記ブリッジ或いは断線検出方法において使用に適する極
小の導電箇所ピッチに対応可能なピンボードを提供する
ことを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第１目的対応のピンボード方式基板検査装置による
ブリッジ或いは断線検出方法では各導電箇所毎にそこに
接触すべき複数本のピンプローブからなるグループを対
応させて配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグル
ープ間に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させ
て配置しておく。そして、それ等の隣接する各ピンプロ
ーブ間の導通の有無を検出し、隣接するピンプローブと
非導通のピンプローブによって、隣接するピンプローブ
と導通する複数本のピンプローブからなるグループに分
け、それ等の各ピンプローブグループ間のピンプローブ
の導通の有無を検出し、各導電箇所間のブリッジ或いは
断線の有無を判定することを特徴とする。
に、第１目的対応のピンボード方式基板検査装置による
ブリッジ或いは断線検出方法では各導電箇所毎にそこに
接触すべき複数本のピンプローブからなるグループを対
応させて配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグル
ープ間に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させ
て配置しておく。そして、それ等の隣接する各ピンプロ
ーブ間の導通の有無を検出し、隣接するピンプローブと
非導通のピンプローブによって、隣接するピンプローブ
と導通する複数本のピンプローブからなるグループに分
け、それ等の各ピンプローブグループ間のピンプローブ
の導通の有無を検出し、各導電箇所間のブリッジ或いは
断線の有無を判定することを特徴とする。
【０００７】又、第２目的対応のピンボードではピンプ
ローブを千鳥形に並べて配置することを特徴とする。
ローブを千鳥形に並べて配置することを特徴とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて、本発
明の実施の形態を説明する。図１は本発明を適用したピ
ンボード方式インサーキットテスタのピンボードのベー
ス板に配設した多数のピンプローブを被検査基板の絶縁
基板に配設した多数のパターン等とそれぞれ接触させた
状態を示す上下を反対にした斜視図、図２はその各パタ
ーン等に対するピンプローブの接触位置を示す底面図で
ある。図中、１８が被検査基板、２０がその絶縁基板、
２２がその絶縁基板２０の上に一列に並べて配設した５
個のパターンである。これ等のパターン２２はいずれも
同一幅にして、同一間隔を保つように配置したものであ
り、絶縁基板２０上に実装したデジタルＩＣの対応する
リード等とそれぞれ接続してある。因みに、デジタルＩ
Ｃにはそのパッケージの周囲面に多数の同一幅のリード
を一方向に対して同一間隔を保つように一列に並べて複
数組突設してある。
明の実施の形態を説明する。図１は本発明を適用したピ
ンボード方式インサーキットテスタのピンボードのベー
ス板に配設した多数のピンプローブを被検査基板の絶縁
基板に配設した多数のパターン等とそれぞれ接触させた
状態を示す上下を反対にした斜視図、図２はその各パタ
ーン等に対するピンプローブの接触位置を示す底面図で
ある。図中、１８が被検査基板、２０がその絶縁基板、
２２がその絶縁基板２０の上に一列に並べて配設した５
個のパターンである。これ等のパターン２２はいずれも
同一幅にして、同一間隔を保つように配置したものであ
り、絶縁基板２０上に実装したデジタルＩＣの対応する
リード等とそれぞれ接続してある。因みに、デジタルＩ
Ｃにはそのパッケージの周囲面に多数の同一幅のリード
を一方向に対して同一間隔を保つように一列に並べて複
数組突設してある。
【０００９】このようなパターン間のブリッジ或いは断
線検出に用いるピンボードには、それ等のパターン２２
の配置に合わせて、多数のピンプローブを一方向例えば
左右の方向に対して同一間隔を保つように並べて配設す
る。その際、パターンピッチが極小であると、ピンプロ
ーブの径の大きさ等が妨げとなって、多数のピンプロー
ブを一列に配設することができない。そこで、パターン
ピッチが極小の場合にはピンプローブの径の大きさ等が
