JP2011146791A - 誤り率測定装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】誤り率検出部20は、被試験デバイス50を介して入力した被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、その識別結果を示す識別パターンデータと基準パターン発生部10が保持する基準パターンとを比較してエラーレートを算出する。次に、算出したエラーレートと予め設定された基準エラーレート閾値とを比較し、算出したエラーレートが基準エラーレート閾値を下回った場合に、比較した基準パターンと被測定信号とがパターン同期したと判別し、被測定信号とパターン同期した基準パターンのビット数Nを整数倍して分周比Mを取得する。そして、波形観測部40は、分周比Mを示すM分周情報に基づき被測定信号の信号波形を表示制御を行う。
【選択図】図1
Description
このため、外部トリガ信号を取得できない場合や、入力される被測定信号のパターン周期Nが不明であった場合に、波形観測器によるビット列波形を観測することが困難であった。
前記誤り率検出部は、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別部21と、
該データ識別部から入力した前記識別パターンデータと当該識別パターンデータのエラーレートを算出するための比較対象となる基準パターンとを比較して算出したエラーレートと、パターン同期の程度を判別するための基準エラーレート閾値とを比較し、前記エラーレートが前記基準エラーレート閾値を下回った場合に、前記被測定信号とパターン同期した前記基準パターンのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析部22と、
を備えたことを特徴とする。
前記誤り率検出部は、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別部21と、
該データ識別部から入力した最初の識別パターンデータの入力パターンを先頭データとして保持するとともに、前記識別パターンデータのビット数をカウントしながら前記識別パターンデータと前記先頭パターンとを比較し、前記識別パターンデータが一周回して再び前記先頭パターンと一致したときまでカウントした前記識別パターンデータのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析部22と、
を備えたことを特徴とする。
前記誤り率検出ステップは、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別ステップと、
該データ識別ステップから出力された前記識別パターンデータと当該識別パターンデータのエラーレートを算出するための比較対象となる基準パターンとを比較して算出したエラーレートと、パターン同期の程度を判別するための基準エラーレート閾値とを比較し、前記エラーレートが前記基準エラーレート閾値を下回った場合に、前記被測定信号とパターン同期した前記基準パターンのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析ステップと、
を含むことを特徴とする。
前記誤り率検出ステップは、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別ステップと、
該データ識別ステップから出力された識別パターンデータのうち最初に入力したパターンデータを先頭データとして保持するとともに、前記識別パターンデータのビット数をカウントしながら前記識別パターンデータと前記先頭パターンとを比較し、前記識別パターンデータが一周回して再び前記先頭パターンと一致したときまでカウントした前記識別パターンデータのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析ステップと、
を含むことを特徴とする。
まず、本発明に係る第1形態の誤り率測定装置について、図1、2を参照しながら説明する。
図1に示すように、第1形態の誤り率測定装置1は、基準パターン発生部10、誤り率検出部20、クロック制御部30、波形観測部40を備えて概略構成され、被試験デバイス50を介して入力した被測定信号(NRZ信号)の誤り率を測定及び入力信号の波形観測して被試験デバイス50の性能評価を行う装置である。
すなわち、同期判定手段22bにおける比較判別では、算出したエラーレートが基準エラーレート閾値を上回った場合に、算出したエラーレートが基準エラーレート閾値を下回るまで基準パターン群の中から比較対象となっていない基準パターンに順次切り替えて比較判別を行っている。
次に、上述した誤り率測定装置1における処理動作について説明する。ここでは、予め既知のパターンのテスト信号を被試験デバイス50に対して送信し、被試験デバイス50を介して入力した被測定信号の誤り率測定及び波形観測を行う際の処理動作について説明する。
一方、算出したエラーレートが基準エラーレート閾値を上回った場合は、比較対象となった基準パターンと被測定信号とがパターン同期していないと判別し、他の基準パターンに切り替えて再度エラーレートを算出する。
次に、本発明における第2形態の誤り率測定装置1について、図4、5を参照しながら説明する。なお、以下に説明する第2形態の誤り率測定装置1では、上述した第1形態の誤り率測定装置1と同様の構成要件については同一の番号を付してその説明を省略し、相違する構成要件についてのみ説明する。
