JP6835573B2 - 電圧調整回路、及び電圧調整方法 - Google Patents

電圧調整回路、及び電圧調整方法 Download PDF

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Description

本発明は、電圧調整回路、及び電圧調整方法に関し、特に電源電圧の調整に関する。
LSI(Large Scale Integrated circuit)、IC(Integrated Circuit)、PKG(Package)、プリント板といった部品で構成される装置においては、装置の動作電圧を容易に最適な電圧に調整できることが望ましい。
電源電圧の設定は、通常は、仕様に書かれた規格値に設定するが、設定値は、製造ばらつきや環境変化を考慮したworst値となる。その上、電源電圧の設定値のバラツキは、個体差、環境によって、±1〜2%発生することがある。一般的なLSI/ICの電源規格は±5%であり、上記バラツキは40%のバジェットを占める大きなファクタである。
また、上記バラツキを低減する方法として、出荷前に電圧を幾つか振って、多種の動作パタンが動作するかどうかを確認して電圧を設定する方法がある。しかしながらこの設定方法では、作業に時間がかかるという問題があり、電圧のステップを大きくせざるを得ず、効果は限定的といった課題や、上記の試験は出荷前にしかできないため、動作環境や経時劣化といったファクタについては、電圧を嵩上げしなければならないという課題があった。
これにより、装置においては、設定電圧を高くする必要が発生し、消費電力が増えるという課題があった。
LSI、IC、PKG、プリント板の部品には、各々製造ばらつきや環境によって特性が変わる。出荷前に電圧を決めてしまうと、環境のworst条件や経年劣化のマージンを加算した設定をしなければならない。また、出荷後の環境で動作パタンを実行することは、極めて困難であった。
特許文献1は、チップに適用する電源電圧の設定方法に関するものであり、チップのレイアウトデータからクリティカル・パスのゲート遅延と配線遅延の遅延比を抽出し、これを考慮してチップに適用するチップ電源電圧を設定することが、提案されている。
特開2013−37472号公報 特開2015−69993号公報
しかしながら、上述した電圧調整方法では、以下のような課題がある。
特許文献1のような、クリティカル・パスを使った回路や、実際の動作での試験では、あるタイミングのノイズしかテストすることができない。このため、必ずしもノイズの最悪値での試験で電圧調整を完遂できるとは限らない、という課題がある。
本発明の目的は、精度良く電源電圧を設定することができる電圧調整回路、及び電圧調整方法を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明に係る電圧調整回路は、電源ラインへ与える変化電流を発生させる変化電流発生手段と、上記電源ラインの電源電圧を用いて判定用電圧を発生させる判定用電圧発生手段と、上記電源ラインの電源電圧と上記判定用電圧とから上記電源ラインの電源ノイズを検出する電源ノイズ検出手段とを含む。
本発明の電圧調整方法は、電源ラインの電源電圧を用いて判定用電圧を発生させ、上記電源ラインへ変化電流を与え、上記変化電流が与えられた上記電源ラインの電源電圧と上記判定用電圧とから上記電源ラインの電源ノイズを検出する。
本発明では、精度良く電源電圧を設定することができる。
本発明の最上位概念の実施形態による電圧調整回路を説明するためのブロック図である。 本発明の第1実施形態の電圧調整回路を説明するためのブロック図である。 図2の判定用電圧発生回路1の一例を説明するための回路図である。 図2の変化電流発生回路2の一例を説明するための回路図である。 図2の電源ノイズ検出回路3の一例を説明するための回路図である。 変化電流発生回路2が発生させる変化電流と、判定用電圧Vout-1に対する電源電圧Vout-0の変化との関係の一例を示すグラフである。 図2のSetup/holdエラー検出回路4の一例を説明するための回路図である。 本発明の第2実施形態の電圧調整回路を説明するためのブロック図である。 図8の判定用電圧発生回路110の一例を説明するための回路図である。 図8の電源ノイズ検出回路130の一例を説明するための回路図である。
本発明の好ましい実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。より具体的な本発明の実施形態について説明する前に、本発明の最上位概念の実施形態の電圧調整回路、及び電圧調整方法について説明する。