設置の妨げとならないように、隣接するピンプローブの
位置を順次前後方向にずらせて複数列例えば２列の千鳥
形に配置する。なお、導電箇所のピッチが微細のものは
ＣＰＵ（中央演算処理装置）を始めとするディジタル回
路に多い。
線検出に用いるピンボードには、それ等のパターン２２
の配置に合わせて、多数のピンプローブを一方向例えば
左右の方向に対して同一間隔を保つように並べて配設す
る。その際、パターンピッチが極小であると、ピンプロ
ーブの径の大きさ等が妨げとなって、多数のピンプロー
ブを一列に配設することができない。そこで、パターン
ピッチが極小の場合にはピンプローブの径の大きさ等が
設置の妨げとならないように、隣接するピンプローブの
位置を順次前後方向にずらせて複数列例えば２列の千鳥
形に配置する。なお、導電箇所のピッチが微細のものは
ＣＰＵ（中央演算処理装置）を始めとするディジタル回
路に多い。
【００１０】そして、各パターン２２毎にそこに接触す
べき複数本のピンプローブからなるグループを対応させ
て配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグループ間
に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させて配置
する。その際、ピンプローブピッチをパターン幅の２分
の１未満にしないと、隣接するピンプローブ間が全て非
導通になることがある。そこで、ピンプローブピッチを
パターン幅の２分の１未満にして、隣接するピンプロー
ブと導通するピンプローブからなるグループと隣接する
ピンプローブと非導通のピンプローブとを交互に配置す
る。
べき複数本のピンプローブからなるグループを対応させ
て配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグループ間
に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させて配置
する。その際、ピンプローブピッチをパターン幅の２分
の１未満にしないと、隣接するピンプローブ間が全て非
導通になることがある。そこで、ピンプローブピッチを
パターン幅の２分の１未満にして、隣接するピンプロー
ブと導通するピンプローブからなるグループと隣接する
ピンプローブと非導通のピンプローブとを交互に配置す
る。
【００１１】図３はこのような極小のパターンピッチに
対応できるピンプローブを２列の千鳥形に配置したピン
ボードの構造を示す部分断面図である。図中、２４がピ
ンボード、２６がそのベース板、２８がピンプローブ、
３０がピンプローブ用配線板である。これ等のピンプロ
ーブ２８はいずれもベース板２６の所定箇所に２列の千
鳥形に配列して設けた各設置穴３２の内部に基端部側を
それぞれ嵌入し、先端部側をベース板２６の上面から板
面に垂直に突出させたものであり、各穴３２の最奥部に
設置した圧縮コイルばね３４上に載る。そして、各ピン
プローブ２８を板３０に配置した対応する各配線を経て
マルチプレクサを介し、インサーキットテスタの計測部
と接続する。
対応できるピンプローブを２列の千鳥形に配置したピン
ボードの構造を示す部分断面図である。図中、２４がピ
ンボード、２６がそのベース板、２８がピンプローブ、
３０がピンプローブ用配線板である。これ等のピンプロ
ーブ２８はいずれもベース板２６の所定箇所に２列の千
鳥形に配列して設けた各設置穴３２の内部に基端部側を
それぞれ嵌入し、先端部側をベース板２６の上面から板
面に垂直に突出させたものであり、各穴３２の最奥部に
設置した圧縮コイルばね３４上に載る。そして、各ピン
プローブ２８を板３０に配置した対応する各配線を経て
マルチプレクサを介し、インサーキットテスタの計測部
と接続する。
【００１２】ブリッジ或いは断線検出時、先ずピンボー
ド２４上に被検査基板１８を載せて固定する。そして、
各ピンプローブ２８と対応する各測定点をそれぞれ接触
させる。すると、図１に示すように第１のパターン２２
に対しては第１、第２、第３の各ピンプローブ２８がそ
れぞれ接触し、第２のパターン２２に対しては第５、第
６、第７の各ピンプローブ２８がそれぞれ接触し、第４
のピンプローブ２８がそれ等の両パターン２２の間に覗
く絶縁基板２０の面に接触する。同様に、第３のパター
ン２２に対しては第９、第１０、第１１の各ピンプロー
ブ２８が、又第４のパターン２２に対しては第１３、第
