JP7046993B2 - 誤り率測定システム及び誤り率測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、被測定物の測定時にシリアルデータエンコード方式にて変換したパターンにスクランブルをかける誤り率測定システム及び誤り率測定方法に関する。

従来、所望のディジタル通信装置を被測定物とし、この被測定物におけるビット誤り率を測定する場合には、例えば下記特許文献１に開示される誤り率測定装置が用いられる。この種の誤り率測定装置では、被測定物が電気的なストレスをどの程度許容できるかを測定するため、パターン発生器から既知パターンの電気的ストレス信号をテスト信号として被測定物に印可し、このテスト信号を被測定物内部又は外部でループバックして受信し、受信した信号とテスト信号との比較により、テスト信号の印可量に対してエラーの有無を測定するジッタ耐力測定を行っている。

ここで、上述した被測定物の誤り率を測定する場合には、被測定物に送信されるパターンや被測定物からループバックにより受信した信号と比較するための基準となるパターンは、主に２進数、１６進数のどちらかを選択して入力設定するのが一般的であった。具体的に、２進数を選択した場合は０，１で入力し、１６進数を選択した場合は０～Ｆで入力して設定を行っていた。

特開２００７－２７４４７４号公報

しかしながら、ＰＣＩｅ、ＵＳＢ等のシリアル通信の規格において使用されるシリアルデータエンコード方式である８ｂ１０ｂ、１２８ｂ１３０ｂ、１２８ｂ１３２ｂエンコードで変換したパターンを送信したい場合には専用のパターン編集画面が必要となる。

同じデータを繰り返し送信すると、特定の周波数にエネルギー成分が集中し、ＥＭＩ（電磁妨害：Electro Magnetic Interference ）上デメリットになる。また、パターンが０か１に片寄ると、直流成分が大きくなり、そのパターンを被測定物が受けにくくなるという問題がある。

ところで、ＰＣＩｅやＵＳＢでは、パターンの一部にスクランブルをかけることが仕様により定められている。しかしながら、従来の誤り率測定装置の場合、例えば１２８ｂ１３０ｂにおいては、１ブロック１２８ｂｉｔ全体をスクランブル対象とする、またはスクランブル対象としないという設定しかできなかった。その他、１ブロックのうち、規格で定められた一部の区間だけをスクランブル対象にしていた。すなわち、従来は、スクランブル対象範囲が限定されていた。

そして、上述した誤り率測定装置では、異常系の検証を行ったり、ユーザの独自のプロトコルに従って色々なパターンで測定したいという要望もあり、ユーザがスクランブル対象範囲を柔軟かつ任意に設定できることが望まれていた。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、スクランブル対象範囲を柔軟かつ任意に設定することができる誤り率測定システム及び誤り率測定方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定システムは、被測定物Ｗの測定時にシリアルデータエンコード方式にて変換したパターンにスクランブルをかける誤り率測定システム１において、
前記パターンを設定するためのパターン設定画面１２と該パターン設定画面上のＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックス１３を表示する表示部６と、
前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っているか否かを判別する判別手段７ａと、
前記判別手段にて前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていると判別したときに前記スクランブルをかける対象を選択するモードに切り替え、前記パターン設定画面において前記スクランブルをかけるビット範囲を選択指定して設定する操作部４と、
前記操作部にて設定された前記ビット範囲をスクランブル対象範囲Ｈとして前記パターン設定画面に識別表示する表示制御手段７ｂとを備え、
前記判別手段にて前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていないと判別したときに前記パターン設定画面上で選択したビットの０／１の切り替えを可能とすることを特徴とする。

本発明の請求項２に記載された誤り率測定システムは、請求項１の誤り率測定システムにおいて、
前記表示制御手段は、規格で定められる所定ビットのパターンを１ブロックとし、前記パターンをブロック毎に区切って前記パターン設定画面に表示することを特徴とする。

