JPH01199219A - Cmos分圧回路 - Google Patents

Cmos分圧回路

Info

Publication number
JPH01199219A
JPH01199219A JP63284091A JP28409188A JPH01199219A JP H01199219 A JPH01199219 A JP H01199219A JP 63284091 A JP63284091 A JP 63284091A JP 28409188 A JP28409188 A JP 28409188A JP H01199219 A JPH01199219 A JP H01199219A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
transistors
output terminal
field effect
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63284091A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0658614B2 (ja
Inventor
Arthur J Leidich
アーサー・ジョン・レイディック
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPH01199219A publication Critical patent/JPH01199219A/ja
Publication of JPH0658614B2 publication Critical patent/JPH0658614B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/04Voltage dividers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/20Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の分野] 本発明は半導体回路に関し、更に詳しくは、分圧回路と
して有用な半導体回路に関する。
[発明の背景] 種々の電子システムにおいては、入力源の電圧を所定の
割合で逓降した、例えば2分1に逓降した出力電圧を発
生する回路が必要である。この比率は、人力源の電圧が
温度または経年変化によるドリフトを含む種々の理由の
ために変化しても一定でなければならない。
従来、このような用途に対する種々の回路が提案されて
いる。簡単な構成のものは2対の相補型金属−酸化物−
シリコン(CMOS)トランジスタを使用して、第1図
に示すチェーン回路10を形成するように4つのトラン
ジスタのドレイン・ソース回路を電源15の両端子間に
直列に接続したものである。この回路10は図示のよう
に(出力電圧+v1を有する)電源15の2端子間にチ
ェーンまたは列状に直列に接続されたPチャンネル金属
−酸化物−シリコン(MOS)トランジスタ11、Nチ
ャンネルMOSトランジスタ12、PチャンネルMOS
トランジスタ13およびNチャンネルMOSトランジス
タ14を有している。
更に、各トランジスタはゲート電極がドレイン電極に短
絡されることによりダイオードとして接続され、事実上
抵抗として作用する。この構成において、Pチャンネル
MOSトランジスタ11および13は1対1の比で互い
に整合し、またNチャンネルMOSトランジスタ12お
よび14も同様に互いに整合している。ここにおいて全
体をとおして使用されている「整合」という用語は、特
に限定していない場合には1対1の比の整合を示す。
対称であるので、トランジスタ12および13の間の中
央の出力端子16の電圧はトランジスタ・チェーンの2
つの端子の間に供給される電源電圧+v1の2分の1、
すなわち+(Vl)/2である。更に、端子16に現れ
る出力電圧は電源15の電圧+v1の変化に追従する。
この回路における1つの問題は、4つのトランジスタが
電源15の端子間に直列に接続されているので、電源1
5の電圧+v1が4つのトランジスタの4つのしきい値
電圧の合計よりも小さい場合、1つ以上のトランジスタ
がオンにバイアスされず、従って回路10が実質的に開
放状態になるため、出力端子16の電圧が不定になると
いうことである。
この問題を除去するために、2つの電源端子間のしきい
値電圧降下の合計値を減少するようにこの基本回路構成
に対して種々の変形が提案されている。
第2図および第3図は開発されたこのような2つの変形
例を示している。第2図に示す回路20は2対の相補型
トランジスタ21.22および23.24を有し、これ
らはドレイン・ソース回路が直列に接続されるように接
続されている。トランジスタ21および24のソースは
出力電圧+V2を有する電源2.5の別々の端子に接続
されている。この場合、Pチャンネル・トランジスタ2
1およびNチャンネル・トランジスタ24はダイオード
として接続され、Nチャンネル・トランジスタ22のゲ
ートは電源25の一方の端子に接続され、Pチャンネル
・トランジスタ23のゲートは電源25の他方の端子に
