JP6025883B2 - Error rate measuring apparatus and error rate measuring method - Google Patents

Error rate measuring apparatus and error rate measuring method Download PDF

Info

Publication number
JP6025883B2
JP6025883B2 JP2015022238A JP2015022238A JP6025883B2 JP 6025883 B2 JP6025883 B2 JP 6025883B2 JP 2015022238 A JP2015022238 A JP 2015022238A JP 2015022238 A JP2015022238 A JP 2015022238A JP 6025883 B2 JP6025883 B2 JP 6025883B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
voltage range
range
center
error rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015022238A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2016146535A (en
Inventor
岳人 齋藤
岳人 齋藤
一弘 藤沼
一弘 藤沼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2015022238A priority Critical patent/JP6025883B2/en
Publication of JP2016146535A publication Critical patent/JP2016146535A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6025883B2 publication Critical patent/JP6025883B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Description

本発明は、被試験デバイス(DUT:Device Under Test )に所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率(Bit Error Rate)を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。   In the present invention, a test signal having a predetermined pattern is input to a device under test (DUT), and a bit error rate (Bit Error Rate) of input data received from the device under test is input along with the input of the test signal. The present invention relates to an error rate measuring apparatus and an error rate measuring method for measuring by comparing with a test signal input to a device under test.

各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。また、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとしては、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率が知られている。   Various digital communication apparatuses are required to have a larger capacity transmission capability as the number of users increases and multimedia communication spreads. Also, as one of the indexes for evaluating the quality of digital signals in these digital communication apparatuses, a bit error rate defined as a comparison between the number of received code errors and the total number of received data is known. Yes.

そして、上述したディジタル通信装置において、試験対象となる光電変換部品等の被試験デバイスに対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を測定する誤り率測定装置として、例えば下記特許文献1に開示される符号誤り率測定装置が知られている。   In the digital communication apparatus described above, a test signal including fixed data is transmitted to a device under test such as a photoelectric conversion component to be tested, and becomes a reference to the signal under measurement input via the device under test. For example, a code error rate measuring apparatus disclosed in Patent Document 1 below is known as an error rate measuring apparatus that measures an error rate of a signal under measurement by comparing a reference signal with a bit unit.

特許文献1に開示される符号誤り率測定装置は、クロック位相を所定範囲内で自動設定するクロック位相検出部と、2値化のためのデータ閾値電圧を所定範囲内で自動設定するデータ閾値電圧検出部と、クロック位相検出部により設定されたクロック位相およびデータ閾値電圧検出部により設定されたデータ閾値電圧に基づき、クロック位相およびデータ閾値の安定状態を検出する位相閾値安定状態検出部と、位相閾値安定状態検出部により設定された位相閾値に基づき、符号誤り率を測定する符号誤り率測定部と、符号誤り率測定部の測定結果に基づきアイパターン開口部におけるクロック位相およびデータ閾値電圧の最適設定値を検出する同期確立検出部を設け、クロック位相とデータ閾値電圧を高速かつ高精度でアイパターンの開口部中心に自動設定している。   A code error rate measuring device disclosed in Patent Document 1 includes a clock phase detector that automatically sets a clock phase within a predetermined range, and a data threshold voltage that automatically sets a data threshold voltage for binarization within a predetermined range. A phase threshold stable state detecting unit for detecting a stable state of the clock phase and the data threshold based on the clock phase set by the clock phase detecting unit and the data threshold voltage set by the data threshold voltage detecting unit; Based on the phase threshold set by the threshold stable state detection unit, the code error rate measurement unit that measures the code error rate, and the optimum clock phase and data threshold voltage at the eye pattern opening based on the measurement result of the code error rate measurement unit A synchronization establishment detection unit that detects the set value is provided, and the eye phase opening with high-speed and high-precision clock phase and data threshold voltage It is automatically set to the heart.

ところで、情報信号の振幅をパルス信号の系列で符号化したパルス振幅変調信号として、振幅をシンボルごとに4種類に分けた4PAM信号が知られている。4PAM信号は、図4に示すように、4つの異なる振幅を持ち、全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの高い方から高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられ、3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる。   By the way, as a pulse amplitude modulation signal in which the amplitude of an information signal is encoded with a series of pulse signals, a 4PAM signal in which the amplitude is divided into four types for each symbol is known. As shown in FIG. 4, the 4PAM signal has four different amplitudes, and the entire amplitude voltage range H is divided into a high voltage range H1, a medium voltage range H2, and a low voltage range H3 from the higher voltage level. It consists of a continuous range with two eye pattern openings.

特開2005−328110号公報JP-A-2005-328110

しかしながら、特許文献1に開示される従来の符号誤り率測定装置は、上述した4PAM信号を入力データとして想定したものではなかった。すなわち、上述した特許文献1に開示されるアイパターンの開口部中心を設定する技術を、4PAM信号の振幅電圧範囲Hにおける高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3のそれぞれに単純に適用だけでは、最適な誤り測定ポイントとして、中電圧範囲H2の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することはできても、高電圧範囲H1や低電圧範囲H3の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することはできなかった。   However, the conventional code error rate measuring device disclosed in Patent Document 1 does not assume the above-described 4PAM signal as input data. That is, the technique for setting the eye pattern opening center disclosed in Patent Document 1 described above is simply applied to each of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3 in the amplitude voltage range H of the 4PAM signal. Only by application, the data threshold voltage can be set to the center voltage of the high voltage range H1 or the low voltage range H3 even though the data threshold voltage can be set to the center voltage of the medium voltage range H2 as an optimum error measurement point. I couldn't.