本発明の請求項３に記載された誤り率測定方法は、被測定物Ｗの測定時にシリアルデータエンコード方式にて変換したパターンにスクランブルをかける誤り率測定方法において、
前記パターンを設定するためのパターン設定画面１２と該パターン設定画面上のＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックス１３を表示するステップと、
前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っているか否かを判別するステップと、
前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていると判別したときに前記スクランブルをかける対象を選択するモードに切り替え、前記パターン設定画面において前記スクランブルをかけるビット範囲を選択指定して設定するステップと、
前記設定された前記ビット範囲をスクランブル対象範囲Ｈとして前記パターン設定画面に識別表示するステップと、
前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていないと判別したときに前記パターン設定画面上で選択したビットの０／１の切り替えを可能とするステップとを含むことを特徴とする。

本発明の請求項４に記載された誤り率測定方法は、請求項１の誤り率測定方法において、
規格で定められる所定ビットのパターンを１ブロックとし、前記パターンをブロック毎に区切って前記パターン設定画面に表示するステップを含むことを特徴とする。

本発明によれば、ユーザがスクランブル対象範囲を柔軟かつ任意に設定することができる。これにより、異常系の検証を行ったり、ユーザの独自のプロトコルに従って色々なパターンで測定を行うことができる。

本発明に係る誤り率測定システムの概略構成を示すブロック図である。 １２８ｂ１３０ｂ、１２８ｂ１３２ｂエンコード専用のパターン設定画面の一例を示す図である。 本発明に係る誤り率測定システムにおいて所望のビット範囲にスクランブルをかけたパターン信号を発生するパターン設定方法のフローチャートである。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定システム１は、被測定物Ｗを信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターンの例えばパルス振幅変調（ＰＡＭ：Pulse-Amplitude Modulation）による多値信号をテスト信号として被測定物Ｗを送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定するものである。

誤り率測定システム１は、被測定物Ｗの測定時にシリアルデータエンコード方式（８ｂ１０ｂ、１２８ｂ１３０ｂ、１２８ｂ１３２ｂエンコード）にて変換したパターンにスクランブルをかける機能を有し、パターン発生器２、誤り検出器３、操作部４、記憶部５、表示部６、制御部７を備えて構成される。なお、本実施の形態では、操作部４、記憶部５、表示部６、制御部７がパターン設定装置の機能を兼ね備える。

パターン発生器２は、被測定部Ｗに入力するパターン信号または誤り検出器３に入力する基準のパターン信号として、所望のシンボル列の既知データからなる多値信号（例えば０、１、２、３のシンボル値からなるシンボルの列によるＰＡＭ４信号）をパターン信号として発生する。また、パターン発生器２は、被測定部Ｗに入力するパターン信号または誤り検出器３に入力する基準のパターン信号として、既知データからなる多値信号（例えばＰＡＭ４信号）に対し、例えば図２のパターン設定画面１２にて設定されたスクランブル対象範囲Ｈにスクランブルをかけたパターン信号を発生する。なお、パターン信号はＮＲＺ信号であってもよい。

誤り検出器３は、パターン発生器２が発生する既知のパターン信号がテスト信号として被測定物Ｗに入力されたときに、このテスト信号の入力に伴う被測定物Ｗからの信号と、パターン発生器２が発生する基準のパターン信号との比較により被測定物Ｗの誤り率などを測定する。

操作部４は、後述するパターン設定方法に用いられるマウス１１を備えており、図１の誤り率測定システム１が装備する例えばロータリエンコーダ、各種キー、スイッチ、ボタンや表示部６の表示画面上のソフトキーなどのユーザインタフェースを含む。

記憶部５は、パターン発生器２からテスト信号として被測定物Ｗに入力するパターン信号のシンボル列（例えば０、１、２、３のシンボル値からなるＰＡＭ４信号のシンボルの列）や誤り検出器３に入力して被測定物Ｗからの入力データと比較される基準のパターン信号のシンボル列（例えば０、１、２、３のシンボル値からなるＰＡＭ４信号のシンボルの列）を記憶する。

また、記憶部５は、被測定物Ｗの測定に必要な情報として、後述するパターン設定方法にて設定されたスクランブル対象範囲（スクランブルをかけるビット範囲）Ｈの情報、設定タイミング、ボーレート、シンボル列の発生条件、波形イメージ表示開始条件、波形イメージ表示停止条件などの情報を記憶する。これらの情報は、操作部４によりユーザインタフェースを介して適宜選択設定することができる。

