JP6816726B2 - 発光素子および表示装置 - Google Patents

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Description

本技術は、半導体レーザやスーパールミネッセントダイオード(SLD)の技術に関する。
発光素子として、スーパールミネッセントダイオード(SLD)は、発光ダイオードに比較的近い広い発光スペクトル幅を持ちながら、同時に半導体レーザの発光状態のような狭い放射角と強い強度で光を出射する特徴を持つ。
特許文献1に記載のSLDは、平面視において、劈(へき)開端面に垂直に形成された直線状のリッジ導波路と、これに続いて曲がるように設けられた曲がりガイド活性層とを備える。その劈開端面にはAR(反射防止)膜が形成される場合もある。かかる構造のSLDでは、直線状のリッジ導波路直下の活性層で発生した光の大部分が、曲がりガイド活性層へ向かう。曲がりガイド活性層へ向かう光は、その曲がりに起因して漏れる光と、端面(劈開端面の反対側の端面)までガイドされその端面で反射される光と、ガイドされる途中で吸収される光とに分けられる。このような構造によれば、上記曲がりに起因して漏れる光および当該劈開端面の反対端で反射される光は、直線状の活性層に戻ることができないので、レーザモード発振が抑えられる(例えば、特許文献1の第2ページの右下欄〜第3ページの左上欄、第1図を参照)。
要するに、SLDは、通常のレーザダイオード(LD)のように、両端面に設けられたミラーで光を往復させて共振させる構造ではなく、光を導波路で一方通行させて光を増幅させる(誘導放出は行われる)構造を有する。両者の異なる点は、SLDの出力光が有する波長のスペクトル幅が、LDのそれよりはるかに広いことである。
特許文献2には、半導体レーザの構造が開示されている(SLDではない)。この半導体レーザでは、第2クラッド層であるp型クラッド層の上部が、リッジ部およびウイング部で構成され、リッジ部およびウイング部の間には、p型クラッド層の上面からその内部まで形成された溝が設けられている。これらリッジ部および溝のそれぞれの横方向(光の出射方向に直交する方向)の幅について、前端面側領域における溝幅より、後端面側領域における溝幅の方が狭くなっている。このような構造により、高次横モード光の放射損失が低減される(例えば、特許文献2の明細書段落[0036]、[0058]、[0077]、図1、2参照)。
特開平2-310975号公報 特開2013-4855号公報
レーザやSLD等の発光素子では、通電面積を広げること、例えばストライプ幅を広げることで高出力化が可能である。ストライプ幅が広くなると、光の閉じ込め幅が広くなり、出射されるビームスポットサイズが大きくなる。発光素子の利用形態によっては、大きなスポットサイズのビームは扱いにくくなる場合がある。すなわち、光の出力を高めることと、光の閉じ込め幅の拡大を抑えることの両立が難しかった。
本開示の目的は、光閉じ込め幅を拡大することなく、すなわちビームスポットのサイズを拡大することなく、高出力化を実現することができる発光素子および表示装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る発光素子は、基板と、光出射端である第1端と、前記第1端の反対側に設けられた第2端とを備える発光素子である。前記発光素子は、第1電極層と、第1導電型層と、第2導電型層と、活性層と、第2電極層とを具備する。
前記第1電極層は、前記第2端から前記第1端に向けて延設されたストライプ型の電極層である。
前記第1導電型層は、前記第1電極層により形成される電流注入領域と、非電流注入領域とを含む。
前記第2導電型層は、前記基板上に設けられる。
前記活性層は、第1導電型層および前記第2導電型層の間に設けられる。
前記第2電極層は、前記基板または前記第2導電型層に接する。
前記第1導電型層、前記活性層、および前記第2導電型層に含まれる導波構造は、第1領域と、前記第1領域と前記第1端との間に設けられた第2領域とを含む。
前記第1領域は、前記電流注入領域により構成される第1導波路および前記非電流注入領域を有し、前記電流注入領域の屈折率と、前記非電流注入領域の屈折率との差として第1屈折率差を有する。
前記第2領域は、前記第1導波路から前記第1端へ向けて延長されるように設けられた第2導波路を有し、前記第2導波路の屈折率と、前記第2領域内における、前記第2導波路の周囲の領域の屈折率との差として、前記第1屈折率差より大きい第2屈折率差を有する。
前記第2導波路は、前記第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有する。
第2領域の第2屈折率差が、第1領域の第1屈折率差より大きく構成され、第2領域の第2導波路の幅が、第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなうように構成されているので、第2領域における光閉じ込めの作用が促進される。したがって、光閉じ込め幅を拡大することなく、つまり、ビームスポットサイズを拡大することなく、高出力化を実現することができる。
前記導波構造の前記第1領域は、前記非電流注入領域として、前記第1導波路を挟むように設けられた第1凹部を有していてもよい。また、前記導波構造の前記第2領域は、前記第2導波路の周囲の領域として、前記第2導波路を挟むように設けられた、前記第1凹部の深さより深い第2凹部を有していてもよい。
導波構造において、第1凹部の深さより、第2凹部の深さが深く設けられることにより、第1領域における第1屈折率差より大きい、第2領域における第2屈折率差を実現することができる。
前記第2凹部は、前記活性層の位置より深い位置に設けられた底面を有していてもよい。
これにより、第2導波路における光閉じ込め効果を促進させることができる。
前記発光素子は、前記第2凹部を覆う誘電体層をさらに具備していてもよい。
前記第2導波路の、前記第1領域側の端部の幅である第1の幅が、前記第1導波路の、前記第2領域側の端部の幅である第2の幅より広くなっていてもよい。
これにより、第1導波路で発生および伝搬する全光量を第2導波路へ確実に導くことができ、光損失を抑えることができる。
前記第2導波路の前記第1端における幅である第3の幅が、前記第2の幅より狭くなっていてもよい。これにより、ビームスポットサイズの縮小化および高出力化を促進させることができる。
前記第2導波路は、その第2導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路を有していてもよい。
前記直線導波路は、前記第1端まで延設され、前記直線導波路の前記長手方向に沿う直線方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成されていてもよい。
例えば第1導波路が非直線状である場合、レーザ発振を抑制してSLDの構造を実現できる。
前記第2導波路は、非直線状に設けられ前記直線導波路から延設された非直線導波路をさらに有していてもよい。
前記第2導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路を有していてもよい。
例えば第1導波路が非直線状である場合、レーザ発振を抑制してSLDの構造を実現できる。
前記非直線導波路は、前記第1端における、その非直線導波路の長手方向に沿う方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成されていてもよい。
前記第1導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路、および、前記第1導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路のうち少なくとも一方を有する
これにより、レーザ発振を抑制してSLDの構造を実現できる。
前記第1導波路は、前記第2端から、前記第1端から前記第2端までの長さの1/2までの領域において、前記第2端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成されたテーパ導波路を有していてもよい。
例えば第1端のみが光出射端であり、第2端が反射端である場合に、第2端に近い領域(第2端から、第1端から第2端までの長さの1/2までの領域)における第1導波路での電流注入量を減らすことにより、第1端に近い導波路の領域での電流注入量を増やすことができる。これにより、第1端に近い導波路での誘導放出の効率を高めることができ、高出力化を実現できる。