図5に示すように、第2形態の誤り率測定装置1におけるデータ解析部22は、先頭パターン保持手段22dと、一致判定手段22eと、ビット数計数手段22fと、データ長検出手段22cとを備えている。
次に、上述した第2形態の誤り率測定装置1における処理動作について説明する。ここでは、被試験デバイス50を介して入力した未知のパルスパターンの被測定信号の誤り率測定及び波形観測を行う際の処理動作について説明する。
10…基準パターン発生部
20…誤り率検出部
21…データ識別部
22…データ解析部(22a…エラーレート算出手段、22b…同期判定手段、22c…データ長検出手段、22d…先頭パターン保持手段、22e…一致判定手段、22f…ビット数計数手段)
30…クロック制御部
31…クロック再生手段
32…M分周手段
40…波形観測部
41…遅延制御手段
42…サンプリング手段
43…A/D変換手段
44…波形表示手段
50…被試験デバイス
60…パルスパターン発生部
Claims (5)
- 被試験デバイス(50)を介して入力する被測定信号のビット誤り率を検出する誤り率検出部(20)と、前記被測定信号の波形観測を行う波形観測部(40)とを有する誤り率測定装置(1)であって、
前記誤り率検出部は、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別部(21)と、
該データ識別部から入力した前記識別パターンデータと当該識別パターンデータのエラーレートを算出するための比較対象となる基準パターンとを比較して算出したエラーレートと、パターン同期の程度を判別するための基準エラーレート閾値とを比較し、前記エラーレートが前記基準エラーレート閾値を下回った場合に、前記被測定信号とパターン同期した前記基準パターンのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析部(22)と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 - 被試験デバイス(50)を介して入力する被測定信号のビット誤り率を検出する誤り率検出部(20)と、前記被測定信号の波形観測を行う波形観測部(40)と、を有する誤り率測定装置(1)であって、
前記誤り率検出部は、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別部(21)と、
該データ識別部から入力した識別パターンデータのうち最初に入力したパターンデータを先頭データとして保持するとともに、前記識別パターンデータのビット数をカウントしながら前記識別パターンデータと前記先頭パターンとを比較し、前記識別パターンデータが一周回して再び前記先頭パターンと一致したときまでカウントした前記識別パターンデータのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析部(22)と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 - 前記データ解析部(22)は、前記算出されたエラーレートと前記基準パターンとの比較に際し、複数の前記基準パターンで構成される基準パターン群における全ての基準パターンについて比較したときに前記エラーレートが前記基準エラーレート閾値を上回った場合に、最もエラーレートの誤差が低くなる前記基準パターンを用いて再度エラーレートを算出することを特徴とする請求項1記載の誤り率測定装置。
- 被試験デバイス(50)を介して入力する被測定信号のビット誤り率を検出する誤り率検出ステップと、前記被測定信号の波形観測を行う波形観測ステップとを有する誤り率測定方法であって、
前記誤り率検出ステップは、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別ステップと、
該データ識別ステップから出力された前記識別パターンデータと当該識別パターンデータのエラーレートを算出するための比較対象となる基準パターンとを比較して算出したエラーレートと、パターン同期の程度を判別するための基準エラーレート閾値とを比較し、前記エラーレートが前記基準エラーレート閾値を下回った場合に、前記被測定信号とパターン同期した前記基準パターンのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析ステップと、
を含むことを特徴とする誤り率測定方法。 - 被試験デバイス(50)を介して入力する被測定信号のビット誤り率を検出する誤り率検出ステップと、前記被測定信号の波形観測を行う波形観測ステップを有する誤り率測定方法であって、
前記誤り率検出ステップは、
前記被測定信号のビットレートに同期した再生クロックのクロックタイミングに基づき前記被測定信号の信号レベルのパターンを識別し、この識別したパターンを識別パターンデータとして出力するデータ識別ステップと、
該データ識別ステップから出力された識別パターンデータのうち最初に入力したパターンデータを先頭データとして保持するとともに、前記識別パターンデータのビット数をカウントしながら前記識別パターンデータと前記先頭パターンとを比較し、前記識別パターンデータが一周回して再び前記先頭パターンと一致したときまでカウントした前記識別パターンデータのビット数Nを整数倍した分周比Mの情報をM分周情報として前記波形観測部に出力するデータ解析ステップと、
を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
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