接続されている。さらに、2つのPチャンネル・トラン
ジスタは互いに整合し、またNチャンネル・トランジス
タも互°いに整合している。回路20の出力電圧は、電
源25の電圧のほぼ2分の1であり、トランジスタ22
および23の間の中央の出力端子26から取り出される
。この回路20において、電源25の2つの端子間のし
きい値電圧降下はほぼ2つのしきい値電圧のみである。
しかしながら、上半分の回路がダイオードとして接続さ
れているPチャンネル・トランジスタ21を有し、かつ
下半分の回路が同様に接続されているNチャンネル・ト
ランジスタ24を有することから生ずる非対称性のため
に、2対のCMOSトランジスタのソースに対するゲー
トバイアス電圧が異なる傾向がある。これは入力電圧(
電源25の電圧+V2)の範囲を制限し、この範囲にお
いて出力電圧(端子26に現われる)は+v2のドリフ
トに追従する。典型的には、忠実な追従は約5%の範囲
に制限される。
第3図に示す回路30は、2対の相補型トランジスタ3
1.32および33.34を有し、これらはドレイン・
ソース回路が直列に接続されている。トランジスタ31
および34のソースは電源35の別々の端子に接続され
ている。電源35は出力電圧+v3を有している。Nチ
ャンネル・トランジスタ32およびPチャンネル・トラ
ンジスタ33はダイオードとして接続され、トランジス
タ31および34はゲートが出力電圧+v3を有する電
源35の反対の端子に接続されている。再び、この回路
30の出力端子36から得られる出力電圧は非対称性の
ために限られた範囲にわたってのみ電源の入力電圧に追
従する。
[発明の要約] 本発明によれば、チェーン状または列状に接続された2
対の相補型電界効果トランジスタが使用され、電源の両
端間に接続されたときに、4つの全てのトランジスタの
ゲートφソース間バイアス電圧が本質的に等しくなるよ
うにそれらのゲートが接続される。特に、チェーンまた
は列状の接続において、第1のトランジスタのゲートが
第2のトランジスタのソースならびに出力端子として作
用する中央の節点に接続され、第2のトランジスタのゲ
ートが第1のトランジスタのソースならびに使用されて
いる電源の第1の端子に接続され、第3のトランジスタ
のゲートが第4のトランジスタのソースならびに電源の
第2の端子に接続され、第4のトランジスタのゲートが
第3のトランジスタのソースならびに中央の節点に接続
される。
この構成において、各トランジスタのゲート・ソース間
バイアス電圧は使用される電源の電圧の2分の1に本質
的に等しい。この結果、使用されている電源の(入力)
電圧に対する出力電圧の正確さは、2つのNチャンネル
・トランジスタが互いに整合し、かつ2つのPチャンネ
ル番トランジスタが互いに整合している限り、トランジ
スタのパラメータおよび動作温度に実質的に無関係であ
る。
また、従来の電源分割基準回路のように、チェーンをよ
り長くするように多数の相補対を使用して、多数の出力
端子(タップ)を設けることができることも理解される
ことであろう。
本発明は添付図面を参照した以下の説明から更によく理
解されよう。
[実施例の説明] 第4図を参照すると、点線の枠内に本発明の好適実施例
による分圧回路40が示されている。この回路40はN
チャンネル電界効果トランジスタ42および44、およ
びPチャンネル電界効果トランジスタ41および43を
有している。+V4の出力電圧を有する正の電源48が
その出力端子47および48を介して回路40に接続さ
れている。回路40はその出力端子46に+(V4)/
2の電圧を発生するように作用する。
各トランジスタはドレイン、ソースおよびゲート電極を
有する。電界効果トランジスタを通る正の電流の流れの
方向およびその導電性の形式は各トランジスタの出力端
子のどれがドレインおよびソースであるかを決定する。
Nチャンネル・トランジスタに流れる正の電流はドレイ
ンからソースに流れる。Pチャンネル・トランジスタの
場合には、この電流はソースからドレインに流れる。ト
ランジスタ41のソースおよびトランジスタ42のゲー
トは端子47に接続されている。トランジスタ41のド
レインはトランジスタ42のドレインおよび節点49に
接続されている。トランジスタ41および44のゲート
ならびにトランジスタ42および43のソースはすべて
出力端子46に接続されている。トランジスタ43のゲ
ートおよびトランジスタ44のソースはアース電位とし
て示されている端子48に接続されている。
典型的には、Pチャンネル書トランジスタ41はPチャ
ンネル・トランジスタ43に整合し、Nチャンネル・ト
ランジスタ42はNチャンネル拳トランジスタ44に整
合している。この場合、出力端子46に現れる出力電圧
は電源45の電圧の2分の1に等しい。従って、電源4
5が回路40に接続されている場合、出力端子46に現
れる電位は+(V2)/2である。回路40は、+v4
の大きさに変化があったり、ドリフトがあったとしても
、出力端子46に現れる電圧は+(v4)/2である。
典型的な実施例において、回路40の全てのトランジス
タはエンハンスメントモード型の金属−酸化物−シリコ
ン電界効果トランジスタ(MOSFET)であり、電源