前記テーパ導波路の幅は、前記第2端において最も狭くなっていてもよい。
前記テーパ導波路の長手方向に沿う直線方向が、前記第2の端面に垂直になるように構成されていてもよい。
これにより、第2端での光の反射角を小さくすることができ、光利用効率を高めることができる。
本技術の一形態に係る表示装置は、上記発光素子と、画像生成部とを具備する。
前記画像生成部は、前記発光素子から出射された光を2次元状にスキャン可能であり、画像データに基づき、投射される前記光による輝度を制御可能に構成される。
以上、本技術によれば、光閉じ込め幅を拡大することなく、すなわちビームスポットのサイズを拡大することなく、高出力化を実現することができる。
なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
図1は、本技術の一実施形態に係る発光素子を示す斜視図である。 図2は、図1に示す発光素子の平面図である。 図3Aは、図2におけるA−A線断面図である。図3Bは、図2におけるB−B線断面図である。 図4は、発光素子の各部位のサイズを示す図である。 図5は、導波構造の主に第2領域を拡大して示す平面図である。 図6は、ストライプ幅(通電面積)とビームスポットサイズとの関係を示すグラフである。 図7Aは、赤色SLDの製造方法の一例を説明するための、半導体層を示す断面図である。図7Bは、第1領域の断面を示し、誘電体層の形成後、第1電極層が形成された素子を示す断面図である。 図8は、上記赤色SLDの光出力特性を示すグラフである。 図9は、他の形態1に係る第2領域を主に示す平面図である。 図10は、上記他の形態1の変形例に係る第2領域を主に示す平面図である。 図11は、他の形態2に係る第2領域を主に示す平面図である。 図12は、他の形態3に係る第2領域を主に示す平面図である。 図13は、他の形態4に係る第2領域を主に示す平面図である。 図14は、他の形態5に係る第2領域を主に示す平面図である。 図15は、他の形態1に係る第1領域を持つ発光素子を示す平面図である。 図16は、図15に示す発光素子の第1領域付近を拡大した平面図である。 図17は、図15に示す発光素子における光出力特性を示すグラフである。 図18は、テーパ導波路の長さと、出力改善率との関係を示すグラフである。 図19は、第1領域(におけるテーパ導波路)の他の形態2を示す平面図である。 図20は、第1領域(におけるテーパ導波路)の他の形態3を示す平面図である。 図21は、上記各実施形態に係る半導体発光素子であるSLDのうちいずれかを光源として用いる表示装置の構成を模式的に示す図である。
以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。以下の説明では、図面を参照する場合において、素子や部品の方向や位置を指し示すために「上」、「下」、「左」、「右」、「縦」、「横」などの文言を用いる場合があるが、これは説明の便宜上の文言に過ぎない。すなわち、これらの文言は、説明を理解しやすくするために使用される場合が多く、素子や装置が実際に製造されたり使用されたりする場面における方向や位置と一致しない場合がある。
1.発光素子
1.1)発光素子の構成
図1は、本技術の一実施形態に係る発光素子100を示す斜視図である。図2は、図1に示す発光素子の平面図である。本実施形態に係る発光素子100は、リッジ型の導波路を備えるスーパールミネッセントダイオード(SLD)である。図1において、左には、発光素子100のうち主に半導体層の断面が拡大して示されている。
図1に示すように、発光素子100は、上層側から、第1電極層11、第1導電型層13、活性層15、第2導電型層17、基板19、および第2電極層12を、順に備えている。第1導電型層13は、例えばp型の導電型を有し、第2導電型層17は、例えばn型の導電型を有する。図3Bも参照すれば、各層の構造を理解しやすい。
第1導電型層13は、第1電極層11側から順に形成された、ここでは図示しないクラッド層およびガイド層を有する。第2導電型層17は、基板19側から順に形成された、ここでは図示しないクラッド層およびガイド層を有する。第2電極層12は、基板19の裏面に接して設けられている。
なお、第1導電型層13は、第1電極層11と接する領域にコンタクト層を有していてもよい。また、基板19と第2導電型層17との間には、n型のバッファ層が設けられていてもよい。第2電極層12は、第2導電型層17に直接接して設けられていてもよい。
発光素子100は、光出射端(第1端)101と、その反対側の端(第2端)である後端102とを有する。光出射端101および後端102には、それぞれ誘電体膜21が設けられている。光出射端101に設けられた誘電体膜21は、低反射率のものが用いられる。後端102に設けられた誘電体膜21は、高反射率のものが用いられる。
以降では、説明の便宜上、発光素子100の長手方向をy方向、それに直交する方向をx方向とする。また、これらx、y方向に垂直な方向をz方向とする。
なお、本実施形態では、「光出射端」および「後端」は、半導体材料で構成された素子の端を意味しており、その意味では、「光出射端」および「後端」を構成する材料は、それら両端面に設けられた誘電体膜21は含まれない。しかし、それらの誘電体膜21も含めて、発光素子100の「光出射端」および「後端」を考えても、以降の説明に矛盾はない。
図3Aは、図2におけるA−A線断面図である。図3Bは、図2におけるB−B線断面図である。なお、図3A、Bでは、発光素子100の上部表面に誘電体層25が設けられているが、図1、2では、その誘電体層25の図示は省略されている。
図1、2に示すように、第1電極層11は、後端102から光出射端101に向けて延設されたストライプ型に構成されており、上述のようにリッジ型の導波構造50が構成される。また、第1電極層11は、非直線状の領域を含み、後述するように、この第1電極層11の形状にしたがって形成される導波路も、非直線状の領域を含む。
「非直線」とは、典型的には曲線であるが、ジグザグ状や階段状の線も含む。「曲線」は、円弧、二次曲線、または、これらの組合せの概念を含む。
第1導電型層13、活性層15および第2導電型層17は、発光素子100の長手方向であるy方向で、第1領域30と、第2領域40とに分かれて構成された導波構造50を有する。図4は、発光素子100の各部位のサイズを示す図である。導波構造50の第1領域30は、y方向において、後端102からL1+L2の長さだけ離れた位置までに設けられた導波構造である。導波構造50の第2領域40は、第1領域30の光出射端側の端部から、光出射端101までの間の領域に設けられた導波構造である。つまり、第2領域40は、第1領域30と光出射端101との間に設けられている。
図3Bに示すように、第1電極層11により、主に第1導電型層13には電流注入領域が形成される。導波構造50の第1領域30は、その電流注入領域によって構成される第1導波路32と、この第1導波路32の周囲に設けられ電流注入が行われない非電流注入領域とを有する。第1導波路32は主にリッジ部で構成される。非電流注入領域は、主に、第1導波路32を挟むように設けられた第1凹部34として構成される。すなわち、第1領域30では、いわゆるダブルリッジ(w-ridge)構造が形成される。
第1導電型層13において、第1電極層11から、ある程度の広がりを持って活性層15へ向かって電流が拡散する。第1領域30では、第1導電型層13(および第2導電型層17)において電流が通る領域を、ここでは電流注入領域と称し、それ以外の領域を非電流注入領域と称している。すなわち、電流注入領域および非電流注入領域により電流狭窄構造が形成される。このような導波構造50の第1領域30により、電流密度を上げることができる。図3Bの符号V1で示すような制限された領域で高出力の光ビームが生成される。
電流注入領域(第1導波路32)の光の屈折率と、非電流注入領域(第1凹部34)の光の屈折率との差として、第1屈折率差が生じる。この第1屈折率差は、第1凹部34の深さに応じて変わる等価屈折率差として計算される値である。
図3Aに示すように、導波構造50の第2領域40は、第1導波路32から光出射端101へ向けて延長されるように設けられた第2導波路42と、この第2導波路42を挟むように設けられた第2凹部44とを有する。第2導波路42は、第1導波路32から延長される、半導体でなる凸部により構成され、第2導波路42には、第1電極層11は設けられていない。第2凹部44の深さは、第1領域30における第1凹部34の深さより深くなっている。