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、最適な誤り測定ポイントとして、4PAM信号の振幅電圧範囲における中電圧範囲だけでなく高電圧範囲や低電圧範囲の中心電圧にデータ閾値電圧を設定することができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。   Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and as an optimal error measurement point, data is not only applied to the medium voltage range in the amplitude voltage range of the 4PAM signal, but also to the center voltage in the high voltage range or the low voltage range. An object of the present invention is to provide an error rate measuring apparatus and an error rate measuring method capable of setting a threshold voltage.

上記目的を達成するため、本発明の請求項1に記載された誤り率測定装置は、被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置において、
全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの高い方から高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するA/D変換部4と、
データ閾値電圧Vthを所定ステップで可変する閾値電圧可変部3と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段6bと、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段6cとを備えたことを特徴とする。
To achieve the above object, an error rate measuring apparatus according to claim 1 of the present invention inputs a test signal of a predetermined pattern to a device under test, and receives the test signal from the device under test as the test signal is input. In an error rate measuring apparatus for measuring the bit error rate of input data by comparing with a test signal input to a device under test,
4PAM signal consisting of a continuous range of three eye pattern openings divided into a high voltage range H1, a medium voltage range H2, and a low voltage range H3 from the higher voltage level of the entire amplitude voltage range H as the input data. An A / D converter 4 for converting the input data into a digital value at a predetermined sampling period;
A threshold voltage variable unit 3 that varies the data threshold voltage Vth in a predetermined step;
When the data threshold voltage is varied by the threshold voltage variable unit, an upper limit data threshold voltage at which the digital value from the A / D converter is saturated is detected as the upper voltage of the high voltage range, and the A / D A saturation voltage detection means 6b for detecting a lower limit data threshold voltage at which the digital value from the D converter is saturated as a lower limit voltage of the low voltage range;
The center voltage of the intermediate voltage range is calculated using the upper limit voltage of the high voltage range and the lower limit voltage of the low voltage range detected by the saturation voltage detection means, and the calculated center voltage of the intermediate voltage range and the saturation voltage Center voltage calculating means 6c for calculating the center voltage of the high voltage range or the center voltage of the low voltage range using the upper limit voltage of the high voltage range detected by the detecting means or the lower limit voltage of the low voltage range. It is characterized by that.

請求項2に記載された誤り率測定装置は、請求項1記載の誤り率測定装置において、
前記高電圧範囲H1、前記中電圧範囲H2、前記低電圧範囲H3の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部2と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部5とを備えたことを特徴とする。
The error rate measuring device according to claim 2 is the error rate measuring device according to claim 1,
An operation unit 2 for selecting and operating any one amplitude voltage range from the three voltage ranges of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3;
The display unit 5 displays a center voltage in an amplitude voltage range selected by the operation unit based on a calculation result of the center voltage calculation unit.

請求項3に記載された誤り率測定装置は、請求項1又は2記載の誤り率測定装置において、
前記閾値電圧可変部3は、所定の電圧範囲において第1のステップでデータ閾値電圧Vthを可変し、前記A/D変換部4のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする。
The error rate measuring device according to claim 3 is the error rate measuring device according to claim 1 or 2,
The threshold voltage varying unit 3 varies the data threshold voltage Vth in a first step within a predetermined voltage range, and when the digital value of the A / D conversion unit 4 is saturated, the digital value is saturated. The data threshold voltage is varied in a second step finer than the first step in a central voltage range.

請求項4に記載された誤り率測定方法は、被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定方法において、
全体の振幅電圧範囲Hが電圧レベルの高い方から高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧Vthを所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする。
The error rate measuring method according to claim 4 is a method in which a test signal having a predetermined pattern is input to a device under test, and a bit error rate of input data received from the device under test is input as the test signal is input. In the error rate measurement method to measure by comparing with the test signal input to the device,
4PAM signal consisting of a continuous range of three eye pattern openings divided into a high voltage range H1, a medium voltage range H2, and a low voltage range H3 from the higher voltage level of the entire amplitude voltage range H as the input data. Converting the input data into a digital value at a predetermined sampling period;
Varying the data threshold voltage Vth in a predetermined step;
When the data threshold voltage is varied, an upper limit data threshold voltage at which the digital value is saturated is detected as an upper limit voltage of the high voltage range, and a lower limit data threshold voltage at which the digital value is saturated is detected in the low voltage range. Detecting as a lower limit voltage;
The center voltage of the intermediate voltage range is calculated using the upper limit voltage of the high voltage range and the lower limit voltage of the low voltage range, and the calculated center voltage of the intermediate voltage range and the upper limit voltage of the high voltage range or the low voltage Calculating a center voltage of the high voltage range or a center voltage of the low voltage range using a lower limit voltage of the range.

請求項5に記載された誤り率測定方法は、請求項4記載の誤り率測定方法において、
前記高電圧範囲H1、前記中電圧範囲H2、前記低電圧範囲H3の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする。
The error rate measurement method according to claim 5 is the error rate measurement method according to claim 4,
Selecting and operating any one amplitude voltage range from the three voltage ranges of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3;
Displaying the center voltage of the selected amplitude voltage range based on the result of the calculation.