１４、第１５の各ピンプローブ２８が、第５のパターン
２２に対しては第１７、第１８、第１９の各ピンプロー
ブ２８がそれぞれ接触し、第８のピンプローブ２８が第
２と第３の両パターン２２の間に覗く絶縁基板２０の面
に、又第１２のピンプローブ２８が第３と第４の両パタ
ーン２２の間に覗く絶縁基板２０の面に、又第１６のピ
ンプローブ２８が第４と第５の両パターン２２の間に覗
く絶縁基板２０の面にそれぞれ接触する。なお、図２に
おけるＬ0 がパターン２２の幅、Ｌ1 がピンプローブ２
８のピッチである。
ド２４上に被検査基板１８を載せて固定する。そして、
各ピンプローブ２８と対応する各測定点をそれぞれ接触
させる。すると、図１に示すように第１のパターン２２
に対しては第１、第２、第３の各ピンプローブ２８がそ
れぞれ接触し、第２のパターン２２に対しては第５、第
６、第７の各ピンプローブ２８がそれぞれ接触し、第４
のピンプローブ２８がそれ等の両パターン２２の間に覗
く絶縁基板２０の面に接触する。同様に、第３のパター
ン２２に対しては第９、第１０、第１１の各ピンプロー
ブ２８が、又第４のパターン２２に対しては第１３、第
１４、第１５の各ピンプローブ２８が、第５のパターン
２２に対しては第１７、第１８、第１９の各ピンプロー
ブ２８がそれぞれ接触し、第８のピンプローブ２８が第
２と第３の両パターン２２の間に覗く絶縁基板２０の面
に、又第１２のピンプローブ２８が第３と第４の両パタ
ーン２２の間に覗く絶縁基板２０の面に、又第１６のピ
ンプローブ２８が第４と第５の両パターン２２の間に覗
く絶縁基板２０の面にそれぞれ接触する。なお、図２に
おけるＬ0 がパターン２２の幅、Ｌ1 がピンプローブ２
８のピッチである。
【００１３】そこで、隣接する各ピンプローブ２８間の
導通の有無を検出する。すると、第４、第８、第１２、
第１６のピンプローブ２８が隣接するピンプローブ２８
と非導通のピンプローブ２８であること、即ち絶縁基板
２０と接触していることを確認できる。又、第４、第
８、第１２、第１６以外のピンプローブ２８はいずれも
隣接するピンプローブ２８と導通するピンプローブ２８
であること、即ちパターン２２と接触していることが確
認できる。そこで、第４、第８、第１２、第１６の各非
導通ピンプローブ２８によって、第１、第２、第３の導
通ピンプローブ２８からなる第１グループ、第５、第
６、第７の導通ピンプローブ２８からなる第２グルー
プ、第９、第１０、第１１の導通ピンプローブ２８から
なる第３グループ、第１３、第１４、第１５の導通ピン
プローブ２８からなる第４グループ、第１７、第１８、
第１９の導通ピンプローブ２８からなる第５グループに
分ける。すると、各グループに属するピンプローブ２８
はいずれも対応するパターン２２と接触していることが
確認できる。
導通の有無を検出する。すると、第４、第８、第１２、
第１６のピンプローブ２８が隣接するピンプローブ２８
と非導通のピンプローブ２８であること、即ち絶縁基板
２０と接触していることを確認できる。又、第４、第
８、第１２、第１６以外のピンプローブ２８はいずれも
隣接するピンプローブ２８と導通するピンプローブ２８
であること、即ちパターン２２と接触していることが確
認できる。そこで、第４、第８、第１２、第１６の各非
導通ピンプローブ２８によって、第１、第２、第３の導
通ピンプローブ２８からなる第１グループ、第５、第
６、第７の導通ピンプローブ２８からなる第２グルー
プ、第９、第１０、第１１の導通ピンプローブ２８から
なる第３グループ、第１３、第１４、第１５の導通ピン
プローブ２８からなる第４グループ、第１７、第１８、
第１９の導通ピンプローブ２８からなる第５グループに
分ける。すると、各グループに属するピンプローブ２８
はいずれも対応するパターン２２と接触していることが
確認できる。
【００１４】そこで、各ピンプローブグループ間でピン
プローブ２８の導通の有無を検出する。すると、接続関
係のないパターン２２にそれぞれ接触したピンプローブ
２８間が非導通の場合にはそれ等のピンプローブグルー
プがそれぞれ接触している両パターン２２の間にブリッ
ジがなく、導通する場合にはそれ等のピンプローブグル
ープがそれぞれ接触している両パターン２２の間にブリ
ッジが生じていると判定し、ブリッジを検出できる。
又、接続関係のあるパターン２２にそれぞれ接触したピ
ンプローブ２８の間が導通する場合にはそれ等のピンプ
ローブグループがそれぞれ接触している両パターン２２