このように構成された第2領域40では、第2導波路42の光の屈折率と、第2凹部44の光の屈折率との差として、第2屈折率差が生じる。この第2屈折率差は、第2凹部44の深さに応じて変わる等価屈折率差として計算される値である。第2屈折率差は、上記第1領域30における第1屈折率差より大きなるように、第1凹部34および第2凹部44の深さが設計されている。上述のように、第2凹部44の深さが第1凹部34の深さより深く形成されることにより、第2屈折率差を第1屈折率差より大きく設計することができる。このような導波構造50により、図3Aの符号V2で示すように、光閉じ込めの作用が発生する。
図3Aに示すように、典型的には、第2凹部44の深さは、活性層15の位置より深い位置に底面44aを有するように設定されている。これにより、第1屈折率差と第2屈折率差との差を大きくすることができる。
また、第2導波路42は、図2に示すように、光出射端101へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有する。本実施形態では、第2導波路42の全体において、光出射端101へ向かうにしたがい当該幅が狭くなるように構成されている。
なお、上述したように、第1凹部34および第2凹部44のそれぞれの表面は、誘電体層25で覆われている。また典型的には、第1凹部34および第2凹部44内に、当該誘電体層25上に上記第1電極層11を含む導電性材料が埋め込まれるか、または、その他の適切な材料が埋め込まれる。
以上のように構成された第2領域40を有する導波構造50によれば、次のような効果が得られる。すなわち、第2領域40の第2屈折率差が、第1領域30の第1屈折率差より大きく構成され、第2領域40の第2導波路42の幅が、光出射端101へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成されているので、第2領域40における光閉じ込めの作用が促進される。したがって、ビームスポットサイズを拡大することなく、高出力化を実現することができる。
1.2)発光素子の局部の構成およびサイズ
図2に示すように、第1領域30における第1導波路32は、その長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路321と、この直線導波路321から延設された曲線導波路(非直線導波路)322とを含む。直線導波路321は、曲線導波路に対して後端102側に設けられている。図4に示すように、曲線導波路322の端部322aは、第2領域40の第2導波路42の端部42bに対面している。
直線導波路321の長手方向は、できるだけ多くの光量が光出射端101に伝搬するように、例えば後端面102aに垂直になるように構成されている。しかし、それは必ずも垂直でなくてもよい。
図4を参照して、発光素子100(のうち半導体素子)の全長L0は、例えば1000μm以上4000μm以下であり、典型的には2200μmである。全長L0は、この範囲に限られない。なお、全長L0は、両端のそれぞれの誘電体膜21の厚さを含む長さであってもよい。
第1導波路32の直線導波路321の長さL1と、曲線導波路322の長さL2の長さの比は、典型的には1:1程度に設定されるが、このような長さの比には限定されない。なお、L0が2200μmである場合、例えばL1が990μm、L2が1000μmである。もちろん、L1がL2より長くてもよい。曲線導波路322の曲率は、例えば、第1領域30における実効的な屈折率差によって光が伝搬される曲率であればよい。
このような曲線導波路322が設けられることにより、光出射端面101aでの反射が抑制されるので、レーザ発振を抑制してSLDの構造を実現できる。
なお、第1導波路32のうち主に直線導波路321の領域は、活性層15でキャリアの再結合が起こり、光(自然放出光)を発生させる領域である。以下、この領域を、便宜的に「LED領域」と言う。一方、第1導波路32のうち主に曲線導波路322の領域は、キャリアの再結合による自然放出光が発生し、かつ、その自然放出光を増幅させる領域である。以下、この領域を、便宜的に「光増幅領域」と言う。もちろん、これらLED領域および光増幅領域が明確に区画されているわけではないが、直線導波路321および曲線導波路322での光の作用は、概ねそのように区別される。
図5は、導波構造50の主に第2領域40を拡大して示す平面図である。この第2領域40における第2導波路42は、第1導波路32から延長されるように、当該第2導波路42の長手方向に沿って直線状に設けられた導波路(直線導波路)として構成されている。第2導波路42は、光出射端101まで延設されている。第2導波路42は、その長手方向に沿う直線方向が、光出射端面101aに非垂直(端面からの光出射角度がθ)になるように構成されている。
第1導波路32の幅W2(第2の幅)は、3μm以上12μm以下で、例えば、長手方向のどの位置でも実質的に一定とされる。しかし、幅W2は必ずしも一定でなくてもよい。幅W2は、より好ましくは、高出力化を図るため5μm以上10μm以下とされ、例えば6μmとされる。
第2導波路42の、発光素子100のy方向の長さL3は、第2導波路42を伝搬する光の角度(z方向で見たy軸に対する角度)が、第2屈折率差に基づいて決まる臨界角よりも小さくなるように設計される。長さL3は、例えば25μm以上300μm以下であり、好ましくは100μm以上200μm以下とされる。長さL3は、典型的には165μmとされる。
第2導波路42の、第1領域30側の端部の幅W1(第1の幅)は、例えば4μm以上15μm以下であり、好ましくは6μm以上12μm以下とされる。幅W1は、典型的には7μmとされる。
第2導波路42の、光出射端101側の端部の幅W3(第3の幅)は、例えば1μm以上10μm以下であり、好ましくは2μm以上8μm以下とされる。幅W3は、特に限定されるものではなく、ビームスポットサイズが必要な大きさとなるように設計されればよい。幅W3は、典型的には3.4μmとされる。
幅W1、W2、およびW3の間には、W1>W2>W3の関係が成立する。特に、幅W1が、第1導波路32の、第2領域40側の端部の幅(ここではW2)より広いことにより、第1導波路32で発生および伝搬する全光量を第2導波路42へ確実に導くことができ、光損失を抑えることができる。
第2領域40のy方向の長さL3が25μmより小さいと、幅W2の位置から幅W3の位置までの長さが短くなり、導波路を構成する側壁の角度が急になる。そうなると、その側壁から光漏れが起こるおそれがある。長さL3が300μmより大きいと、第1電極層11が設けられていない第2領域40では、通電しない領域が長くなり、発生する光量が低下する。
光出射角度θは、2deg以上15deg以下とされ、好ましくは4deg以上10deg以下とされる。光出射角度θは、典型的には5degとされる。光出射角度θが2degより小さいと、光出射端面101aからの反射光が導波路に戻り、レーザ発振が起こってしまうからである。結合係数の目安としては、10-5である。光出射角度θが15degより大きいと、全反射の角度に近づき、出射される光量が低下するからである。
なお、図5に示すように、第2凹部44の全体幅W4(あるいは、z方向で見た第2凹部44内の面積)は、適宜設定される。第1屈折率差と、第2屈折率差とに適切な差が設けられれば、第2凹部44内の面積は制限されない。幅W4は、第1領域30における第1凹部34の全体幅と同じであってもよい。
また、図4に示すように、第1領域30と第2領域40との間に所定の間隔Dが設けられているが、このDはなくてもよい(D=0)。
ここで、上述したように、高出力化を実現するために通電面積を広げると(例えばストライプ幅を広げる)、ビームスポットサイズが大きくなる。図6は、そのことを示すグラフである。本実施形態に係る発光素子100の構造によれば、光閉じ込め効果を促進できるので、ビームスポットサイズを拡大することなく、高出力化を実現することができる。
1.3)発光素子を構成する要素の材料例および製造方法
次に、本実施形態に係る発光素子100(SLD)の製造方法を、赤色SLD、緑色SLD、青色SLDに分けて説明する。以下に説明する製造方法および使用される材料は、典型例に過ぎず、これらに限定されるわけではない。
1.3.1)赤色SLDの製造方法
赤色SLDの製造方法を説明する。図7Aは、その赤色SLDの発光素子100の半導体層を示す断面図である。