45の電圧+v4の振幅は全てのトランジスタを「オン
」状態にバイアスして導通状態に維持するのに充分であ
る。+v4の振幅は回路40の4つのトランジスタのう
ちの最も大きな2つのしきい値電圧に等しいことのみが
必要である。
回路40が形成されるシリコンチップの半導体処理にお
ける変動またはマスクの位置合せ不良により、1対1の
比で整合するように設計されたトランジスタの形状が変
動することがある。回路40は、トランジスタ形状に中
程度の不整合が生じたとしても所望の出力電圧における
変化が比較的小さいのでトランジスタの不整合を幾らか
許容する。例えば、+V4−+5.0ボルトであり、ト
ランジスタのしきい値電圧が1乃至2ボルトの範囲にあ
って、2つのトランジスタの不整合が30%の場合、+
 (V4)/2の理想的なレベルに対する出力電圧の変
動は典型的には5%以下である。
同じ半導体集積回路チップ上のトランジスタは典型的に
は5%以内で整合させることができ、この結果出力電圧
における変動は典型的には1%以下である。
各エンハンスメントモード型トランジスタは導電型を反
転できることを理解されたい。この場合、電源の電位を
逆にすることが必要である。
代わりに、各トランジスタはデプレッションモード型M
OSFETまたは接合型電界効果トランジスタ(JPE
T)であってもよく、電源の大きさは全てのトランジス
タをオン状態にバイアスして導通させるに充分なレベル
に選択される。第4図に示すように正電圧の電源が使用
される場合には、デプレッションモード型トランジスタ
およびJPETの導電型は第4図に示すものとは逆であ
る。負電圧源が使用される場合には、デプレッションモ
ード型トランジスタおよびJFETの導電型は第4図に
示すとおりである。
次に、第5図を参照すると、点線の枠内に本発明の他の
実施例による回路50が示されている。
回路50はM対の相補型電界効果トランジスタを直列に
組み合わせたものであり、Pチャンネル電界効果トラン
ジスタ51およびNチャンネル電界効果トランジスタ5
2から成る第1の対、Pチャンネル電界効果トランジス
タ53およびNチャンネル電界効果トランジスタ54か
ら成る第2の対、Pチャンネル電界効果トランジスタ5
5およびNチャンネル電界効果トランジスタから成る第
M−1番目の対、Pチャンネル電界効果トランジスタ5
7およびNチャンネル電界効果トランジスタ58から成
る第M番目の対を有している。第2の対と第M−1番目
の対との間の相補型トランジスタの対およびそれぞれの
出力端子は図示されていないが、単に垂直な点線でそれ
らが存在することを表わす。+v5の出力電圧を有する
正電源60が出力端子60Aおよび60Bを介して回路
50に接続されている。出力端子60Bはアース電位に
接続されている。回路50は多重出力端子を有し、各出
力端子は隣接するトランジスタ対の間に接続されている
。図には出力端子61.62.63および64のみが示
されている。回路50は端子61.62.63および6
4にそれぞれ+[(M−1)/M]  (V5) 、+
 [(M−2)/Ml  (V5) 、+ (2/M)
(V5)および+(1/M)(v5)の出力電圧を発生
するように機能し、ここにおいてMは相補型トランジス
タ対の数である。
相次ぐ出力端子に現われる出力電圧は電源60の電位子
v5の1/Mずつ順次具なっている。
トランジスタ51お工び52は第1の対の相補型トラン
ジスタを構成し、トランジスタ53および54は第2の
対の相補型トランジスタを構成し、トランジスタ55お
よび56は第M−1番目の対の相補型トランジスタを構
成し、トランジスタ57および58は第M番目の対の相
補型トランジスタを構成している。
トランジスタ51のソースおよびトランジスタ52のゲ
ートは端子60Aに接続されている。トランジスタ51
および52のドレインは節点65に接続されている。ト
ランジスタ52および53のソースならびにトランジス
タ51および54のゲートは出力端子61に接続され、
この出力端子61は+[(M−1)/ME  (V5)
(7)電圧ニすることが示されている。トランジスタ5
4のソースおよびトランジスタ53のソースは出力端子
62に接続されていることが示され、この出力端子62
は+ [(M−2)/Ml  (V5) のff1位に
あることが示されている。第3の対のような他の対の相
補型トランジスタは図示されていないが、トランジスタ
54と5゛5との間の垂直な点線によって省略して示さ
れ、また出力端子62に接続されている。
トランジスタ55のソースおよびトランジスタ56のゲ
ートは出力端子63に接続され、この出力端子63は+
[(2)/Ml  (V5)(7)電圧1.:あること
が示されている。図示されていないがトランジスタ54
および55の間の垂直な点線によって示されている別の
対の相補型トランジスタがまた出力端子63に接続され
ている。トランジスタ55のドレインはトランジスタ5
6のソースおよび節点67に接続されている。トランジ
スタ55および58のゲートならびにトランジスタ56
および57のソースは出力端子64に接続され、この出
力端子64は+(1/M)V5の電位にあることが示さ
