JP2000249641A - 硬さ試験機 - Google Patents
硬さ試験機Info
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- JP2000249641A JP2000249641A JP11054595A JP5459599A JP2000249641A JP 2000249641 A JP2000249641 A JP 2000249641A JP 11054595 A JP11054595 A JP 11054595A JP 5459599 A JP5459599 A JP 5459599A JP 2000249641 A JP2000249641 A JP 2000249641A
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- Japan
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- rotating body
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明の課題は、停止位置決め時におけるタ
ーレットの回転方向を常に同一方向にすることにより、
圧子若しくは対物レンズの停止位置を高精度にする硬さ
試験機を提供することである。 【解決手段】 回転体制御による停止位置決めにより、
前記回転体を停止させる際の当該回転体の回転方向を常
に同一方向とするため、回転体制御手段は、回転体が所
定の停止位置を通過した後に当該回転体を再度反対方向
へ回転させることにより、当該回転体を停止させる構成
とした。
ーレットの回転方向を常に同一方向にすることにより、
圧子若しくは対物レンズの停止位置を高精度にする硬さ
試験機を提供することである。 【解決手段】 回転体制御による停止位置決めにより、
前記回転体を停止させる際の当該回転体の回転方向を常
に同一方向とするため、回転体制御手段は、回転体が所
定の停止位置を通過した後に当該回転体を再度反対方向
へ回転させることにより、当該回転体を停止させる構成
とした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧子を押込むこと
により形成されるくぼみから試験体の硬さを測定する硬
さ試験機に係り、詳細には、回転体の停止位置を高精度
にすることが可能な硬さ試験機に関する。
により形成されるくぼみから試験体の硬さを測定する硬
さ試験機に係り、詳細には、回転体の停止位置を高精度
にすることが可能な硬さ試験機に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、所定の形状及び硬度を有する
圧子を一定の荷重にて試験体に押し込むことで形成され
たくぼみの大きさにより定義される、ビッカース硬度や
ブリネル硬度等の硬度は、普遍的かつ簡便な材料の硬度
指標として広く用いられている。
圧子を一定の荷重にて試験体に押し込むことで形成され
たくぼみの大きさにより定義される、ビッカース硬度や
ブリネル硬度等の硬度は、普遍的かつ簡便な材料の硬度
指標として広く用いられている。
【0003】近年、測定者が試験体を試料台に載置し、
測定位置を登録し、起動スイッチを押すと、試験体の測
定箇所にくぼみを形成し、画像読取装置を用いてくぼみ
の画像データを取り込み、この画像データからくぼみの
深さや大きさを認識して硬度を算出する、という様なタ
ーレット制御からくぼみ形成、試料台の移動、硬度読取
に至るまでの一連の作業を自動で行う硬さ試験機が開発
されている。
測定位置を登録し、起動スイッチを押すと、試験体の測
定箇所にくぼみを形成し、画像読取装置を用いてくぼみ
の画像データを取り込み、この画像データからくぼみの
深さや大きさを認識して硬度を算出する、という様なタ
ーレット制御からくぼみ形成、試料台の移動、硬度読取
に至るまでの一連の作業を自動で行う硬さ試験機が開発
されている。
【0004】また、ターレット制御、くぼみ形成のみを
自動で行い、それ以外の硬度読取、試料台の移動等の作
業を手動で行う構成の硬さ試験機が開発されている。こ
れらの硬さ試験機には、試験体の硬度をテレビモニタ上
で目視、若しくは自動測定したり、接眼レンズを介して
目視により測定する構成としたものもある。さらに、測
定者が試料台をねじで手動操作したり、自動駆動させた
りするもの等、多様な構成の硬さ試験機が開発されてい
る。
自動で行い、それ以外の硬度読取、試料台の移動等の作
業を手動で行う構成の硬さ試験機が開発されている。こ
れらの硬さ試験機には、試験体の硬度をテレビモニタ上
で目視、若しくは自動測定したり、接眼レンズを介して
目視により測定する構成としたものもある。さらに、測
定者が試料台をねじで手動操作したり、自動駆動させた
りするもの等、多様な構成の硬さ試験機が開発されてい
る。
【0005】上記硬さ試験機は、CPU(Central Proc
essing Unit)等からなる制御回路を内蔵しているもの
もあり、それらの硬さ試験機では、測定に関する各種動
作がCPUによって制御されるように構成されている。
また、LCD(Liquid Crystal Display)や各種スイッ
チ等を備える操作パネルが設けられているものもある。
essing Unit)等からなる制御回路を内蔵しているもの
もあり、それらの硬さ試験機では、測定に関する各種動
作がCPUによって制御されるように構成されている。
また、LCD(Liquid Crystal Display)や各種スイッ
チ等を備える操作パネルが設けられているものもある。
【0006】また、上記硬さ試験機において、硬さ試験
の際に必要に応じて圧子とレンズを切り換える機能を有
するターレットは、一般的にマイクロビッカースやビッ
カース式硬さ試験機等に用いられ、被測定試験体の材
質、大きさ等に応じてターレットに取り付けられた圧子
及びレンズの位置を自動的に変更、調整出来るような構
造になっている。
の際に必要に応じて圧子とレンズを切り換える機能を有
するターレットは、一般的にマイクロビッカースやビッ
カース式硬さ試験機等に用いられ、被測定試験体の材
質、大きさ等に応じてターレットに取り付けられた圧子
及びレンズの位置を自動的に変更、調整出来るような構
造になっている。
【0007】以下、図6及び図7を参照して、従来の硬
さ試験機の一例として、ターレット41の停止位置決め
方法について説明する。
さ試験機の一例として、ターレット41の停止位置決め
方法について説明する。
【0008】図6は、従来の技術におけるターレット4
1の要部構成を示す平面模式図である。図示するように
ターレット41の下面に圧子41aや後述する光学シス
テムを構成する対物レンズ41b、41cが取り付けら
れている。圧子41a、及び異なる倍率を有する対物レ
ンズ41b(例えば10倍)、対物レンズ41c(例え
ば100倍)は、図中の中心点を中心とした同一円弧上
に沿って配設されており、硬さ試験機による自動制御に