図1は、本発明の最上位概念の実施形態による電圧調整回路を説明するためのブロック図である。図1の電圧調整回路50は、判定用電圧発生手段51と、変化電流発生手段52と、電源ノイズ検出手段53とを含む。変化電流発生手段52は、電源ラインへ与える変化電流を発生させる。判定用電圧発生手段51は、電源ラインの電源電圧を用いて判定用電圧を発生させる。電源ノイズ検出手段53は、電源ラインの電源電圧と上記判定用電圧とから、電源ラインの電源ノイズを検出する。本実施形態によれば、精度良く電源電圧を設定することができる。以下、本発明のより具体的な実施形態の電圧調整回路、及び電圧調整方法について説明する。
〔第1実施形態〕
本発明の第1実施形態による電圧調整回路、及び電圧調整方法について、説明する。図2は、本発明の第1実施形態の電圧調整回路を説明するためのブロック図である。
(実施形態の構成)
図2の電圧調整回路10は、電源電圧を調整する電圧調整回路である。図2の電圧調整回路10は、電圧発生回路8で発生した電源電圧を入力とし、電源ラインに対して、Power Delivery Network(PDN7)が接続されている回路である。電圧発生回路8は、Voltage Regulator Module(VRM)や半導体集積回路のレギュレータ回路などで構成され、外部電源入力を受けて、電圧制御信号VSIG-0で制御される。
図2の電圧調整回路10は、判定用電圧発生回路1、変化電流発生回路2、電源ノイズ検出回路3、Setup/holdエラー検出回路4、設定電圧判定回路5、及び電圧判定制御回路6を含む。
判定用電圧発生回路1は、電圧制御信号SEL-1nで制御され、電圧発生回路8で発生した電源電圧を入力とし、この電源電圧を用いて一定の電圧を発生させる。変化電流発生回路2は、制御信号ISIG-1で制御され、PDN7に接続される電源ラインに対して変化電流を挿入する。電源ノイズ検出回路3は、PDN7の電圧と判定用電圧発生回路1で発生した判定用電圧を入力とし、2つの電源を比較する。
Setup/holdエラー検出回路4は、判定用電圧発生回路1で発生した判定用電圧を電源として動作し、制御信号SHSIG-1で制御され、セットアップエラーとホールドエラーを判定する。
設定電圧判定回路5は、電源ノイズ検出回路3とSetup/holdエラー検出回路4の出力結果から設定電圧を判定し、電圧発生回路8の電源電圧設定値を決める。電圧判定制御回路6は、図2の電圧調整回路10の各々の回路を制御する。
(判定用電圧発生回路1の具体例)
図3は、図2の判定用電圧発生回路1の一例を説明するための回路図である。図3の判定用電圧発生回路1は、電源電圧Vout-0とGND間にソース・ドレイン路が直列接続された、n個のPchトランジスタ12(12〜12)とNchトランジスタ11とを含む。Nchトランジスタ11のゲートには、電源電圧Vout-0が与えられている。Pchトランジスタ12〜12のゲートには、それぞれ選択信号SEL-11〜SEL-1nが与えられる。
電圧発生回路8が発生させた電源電圧Vout-0に対して、n個のPchトランジスタ12(12〜12)とNchトランジスタ11のオン抵抗分割により、判定用電圧発生回路1は判定用電圧Vout-1を発生させる。判定用電圧Vout-1の電圧値は、選択信号SEL-11〜SEL-1nにより、Pchトランジスタ12をオンさせる個数を制御することにより、可変的にコントロールする。これにより、本実施形態の電圧調整回路10では、電源電圧の粗調整から高精度調整までカバーすることができる。なお以下では、電源電圧Vout-0を電圧Vout-0と表記し、判定用電圧Vout-1を電圧Vout-1と表記する場合がある。
(変化電流発生回路2の具体例)
図4は、図2の変化電流発生回路2の一例を説明するための回路図である。図4のような回路構成の変化電流発生回路2は、特許文献2で提案されている。図4の変化電流発生回路2は、VDDとGNDとの間にソース・ドレイン路が直列接続された多数のPchトランジスタとNchトランジスタとを含む。電流は、PchトランジスタとNchトランジスタに流れる貫通電流により発生する。Pchトランジスタは、ゲートへの電流値制御信号によってオン状態とオフ状態が制御される。図4では、複数のドライバが直列に接続されている。これらドライバにNchトランジスタのゲートが接続されている。さらに、各ドライバの出力側には、複数のコンデンサが接続されている。ドライバの電流変化制御と、Pchトランジスタの電流値制御との組合せにより、単調増加する変化電流を発生させる。
変化電流発生回路2を用いて、変化電流をPDN7上に掃引することにより、回路動作パタンによる周波数帯のノイズだけではなく、あらゆる周波数帯のノイズを網羅的に発生させることができる。