表示部６は、図１の誤り率測定システム１に備える例えば液晶表示器などで構成され、図２のパターン設定画面１２、各コンプライアンステスト（被測定物Ｗが通信規格に適合するか否かの試験）やビット誤り率の測定画面などを表示する。また、表示部６は、表示画面上のカーソルキーやソフトキーなどの操作部４の操作機能を兼ね備えている。

ここで、図２は表示部６に表示される１２８ｂ１３０ｂ、１２８ｂ１３２ｂエンコード専用のパターン設定画面１２の一例を示している。図２のパターン設定画面１２は、パターン信号にスクランブルをかけるにあたって、スクランブルをかける対象のビットを選択して設定する際に制御部７の制御により表示部６に表示される。

図２のパターン設定画面１２では、ＰＣＩｅやＵＳＢの規格で定められている１２８ビットのパターンを１ブロックとし、ブロック毎に区切って表示される。また、各ブロックはシンボルによって構成され、１シンボルが８ビットで定義される。さらに、シンボルが１６個連なってブロックが構成される。各ブロックは、先頭２ビットのＳｙｎｃ ＨｅａｄｅｒによりＯｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔ ＢｌｏｃｋとＤａｔａ Ｂｌｏｃｋに分けられる。

図２のパターン設定画面１２の右側には、操作部４の操作により、スクランブルをかける対象を任意に選択するモードに切り替えるためのＳｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３が表示される。例えば操作部４のマウス１２の左ボタンのクリック操作により、Ｓｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３にチェックを入れると、スクランブルをかける対象を任意に選択するモードに切り替えられる。

なお、Ｓｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３にチェックが入っていいない状態では、パターン設定画面１２上で選択したビットの０／１を切り替えることができる。

制御部７は、例えば中央処理装置（ＣＰＵ）、ＲＯＭ、ＲＡＭなどの記憶素子から構成され、パターン発生器２、誤り検出器３、操作部４、記憶部５、表示部６を統括制御するもので、判別手段７ａ、表示制御手段７ｂを備える。

判別手段７ａは、表示部６に図２のパターン設定画面１２が表示された状態でＳｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３にチェックが入っているか否かを判別する。制御部７は、判別手段７ａにてＳｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３にチェックが入っていると判別すると、スクランブルをかける対象を任意に選択するモード（スクランブル選択モード）に切り替える。

判別手段７ａは、スクランブル選択モード時に、図２のパターン設定画面１２において、スクランブルをかけるビット範囲（例えば図２の斜線で囲まれた範囲）が操作部４のマウス１１の操作にて選択指定して設定されると、この設定されたビット範囲をスクランブル対象範囲Ｈとして判別する。

表示制御手段７ｂは、図２のパターン設定画面１２を含め、各コンプライアンステスト（被測定物Ｗが通信規格に適合するか否かの試験）やビット誤り率の測定画面などを表示するべく表示部７の表示を制御する。

表示制御手段７ｂは、スクランブル選択モード時に、操作部４のマウス１１の操作にて選択指定して設定されたビット範囲（例えば図２の斜線で囲まれた範囲）をスクランブル対象範囲Ｈとして判別手段７ａが判別すると、このスクランブル対象範囲Ｈを例えば半透過の赤色で識別表示するように表示部７を制御する。

次に、上記のように構成される誤り率測定システム１を用いたパターン設定方法として、所望のビット範囲にスクランブルをかけたパターン信号を発生する方法について図３を参照しながら説明する。

まず、制御部７の表示制御手段７ｂの制御により、図２のパターン設定画面１２を表示部６に表示する（ＳＴ１）。

次に、操作部４のマウス１１の操作により、図２のパターン設定画面１２のＳｃｒａｍｂｌｅｒ Ｅｎａｂｌｅのチェックボックス１３にチェックを入れる（ＳＴ２）。これにより、スクランブル選択モードに切り替わる。

そして、スクランブル選択モードに切り替わった状態で、操作部４のマウス１１の操作により、図２のパターン設定画面１２においてスクランブルをかけるビット範囲（例えば図２の斜線で囲まれた範囲）を選択指定して設定する（ＳＴ３）。