より、必要に応じて中心点を回転軸として両方向へ回転
し、被測定試験体(以下、試験体)が載置された試料台
に対向する位置に移動出来るようになっている。
1の要部構成を示す平面模式図である。図示するように
ターレット41の下面に圧子41aや後述する光学シス
テムを構成する対物レンズ41b、41cが取り付けら
れている。圧子41a、及び異なる倍率を有する対物レ
ンズ41b(例えば10倍)、対物レンズ41c(例え
ば100倍)は、図中の中心点を中心とした同一円弧上
に沿って配設されており、硬さ試験機による自動制御に
より、必要に応じて中心点を回転軸として両方向へ回転
し、被測定試験体(以下、試験体)が載置された試料台
に対向する位置に移動出来るようになっている。
【0009】また、上記硬さ試験機は、図6中の正面位
置に設けられた試験台に被測定試験体を載置して試験を
行うため、圧子41a、対物レンズ41b、41cがそ
れぞれ有効に機能するためには、ターレット41を回転
させることにより、圧子41a、対物レンズ41b、4
1cを正面位置に移動、停止させる必要がある。
置に設けられた試験台に被測定試験体を載置して試験を
行うため、圧子41a、対物レンズ41b、41cがそ
れぞれ有効に機能するためには、ターレット41を回転
させることにより、圧子41a、対物レンズ41b、4
1cを正面位置に移動、停止させる必要がある。
【0010】次に、図7は、ターレット41に配設され
た圧子41a、対物レンズ41b、41cの位置関係を
示す状態遷移図であり、(a)は圧子41aを正面位置
に停止させた場合の状態図、(b)は対物レンズ41b
を正面位置に停止させた場合の状態図、(c)は対物レ
ンズ41cを正面位置に停止させた場合の状態図であ
る。以下、簡単のため、(a)の状態を状態1、(b)
の状態を状態2、(c)の状態を状態3とする。
た圧子41a、対物レンズ41b、41cの位置関係を
示す状態遷移図であり、(a)は圧子41aを正面位置
に停止させた場合の状態図、(b)は対物レンズ41b
を正面位置に停止させた場合の状態図、(c)は対物レ
ンズ41cを正面位置に停止させた場合の状態図であ
る。以下、簡単のため、(a)の状態を状態1、(b)
の状態を状態2、(c)の状態を状態3とする。
【0011】ターレット41の停止状態は、上記状態1
〜状態3の3形態であり、圧子41a、対物レンズ41
b、41cの内で正面位置に停止したものがその機能を
有効にする。状態1において、ターレット41を反時計
回り方向へ回転させると、対物レンズ41b若しくは対
物レンズ41cを正面位置に移動させることができる。
状態2において、ターレット41を時計回り方向へ回転
させると、圧子41aを正面位置に移動することが出
来、ターレット41を反時計回り方向へ回転させると、
対物レンズ41cを正面位置に移動させることが出来
る。そして、状態3において、ターレット41を時計回
り方向へ回転させると、対物レンズ41b若しくは圧子
41aを正面位置に移動させることが出来る。
〜状態3の3形態であり、圧子41a、対物レンズ41
b、41cの内で正面位置に停止したものがその機能を
有効にする。状態1において、ターレット41を反時計
回り方向へ回転させると、対物レンズ41b若しくは対
物レンズ41cを正面位置に移動させることができる。
状態2において、ターレット41を時計回り方向へ回転
させると、圧子41aを正面位置に移動することが出
来、ターレット41を反時計回り方向へ回転させると、
対物レンズ41cを正面位置に移動させることが出来
る。そして、状態3において、ターレット41を時計回
り方向へ回転させると、対物レンズ41b若しくは圧子
41aを正面位置に移動させることが出来る。
【0012】上述のように、圧子41aの停止位置は常
に正面位置を基準として時計回り方向の回転によって定
まり、対物レンズ41cの停止位置は常に反時計回り方
向の回転によって定まる。これに対して、対物レンズ4
1bは圧子41aと対物レンズ41cの中間に位置する
ため、対物レンズ41bの停止位置決め前の回転方向は
移動前の状態が状態1であるか状態3であるかによって
異なる。
に正面位置を基準として時計回り方向の回転によって定
まり、対物レンズ41cの停止位置は常に反時計回り方
向の回転によって定まる。これに対して、対物レンズ4
1bは圧子41aと対物レンズ41cの中間に位置する
ため、対物レンズ41bの停止位置決め前の回転方向は
移動前の状態が状態1であるか状態3であるかによって
異なる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記硬
さ試験機においては、対物レンズ41bの停止位置決め
の際のターレットの回転方向が一定でないため、反時計
回り方向からの回転時と時計回り方向からの回転時と
で、対物レンズ41bの停止位置が微妙に異なり、その
ずれが測定誤差として表れてしまうという問題点があっ
た。
さ試験機においては、対物レンズ41bの停止位置決め
の際のターレットの回転方向が一定でないため、反時計
回り方向からの回転時と時計回り方向からの回転時と
で、対物レンズ41bの停止位置が微妙に異なり、その
ずれが測定誤差として表れてしまうという問題点があっ
た。
【0014】本発明は、上記問題点を解決するために成
されたものであって、停止位置決め時におけるターレッ
トの回転方向を常に同一方向にすることにより、圧子若
しくは対物レンズの停止位置を高精度にする硬さ試験機
を提供することを目的とする。
されたものであって、停止位置決め時におけるターレッ
トの回転方向を常に同一方向にすることにより、圧子若
しくは対物レンズの停止位置を高精度にする硬さ試験機
を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1記載の発明は、装置本体(例えば、硬さ試
験機1)に対し、回転が可能に取り付けられ、圧子(例
えば、圧子11a)及びレンズ(例えば、対物レンズ1
1b、11c)が所定の位置に配設された回転体(例え
ば、ターレット11)と、前記回転体の回転に伴い、前
記圧子若しくはレンズが所定の停止位置に至った状態を
検出する停止位置検出手段(例えば、停止位置検出機構
25)と、前記停止位置検出手段による停止位置の検出
に応じて前記回転体の制御を行う回転体制御手段(例え
ば、ターレット制御機構12)と、前記回転体制御手段
による制御により、前記回転体を駆動、停止させる回転
体駆動手段(例えば、ターレット駆動機構14)と、前
記停止位置の下方に設けられた試料台に載置された試験
体に前記圧子を押し付けることによって形成されるくぼ
みから、当該試験体の硬度を測定する測定手段(例え
ば、硬度測定部30)と、を備えた硬さ試験機(例え
ば、硬さ試験機1)において、前記回転体制御手段は、
前記回転体を所定の停止位置に停止させる際の回転方向
を常に同一方向とする制御を行うことを特徴としてい
る。
め、請求項1記載の発明は、装置本体(例えば、硬さ試
験機1)に対し、回転が可能に取り付けられ、圧子(例