(電源ノイズ検出回路3の具体例)
図5は、図2の電源ノイズ検出回路3の一例を説明するための回路図である。図5の電源ノイズ検出回路3は、差動増幅器31、NAND回路32、遅延回路33、及びフリップフロップ34(F/F34)を含む。
初期状態において、電圧Vout-0と判定用電圧Vout-1との関係は、電圧Vout-0の電圧の方が高いため、IN11には、“1”が出力される。この状態で、Reset信号を1→0→1と動作させると、IN21にクロックが1回挿入され、F/F34には、Reset信号のデータ”0”が書き込まれ、出力OUT1から”0”が出力される。次に、Reset信号が”1”の状態で、電圧Vout-0が判定用電圧Vout-1より電圧が低くなった場合、IN11は1→0、IN21は0→1、そして、ノイズが収まり定常状態になると、電圧Vout-0の電圧の方が高くなるため、IN11は0→1、IN21は1→0へと遷移する。この動作により、F/F34には、Reset信号のデータ”1”が書き込まれ、OUT1から“1”が出力される。
図6は、変化電流発生回路2が発生させる変化電流と、判定用電圧Vout-1に対する電源電圧Vout-0の変化との関係の一例を示すグラフである。図6は、PDN7上の電源電圧Voutと変化電流とのタイミングチャートを示す。図6のように、電流が変化すると、そのタイミングで電源電圧Vout-0が変化する。その変化量は、変化電流発生回路2が発生させた電流変化が一定であっても、PDN7の構造、部材のバラツキ、動作環境など様々な要因により、ノイズの発生量は異なる。例えば、図6のノイズ(a)のような電圧変動の場合、電源電圧Vout-0が判定用電圧Vout-1より電圧値が下回ることが無いため、図5のF/F34の出力値は変化せず、”0”のままである。一方、図6のノイズ(b)のような電圧変動の場合、電源電圧Vout-0が判定用電圧Vout-1を下回るため、図5のF/F34にクロック信号CLKが印加され、F/F34に”1”が書き込まれる。こうして、電源ノイズ検出回路3は、ノイズが大きいことを検出する。
(Setup/holdエラー検出回路4の具体例)
図7は、図2のSetup/holdエラー検出回路4の一例を説明するための回路図である。図7のSetup/holdエラー検出回路4は、フリップフロップ41(F/F41)、フリップフロップ43(F/F43)、フリップフロップ45(F/F45)、及びフリップフロップ46(F/F46)を含む。図7のSetup/holdエラー検出回路4はさらに、遅延量S-delayの遅延回路42、及び遅延量H-delayの遅延回路44を含む。
予め、入力となる動作クロック信号CLKの周波数と、セットアップとの関係で遅延量S-delayの値をセットしておく。電源電圧は電圧Vout-1で動作させ、動作クロック信号CLKによるF/F間転送ができているかどうかをSetup/holdエラー検出回路4の出力SOUT1で判定する。また、同様に、Setup/holdエラー検出回路4の出力HOUT1でF/F間転送ができているかどうかを判定することで、電圧Vout-1でsetup/holdが満足するかどうかを判定する。
以上の動作により、setup/holdの動作を満足する電圧Vout-1を満たし、かつ、ノイズが判定用電圧Vout-1を下回らない電源電圧Vout-0を設定することにより、PDN7のバラツキを考慮した電源電圧を設定することが可能となる。
また、設定電圧判定回路5にて、setup/holdの動作を満足する電圧Vout-1、ノイズが判定用電圧Vout-1を下回らない電源電圧Vout-0が検出されなかった場合、電圧発生回路8へ電圧値の変更データを送り、電圧発生回路8が発生させる電圧値を調整する。その後、再度、上述した電源電圧判定を行うことにより、所望の電圧値に設定することが可能となる。
(実施形態の効果)
本実施形態によれば、各部品の製造ばらつきや環境条件による特性変化を製品レベルで考慮して電源電圧を調整することにより、マージンを低減した最適な電源電圧設定を行うことが可能となり、消費電力を低減することができる。各装置においては、バラツキを考慮して個々に設定できるので、大きな消費電力の低減ができるという効果がある。また、ホールドエラーも検出しており、半導体集積回路のホールド保証回路のマージンを減らすことにより、回路規模を低減させることができ、低消費電力を実現できるという効果がある。
また、下記の様に低消費電力を実現できるという効果がある。
(1)ノイズ発生に実際の動作パタンを必要とせず、容易に短時間で調整することができる