請求項6に記載された誤り率測定方法は、請求項4又は5記載の誤り率測定方法において、
所定の電圧範囲において第1のステップで前記データ閾値電圧Vthを可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする。
The error rate measurement method according to claim 6 is the error rate measurement method according to claim 4 or 5,
In the predetermined voltage range, the data threshold voltage Vth is varied in the first step, and when the digital value is saturated, the voltage range centered on the point at which the digital value is saturated is finer than the first step. The second step includes a step of varying the data threshold voltage.

本発明によれば、4PAM信号の全体の振幅電圧範囲における各振幅電圧範囲(高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲)の中心電圧を算出し、選択された振幅電圧範囲における中心電圧にデータ閾値電圧を最適な測定ポイントとして設定することができる。   According to the present invention, the center voltage of each amplitude voltage range (high voltage range, medium voltage range, low voltage range) in the entire amplitude voltage range of the 4PAM signal is calculated, and data is stored in the center voltage in the selected amplitude voltage range. The threshold voltage can be set as an optimum measurement point.

また、高電圧範囲の上限電圧や低電圧範囲の下限電圧を検出する場合には、最初にデータ閾値電圧を荒い第1のステップで可変し、AD値が飽和すると、AD値が飽和する点を中心として第1のステップよりも細かい第2のステップでデータ閾値電圧を可変してAD値が飽和する上限又は下限のデータ閾値電圧を検出するので、効率良く高電圧範囲の上限電圧や低電圧範囲の下限電圧を検出することができる。   When detecting the upper limit voltage of the high voltage range or the lower limit voltage of the low voltage range, the data threshold voltage is first varied in the rough first step, and when the AD value is saturated, the point at which the AD value is saturated is determined. Since the upper limit or lower limit data threshold voltage at which the AD value is saturated is detected by changing the data threshold voltage in the second step finer than the first step as the center, the upper limit voltage and the low voltage range in the high voltage range are efficiently detected. Can be detected.

さらに、操作部にて選択された振幅電圧範囲における中心電圧を表示部に表示するので、ユーザは設定した振幅電圧範囲における中心電圧を視認することができる。   Furthermore, since the center voltage in the amplitude voltage range selected by the operation unit is displayed on the display unit, the user can visually recognize the center voltage in the set amplitude voltage range.

本発明に係る誤り率測定装置のブロック構成図である。It is a block block diagram of the error rate measuring apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る誤り率測定装置における設定画面の表示例を示す図である。It is a figure which shows the example of a display of the setting screen in the error rate measuring device which concerns on this invention. 本発明に係る誤り率測定装置におけるデータ閾値電圧とAD値(10進数)との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the data threshold voltage and AD value (decimal number) in the error rate measuring device which concerns on this invention. 4PAM信号のアイパターン開口部の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the eye pattern opening part of 4PAM signal.

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面の図1〜4を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4 of the accompanying drawings.

本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法は、被試験デバイス(DUT)に所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定するものである。   The error rate measuring apparatus and error rate measuring method according to the present invention inputs a test signal of a predetermined pattern to a device under test (DUT), and bit errors of input data received from the device under test accompanying the input of the test signal. The rate is measured by comparison with a test signal input to the device under test.

そして、本実施の形態に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法は、入力データとしての4PAM信号の振幅電圧範囲Hにおける高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3から選択された振幅電圧範囲の中心電圧を算出し、最適な誤り測定ポイントとして、算出した中心電圧にデータ閾値電圧を設定する機能を有する。   Then, the error rate measuring apparatus and error rate measuring method according to the present embodiment has an amplitude selected from the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3 in the amplitude voltage range H of the 4PAM signal as input data. It has a function of calculating the center voltage of the voltage range and setting the data threshold voltage to the calculated center voltage as an optimal error measurement point.

図1に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置1は、上述した4PAM信号の各振幅電圧範囲の中心電圧を効率的に算出するための構成として、操作部2、閾値電圧可変部3、A/D変換部4、表示部5、制御部6を備えて概略構成される。   As shown in FIG. 1, the error rate measuring apparatus 1 according to the present embodiment includes an operation unit 2, a threshold voltage variable unit as a configuration for efficiently calculating the center voltage of each amplitude voltage range of the 4PAM signal described above. 3, an A / D conversion unit 4, a display unit 5, and a control unit 6.

操作部2は、例えば装置本体に設けられる各種キー、スイッチ、ボタンや表示部5の表示画面上のソフトキーなどで構成され、誤り率測定の開始・終了など誤り率測定に関わる各種設定を行う際にユーザにより操作される。   The operation unit 2 includes, for example, various keys, switches, buttons provided on the apparatus main body, soft keys on the display screen of the display unit 5 and the like, and performs various settings related to error rate measurement such as start / end of error rate measurement. When operated by the user.

特に、本例における操作部2は、4PAM信号における高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3から自動検索対象とする振幅電圧範囲を設定する際に操作される。具体的には、図2の設定画面11に表示される高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作すると、選択操作された振幅電圧範囲が設定される。図2の例では、高電圧範囲H1が設定された状態を示している。   In particular, the operation unit 2 in this example is operated when setting the amplitude voltage range to be automatically searched from the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3 in the 4PAM signal. Specifically, when any one of the three voltage ranges of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3 displayed on the setting screen 11 in FIG. 2 is selected, the selection operation is performed. The amplitude voltage range is set. In the example of FIG. 2, the high voltage range H1 is set.