えば、圧子11a)及びレンズ(例えば、対物レンズ1
1b、11c)が所定の位置に配設された回転体(例え
ば、ターレット11)と、前記回転体の回転に伴い、前
記圧子若しくはレンズが所定の停止位置に至った状態を
検出する停止位置検出手段(例えば、停止位置検出機構
25)と、前記停止位置検出手段による停止位置の検出
に応じて前記回転体の制御を行う回転体制御手段(例え
ば、ターレット制御機構12)と、前記回転体制御手段
による制御により、前記回転体を駆動、停止させる回転
体駆動手段(例えば、ターレット駆動機構14)と、前
記停止位置の下方に設けられた試料台に載置された試験
体に前記圧子を押し付けることによって形成されるくぼ
みから、当該試験体の硬度を測定する測定手段(例え
ば、硬度測定部30)と、を備えた硬さ試験機(例え
ば、硬さ試験機1)において、前記回転体制御手段は、
前記回転体を所定の停止位置に停止させる際の回転方向
を常に同一方向とする制御を行うことを特徴としてい
る。
【0016】請求項1記載の発明によれば、回転体制御
による停止位置決めにより、前記回転体を停止させる際
の当該回転体の回転方向を常に同一方向とするので、圧
子若しくはレンズの停止位置を安定させ、レンズの位置
関係に関わらず常に同一の条件下で試験体の硬さを測定
することとなって、停止位置のずれに起因する測定値の
ばらつきを最小限に抑えることにより、従来の測定装置
に比べ、より測定誤差の少ない高精度な試験結果を得る
ことが出来、ユーザは試験体の詳細な物性を知ることが
出来る。これにより、硬さ試験機の信頼性、ユーザの作
業効率を向上させることが出来る。
による停止位置決めにより、前記回転体を停止させる際
の当該回転体の回転方向を常に同一方向とするので、圧
子若しくはレンズの停止位置を安定させ、レンズの位置
関係に関わらず常に同一の条件下で試験体の硬さを測定
することとなって、停止位置のずれに起因する測定値の
ばらつきを最小限に抑えることにより、従来の測定装置
に比べ、より測定誤差の少ない高精度な試験結果を得る
ことが出来、ユーザは試験体の詳細な物性を知ることが
出来る。これにより、硬さ試験機の信頼性、ユーザの作
業効率を向上させることが出来る。
【0017】ここで、試験装置として硬さ試験機を挙げ
たが、これに限らず、回転体、回転体制御機構、及び試
料台等を有するものであればどのような試験装置であっ
てもよい。また、停止位置決め手段において停止位置を
検出する手段は、センサのような光学的に判別する手段
であっても、また、接点を設けて機械的に判別する手段
であってもよく、圧子若しくはレンズが停止位置に達し
たか否かが検出可能なものであればどのような構成のも
のであってもよい。加えて、回転体制御手段は、単に停
止位置決め手段によって定められた停止位置に応じて回
転体の動作を制御出来るものであればよい。さらに、
「くぼみから当該試験体の硬度を測定する」とあるの
は、たとえば、くぼみに圧子を押し込んでいるときの押
し込み深さから硬さを求めるようにしてもよいし、圧子
を押圧することによって形成されたくぼみの大きさを測
定して、硬さを求めるようなものでもよい。
たが、これに限らず、回転体、回転体制御機構、及び試
料台等を有するものであればどのような試験装置であっ
てもよい。また、停止位置決め手段において停止位置を
検出する手段は、センサのような光学的に判別する手段
であっても、また、接点を設けて機械的に判別する手段
であってもよく、圧子若しくはレンズが停止位置に達し
たか否かが検出可能なものであればどのような構成のも
のであってもよい。加えて、回転体制御手段は、単に停
止位置決め手段によって定められた停止位置に応じて回
転体の動作を制御出来るものであればよい。さらに、
「くぼみから当該試験体の硬度を測定する」とあるの
は、たとえば、くぼみに圧子を押し込んでいるときの押
し込み深さから硬さを求めるようにしてもよいし、圧子
を押圧することによって形成されたくぼみの大きさを測
定して、硬さを求めるようなものでもよい。
【0018】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の硬さ試験機において、前記回転体制御手段(例え
ば、ターレット制御機構12)は、前記回転体が所定の
停止位置を通過した後に当該回転体を再度反対方向へ回
転させることにより、当該回転体を停止させる制御を行
うことを特徴としている。
載の硬さ試験機において、前記回転体制御手段(例え
ば、ターレット制御機構12)は、前記回転体が所定の
停止位置を通過した後に当該回転体を再度反対方向へ回
転させることにより、当該回転体を停止させる制御を行
うことを特徴としている。
【0019】請求項2記載の発明によれば、回転体制御
により前記回転体が所定の停止位置を通過した後に当該
回転体を再度反対方向へ回転させることにより、当該回
転体を停止させるので、請求項1記載の発明の効果に加
えて、回転体を同一方向に一回転させて停止位置を定め
る場合に比べて、回転体の回転に伴う圧子及びレンズの
移動距離を最小限に抑えることが可能となって、停止位
置決めの所要時間を短縮し、ユーザは硬度試験を迅速に
行うことが出来る。さらに、回転体の回転可動範囲を最
小限に抑えることが可能となり、消費電力を節約するこ
とが出来る。
により前記回転体が所定の停止位置を通過した後に当該
回転体を再度反対方向へ回転させることにより、当該回
転体を停止させるので、請求項1記載の発明の効果に加
えて、回転体を同一方向に一回転させて停止位置を定め
る場合に比べて、回転体の回転に伴う圧子及びレンズの
移動距離を最小限に抑えることが可能となって、停止位
置決めの所要時間を短縮し、ユーザは硬度試験を迅速に
行うことが出来る。さらに、回転体の回転可動範囲を最
小限に抑えることが可能となり、消費電力を節約するこ
とが出来る。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して、本発明に係
る硬さ試験機の一例としてターレット制御からくぼみ形
成、試料台の移動、硬度読取に至るまでの一連の作業を
自動で行う硬さ試験機を挙げ、実施の形態を詳細に説明
する。
る硬さ試験機の一例としてターレット制御からくぼみ形
成、試料台の移動、硬度読取に至るまでの一連の作業を
自動で行う硬さ試験機を挙げ、実施の形態を詳細に説明
する。
【0021】最初に、構成について、図1および図2を
用いて説明する。
用いて説明する。
【0022】図1は、硬さ試験機1の概観模式図であ
る。硬さ試験機1は、ターレット11に取り付けられた
圧子11a(図3参照)を押し込んで試験体50に略ひ
し形のくぼみを形成するターレット制御機構12と、試
験体を載せる試料台13を移動することにより、試験体
50の測定箇所をくぼみ付け位置や画像読取位置に運ぶ
試料台駆動機構と、前記画像読取位置の画像データを生
成する画像読取装置28(図2参照)を有している。
る。硬さ試験機1は、ターレット11に取り付けられた
圧子11a(図3参照)を押し込んで試験体50に略ひ
し形のくぼみを形成するターレット制御機構12と、試