半導体の基板19としてGaAs基板が用いられる。このGaAs基板(この時点ではウェハ)上に、以下の結晶構造がMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法で形成される。
Al0.5In0.5Pからなり,Siドープされたn型クラッド層171が3μm程度成長する。そのn型クラッド層上にGaxIn1-xPからなるガイド層172が20nm程度成長する。GaxIn1-xPもしくは(AlxGa1-x)0.5In0.5Pからなる活性層15が成長する。活性層15は通常、多重量子井戸構造とされるが、井戸幅および井戸数は特に規定されない。活性層15の井戸厚は例えば80Å程度である。
活性層15の上から、GaxIn1-xPからなるガイド層132が40nm程度成長する。その上に、Al0.5In0.5PからなるMgドープされたp型クラッド層131が成長する。
クラッド層の材料としてはAlGaInPなどの組成の半導体を用いても構わない。クラッド層の膜厚は例えば1.5μm程度である。
上記p型クラッド層131が成長する間に、GaxIn1-xPからなるエッチングストップ層131aが形成される。エッチングストップ層131aはアンモニア過水などによるウェットエッチングに耐性のある物質であればよい。エッチングストップ層131aの膜厚は例えば5nm程度である。
なお、エッチングストップ層131aは、図1等では図示もしていないし、その説明もしていない。
エッチングストップ層131aを含む上記p型クラッド層131の上にMgドープされたGaInP層が成長する。MgドープされたGaAs層が成長し、コンタクト層130が形成される。
次に、発光素子100の光出射端面101aおよび後端面102aに相当する、ウェハ上の領域に、ここでは図示しない窓領域が形成される。これは、光吸収をできるだけ抑えるためである。窓領域の形成には、例えば、半導体層内の不純物(例えばZn)の拡散などの手法が用いられる。これらの窓領域は必ずしもなくてもよい。あるいは、窓領域は、光出射端面101aおよび後端面102aのうちいずれか一方に形成されてもよい。
次に、導波構造50のうち第2領域40(第2導波路42および第2凹部44)が形成される。具体的には、上記第2領域40に相当する箇所に、第2凹部44の形状に対応するSiO2のマスク開口部がフォトリソグラフィにより形成される。この開口を介して、ドライエッチングによりエッチングが行われる。ドライエッチング処理では、n型クラッド層171の中間点までエッチングされる。エッチング処理では、上述したように、第2導波路42内とその周囲の第2凹部44との等価屈折率差に基づいて、エッチング深さが制御される。
次に、導波構造50のうち、第1領域30(第1導波路32および第1凹部34)が形成される。例えば、第1領域30は、フォトリソグラフィおよびエッチングの工程により形成される。エッチング工程では、エッチングストップ層131aを超えないようにドライエッチングが行われる。また、エッチング工程では、アンモニア過水等によるウェットエッチングにより、エッチングストップ層131a上に残った半導体層が除去される。これにより、第1領域30が形成される。
次に、誘電体層25(図3A、B参照)が形成される。具体的には、成膜技術およびフォトリソグラフィにより、リッジ部の頂上部以外に誘電体層25が形成される。誘電体層25は、リッジ部の壁面、第1凹部34および第2凹部44のそれぞれの内面を覆うように形成される。
誘電体層25の材料は、例えばSiO2である。誘電体層25の材料は、その他、Si,SiN,Al2O3,Ta2O5,AlN等でもよい。誘電体層25を構成する膜は、単層膜でも多層膜でもよい。誘電体層25の厚さは、第1凹部34、第2凹部44を保護できる厚さであれば限定されない。
図7Bは、第1領域30の断面を示し、上記誘電体層25の形成後、第1電極層11が形成された素子を示す断面図である。第1電極層11は、成膜技術およびフォトリソグラフィにより形成される。第1電極層11は、少なくともリッジ部の頂上部に形成されるが、図7Bに示すように、リッジ部の壁面等にも連続して形成されるようにしてもよい。第1電極層11の材料は、半導体側から、例えばTi/Pt/Auである。
なお、図3A、Bのようにリッジ部の断面(z−x面による断面)の形状は、長方形であったが、実際には、例えば図7Bに示すように、上層であるコンタクト層の幅が狭くなるような台形となっている。もちろん、リッジ部の断面形状は、長方形でもよいし、逆台形(上下が逆になった台形)であってもよい。
GaAs基板(基板19)であるウェハが、所定の厚さまで研磨されて薄くされ、そのウェハの裏面に第2電極層12(図1参照)が形成される。第2電極層12は、半導体側から、例えばAuGe/Ni/Auである。
第2電極層12が形成された後、例えば劈開を利用してウェハが加工され、発光素子単位のチップ状とされ、発光素子100の光出射端面101aが形成される。光出射端面101aには、保護と反射率抑制を目的として、誘電体膜21が形成される。誘電体膜21は、例えばスパッタリングや蒸着により形成される。誘電体膜21の材料は、例えばSiO2、Al2O3、Ta2O5、TiO2等が挙げられる。
導波路への結合係数を抑制するため、光出射端101の反射率は0.3%以下に設定される。一方、後端102の反射率は、ほぼ95%以上に設定される。光出射端101および後端102の反射率は上記数値に限定されるものではなく、光出射端101ではより低い反射率、また、後端102ではより高い反射率が設定されてもよい。
以上のように作製されたチップが、LD(Laser Diode)で用いられるパッケージや、その他の所定の治具に実装される。この実装で用いられるはんだ材は、例えばAuSn合金、Sn、銀ペースト等である。半導体素子のp側およびn側のうちどちら側をパッケージ側として実装しても構わないが、効率良く排熱するためにp側がパッケージ側として実装されることが望ましい。
実装された発光素子100を、給電のための端子とAuワイヤーボンドで接続される。必要に応じて発光素子100を保護する部材が実装され、製品が完成する。
図8は、上記のように作製された発光素子100における光出力特性を示すグラフである。具体的にこのグラフは、電流と、光出力および電流/光の変換効率との関係を示す。
スポットサイズは、一方向(例えば水平方向)で1.17mm、これに垂直な方向で0.71mmであった。
上記のように作製された発光素子100によれば、室温で400mW程度の高出力の光が得られ,さらに1.17μmのスポットサイズとなることが確認された。すなわち、小さいスポットサイズおよび高出力化を両立できることが明らかとなった。
なお、作製された発光素子100の寸法を、以下にまとめた。
L1=990μm
L2=1000μm
L3=2200μm
W1=7μm
W2=6μm
W3=3.4μm
1.3.2)緑色SLDおよび青色SLDの製造方法
次に、緑色SLDおよび青色SLDの製造方法を説明する。ここでは、上記赤色SLDの製造方法と同様の方法については、その説明を簡略化または省略し、異なる点を中心に説明する。
緑色SLDおよび青色SLDの製造方法において、赤色SLDの製造方法と異なる点は、エッチングストップ層131aが設けられない点である。エッチング深さは、時間で制御される。緑色SLDの半導体材料としてはGaN系材料が用いられ、この場合、ウェットエッチングが行われないことが多いため、エッチングストップ層131aは設けられない。
この他、結晶の多層構造にレーザを照射し、エッチングによって多層構造の膜厚が変化してレーザ光の反射率が周期的に変化することを利用して、エッチングのストップ位置を検出する方法が用いられる場合もある。
半導体層のうちの各層は、例えば以下の材料で構成される。
基板:GaN
活性層:INGaN
ガイド層:GaN、またはINGaN
クラッド層:InAlGaN、またはAlGaN
コンタクト層:GaN、またはAlGaN
緑色SLDの「第1領域30」の構造および製造方法としては、例えば特開2012-174868号公報に開示されたLDの構造および製造方法が好適である。青色SLDの構造および製造方法として、例えば特開2010-129763号公報に開示されたLDの構造および製造方法が好適である。
なお、緑色SLDおよび青色SLDは、ドープされる不純物の違いやその量の違いにより区別される。
2.他の形態に係る第2領域