閾値電圧可変部3は、高電圧範囲H1の上限電圧V1又は低電圧範囲H3の下限電圧V4を検出する際に、閾値電圧制御手段6aからの制御信号により、所定の電圧範囲においてデータ閾値電圧Vthを所定ステップで可変する。   When detecting the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 or the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3, the threshold voltage variable unit 3 uses the control signal from the threshold voltage control means 6a to detect the data threshold voltage Vth in a predetermined voltage range. Is varied in a predetermined step.

さらに説明すると、操作部2にて高電圧範囲H1が設定された場合は、所定の電圧範囲(例えば−0.6〜−0V)において第1のステップ(例えば10mV)でデータ閾値電圧Vthを可変し、A/D変換部4のAD値が飽和すると、そのAD値が飽和する点を中心とする電圧範囲(例えば−0.3〜−0.1V)において第1のステップよりも細かい第2のステップ(例えば2mV)でデータ閾値電圧Vthを可変する。   More specifically, when the high voltage range H1 is set by the operation unit 2, the data threshold voltage Vth is varied in the first step (for example, 10 mV) in a predetermined voltage range (for example, −0.6 to −0 V). Then, when the AD value of the A / D conversion unit 4 is saturated, the second value that is finer than the first step in the voltage range (for example, −0.3 to −0.1 V) around the point where the AD value is saturated. In this step (for example, 2 mV), the data threshold voltage Vth is varied.

また、操作部2にて低電圧範囲H3が設定された場合は、所定の電圧範囲(例えば0〜0.6V)において第1のステップ(例えば10mV)でデータ閾値電圧Vthを可変し、A/D変換部4のAD値が飽和すると、そのAD値が飽和する点を中心とする電圧範囲(例えば0.1〜0.3V)において第1のステップよりも細かい第2のステップ(例えば2mV)でデータ閾値電圧Vthを可変する。   Further, when the low voltage range H3 is set by the operation unit 2, the data threshold voltage Vth is varied in the first step (for example, 10 mV) in a predetermined voltage range (for example, 0 to 0.6 V), and A / When the AD value of the D conversion unit 4 is saturated, a second step (for example, 2 mV) finer than the first step in a voltage range (for example, 0.1 to 0.3 V) centered on the point at which the AD value is saturated. To change the data threshold voltage Vth.

A/D変換部4は、入力信号としての4PAM信号を所定のサンプリング周期でAD値(10進数)に変換する。この4PAM信号をA/D変換したAD値は制御部6に入力される。   The A / D converter 4 converts the 4PAM signal as an input signal into an AD value (decimal number) at a predetermined sampling period. An AD value obtained by A / D converting the 4PAM signal is input to the control unit 6.

表示部5は、例えば液晶表示器などで構成され、誤り率測定に関わる設定画面や測定結果などを表示する。特に、本例における表示部5は、図2の設定画面11に示すように、高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の3つの選択項目12から1つを選択すると、選択した振幅電圧範囲の中心電圧を算出し、算出した中心電圧の電圧値を算出結果項目13に表示する。図2の例では、高電圧範囲H1の中心電圧Vc1の電圧値が算出結果項目13に表示された状態を示している。   The display unit 5 is configured by a liquid crystal display, for example, and displays a setting screen, measurement results, and the like related to error rate measurement. In particular, the display unit 5 in this example is selected when one of the three selection items 12 of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3 is selected as shown in the setting screen 11 of FIG. The center voltage of the amplitude voltage range is calculated, and the calculated voltage value of the center voltage is displayed in the calculation result item 13. In the example of FIG. 2, the voltage value of the center voltage Vc1 in the high voltage range H1 is displayed in the calculation result item 13.

制御部6は、入力される4PAM信号の誤り率を測定するため、操作部2、閾値電圧可変部3、A/D変換部4、表示部5を統括制御する。また、制御部6は、操作部2にて設定された振幅電圧範囲の中心電圧を算出するための構成として、閾値電圧制御手段6a、飽和電圧検出手段6b、中心電圧算出手段6cを有する。   The control unit 6 controls the operation unit 2, the threshold voltage variable unit 3, the A / D conversion unit 4, and the display unit 5 in order to measure the error rate of the input 4PAM signal. Further, the control unit 6 includes a threshold voltage control unit 6a, a saturation voltage detection unit 6b, and a center voltage calculation unit 6c as a configuration for calculating the center voltage of the amplitude voltage range set by the operation unit 2.

閾値電圧制御手段6aは、所定の電圧範囲でデータ閾値電圧Vthを所定ステップごとに可変するように閾値電圧可変部3に制御信号を出力する。   The threshold voltage control means 6a outputs a control signal to the threshold voltage variable unit 3 so as to vary the data threshold voltage Vth for each predetermined step within a predetermined voltage range.

飽和電圧検出手段6bは、図3に示すように、A/D変換部4からのAD値が飽和する上限のデータ閾値電圧Vthを高電圧範囲H1の上限電圧V1として検出する。また、飽和電圧検出手段6bは、図3に示すように、A/D変換部4からのAD値が飽和する下限のデータ閾値電圧Vthを低電圧範囲H3の下限電圧V4として検出する。   As shown in FIG. 3, the saturation voltage detector 6b detects the upper limit data threshold voltage Vth at which the AD value from the A / D converter 4 is saturated as the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1. Further, as shown in FIG. 3, the saturation voltage detection means 6b detects the lower limit data threshold voltage Vth at which the AD value from the A / D converter 4 is saturated as the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3.