験体を載せる試料台13を移動することにより、試験体
50の測定箇所をくぼみ付け位置や画像読取位置に運ぶ
試料台駆動機構と、前記画像読取位置の画像データを生
成する画像読取装置28(図2参照)を有している。
【0023】ターレット11には、例えばダイヤモンド
からなる後述する圧子11aと、この圧子11aを試験
体50の測定箇所に、予め設定されている押し込み荷重
にて押し込む押圧機構から構成される。即ち、従来のビ
ッカース硬さ試験機の押圧駆動機構と同様の構成を取
る。なお、押し込み荷重は、例えば硬度測定部が有する
入力部(図示省略)を介して、外部からの指示により変
更することも可能である。
からなる後述する圧子11aと、この圧子11aを試験
体50の測定箇所に、予め設定されている押し込み荷重
にて押し込む押圧機構から構成される。即ち、従来のビ
ッカース硬さ試験機の押圧駆動機構と同様の構成を取
る。なお、押し込み荷重は、例えば硬度測定部が有する
入力部(図示省略)を介して、外部からの指示により変
更することも可能である。
【0024】試料台駆動機構は、例えば、試料台13を
水平方向に移動するXY駆動機構と、このXY駆動機構
と試料台13とを上下方向に移動する上下方向移動機構
と、から構成される。すなわち、従来のビッカース硬さ
試験機の試料台駆動機構と同様の構成を取る。
水平方向に移動するXY駆動機構と、このXY駆動機構
と試料台13とを上下方向に移動する上下方向移動機構
と、から構成される。すなわち、従来のビッカース硬さ
試験機の試料台駆動機構と同様の構成を取る。
【0025】次に、図2に示すブロック図を用いて、硬
さ試験機1の構成を説明する。
さ試験機1の構成を説明する。
【0026】図2は、本発明の一実施の形態における硬
さ試験機1の要部構成を示すブロック図である。図2に
おいて、硬さ試験機1は、CPU22、ROM(Read O
nlyMemory)23、SRAM(Static Random Access Me
mory)24、停止位置検出機構25、ターレット制御機
構12、ターレット駆動機構14、記憶媒体26aを備
える記憶装置26、表示装置27、画像読取装置28、
バス29により構成されている。
さ試験機1の要部構成を示すブロック図である。図2に
おいて、硬さ試験機1は、CPU22、ROM(Read O
nlyMemory)23、SRAM(Static Random Access Me
mory)24、停止位置検出機構25、ターレット制御機
構12、ターレット駆動機構14、記憶媒体26aを備
える記憶装置26、表示装置27、画像読取装置28、
バス29により構成されている。
【0027】硬度測定部30は、CPU22、ROM2
3、SRAM24、記憶媒体26aを備える記憶装置2
6、表示装置27を有する。硬度測定部30の各部と、
停止位置検出機構25、ターレット制御機構12、ター
レット駆動機構14、画像読取装置28とは、バス29
を介して相互に各種信号の送受信を行う。
3、SRAM24、記憶媒体26aを備える記憶装置2
6、表示装置27を有する。硬度測定部30の各部と、
停止位置検出機構25、ターレット制御機構12、ター
レット駆動機構14、画像読取装置28とは、バス29
を介して相互に各種信号の送受信を行う。
【0028】CPU22は、ROM23から所定のプロ
グラムを読み出してSRAM24に展開し、展開された
プログラムを一時的に格納し、当該プログラムに基づく
各種処理を実行し硬さ試験機1の各部を集中制御する。
即ち、CPU22は、前記読み出した所定プログラムに
基づいて各種処理を実行し、その処理結果をSRAM2
4内のメモリエリアに格納すると共に表示装置27に表
示させる。
グラムを読み出してSRAM24に展開し、展開された
プログラムを一時的に格納し、当該プログラムに基づく
各種処理を実行し硬さ試験機1の各部を集中制御する。
即ち、CPU22は、前記読み出した所定プログラムに
基づいて各種処理を実行し、その処理結果をSRAM2
4内のメモリエリアに格納すると共に表示装置27に表
示させる。
【0029】また、CPU22は、ROM23内に予め
格納されている制御プログラムに従って、停止位置検出
機構25とターレット制御機構12とターレット駆動機
構14を制御する他、くぼみ付けが終わっている測定箇
所を前記画像読取位置に配置する度に、配置終了の信号
を画像読取装置28に出力する。
格納されている制御プログラムに従って、停止位置検出
機構25とターレット制御機構12とターレット駆動機
構14を制御する他、くぼみ付けが終わっている測定箇
所を前記画像読取位置に配置する度に、配置終了の信号
を画像読取装置28に出力する。
【0030】さらに、CPU22は、ROM23内に予
め格納されている制御プログラムおよび演算プログラム
に従って、画像読取装置28から入力される画像データ
を、くぼみの画像データとして取り込み、続いてCPU
22に取り込み信号を出力した後に、当該くぼみの画像
データをSRAM24に格納させ、ビッカース硬度を算
出する。そして、CPU22は、算出したビッカース硬
度を、記憶装置26内の記憶媒体26aに格納するとと
もに表示装置27に表示させる。
め格納されている制御プログラムおよび演算プログラム
に従って、画像読取装置28から入力される画像データ
を、くぼみの画像データとして取り込み、続いてCPU
22に取り込み信号を出力した後に、当該くぼみの画像
データをSRAM24に格納させ、ビッカース硬度を算
出する。そして、CPU22は、算出したビッカース硬
度を、記憶装置26内の記憶媒体26aに格納するとと
もに表示装置27に表示させる。
【0031】ROM23には、一定の範囲内において試
験力として取り得る値のデータである試験力データが予
め記憶されている。
験力として取り得る値のデータである試験力データが予
め記憶されている。
【0032】SRAM24は、CPU22が各種制御プ
ログラムを実行する際に各種プログラムコードを展開す
るプログラムコード格納領域を形成するとともに、CP
U22が各種処理を実行する際に処理されるくぼみの画
像データ等を展開するメモリ領域を形成する。
ログラムを実行する際に各種プログラムコードを展開す
るプログラムコード格納領域を形成するとともに、CP
U22が各種処理を実行する際に処理されるくぼみの画
像データ等を展開するメモリ領域を形成する。
【0033】記憶装置26は、CPU22の指示に従っ
て、内部に有する記憶媒体26aに算出したビッカース
硬度などを記憶させる。この記憶媒体26aは、磁気
的、光学的記憶媒体、若しくは半導体メモリで構成され
ており、記憶装置26に固定的に設けたもの、若しくは
脱着自在に装着するものの双方を含む。
て、内部に有する記憶媒体26aに算出したビッカース
硬度などを記憶させる。この記憶媒体26aは、磁気
的、光学的記憶媒体、若しくは半導体メモリで構成され
ており、記憶装置26に固定的に設けたもの、若しくは
脱着自在に装着するものの双方を含む。
【0034】また、この記憶媒体26aに記憶する各種