以降の説明では、上記発光素子100の導波構造50の第2領域40の他の形態について説明する。これ以降の説明では、上記実施形態に係る発光素子100の同一の要素については同一の符号を付し、その説明を簡略化または省略し、異なる点を中心に説明する。
上記発光素子100に係るSLDと同様に、発光素子100の導波路全体(第1導波路32および第2導波路42を含む全体の導波路)が非直線状に構成されることは、図9〜14に示される第2領域の形態において共通の事項である。
2.1)他の形態1
図9は、他の形態1に係る第2領域140を主に示す平面図である。この第2領域140の導波路(第2導波路142)は、主領域142aと、拡大領域142bとを含む。主領域142aは、上記光出射端101に向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される。拡大領域142bは、その主領域142aの最小幅の位置から延設されるように、光出射端101に設けられる。
拡大領域142bの幅(光出射端面101aに平行な方向、つまりx方向の幅)は、第2領域140における任意の位置における幅より広く構成されている。またその幅は、例えば第2領域140の凹部(第2凹部44)の幅より小さく設定される。
拡大領域142bのy方向の長さは、例えば誘電体膜21の厚さより大きくなっている。拡大領域142bは、例えば図示しない窓領域の厚さ(y方向の長さ)と実質同じ、あるいは、それに近い長さ(y方向の長さ)を有していてもよい。
このように構成された発光素子100は、第2領域140に拡大領域142bを有していたとしても、上記発光素子100と同様の効果を得ることができる。
拡大領域142cは、図10に示すように、主領域142aを中心として、光出射端面101aに沿う方向(つまりx方向)の一側にのみ広がるように設けられていてもよい。
2.2)他の形態2
図11は、他の形態2に係る第2領域を主に示す平面図である。他の形態2に係る第2領域240の導波路(第2導波路242)は、当該導波路の長手方向に沿って曲線状に設けられた導波路(曲線導波路、非直線導波路)により構成されている。また、第2導波路242は、光出射端101において、光出射端面101aに対して角度θで交差するように設けられている。すなわち、その曲線導波路に沿う曲線と、光出射端面101aとの交点における、当該曲線の接線が、角度θとなる。
このように構成された第2導波路242に、図9または10で示した拡大領域142bまたは142cが設けられていてもよい。このことは、以下の形態3以降についても同様である。
2.3)他の形態3
図12は、他の形態3に係る第2領域を主に示す平面図である。他の形態3に係る第2領域340の導波路(第2導波路)342は、第1領域30の第1導波路32から延長されるように曲線状に設けられた曲線導波路342aと、この曲線導波路342aから延設された直線導波路342bとを有する。「曲線」は、円弧、二次曲線、または、これらの組合せの概念を含む。以下、同様である。
直線導波路342aの長手方向に沿う直線は、光出射端面101aに対して角度θ(例えば図4参照)で設けられている。
さらに別の形態として、曲線導波路342aと直線導波路342bとの配置が逆であってもよい。すなわち、直線導波路が第1導波路32から延長されるように設けられ、曲線導波路がその直線導波路から延設されていてもよい。
2.4)他の形態4
図13は、他の形態4に係る第2領域を主に示す平面図である。他の形態4に係る第2領域440では、導波路(第2導波路442)を構成する一側の壁面(第2領域440におけるリッジ部を構成する一側の壁面)442dが曲面で構成され、それに対向する他側の壁面442eが平面で構成されている。
壁面442eの平面に沿う直線は、光出射端面101aに対して角度θ(例えば図4参照)で設けられている。
2.5)他の形態5
図14は、他の形態5に係る第2領域を主に示す平面図である。他の形態5に係る第2領域540の導波路(第2導波路)542は、階段状の壁面を有し、非直線導波路となっている。階段状の壁面が設けられることにより、第2導波路542の長手方向に沿う直線が、光出射端面101aに対して角度θ(例えば図4参照)で設けられる構造を実現することができる。
3.他の形態に係る第1領域
現在、レーザスキャン型のプロジェクタでは、高輝度かつ低スペックルの光源が求められている。特にスペクトル幅の広いSLDはこの用途に適しており、期待がもたれる。しかし、従来のSLDの構造では、後端102側に近い導波路の領域にも多くの電流が注入され、誘導放出の効率が低く、光出力が制限されていた。このような問題を解決するため、本発明者らは、以下に説明する第1領域を有する導波構造を持つ発光素子を提案する。
3.1)他の形態1
以降の説明では、図1、2等に示した発光素子100の導波構造250の第1領域30の他の形態について説明する。図15は、他の形態1に係る第1領域を持つ発光素子を示す平面図である。図16は、図15に示す発光素子200の第1領域230付近を拡大した平面図である。なお、図16では、第1電極層を示さず、その下層のコンタクト層236を最上層として示している。
図1、2等に示した発光素子100では、導波構造50のうち第1領域30における導波路(第1導波路32)の幅は実質的に一定であった。しかし、本実施形態に係る第1導波路232は、図15、16に示すように、後端102に向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有する。つまり、この第1導波路232のリッジ部は、テーパ状の側壁面を有する。以下、この領域の導波路を、説明の便宜上、「テーパ導波路」と称し、その符号を232Aとする。
第1領域230における第1導波路232は、図1に示した第1導波路32と同様に、直線導波路2324と、この直線導波路2324から延設された曲線導波路2325とを有する。テーパ導波路232Aは、その直線導波路2324に設けられている。直線導波路2324の長手方向は、発光素子200の長手方向(y方向)に沿って設けられ、種光である自然放出光がより多く直線導波路2324内で反射されるように、後端面102aに垂直となっている。直線導波路2324の長手方向は、このように長手方向に沿って設けられている形態に限られず、斜めに設けられていてもよい。
テーパ導波路232Aは、後端102からy方向に、全長L0の1/2の長さまでの間(後端102から概ねL1までの長さの領域)のうち、所定の長さで連続して設けられる。典型的には、図15に示すように、テーパ導波路232Aの長さは、後端102からL0の1/4程度の長さとされる。
テーパ導波路232Aの後端の位置は、発光素子200の後端102、具体的には誘電体膜21を除いて構成される半導体素子の後端102に一致またはそれに近い位置であることが望ましい。すなわち、テーパ導波路232Aの長さは、最長でL0の1/2となる。
テーパ導波路232Aの後端の幅W5(図19参照)、つまり最も狭い幅W5は、例えば2μm〜5μm以下に設定され、典型的には2.38μmに設定される。
なお、本実施形態では、テーパ導波路232Aの形状に合わせて、そのテーパ導波路232Aを両側において挟む凹部(第1凹部34)の側壁面もテーパ状に設けられている。しかし、第1凹部34の側壁面は、必ずしもこのようにテーパ状でなくてよもよい。
また、本実施形態では、図16に示すように、発光素子200(半導体素子)の後端102に設けられた窓領域75に干渉しない位置にコンタクト層236の後端が配置される。例えば、コンタクト層236の後端は、発光素子200の後端102から45nmだけ離れて配置されている。窓領域75が形成されない場合、このような限定は不要である。
このように、第1導波路232の後端側に、テーパ導波路232Aが設けられることにより、発光素子200は次のように作用する。LDは、平行鏡の間で光を往復させながら誘導放出光を増幅するメカニズムで発光している。一方、SLDは、後端102および後端102に近い側で自然放出光である種光が発生し、光出射端101へ向かって伝搬する間に増幅され放射されるというメカニズムで発光し、LDとは発光原理が異なる。また、SLDの導波構造50、250は、上記したように、後端102より光出射端101に近い領域(光増幅領域)と、光出射端101より後端102に近い領域(LED領域)とで、発光に寄与する役割が異なっていることが大きな特徴である。
すなわち、LED領域より、光増幅領域に多くの電流を注入することが、高出力化に寄与する。LED領域における電流注入の面積を、光増幅領域におけるそれより小さく設定するため、テーパ導波路232Aを設けることにより、高出力化を図ることができる。また、テーパ形状による壁面の角度は、テーパ導波路232Aで発生した自然放出光が、光出射端101側へ反射されやすい角度となっており、このことも高出力化に寄与する。