制御部７の判別手段７ａは、操作部４のマウス１１の操作により、スクランブルをかけるビット範囲を選択指定して設定されると、設定されたビット範囲をスクランブル対象範囲Ｈとして判別し、制御部７の表示制御手段７ｂがスクランブル対象範囲Ｈを識別表示する（ＳＴ４）。

そして、パターン発生器２は、パターン設定画面１２にて設定されたスクランブル対象範囲Ｈにスクランブルをかけたパターン信号を発生する（ＳＴ５）。

ところで、上述した実施の形態では、図１に示すように、誤り率測定システム１にパターン発生器２、誤り検出器３、操作部４、記憶部５、表示部６、制御部７が含まれる構成としたが、この構成に限定されるものではない。例えば、パターン発生器２と誤り検出器３をそれぞれ別々にモジュール化または個別筐体とし、操作部４、表示部６を外部に接続したパーソナルコンピュータなどの外部装置で構成することもできる。

また、上述した実施の形態では、１２８ｂ１３０ｂ、１２８ｂ１３２ｂエンコード専用のパターン設定画面１２を例にとって説明したが、８ｂ１０ｂエンコードの場合でも同様の構成・手法によりスクランブルをかけるビット範囲を選択指定してスクランブル対象範囲を任意に設定することができる。

このように、本実施の形態によれば、図２に示すように、パターン設定画面１２において、ユーザがスクランブル対象範囲Ｈを柔軟かつ任意に設定することができる。これにより、異常系の検証を行ったり、ユーザの独自のプロトコルに従って色々なパターンで測定を行うことができる。

以上、本発明に係る誤り率測定システム及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

１ 誤り率測定システム
２ パターン発生器
３ 誤り検出器
４ 操作部
５ 記憶部
６ 表示部
７ 制御部
７ａ 判別手段
７ｂ 表示制御手段
１１ マウス
１２ パターン設定画面
１３ チェックボックス
Ｈ スクランブル対象範囲
Ｗ 被測定物

Claims (4)

1. 被測定物（Ｗ）の測定時にシリアルデータエンコード方式にて変換したパターンにスクランブルをかける誤り率測定システム（１）において、
   前記パターンを設定するためのパターン設定画面（１２）と該パターン設定画面上のＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックス（１３）を表示する表示部（６）と、
   前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っているか否かを判別する判別手段（７ａ）と、
   前記判別手段にて前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていると判別したときに前記スクランブルをかける対象を選択するモードに切り替え、前記パターン設定画面において前記スクランブルをかけるビット範囲を選択指定して設定する操作部（４）と、
   前記操作部にて設定された前記ビット範囲をスクランブル対象範囲（Ｈ）として前記パターン設定画面に識別表示する表示制御手段（７ｂ）とを備え、
   前記判別手段にて前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていないと判別したときに前記パターン設定画面上で選択したビットの０／１の切り替えを可能とすることを特徴とする誤り率測定システム。
2. 前記表示制御手段は、規格で定められる所定ビットのパターンを１ブロックとし、前記パターンをブロック毎に区切って前記パターン設定画面に表示することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定システム。
3. 被測定物（Ｗ）の測定時にシリアルデータエンコード方式にて変換したパターンにスクランブルをかける誤り率測定方法において、
   前記パターンを設定するためのパターン設定画面（１２）と該パターン設定画面上のＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックス（１３）を表示するステップと、
   前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っているか否かを判別するステップと、
   前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていると判別したときに前記スクランブルをかける対象を選択するモードに切り替え、前記パターン設定画面において前記スクランブルをかけるビット範囲を選択指定して設定するステップと、
   前記設定された前記ビット範囲をスクランブル対象範囲（Ｈ）として前記パターン設定画面に識別表示するステップと、
   前記ＳｃｒａｍｂｌｅＥｎａｂｌｅのチェックボックスにチェックが入っていないと判別したときに前記パターン設定画面上で選択したビットの０／１の切り替えを可能とするステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。
4. 規格で定められる所定ビットのパターンを１ブロックとし、前記パターンをブロック毎に区切って前記パターン設定画面に表示するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の誤り率測定方法。

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