JP6025883B2 - 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 - Google Patents
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Description
全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの高い方から高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するA/D変換部4と、
データ閾値電圧Vthを所定ステップで可変する閾値電圧可変部3と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段6bと、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段6cとを備えたことを特徴とする。
前記高電圧範囲H1、前記中電圧範囲H2、前記低電圧範囲H3の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部2と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部5とを備えたことを特徴とする。
前記閾値電圧可変部3は、所定の電圧範囲において第1のステップでデータ閾値電圧Vthを可変し、前記A/D変換部4のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする。
全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの高い方から高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧Vthを所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする。
前記高電圧範囲H1、前記中電圧範囲H2、前記低電圧範囲H3の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする。
所定の電圧範囲において第1のステップで前記データ閾値電圧Vthを可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする。
2 操作部
3 閾値電圧可変部
4 A/D変換部
5 表示部
6 制御部
6a 閾値電圧制御手段
6b 中心電圧算出手段
6c 誤り率算出手段
11 設定画面
12 選択項目
13 算出結果項目
H 4PAM信号の全体の振幅電圧範囲
H1 高電圧範囲
H2 中電圧範囲
H3 低電圧範囲
V1 高電圧範囲の上限電圧
V2 中電圧範囲の上限電圧
V3 中電圧範囲の下限電圧
V4 低電圧範囲の下限電圧
Vc1 高電圧範囲の中心電圧
Vc2 中電圧範囲の中心電圧
Vc3 低電圧範囲の中心電圧
Claims (6)
- 被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置において、
全体の振幅電圧範囲(H)が電圧レベルの高い方から高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するA/D変換部(4)と、
データ閾値電圧(Vth)を所定ステップで可変する閾値電圧可変部(3)と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段(6b)と、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段(6c)とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記高電圧範囲(H1)、前記中電圧範囲(H2)、前記低電圧範囲(H3)の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部(2)と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部(5)とを備えたことを特徴とする請求項1記載の誤り率測定装置。 - 前記閾値電圧可変部(3)は、所定の電圧範囲において第1のステップでデータ閾値電圧(Vth)を可変し、前記A/D変換部(4)のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする請求項1又は2記載の誤り率測定装置。
- 被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定方法において、
全体の振幅電圧範囲(H)が電圧レベルの高い方から高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧(Vth)を所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。 - 前記高電圧範囲(H1)、前記中電圧範囲(H2)、前記低電圧範囲(H3)の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする請求項4記載の誤り率測定方法。 - 所定の電圧範囲において第1のステップで前記データ閾値電圧(Vth)を可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする請求項4又は5記載の誤り率測定方法。
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