の間に短絡があり、非導通の場合にはそれ等のピンプロ
ーブグループがそれぞれ接触している両パターン２２の
間に断線が生じていると判定し、断線を検出できる。
プローブ２８の導通の有無を検出する。すると、接続関
係のないパターン２２にそれぞれ接触したピンプローブ
２８間が非導通の場合にはそれ等のピンプローブグルー
プがそれぞれ接触している両パターン２２の間にブリッ
ジがなく、導通する場合にはそれ等のピンプローブグル
ープがそれぞれ接触している両パターン２２の間にブリ
ッジが生じていると判定し、ブリッジを検出できる。
又、接続関係のあるパターン２２にそれぞれ接触したピ
ンプローブ２８の間が導通する場合にはそれ等のピンプ
ローブグループがそれぞれ接触している両パターン２２
の間に短絡があり、非導通の場合にはそれ等のピンプロ
ーブグループがそれぞれ接触している両パターン２２の
間に断線が生じていると判定し、断線を検出できる。
【００１５】このようにして、各パターン毎にそこに接
触すべき複数本のピンプローブからなるグループを対応
させて配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグルー
プ間に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させて
配置しておくと、被検査基板に配設した多数のパターン
にパターンの印刷ずれや絶縁基板の変形によるパターン
の位置ずれ等が発生し、パターンが所定箇所からずれて
いても、各パターンに複数本のピンプローブを接触さ
せ、隣接するピンプローブとの導通検査によって各パタ
ーンにピンプローブが接触していることをそれぞれ確認
できるため、各パターン間のブリッジ或いは断線検出が
可能になる。その際、ピンプローブピッチが小さい程、
ピンプローブの数が多くなる。それ故、パターンずれが
大きくても、そのずれたパターンに複数本のピンプロー
ブを接触させ易くなり、ブリッジ或いは断線検査に適す
るようになる。なお、絶縁基板面に接触を予定したピン
プローブがブリッジ箇所に接触したりすると、同一グル
ープに属する導通ピンプローブの数がほぼ２倍になる等
して特別多くなるので、ブリッジの存在を検出できる。
触すべき複数本のピンプローブからなるグループを対応
させて配置し、それ等の隣接する各ピンプローブグルー
プ間に絶縁基板と接触すべきピンプローブを対応させて
配置しておくと、被検査基板に配設した多数のパターン
にパターンの印刷ずれや絶縁基板の変形によるパターン
の位置ずれ等が発生し、パターンが所定箇所からずれて
いても、各パターンに複数本のピンプローブを接触さ
せ、隣接するピンプローブとの導通検査によって各パタ
ーンにピンプローブが接触していることをそれぞれ確認
できるため、各パターン間のブリッジ或いは断線検出が
可能になる。その際、ピンプローブピッチが小さい程、
ピンプローブの数が多くなる。それ故、パターンずれが
大きくても、そのずれたパターンに複数本のピンプロー
ブを接触させ易くなり、ブリッジ或いは断線検査に適す
るようになる。なお、絶縁基板面に接触を予定したピン
プローブがブリッジ箇所に接触したりすると、同一グル
ープに属する導通ピンプローブの数がほぼ２倍になる等
して特別多くなるので、ブリッジの存在を検出できる。
【００１６】なお、ピンボードには多数のピンプローブ
を一方向に対して同一間隔を保つように並べて配設した
グループを各グループ毎にピンプローブの数、ピンプロ
ーブの間隔等を変える等して複数グループ設置すること
ができる。
を一方向に対して同一間隔を保つように並べて配設した
グループを各グループ毎にピンプローブの数、ピンプロ
ーブの間隔等を変える等して複数グループ設置すること
ができる。
【００１７】又、このようなピンボード方式インサーキ
ットテスタを用いると、ＩＣの各リード間ブリッジ或い
は断線の検出等も当然行なえる。
ットテスタを用いると、ＩＣの各リード間ブリッジ或い
は断線の検出等も当然行なえる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、請求項１
記載の発明では各導電箇所毎にそこに接触すべき複数本
のピンプローブからなるグループを対応させて配置し、
それ等の隣接する各ピンプローブグループ間に絶縁基板
と接触すべきピンプローブを対応させて配置しておくた
め、各導電箇所に複数本のピンプローブを接触させ、隣
接するピンプローブとの導通検査によって各導電箇所に