中心電圧算出手段6cは、操作部2の操作により設定された振幅電圧範囲(高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の何れかの振幅電圧範囲)における中心電圧を算出する。   The center voltage calculation means 6c calculates the center voltage in the amplitude voltage range (any one of the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3) set by the operation of the operation unit 2.

さらに説明すると、中心電圧算出手段6cは、飽和電圧検出手段6bが検出した高電圧範囲H1の上限電圧V1と低電圧範囲H3の下限電圧V4を用い、(V1+V4)/2の計算式により中電圧範囲H2の中心電圧Vc2を算出する。   More specifically, the center voltage calculation means 6c uses the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 and the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3 detected by the saturation voltage detection means 6b, and uses the calculation formula of (V1 + V4) / 2. A center voltage Vc2 in the range H2 is calculated.

また、中心電圧算出手段6cは、上記のように算出した中電圧範囲H2の中心電圧Vc2、飽和電圧検出手段6bが検出した高電圧範囲H1の上限電圧V1と低電圧範囲H3の下限電圧V4を用い、(V1+Vc2)/2の計算式により高電圧範囲H1の中心電圧Vc1を算出し、(V4+Vc2)/2の計算式により低電圧範囲H3の中心電圧Vc3を算出する。   The center voltage calculation means 6c also calculates the center voltage Vc2 of the medium voltage range H2 calculated as described above, the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 detected by the saturation voltage detection means 6b, and the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3. The center voltage Vc1 of the high voltage range H1 is calculated by the calculation formula of (V1 + Vc2) / 2, and the center voltage Vc3 of the low voltage range H3 is calculated by the calculation formula of (V4 + Vc2) / 2.

なお、制御部6は、設定された測定ポイントにおいて、A/D変換部4からの4PAM信号に基づくデータと、被試験デバイスに入力したテスト信号とのビット比較により被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を算出する。   The control unit 6 receives the input data received from the device under test by bit comparison between the data based on the 4PAM signal from the A / D conversion unit 4 and the test signal input to the device under test at the set measurement point. The bit error rate is calculated.

次に、上記のように構成される誤り率測定装置1の動作として、4PAM信号における各振幅電圧範囲H1,H2,H3の中心電圧Vc1,Vc2,Vc3の算出処理について説明する。   Next, as an operation of the error rate measuring apparatus 1 configured as described above, calculation processing of the center voltages Vc1, Vc2, and Vc3 of the amplitude voltage ranges H1, H2, and H3 in the 4PAM signal will be described.

4PAM信号における各振幅電圧範囲H1,H2,H3の中心電圧Vc1,Vc2,Vc3を算出するにあたっては、図2に示す設定画面11において、選択項目12に表示される高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の中から何れか1つの振幅電圧範囲を選択する。   In calculating the center voltages Vc1, Vc2, and Vc3 of the amplitude voltage ranges H1, H2, and H3 in the 4PAM signal, the high voltage range H1 and the medium voltage range displayed in the selection item 12 on the setting screen 11 shown in FIG. One amplitude voltage range is selected from H2 and the low voltage range H3.

そして、飽和電圧検出手段6bは、振幅電圧範囲が選択されると、A/D変換部4からのAD値が飽和する上限のデータ閾値電圧Vthを高電圧範囲H1の上限電圧V1として検出する。また、A/D変換部4からのAD値が飽和する下限のデータ閾値電圧Vthを低電圧範囲H3の下限電圧V4として検出する。   When the amplitude voltage range is selected, the saturation voltage detection unit 6b detects the upper limit data threshold voltage Vth at which the AD value from the A / D conversion unit 4 is saturated as the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1. Further, the lower limit data threshold voltage Vth at which the AD value from the A / D converter 4 is saturated is detected as the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3.

また、中心電圧算出手段6cは、飽和電圧検出手段6bが検出した高電圧範囲H1の上限電圧V1と低電圧範囲H3の下限電圧V4を用い、(V1+V4)/2の計算式により中電圧範囲H2の中心電圧Vc2を算出する。   Further, the center voltage calculation means 6c uses the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 and the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3 detected by the saturation voltage detection means 6b, and uses the formula (V1 + V4) / 2 to calculate the medium voltage range H2. The center voltage Vc2 is calculated.

さらに、中心電圧算出手段6cは、(V1+Vc2)/2の計算式から高電圧範囲H1の中心電圧Vc1を算出し、中心電圧算出手段6cは、(V4+Vc2)/2の計算式から低電圧範囲H3の中心電圧Vc3を算出する。   Further, the center voltage calculation means 6c calculates the center voltage Vc1 of the high voltage range H1 from the calculation formula of (V1 + Vc2) / 2, and the center voltage calculation means 6c calculates the low voltage range H3 from the calculation formula of (V4 + Vc2) / 2. The center voltage Vc3 is calculated.