図17は、本実施形態に係る発光素子200における光出力特性(電流と光出力との関係)を示すグラフである。破線が、テーパ導波路232Aが設けられていない形態(リッジ部の両壁面が平行な導波路形態)を示し、実線がテーパ導波路232Aが設けられる本実施形態を示す。このグラフから、光出力の改善傾向が見られる。
テーパ導波路232Aによる上記作用効果の大きさは、テーパ導波路232Aの長さに応じて変化する。図18は、そのテーパ導波路232Aの長さと、出力改善率との関係を示すグラフである。グラフの縦軸では、テーパ導波路232Aが設けられない(平行な導波路を持つ)発光素子200の出力が100%とされる。また、横軸のテーパ導波路232Aの長さは、全長L0に対する割合で示されている。
図18から、テーパ導波路232Aの長さが全長L0の30%程度までは、テーパ導波路232Aの長さが長くなるにしたがって、出力が高くなる傾向にある。そして、テーパ導波路232Aの長さが全長L0の70%になると、平行な導波路とほぼ同等となり、改善効果が見られなくなる。この結果から、テーパ導波路232Aは全長L0に対して、後端102から1/2程度に設定され、より好ましくは後端102から1/3程度に設定される。
3.2)他の形態2
図19は、第1領域(におけるテーパ導波路)の他の形態2を示す平面図である。この第1領域330の第1導波路332では、テーパ導波路332Aのうち後端102からy方向への所定の長さの領域において、幅広に設けられた拡大領域332bが設けられている。このような形態であっても、上記他の形態1に係る第1領域30を持つ発光素子100と同様の効果が得られる。
拡大領域332bは、テーパ導波路332Aのx方向における中心から両側に広がるように設けられている。本実施形態に係る拡大領域は、図10に示した拡大領域142bに類するように、当該中心から一方にのみ広がるように設けられていてもよい。
3.3)他の形態3
図20は、第1領域(におけるテーパ導波路)の他の形態3を示す平面図である。この第1領域430の第1導波路432では、テーパ導波路432Aを構成するリッジ部の両壁面432f、432gのうち、一方の壁面432gのみがテーパ状に設けられている。他方の壁面432fは後端102に垂直に設けられる。
3.4)他の形態4
第1領域の他の形態4として、図示しないが、例えば図15において、長さL2で構成される曲線導波路2325に代えて、光出射端面101aに対して角度θを持つ直線状に設けられていてもよい。
3.5)他の形態5
あるいは、他の形態5として、図示しないが、例えば図15において、長さL2で構成される曲線導波路2325に代えて、直線と曲線との組み合わせで構成されていてもよい。
この場合、例えば後端102に近い直線導波路2324から光出射端101へ向けて延設される曲線導波路と、その曲線導波路から光出射端101へ向けて延設される直線導波路とが設けられていてもよい。このような構造により、曲線導波路で漏れ光が発生したとしても、曲線導波路は光出射端101から離れているので、発光素子の外部への放射を抑制できる。これにより、良好なビームスポットを形成することができる。特に、漏れ光はビームスポットの形状に悪影響を及ぼすため、発光素子がプロジェクタの光源として使用される場合には、漏れ光を抑制することが重要である。
なお、第1領域の上記他の形態4、5(図示せず)については、上記他の形態1〜3と組み合わせでなくてもよく、つまり、テーパ導波路が設けられていなくてもよい。
3.6)他の形態6
図示しないが、他の形態6として、第1領域の上記他の形態1〜5のうちいずれか1つと、上記した第2領域の各形態のうちいずれか1つとの組み合わせにより、発光素子が構成されてもよい。
4.表示装置
図21は、上記各実施形態に係る発光素子であるSLDのうちいずれかを光源として用いる表示装置の構成を模式的に示す。この表示装置1000は、ラスタスキャン方式のプロジェクタである。
表示装置1000は、画像生成部70を備える。画像生成部70は、光源としての発光素子から出射された光を2次元状にスキャン可能、例えばラスタスキャン可能であり、画像データに基づき、スクリーンや壁面等の照射面65に投射される光による輝度を制御可能に構成される。
画像生成部70は、例えば水平スキャナ63および垂直スキャナ64を主に含む。赤色発光のSLD100R、緑色発光のSLD100Gおよび青色発光のSLD100Bからのビームのそれぞれは、ダイクロイックプリズム62R,62G,62Bによって1本のビームに纏められる。このビームが、水平スキャナ63および垂直スキャナ64によってスキャンされ、照射面65に投影されることで、画像が表示される。
なお、RGBの各色発光の発光素子のうち、少なくとも1つがSLDであればよく、他の素子は通常のLDであってもよい。
水平スキャナ63および垂直スキャナ64は、例えば、ポリゴンミラーとガルバノスキャナとの組合せにより構成される。この場合、輝度の制御手段としては、例えば発光素子へ注入する電流を制御する回路が用いられる。
あるいは、水平スキャナおよび垂直スキャナとして、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical System)技術を用いて製造されるDMD(Digital Micro-mirror Device)等の、2次元光変調素子が用いられてもよい。
あるいは、画像生成部70は、GLV(Grating Light Valve)素子等の1次元光変調素子と、上述の1次元スキャンミラーとの組み合わせにより構成されていてもよい。
あるいは、画像生成部70は、音響光学効果スキャナや電気光学効果スキャナといった屈折率変調型スキャナにより構成されていてもよい。
5.他の種々の実施形態
本技術は、以上説明した実施形態に限定されず、他の種々の実施形態を実現することができる。
例えば図1を用いて説明した実施形態では、導波構造50における第2領域40の第2凹部44は、活性層15より深くなるように構成されていた。しかし、例えば第2凹部44の深さ(第2凹部44の底面44aの深さ位置)は、必ずしも活性層15に達していなくてもよい。本技術の趣旨は、第1領域30における第1屈折率差より、第2領域40における第2屈折率差が大きいことが重要である。この屈折率差の違いが、第2領域40において光閉じ込め効果を促進するための1つの要素だからである。このことは、その他の実施形態についても同様である。
したがって、例えば第1領域30は、第1導電型層13に設けられる第1凹部34を有していなくてもよい。例えば、本技術による第1領域30は、特開2005-12044に開示されているように、第2導電型層17の電流阻止領域(つまり、非電流注入領域)が、第1導波路32の周囲に設けられるように構成されていてもよい。このことは、その他の実施形態についても同様である。
上記各実施形態に係る発光素子であるSLDは、光出射端101と、その反対側の後端102とを備えていた。しかし、発光素子(SLDに限られない)の両端が光出射端で構成されていてもよい。この場合、導波構造として、第1領域における第1屈折率差より大きい、第2領域における第2屈折率差を有する第2領域が、発光素子の両端(光出射端)にそれぞれ設けられる。
上記各実施形態に係る発光素子としてSLDを例に挙げたが、LD(Laser Diode)であってもよい。LDの場合、導波構造の第1領域および第2領域の各導波路は一直線状であり、それら導波路の長手方向は、光出射端面101aに垂直であることが望ましい。発光素子がSLDの場合、第1領域の第1導波路が全長手方向にわたって非直線状(例えば曲線状)に設けられていてもよい。
上記実施形態では、第1導電型がp型、第2導電型がn型に設定されたが、第1導電型がn型、第2導電型がp型に設定されてもよい。
以上説明した各形態の特徴部分のうち、少なくとも2つの特徴部分を組み合わせることも可能である。
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
(1)
基板と、光出射端である第1端と、前記第1端の反対側に設けられた第2端とを備える発光素子であって、
前記第2端から前記第1端に向けて延設されたストライプ型の第1電極層と、
前記第1電極層により形成される電流注入領域と、非電流注入領域とを含む第1導電型層と、
