JP7348914B2 - 枢動体を備え、枢動体上のアクセサリーに電力を提供することができる硬度試験機 - Google Patents

枢動体を備え、枢動体上のアクセサリーに電力を提供することができる硬度試験機 Download PDF

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Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、「Hardness Testers Having a Pivoting Body and Capable of Providing Power to Accessories on the Pivoting Body」と題する2018年4月23日に出願された米国仮特許出願第62/661,615号の優先権を主張する。米国仮特許出願第62/661,615号の全体は、引用することにより本明細書の一部をなす。
この開示は、包括的には硬度試験に関し、より詳細には、枢動体を備え、枢動体のアクセサリーに電力を提供することができる硬度試験機に関する。
従来の硬度試験機は、所与のタスクを実行するために適所に動かすことができる、選択可能な対物レンズ又は圧子を備える。或る特定のアクセサリー及び/又は他のコンポーネントは、電力を必要とする場合がある。そのようなアクセサリーに電力を供給する従来の方法は、対物レンズ又はアクセサリーを電源に配線することを伴い、これは、達成することができる対物レンズ又は圧子の移動を制限し、配線は、大幅に移動した後、摩耗又は切断する可能性がある。いくつかの従来の硬度試験機は、移動しやすいアクセサリーとの電気接触を維持するために、スリップリングを用いる。しかしながら、スリップリングは、高価で、急速に摩耗しやすく、電力及び/又はデータ転送の信頼性を低減させる。
特許請求の範囲においてより完全に記載するように、実質的に図の少なくとも1つにより例示しかつ図の少なくとも1つに関連して記載するように、枢動体を備え、枢動体上のアクセサリーに電力を提供することができる硬度試験機を開示する。
本開示の態様による、硬度試験機に関する例示のキャリッジ、例示のキャリッジマウント及び例示の電気接点ブロックの正面図である。 図1のキャリッジ、キャリッジマウント及び電気接点ブロックの斜視図である。 本開示の態様による、図1の電気接点ブロックの例示の実施態様の正面図である。 図3の電気接点ブロックの斜視図である。 図3の電気接点ブロックの断面側面図である。 本開示の態様による、図3の電気接点ブロックと電気接触するように位置決めされたレーザーを含む例示の対物レンズの斜視図である。 図6の例示の対物レンズ及び電気接点ブロックの平面図である。 電気接点ブロックと接触する接点端子を含む、図6の例示の対物レンズの斜視図である。 図6の対物レンズの断面図である。 本開示の態様による、図3の電気接点ブロックと接触する接点端子を含む、例示のアクセサリーの斜視図である。 図6の対物レンズの断面平面図である。 アクセサリーが、対応する電気端子ブロックを介して電力を受信し、及び/又はデータを交換するのに用いることができる電気端子の例示の配置を示す図である。 アクセサリーが、対応する電気端子ブロックを介して電力を受信し、及び/又はデータを交換するのに用いることができる電気端子の例示の配置を示す図である。 アクセサリーが、対応する電気端子ブロックを介して電力を受信し、及び/又はデータを交換するのに用いることができる電気端子の例示の配置を示す図である。 アクセサリーが、対応する電気端子ブロックを介して電力を受信し、及び/又はデータを交換するのに用いることができる電気端子の例示の配置を示す図である。
図面は、必ずしも正確な縮尺ではない。適切な場合は、同様の又は同一の参照符号を使用して、同様の又は同一の構成要素を指す。
開示されている例示の硬度試験機は、複数の圧子、対物レンズ及び/又はアクセサリーを保持し、複数の圧子及び対物レンズのうちの1つを動作させる位置に、複数の圧子、対物レンズのうちの1つ及び/又はアクセサリーを選択的に配置させるために旋回する旋回キャリッジを備える。例示の硬度試験機は、旋回キャリッジを支持するキャリッジマウントを更に備え、旋回キャリッジは、キャリッジマウントに対して旋回する。硬度試験機は、キャリッジマウントに取り付けられる電気接点ブロックも備える。電気接点ブロックは、少なくとも1つの対物レンズ又は少なくとも1つのアクセサリーが動作位置に位置決めされると、対物レンズに結合される少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックと電気接触する複数の電気接点を含む。
開示されている例は、融通性があり信頼性のある電気接点を設けることによって、硬度試験機の保守性を改善し、サイズを低減させ、及び/又は複雑性を低減させる。開示されている例示の硬度試験機によって、圧子、対物レンズ、アクセサリー及び/又は他のデバイスの組み合わせを支持するキャリッジの連続回転を可能にしながら、動作中のアクセサリー、ロードセル及び/又は他のデバイスに電力及び/又はデータ通信を提供することができる。開示されている例示の硬度試験機は、電力及び/又はデータ接続部を配線することなく(すなわち、電力又はデータのソースと受信機との間の連続した配線なしで)、電力及び/又はデータ接続を可能にする。
本明細書で用いられる場合、「アクセサリー」という用語は、単独で又は別のデバイスと併せて、硬度試験装置上で用いられる電気作動式の任意のコンポーネントを指している。アクサセリーは制御することもできるし(例えば、閉ループ制御又は開ループ制御)、制御されないものとすることもできる。電気接点ブロックを用いて電力を受信し、及び/又はデータを交換することができる例示のアクセサリーは、LEDベース照明器、アライメントレーザー、レーザー照明器、一般照明器、ロードセル、圧電ドライブ、モーター(例えば、DCモーター)及び/又はインクリメンタル測定システム(incremental measurement systems)を含むことができる。