そして、操作部2の操作により選択された振幅電圧範囲が高電圧範囲H1であれば、中心電圧算出手段6cが算出した中心電圧Vc1の電圧値を、図2に示す設定画面11の算出結果項目13に表示し、この中心電圧Vc1の電圧値にデータ閾値電圧Vthを設定する。   If the amplitude voltage range selected by the operation of the operation unit 2 is the high voltage range H1, the voltage value of the center voltage Vc1 calculated by the center voltage calculation means 6c is calculated on the calculation result item on the setting screen 11 shown in FIG. 13, the data threshold voltage Vth is set to the voltage value of the center voltage Vc1.

また、操作部2の操作により選択された振幅電圧範囲が中電圧範囲H2であれば、中心電圧算出手段6cが算出した中心電圧Vc2の電圧値を、図2に示す設定画面11の算出結果項目13に表示し、この中心電圧Vc2の電圧値にデータ閾値電圧Vthを設定する。   If the amplitude voltage range selected by the operation of the operation unit 2 is the medium voltage range H2, the voltage value of the center voltage Vc2 calculated by the center voltage calculation unit 6c is calculated as a calculation result item on the setting screen 11 shown in FIG. 13, the data threshold voltage Vth is set to the voltage value of the center voltage Vc2.

さらに、操作部2の操作により選択された振幅電圧範囲が低電圧範囲H3であれば、中心電圧算出手段6cが算出した中心電圧Vc3の電圧値を、図2に示す設定画面11の算出結果項目13に表示し、この中心電圧Vc3の電圧値にデータ閾値電圧Vthを設定する。   Furthermore, if the amplitude voltage range selected by the operation of the operation unit 2 is the low voltage range H3, the voltage value of the center voltage Vc3 calculated by the center voltage calculation means 6c is calculated on the calculation result item on the setting screen 11 shown in FIG. The data threshold voltage Vth is set to the voltage value of the center voltage Vc3.

以上、説明したように、本実施の形態によれば、4PAM信号の全体の振幅電圧範囲Hにおける各振幅電圧範囲(高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3)の中心電圧を算出することができ、選択された振幅電圧範囲における中心電圧の電圧値にデータ閾値電圧Vthを最適な測定ポイントとして設定することができる。   As described above, according to the present embodiment, the center voltage of each amplitude voltage range (high voltage range H1, medium voltage range H2, low voltage range H3) in the entire amplitude voltage range H of the 4PAM signal is calculated. The data threshold voltage Vth can be set as the optimum measurement point for the voltage value of the center voltage in the selected amplitude voltage range.

また、高電圧範囲H1の上限電圧V1や低電圧範囲H3の下限電圧V4を検出する場合には、最初にデータ閾値電圧Vthを荒い第1のステップで可変し、AD値が飽和すると、AD値が飽和する点を中心として第1のステップよりも細かい第2のステップでデータ閾値電圧Vthを可変してAD値が飽和する上限又は下限のデータ閾値電圧Vthを検出する。これにより、効率良く高電圧範囲H1の上限電圧V1や低電圧範囲H3の下限電圧V4を検出することができる。   Further, when detecting the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 and the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3, the data threshold voltage Vth is first varied in the rough first step, and the AD value is saturated when the AD value is saturated. The data threshold voltage Vth is varied in a second step that is finer than the first step, centering on the point at which saturation occurs, and the upper or lower data threshold voltage Vth at which the AD value is saturated is detected. Thereby, the upper limit voltage V1 of the high voltage range H1 and the lower limit voltage V4 of the low voltage range H3 can be detected efficiently.

さらに、操作部2の操作により選択された振幅電圧範囲における中心電圧の電圧値を表示部5の算出結果項目13に表示するので、ユーザは設定した振幅電圧範囲における中心電圧を表示により視認することができる。   Further, since the voltage value of the center voltage in the amplitude voltage range selected by the operation of the operation unit 2 is displayed in the calculation result item 13 of the display unit 5, the user can visually recognize the center voltage in the set amplitude voltage range by display. Can do.

以上、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。   The best mode of the error rate measuring apparatus and the error rate measuring method according to the present invention has been described above, but the present invention is not limited by the description and drawings according to this mode. That is, it is a matter of course that all other forms, examples, operation techniques, and the like made by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention.

1 誤り率測定装置
2 操作部
3 閾値電圧可変部
4 A/D変換部
5 表示部
6 制御部
6a 閾値電圧制御手段
6b 中心電圧算出手段
6c 誤り率算出手段
11 設定画面
12 選択項目
13 算出結果項目
H 4PAM信号の全体の振幅電圧範囲
H1 高電圧範囲
H2 中電圧範囲
H3 低電圧範囲
V1 高電圧範囲の上限電圧
V2 中電圧範囲の上限電圧
V3 中電圧範囲の下限電圧
V4 低電圧範囲の下限電圧
Vc1 高電圧範囲の中心電圧
Vc2 中電圧範囲の中心電圧
Vc3 低電圧範囲の中心電圧
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Error rate measuring device 2 Operation part 3 Threshold voltage variable part 4 A / D conversion part 5 Display part 6 Control part 6a Threshold voltage control means 6b Center voltage calculation means 6c Error rate calculation means 11 Setting screen 12 Selection item 13 Calculation result item H 4PAM signal overall amplitude voltage range H1 High voltage range H2 Medium voltage range H3 Low voltage range V1 High voltage range upper limit voltage V2 Medium voltage range upper limit voltage V3 Medium voltage range lower limit voltage V4 Low voltage range lower limit voltage Vc1 High voltage range center voltage Vc2 Medium voltage range center voltage Vc3 Low voltage range center voltage

