JPH01184953A - 混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ - Google Patents

混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ

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JPH01184953A
JPH01184953A JP63010145A JP1014588A JPH01184953A JP H01184953 A JPH01184953 A JP H01184953A JP 63010145 A JP63010145 A JP 63010145A JP 1014588 A JP1014588 A JP 1014588A JP H01184953 A JPH01184953 A JP H01184953A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
film
sensor element
layer
parts
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Pending
Application number
JP63010145A
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English (en)
Inventor
Yuji Kajiwara
梶原 勇次
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は原稿からの反射光を透明基板の裏面側から受光
する大面積の密着読取り用光電変換素子アレイに好適の
混成集積化光センサ用光電変換素子アレイに関する。
[従来の技術] 従来、ファクシミリ等の画像読取り部を構成する光電変
換手段としては、半導体集積化回路技術により制作した
MOS又はCOD等の1次元センサが一般的に使用され
ている。しかしながら、これらのセンサは結晶シリコン
(Si)を使用しているので、制作し得る結晶Si基板
の大きさに制約があるため、センサの長尺化が困難であ
る。従って、読み取り可能の原稿幅を拡大させようとす
ると、光電変換素子の密度を高くする必要があり、製造
コストが高くなると共に、性能上も悪影響を及ぼすこと
になる。また、原稿からの画像光は、縮小結像させてセ
ンサ素子部に受光させるので、原稿とセンサとの間に縮
小導光系を配置する必要がある。また、この光路を確保
するためには、装置内に一定容積の空間を設ける必要が
あるため、装置の小型化上不利であると共に、光路性能
を維持するために微妙な調整が必要である。
このことから、近時、アモルファスシリコン(以下、a
−3iという)を使用した光導電型フォトセンサが提案
されている。このフォトセンサは透明ガラス基板の表面
にプラズマCVD法によってa−3iの薄膜半導体層を
形成することにより構成される。このような構成により
、大面積及び長尺のフォトセンサアレイを容易に得るこ
とができる。
第3図は光導電型密着センサの概要を示す断面図である
[昭和61年10月23日テレビジョン学会技術研究会
(ED984)報告]。この密着センサは、透明ガラス
基板31上にa−3Lの光電変換膜32を形成し、この
光電変換膜32上に共通電極及び個別電極からなる電極
層33を形成したものである。a−3iの光電変換膜3
2に画像光1が入射すると、この光電変換膜32が導電
性に変化し、電極層33の共通電極及び個別電極間に電
流が流れる。これにより、入射光が電気信号に変換され
る。このような密着センサを使用することにより、読取
り装置の小型化及び低価格化が可能となる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来の密着型フォトセンサにお
いては、a  Sl光電変換膜32の厚さが数1000
人と比較的薄いため、基板31の下方から入射した画像
光1の一部はセンサ素子部を構成する電極層33の共通
電極及び個別電極間のギャップに整合する領域の光電変
換膜32で吸収されずに透過してしまい、光電変換効率
か低いという問題点を有する。また、受光する画像光1
の光吸収特性を上げるためにはa−8i光電変換膜32
の厚さを増せば良いが、そうすると成膜時間が増加する
という製造上の不利がある。また、a−8i光電変換膜
32・を厚くしても、この膜32における最も光感度が
高い部分は電極層33の近傍の部分であるため、入射光
がa−3i光電変換膜32の上層の電極層33の近傍に
到達する迄に減衰してしまい、光電変換膜32を厚くし
ても、光電変換効率が向上せず、極端な場合には光電変
換効率が低下して逆効果になる虞れがある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
アモルファスシリコン膜等の光電変換膜を必要以上に厚
くすることなく画像光を有効に受光することができると
共に、雑音発生等の不都合を招来することがなく優れた
光電変換特性が得られる混成集積化光センサ用光電変換
素子アレイを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は係る混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ
は、絶縁性透明基板と、相互間にギャップをおいて配置
された共通電極及び個別電極を有するセンサ素子部と、
前記透明基板とセンサ素子部との間に配設された光電変
換膜と、前記センナ素子部上に形成された絶縁層と、前
記センサ素子部の直上域の前記絶縁層上に1又は2以上
のセンサ素子部毎に相互に分離して形成された光反射層
と、を有することを特徴とする。
[作用] 本発明によれば、センサ素子部の直上域の絶縁層上に設
けた光反射層によって、光電変換膜を通過した画像光は
反射され、再び光電変換膜に入射する。従って、画像光
がセンサ素子部に整合する領域の光電変換膜に高効率で
導光され、光電変換効率が向上する。更に、この光反射
層は各素子毎又はブロック毎に電気的に分離されている
ために、対接地導体との間の浮遊容量の増加が極めて少
なく、雑音発生が少ない光電変換素子アレイが得られる
[実施例] 以下、本発明の実施例について添付の図面を参照して詳
細に説明する。
第1図(a)、(b)は、夫々本発明の第1の実施例に
係る光電変換素子アレイを示す断面図及び平面図である
透明ガラス基板11上にアモルファスシリコンナイトラ
イド(以下、aSiNxという)膜12がプラズマCV
D法により約1000人の厚さで形成されており、この
aSiNx膜12上には不純物を混入させない真性アモ
ルファスシリコン(以下、1−a−3iという)からな
る光電変換膜13が約5000人の厚さで形成されてい
る。
そして、この光電変換膜13上には、n+アモルファス
シリコン(n”−a−3i)からなる高ド−ブオーミッ
ク層14が約1000人の厚さで形成されている。
オーミック層14上には、クロム(Cr)層を約100