開示される例示の硬度試験装置は、回転キャリッジであって、圧子又は対物レンズの少なくとも1つ及び少なくとも1つのアクセサリーを保持し、少なくとも1つの圧子若しくは対物レンズ又は少なくとも1つのアクセサリーを動作させる動作位置に、少なくとも1つの圧子若しくは対物レンズ又は少なくとも1つのアクセサリーを選択的に配置するように回転する回転キャリッジと、回転キャリッジを支持するキャリッジマウントであって、該回転キャリッジは、該キャリッジマウントに対して回転する、キャリッジマウントと、キャリッジマウントに対して静止して組み付けられる電気接点ブロックであって、該電気接点ブロックは、少なくとも1つのアクセサリーが動作位置に位置決めされると、回転キャリッジに結合される少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックに電気接触する複数の電気接点を含む、電気接点ブロックとを備える。
幾つかの例示の硬度試験装置において、複数の電気接点は、複数の導電性ボールスプリングプランジャーを含む。幾つかの例では、複数の電気接点は、それぞれのナットを介して、電気接点ブロックに結合される。幾つかの例では、複数の電気接点は、ボールスプリングプランジャーに結合される端子コネクターを含む。
幾つかの例示の硬度試験装置において、複数の電気接点のうちの少なくとも2つは、電気接点ブロックの表面上でオフセットされる。幾つかの例では、複数の電気接点のうちの少なくとも2つの電気接点のうちの第1の電気接点は、第1の電圧を有する第1の電圧源に結合され、複数の電気接点のうちの第2の電気接点は、第2の電圧を有する第2の電圧源に結合される。幾つかの例では、少なくとも1つのアクセサリーは、回転キャリッジ上の第1の位置に結合される第1のアクセサリーであって、該第1のアクセサリーは、オフセットした電気接点のうちの少なくとも第1の電気接点を含む、電気接点ブロック上の複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる、少なくとも2つの電気接点を有する、第1のアクセサリーと、回転キャリッジの第2の位置に結合される第2のアクセサリーであって、該第2のアクセサリーは、オフセットした電気接点のうちの少なくとも第2の電気接点を含む、電気接点ブロック上の複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる、少なくとも2つの電気接点を有する、第2のアクセサリーとを含む。
幾つかの例では、少なくとも1つのアクセサリーは、LED照明器、レーザー、一般照明、ロードセル、圧電ドライブ、モーター又はインクリメンタル測定システムの少なくとも1つを含む。幾つかの例では、回転キャリッジは、圧子が動作位置にある場合、回転キャリッジに結合される少なくとも1つの圧子を用いて硬度試験を実行する。幾つかの例では、動作位置は、機械テーブルと、回転キャリッジの回転軸との間に位置している。
幾つかの例示の硬度試験装置は、回転キャリッジの位置を表す信号を出力するフィードバック回路部と、信号に基づいて、圧子、対物レンズ又は少なくとも1つのアクセサリーの位置を求める制御回路部とを更に備える。幾つかの例では、少なくとも1つの圧子若しくは対物レンズの少なくとも1つ又は少なくとも1つのアクセサリーは、回転キャリッジから取り外し可能である。
幾つかの例では、回転キャリッジは、キャリッジマウントによる、回転キャリッジの変位の方向に対して垂直な回転軸の周りを回転する。幾つかの例示の硬度試験装置は、制御回路部を更に備え、電気接点ブロックの複数の電気接点のうちの少なくとも2つの電気接点は、少なくとも1つのアクセサリーから制御回路部にデータ又はパルス幅変調(PWM)信号の少なくとも1つを送信する。幾つかの例では、電気接点ブロックは、キャリッジマウントに対して静止し、回転キャリッジの回転によって、複数の圧子及び対物レンズが、電気接点ブロックに対して動き、回転キャリッジの回転によって、少なくとも1つのアクセサリーが動いて電気接点ブロックの電気接点に対して接触状態及び非接触状態になるようになっている。
図1は、硬度試験機100の例示のキャリッジ102、例示のキャリッジマウント104及び例示の電気接点ブロック106の正面図である。図2は、図1のキャリッジ102、キャリッジマウント104及び電気接点ブロック106の斜視図である。キャリッジ102、キャリッジマウント104及び電気接点ブロック106を用いて、交換可能な圧子、レンズ、照明器及び/又は他のタイプの対物レンズ及び/又はアクセサリーを保持することができる。
キャリッジ102は、キャリッジ102の変位の方向110に対して横断するキャリッジ回転軸108の周りを回転する(又は旋回若しくは枢動する)。例示のキャリッジ102は、圧子、レンズ及び/又は他の対物レンズ及び/又はアクセサリーを含む多数のホルダーを収容することができ、複数の回転位置における厳密で再現可能な試験結果を可能にする。
硬度試験機100は、キャリッジ102が1または複数の垂直キャリッジマウント104上に保持される垂直試験機として構築される。キャリッジ102は、試験される試料を受ける機械テーブルの真上に位置することができる。例示の硬度試験機100は、ブリネル、ビッカース、ロックウェル、スーパーロックウェル、ヌープ、ビッカース深度測定(Vickers depth measurement)、ボール圧硬度(ball pressure hardness)及び/又はマルテンス硬度試験法による硬度試験を可能にする。キャリッジ102は、キャリッジマウント104によって垂直に導かれ、試験方向において(例えば、垂直に)それぞれの試験荷重で作用を受けることができる。