(2)PDN7のばらつきを考慮したノイズ発生量を検出することができ、最適な電圧値を求めることができる。
(3)クリティカル・パスを使った回路、実際の動作での試験は、あるタイミングのノイズしかテストすることができず、必ずしもノイズの最悪値での試験とは限らない。本実施形態の変化電流発生回路2は、全周波数帯を網羅することができるので、精度良く電源電圧を設定することができる。
(4)出荷前検査ではなく、実使用時に電源電圧を調整することができるので、環境変化や部品の経時劣化に合わせて最適な電圧に設定できる。
(5)電源電圧の調整精度は、変化電流発生回路2のトランジスタのオン抵抗をコントロールすることにより、粗調整から精度の高い調整まで幅広く調整することができる。
(6)hold回路エラー検出も行うので、プロセスにより、高い電圧でのエラーも検出できる。この検出機能により動作を保証することができ、設計段階で、余剰なhold保証回路を追加する必要がなく、回路規模を減らすことができ、消費電力を低減させることができる。
〔第2実施形態〕
次に、本発明の第2実施形態による電圧調整回路、及び電圧調整方法について、説明する。本実施形態は、第1実施形態による電圧調整回路の判定用電圧発生回路や電源ノイズ検出回路を、多重化した構成に関するものである。図8は、本発明の第2実施形態の電圧調整回路を説明するためのブロック図である。
(実施形態の構成)
図8の電圧調整回路100は第1実施形態と同様に、電源電圧を調整する電圧調整回路である。図8の電圧調整回路100は第1実施形態と同様に、電圧発生回路8で発生した電源電圧を入力とし、電源ラインに対してPDN7が接続されている回路である。電圧発生回路8は、VRMや半導体集積回路のレギュレータ回路などで構成され、外部電源入力を受けて、電圧制御信号VSIG-0で制御される。
図8の電圧調整回路100は、判定用電圧発生回路110、変化電流発生回路120、電源ノイズ検出回路130、Setup/holdエラー検出回路140、設定電圧判定回路150、及び電圧判定制御回路160を含む。
判定用電圧発生回路110は、電圧制御信号SEL-nで制御され、電圧発生回路8で発生した電源電圧を入力とし、この電源電圧を用いて一定の電圧を複数発生させる。図8の電圧発生回路8では、n個の電圧Vout-1〜Vout-nを発生させる。
変化電流発生回路120は、PDN7に接続される電源ラインに対して、変化電流を挿入する。電源ノイズ検出回路130は、PDN7の電圧と判定用電圧発生回路110で発生した複数の判定用電圧Vout-1〜Vout-nを入力とし、電源を比較する。Setup/holdエラー検出回路140は、判定用電圧発生回路110で発生した判定用電圧Vout-1〜Vout-nを電源として動作し、制御信号SHSIG-nで制御され、セットアップエラーとホールドエラーを判定する。言い換えると、本実施形態のSetup/holdエラー検出回路140は、電圧Vout-1からVout-nまでの各電源電圧で動作するよう接続される。設定電圧判定回路150は、電源ノイズ検出回路130とSetup/holdエラー検出回路140の出力結果に基づいて電圧Vout-1からVout-nまでの設定電圧を判定し、電圧発生回路8の電源電圧設定値を決める。電圧判定制御回路160は、図8の電圧調整回路100の各々の回路を制御する。
(判定用電圧発生回路110の具体例)
図9は、図8の判定用電圧発生回路110の一例を説明するための回路図である。図9の判定用電圧発生回路110は、電圧Vout-1からVout-nまでのn個の出力を持つ。図9の判定用電圧発生回路110は、電圧Vout-0とGND間にソース・ドレイン路が直列接続された、n×n個のPchトランジスタ112(Pchトランジスタ112〜112)、Pchトランジスタ113(Pchトランジスタ113〜113)、…と、Nchトランジスタ111とを含む。Nchトランジスタ111のゲートには、電圧Vout-0が与えられている。Pchトランジスタ112〜112のゲートには、それぞれ選択信号SEL-11〜SEL-1nが与えられる。Pchトランジスタ113〜113のゲートには、それぞれ選択信号SEL-21〜SEL-2nが与えられる。
電圧発生回路8が発生させた電圧Vout-0に対して、n×n個のPchトランジスタ112(112〜112)、113(113〜113)、…とNchトランジスタ111のオン抵抗分割により、判定用電圧発生回路110はn個の判定用電圧Vout-1〜Vout-nを発生させる。