Claims (6)

被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定装置において、
全体の振幅電圧範囲(H)が電圧レベルの高い方から高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するA/D変換部(4)と、
データ閾値電圧(Vth)を所定ステップで可変する閾値電圧可変部(3)と、
前記閾値電圧可変部にて前記データ閾値電圧を可変したときに、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記A/D変換部からのデジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出する飽和電圧検出手段(6b)と、
前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記飽和電圧検出手段が検出した前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出する中心電圧算出手段(6c)とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
An error in which a test signal having a predetermined pattern is input to the device under test and the bit error rate of the input data received from the device under test is compared with the test signal input to the device under test when the test signal is input. In the rate measuring device,
The entire amplitude voltage range (H) is from a continuous range by three eye pattern openings divided into a high voltage range (H1), a medium voltage range (H2), and a low voltage range (H3) from the higher voltage level. An A / D conversion unit (4) for converting the input data into a digital value at a predetermined sampling period;
A threshold voltage variable unit (3) that varies the data threshold voltage (Vth) in a predetermined step;
When the data threshold voltage is varied by the threshold voltage variable unit, an upper limit data threshold voltage at which the digital value from the A / D converter is saturated is detected as the upper voltage of the high voltage range, and the A / D Saturation voltage detection means (6b) for detecting the lower limit data threshold voltage at which the digital value from the D conversion unit is saturated as the lower limit voltage of the low voltage range;
The center voltage of the intermediate voltage range is calculated using the upper limit voltage of the high voltage range and the lower limit voltage of the low voltage range detected by the saturation voltage detection means, and the calculated center voltage of the intermediate voltage range and the saturation voltage Center voltage calculation means (6c) for calculating the center voltage of the high voltage range or the center voltage of the low voltage range using the upper limit voltage of the high voltage range detected by the detection means or the lower limit voltage of the low voltage range. An error rate measuring device comprising:
前記高電圧範囲(H1)、前記中電圧範囲(H2)、前記低電圧範囲(H3)の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作する操作部(2)と、
前記中心電圧算出手段の算出結果に基づき、前記操作部にて選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示する表示部(5)とを備えたことを特徴とする請求項1記載の誤り率測定装置。
An operation unit (2) for selecting and operating any one amplitude voltage range from the three voltage ranges of the high voltage range (H1), the medium voltage range (H2), and the low voltage range (H3);
The error rate measurement according to claim 1, further comprising: a display unit (5) for displaying a center voltage of an amplitude voltage range selected by the operation unit based on a calculation result of the center voltage calculation unit. apparatus.
前記閾値電圧可変部(3)は、所定の電圧範囲において第1のステップでデータ閾値電圧(Vth)を可変し、前記A/D変換部(4)のデジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変することを特徴とする請求項1又は2記載の誤り率測定装置。 The threshold voltage variable unit (3) varies the data threshold voltage (Vth) in a first step within a predetermined voltage range, and the digital value of the A / D converter (4) is saturated when the digital value is saturated. 3. The error rate measuring apparatus according to claim 1, wherein the data threshold voltage is varied in a second step that is finer than the first step in a voltage range centered on a point at which the value is saturated. 被試験デバイスに所定パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被試験デバイスから受信した入力データのビット誤り率を被試験デバイスに入力したテスト信号との比較によって測定する誤り率測定方法において、
全体の振幅電圧範囲(H)が電圧レベルの高い方から高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)に分けられた3つのアイパターン開口部による連続した範囲からなる4PAM信号を前記入力データとし、該入力データを所定のサンプリング周期でデジタル値に変換するステップと、
データ閾値電圧(Vth)を所定ステップで可変するステップと、
前記データ閾値電圧を可変したときに、前記デジタル値が飽和する上限のデータ閾値電圧を前記高電圧範囲の上限電圧として検出し、前記デジタル値が飽和する下限のデータ閾値電圧を前記低電圧範囲の下限電圧として検出するステップと、
前記高電圧範囲の上限電圧と前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記中電圧範囲の中心電圧を算出し、この算出した中電圧範囲の中心電圧と前記高電圧範囲の上限電圧又は前記低電圧範囲の下限電圧を用いて前記高電圧範囲の中心電圧又は前記低電圧範囲の中心電圧を算出するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。
An error in which a test signal having a predetermined pattern is input to the device under test and the bit error rate of the input data received from the device under test is compared with the test signal input to the device under test when the test signal is input. In the rate measurement method,
The entire amplitude voltage range (H) is from a continuous range by three eye pattern openings divided into a high voltage range (H1), a medium voltage range (H2), and a low voltage range (H3) from the higher voltage level. A 4PAM signal as the input data, and converting the input data into a digital value at a predetermined sampling period;
Varying the data threshold voltage (Vth) in a predetermined step;
When the data threshold voltage is varied, an upper limit data threshold voltage at which the digital value is saturated is detected as an upper limit voltage of the high voltage range, and a lower limit data threshold voltage at which the digital value is saturated is detected in the low voltage range. Detecting as a lower limit voltage;
The center voltage of the intermediate voltage range is calculated using the upper limit voltage of the high voltage range and the lower limit voltage of the low voltage range, and the calculated center voltage of the intermediate voltage range and the upper limit voltage of the high voltage range or the low voltage Calculating the center voltage of the high voltage range or the center voltage of the low voltage range using a lower limit voltage of the range.
前記高電圧範囲(H1)、前記中電圧範囲(H2)、前記低電圧範囲(H3)の3つの電圧範囲から何れか1つの振幅電圧範囲を選択操作するステップと、
前記算出の結果に基づき、前記選択された振幅電圧範囲の中心電圧を表示するステップとを含むことを特徴とする請求項4記載の誤り率測定方法。
Selecting one of the amplitude voltage ranges from the three voltage ranges of the high voltage range (H1), the medium voltage range (H2), and the low voltage range (H3);
The error rate measurement method according to claim 4, further comprising: displaying a center voltage of the selected amplitude voltage range based on the calculation result.
所定の電圧範囲において第1のステップで前記データ閾値電圧(Vth)を可変し、前記デジタル値が飽和したときに、そのデジタル値が飽和する点を中心とする電圧範囲において前記第1のステップよりも細かい第2のステップで前記データ閾値電圧を可変するステップを含むことを特徴とする請求項4又は5記載の誤り率測定方法。 When the data threshold voltage (Vth) is varied in the first step in a predetermined voltage range, and the digital value is saturated, the voltage range is centered on the point at which the digital value is saturated. 6. The error rate measuring method according to claim 4, further comprising the step of varying the data threshold voltage in a fine second step.
JP2015022238A 2015-02-06 2015-02-06 Error rate measuring apparatus and error rate measuring method Active JP6025883B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015022238A JP6025883B2 (en) 2015-02-06 2015-02-06 Error rate measuring apparatus and error rate measuring method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015022238A JP6025883B2 (en) 2015-02-06 2015-02-06 Error rate measuring apparatus and error rate measuring method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016146535A JP2016146535A (en) 2016-08-12
JP6025883B2 true JP6025883B2 (en) 2016-11-16