キャリッジ102は、1または複数の対物レンズ112、圧子114及び/又はアクセサリーの支持部材として役割を果たす。いくつかの例では、キャリッジ102は、キャリッジ102の周りの異なる周縁位置においてホルダーを含む。対物レンズ112、圧子114及び/又はアクセサリーは、ホルダーに交換可能に取り付けることができる。さらに又は代替的に、対物レンズ112、圧子114及び/又はアクセサリーは、ホルダーを介して、キャリッジ102に取り外し可能に又は恒久的に取り付けることができる。
キャリッジ102は、ステップモーター(stepper motor)等のモーターによって回転軸108の周りを回転することができる。モーターは、回転エンコーダーを備えることができ、マイクロコントローラー又は他の制御回路部を介して制御可能である。キャリッジ102は、両側にあるキャリッジマウント104の間に配置され、キャリッジマウント104における、回転軸108を中心とする軸受を介して組み付けられる。いくつかの他の例では、キャリッジ102は、1または複数の軸受を介して単一のキャリッジマウント104に組み付けられる。モーターを、キャリッジマウント104のうちの1つに組み付けて、偏向ディスク及び駆動ベルト等によって、キャリッジ102を枢動することができる。
キャリッジ102及び/又はキャリッジマウント104は、試料上での押し込みを実行する等のために、変位の方向110において(例えば、垂直に)圧子114を駆動するために、垂直方向において作用を受けることができる。例えば、キャリッジマウント104(及びしたがって、キャリッジ102)は、変位の方向110と同じである、スピンドルの軸方向において回転駆動スピンドルによって駆動される。例示のスピンドルは、ボールねじを含むことができる。キャリッジマウント104及びキャリッジ102の変位を制御及びモニタリングすることによって、試験荷重を(例えば、制御回路部によって)制御することができる。制御回路部は、キャリッジ102及び/又は圧子114の厳密な位置合わせをモニタリングすることができ、この位置合わせは、キャリッジ102の(例えば、モーターを介した)回転動作、及び、回転エンコーダーを介して圧子114の位置をモニタリングすること、モーターのステップカウントをモニタリングすること、及び/又は他の任意のインクリメンタルモニタリングシステム、センサー(例えば、ホール効果センサー)、及び/又はフィードバック回路部によって試験位置に位置決めされている。
所望の試験位置からキャリッジ102及び/又は圧子114の逸脱を検出及び/又は制御するために、キャリッジマウント104は、ロードセルを含むことができる。ロードセルは、検出のための歪みゲージを含むことができる。キャリッジ102のモーターが、試験のために正しい位置及び/又は向きでキャリッジ102及び/又は圧子114を維持するためにロードセルからの出力信号に応じて制御されるように、モニタリングデバイス(例えば、制御回路部)は、これらのロードセルから出力信号を受信する。ロードセルは、硬度試験誤差を低減又は除去し、深度測定及び光学測定法の双方を含む、硬度試験規格への適合性を向上させる(例えば、確実にする)。
キャリッジ102は、他の対物レンズ及び/又はアクセサリー、例えば、キャリッジ102に取り付けられた光学素子に関連付けられる光源116を含むことができる。例えば、光源116は、LED照明及び関連する偏向ミラーを含むことができる。いくつかの例では、光源116は、リングライトであり、この場合、光源116の反射した光線及び/又は物体波(object beam)は、対物レンズの軸に対応する共通軸上にある、半透明ミラーに衝突する。この軸は、キャリッジ102の回転軸108に対してほぼ直角に向いている。光学素子及び光源116は、キャリッジ102の内部において、互いに対して固定して不動に配置される。検査の画像は、半透明ミラー及びカメラレンズ(例えば、光学素子)を介してカメラ(例えば、デジタルイメージセンサー)によって捕捉される。
光源116は、照明を提供するために電源を必要とする。電気接点ブロック106は、電源に対する光源116の接続及び切断を可能にする。特に、例示の光源116は、対物レンズ及び光源116が画像を捕捉するのに用いられる動作位置(例えば、変位の方向に位置合わせされる位置)に、光源116及び対物レンズが(例えば、回転軸108の周りにキャリッジ102を回転させることによって)位置決めされた場合、電気接点ブロック106に接続することができる。キャリッジ102は、動作位置から離れるように光源116を回転させると、光源116と電気接点ブロック106との間の接続は、解除される。
電気接点ブロック106は、キャリッジマウント104のうちの1つに取り付けられ、その結果、電気接点ブロック106は、静止し、キャリッジ102に取り付けられたアクセサリー及び/又は他のコンポーネントは、回転させて電気接点ブロック106に対して接触状態及び非接触状態にすることができる。電気接点ブロック106を用いて、電力及び/又はデータをアクセサリーに転送することができる。電力及び/又はデータ送信のために電気接点ブロック106に接触するアクセサリーは、対応する電気接点ブロックを有する。いくつかの例では、端子1210及び電気接点ブロック106によって、キャリッジ102に取り付けられた対応する圧子に関連付けられた複数の異なるロードセルとの通信を可能にする。