プログラム、データ等は、通信回線等を介して接続され
た他の機器から受信して記憶する構成にしてもよく、さ
らに通信回線等を介して接続された他の機器側に前記記
憶媒体26aを備えた記憶装置を設け、この記憶媒体2
6aに記憶されているプログラム、データ等を通信回線
を介して使用する構成にしてもよい。
プログラム、データ等は、通信回線等を介して接続され
た他の機器から受信して記憶する構成にしてもよく、さ
らに通信回線等を介して接続された他の機器側に前記記
憶媒体26aを備えた記憶装置を設け、この記憶媒体2
6aに記憶されているプログラム、データ等を通信回線
を介して使用する構成にしてもよい。
【0035】表示装置27は、例えばLCD(Liquid C
rystal Display)であり、CPU22の指示に従って、
算出された試験結果であるビッカース硬度を表示させ
る。
rystal Display)であり、CPU22の指示に従って、
算出された試験結果であるビッカース硬度を表示させ
る。
【0036】停止位置検出機構25は、高精度のフォト
センサを用いて、当該フォトセンサの感知に基づいて移
動する圧子11a若しくは対物レンズ11b、11cを有
効に機能させるための停止位置を検出する機構である。
センサを用いて、当該フォトセンサの感知に基づいて移
動する圧子11a若しくは対物レンズ11b、11cを有
効に機能させるための停止位置を検出する機構である。
【0037】ターレット制御機構12は、停止位置検出
機構25によって検出された圧子11a若しくは対物レ
ンズ11b、11cの停止位置に応じてターレット11を
駆動、停止させるため、ターレット11の動作を自動制
御する機構である。
機構25によって検出された圧子11a若しくは対物レ
ンズ11b、11cの停止位置に応じてターレット11を
駆動、停止させるため、ターレット11の動作を自動制
御する機構である。
【0038】ターレット駆動機構14は、ターレット制
御機構12による制御に基づき、ステッピングモータ
(若しくはDCモータ)を用いて、ターレット11を駆
動、停止させる機構である。
御機構12による制御に基づき、ステッピングモータ
(若しくはDCモータ)を用いて、ターレット11を駆
動、停止させる機構である。
【0039】画像読取装置28は、例えばCCD(Char
ge Coupled Device)カメラであり、前記画像読取位置
の画像を画像データに変換し、バス29を介して表示装
置27に出力する。
ge Coupled Device)カメラであり、前記画像読取位置
の画像を画像データに変換し、バス29を介して表示装
置27に出力する。
【0040】次に、図3〜図4を用いて本発明に係る硬
さ試験機1に取り付けられたターレット11の停止位置
決め動作について説明する。
さ試験機1に取り付けられたターレット11の停止位置
決め動作について説明する。
【0041】図3は、本発明の一実施の形態における硬
さ試験機1の停止位置決め動作を説明するための正面模
式図である。
さ試験機1の停止位置決め動作を説明するための正面模
式図である。
【0042】硬さ試験機1は、水平面内で往復動作が可
能である試料台13と、ターレット11に取り付けられ
ている圧子11aとを備え、当該圧子11aにより試料
台13上に載置された試験体50の表面を押圧してくぼ
みを形成し、このくぼみの大きさを測定することによっ
て、試験体50の硬さを測定するように構成されてい
る。
能である試料台13と、ターレット11に取り付けられ
ている圧子11aとを備え、当該圧子11aにより試料
台13上に載置された試験体50の表面を押圧してくぼ
みを形成し、このくぼみの大きさを測定することによっ
て、試験体50の硬さを測定するように構成されてい
る。
【0043】また、ターレット11は、試料台13に対
峙するように設けられており、図3に示すように、当該
ターレット11の下面に圧子11aや後述する光学シス
テムを構成する対物レンズ11b、11cが取り付けら
れている。圧子11a、及び異なる倍率を有する対物レ
ンズ11b(例えば10倍)、対物レンズ11c(例え
ば100倍)は、ターレット11の回転中心を中心とし
た同一円弧上に沿って配設されており、ターレット11
の回転によって、試料台13に対向する位置に移動出来
るようになっている。
峙するように設けられており、図3に示すように、当該
ターレット11の下面に圧子11aや後述する光学シス
テムを構成する対物レンズ11b、11cが取り付けら
れている。圧子11a、及び異なる倍率を有する対物レ
ンズ11b(例えば10倍)、対物レンズ11c(例え
ば100倍)は、ターレット11の回転中心を中心とし
た同一円弧上に沿って配設されており、ターレット11
の回転によって、試料台13に対向する位置に移動出来
るようになっている。
【0044】フォトセンサ31は、ターレット11の下
方に取り付けられた圧子11aがフォトセンサ31によ
り形成された感知部である中心線32に進入すると、当
該進入を感知して検出信号を上記ターレット制御機構1
2に出力させるようになっている。これにより、圧子1
1a、対物レンズ11b、11cが試験体の硬度測定を
可能とする荷重負荷位置若しくは表面観察位置に達した
か否かを判別出来るようになっている。
方に取り付けられた圧子11aがフォトセンサ31によ
り形成された感知部である中心線32に進入すると、当
該進入を感知して検出信号を上記ターレット制御機構1
2に出力させるようになっている。これにより、圧子1
1a、対物レンズ11b、11cが試験体の硬度測定を
可能とする荷重負荷位置若しくは表面観察位置に達した
か否かを判別出来るようになっている。
【0045】なお、フォトセンサ31は、前記圧子11
a、対物レンズ11b、11cが所定の停止位置に達し
た状態を検出出来るようなものであればよく、必ずしも
従来の停止位置決めに使用されるような高精度のフォト
センサである必要はない。
a、対物レンズ11b、11cが所定の停止位置に達し
た状態を検出出来るようなものであればよく、必ずしも
従来の停止位置決めに使用されるような高精度のフォト
センサである必要はない。
【0046】ターレット11は、前記圧子11a、対物
レンズ11b、11cが、フォトセンサ31により形成
された中心線32に至って感知され、この感知信号が上
記ターレット制御機構12に出力される。この入力され
た感知信号に基づいて、ターレット制御機構12からス
テッピングモータ若しくはDCモータ(図示省略)に駆
動停止信号が出力され、ステッピングモータ若しくはD
Cモータの駆動が停止される。
レンズ11b、11cが、フォトセンサ31により形成
された中心線32に至って感知され、この感知信号が上
記ターレット制御機構12に出力される。この入力され
た感知信号に基づいて、ターレット制御機構12からス
テッピングモータ若しくはDCモータ(図示省略)に駆
動停止信号が出力され、ステッピングモータ若しくはD
Cモータの駆動が停止される。
【0047】また、当該硬さ試験機1には、前記対物レ