ピンプローブがそれぞれ接触していることを確認でき
る。それ故、被検査基板に配設した多数の導電箇所にパ
ターンの印刷ずれや絶縁基板の変形によるパターンの位
置ずれ等が発生し、導電箇所が所定箇所からずれていて
も、各導電箇所間のブリッジ或いは断線の存在を検出で
きる。
記載の発明では各導電箇所毎にそこに接触すべき複数本
のピンプローブからなるグループを対応させて配置し、
それ等の隣接する各ピンプローブグループ間に絶縁基板
と接触すべきピンプローブを対応させて配置しておくた
め、各導電箇所に複数本のピンプローブを接触させ、隣
接するピンプローブとの導通検査によって各導電箇所に
ピンプローブがそれぞれ接触していることを確認でき
る。それ故、被検査基板に配設した多数の導電箇所にパ
ターンの印刷ずれや絶縁基板の変形によるパターンの位
置ずれ等が発生し、導電箇所が所定箇所からずれていて
も、各導電箇所間のブリッジ或いは断線の存在を検出で
きる。
【００１９】又、請求項２記載の発明では請求項１記載
の発明において使用可能なピンボードに配設するピンプ
ローブを千鳥形に並べて配置するため、ピンプローブ間
の干渉が生じ難く、ピンプローブの径を大きくしても設
置し易くなり、極小の導電箇所ピッチにも対応可能なピ
ンボードを容易に製作できる。
の発明において使用可能なピンボードに配設するピンプ
ローブを千鳥形に並べて配置するため、ピンプローブ間
の干渉が生じ難く、ピンプローブの径を大きくしても設
置し易くなり、極小の導電箇所ピッチにも対応可能なピ
ンボードを容易に製作できる。
【図１】本発明を適用したピンボード方式インサーキッ
トテスタのピンボードのベース板に配設した多数のピン
プローブを被検査基板の絶縁基板に配設した多数のパタ
ーン等とそれぞれ接触させた状態を示す上下関係を反対
にした斜視図である。
トテスタのピンボードのベース板に配設した多数のピン
プローブを被検査基板の絶縁基板に配設した多数のパタ
ーン等とそれぞれ接触させた状態を示す上下関係を反対
にした斜視図である。
【図２】同被検査基板の絶縁基板に配設した多数のパタ
ーン等に対するピンプローブの接触位置を示す底面図で
ある。
ーン等に対するピンプローブの接触位置を示す底面図で
ある。
【図３】同被検査基板の極小パターンピッチに対応可能
なピンプローブを２列の千鳥形に並べて配置したピンボ
ードの構造を示す部分断面図である。
なピンプローブを２列の千鳥形に並べて配置したピンボ
ードの構造を示す部分断面図である。
【図４】従来のピンボード方式インサーキットテスタの
ピンボードのベース板に配設した多数のピンプローブを
被検査基板の絶縁基板に配設した多数のパターン等とそ
れぞれ接触させた状態を示す上下関係を反対にした斜視
図である。
ピンボードのベース板に配設した多数のピンプローブを
被検査基板の絶縁基板に配設した多数のパターン等とそ
れぞれ接触させた状態を示す上下関係を反対にした斜視
図である。
１８…被検査基板 ２０…絶縁基板 ２２…パターン
２４…ピンボード ２６…ベース板 ２８…ピンプロー
ブ ３０…ピンプローブ用配線板 ３２…設置穴 ３４
…圧縮コイルばね
２４…ピンボード ２６…ベース板 ２８…ピンプロー
ブ ３０…ピンプローブ用配線板 ３２…設置穴 ３４
…圧縮コイルばね
Claims (2)
- 【請求項１】 多数の導電箇所を並べて配設した被検査
基板に対し、多数のピンプローブを一方向に対して同一
間隔を保つように並べて配設したピンボードを用い、そ
のピンボード上に被検査基板を載せて各ピンプローブを
対応する各測定点に接触させ、各ピンプローブ間の導通
の有無を検出して、各導電箇所間のブリッジ或いは断線
の有無を判定するピンボード方式基板検査装置によるブ
リッジ或いは断線検出方法において、上記各導電箇所毎
にそこに接触すべき複数本のピンプローブからなるグル
ープを対応させて配置し、それ等の隣接する各ピンプロ
ーブグループ間に絶縁基板と接触すべきピンプローブを
対応させて配置しておき、それ等の隣接する各ピンプロ
ーブ間の導通の有無を検出し、隣接するピンプローブと
非導通のピンプローブによって、隣接するピンプローブ
と導通する複数本のピンプローブからなるグループに分
け、それ等の各ピンプローブグループ間でピンプローブ
の導通の有無を検出して、各導電箇所間のブリッジ或い
は断線の有無を判定することを特徴とするピンボード方