Family

ID=56686242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015022238A Active JP6025883B2 (en) 2015-02-06 2015-02-06 Error rate measuring apparatus and error rate measuring method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6025883B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6250738B2 (en) * 2016-06-06 2017-12-20 アンリツ株式会社 Error rate measuring apparatus and error rate measuring method
JP6625095B2 (en) * 2017-07-03 2019-12-25 アンリツ株式会社 Error detection device and error detection method
US10892923B2 (en) 2018-02-08 2021-01-12 Socionext Inc. Signal output circuit, transmission circuit and integrated circuit
JP6951399B2 (en) * 2019-10-15 2021-10-20 アンリツ株式会社 Error rate measuring device data display device and error counting method
JP7046993B2 (en) * 2020-01-06 2022-04-04 アンリツ株式会社 Error rate measurement system and error rate measurement method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5897986A (en) * 1981-12-07 1983-06-10 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> Signal discrimination system
JPH084245B2 (en) * 1986-11-07 1996-01-17 日本電信電話株式会社 Multi-valued identification method
JPH04277931A (en) * 1991-03-05 1992-10-02 Japan Radio Co Ltd Adaptive identification level discriminating circuit
JP2959435B2 (en) * 1995-06-02 1999-10-06 日本電気株式会社 Judgment circuit
JPH09186726A (en) * 1995-10-30 1997-07-15 Casio Comput Co Ltd Multi-valued signal demodulator and multi-valued signal demodulating method
JP4218581B2 (en) * 2004-05-12 2009-02-04 横河電機株式会社 Code error rate measuring apparatus and code error rate measuring method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016146535A (en) 2016-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6025883B2 (en) Error rate measuring apparatus and error rate measuring method
JP6250737B2 (en) Error rate measuring apparatus and error rate measuring method
JP6250738B2 (en) Error rate measuring apparatus and error rate measuring method
CN105572462A (en) Current detector
JP6818064B2 (en) Error rate measuring device and error rate measuring method
US8832603B2 (en) Emphasis-adding system and emphasis-adding method
JP2008196875A (en) Optical power measuring device, and light signal receiving device equipped with device
US8208586B2 (en) Jitter measuring apparatus
JP4684961B2 (en) Test signal verification device
US9041565B2 (en) NRZ signal amplifying device and method, and error rate measurement device and method
US20220197766A1 (en) Error rate measuring apparatus and codeword position display method
US8803560B2 (en) Audio frequency device for audible eyes off measurements
JP5654850B2 (en) measuring device
JP7080757B2 (en) Impedance measuring device and impedance measuring method
JP7185652B2 (en) Clock recovery device, error rate measurement device, clock recovery method, and error rate measurement method
JP6739488B2 (en) PAM decoder, PAM decoding method, error detection device, and error detection method
JP5626869B2 (en) measuring device
JP2011146791A (en) Error rate measuring apparatus and method
JP5134026B2 (en) Error rate measuring apparatus and method
JP2021069055A (en) Error rate measuring instrument and error search method
JP6862621B2 (en) Measuring device and measuring method
JP5855382B2 (en) Capacitor insulation resistance measuring apparatus and capacitor insulation resistance measuring method
JP4407507B2 (en) Waveform display device
JP2019016832A (en) Error detector and error detection method
JP6951399B2 (en) Error rate measuring device data display device and error counting method

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160902

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160913

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161011

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6025883

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250