0人の厚さで成膜し、このCr層をエツチングによりパ
ターニングすることによって、個別電極及び共通電極を
有するセンサ素子部1oと、このセンサ素子部10から
の引出しリードとからなる第1導体層15が形成されて
いる。
更に、これらの第1導体層15の上には光透過性の感光
性ポリイミド層16が塗布され、ポリイミド層16上に
は1000人のCr層と3000人のAu層との積層体
からなる第2導体層17が配線層として形成されている
。なお、ポリイミド層16には、第1導体115と第2
導体層17とを接続するためのホール19が設けられて
おり、第2導体層17は、このホール19内に埋め込ま
れて第1導体層15に電気的に接続されている。
センサ素子部10の直上域のポリイミド層16上には各
センサ素子部10毎に分離独立して反射膜18が形成さ
れている。この反射膜18は配線層の第2導体層17の
形成と同時に形成される。
このように構成される光電変換素子アレイにおいては、
基板11の下面から受光した画像光1はセンサ素子部1
0の光電変換膜13にて吸収され、この光電変換膜13
にフォトキャリアが発生する。
一方、この光電変換膜13に吸収されずに透過した光は
分離反射膜18にて反射して再びセンサ素子部10に入
射する。これにより一旦透過してしまった光もセンサ素
子部10の光電変換膜13に吸収されてキャリアの発生
に寄与する。
従って、この分離反射膜18により、光電変換特性が向
上し、例えば、1−a−Si光電変換膜13の膜厚が薄
くても、十分に高い光電変換効率が得られ、また、光電
変換膜13の膜厚に多少バラツキがあっても、各センサ
素子部1oについて均一な素子特性が得られる。
更に、この反射膜18は他の反射膜から電気的に分離さ
れ、個々に独立しているために、対接地導体との間の静
電容量と、センサ素子部に並列に入る浮遊容量とは極め
て小さい。従って、浮遊容量に蓄積される不要な電荷に
よって雑音が発生することはなく、大きなSN比を得る
ことができる。
第2図は本発明の第2の実施例を示す断面図である。な
お、第2図においては、透明ガラス基板21上に形成さ
れた光電変換膜23、第1導体層25、ポリイミド膜2
6及び分離反射板28のみが図示されている。本実施例
は、これらの基板21、光電変換膜23、第1導体N2
5、ポリイミド膜26及び配線層の第2導体層(図示せ
ず)等の構成は第1の実施例と同様である。
但し、分離反射M28は第1導体層25の個別電極と共
通電極とが所定の間隙をおいて対向しているセンサ素子
部のギャップ20、つまり光電変換膜23を透過した画
像光1が通過するギャップ20の直上域にのみ形成され
ている。通常、ギャップ20は約10μmの幅に高精度
でパターン化されているので、この反射膜28の形成に
は同様の高精度が必要になるが、分離反射膜28と第1
導体N25とがポリイミド層26を介して上下に重なる
部分が殆ど無い。このため、このような構成の光電変換
素子アレイは、第1の実施例に示した効果が得られるの
に加え、万一絶縁性のポリイミド層26に欠陥が存在し
ても、第1導体層25の個別電極と共通電極とが分離反
射膜28を介して短絡事故を起こしてしまうことはない
これにより、デバイス基板の歩留りが著しく向上する他
、浮遊容量も減少するので、光反射による光電変換効率
の向上効果を劣化させることなく雑音だけを抑制するこ
とができ、SN比を一層向上させることができる。
なお、上記各実施例においては、分離反射膜18.28
を各センサ素子部毎に対応させて夫々独立して設けたが
、これに限ることなく、例えば、ブロック毎に分離させ
るが又は2素子毎若しくは3素子毎にまとめて設けても
よく、いずれも上記実施例と同様の効果を奏する。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、センサ素子部上に
反射膜を設けたから、光電変換効率が向上し、高感度の
光電変換素子アレイが得られる。
しかも、この反射膜は1又は2以上のセンサ素子部毎に
分離独立しているから、この反射膜を設けても浮遊容量
が増大することはない。このため、高SN比の光電変換
素子アレイが得られる。
従って、本発明を、例えば、ファクシミリの読取りデバ
イス等に適用すれば、原稿に忠実な画信号による高品質
の情報伝達が可能になるという多大の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は夫々本発明の第1の実施例に係
る光電変換素子アレイを示す断面図及び平面図、第2図
は本発明の第2の実施例を示す断面図、第3図は従来の
光電変換素子アレイを示す断面図である。 1;画像光、10;センサ素子部、11,21゜31;
基板、12;a−3iNx膜、13.2B。 32;光電変換膜、14;オーミック層、15゜25;
第1導体層、16,26;ポリイミド層、17;第2導
体層、18,28;分離反射膜、33;電極層 第1図 第3図 1:却東九 33;覧詩4

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁性透明基板と、相互間にギャップをおいて配
    置された共通電極及び個別電極を有するセンサ素子部と
    、前記透明基板とセンサ素子部との間に配設された光電
    変換膜と、前記センサ素子部上に形成された絶縁層と、
    前記センサ素子部の直上域の前記絶縁層上に1又は2以
    上のセンサ素子部毎に相互に分離して形成された光反射
    層と、を有することを特徴とする混成集積化光センサ用
    光電変換素子アレイ。
JP63010145A 1988-01-20 1988-01-20 混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ Pending JPH01184953A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63010145A JPH01184953A (ja) 1988-01-20 1988-01-20 混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ

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JP63010145A JPH01184953A (ja) 1988-01-20 1988-01-20 混成集積化光センサ用光電変換素子アレイ

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6317554A (ja) * 1986-07-10 1988-01-25 Toshiba Corp 光導電装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6317554A (ja) * 1986-07-10 1988-01-25 Toshiba Corp 光導電装置

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