ンズ11b、11cに加えて、図示しない光源、接眼レ
ンズ、及びビデオライン等を備え、光学顕微鏡の機能を
有する、光学システムが設けられている。この光学シス
テムによって、試験体50表面に光を照射し、また、試
験体50の表面に形成されたくぼみを対物レンズ11
b、11cによって拡大し、観察できるようになってい
る。この場合、CRT(Cathode Ray Tube)によって観
察しながら、くぼみの大きさを計測することもできるよ
うになっている。
ンズ11b、11cに加えて、図示しない光源、接眼レ
ンズ、及びビデオライン等を備え、光学顕微鏡の機能を
有する、光学システムが設けられている。この光学シス
テムによって、試験体50表面に光を照射し、また、試
験体50の表面に形成されたくぼみを対物レンズ11
b、11cによって拡大し、観察できるようになってい
る。この場合、CRT(Cathode Ray Tube)によって観
察しながら、くぼみの大きさを計測することもできるよ
うになっている。
【0048】上記構成を有する硬さ試験機1の測定動作
について説明する。
について説明する。
【0049】まず、ターレット11の下に試料台13を
固定し、その上に試験体50を載置し、試料台13を水
平面内で駆動し、試験体50の試験位置(くぼみを形成
する位置)を設定する。この状態でスタートスイッチ
(図示外)を操作すると、ターレット11が自動的に回
転し、圧子11aが試料台13の上方に位置する。次に
圧子11aが予め設定された荷重、下降速度で下降し、
試験体50の表面を押圧し、所定時間経過後、圧子11
aは上昇して試験体50から離れる。その後、操作パネ
ル等を操作すると、ターレット11が回転し、対物レン
ズ11b若しくは対物レンズ11cが試験体50の上方に
移動する。この状態で、対物レンズ11b、11cを介し
て試験体50表面のくぼみを観察し、大きさを計測す
る。
固定し、その上に試験体50を載置し、試料台13を水
平面内で駆動し、試験体50の試験位置(くぼみを形成
する位置)を設定する。この状態でスタートスイッチ
(図示外)を操作すると、ターレット11が自動的に回
転し、圧子11aが試料台13の上方に位置する。次に
圧子11aが予め設定された荷重、下降速度で下降し、
試験体50の表面を押圧し、所定時間経過後、圧子11
aは上昇して試験体50から離れる。その後、操作パネ
ル等を操作すると、ターレット11が回転し、対物レン
ズ11b若しくは対物レンズ11cが試験体50の上方に
移動する。この状態で、対物レンズ11b、11cを介し
て試験体50表面のくぼみを観察し、大きさを計測す
る。
【0050】次に、上記CPU22により実行される対
物レンズ11bの停止位置決め処理について図3を参照
しながら、図4に示すフローチャートに基づいて説明す
る。
物レンズ11bの停止位置決め処理について図3を参照
しながら、図4に示すフローチャートに基づいて説明す
る。
【0051】最初に、CPU22は対物レンズ11bの
現在位置を認識し(ステップS1)、対物レンズ11b
の位置が中心線32を基準として左側か否かを判定する
(ステップS2)。次に、CPU22は対物レンズ11
bの位置が中心線32を基準として左側であれば(ステ
ップS2:Yes)、ターレット11を反時計回り方向
に回転させ(ステップS3)、対物レンズ11bの位置
が右側であれば(ステップS2:No)、ステップS5
以降の処理に移行する。
現在位置を認識し(ステップS1)、対物レンズ11b
の位置が中心線32を基準として左側か否かを判定する
(ステップS2)。次に、CPU22は対物レンズ11
bの位置が中心線32を基準として左側であれば(ステ
ップS2:Yes)、ターレット11を反時計回り方向
に回転させ(ステップS3)、対物レンズ11bの位置
が右側であれば(ステップS2:No)、ステップS5
以降の処理に移行する。
【0052】ステップS4において、CPU22は対物
レンズ11bが中心線32を通過したか否かを判定し、
通過した場合(ステップS4:Yes)、ターレット1
1を時計回り方向へ回転させる(ステップS5)、ま
た、中心線32を通過していない場合(ステップS4:
No)、再度ステップ3以降の処理を実行する。
レンズ11bが中心線32を通過したか否かを判定し、
通過した場合(ステップS4:Yes)、ターレット1
1を時計回り方向へ回転させる(ステップS5)、ま
た、中心線32を通過していない場合(ステップS4:
No)、再度ステップ3以降の処理を実行する。
【0053】次に、CPU22は対物レンズ11bの中
心位置が中心線32と一致したか否かを判定し(ステッ
プS6)、一致した場合(ステップS6:Yes)、タ
ーレット11を停止させ(ステップS7)、当該停止位
置決め処理を終了する。また、ステップS6において、
対物レンズ11bの中心位置が中心線32と一致しなか
った場合(ステップS6:No)、再度ステップS5以
降の処理を繰り返し実行する。
心位置が中心線32と一致したか否かを判定し(ステッ
プS6)、一致した場合(ステップS6:Yes)、タ
ーレット11を停止させ(ステップS7)、当該停止位
置決め処理を終了する。また、ステップS6において、
対物レンズ11bの中心位置が中心線32と一致しなか
った場合(ステップS6:No)、再度ステップS5以
降の処理を繰り返し実行する。
【0054】次に、上記処理に基づく具体的処理例とし
て、図を参照して本実施の形態におけるターレット制御
方法について説明する。
て、図を参照して本実施の形態におけるターレット制御
方法について説明する。
【0055】図5は、本発明を適用した硬さ試験機1に
設けられたターレット11の動作を表す状態遷移図であ
り、(a)はターレット11の回転前の停止状態を示す
図(従来の技術における状態3と同様)、(b)はター
レット11の反時計回り方向への回転動作中の状態を示
す図、(c)はターレット11の時計回り方向への回転
動作後、正面位置に停止した状態を示す図である。
設けられたターレット11の動作を表す状態遷移図であ
り、(a)はターレット11の回転前の停止状態を示す
図(従来の技術における状態3と同様)、(b)はター
レット11の反時計回り方向への回転動作中の状態を示
す図、(c)はターレット11の時計回り方向への回転
動作後、正面位置に停止した状態を示す図である。
【0056】なお、本実施の形態におけるターレット1
1の全体構造は、上記従来の技術において図6に示した
ターレット41の構造と同一であるため、その構成の図
示及び説明は省略する。
1の全体構造は、上記従来の技術において図6に示した
ターレット41の構造と同一であるため、その構成の図
示及び説明は省略する。
【0057】図5(a)に示す状態から対物レンズ11
bの停止位置を決める場合、図5(b)の矢印に示すよ
うに、最初にターレット11を反時計回り方向へ回転さ
せる。対物レンズ11bが正面位置を一度通過すると、
ターレット11は図5(b)に示す状態となる。次に、
図5(c)の矢印に示すように、ターレット11を再度