れている。トランジスタ57および58のドレインは節
点68で一緒に接続されている。トランジスタ57のゲ
ートはトランジスタ58のソースおよび電源60の出力
端子60Bに接続されている。
上述した回路50の実施例においては、全てのPチャン
ネル・トランジスタは互いに整合し、かつ全てのNチャ
ンネル・トランジスタは同様に整合している。電源電圧
+v5の大きさは回路50の各トランジスタがオン状態
にバイアスされて、導通するのに充分なように選択され
る。
ここに使用されている特定の構成は各トランジスタのソ
ース・ゲート間電圧が電源60の電圧子v5の1/Mに
等しくなることを保証しているので、回路50の出力端
子における電圧の追従性は維持される。
以上説明した実施例は本発明の一般的な原理を例示した
にすぎないことを理解されたい。種々の変更が本発明の
範囲内において可能である。例えば、3対以上の相補型
電界効果トランジスタの直列組合せ回路を使用して分圧
回路を形成することは可能である。更にまた、トランジ
スタはシリコン・ウェーハ内またはシリコン・オン・サ
ファイア(SOS)集積回路のシリコン・エピタキシャ
ル層内に形成することもできる。更にまた、トランジス
タはヒ化ガリウムまたはゲルマニュウムのような種々の
異なる半導体材料で形成することもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は種々の従来の回路を示す回路図であ
る。 第4図は本発明の好適実施例による回路であって、列状
またはチェーン状に接続された2対の相補型トランジス
タを有し、電源電圧の半分に等しい出力電圧を発生する
回路を示す回路図である。 第5図は電源電圧に対して複数の異なる割合の出力電圧
を発生するために相補型トランジスタ対の更に長いチェ
ーンまたは列で構成された回路を示す回路図である。 [主な符号の説明] 40・・・分圧回路、41.43・・・Pチャンネル電
界効果トランジスタ、42.44・・・Nチャンネル電
界効果トランジスタ、45・・・電源、46・・・出力
端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電源の両端間に接続される分圧回路であって、 各トランジスタ対がNチャンネル電界効果トランジスタ
    およびPチャンネル電界効果トランジスタで構成され、
    トランジスタのソース、ドレイン回路が電源の両端間に
    接続される直列回路を形成するようにチェーンの形に接
    続されている複数対の相補型電界効果トランジスタと、 出力電圧を取り出すために隣り合う前記トランジスタ対
    の間にそれぞれ設けられた出力端子と、前記チェーン内
    の全ての前記トランジスタのソース・ゲート間電圧が実
    質的に等しくなるように前記チェーン内の前記トランジ
    スタを順次接続する手段と、 を含む分圧回路。 2、前記チェーン内の前記トランジスタが4つであり、
    その内の2つはPチャンネル・トランジスタであって、
    本質的に1対1の比で互いに整合しており、他の2つは
    Nチャンネル・トランジスタであって、本質的に1対1
    の比で互いに整合しており、これらにより形成された相
    補型トランジスタの2対の間に前記出力端子が接続され
    ていて、この出力端子に電源電圧の半分の電圧が得られ
    る、請求項1記載の分圧回路。 3、前記チェーン内の第1のトランジスタのゲートが前
    記出力端子に接続され、第2のトランジスタのゲートが
    前記チェーンの両端のうちの一方の端に接続され、第3
    のトランジスタのゲートが前記チェーンの他方の端に接
    続され、第4のトランジスタのゲートが前記出力端子に
    接続されている、請求項2記載の分圧回路。 4、前記トランジスタが金属−酸化物−シリコーン(M
    OS)型トランジスタである、請求項3記載の分圧回路
    。 5、前記トランジスタが接合型電界効果トランジスタで
    ある、請求項3記載の分圧回路。 6、前記トランジスタがシリコン・オン・サファイア電
    界効果トランジスタである、請求項3記載の分圧回路。 7、前記相補型トランジスタの対の数が2つ以上である
    、請求項1記載の分圧回路。 8、前記トランジスタが金属−酸化物−シリコン(MO
    S)トランジスタである、請求項7記載の分圧回路。 9、前記トランジスタが接合型電界効果トランジスタで
    ある、請求項7記載の分圧回路。 10、前記トランジスタがシリコン・オン・サファイア
    電界効果トランジスタである、請求項7記載の分圧回路
    。 11、第1のPチャンネル電界効果トランジスタ、第2
    のNチャンネル電界効果トランジスタ、第3のPチャン
    ネル電界効果トランジスタおよび第4のNチャンネル電
    界効果トランジスタを有する組合せ回路であって、 前記トランジスタの各々はゲート、ドレインおよびソー
    ス、およびドレイン・ソース回路を有し、これらのソー
    ス・ドレイン回路は順次直列に接続されており、 前記第1のトランジスタのゲートは前記第2および第3