判定用電圧Vout-1の電圧値は、選択信号SEL-11〜SEL-1nにより、オンさせるPchトランジスタ112の個数を制御することにより、可変的にコントロールする。判定用電圧Vout-2の電圧値は、選択信号SEL-21〜SEL-2nにより、オンさせるPchトランジスタ113の個数を制御することにより、可変的にコントロールする。これにより、本実施形態の電圧調整回路100では、電源電圧の粗調整から高精度調整までカバーすることができる。
電圧Vout-0と判定用電圧Vout-1との間の抵抗値は、選択信号SEL-11〜SEL-1nによって設定し、判定用電圧Vout-1と判定用電圧Vout-2との間の抵抗値は、選択信号SEL-21〜SEL-2nによって設定する。こうして判定用電圧発生回路110は、n個の判定用電圧Vout-1〜Vout-nを発生させる。抵抗値を大きく設定することによりラフな電圧調整が可能となり、抵抗値を小さくすることにより詳細な電圧調整が可能となる。
(電源ノイズ検出回路130の具体例)
図10は、図8の電源ノイズ検出回路130の一例を説明するための回路図である。図10の電源ノイズ検出回路130は、判定用電圧Vout-1から判定用電圧Vout-nまでのn個の入力を持つ。図10の電源ノイズ検出回路130は、n個の差動増幅器131(差動増幅器131〜131)、n個のNAND回路132(NAND回路132〜132)、n個の遅延回路133(遅延回路133〜133)、及びn個のフリップフロップ134(フリップフロップ134〜134)を含む。
図10の電源ノイズ検出回路130は、判定用電圧Vout-1からVout-nの各々の電圧値と電源ラインの電源電圧Vout-0との比較を行い、図5と同様にノイズの検出を行いOUT1からOUTnへ出力する。
これらの動作により、複数の電源電圧を同時に判定することができるので、短時間に測定することが可能となる。そしてまた、Setup/holdエラー検出回路140でエラーとならない電圧値と電源ノイズ検出回路130でエラーとならない電圧値が一致しない場合でも、その差分のタップ数から、電源の調整量を算出することにより、短時間に高精度に電圧を合わせることが可能となる。
(実施形態の効果)
本実施形態によれば第1実施形態と同様に、各部品の製造ばらつきや環境条件による特性変化を製品レベルで考慮して電源電圧を調整することにより、マージンを低減した最適な電源電圧設定を行うことが可能となり、消費電力を低減することができる。各装置においては、バラツキを考慮して個々に設定できるので、大きな消費電力の低減ができるという効果がある。また、holdエラーも検出しており、半導体集積回路のhold保証回路のマージンを減らすことにより、回路規模を低減させることができ、低消費電力を実現できるという効果がある。
また、第1実施形態と同様に、(1)〜(6)の効果がもたらされる。さらに本実施形態によれば、判定用電圧発生回路や判定回路を多重化することにより、第1実施形態と比較してより短時間で高精度の電圧判定を行うことができる。
以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。特許請求の範囲に記載した発明の範囲内で、種々の変形が可能であり、それらも本発明の範囲に含まれることはいうまでもない。本発明は、プリント板、電源、LSI、コンデンサなど、半導体集積回路が動作するパッケージ上で有用な電圧調整回路、及び電圧調整方法を提供できる。
上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
(付記1)電源ラインへ与える変化電流を発生させる変化電流発生手段と、前記電源ラインの電源電圧を用いて判定用電圧を発生させる判定用電圧発生手段と、前記電源ラインの電源電圧と前記判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する電源ノイズ検出手段とを含む、電圧調整回路。
(付記2)判定用電圧発生手段は、直列接続された複数のトラジスタのオン抵抗分割により前記判定用電圧を発生させる、付記1に記載の電圧調整回路。
(付記3)判定用電圧発生手段は、前記電源ラインの電源電圧を用いてお互いに異なる複数の判定用電圧を発生させる、付記1又は付記2に記載の電圧調整回路。
(付記4)前記電源ノイズ検出手段は、前記電源ラインの電源電圧と前記複数の判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する、付記3に記載の電圧調整回路。
(付記5)前記電源ノイズ検出手段による前記電源ノイズの検出結果に応じて、前記電源ラインの電源電圧を発生させる電圧発生回路を制御する、付記1乃至付記4のいずれか一つに記載の電圧調整回路。