図1の例示の硬度試験機100が変位の方向110に対して横断する回転軸108を含む(例えば、この軸は、水平である)ように記載されるが、他の例では、キャリッジ102は、変位の方向110に対して平行である(例えば、垂直軸)軸及び/又は変位の方向110に対して角度をなす軸(例えば、45度、60度等)の周りを回転するように構成することができる。そのような例において、対物レンズ、圧子、アクセサリー及び/又は他のデバイスは、硬度試験を行うために適切な角度をなしてキャリッジに取り付けられ、電気接点ブロック106は、動作位置においてアクセサリーと電気接触するように、静止表面上に位置決めされる。
図3は、図1の電気接点ブロック106の例示の実施態様の正面図である。図4は、図3の電気接点ブロック106の斜視図である。図5は、図3の電気接点ブロックの断面側面図である。図3に示されるように、電気接点ブロック106は、組み付けブロック308に組み付けられる複数の電気接点302、304、306を含む。組み付けブロック308は、電気接点ブロック106をキャリッジマウント104に取り付ける、すなわち、組み付ける。3つの例示の接点302~306が、図3に示されるが、電気接点ブロック106は、電力及び/又はデータを提供するために、より多い又はより少ない電気接点を含むことができる。
例示の電気接点302~306のそれぞれは、ボールスプリングプランジャー310、ナット312及びリング端子314を含む。ナット312は、リング端子314及びボールスプリングプランジャー310を組み付けブロック308に結合させる。ボールスプリングプランジャー310は、アクセサリーの電気接点ブロックに接触するように付勢される。リング端子314又は他の端子コネクターは、ボールスプリングプランジャー310に電気結合され、所望の電力及び/又はデータ接続部に結合することができる。図5に示されるように、ボールスプリングプランジャー310のそれぞれにおけるばね502は、十分な電気接触を確実にするために、ボール504を接触位置に付勢する。ボールスプリングプランジャー310は、付勢力を増減させるように調整することができる。
いくつかの例では、電気接点302~306は、1または複数のアクセサリーに電力を供給するように提供することができる複数の電圧に対応する。異なるアクセサリーは、電気接点ブロック106上の利用可能な電気接点のうちのいくつか若しくは全てに結合されるか、又は全く結合されない電気接点を含むことができる。例えば、第1の電圧源は、電気接点302、304にわたる第1の電圧を提供するように結合することができ、第2の電圧源は、電気接点302、306にわたる第2の電圧を提供するように結合することができる。第1のアクセサリー(例えば、光源116)が、電気接点302及び304と接触するように2つの端子を含むことができる一方、第2のアクセサリー(例えば、レーザー)は、電気接点302及び306の異なるセットに接触するように2つの端子を含むことができる。
アクセサリーに過度な電圧を印加するのを避けるために、電気接点302~306のうちの2つ以上を、オフセットすることができる。例えば、電気接点306は、アクセサリーの移動方向318に対して横断する方向316において、電気接点302~306の双方からオフセットされる。
電気接点302~306を介して供給される電圧は、(例えば、制御回路部及び/又は電源によって)制御することができる。例えば、1または複数の電圧は、LEDによって出力される照明を制御するために増減させることができる。電圧は、パルス幅変調(PWM)された信号を介して及び/又は出力電圧(例えば、DC電圧レベル、AC電圧振幅等)を直接制御することによって、制御することができる。
図6は、図3の電気接点ブロック106と電気接触するように位置決めされたレーザー602を含む、例示のアクセサリー600の斜視図である。図7は、図6の例示のアクセサリー600及び電気接点ブロックの平面図である。図8は、電気接点ブロック106に接触する接点端子604、606を含む、図6の例示のアクセサリー600の斜視図である。図9は、図6のアクセサリー600の断面図である。電気接点ブロック106は、アクセサリー600がキャリッジ120の指定の位置に位置決めされると、レーザー602を含む、アクセサリー600に電力を提供することができる。
電気接点ブロック106に接触するために、例示のアクセサリー600は、端子604、606を含み、端子604、606は、電気接点ブロック106の電気接点304、306に接触するように位置合わせされる。アクセサリー600は、キャリッジ102の回転によって適所に動かされる場合、端子604、606は、電気接点304、306に位置合わせするように動かされる。電気接点304、306のボールスプリングプランジャー310は、アクセサリー600に向かって付勢される。キャリッジ102は、アクセサリー600が動作位置にあるように回転されると、ボールスプリングプランジャー310は、端子604、606に接触するように付勢される。
さらに又は代替的に、硬度試験機100は、例えば、電気接点に結合されるアクセサリーのタイプに基づいて、電気接点に提供される電力及び/又はデータを構成する回路部を含むことができる。アクセサリーは、その場合、同じ電気接点302~306に接続するために、端子604、606の実質的に同一の配置を有することができる。回路部は、例えば、第1のアクセサリーに関する第1の電圧を提供するために、電気接点302、304を第1の電圧源に接続する(又は、第1の電圧を提供するために電圧源を制御する)ことができる。回路部は、次に、第2のアクセサリーに関する第2の電圧を提供するために、電気接点302、304を第2の電圧源に接続する(又は電圧源を制御する)ことができる。
図10は、図3の電気接点ブロック106に接触する接点端子1002、1004を含む、図1の例示の光源アクセサリー116の斜視図である。図11は、図10の光源アクセサリー116の断面平面図である。端子604、606と同様の方法で、端子1002、1004は、光源アクセサリー116が、(例えば、キャリッジ102の回転によって)動作位置にある場合、電気接点302、304に接触するように位置合わせされる。例示の光源アクセサリー116は、電気接点302、304を介して電力を受信することができ、電気接点302、304は、光源アクセサリー116が電気接触する、電気接点304、306の組み合わせとは異なる電圧を提供することができる。
図12A~図12Dは、アクセサリーのために用いることができる電気端子1210の異なる配置を有する、例示の電気端子ブロック1202~1208を示している。例示の電気端子1210は、対応する電気端子ブロック(例えば、図1の電気接点ブロック106)を介して、電力を受信し及び/又はデータを交換するために、電気接点302~306と同様又は同一の対応する電気接点に接触することができる。
いくつかの例では、端子1210の組み合わせは、直列接続、並列接続、バスベース接続(例えば、制御エリアネットワーク(CAN)バス、PROFIBUS等)、差動シグナリング、パルス幅変調及び/又は任意の他のアナログ又はデジタルシグナリングを用いて、データを交換する。上述したように、2つ以上の端子1210の複数の組み合わせは、電気接点ブロック106上の対応する電気接点に接触するように配置されている電気端子1210を有するアクセサリーがアクセスすることができる、異なる供給電圧を提供することができる。
上述した例は、アクセサリーを参照して記載されるが、開示されている例は、将来、電力及び/又はデータ転送から利益を得ることができる、キャリッジ102に取り付けることができる対物レンズ、圧子及び/又は他のデバイスに適用することもできる。
本方法及び/又はシステムを、或る特定の実施態様を参照して記載してきたが、当業者であれば、本方法及び/又はシステムの範囲から逸脱することなく、種々の変更を行うことができること及び均等物に置き換えることができることを理解するであろう。加えて、本開示の範囲から逸脱することなく、本開示の教示に対して特定の状況又は材料を適合させるように多くの改変を行うことができる。例えば、開示した例のブロック及び/又は構成要素を、組み合わせ、分割し、再配置し、及び/又は他の方法で変更することができる。したがって、本方法及び/又はシステムは、開示されている特定の実施態様に限定されない。代わりに、本方法及び/又はシステムは、字義どおりにでも均等論のもとにおいても、添付の特許請求の範囲内に入る全ての実施態様を含む。
なお、本開示の態様には以下のものも含まれる。
〔態様1〕
硬度試験装置において、
圧子又は対物レンズの少なくとも一方及び少なくとも1つのアクセサリーを保持し、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを動作させる動作位置に、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを選択的に配置するように回転する回転キャリッジと、
前記回転キャリッジを支持するキャリッジマウントであって、該回転キャリッジは、該キャリッジマウントに対して回転するキャリッジマウントと、
前記キャリッジマウントに対して静止して組み付けられる電気接点ブロックであって、該電気接点ブロックは、前記少なくとも1つのアクセサリーが前記動作位置に位置決めされると、前記回転キャリッジに結合される前記少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックに電気接触する複数の電気接点を含む電気接点ブロックとを具備する硬度試験装置。
〔態様2〕
前記複数の電気接点は、複数の導電性ボールスプリングプランジャーを含む態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様3〕
前記複数の電気接点は、それぞれのナットを介して、前記電気接点ブロックに結合される態様2に記載の硬度試験装置。
〔態様4〕
前記複数の電気接点は、前記ボールスプリングプランジャーに結合される端子コネクターを含む態様3に記載の硬度試験装置。
〔態様5〕
前記複数の電気接点のうちの少なくとも2つは、前記電気接点ブロックの表面上でオフセットされる態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様6〕
前記複数の電気接点のうちの前記少なくとも2つの電気接点のうちの第1の電気接点は、第1の電圧を有する第1の電圧源に結合され、前記複数の電気接点のうちの第2の電気接点は、第2の電圧を有する第2の電圧源に結合される態様5に記載の硬度試験装置。
〔態様7〕
前記少なくとも1つのアクセサリーは、
前記回転キャリッジ上の第1の位置に結合される第1のアクセサリーであって、該第1のアクセサリーは、前記オフセットした電気接点のうちの少なくとも第1の電気接点を含む、前記電気接点ブロック上の前記複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる少なくとも2つの電気接点を含む第1のアクセサリーと、
前記回転キャリッジ上の第2の位置に結合される第2のアクセサリーであって、該第2のアクセサリーは、前記オフセットした電気接点のうちの少なくとも第2の電気接点を含む、前記電気接点ブロック上の前記複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる少なくとも2つの電気接点を含む第2のアクセサリーとを含む態様5に記載の硬度試験装置。
〔態様8〕
前記少なくとも1つのアクセサリーは、LED照明器、レーザー、一般照明、ロードセル、圧電ドライブ、モーター又はインクリメンタル測定システムの少なくとも1つを含む態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様9〕
前記回転キャリッジは、前記圧子が前記動作位置にある場合、前記回転キャリッジに結合される少なくとも1つの圧子を用いて硬度試験を実行する態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様10〕
前記動作位置は、機械テーブルと、前記回転キャリッジの回転軸との間に位置している態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様11〕
前記回転キャリッジの位置を表す信号を出力するフィードバック回路部と、
前記信号に基づいて、前記圧子、前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーの位置を求める制御回路部と、
を更に備える態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様12〕
前記少なくとも1つの圧子若しくは対物レンズの少なくとも一方又は前記少なくとも1つのアクセサリーは、前記回転キャリッジから取り外し可能である態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様13〕
前記回転キャリッジは、前記キャリッジマウントによる、前記回転キャリッジの変位の方向に対して垂直な回転軸の周りを回転する態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様14〕
前記硬度試験装置は制御回路部を更に備え、前記電気接点ブロックの前記複数の電気接点のうちの少なくとも2つの電気接点は、前記少なくとも1つのアクセサリーから前記制御回路部にデータ又はパルス幅変調(PWM)信号の少なくとも一方を送信する態様1に記載の硬度試験装置。
〔態様15〕
前記電気接点ブロックは、前記キャリッジマウントに対して静止し、前記回転キャリッジの回転によって、前記複数の圧子及び対物レンズが、前記電気接点ブロックに対して動き、前記回転キャリッジの回転によって、前記少なくとも1つのアクセサリーが動いて前記電気接点ブロックの電気接点に対して接触状態及び非接触状態になるようになっている態様1に記載の硬度試験装置。
100 硬度試験機
102 キャリッジ
104 キャリッジマウント
106 電気接点ブロック
108 キャリッジ回転軸
110 方向
112 対物レンズ
114 圧子
116 光源
120 キャリッジ
302 電気接点
303 電気接点
304 電気接点
305 電気接点
306 電気接点
308 ブロック
310 ボールスプリングプランジャー
312 ナット
314 リング端子
316 方向
318 移動方向
504 ボール
600 アクセサリー
602 レーザー
604 接点端子
606 接点端子
1002 接点端子
1004 接点端子
1202 電気端子ブロック
1203 電気端子ブロック
1204 電気端子ブロック
1205 電気端子ブロック
1206 電気端子ブロック
1207 電気端子ブロック
1208 電気端子ブロック
1210 電気端子

Claims (12)

  1. 硬度試験装置において、
    圧子又は対物レンズの少なくとも一方及び少なくとも1つのアクセサリーを保持し、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを動作させる動作位置に、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを選択的に配置するように回転する回転キャリッジと、
    前記回転キャリッジを支持するキャリッジマウントであって、該回転キャリッジは、該キャリッジマウントに対して回転するキャリッジマウントと、
    前記キャリッジマウントに対して静止して組み付けられる電気接点ブロックであって、該電気接点ブロックは、前記少なくとも1つのアクセサリーが前記動作位置に位置決めされると、前記回転キャリッジに結合される前記少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックに電気接触する複数の電気接点を含む電気接点ブロックとを具備し、
    前記複数の電気接点のうちの少なくとも2つは、前記電気接点ブロックの表面上で1又は複数の方向にオフセットされ、
    前記複数の電気接点のうちの前記少なくとも2つの電気接点のうちの第1の電気接点は、第1の電圧を有する第1の電圧源に結合され、前記複数の電気接点のうちの第2の電気接点は、第2の電圧を有する第2の電圧源に結合され、
    前記回転キャリッジの回転によって、前記圧子又は対物レンズの少なくとも一方が前記電気接点ブロックに対して動き、前記回転キャリッジの回転によって、前記電気接点ブロックの電気接点に対して接触状態及び非接触状態になるように、前記少なくとも1つのアクセサリーが動く硬度試験装置。
  2. 前記複数の電気接点は、複数の導電性ボールスプリングプランジャーを含む請求項1に記載の硬度試験装置。
  3. 前記複数の電気接点は、それぞれのナットを介して、前記電気接点ブロックに結合される請求項2に記載の硬度試験装置。
  4. 前記複数の電気接点は、前記ボールスプリングプランジャーに結合される端子コネクターを含む請求項3に記載の硬度試験装置。
  5. 硬度試験装置において、
    圧子又は対物レンズの少なくとも一方及び少なくとも1つのアクセサリーを保持し、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを動作させる動作位置に、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを選択的に配置するように回転する回転キャリッジと、
    前記回転キャリッジを支持するキャリッジマウントであって、該回転キャリッジは、該キャリッジマウントに対して回転するキャリッジマウントと、
    前記キャリッジマウントに対して静止して組み付けられる電気接点ブロックであって、該電気接点ブロックは、前記少なくとも1つのアクセサリーが前記動作位置に位置決めされると、前記回転キャリッジに結合される前記少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックに電気接触する複数の電気接点を含む電気接点ブロックとを具備し、
    前記複数の電気接点のうちの少なくとも2つは、前記電気接点ブロックの表面上で1又は複数の方向にオフセットされ、
    前記複数の電気接点のうちの前記少なくとも2つの電気接点のうちの第1の電気接点は、第1の電圧を有する第1の電圧源に結合され、前記複数の電気接点のうちの第2の電気接点は、第2の電圧を有する第2の電圧源に結合される硬度試験装置。
  6. 硬度試験装置において、
    圧子又は対物レンズの少なくとも一方及び少なくとも1つのアクセサリーを保持し、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを動作させる動作位置に、前記少なくとも1つの圧子若しくは前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーを選択的に配置するように回転する回転キャリッジと、
    前記回転キャリッジを支持するキャリッジマウントであって、該回転キャリッジは、該キャリッジマウントに対して回転するキャリッジマウントと、
    前記キャリッジマウントに対して静止して組み付けられる電気接点ブロックであって、該電気接点ブロックは、前記少なくとも1つのアクセサリーが前記動作位置に位置決めされると、前記回転キャリッジに結合される前記少なくとも1つのアクセサリーの対応する電気接点ブロックに電気接触する複数の電気接点を含む電気接点ブロックとを具備し、
    前記少なくとも1つのアクセサリーは、
    前記回転キャリッジ上の第1の位置に結合される第1のアクセサリーであって、該第1のアクセサリーは、前記オフセットした電気接点のうちの少なくとも第1の電気接点を含む、前記電気接点ブロック上の前記複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる少なくとも2つの電気接点を含む第1のアクセサリーと、
    前記回転キャリッジ上の第2の位置に結合される第2のアクセサリーであって、該第2のアクセサリーは、前記オフセットした電気接点のうちの少なくとも第2の電気接点を含む、前記電気接点ブロック上の前記複数の電気接点のうちの対応する電気接点に接触するように位置決めされる少なくとも2つの電気接点を含む第2のアクセサリーとを含む硬度試験装置。
  7. 前記少なくとも1つのアクセサリーは、LED照明器、レーザー、一般照明、ロードセル、圧電ドライブ、モーター又はインクリメンタル測定システムの少なくとも1つを含む請求項1に記載の硬度試験装置。
  8. 前記回転キャリッジは、前記圧子が前記動作位置にある場合、前記回転キャリッジに結合される少なくとも1つの圧子を用いて硬度試験を実行する請求項1に記載の硬度試験装置。
  9. 前記動作位置は、機械テーブルと、前記回転キャリッジの回転軸との間に位置している請求項1に記載の硬度試験装置。
  10. 前記回転キャリッジの位置を表す信号を出力するフィードバック回路部と、
    前記信号に基づいて、前記圧子、前記対物レンズ又は前記少なくとも1つのアクセサリーの位置を求める制御回路部と、
    を更に備える請求項1に記載の硬度試験装置。
  11. 前記少なくとも1つの圧子若しくは対物レンズの少なくとも一方又は前記少なくとも1つのアクセサリーは、前記回転キャリッジから取り外し可能である請求項1に記載の硬度試験装置。
  12. 前記回転キャリッジは、前記キャリッジマウントによる、前記回転キャリッジの変位の方向に対して垂直な回転軸の周りを回転する請求項1に記載の硬度試験装置。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220107254A1 (en) * 2018-08-03 2022-04-07 National Technology & Engineering Solutions Of Sandia, Llc High throughput tribometer
DE102020134454A1 (de) * 2020-12-21 2022-06-23 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik Eindringkörperaufnahme für eine Messvorrichtung sowie Messvorrichtung zur Erfassung von Signalen

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000180330A (ja) 1998-12-14 2000-06-30 Edison Haado Kk 硬度計
JP2007035401A (ja) 2005-07-26 2007-02-08 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット
US20110013275A1 (en) 2008-03-05 2011-01-20 Detlef Hein Objective changer having reflected light illumination for light microscopes
JP2017116270A (ja) 2015-12-21 2017-06-29 株式会社島津製作所 硬さ試験機

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4255966A (en) * 1977-11-25 1981-03-17 Vickers Limited Hardness testing apparatus
DE3202461C1 (de) * 1982-01-27 1983-06-09 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Befestigung von Mikroskopobjektiven
US4545439A (en) 1983-07-01 1985-10-08 Sellett Andrew J Apparatus for determining the true cross slope of a blade
AT398850B (de) * 1989-12-07 1995-02-27 Emco Maier Gmbh Eindringhärteprüfer
JPH09113428A (ja) * 1995-10-17 1997-05-02 Babcock Hitachi Kk 硬さ測定装置
JPH1090151A (ja) * 1996-09-11 1998-04-10 Akashi:Kk パワーターレット機構付き硬さ試験機
JP2000249641A (ja) * 1999-03-02 2000-09-14 Akashi Corp 硬さ試験機
JP2003130775A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Akashi Corp 硬さ試験機
US7121136B2 (en) * 2002-12-25 2006-10-17 Mitutoyo Corporation Hardness testing apparatus
TWI230791B (en) * 2003-07-25 2005-04-11 Ind Tech Res Inst Force-sensing system
US7303534B2 (en) * 2003-10-28 2007-12-04 Rocky Kahn Rotating firmness sensor
JP2005181047A (ja) * 2003-12-18 2005-07-07 Akashi Corp 硬さ試験機
DE102009019256B4 (de) * 2009-04-30 2016-08-18 Illinois Tool Works Inc. Härteprüfeinrichtung zur Prüfung des Härteeindrucks
AT509629B1 (de) * 2010-03-29 2012-02-15 Qness Gmbh Härteprüfgerät
CN201637643U (zh) * 2010-04-13 2010-11-17 上海尚材试验机有限公司 数显维氏硬度计
AT511102B1 (de) * 2011-02-17 2012-09-15 Qness Gmbh Härteprüfgerät und verfahren zum einstellen des härteprüfgerätes
JP5962286B2 (ja) * 2012-07-19 2016-08-03 株式会社島津製作所 硬さ試験機
GB2525857B (en) * 2014-05-05 2017-09-27 Indentec Hardness Testing Machines Ltd Apparatus for testing the indentation hardness of a material
CN205067206U (zh) * 2015-08-04 2016-03-02 上海尚材试验机有限公司 一种维氏硬度计
CN206177736U (zh) * 2016-08-02 2017-05-17 长兴煤山新型炉料有限公司 一种耐火节能板材的硬度检测装置
CN206772739U (zh) * 2017-06-16 2017-12-19 中铁十二局集团第二工程有限公司 一种建筑材料硬度检测装置
CN206804460U (zh) * 2017-06-19 2017-12-26 山西省计量科学研究院 金属布氏硬度计检测用压痕测量装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000180330A (ja) 1998-12-14 2000-06-30 Edison Haado Kk 硬度計
JP2007035401A (ja) 2005-07-26 2007-02-08 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット
US20110013275A1 (en) 2008-03-05 2011-01-20 Detlef Hein Objective changer having reflected light illumination for light microscopes
JP2017116270A (ja) 2015-12-21 2017-06-29 株式会社島津製作所 硬さ試験機

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