時計回り方向へ回転させる。そして、対物レンズ11b
が正面位置に達した時点でターレット11を停止させ
る。
bの停止位置を決める場合、図5(b)の矢印に示すよ
うに、最初にターレット11を反時計回り方向へ回転さ
せる。対物レンズ11bが正面位置を一度通過すると、
ターレット11は図5(b)に示す状態となる。次に、
図5(c)の矢印に示すように、ターレット11を再度
時計回り方向へ回転させる。そして、対物レンズ11b
が正面位置に達した時点でターレット11を停止させ
る。
【0058】なお、正面位置が対物レンズ11cである
場合(状態1同様)及び正面位置が対物レンズ11bで
ある場合(状態2同様)におけるターレット11の動作
に関しては、前述したターレット41の動作と同一であ
る。
場合(状態1同様)及び正面位置が対物レンズ11bで
ある場合(状態2同様)におけるターレット11の動作
に関しては、前述したターレット41の動作と同一であ
る。
【0059】上述の動作により、ターレット11の初期
状態に因らず、常に同一方向からの回転による位置決定
を行うための機能を有することにより、両方向から位置
決定を行う場合に比べて停止位置のずれを減少させるこ
とが可能となり、硬さ読取時におけるターレット11の
停止位置のずれに起因する測定誤差を最小限に抑え、試
験結果の精度を向上させることが出来る。
状態に因らず、常に同一方向からの回転による位置決定
を行うための機能を有することにより、両方向から位置
決定を行う場合に比べて停止位置のずれを減少させるこ
とが可能となり、硬さ読取時におけるターレット11の
停止位置のずれに起因する測定誤差を最小限に抑え、試
験結果の精度を向上させることが出来る。
【0060】なお、本発明は、前記実施の形態における
記述内容に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸
脱しない範囲で適宜変更可能である。
記述内容に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸
脱しない範囲で適宜変更可能である。
【0061】例えば、本実施の形態においては、ターレ
ット制御からくぼみ形成、試料台の移動、硬度読取に至
るまでの一連の作業を自動で行う構成としたが、これに
限らず、例えば、硬さ読取や試料台の移動等を手動で行
う構成の硬さ試験機等、ターレットを自動制御する機能
を有するものであればどのような構成のものであっても
良い。
ット制御からくぼみ形成、試料台の移動、硬度読取に至
るまでの一連の作業を自動で行う構成としたが、これに
限らず、例えば、硬さ読取や試料台の移動等を手動で行
う構成の硬さ試験機等、ターレットを自動制御する機能
を有するものであればどのような構成のものであっても
良い。
【0062】また、本実施の形態においては、ビッカー
ス硬度を自動で測定するビッカース硬さ試験機とした
が、本発明は圧子を用いてくぼみを試験体に押し込み形
成し、このくぼみの大きさ若しくは深さにより硬度を算
出する押し込み式硬さ試験機やユニバーサル硬さ試験機
にも適用可能である。
ス硬度を自動で測定するビッカース硬さ試験機とした
が、本発明は圧子を用いてくぼみを試験体に押し込み形
成し、このくぼみの大きさ若しくは深さにより硬度を算
出する押し込み式硬さ試験機やユニバーサル硬さ試験機
にも適用可能である。
【0063】また、画像読取装置28としてのCCDカ
メラの画像データ出力方式を、予めCCDカメラの画素
毎の輝度データを直接出力する方式とすることも可能で
ある。
メラの画像データ出力方式を、予めCCDカメラの画素
毎の輝度データを直接出力する方式とすることも可能で
ある。
【0064】また、SRAM24の容量が十分でない場
合は、記憶装置26および記憶媒体26aも本発明にお
ける記憶手段として利用してもよい。
合は、記憶装置26および記憶媒体26aも本発明にお
ける記憶手段として利用してもよい。
【0065】さらに、硬さ試験機1に印刷装置を設けて
もよい。この場合は、例えば図2において印刷装置はバ
ス29に接続され、CPU22の指示に従って測定箇所
のビッカース硬度の算出結果や画像データ等を印刷す
る。
もよい。この場合は、例えば図2において印刷装置はバ
ス29に接続され、CPU22の指示に従って測定箇所
のビッカース硬度の算出結果や画像データ等を印刷す
る。
【0066】加えて、ターレット11には、圧子11
a、対物レンズ11b、11cの3つの固定部材を配設
する構成としたが、4つ以上の固定部材を配設する構成
であってもよい。
a、対物レンズ11b、11cの3つの固定部材を配設
する構成としたが、4つ以上の固定部材を配設する構成
であってもよい。
【0067】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、回転体制
御による停止位置決めにより、前記回転体を停止させる
際の当該回転体の回転方向を常に同一方向とするので、
圧子若しくはレンズの停止位置を安定させ、レンズの位
置関係に関わらず常に同一の条件下で試験体の硬さを測
定することとなって、測定値のばらつきを最小限に抑え
ることにより、従来の測定装置に比べ、より測定誤差の
少ない高精度な試験結果を得ることが出来、ユーザは試
験体の詳細な物性を知ることが出来る。これにより、硬
さ試験機の信頼性、ユーザの作業効率を向上させること
が出来る。
御による停止位置決めにより、前記回転体を停止させる
際の当該回転体の回転方向を常に同一方向とするので、
圧子若しくはレンズの停止位置を安定させ、レンズの位
置関係に関わらず常に同一の条件下で試験体の硬さを測
定することとなって、測定値のばらつきを最小限に抑え
ることにより、従来の測定装置に比べ、より測定誤差の
少ない高精度な試験結果を得ることが出来、ユーザは試
験体の詳細な物性を知ることが出来る。これにより、硬
さ試験機の信頼性、ユーザの作業効率を向上させること
が出来る。
【0068】請求項2記載の発明によれば、回転体制御
により前記回転体が所定の停止位置を通過した後に当該
回転体を再度反対方向へ回転させることにより、当該回
転体を停止させるので、請求項1記載の発明の効果に加
えて、回転体を同一方向に一回転させて停止位置を定め
る場合に比べて、回転体の回転に伴う圧子及びレンズの
移動距離を最小限に抑えることが可能となって、停止位
置決めの所要時間を短縮し、ユーザは硬度試験を迅速に
行うことが出来る。さらに、回転体の回転可動範囲を最
小限に抑えることが可能となり、消費電力を節約するこ
とが出来る。
により前記回転体が所定の停止位置を通過した後に当該
回転体を再度反対方向へ回転させることにより、当該回
転体を停止させるので、請求項1記載の発明の効果に加
えて、回転体を同一方向に一回転させて停止位置を定め
る場合に比べて、回転体の回転に伴う圧子及びレンズの
移動距離を最小限に抑えることが可能となって、停止位
置決めの所要時間を短縮し、ユーザは硬度試験を迅速に
行うことが出来る。さらに、回転体の回転可動範囲を最