(付記6)前記判定用電圧を電源電圧として動作し、セットアップエラー及びホールドエラーの少なくとも一つを検出するSetup/holdエラー検出回路をさらに含む、付記1乃至付記5のいずれか一つに記載の電圧調整回路。
(付記7)電源ラインの電源電圧を用いて判定用電圧を発生させ、前記電源ラインへ変化電流を与え、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧と前記判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する、電圧調整方法。
(付記8)前記判定用電圧を、直列接続された複数のトラジスタのオン抵抗分割により発生させる、付記7に記載の電圧調整方法。
(付記9)前記電源ラインの電源電圧を用いてお互いに異なる複数の判定用電圧を発生させ、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧と前記複数の判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する、付記7又は付記8に記載の電圧調整方法。
(付記10)前記電源ノイズの検出結果に応じて、前記電源ラインの電源電圧を発生させる電圧発生回路を制御する、付記7乃至付記9のいずれか一つに記載の電圧調整方法。
(付記11)前記判定用電圧を電源電圧として動作し、セットアップエラー及びホールドエラーの少なくとも一つを検出する、付記7乃至付記10のいずれか一つに記載の電圧調整方法。
1、110 判定用電圧発生回路
2、120 変化電流発生回路
3、130 電源ノイズ検出回路
4、140 Setup/holdエラー検出回路
5、150 設定電圧判定回路
6、160 電圧判定制御回路
7 PDN
8 電圧発生回路
10、100 電圧調整回路
11 Nchトランジスタ
12〜12 Pchトランジスタ
31 差動増幅器
32 NAND回路
33 遅延回路
34 フリップフロップ
41、43、45、46 フリップフロップ
42 遅延回路
44 遅延回路
51 判定用電圧発生手段
52 変化電流発生手段
53 電源ノイズ検出手段
111 Nchトランジスタ
112〜112 Pchトランジスタ
113〜113 Pchトランジスタ
131〜131 差動増幅器
132〜132 NAND回路
133〜133 遅延回路
134〜134 フリップフロップ

Claims (10)

  1. 電源ラインの電源電圧を発生させる電圧発生回路と、前記電源ラインへ与える単調増加する変化電流を発生させる変化電流発生手段と、前記電源ラインの電源電圧を用いて一定の判定用電圧を発生させる判定用電圧発生手段と、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧と前記判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する電源ノイズ検出手段であって、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧が前記判定用電圧を下回るかどうかによって電源ノイズを検出する電源ノイズ検出手段と、前記電源ノイズ検出手段の出力結果から前記電圧発生回路の電源電圧設定値を決定する設定電圧判定手段であって、前記電源ノイズが前記判定用電圧を下回らない電源電圧となるよう前記電源電圧設定値を調整する設定電圧判定手段とを含む、電圧調整回路。
  2. 判定用電圧発生手段は、直列接続された複数のトラジスタのオン抵抗分割により前記判定用電圧を発生させる、請求項1に記載の電圧調整回路。
  3. 判定用電圧発生手段は、前記電源ラインの電源電圧を用いてお互いに異なる複数の判定用電圧を発生させる、請求項1又は請求項2に記載の電圧調整回路。
  4. 前記電源ノイズ検出手段は、前記電源ラインの電源電圧と前記複数の判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する、請求項3に記載の電圧調整回路。
  5. 前記電源ノイズ検出手段による前記電源ノイズの検出結果に応じて、前記電源ラインの電源電圧を発生させる前記電圧発生回路を制御する、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の電圧調整回路。
  6. 前記判定用電圧発生手段が出力する前記判定用電圧を電源電圧として動作し、セットアップエラー及びホールドエラーの少なくとも一つを検出するSetup/holdエラー検出回路をさらに含み、前記設定電圧判定手段は、前記電源ノイズ検出手段と前記Setup/holdエラー検出回路の出力結果から前記電圧発生回路の前記電源電圧設定値を決定する、請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の電圧調整回路。