式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法。 - 【請求項２】 多数の導電箇所を並べて配設した被検査
基板の各導電箇所間のブリッジ或いは断線検出に用いる
多数のピンプローブを一方向に対して同一間隔を保つよ
うに並べて配設したピンボードにおいて、上記ピンプロ
ーブを千鳥形に並べて配置することを特徴とするピンボ
ード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7344756A JPH09159713A (ja) | 1995-12-05 | 1995-12-05 | ピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法並びにピンボード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7344756A JPH09159713A (ja) | 1995-12-05 | 1995-12-05 | ピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法並びにピンボード |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09159713A true JPH09159713A (ja) | 1997-06-20 |
Family
ID=18371737
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7344756A Pending JPH09159713A (ja) | 1995-12-05 | 1995-12-05 | ピンボード方式基板検査装置によるブリッジ或いは断線検出方法並びにピンボード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09159713A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006250546A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Hioki Ee Corp | ショート検出装置 |
| RU2482505C2 (ru) * | 2007-11-21 | 2013-05-20 | Лор Индустри | Устройство определения нарушения электрической непрерывности между электрическим контактом и электрическим проводником, установленным в контуре определения |
| CN115308458A (zh) * | 2022-09-13 | 2022-11-08 | 渭南木王智能科技股份有限公司 | 一种并联式多位通断同步控制探针模组 |
-
1995
- 1995-12-05 JP JP7344756A patent/JPH09159713A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006250546A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Hioki Ee Corp | ショート検出装置 |
| RU2482505C2 (ru) * | 2007-11-21 | 2013-05-20 | Лор Индустри | Устройство определения нарушения электрической непрерывности между электрическим контактом и электрическим проводником, установленным в контуре определения |
| CN115308458A (zh) * | 2022-09-13 | 2022-11-08 | 渭南木王智能科技股份有限公司 | 一种并联式多位通断同步控制探针模组 |
| CN115308458B (zh) * | 2022-09-13 | 2024-03-19 | 渭南木王智能科技股份有限公司 | 一种并联式多位通断同步控制探针模组 |
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