    のトランジスタのソースに接続され、前記第2のトラン
    ジスタのゲートは前記第1のトランジスタのソースに接
    続され、 前記第3のトランジスタのゲートは前記第4のトランジ
    スタのソースに接続され、 前記第4のトランジスタのゲートは前記第2および第3
    のトランジスタのソースに接続され、電源が前記第1お
    よび第4のトランジスタのソース間に接続され、 出力端子が前記第2および第3のトランジスタのソース
    に接続されている組合せ回路。 12、前記第1および第3のトランジスタが本質的に1
    対1の比で整合し、前記第2および第4のトランジスタ
    が1対1の比で整合している、請求項11記載の組合せ
    回路。 13、前記電界効果トランジスタが金属−酸化物−シリ
    コン(MOS)型トランジスタである、請求項12記載
    の組合せ回路。 14、前記トランジスタが接合型電界効果トランジスタ
    である、請求項12記載の組合せ回路。 15、前記トランジスタがシリコン・オン・サファイア
    電界効果トランジスタである、請求項12記載の分圧回
    路。 16、第1の導電型の第1の電界効果トランジスタ、第
    1の導電型とは反対の第2の導電型の第2の電界効果ト
    ランジスタ、第1の導電型の第3の電界効果トランジス
    タ、および第2の導電型の第4の電界効果トランジスタ
    を有する組合せ回路であって、 前記トランジスタの各々はゲートおよび第1および第2
    の出力端子を有し、 前記第1のトランジスタの第2の出力端子は前記第2の
    トランジスタの第1の出力端子に接続され、 前記第3のトランジスタの第2の出力端子は前記第4の
    トランジスタの第1の出力端子に接続され、 前記第1のトランジスタのゲートは前記第2のトランジ
    スタの第2の出力端子および前記第3のトランジスタの
    第1の出力端子に接続され、前記第2のトランジスタの
    ゲートは前記第1のトランジスタの第1の出力端子に接
    続され、前記第3のトランジスタのゲートは前記第4の
    トランジスタの第2の出力端子に接続され、前記第4の
    トランジスタのゲートは前記第2のトランジスタの第2
    の出力端子および前記第3のトランジスタの第1の出力
    端子に接続され、電源が前記第1のトランジスタの第1
    の出力端子と前記第4のトランジスタの第2の出力端子
    との間に接続され、 回路出力端子が前記第2のトランジスタの第2の出力端
    子および前記第3のトランジスタの第1の出力端子に接
    続され、 前記第1および第3のトランジスタは本質的に1対1の
    比で整合し、前記第2および第4のトランジスタは本質
    的に1対1の比で整合している、組合せ回路。 17、前記第1および第2のトランジスタは第1の対の
    相補型トランジスタを構成し、前記第3および第4のト
    ランジスタは第2の対の相補型トランジスタを構成し、 1つ以上の別の対の相補型トランジスタが前記第1及び
    第2の対の相補型トランジスタに直列に接続されている
    、請求項16記載の組合せ回路。 18、それぞれのソース・ドレイン回路により直列回路
    が形成されるようにチェーンの形に接続された複数対の
    相補型電界効果トランジスタを有し、前記直列回路はそ
    の一端が第1の端子に接続され、かつ他端が第2の端子
    に接続されており、前記トランジスタの各対のうちの第
    1のトランジスタのゲートがその対の第2のトランジス
    タのソースに接続され、 前記トランジスタの各対のうちの第2のトランジスタの
    ゲートがその対の第1のトランジスタのソースに接続さ
    れている、回路。
JP63284091A 1987-11-13 1988-11-11 Cmos分圧回路 Expired - Fee Related JPH0658614B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US120,422 1987-11-13
US07/120,422 US4847518A (en) 1987-11-13 1987-11-13 CMOS voltage divider circuits

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01199219A true JPH01199219A (ja) 1989-08-10
JPH0658614B2 JPH0658614B2 (ja) 1994-08-03

Family

ID=22390177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63284091A Expired - Fee Related JPH0658614B2 (ja) 1987-11-13 1988-11-11 Cmos分圧回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4847518A (ja)