前記基板上に設けられた第2導電型層と、
前記第1導電型層および前記第2導電型層の間に設けられた活性層と、
前記基板または前記第2導電型層に接する第2電極層とを具備し、
前記第1導電型層、前記活性層、および前記第2導電型層に含まれる導波構造は、
前記電流注入領域により構成される第1導波路および前記非電流注入領域を有し、前記電流注入領域の屈折率と、前記非電流注入領域の屈折率との差として第1屈折率差を有する第1領域と、
前記第1領域と前記第1端との間に設けられた第2領域であって、前記第1導波路から前記第1端へ向けて延長されるように設けられた第2導波路を有し、前記第2導波路の屈折率と、前記第2領域内における、前記第2導波路の周囲の領域の屈折率との差として、前記第1屈折率差より大きい第2屈折率差を有する第2領域とを含み、
前記第2導波路は、前記第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有する
発光素子。
(2)
前記(1)に記載の発光素子であって、
前記導波構造の前記第1領域は、前記非電流注入領域として、前記第1導波路を挟むように設けられた第1凹部を有し、
前記導波構造の前記第2領域は、前記第2導波路の周囲の領域として、前記第2導波路を挟むように設けられた、前記第1凹部の深さより深い第2凹部を有する
発光素子。
(3)
前記(2)に記載の発光素子であって、
前記第2凹部は、前記活性層の位置より深い位置に設けられた底面を有する
発光素子。
(4)
前記(2)または(3)に記載の発光素子であって、
前記第2凹部を覆う誘電体層
をさらに具備する発光素子。
(5)
前記(1)から(4)のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
前記第2導波路の、前記第1領域側の端部の幅である第1の幅が、前記第1導波路の、前記第2領域側の端部の幅である第2の幅より広い
発光素子。
(6)
前記(5)に記載の発光素子であって、
前記第2導波路の前記第1端における幅である第3の幅が、前記第2の幅より狭い
発光素子。
(7)
前記(1)から(6)のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
前記第2導波路は、その第2導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路を有する
発光素子。
(8)
前記(7)に記載の発光素子であって、
前記直線導波路は、前記第1端まで延設され、
前記直線導波路の前記長手方向に沿う直線方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成される
発光素子。
(9)
前記(7)または(8)に記載の発光素子であって、
前記第2導波路は、非直線状に設けられ前記直線導波路から延設された非直線導波路をさらに有する
発光素子。
(10)
前記(1)から(6)のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
前記第2導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路を有する
発光素子。
(11)
前記(10)に記載の発光素子であって、
前記非直線導波路は、前記第1端における、その非直線導波路の長手方向に沿う方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成される
発光素子。
(12)
前記(1)から(11)のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
前記第1導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路、および、前記第1導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路のうち少なくとも一方を有する
発光素子。
(13)
前記(1)から(12)のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
前記第1導波路は、前記第2端から、前記第1端から前記第2端までの長さの1/2までの領域において、前記第2端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成されたテーパ導波路を有する
発光素子。
(14)
前記(13)に記載の発光素子であって、
前記テーパ導波路の幅は、前記第2端において最も狭くなっている
発光素子。
(15)
前記(13)または(14)に記載の発光素子であって、
前記テーパ導波路の長手方向に沿う直線方向が、前記第2の端面に垂直になるように構成される
発光素子。
(16)
基板と、光出射端である第1端と、前記第1端の反対側に設けられた第2端とを備える発光素子と、
前記発光素子から出射された光を2次元状にスキャン可能であり、画像データに基づき、投射される前記光による輝度を制御可能な画像生成部とを具備し、
前記発光素子は、
前記第2端から前記第1端に向けて延設されたストライプ型の第1電極層と、
前記第1電極層により形成される電流注入領域と、非電流注入領域とを含む第1導電型層と、
前記基板上に設けられた第2導電型層と、
前記第1導電型層および前記第2導電型層の間に設けられた活性層と、
前記基板または前記第2導電型層に接する第2電極層とを具備し、
前記第1導電型層、前記活性層、および前記第2導電型層に含まれる導波構造は、
前記電流注入領域により構成される第1導波路および前記非電流注入領域を有し、前記電流注入領域の屈折率と、前記非電流注入領域の屈折率との差として第1屈折率差を有する第1領域と、
前記第1領域と前記第1端との間に設けられた第2領域であって、前記第1導波路から前記第1端へ向けて延長されるように設けられた第2導波路を有し、前記第2導波路の屈折率と、前記第2領域内における、前記第2導波路の周囲の領域の屈折率との差として、前記第1屈折率差より大きい第2屈折率差を有する第2領域とを含み、
前記第2導波路は、前記第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有する
表示装置。
11…第1電極層
12…第2電極層
13…第1導電型層
15…活性層
17…第2導電型層
19…基板
30、230、330、430…第1領域
32、232、332、432…第1導波路
34…第1凹部
40、140、240、340、440、540…第2領域
42、142、242、342、442、542…第2導波路
42b…端部
44a…底面
44…第2凹部
50、250…導波構造
70…画像生成部
100、200…発光素子
101…光出射端
101a…光出射端面
102…後端
102a…後端面
142b、142c…拡大領域
232A、332A、432A…テーパ導波路
321、2324…(第1導波路の)直線導波路
322、2325…(第1導波路の)曲線導波路
322a…端部
342a…(第2導波路の)曲線導波路
342b…(第2導波路の)直線導波路
1000…表示装置

Claims (15)

  1. 基板と、光出射端である第1端と、前記第1端の反対側に設けられた第2端とを備える発光素子であって、
    前記第2端から前記第1端に向けて延設されたストライプ型の第1電極層と、
    前記第1電極層により形成される電流注入領域と、非電流注入領域とを含む第1導電型層と、
    前記基板上に設けられた第2導電型層と、
    前記第1導電型層および前記第2導電型層の間に設けられた活性層と、
    前記基板または前記第2導電型層に接する第2電極層とを具備し、
    前記第1導電型層、前記活性層、および前記第2導電型層に含まれる導波構造は、
    前記電流注入領域により構成される第1導波路および前記非電流注入領域を有し、前記電流注入領域の屈折率と、前記非電流注入領域の屈折率との差として第1屈折率差を有する第1領域と、
    前記第1領域と前記第1端との間に設けられた第2領域であって、前記第1導波路から前記第1端へ向けて延長されるように設けられた第2導波路を有し、前記第2導波路の屈折率と、前記第2領域内における、前記第2導波路の周囲の領域の屈折率との差として、前記第1屈折率差より大きい第2屈折率差を有する第2領域とを含み、
    前記第2導波路は、前記第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有し、