  7. 電源ラインの電源電圧を用いて一定の判定用電圧を発生させ、前記電源ラインへ単調増加する変化電流を与え、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧と前記判定用電圧とから、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧が前記判定用電圧を下回るかどうかによって前記電源ラインの電源ノイズを検出し、前記電源ノイズの検出結果に基づいて前記電源ラインに与える電源電圧の設定値を決定し、前記電源ノイズが前記判定用電圧を下回らない電源電圧となるよう前記設定値を調整する、電圧調整方法。
  8. 前記判定用電圧を、直列接続された複数のトラジスタのオン抵抗分割により発生させる、請求項7に記載の電圧調整方法。
  9. 前記電源ラインの電源電圧を用いてお互いに異なる複数の判定用電圧を発生させ、前記変化電流が与えられた前記電源ラインの電源電圧と前記複数の判定用電圧とから前記電源ラインの電源ノイズを検出する、請求項7又は請求項8に記載の電圧調整方法。
  10. 前記電源ノイズの検出結果に応じて、前記電源ラインの電源電圧を発生させる電圧発生回路を制御する、請求項7乃至請求項9のいずれか一項に記載の電圧調整方法。
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Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06289942A (ja) * 1993-03-31 1994-10-18 Toshiba Corp 定電流源の保護回路
JPH0954620A (ja) * 1995-08-18 1997-02-25 Mitsubishi Electric Corp 電源監視回路
JP2001217705A (ja) * 2000-01-31 2001-08-10 Fujitsu Ltd Lsiデバイス
US6823293B2 (en) * 2002-12-31 2004-11-23 International Business Machines Corporation Hierarchical power supply noise monitoring device and system for very large scale integrated circuits
KR20060131723A (ko) * 2003-08-22 2006-12-20 자이단호우진 신산교소우조우 겐큐키코 반도체집적회로의 잡음검출 및 측정 회로
JP4651287B2 (ja) * 2004-02-19 2011-03-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
JP2005266311A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Seiko Epson Corp 電源回路、表示ドライバ及び表示装置
US7355429B2 (en) * 2005-03-24 2008-04-08 International Business Machines Corporation On-chip power supply noise detector
JP4955250B2 (ja) * 2005-10-14 2012-06-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びそのテスト方法
JP2011035271A (ja) * 2009-08-04 2011-02-17 Renesas Electronics Corp 電圧変動削減回路および半導体装置
JP5292243B2 (ja) * 2009-09-28 2013-09-18 株式会社日立製作所 半導体集積回路
JP5799645B2 (ja) 2011-08-05 2015-10-28 株式会社ソシオネクスト 電源電圧設定方法及び電源電圧設定プログラム
JP5713072B2 (ja) 2013-09-26 2015-05-07 日本電気株式会社 測定装置、半導体装置およびインピーダンス調整方法
JP2016092536A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

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