EP (1) EP0317222B1 (ja)
JP (1) JPH0658614B2 (ja)
CA (1) CA1294335C (ja)
DE (1) DE3884912T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0643953A (ja) * 1992-03-18 1994-02-18 Samsung Electron Co Ltd 基準電圧発生回路

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1274537B (it) 1994-05-20 1997-07-17 Fujitsu Ltd Apparato a circuito elettronico per trasmettere segnali attraverso un bus e dispositivo a semiconduttore per generare una predeterminata tensione stabile
CA2192548C (en) * 1994-06-17 1999-11-02 Mahlon Robert Derolf Method for making spherical adsorbent particles
JP3229809B2 (ja) * 1995-08-31 2001-11-19 三洋電機株式会社 半導体装置
US5923212A (en) * 1997-05-12 1999-07-13 Philips Electronics North America Corporation Bias generator for a low current divider
DE19755130C1 (de) * 1997-12-11 1999-06-02 Siemens Ag Pufferschaltung
DE10014385B4 (de) * 2000-03-23 2005-12-15 Infineon Technologies Ag CMOS-Spannungsteiler
KR100586545B1 (ko) * 2004-02-04 2006-06-07 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 오실레이터용 전원공급회로 및 이를이용한 전압펌핑장치
US7902907B2 (en) * 2007-12-12 2011-03-08 Micron Technology, Inc. Compensation capacitor network for divided diffused resistors for a voltage divider
TW201217934A (en) * 2010-10-29 2012-05-01 Nat Univ Chung Cheng Programmable low dropout linear regulator
US8692608B2 (en) * 2011-09-19 2014-04-08 United Microelectronics Corp. Charge pump system capable of stabilizing an output voltage
US20150249449A1 (en) * 2012-09-27 2015-09-03 QUALCOMM INCORPORATED 5775 Morehouse DriveSan Diego92121-1714 Power switch cell with adaptive body bias
EP2779456B1 (en) * 2013-03-15 2018-08-29 Dialog Semiconductor B.V. Method for reducing overdrive need in mos switching and logic circuit
US9194890B2 (en) * 2013-05-09 2015-11-24 Freescale Semiconductor, Inc. Metal-oxide-semiconductor (MOS) voltage divider with dynamic impedance control
US9768711B2 (en) * 2014-06-13 2017-09-19 Zohaib Hameed RF-DC power converter
US11953927B2 (en) * 2021-04-22 2024-04-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Bias generating devices and methods for generating bias

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3603811A (en) * 1969-12-09 1971-09-07 American Optical Corp Two-terminal bipolar self-powered low current limiter