    前記第2導波路の、前記第1領域側の端部の幅である第1の幅が、前記第1導波路の、前記第2領域側の端部の幅である第2の幅より広い
    発光素子。
  2. 請求項1に記載の発光素子であって、
    前記導波構造の前記第1領域は、前記非電流注入領域として、前記第1導波路を挟むように設けられた第1凹部を有し、
    前記導波構造の前記第2領域は、前記第2導波路の周囲の領域として、前記第2導波路を挟むように設けられた、前記第1凹部の深さより深い第2凹部を有する
    発光素子。
  3. 請求項2に記載の発光素子であって、
    前記第2凹部は、前記活性層の位置より深い位置に設けられた底面を有する
    発光素子。
  4. 請求項2又は3に記載の発光素子であって、
    前記第2凹部を覆う誘電体層
    をさらに具備する発光素子。
  5. 請求項1から4のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
    前記第2導波路の前記第1端における幅である第3の幅が、前記第2の幅より狭い
    発光素子。
  6. 請求項1から5のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
    前記第2導波路は、その第2導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路を有する
    発光素子。
  7. 請求項に記載の発光素子であって、
    前記直線導波路は、前記第1端まで延設され、
    前記直線導波路の前記長手方向に沿う直線方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成される
    発光素子。
  8. 請求項6又は7に記載の発光素子であって、
    前記第2導波路は、非直線状に設けられ前記直線導波路から延設された非直線導波路をさらに有する
    発光素子。
  9. 請求項1から5のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
    前記第2導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路を有する
    発光素子。
  10. 請求項に記載の発光素子であって、
    前記非直線導波路は、前記第1端における、その非直線導波路の長手方向に沿う方向が、前記第1端の端面に非垂直になるように構成される
    発光素子。
  11. 請求項1から10のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
    前記第1導波路は、非直線状に設けられた非直線導波路、および、前記第1導波路の長手方向に沿って直線状に設けられた直線導波路のうち少なくとも一方を有する
    発光素子。
  12. 請求項1から11のうちいずれか1項に記載の発光素子であって、
    前記第1導波路は、前記第2端から、前記第1端から前記第2端までの長さの1/2までの領域において、前記第2端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成されたテーパ導波路を有する
    発光素子。
  13. 請求項12に記載の発光素子であって、
    前記テーパ導波路の幅は、前記第2端において最も狭くなっている
    発光素子。
  14. 請求項12又は13に記載の発光素子であって、
    前記テーパ導波路の長手方向に沿う直線方向が、前記第2の端面に垂直になるように構成される
    発光素子。
  15. 基板と、光出射端である第1端と、前記第1端の反対側に設けられた第2端とを備える発光素子と、
    前記発光素子から出射された光を2次元状にスキャン可能であり、画像データに基づき、投射される前記光による輝度を制御可能な画像生成部とを具備し、
    前記発光素子は、
    前記第2端から前記第1端に向けて延設されたストライプ型の第1電極層と、
    前記第1電極層により形成される電流注入領域と、非電流注入領域とを含む第1導電型層と、
    前記基板上に設けられた第2導電型層と、
    前記第1導電型層および前記第2導電型層の間に設けられた活性層と、
    前記基板または前記第2導電型層に接する第2電極層とを具備し、
    前記第1導電型層、前記活性層、および前記第2導電型層に含まれる導波構造は、
    前記電流注入領域により構成される第1導波路および前記非電流注入領域を有し、前記電流注入領域の屈折率と、前記非電流注入領域の屈折率との差として第1屈折率差を有する第1領域と、
    前記第1領域と前記第1端との間に設けられた第2領域であって、前記第1導波路から前記第1端へ向けて延長されるように設けられた第2導波路を有し、前記第2導波路の屈折率と、前記第2領域内における、前記第2導波路の周囲の領域の屈折率との差として、前記第1屈折率差より大きい第2屈折率差を有する第2領域とを含み、
    前記第2導波路は、前記第1端へ向かうにしたがい幅が狭くなるように構成される領域を有し、
    前記第2導波路の、前記第1領域側の端部の幅である第1の幅が、前記第1導波路の、前記第2領域側の端部の幅である第2の幅より広い
    表示装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109217106A (zh) * 2017-07-05 2019-01-15 长春理工大学 一种采用多周期表面DFB光反馈***抑制1550nm SLD器件F-P激射的方法
CN111261756B (zh) * 2020-03-25 2021-12-14 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司 一种半导体发光器件
CN116505367A (zh) * 2023-05-25 2023-07-28 杭州温米芯光科技发展有限公司 一种半导体结构及制造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2778985B2 (ja) 1989-05-26 1998-07-23 日本電信電話株式会社 スーパールミネツセントダイオード
JPH08236853A (ja) * 1995-02-27 1996-09-13 Fujitsu Ltd 半導体レーザ
CA2404451A1 (en) * 2000-02-25 2001-08-30 Princeton Lightwave, Inc. Multi-pass, arcuate bent waveguide, high power superluminescent diode
JP2002076432A (ja) * 2000-08-30 2002-03-15 Stanley Electric Co Ltd 端面発光型半導体装置、その製造方法及び光空間伝送装置
JP2003347637A (ja) * 2002-05-30 2003-12-05 Toshiba Corp ファイバレーザ装置およびその調芯方法、映像表示装置
JP2012033797A (ja) * 2010-08-02 2012-02-16 Panasonic Corp 半導体発光素子
JP2013004855A (ja) 2011-06-20 2013-01-07 Panasonic Corp 半導体レーザ装置
JP5650707B2 (ja) * 2012-11-12 2015-01-07 株式会社フジクラ スーパールミネッセントダイオード
JP2014165327A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Sony Corp 半導体発光素子及びその製造方法、並びに、表示装置
JP2015146397A (ja) * 2014-02-04 2015-08-13 株式会社フジクラ 半導体発光素子
US9966500B2 (en) * 2014-04-25 2018-05-08 Sony Corporation Semiconductor optical device and display device
JP6421928B2 (ja) * 2014-12-24 2018-11-14 セイコーエプソン株式会社 発光装置およびプロジェクター

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