小限に抑えることが可能となり、消費電力を節約するこ
とが出来る。
【図1】本発明の一実施の形態である硬さ試験機1の概
観模式図である。
観模式図である。
【図2】硬さ試験機1の要部構成及び接続構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図3】ターレット11の停止位置決め方法を表すため
の正面模式図である。
の正面模式図である。
【図4】CPU22の動作に基づくターレット11の停
止位置決め処理を示すフローチャ−トである。
止位置決め処理を示すフローチャ−トである。
【図5】本発明を適用した一実施の形態におけるターレ
ット11の動作を表す状態遷移図であり、(a)はター
レット11の回転前の停止状態を示す図、(b)はター
レット11の反時計回り方向への回転動作の状態を示す
図、(c)はターレット11の時計回り方向への回転
後、正面位置に停止した状態を示す図である。
ット11の動作を表す状態遷移図であり、(a)はター
レット11の回転前の停止状態を示す図、(b)はター
レット11の反時計回り方向への回転動作の状態を示す
図、(c)はターレット11の時計回り方向への回転
後、正面位置に停止した状態を示す図である。
【図6】従来の技術におけるターレット41の平面概略
図である。
図である。
【図7】ターレット41に配設された圧子41a、対物
レンズ41b、41cの位置関係を示す状態遷移図であ
り、(a)は圧子を正面位置に停止させた場合の状態
図、(b)は対物レンズ41bを正面位置に停止させた
場合の状態図、(c)は対物レンズ41cを正面位置に
停止させた場合の状態図である。
レンズ41b、41cの位置関係を示す状態遷移図であ
り、(a)は圧子を正面位置に停止させた場合の状態
図、(b)は対物レンズ41bを正面位置に停止させた
場合の状態図、(c)は対物レンズ41cを正面位置に
停止させた場合の状態図である。
1 硬さ試験機(硬さ試験機) 11 本発明に係るターレット(回転体) 11a 圧子(圧子) 11b、11c 対物レンズ(レンズ) 12 ターレット制御機構(回転体制御手段) 13 試料台(試料台) 14 ターレット駆動機構(回転体駆動手段) 22 CPU 23 ROM 24 SRAM 25 停止位置検出機構(停止位置検出手段) 26 記憶装置 26a 記憶媒体 27 表示装置 28 画像読取装置 29 バス 30 硬度測定部(測定手段) 31 フォトセンサ 32 中心線 41 従来のターレット 41a 圧子 41b、41c 対物レンズ 50 試験体
Claims (2)
- 【請求項1】装置本体に対し、回転が可能に取り付けら
れ、圧子及びレンズが所定の位置に配設された回転体
と、 前記回転体の回転に伴い、前記圧子若しくはレンズが所
定の停止位置に至った状態を検出する停止位置検出手段
と、 前記停止位置検出手段による停止位置の検出に応じて前
記回転体の制御を行う回転体制御手段と、 前記回転体制御手段による制御により、前記回転体を駆
動、停止させる回転体駆動手段と、 前記停止位置の下方に設けられた試料台に載置された試
験体に前記圧子を押し付けることによって形成されるく
ぼみから、当該試験体の硬度を測定する測定手段と、 を備えた硬さ試験機において、 前記回転体制御手段は、前記回転体を所定の停止位置に
停止させる際の回転方向を常に同一方向とする制御を行
うことを特徴とする硬さ試験機。 - 【請求項2】前記回転体制御手段は、前記回転体が所定
の停止位置を通過した後に当該回転体を再度反対方向へ
回転させることにより、当該回転体を停止させる制御を
行うことを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11054595A JP2000249641A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | 硬さ試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11054595A JP2000249641A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | 硬さ試験機 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000249641A true JP2000249641A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12975098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11054595A Pending JP2000249641A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | 硬さ試験機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000249641A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100555026C (zh) * | 2005-10-21 | 2009-10-28 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头组装和测试装置 |
CN112400102A (zh) * | 2018-04-23 | 2021-02-23 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 具有枢转体并且能够向其上的附件提供电力的硬度测试仪 |
JP2021035749A (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-04 | 寿原株式会社 | インキつぼのブレード調整装置 |
-
1999
- 1999-03-02 JP JP11054595A patent/JP2000249641A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100555026C (zh) * | 2005-10-21 | 2009-10-28 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 镜头组装和测试装置 |
CN112400102A (zh) * | 2018-04-23 | 2021-02-23 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 具有枢转体并且能够向其上的附件提供电力的硬度测试仪 |
JP2021035749A (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-04 | 寿原株式会社 | インキつぼのブレード調整装置 |
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