US3831041A (en) * 1973-05-03 1974-08-20 Bell Telephone Labor Inc Compensating circuit for semiconductive apparatus
GB2034937B (en) * 1978-11-14 1983-01-06 Philips Electronic Associated Regulated power supply
JPS57157315A (en) * 1981-03-24 1982-09-28 Nec Corp Intermediate voltage generating circuit
DE3138558A1 (de) * 1981-09-28 1983-04-07 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung zur erzeugung eines von schwankungen einer versorgungsgleichspannung freien gleichspannungspegels
US4663584B1 (en) * 1985-06-10 1996-05-21 Toshiba Kk Intermediate potential generation circuit
US4788455A (en) * 1985-08-09 1988-11-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha CMOS reference voltage generator employing separate reference circuits for each output transistor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0643953A (ja) * 1992-03-18 1994-02-18 Samsung Electron Co Ltd 基準電圧発生回路

Also Published As

Publication number Publication date
US4847518A (en) 1989-07-11
EP0317222A2 (en) 1989-05-24
CA1294335C (en) 1992-01-14
DE3884912D1 (de) 1993-11-18
EP0317222B1 (en) 1993-10-13
DE3884912T2 (de) 1994-05-05
EP0317222A3 (en) 1990-12-27
JPH0658614B2 (ja) 1994-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4139880A (en) CMOS polarity reversal circuit
US4300061A (en) CMOS Voltage regulator circuit
JPH01199219A (ja) Cmos分圧回路
EP0561469A2 (en) Enhancement-depletion mode cascode current mirror
US5434534A (en) CMOS voltage reference circuit
KR100243850B1 (ko) 비휘발성 메모리 집적 회로의 고전압 스위칭용고전압 레벨 시프터
JPH08335122A (ja) 基準電圧用半導体装置
US4006365A (en) Exclusive or integrated logic circuits using complementary MOSFET technology
JPS6239446B2 (ja)
JP2753266B2 (ja) 半導体回路
US5923212A (en) Bias generator for a low current divider
KR970013701A (ko) 버스홀드회로
JP3314411B2 (ja) Mosfet定電流源発生回路
JPH0794988A (ja) Mos型半導体クランプ回路
KR0142001B1 (ko) 반도체 집적회로 장치
Meyer et al. Integrable high voltage CMOS: Devices, process application
US4947056A (en) MOSFET for producing a constant voltage
JPH03132115A (ja) 半導体集積回路
JPH08340246A (ja) リーク電流補償回路
US6492687B2 (en) Merged semiconductor device and method
JPS6245203A (ja) Mos増幅出力回路
JPH1126694A (ja) リーク電流補償回路
JPH0575205B2 (ja)
JPH06196993A (ja) Mos型半導体集積回路
JPH04132748U (ja) 出力バツフア回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees