JP6512592B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
3 フィルタ部
4 周波数検出部
5 処理部
6 操作部
7 記憶部
8 出力部
D1,D2 瞬時値データ
fdet 検出周波数値
fre 基本周波数
ftm 仮基本周波数値
fup 上限周波数値
S1 測定対象信号
Claims (2)
- 選択可能な複数の周波数レンジのうちの対応する周波数レンジに応じた通過帯域をそれぞれ有して、入力されている測定対象信号に含まれる周波数成分のうちの当該通過帯域に含まれる周波数成分のみを通過させると共に、隣接する前記周波数レンジのうちの低周波側の周波数レンジの前記通過帯域が高周波側の前記通過帯域に含まれるように構成された複数のフィルタ回路と、
前記測定対象信号の基本波についての周波数の上限周波数値を指定する操作部と、
前記複数の周波数レンジのうちの選択されている周波数レンジに対応する前記フィルタ回路を通過した前記周波数成分の周波数値を検出して検出周波数値として出力する周波数検出部と、
前記検出周波数値および前記上限周波数値のうちのいずれか低い値を前記基本波についての仮基本周波数値として決定する周波数仮決定処理、前記選択されている周波数レンジの前記通過帯域よりも前記仮基本周波数値を含むより低い前記通過帯域の前記周波数レンジが存在するときには当該周波数レンジに対応する前記フィルタ回路に切り替えることで当該周波数レンジを選択する周波数レンジ選択処理、および前記検出周波数値が前記上限周波数値以下であるかを判別する判別処理を、当該判別処理において前記検出周波数値が前記上限周波数値以下であると判別するまで繰り返して、当該上限周波数値以下になったときの当該検出周波数値を前記基本波についての本来の基本周波数値として測定する処理部とを備えている測定装置。 - 前記処理部は、前記本来の基本周波数値を測定したときの前記周波数レンジに対応する前記フィルタ回路を通過した前記周波数成分と当該本来の基本周波数値とに基づいて、前記測定対象信号についての電気的物理量を測定する請求項1記載の測定装置。
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